Методы измерения размеров наночастиц

Методы анализа.

Явления или процессы, лежащие в основе данного метода.

Электронная микроскопия.

Анализ образца с помощью пучка ускоренных электронов.

Просвечивающая электронная микроскопия.

Просвечивание образца пучком.

Электронов с определением размера и внутренней структуры частиц.

Сканирующая (растровая) электронная микроскопия.

Сканирование поверхности образца пучком электронов с одновременной регистрацией вторичных электронов и получение объемного изображения.

Сканирующая зондовая микроскопия.

Анализ с помощью зонда, рельефа, поверхности образца.

Сканирующая туннельная микроскопия.

Анализ рельефа токопроводящих поверхностей путем фиксирования величины тунельного тока, возникающего между острием зонда и поверхностью образца.

Атомно-силовая микроскопия.

Анализ рельефа и механических свойств поверхностей путем фиксирования величины Ван-дер-Вальсовых сил, возникающих между острием зонда и поверхностью образца.

Светорассеяние (метод статистического рассеяния света Фотонная корреляционная спетроскопия (метод динамическогого рассеяния света).

Определение размера частиц по интенсивности рассеянного света Определение размера частиц по коэффициенту диффузии, определяемого путем интенсивности и частотных характеристик рассеянного света.

Малоугловое рассеяние (рентгеновских лучей и нейтронов).

Оценка размера частиц по угловой зависимости интенсивности диффузного рассеяния (в области малых углов).

Дифракционные методы (рентгеное-электроно-нейронография).

Диффузия излучения на кристаллической решетке образца с получением дифрактограммы и оценка размеров кристаллов по величине уширения дифракционных максимумов.

Седиментация.

Определения размера частиц по скорости их оседания.

Адсорбционный метод (БЭТ).

Определения удельной поверхности (размера частиц) образца путем измерения величины низкой температурной адсорбции и инертных газов (азота).