Диаграммы состояния позволяют решать технологические задачи, связанные с производством материала.
Экспериментальные данные для построения диаграмм состояния получают с помощью динамического метода кривых нагревания и охлаждения, часто эти данные отсутствуют, поэтому прибегают к расчетным методам, которые применимы только для систем в которых не образуется химическое соединение.
Расчет кривых ликвидуса по уравнению Шредера-Ле-Шателье
В основе расчета кривых ликвидуса положено уравнение Шредера-Ле-Шателье.
— молярная доля i-го компонента.
— температура ликвидуса.
— температура плавления i-го компонента.
изменение энтропии плавления i-го компонента.
Если известны теплоты плавления, то уравнение Шредера-Ле-Шателье будет иметь вид.
Определяем для следующих молярных долей компонентов.
По рассчитанным данным построим диаграмму и определим эвтектику по пересечении линий ликвидуса.
Исходные данные.
: ,.
,
Расчет кривых ликвидуса по уравнению Эпстейна-Хоуленда.
Используется при отсутствии значения т. е. энтальпии плавления, в виде допущения Эпстейна-Хоуленда, которое выражается зависимостью между энтропией плавления соединения и числа атомов в молекуле.
— это число атомов в молекулярной формуле компонента А.
— это число атомов в молекулярной формуле компонента А.
По указанным формулам рассчитаем для следующих молярных долей компонентов.
Строим диаграмму состояния в том же масштабе, что и в первом методе и эвтектику находим по пересечению кривых ликвидуса.