Разработка алгоритмов и устройств для контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий
Диссертация
В В Е Д Е Н И Е Повышение качества промышленной продукции, снижение её материалоёмкости и себестоимости являются одними из важнейших задач народного хозяйства. Большую роль в решении этих задач играют методы и средства неразрушающего контроля электропроводящих материалов и изделий, имеющих широкое применение в различных отраслях народного хозяйства Важными показателями качества электропроводящих… Читать ещё >
Список литературы
- Денкер И.И., Гольдберг М.М, Защита изделий из алюминия и его сплавов лакокрасочными покрытиями. М": Хшлия, 1975. 176 с.
- Чеботаревский В.В., Кондратов Э. К. Технология лакокрасочных покрытий в машиностроении. М Машиностроение, 1978. 295 с.
- Гимельфарб Ш. А., Шварцман Л. Современные методы контроля композиционных материалов, М.: Металлургия, 1979. 247 с.
- Тюхтин П.С. Применение электромагнитных методов и средств неразрушающего контроля при серийном производстве самолетов. Дефектоскопия, 1980, }Р I, с. 48−55.
- Шяугер М.А., Ажогин Ф. Ф., Ефимов Е. А. Коррозия и защита металлов. М.: Металлургия, I98I. 216 с.
- Гелашвили Н.В., Муджири Я. Н., Бабаднанов Л. С. Роль толщинометрии покрытий в экономии материальных ресурсов. Измерительная техника, 1982, 12, с. 35−37.
- Соболев B.C., Шкарлет Ю. М. Накладные и экранные датчики. Новосибирск, Наука, 1967. 144 с.
- Зацепин Н.Н., Малько И. И. О состоянии и развитии методов и средств толщинометрии. В кн.: Шизика неразрушающего контроля. Шнек, 1974, с, II5-I36.
- Дорофеев А.Л., Никитин А. И., Рубин А. Л. Индукционная толщинометрия, М.: Энергия, 1978, 184 с.
- Дорофеев А.Л. Индукционная структуроскопия. М.: Энергия, 1973. 176 с.
- Декель А.К. Дефектоскопия металлов. М: Металлургия, 1972. 304 с.
- Дорофеев А.Л. Применение электромагнитного метода контроля качества изделий в машиностроении: Обзор Дефектоскопия, 1979, 3, с. 5−19.
- Наумов Н.В. Вихретоковый контроль структуры и свойств полуфабрикатов из алюминиевых и магниевых сплавов. Заводская лаборатория, 1983, 49, II, с. 6−9.
- Испытательная техника Справочник. Кн. I /Под ред. В. В. Клюева. М: Машиностроение, 1983. 528 с.
- Вибрации в технике: Справочник. Т.5 /Под ред. М. Д, Генкина. М: Машиностроение, I98I. 496 с.
- Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн.1Л1од ред. В. В. Клюева. М.: Машиностроение, 1976. 391 с.
- Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн. 2/Под ред. В. Б. Клюева,-М: Машиностроение, 1976. 396 с.
- Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами Герасимов В. Г., Останин Ю. Я., Покровский А. Д., и др. М.: Энергия, 1978. 216 с.
- Герасимов В.Г., Клюев В. В., Шатерников В. Е. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий.-М.: Энергоатомиздат, 1980. 272 с.
- Шедосенко Ю.Н. Основы нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля металлических объектов. Дефектоскопия, I98I, 6, с. 38−45.
- Преображенский А.А., Шамрай Б. В. Электромагнитные устройства информационно-измерительной техники: Учебник для
- Рыбачук В.Г. Сравнительный анализ методов и средств измерения электропроводности проводящих материалов. В кн.: Мат. 9-й конф. мол.уч.физ.-мех.ин-та АН УССР. Секц. отбора и перад.инф. Львов, 1979. с. 133−143 Рук.деп.в ВИШГО1 17.07. 80 J 3160−80 Деп. f
- Любашев Г. А. Неразрушающий контроль плакированного слоя на листах из сплава ВДЦ 23-АМ. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля металлов и сплавов. Труды научнотехнической конференции, ОНТИ, I97I, с. 42−47.
- Дорофеев А.Л., Любашев Г. А., Останин Ю. Я. Измерение толщины покрытий с помощью вихревых токов.-М. Машиностроение, 1975. 65 с.
- Электромагнитный контроль плакированньк листов /Бакунов, А С Беликов Е. Г., Герасимов В. Г. и др. Тр./Моск.энерг. ин-т, 1980, вып.453, с.5−8.
- Хофманн Д. Техника измерений и обеспечение качества: Справочная книга Д1ер. с нем.под ред. Л. М. Закса, С, С.Кивилиса. М.: Энергоатомиздат, 1983. 472 с.
- Останин Ю.Я., Рубин А. Л. Неразрушающий контроль толщины покрытий. М.: Машиностроение, I98I. 50 с.
- Матис Й.Г. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига: Зинатна, 1982. 302 с.
- Беликов Е.Г. Тычинин А, П. Современное состояние практики неразрушающего контроля толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе. В кн.: Современные физические методы неразрушающего контроля.-М.: 1УЩНТП, 1984, 35−40.
- Бакунов A.C., Беликов Е. Г. Электромагнитный контроль расстояния до поверхности электропроводящего изделия. Тр./Моск. энерг. ин-т, 1980, вып. 453, с. 8−1I.
- Косовский Д.И., Конжуков Ф. И. Учет воздействия влияющих факторов при измерении толщины покрытия электромагнитными приборахли типа МТ, В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 2-го Всесоюзн.Научн.-техн. совещ. Рига, Зинатне, 1979, с.52−54. 33. О метрологическом обеспечении электромагнитных толщиномеров покрытий /Леонов И.Г., Логачева Л. Н., Матюков Г. Ф. и др. Дефектоскопия, 1975, 4, с. I0I-I03,
- Игнатов В.М., Суменкова И. Н., Альметьева Э. Н. Опыт работы с электромагнитными приборами для измерения толщины теплозащитных покрытий и тонких пленок. В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 3-го Всесоюзн. научн.техн.совещ. Рига: Зинатне, 1979, с. II6-II8.
- Леонов И. Г, Некоторые особенности метрологических характеристик средств и методов неразрушающего контроля. Измерительная техника, 1983, 7, с. 15−17.
- Курозаев В.П. Разработка и исследование электромагнитных преобразователей и приборов неразрушающего контроля: Автореферат канд.дисс. -М.: Моск.энерг.ин-т, 1974. 19 с. 37. ekowefii i bCcenm-eiSSung оапиФг! Bec/iLch 38. ABT.CB. ?Я2 0775(СССР). Устройство для измерения удельной электрической проводимости /Авт.изобрет.Бакунов А.С.- -Заявл. 28.12.81, № 3 371 299-Опубл. в БИ, 1983, № 20, М Ш 601/1/27/90.
- Шатерников В, Е., Быховский И. Ю. Направление вектора напршкенности магнитного поля вихревых токов как информаттвный па37. Сухоруков В. В., Торгоненко Ю. М., Родин А. А. Применение микропроцессоров для автоматизации токовихревых приборов неразрушающего контроля. Тр./ Моск.энерг.ин-т, 1980, вьш. 451, с. 3−5.
- Вопросы построения универсальных многопараметровых цифровых структуроскопов на базе микро-ЭВМ и микрокалькуляторов /Дрейзин В.Э., Куликов А. Н., Колосков В. А., Бондарь О. Г. В кн.: Методы и приборы автоматического неразрушающего контроля.- Рига: РПИ, 1981, вып. 4, с. 38−49.
- Лехтцинд В, В., Остапенко В. Д. Применение программируемой электронной клавишной машиньйихретоковых средствах нераз40. Дьяконов В. П. Расчет нелинейных и импульсных устройств на программируемых микрокалькуляторах: Справ.пособие. М.: Радио и связь, 1984. 176 с.
- Федосенко Ю.К. Теория вихретокового контроля преобразователей с неравномерной плотностью намотки обмотки, Дефектоскопия, 1980, f" 3, с. 82−90. f
- Дякин В.В., Сацдовский В. А. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей. М.: Наука, I98I. 136 с.
- Измерение .удельной электрической проводимости листов из алюминиевых сплавов без снятия плакирующего слоя методом вихревых токов Бшкенов М. Н., Бердников В. Н., Дорофеев А. Л. и др. В кн.: 8-я Всесоюзн. научн.техн.конф. по неразруш. физ. методам и средствам контроля. Доклады, ч. 26, Кишинев, 1977, с. 559−560.
- Буров В. Н, Шатерников В. Е. Влияние конструктивных параметров накладных трансформаторных вихретоковых преобразователей на выбор структуры и метрологические характеристики электромагнитных измерительных средств. Дефектоскопия, 1980, 4, с. 8085.
- Косовский В.Д., Никитин А. И., Шкарлет Ю. М, Подавление влияния зазора при вихретоковом измерении удельной электрической проводимости. Дефектоскопия, 1982, 9, с. 56−62.
- Заявка 2 923 066 (ФРГ). Vehj-Clfintl ZUt iScScMcltC eie-HhciSc гCi€лclJn loitt-iciS nae/i clem WChSeMhomi/ ym. Авт.изобрет. Beeei R. Bttzoc/ K. йепегс, L-jRoclner С Заявл. 07.06.79 Опубл. 18.12.80 -МКИ 60IB7/06.
- Журавель i.A. Теоретические и экспериментальные исследования путей повышения точности бесконтактного измерения элек48. Вяхорев В. Г. Разработка способов селективного вихретокового контроля толщины изоляционного покрытия и электропроводности основания накладным преобразователем. Дефектоскопия, 1982, 5, с. 95−96.
- Вяхорев В, Г., Денискин В. Л., Трактенберг Л. И. Прибор для измерения толщины диэлектрических покрытий. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля. Минск: Наука и техника, 1971 с. 218−221.
- Петров В. В, Об одном подходе к задаче косвенных измерений. -Измерительная техника, 1980, 10, с. 22−23.
- Орнатский П.П. Теоретические основы информационно-измерительной техники. Киев: Вища школа, 1983. 455 с,
- Федосенко Ю.К. Алгоритмы определения параметра объекта нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля Дефектоскопия, I98I, 6, с. 45−52.
- Стеблев Ю. И, Синтез вихретоковых преобразователей с заданными характеристиками, В кн.: Электромагнитные методы контроля качества материалов и изделий. Тез.докл. 4-й Всесоюзн. межвуз. конф. Омск, ОМПИ, 1983 ч. I, с. 80−82.
- Герасимов В.Г., Терехов Ю. Н., Лантратов В. Н. Возможность отстройки от изменения сильновлияющего мешащего параметра, В кн.: 8-я Всесоюзн. научн,-техн.конф.по неразруш.физ.методам и средствам контроля. Доклады, ч, 2(6), Кишинев, 1977, с. 421−424.
- Березин И. С, Жидков Н. П. Методы вычислений, т.1. М.: Наука, 1966. 632 с.
- Математическая обработка результатов эксперимента: Справочное руководство, -М:Наука, I97I. 192 с.
- Яковлев К, П. Математическая обработка результатов измерений. М.: Гостехиздат, 1953. 364 с.
- Бронштейн И.Н., Семендяев К. Н. Справочник по математике для инженеров и учащихся втузов. М.: Наука, 1965. 608 с.
- Мурашов И.И. О подобии импедансных характеристик накладных датчиков вихревых токов. Дефектоскопия, 1969, 1с, 19−23.
- Градштейн И.С., Рьжик И. М. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений. М.: Наука, I97I, II08 с. 73. Авт.св. № 824 016 (СССР). Устройство для электромагнитного контроля электропроводящих покрытий на электропроводящем основании /Авт.изобрет. Бакунов А. С., Беликов Е, Г., Герасимев В. Г. и др. -Заявл.27.07.79, № 2 802 924- Опубл. в БИ, 1981,№|5- МКИ 01 Л/27/86, <01 В7/06.
- Тычинин A, П. Вихретоковый контроль плакированных материалов: Деп.рукопись. М.: ВИНИТИ, 1984, 5026−84 Деп. 7 с.
- Герасимов В.Г., Мурашов И. И. К теории контроля многослойных изделий с помощью накладных датчиков. Дефектоскопия, 1969, I, с. 43−48. 76. Ott Я" А/Ш SgSnCrSe с/г /геА/i/it 3) Штт-е5ипд аетпШе dcAufitsde/rre /nCt WifSi? sthoni6onclen,-Me<56 €n4-pdjn 1979, 15Дз, p. 134−138. 77. Авт.св. Ш28 062 (СССР). Способ электромагнитного контроля и устройство для его осуществления /Авт.изобрет. Бакунов, А С Беликов Е. Г., Останин Ю.Я.-Заявл. 22.06"79, 2 784 589- Опубл. в БИ, I98I, 17- МКИ 01Л/27/90.
- Типовая методика аттестащи толщиномеров покрытий МИ 158−78. М.:Изд-во станд., 1979. 7 с.
- Методические указания по проведению метрологической аттестации нестандартизированных средств измерений. М.: ГосНИТИ, I98I. 13 с.
- Точность и производительный контроль в машиностроении: Справочник /Под ред. А. К. Кутая и Б. М. Сорочкина. Л: Машино66. Кошкин Н, И, Ширкевич М. Г, Справочник по элементарной физике, М.: Наука, 1980. 208 с,