Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Развитие и автоматизация методов измерения рельефа и локальных свойств биологических объектов в атомно-силовой микроскопии

Диссертация: Развитие и автоматизация методов измерения рельефа и локальных свойств биологических объектов в атомно-силовой микроскопии
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Метод настройки параметров для выбора режима притяжения с помощью фазовых карт позволяет минимизировать силовое воздействие на объект со стороны зонда в полуконтактном методе, улучшить разрешение в методе фазового контраста, сократить время, требуемое на выбор оптимальных параметров сканирования и повысить воспроизводимость результатов. Метод позволяет визуализировать допустимые диапазоны… Читать ещё >

Развитие и автоматизация методов измерения рельефа и локальных свойств биологических объектов в атомно-силовой микроскопии (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • 1. Атомно-Силовая Микроскопия: общие принципы, инструменты, методы измерения и область применения
    • 1. 1. Принцип работы АСМ
    • 1. 2. Методы АСМ измерений
    • 1. 3. Автоматизация АСМ измерений
    • 1. 4. Область применений АСМ
    • 1. 5. Постановка задачи
  • 2. Двумерные фазовые карты: режимы притяжения и отталкивания в полуконтактном методе атомно-силовой микроскопии
    • 2. 1. Модель, описывающая поведение кантилевера в полу контактном методе
    • 2. 2. Решение уравнения движения кантилевера
    • 2. 3. Зависимость амплитуды, средней силы и времени контакта от расстояния
    • 2. 4. Частотный отклик кантилевера
    • 2. 5. Определение сдвига фазы для различных режимов и фазовый критерий
    • 2. 6. Переход на амплитудных и фазовых кривых
    • 2. 7. Выбор рабочей точки и фазовый контраст
    • 2. 8. Двумерные фазовые карты как инструмент для определения режима взаимодействия
    • 2. 9. Влияние свойств материала на переход между режимами
    • 2. 10. Влияние жесткости кантилевера
    • 2. 11. Влияние адгезии
  • 2.
  • Выводы
  • 3. Автоматизированные способы оптимизации для работы в режиме притяжения полуконтактного метода
    • 3. 1. Преимущества режима притяжения
    • 3. 2. Шумы фазы
    • 3. 3. Размеры области притяжения
    • 3. 4. Автоматический выбор параметров для работы в режиме притяжения
    • 3. 5. Настройка режима притяжения путем построения двумерных карт
    • 3. 6. Настройка параметров сканирования путем автоматического перебора
    • 3. 7. Интеграция с экспертной системой
    • 3. 8. Выводы
  • 4. Поточечные измерения рельефа, сил взаимодействия и локальных свойств в Атомно-Силовой Микроскопии
    • 4. 1. Принцип работы поточечной методики
    • 4. 2. Сравнение поточечной, контактной и полуконтактной методик
    • 4. 3. Измерение упругих свойств
    • 4. 4. Измерение адгезионных свойств
    • 4. 5. Измерения в жидких средах
    • 4. 6. Применение поточечной методики
    • 4. 7. Интерфейс модуля поточечной методики
    • 4. 8. Выводы

Атомно-силовая микроскопия активно используется в ключевых на сегодняшний день областях исследований. Несмотря на то, что появилась она сравнительно недавно, на текущем этапе развития атомно-силовой микроскопии (АСМ) разработан целый спектр методик измерения поверхности и локальных свойств различных материалов. В зависимости от задачи и типа образца подбирается определенная методика измерения, которая позволяет достигнуть необходимого разрешения и уменьшить вероятность повреждения зонда и объекта исследования.

Рост сложности научных экспериментов, необходимость минимизации времени, а также переход от частных к комплексным автоматизированным решениям, учитывающим специфические особенности конкретной задачи, приводят к увеличению количества и сложности проектов по автоматизации измерений. При разработке сложных решений необходимо снизить зависимость результатов от таких факторов, как теоретическая подготовка исследователя, опыт работы на приборе и затраченное время. Таким образом, создание научно обоснованных технологических методов автоматизации АСМ-измерений является актуальной научно-технической проблемой.

В рамках данной проблемы существует множество задач, относящихся к различным областям применения АСМ: материаловедение, биология, нанообработка, задачи, связанные с изучением полупроводников, порошков и тонких пленок, медицина, промышленное применение и множество других. В настоящее время одним из стремительно развивающихся направлений в сфере нанотехнологий является биология и смежные с ней области исследований. Решаются проблемы изучения клеточных структур, мембран, протеинов, вирусов, бактерий, тканей, наночастиц и их взаимодействия с другими объектами. Изучение подобных объектов методами АСМ представляет собой сложную задачу, прежде всего потому, что зонд находится в контакте с поверхностью и относительно большая сила взаимодействия может привести к необратимой деформации объекта исследования и зонда (особенно важно при использовании острых зондов, дающих высокое разрешение). Кроме того, обычно объект слабо зафиксирован на подложке или требует наличия жидкой среды. В большинстве случаев такие измерения требуют специфических навыков работы и больших затрат времени при проведении исследований. Выбор методики измерения, анализ режимов работы, настройка параметров сканирования, это и многое другое может существенно влиять на истинность полученных результатов, пространственное разрешение и сохранность объекта исследования. В связи с этим автоматизированные методы АСМ, касающиеся измерения биологических объектов очень востребованы.

Целью диссертационной работы является развитие и автоматизация методов атомно-силовой микроскопии для изучения биологических объектов. Для достижения цели решались следующие задачи:

— Разработка инструмента для анализа сил взаимодействия между зондом и образцом в полуконтактном методе АСМ путем построения двумерных фазовых карт.

— Автоматизация выбора параметров для работы в режиме притяжения полуконтактного метода АСМ.

— Разработка способа организации поточечных измерений для комплексного анализа биологических объектов на воздухе и в жидкости, а также его апробация на реальных объектах.

Научная новизна состоит в следующем:

— Впервые предложен инструмент для анализа сил в полуконтактном методе АСМ на основе построения двумерных карт распределения сигнала фазового сдвига, как функции амплитуды свободных колебаний зонда и параметра взаимодействия зонд-образец.

— Автоматизирован процесс настройки параметров для работы в режиме притяжения полуконтактного метода с использованием фазовых карт.

— Разработан и оптимизирован способ организации поточечных измерений рельефа и локальных свойств поверхности на воздухе и в жидкости. Практическая значимость работы заключается в следующем:

— Способ построения двумерных фазовых карт применяется для анализа сил взаимодействия в полуконтактном методе при работе со всей линейкой сканирующих зондовых микроскопов ЗАО «Нанотехнология МДТ».

— Метод выбора режима притяжения в полуконтактном методе путем построения фазовых кривых и двумерных карт содержится в библиотеке стандартных скриптов автоматизации программы управления «Nova» сканирующих зондовых микроскопов ЗАО «Нанотехнология МДТ».

— Предложенный способ организации поточечных измерений широко используется в сканирующих зондовых микроскопах Интегра для комплексного изучения биологических объектов на воздухе и в жидкости. Также метод применим к исследованию полимеров и порошковых структур методами атомно-силовой микроскопии.

Методы реализованы на основе макроязыка Nova PowerScript (VBScripts) в форме скриптов и являются дополнительной опцией программы управления «Nova» сканирующих зондовых микроскопов ЗАО «Нанотехнология МДТ».

Основные результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на конференциях:

— XI Симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника», Россия, Нижний Новгород, 2007.

— 6-я Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Молодежь XXI века — будущее российской науки» (1 место в секции Физика), Россия, Ростов-на-Дону, 2008.

— Вторая международная конференция «Современные Достижения Бионаноскопии», Россия, Москва, 2008.

— Международный форум по нанотехнологиям «Роснанотех» (3 место в секции Нанодиагностика), Россия, Москва, 2008.

— Alp Nanobio International School «ANIS1», Italy, Bozen, 2009.

— Eleventh Annual Conference «Yucomat», Montenegro, Herceg Novi, 2009.

Материалы диссертационных исследований опубликованы в 12 научных работах, в том числе 4 статьях в журналах перечня ВАК и ведущих международных журналах.

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения и списка литературы.

4.8 Выводы.

— Предложенная методика поточечных измерений позволяет снизить воздействие на поверхность образца (менее 50 пН), минимизируя при этом латеральное давление. Экспериментальное сравнение с контактным и полуконтактным методом подтверждает, что поточечная методика является неразрушающей и нисколько не уступает в пространственном разрешении.

— Измерение ряда физических свойств (упругих, адгезионных) одновременно с рельефом поверхности делает эту методику полезной с точки зрения комплексного анализа при решении многих биологических задач методами АСМ.

— Методика позволяет контролировать реальную силу воздействия на образец с высокой точностью. При этом уровень нулевой силы непрерывно обновляется. В результате, появляется возможность изучать биологические и плохо зафиксированные (порошки, наночастицы) объекты, а также материалы с малой жесткостью (полимеры) с высоким разрешением на воздухе и в жидкости без их деформации.

— Использование малошумящих датчиков для контроля за XYZ перемещением повышает точность позиционирования зонда относительно образца и определения характерных точек на силовой кривой.

— Поточечная методика значительно упрощает АСМ измерения в жидкой среде. К основным преимуществам относится: отсутствие необходимости поиска резонансного пика в жидкости, возможность использования любых зондов с малой и большой жесткостью.

— Предсказывание оптимальных величин отвода в цикле ускоряет процесс сканирования и делает эту методику более простой в использовании и способной автоматически адаптироваться к любому образцу.

— Для реализации методики не требуется никаких дополнительных устройств, модификации электроники для возбуждения или регистрации сигналов. Сканирование и контроль взаимодействия осуществляется только программными средствами.

Заключение

.

На основе проделанной работы можно сделать следующие выводы:

Впервые предложенный инструмент построения двумерных карт распределения фазы, как функции амплитуды свободных колебаний и параметра взаимодействия зонд-образец, полностью отражает характер взаимодействия в полуконтактном методе и является наиболее удобным инструментом для выбора параметров, определяющих режим взаимодействия.

Метод настройки параметров для выбора режима притяжения с помощью фазовых карт позволяет минимизировать силовое воздействие на объект со стороны зонда в полуконтактном методе, улучшить разрешение в методе фазового контраста, сократить время, требуемое на выбор оптимальных параметров сканирования и повысить воспроизводимость результатов. Метод позволяет визуализировать допустимые диапазоны параметров, что дает возможность легко адаптироваться для любых образцов малой жесткости (полимеров, биологических и плохо зафиксированных на подложке объектов) и условий проведения эксперимента. Он внесен в библиотеку стандартных скриптов автоматизации программы управления «Nova» сканирующих зондовых микроскопов ЗАО «Нанотехнология МДТ».

Предложенный способ организации поточечных измерений дает возможность для комплексного изучения биологических объектов, а также полимеров и порошковых структур. Минимальное воздействие на поверхность может составлять менее 50 пН. Особенности метода и автоматизация существенно упрощают настройку параметров сканирования и облегчают работу в жидкости. Метод широко используется в сканирующих зондовых микроскопах Интегра ЗАО «Нанотехнология МДТ».

Показать весь текст

Список литературы

  1. , А.П. Модификация поверхности полиметилметакрилата кислородной плазмой и вакуумным ультрафиолетом / А. П. Алехин, С. А. Гудкова, А. Г. Кириленко, В. А. Кротков // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. — с. 20.
  2. , Е. И. Методы определения структурно-механических характеристик порошкооборазных материалов / Е. И. Андрианов. — М.: Химия, 1982.-256 с.
  3. , Д.Л. Морфология биосовместимых полимерных антибактериальных покрытий / Д. Л. Горбачев, Д. В. Тапальский, А. И. Козлова, М. А. Ярмоленко // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 17.
  4. , Е.В. АСМ исследование биоспецифичных взаимодействий на поверхностях / Е. В. Дубровин, С. Г. Игнатов, Т. Е. Игнатюк, C.B. Краевский, Г. Н. Федюнина, И. В. Яминский // Современные достижения бионаноскопии, МГУ, 2008. — с. 22.
  5. , Т.Г. Способы анализа эритроцитов при помощи атомно -силовой микроскопии / Т. Г. Кузнецова, М. Н. Стародубцева, Е. И. Коваленко, Н. И. Егоренков // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 32−33.
  6. , В.В. Атомно-силовая микроскопия доменов неструктурного белка гордеивируса / В. В. Макаров, Е. А. Образцова, И. В. Яминский, Н. О. Калинина // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 36.
  7. , Е.А. Методика изучения синтетических и биологических полимеров / Е. А. Меньшиков, A.B. Большакова, И. В. Яминский // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 38.
  8. , B.JI. Основы сканирующей зондовой микроскопии / B.JI. Миронов. М.: Техносфера, 2004. — 144 с.
  9. , Е.А. Применение Атомно-Силовой Микроскопии для визуализации поверхности бактерий / Е. А. Плетнева, Д. В. Багров, О. В. Шабурова, И. В. Яминский, К. В. Шайтан // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 11.
  10. , М. Нанотехнологии для всех / М. Рыбалкина. — М.: Nanotechnology News Network, 2005. 444 с.
  11. , А.Д. Атомно-силовая микроскопия вируса Менго / А. Д. Сушко, Ю. Ф. Дрыгин, И. В. Яминский // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. с. 49−50.
  12. , М.В. Исследование ДНК вегетативных форм и наноформ M.Gallisepticum S6 методом атомно-силовой микроскопии / М. В. Трушин, В.М.
  13. , О.А. Коновалова, Д.С. Налимов, О. А. Чернова // Современные достижения бионаноскопии. Сборник тезисов. Москва, 2008. — с. 52.
  14. , И.В. Магнитная силовая микроскопия поверхности / И. В. Яминский, A.M. Тишин // Успехи Химии. 1999. — 68(3). — с. 187−193.
  15. Albrecht, T.R. Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity / T.R. Albrecht, P. Griitter, D. Home, D. Rugar // Appl. Phys. 1991. — 69. — p. 668−673.
  16. Alexe, M. Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials, Scanning Probe Microscopy Approach (NanoScience and Technology) / M. Alexe, A. Gruverman. Springer-New York, 2004. — 282 p.
  17. Binnig, G. Atomic force microscope / G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. 1986. — 56(9). — p. 930−933.
  18. Bhushan, B. Handbook of Micro/Nanotribology / B. Bhushan, ed. CRC Press, 1998.-859 p.
  19. Cleveland, J.P. Energy dissipation in tapping-mode atomic force microscopy / J.P. Cleveland, B. Anczykowski, A.E. Schmid, V.B. Elings // Applied Physics Letters. 1998. — 72(20). — p. 2613−2615.
  20. Demirel, A.L. Atomic force microscopy investigation of asymmetric diblock copolymer morphologies in thin films / A.L. Demirel, M. Degirmenci, Y. Yagce // European Polymer Journal. 2004. — 40. — p. 1371−1379.
  21. Deijaguin, B.V. Effect of contact deformations on the adhesion of particles / B.V. Derjaguin, V.M. Muller, Y.P. Toporov // Colloid Interface Sci. 1975. — 53. -p. 314−326.
  22. Drygin, Yu.F. Atomic Force Microscopy Examination of TMV and Virion RNA / Yu.F. Drygin, O.A. Bordunova, M.O. Gallyamov, I.V. Yaminsky // FEBS Letters. 1998. — 425. — p. 217−221.
  23. Dubourg, F. Role of the adhesion between a nanotip and a soft material in tapping mode AFM / F. Dubourg, J.P. Aime // Surface Science. 2000. — 466. — p. 137−143.
  24. Fritz, J. Probing single biomolecules with atomic force microscopy / J. Fritz, D. Anselmetti, J. Jarchow, X. Fernandez-Busquets // J. Struct. Biol. 1997. — 119(2). -p. 165−171.
  25. Gallyamov, M.O. Atomic force microscopy visualization of RNA and ribonucleotides of the tobacco mosaic virus / M.O. Gallyamov, Yu.F. Drygin, I.V. Yaminsky // Surface investigation. 2000. — 15. — p. 1127−1134.
  26. Garcia, R. Attractive and repulsive tip-sample interaction regimes in tapping-mode atomic force microscopy / R. Garcia, A. San Paulo // Phys. Rev. B. 1999. -60(10).-p. 4961−4967.
  27. Garcia, R. Dynamics of a vibrating tip near or in intermittent contact with a surface / R. Garcia, A. San Paulo // Phys. Rev. B. 2000. — 61(R13). — p. 381−384.
  28. Garcia, R. Tip-surface forces, amplitude and energy dissipation in amplitudemodulation force microscopy / R. Garcia, A. San Paulo // Phys. Rev. B. 2001. — 64. -p. 19 3411(1−4).
  29. Garcia, R. Unifying theory of tapping-mode atomic-force microscopy / R. Garcia, A. San Paulo // Phys. Rev. B. 2002. — 66. — p. 4 1406(1−4).
  30. Garrison, M.D. Quantitative interrogation of micropatterned biomolecules by surface force microscopy / M.D. Garrison, T.C. McDevitt, R. Luginbuk, C.M. Giachelli, P. Stayton, B.D. Ratner // Ultramicroscopy. 2000. — 82. — p. 193−202.
  31. Girard, P. Electrostatic force microscopy: principles and some applications to semiconductors / P. Girard // Nanotechnology. 2001. — 12. — p. 485−490.
  32. Girasole, M. Artificially induced unusual shape of erythrocytes: an atomic force microscopy study / M. Girasole, A. Cricenti, R. Generosi, A. Congiu-Castellano, G. Boumis, G. Amiconi // J. Microsc. 2001. — 204. — p. 46−52.
  33. Gleyzes, P. Bistable behavior of a vibrating tip near a solid surface / P. Gleyzes, P.K. Kuo, A.C. Boccara // Appl. Phys. Lett. 1991. — 58(25). — p. 29 892 991.
  34. Holscher, H. Calculation of the frequency shift in dynamic force microscopy / H. Holscher, U.D. Schwarz, R. Wiesendanger // Applied Surface Science. 1999. -140.-p. 344−351.
  35. Israelashvili, J.N. Intermolecular and Surface Forces / J.N. Israelashvili. — London: Academic Press, 1992. 204 p.
  36. Ivanovska, I.L. Bacteriophage capsids: Tough nanoshells with complex elastic properties / I.L. Ivanovska, P.J. de Pablo, B. Ibarra, G. Sgalari, F.C. MacKintosh, J.L. Carrascosa, C.F. Schmidt, G.J.L. Wuite // PNAS. 2004. — 101(20). — p. 7600−7605.
  37. Jiang, X. Atomic force microscopy of DNA self-assembled on a highly oriented pyrolytic graphite electrode surface / X. Jiang, X. Lin // Electrochemistry Communications. 2004. — 6. — p. 873−879.
  38. Kalinin, S. V. In Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications / S. V. Kalinin, D. A. Bonnell. Wiley-New York, 2000. — 205 p.
  39. Kamruddin, M. Effect of water of crystallization on synthesis of nanocrystalline ceria by non-hydrolytic method / M. Kamruddin, P.K. Ajikumar, R. Nithya, G. Mangamma, A.K. Tyagi, B. Raj // Powder Technology. 2006. — 161. -p. 145−149.
  40. Klinov, D. High-Resolution atomic force microscopy of duplex and triplex DNA molecules / D. Klinov, B. Dwir, E. Kapon, N. Borovok, T. Molotsky, A. Kotlyar // Nanotechnology. 2007. — 18(22). — p. 22 5102(1−8).
  41. Kodama, T. Observation of the destruction of biomolecules under compression force / T. Kodama, H. Ohtani, H. Arakawa, A. Ikai // Ultramicroscopy. 2005. — 105. -p. 189−195.
  42. Kuhle, A. Role of attractive forces in tapping tip force microscopy / A. Kuhle, A.H. Sorensen, J. Bohr // Appl. Phys. 1997. — 81(10). — p. 6562−6569.
  43. Lambreva, D.M. Morphology of an asymmetric ethyleneoxide-butadiene di-block copolymer in bulk and thin films / D.M. Lambreva, R. Opitz, G. Reiter, P.M. Frederik, W.H. de Jeu // Polymer. 2005. — 46. — p. 4868−4875.
  44. Lomaeva, S.F. AFM research of the nanocrystalline powder on basis of the iron / S.F. Lomaeva, V.l. Povstugar, S.G. Bystrov, S.S. Mihaylova // Materials of the All-Russian conference Probe microscopy. Nizhni Novgorod. 2000. — p. 75−79.
  45. Luo, M.F. An atomic force microscope study of thermal behavior of phospholipid monolayers on mica / M.F. Luo, Y.L. Yeh, P.L. Chen, C.H. Nien, Y.W. Hsueh // The journal of chemical physics. 2006. — 124(19). — p. 19 4702(1−7).
  46. Magonov, S. N. Surface Analysis with STM and AFM. Experimental and Theotetical Aspects of Image Analysis / S. N. Magonov, M.H. Whangbo. Wiley-VCH, 1996. — 323 p.
  47. Maivald, P. Using force modulation to image surface elasticities with the atomic force microscope / P. Maivald, HJ. Butt, S.A.C. Gould, C.B. Prater, B. Drake, J.A. Gurley, V.B. Elings, P.K. Hansma // Nanotechnology. 1991. — 2. — p. 103−106.
  48. Malinkovich, M.D. Novel arrangement of STM on the base of digital information storage / M.D. Malinkovich, M.V. Naumov, A.A. Galaev // Abstracts ofNanostructures: Physics and Technology. St.Petersburg. 1994. — p. 176.
  49. Maluchenko, N.V. Detection of immune complexes using atomic force microscopy / N.V. Maluchenko, I.I. Agapov, A.G. Tonevitsky, M.M. Moisenovich, M.N. Savvateev, E.A. Tonevitsky, V.A. Bykov, M.P. Kirpichnikov // Biofizika. -2004.-49(6).-p. 1008−1014.
  50. Martin, Y. High-resolution capacitance measurement and potentiometry by force microscopy / Y. Martin, D.W. Abraham, H.K. Wickramasinghe // Appl. Phys. Lett. 1988.-52.-p. 1103−1105.
  51. Martin, Y. Magnetic imaging by force microscopy with 1000 A resolution / Y. Martin, H. K. Wickramasinghe // Appl. Phys. Lett. 1987. — 50(20). — p. 1455−1457.
  52. Martin, Y. Atomic force microscope — force mapping and profiling on a sub 100-A scale / Y. Martin, C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe // J. Appl. Phys. -1987.-61.-p. 4723−4729.
  53. Mate, C.M. Atomic-scale friction of a tungsten tip on a graphite surface / C.M. Mate, G.M. McClelland, R. Erlandsson, S. Chiang // Phys. Rev. Lett. 1987. — 59. -p. 1942−1945.
  54. Matey, J.R. Scanning capacitance microscopy / J.R. Matey, J. Blanc // J. Appl. Phys.- 1985.-57(5).-p. 1437−1444.
  55. Moreno-Herreroa, F. Atomic force microscopy contact, tapping, and jumping modes for imaging biological samples in liquids / F. Moreno-Herreroa, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, A.M. Baro // Phys. Rev. E. 2004. — 69. — p. 3 1915(1−7).
  56. Moreno-Herreroa, F. Jumping mode scanning force microscopy: a suitable technique for imaging DNA in liquids / F. Moreno-Herreroa, P. J. de Pablo, M. Alvarez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, A.M. Baro // Applied Surface Science. -2003.-210.-p. 22−26.
  57. Moreno-Herreroa, F. The role of shear forces in scanning force microscopy: a comparison between the jumping mode and tapping mode / F. Moreno-Herreroa, P. J. de Pablo, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, A.M. Baro // Surface Science. 2000. -453.-p. 152−158.
  58. Moreno-Herreroa, F. Scanning Force Microscopy Jumping and Tapping modes in liquids / F. Moreno-Herreroa, P. J. de Pablo, R. Fernandez-Sanchez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, A.M. Baro // Applied Physics Letters. 2002. — 81. — p. 2620−2622.
  59. Noll, F. Improvement of DNA-Visualization in Dynamic Mode Atomic Force Microscopy in Air / F. Noll, B. Geisler, N. Hampp // Scanning. — 2001. — 23. p. 175−181.
  60. Nonnenmacher, M. Kelvin probe force microscopy / M. Nonnenmacher, M.P. O’Boyle, H.K. Wikramasinghe // Appl. Phys. Lett. 1991. — 58(25). — p. 2921−2923.
  61. Okusa, H. Chemical Modification of Molecularly Smooth. Mica Surface and Protein Attachment / H. Okusa, K. Kurihara, T. Kunitake // Langmuir. 1994. -10(10).-p. 3577−3581.
  62. O’Reilly, M. Quantification of red blood cells using atomic force microscopy / M. O’Reilly, L. McDonnell, J. O’Mullane // Ultramicroscopy. 2001. — 86. — p. 107 112.
  63. Pablo, P.J. Jumping mode scanning force microscopy / P.J. Pablo, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, A.M. Baro // Applied Physics Letters. 1998. — 73(22). — p. 33 003 302.
  64. Rietveld, I.B. Morphology control of poly (vinylidene fluoride) thin film made with electrospray / I.B. Rietveld, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige // Journal of Colloid and Interface Science. 2006. — 298(2). — p. 639−51.
  65. Rodriguez, T.R. Tip motion in amplitude modulation (tapping-mode) atomic-force microscopy: Comparison between continuous and point-mass models / T.R. Rodriguez, R. Garcia // Appl. Phys. Lett. 2002. — 80. — p. 1646−1648.
  66. Rosa, A. The simultaneous measurement of viscoelastic, electrostatic and adhesive properties by SFM: pulsed force mode operation / A. Rosa, V. Weilandt, V. Hild, O. Marti // Meas. Sci. Technol. 1997. — 8(1). — p. 1333−1338.
  67. Saenz, J.J. Observation of magnetic forces by the atomic force microscope / J J. Saenz, N. Garcia, P. Grutter, E. Meyer, H. Heinzelmann // J. Appl. Phys. 1987. -62(10).-p. 4293−4295.
  68. Salerno, M. Mapping Adhesion Forces and Calculating Elasticity in Contact -Mode AFM / M. Salerno, I. Bykov // Microscopy and Analysis. 2006. — 20(2). — p. S5-S8.
  69. San Paulo, A. Amplitude, deformation and phase shift in amplitude modulation atomic force microscopy: a numerical study for compliant materials / A. San Paulo, R. Garcia // Surface Science. 2001. — 471. — p. 71−79.
  70. Senden, T J. Force microscopy and surface interactions / TJ. Senden // Current Opinion in Colloid & Interface Science. 2001. — 6. — p. 95−101.
  71. Tamayo, J. Effects of elastic and inelastic interactions on phase contrast images in tapping-mode scanning force microscopy / J. Tamayo, R. Garcia // Appl. Phys. Lett. — 1997.— 71. —p. 2394−2396.
  72. Ta, T.C. Real-time observation of plasma protein film / T.C. Ta, M.T. Sykes, M.T. McDermott // Langmuir. 1998. — 14(9). — p. 2435−2443.
  73. Tomanek, D. Calculation of an Atomically Modulated Friction Force in Atomic Force Microscopy / D. Tomanek, W. Zhong, H. Thomas // Europhys. Lett. -1991.-15.-p. 887−892.
  74. Van der Werf, K. O. Adhesion force imaging in air and liquid by adhesion force mode atomic force microscope / K. O. Van der Werf, C. A. J. Putman, B. G. Groth, J. Greve // Appl.Phys.Lett. 1994. — 65. — p. 1195−1197.
  75. Winkler, R.G. Imaging material properties by resonant tapping-force microscopy: A model investigation / R.G. Winkler, J.P. Spatz, S. Sheiko, M. Moller, P. Reineker, O. Marti // Phys. Rev. B. 1996. — 54. — p. 8908−8912.
  76. You, H.X. AFM studies of protein adsorption. Characterization of immunoglobulin G adsorption by detergent washing / H.X. You, C.R. Lowe // J. Colloid Interface Sci. 1996. — 182. — p. 586−601.
  77. Zaitsev, B.N. Atomic Force Microscopy in Applied Biological Research / B.N. Zaitsev // SPM-2003. Proceedings. Nizhni Novgorod. 2003. — p. 87.
  78. Zaitsev, B.N. Atomic Force Microscopy of the Interaction of Erythrocyte Membrane and Virus Particles / B.N. Zaitsev, A.G. Durymanov, V.M. Generalov // SPM-2002. Proceedings. Nizhni Novgorod. 2002. — p. 211−213.
  79. Zhang, P. C. Atomic force microscopy study of fine structures of the entire surface of red blood cells / P.C. Zhang, C. Bai, Y.M. Huang, H. Zhao, Y. Fang, N. X. Wang, Q. Li, // Scanning Microsc. 1995. — 9(4). — p. 981−989.
  80. Zitzler, L. Capillary forces in tapping mode atomic force microscopy / L. Zitzler, S. Herminghaus, F. Mugele // Phys. Rev. B. 2002. — 66. — p. 155 436 155 443.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!