Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Разработка алгоритмов и устройств для контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В В Е Д Е Н И Е Повышение качества промышленной продукции, снижение её материалоёмкости и себестоимости являются одними из важнейших задач народного хозяйства. Большую роль в решении этих задач играют методы и средства неразрушающего контроля электропроводящих материалов и изделий, имеющих широкое применение в различных отраслях народного хозяйства Важными показателями качества электропроводящих… Читать ещё >

Разработка алгоритмов и устройств для контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • 1. ОБЗОР МЕТОДОВ, АЛГОРИТМОВ И УСТРОЙСТВ ШРАЗРУШАЩЕГО КОНТРОЛЯ. ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ. И. ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ. .Р
    • 1. 1. Обзор методов неразрушавдего контроля, вихрето-ковых приборов и устройств для измерения удельной электрической. проводимости изделий и. тол-. щинн покрытий .J
    • 1. 2. Обзор методов получения алгоритмов функционирования вихретоковых приборов для измерения электромагнитных и геометрических параметров.. изделий. .&
    • 1. 3. Выводы и постановка задачи .ЛЗ
  • 2. ПОЛУЧЕНИЕ АЛГОРИТМОВ ФУНКЦГОНИГОВАНИЯ УСТРОЙСТВ НЕРАЗРУШАВДЕГО КОНТРОЛЯ С. ПОМОЩЬЮ МЕТОДА ПОДБОРА ЭМПИРИЧЕСКИХ ЗОШУЛ
    • 2. 1. Метод получения.алгоритмов.подбором.эмпирических. формул.,
    • 2. 2. Измерение удельной электрической.проводимости. неферромагнитных изделий
    • 2. 3. Измерение толщины диэлектрических покрытий и.. амплитуды вибраций
    • 2. 4. Измерение диаметра протяженных электропроводящих неферромагнитных изделий и глубины.дефектов. в них.7Q
    • 2. 5. Выводы
  • 3. ПОЛУЧЕНИЕ АЛГОРИТМОВ ФУНКЦЖНИРОВАНИЯ: УСТРОЙСТВ ВИХРЕТОКОВОГО. КОНТРОЛЯ. С ПОМОЩЬЮ. АНАЛИТШЕСКОГО.. МЕТОДА.. 7 $
    • 3. 1. Вихретоковый контроль электромагнитных и геометрических параметров.изделийэлектропроводящим. покрытием
    • 3. 2. Измерение толщины диэлектрических.покрытий.и.. амплитуды вибраций
    • 3. 3. Сравнительный анализ алгоритмов функционирования вихретоковых. устройств.,
    • 3. 4. Выводы. .П
  • 4. УСТРОЙСТВА И МАКЕТЫ ПРИБОРОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРО.. МАГНИТНЫХ И ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ
    • 4. 1. Универсальные устройства для исследования и реализации алгоритмов.двухпараметрового.контроля,. изделий
    • 4. 2. Устройства для измерения удельной электрической проводимости плоских изделий, диаметра протяженных электропроводящих нефврромагнитных.изделий.и... глубины дефектов в них
    • 4. 3. Устройства для измерения толщины, диэлектрических. покрытий и амплитуды вибраций. H
    • 4. 4. Вихретоковый измеритель удельной электрической проводимости основы и. толщины.покрытия.плакиро-г. ванных листов ВИЭТ-3. .Н
    • 4. 5. Вихретоковый.толщиномер.диэлектрических.покры. тий ВТД1−83.12*
    • 4. 6. Выводы.№

В В Е Д Е Н И Е Повышение качества промышленной продукции, снижение её материалоёмкости и себестоимости являются одними из важнейших задач народного хозяйства. Большую роль в решении этих задач играют методы и средства неразрушающего контроля электропроводящих материалов и изделий, имеющих широкое применение в различных отраслях народного хозяйства Важными показателями качества электропроводящих изделий являются их электромагнитные и геометрические характеристики и в том числе такие, как удельная электрическая проводимость неферромагнитных изделий и толщина диэлектрических и электропроводящих покрытий, нанесённых на электропроводящую основу. Определение этих параметров, а также амплитуды вибраций, позволяет судить о правильности технологии изготовления, коррозионной стойкости, механических свойствах и надёжности изделий, повысить сроки их эксплуатации и снизить материалоёмкость и себестоимость выпускаемой продукции /I-I9/. В настоящее время для контроля электромагнитных параметов, толщины покрытий, амплитуды вибраций электропроводящих изделий и глубины дефектов в них широко используются вихретоковый, акустический и другие методы неразрушающего контроля. В отличие от других методов вихретоковый метод позволяет получить информацив одновременно об электромагнитных и геометрических параметрах феррои неферромагнитных электропроводящих изделий различной формы. Кроме того, достоинствйми этого метода являются простота его реализации, безопасность, высокое быстродействие, слабая зависимость результатов контроля от изменений паралетров окружаюбщей среды /7−19/. Основной проблемой, возникающей при контроле параметров изделий вихретоковым методом, является необходимость устраненияV" на результаты измерений вариаций неконтролируемых параметров изделия или зазора мелщу изделием и вихретоковым преобразователем. Для решения этой задачи в настоящее время используются главным образом приборы и устройства, реализующие традиционные амплитудный, фазовый, амплитудно-фазовый, частотный, амплитудночастотный алгоритмы обработки составлйцих выходного сигнала вихретокового преобразователя или методы стабилизации и вариации условий контроля /9,10,17−20/, Однако на практике известные методы обработки выходного сигнала преобразователя не обеспечивают высокой точности и простоты контроля, когда речь идёт о широких диапазонах вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия /18,20/, В связи с этим разработка новых методов, алгоритмов и реализующих их устройств, свободных от указанных выше недостатков, является актуальной задачей неразрушающего контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий. Целью данной работы является разработка метода получения алгоритмов обработки составляющих выходного сигнала преобразователя применительно к решению задач двухпараметрового неразрушающего контроля качества изделий и решение на его основе некоторых важных задач структуроскопии, толщинометрии, дефектометрии и технической диагностики, Представлену"ая работа состоит из введения, четырёх глав, заключения и двух приложений. В первой главе диссертационное работы проведён анализ достоинств и недостатков известных методов неразрушающего контроля качества изделий применительно к решению двухпараметровых задач неразрушающего контроля электромагнитных параметров (главным образом удельной электрической проводимости), толщины покрытий и амплитуды вибраций электропроводящих изделий. На основе проведённого анализа был сделан вывод о том, что в отличие от других известных методов неразрушающего контроля вихретоковый метод обеспечивает производительный, одновременный и локальный контроль электромагнитных и геометрических параметров электропроводящих изделий и позволяет в некоторых весьма важных для практики случаях свести многопараметровый контроль электромагнитных и геометрических параметров изделий к двухпараметровому контролю. Отмечено, что вихретоковые приборы и устройства широко используются в различных отраслях промышленности для измерения электромагнитных и геометрических параметров электропроводящих изделий и, в частности, для контроля удельной электрической проводимости изделий и толщины покрытий. Проведённый в гл. I обзор различных источников отечественной и зарубежной информации показал, что серийно выпускаемые вихретоковые приборы не обеспечивают достаточную для практики точность измерений при вариациях в широких пределах контролируемого и неконтролируемого параметров изделия без разрушения готового изделия, а известные вихретоковые устройства не имеют существенных преимуществ перед серийно выпускаемьми приборами и/или сложны в реализации, Показано также, что известные методы обработки составляющих выходного сигнала преобразователя не позволяют получать алгоритмы, реализация которых приводила бы к решению задачи двухпараметрового контроля изделий с достаточной для практики точ.

4.6. Выводы.

I. Разработано универсальное устройство для исследования, реализации и получения алгоритмов, а также оригинальное универсальное устройство для измерения геометрических и электромагнит' ных параметров изделий.

2. Разработаны оригинальные специализированные вихретоковые устройства для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных плоских изделий, расстояния до неферромагнитных, а также феррои неферромагнитных электропроводящих изделий, амплитуды вибраций электропроводящих изделий, диаметра электропроводящих неферромагнитных изделий в виде цилиндра и глубины узких протяженных дефектов в них.

3. Один из алгоритмов функционирования специализированных устройств, полученный аналитическим путем, реализован в макете прибора ВИЭТ-3, отличающегося от приборов аналогичного назначения более высокими метрологическими характеристиками в широком диапазоне измеряемых толщин. Прибор ВИЭТ-3 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР и внедрен в производство с реальным экономическим эффектом 85,4 тыс. руб. в год.

4. Создан действующий макет прибора ВТДП-83 для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих феррои неферромагнитных материалах с удельной электрической проводимостью не менее 0,5 МСм/м, отличающийся от аналогов простотой реализации и высокой достоверностью контроля изделия в широких диапазонах вариаций толщины покрытия и электромагнитных параметров основы. Он реализует алгоритм, полученный с помощью метода подбора эмпирических формул. Прибор ВТДП-83 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР. Экономический эффект от его внедрения составляет сумму не менее 55 тыс. руб. в год.

5. Достаточно высокие метрологические характеристики созданных макетов приборов являются экспериментальным подтверждением эффективности устройств, реализующих полученные в данной работе алгоритмы.

6. Реализация разработанных устройств не требует сложных схемных решений и может быть осуществлена средствами аналоговой и цифровой техники.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

1. Анализ источников отечественной и зарубежной информации показал, что актуальной задачей двухпараметрового контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий является. задача повышения точности измерений и/или расширения диапазонов вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия или зазора.

2. Анализ алгоритмов работы известных вихретоковых устройств, предназначенных для измерения толщины защитных покрытий, удельной электрической проводимости неферромагнитных изделий и амплитуды вибраций, показал, что известные устройства или имеют высокую погрешность измерений при вариациях контролируемого и неконтролируемого параметров изделия в широких пределах, или сложны в реализации. Исходя из проведенных иссследований была сфор

— мулирована основная цель диссертационной работы: разработка метода получения алгоритмов обработки составляющих выходного сигнала измерительного преобразователя, алгоритмов и вихретоковых устройств для. двухпараметрового контроля изделий, обеспечивающих (по сравнению с известными устройствами аналогичного назначения) более высокую точность измерений и/или простоту реализации контроля в широком диапазоне вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия или зазора.

3. Исходя из анализа аналитических выражений и годографов выходного сигнала вихретокового преобразователя при изменении контролируемого и неконтролируемого параметров изделия был разработан простой и эффективный метод получения алгоритмов функционирования устройств неразрушающего контроля, основанный на подборе эмпирических формул для описания амплитудно-фазовых зависимостей выходного сигнала преобразователя.

4. С помощью разработанного метода получены оригинальные алгоритмы функционирования устройств для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных плоских изделий, расстояния между вихретоковым преобразователем и поверхностью электропроводящего изделия, амплитуды вибраций, диаметра неферромагнитных электропроводящих изделий в виде цилиндра и глубины узких протяженных дефектов в них.

5. С помощью аналитического метода определен вид функциональной зависимости между составляющими выходного сигнала вихретокового преобразователя и толщиной любого слоя электропроводящего контролируемого изделия, а также получены оригинальные алгоритмы функционирования вихретоковых устройств для измерения расстояния до электропроводящих изделий.

6. Проведен сравнительный анализ известных и полученных алгоритмов по точности и простоте реализации в широких диапазонах изменения контролируемого и неконтролируемого параметров. Анализ показал, что разработанные в диссертации алгоритмы функционирования вихретоковых устройств существенно превосходят известные алгоритмы и могут быть использованы также для одновременного и независимого контроля нескольких параметров изделия, а также для создания устройств воспроизведения амплитудно-фазовых характеристик (годографов) вихретокового преобразователя, например, в учебных целях и инженерной практики.

7. Разработаны оригинальные универсальное и специализированные устройства для реализации полученных алгоритмов, обеспечивающие высокую точность и простоту осуществления измерений электромагнитных и геометрических параметров изделий в широком диапазоне вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров.

8. Один из алгоритмов, полученных аналитическим путем, реализован в макете прибора ВИЭТ-3, предназначенного для одновременного и независимого измерения толщины алюминиевой плакировки и удельной электрической проводимости дюралюминиевой основы плакированных листов. Макет прибора ВИЭТ-3 отличается от приборов аналогичного назначения более высокими метрологическими характеристиками. Прибор ВИЭТ-3 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР и внедрен в производство с реальным экономическим эффектом 85,4 тыс. руб. в год.

9. Создан действующий макет прибора ВТДП-83 для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих феррои неферромагнитных материалах с удельной электрической проводимостью не менее 0,5 МСм/м, отличающийся простотой реализации и высокой точностью измерений в широком диапазоне вариаций толщины покрытия и электромагнитных параметров основы изделия. Макет прибора реализует алгоритм, полученный с помощью метода подбора эмпирических формул. Прибор ВТДП-83 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР. Экономический эффект от его внедрения составляет сумму не менее 55 тысяч рублей в год.

10. Достаточно высокие метрологические характеристики созданных макетов приборов являются экспериментальным подтверждением эффективности метода получения алгоритмов подбором эмпирических формул и результатов, полученных аналитическим методом.

11. Реализация разработанных в данной работе алгоритмов не требует сложных схемных решений и может быть осуществлена средствами аналоговой и цифровой техники.

Показать весь текст

Список литературы

  1. И.И., Гольдберг М.М, Защита изделий из алюминия и его сплавов лакокрасочными покрытиями. М": Хшлия, 1975. 176 с.
  2. В.В., Кондратов Э. К. Технология лакокрасочных покрытий в машиностроении. М Машиностроение, 1978. 295 с.
  3. Ш. А., Шварцман Л. Современные методы контроля композиционных материалов, М.: Металлургия, 1979. 247 с.
  4. П.С. Применение электромагнитных методов и средств неразрушающего контроля при серийном производстве самолетов. Дефектоскопия, 1980, }Р I, с. 48−55.
  5. М.А., Ажогин Ф. Ф., Ефимов Е. А. Коррозия и защита металлов. М.: Металлургия, I98I. 216 с.
  6. Н.В., Муджири Я. Н., Бабаднанов Л. С. Роль толщинометрии покрытий в экономии материальных ресурсов. Измерительная техника, 1982, 12, с. 35−37.
  7. B.C., Шкарлет Ю. М. Накладные и экранные датчики. Новосибирск, Наука, 1967. 144 с.
  8. Н.Н., Малько И. И. О состоянии и развитии методов и средств толщинометрии. В кн.: Шизика неразрушающего контроля. Шнек, 1974, с, II5-I36.
  9. А.Л., Никитин А. И., Рубин А. Л. Индукционная толщинометрия, М.: Энергия, 1978, 184 с.
  10. А.Л. Индукционная структуроскопия. М.: Энергия, 1973. 176 с.
  11. А.К. Дефектоскопия металлов. М: Металлургия, 1972. 304 с.
  12. А.Л. Применение электромагнитного метода контроля качества изделий в машиностроении: Обзор Дефектоскопия, 1979, 3, с. 5−19.
  13. Н.В. Вихретоковый контроль структуры и свойств полуфабрикатов из алюминиевых и магниевых сплавов. Заводская лаборатория, 1983, 49, II, с. 6−9.
  14. Испытательная техника Справочник. Кн. I /Под ред. В. В. Клюева. М: Машиностроение, 1983. 528 с.
  15. Вибрации в технике: Справочник. Т.5 /Под ред. М. Д, Генкина. М: Машиностроение, I98I. 496 с.
  16. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн.1Л1од ред. В. В. Клюева. М.: Машиностроение, 1976. 391 с.
  17. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн. 2/Под ред. В. Б. Клюева,-М: Машиностроение, 1976. 396 с.
  18. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами Герасимов В. Г., Останин Ю. Я., Покровский А. Д., и др. М.: Энергия, 1978. 216 с.
  19. В.Г., Клюев В. В., Шатерников В. Е. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий.-М.: Энергоатомиздат, 1980. 272 с.
  20. Ю.Н. Основы нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля металлических объектов. Дефектоскопия, I98I, 6, с. 38−45.
  21. А.А., Шамрай Б. В. Электромагнитные устройства информационно-измерительной техники: Учебник для
  22. В.Г. Сравнительный анализ методов и средств измерения электропроводности проводящих материалов. В кн.: Мат. 9-й конф. мол.уч.физ.-мех.ин-та АН УССР. Секц. отбора и перад.инф. Львов, 1979. с. 133−143 Рук.деп.в ВИШГО1 17.07. 80 J 3160−80 Деп. f
  23. Г. А. Неразрушающий контроль плакированного слоя на листах из сплава ВДЦ 23-АМ. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля металлов и сплавов. Труды научнотехнической конференции, ОНТИ, I97I, с. 42−47.
  24. А.Л., Любашев Г. А., Останин Ю. Я. Измерение толщины покрытий с помощью вихревых токов.-М. Машиностроение, 1975. 65 с.
  25. Электромагнитный контроль плакированньк листов /Бакунов, А С Беликов Е. Г., Герасимов В. Г. и др. Тр./Моск.энерг. ин-т, 1980, вып.453, с.5−8.
  26. Д. Техника измерений и обеспечение качества: Справочная книга Д1ер. с нем.под ред. Л. М. Закса, С, С.Кивилиса. М.: Энергоатомиздат, 1983. 472 с.
  27. Ю.Я., Рубин А. Л. Неразрушающий контроль толщины покрытий. М.: Машиностроение, I98I. 50 с.
  28. Й.Г. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига: Зинатна, 1982. 302 с.
  29. Е.Г. Тычинин А, П. Современное состояние практики неразрушающего контроля толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе. В кн.: Современные физические методы неразрушающего контроля.-М.: 1УЩНТП, 1984, 35−40.
  30. A.C., Беликов Е. Г. Электромагнитный контроль расстояния до поверхности электропроводящего изделия. Тр./Моск. энерг. ин-т, 1980, вып. 453, с. 8−1I.
  31. Д.И., Конжуков Ф. И. Учет воздействия влияющих факторов при измерении толщины покрытия электромагнитными приборахли типа МТ, В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 2-го Всесоюзн.Научн.-техн. совещ. Рига, Зинатне, 1979, с.52−54. 33. О метрологическом обеспечении электромагнитных толщиномеров покрытий /Леонов И.Г., Логачева Л. Н., Матюков Г. Ф. и др. Дефектоскопия, 1975, 4, с. I0I-I03,
  32. В.М., Суменкова И. Н., Альметьева Э. Н. Опыт работы с электромагнитными приборами для измерения толщины теплозащитных покрытий и тонких пленок. В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 3-го Всесоюзн. научн.техн.совещ. Рига: Зинатне, 1979, с. II6-II8.
  33. Леонов И. Г, Некоторые особенности метрологических характеристик средств и методов неразрушающего контроля. Измерительная техника, 1983, 7, с. 15−17.
  34. В.П. Разработка и исследование электромагнитных преобразователей и приборов неразрушающего контроля: Автореферат канд.дисс. -М.: Моск.энерг.ин-т, 1974. 19 с. 37. ekowefii i bCcenm-eiSSung оапиФг! Bec/iLch 38. ABT.CB. ?Я2 0775(СССР). Устройство для измерения удельной электрической проводимости /Авт.изобрет.Бакунов А.С.- -Заявл. 28.12.81, № 3 371 299-Опубл. в БИ, 1983, № 20, М Ш 601/1/27/90.
  35. Шатерников В, Е., Быховский И. Ю. Направление вектора напршкенности магнитного поля вихревых токов как информаттвный па37. Сухоруков В. В., Торгоненко Ю. М., Родин А. А. Применение микропроцессоров для автоматизации токовихревых приборов неразрушающего контроля. Тр./ Моск.энерг.ин-т, 1980, вьш. 451, с. 3−5.
  36. Вопросы построения универсальных многопараметровых цифровых структуроскопов на базе микро-ЭВМ и микрокалькуляторов /Дрейзин В.Э., Куликов А. Н., Колосков В. А., Бондарь О. Г. В кн.: Методы и приборы автоматического неразрушающего контроля.- Рига: РПИ, 1981, вып. 4, с. 38−49.
  37. Лехтцинд В, В., Остапенко В. Д. Применение программируемой электронной клавишной машиньйихретоковых средствах нераз40. Дьяконов В. П. Расчет нелинейных и импульсных устройств на программируемых микрокалькуляторах: Справ.пособие. М.: Радио и связь, 1984. 176 с.
  38. Ю.К. Теория вихретокового контроля преобразователей с неравномерной плотностью намотки обмотки, Дефектоскопия, 1980, f" 3, с. 82−90. f
  39. В.В., Сацдовский В. А. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей. М.: Наука, I98I. 136 с.
  40. Измерение .удельной электрической проводимости листов из алюминиевых сплавов без снятия плакирующего слоя методом вихревых токов Бшкенов М. Н., Бердников В. Н., Дорофеев А. Л. и др. В кн.: 8-я Всесоюзн. научн.техн.конф. по неразруш. физ. методам и средствам контроля. Доклады, ч. 26, Кишинев, 1977, с. 559−560.
  41. Буров В. Н, Шатерников В. Е. Влияние конструктивных параметров накладных трансформаторных вихретоковых преобразователей на выбор структуры и метрологические характеристики электромагнитных измерительных средств. Дефектоскопия, 1980, 4, с. 8085.
  42. Косовский В.Д., Никитин А. И., Шкарлет Ю. М, Подавление влияния зазора при вихретоковом измерении удельной электрической проводимости. Дефектоскопия, 1982, 9, с. 56−62.
  43. Заявка 2 923 066 (ФРГ). Vehj-Clfintl ZUt iScScMcltC eie-HhciSc гCi€лclJn loitt-iciS nae/i clem WChSeMhomi/ ym. Авт.изобрет. Beeei R. Bttzoc/ K. йепегс, L-jRoclner С Заявл. 07.06.79 Опубл. 18.12.80 -МКИ 60IB7/06.
  44. i.A. Теоретические и экспериментальные исследования путей повышения точности бесконтактного измерения элек48. Вяхорев В. Г. Разработка способов селективного вихретокового контроля толщины изоляционного покрытия и электропроводности основания накладным преобразователем. Дефектоскопия, 1982, 5, с. 95−96.
  45. Вяхорев В, Г., Денискин В. Л., Трактенберг Л. И. Прибор для измерения толщины диэлектрических покрытий. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля. Минск: Наука и техника, 1971 с. 218−221.
  46. Петров В. В, Об одном подходе к задаче косвенных измерений. -Измерительная техника, 1980, 10, с. 22−23.
  47. П.П. Теоретические основы информационно-измерительной техники. Киев: Вища школа, 1983. 455 с,
  48. Ю.К. Алгоритмы определения параметра объекта нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля Дефектоскопия, I98I, 6, с. 45−52.
  49. Стеблев Ю. И, Синтез вихретоковых преобразователей с заданными характеристиками, В кн.: Электромагнитные методы контроля качества материалов и изделий. Тез.докл. 4-й Всесоюзн. межвуз. конф. Омск, ОМПИ, 1983 ч. I, с. 80−82.
  50. В.Г., Терехов Ю. Н., Лантратов В. Н. Возможность отстройки от изменения сильновлияющего мешащего параметра, В кн.: 8-я Всесоюзн. научн,-техн.конф.по неразруш.физ.методам и средствам контроля. Доклады, ч, 2(6), Кишинев, 1977, с. 421−424.
  51. Березин И. С, Жидков Н. П. Методы вычислений, т.1. М.: Наука, 1966. 632 с.
  52. Математическая обработка результатов эксперимента: Справочное руководство, -М:Наука, I97I. 192 с.
  53. Яковлев К, П. Математическая обработка результатов измерений. М.: Гостехиздат, 1953. 364 с.
  54. И.Н., Семендяев К. Н. Справочник по математике для инженеров и учащихся втузов. М.: Наука, 1965. 608 с.
  55. И.И. О подобии импедансных характеристик накладных датчиков вихревых токов. Дефектоскопия, 1969, 1с, 19−23.
  56. И.С., Рьжик И. М. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений. М.: Наука, I97I, II08 с. 73. Авт.св. № 824 016 (СССР). Устройство для электромагнитного контроля электропроводящих покрытий на электропроводящем основании /Авт.изобрет. Бакунов А. С., Беликов Е, Г., Герасимев В. Г. и др. -Заявл.27.07.79, № 2 802 924- Опубл. в БИ, 1981,№|5- МКИ 01 Л/27/86, <01 В7/06.
  57. Тычинин A, П. Вихретоковый контроль плакированных материалов: Деп.рукопись. М.: ВИНИТИ, 1984, 5026−84 Деп. 7 с.
  58. В.Г., Мурашов И. И. К теории контроля многослойных изделий с помощью накладных датчиков. Дефектоскопия, 1969, I, с. 43−48. 76. Ott Я" А/Ш SgSnCrSe с/г /геА/i/it 3) Штт-е5ипд аетпШе dcAufitsde/rre /nCt WifSi? sthoni6onclen,-Me<56 €n4-pdjn 1979, 15Дз, p. 134−138. 77. Авт.св. Ш28 062 (СССР). Способ электромагнитного контроля и устройство для его осуществления /Авт.изобрет. Бакунов, А С Беликов Е. Г., Останин Ю.Я.-Заявл. 22.06"79, 2 784 589- Опубл. в БИ, I98I, 17- МКИ 01Л/27/90.
  59. Типовая методика аттестащи толщиномеров покрытий МИ 158−78. М.:Изд-во станд., 1979. 7 с.
  60. Методические указания по проведению метрологической аттестации нестандартизированных средств измерений. М.: ГосНИТИ, I98I. 13 с.
  61. Точность и производительный контроль в машиностроении: Справочник /Под ред. А. К. Кутая и Б. М. Сорочкина. Л: Машино66. Кошкин Н, И, Ширкевич М. Г, Справочник по элементарной физике, М.: Наука, 1980. 208 с,
Заполнить форму текущей работой