В рентгеновскомдифрактометре для поликристаллов при регистрации достаточно перемещение детектора только в экваториальной плоскости АА. Получающаяся при этом зависимость распределения интенсивности от угла выводиться в виде графика на ленту самопишущего потенциометра или считывается в память ЭВМ. При этом интенсивность измеряется с точностью до десятых долей процента, а углы дифракции — до сотых и тысячных долей градуса. Анализ геометрии дифракционной картины и ее интенсивности дает возможность исследовать структуру кристаллических веществ: определить тип и измерить параметры элементарной ячейки; найти фазовый состав, установить величину остаточных напряжений, концентрацию твердых растворов; определить степень и характер дефектности кристаллического строения.
3. Сравнение 2 методов фотометод и дифрактометрический
Дифрактометрический метод регистрации по сравнению с регистрацией на фотопленке имеет значительно более высокую точность измерения интенсивности и углов дифракции. Современные мощные компьютеризированные дифрактометры позволяют намного быстрее и качественнее получать, обрабатывать и представлять результаты. По этим причинам многие исследователи считают фотометоды устаревшими и в большинстве рентгеноструктурного анализа их не используют. Однако фотометоды имеют два основных преимущества по сравнению с дифрактометрией — наглядность и более высокую чувствительность.
Благодаря наглядности на рентгенограммах легче разделить линии фаз, отличающихся по дисперсности и текстуре, значительно проще различить холодноде-формированные, полигонизованные, частично и полностью рекристаллизованные структуры. Рентгеновская топография дает такую информацию о субструктуре и дислокационной структуре, которую дифракто-метрически зачастую получить нельзя. Более высокая чувствительность фотометодовсвязана с тем, что в отличие от дифрактометрическойрегистрации весь исследуемый диапазон углов дифракции экспонируется одновременно. При низком уровне фона (для этого нужнамонохроматизация, исключение паразитного рассеяния) на пленке удается зафиксировать рефлексы, отличающиеся по интенсивности на 6 — 7 порядков, что недостижимо на стандартных дифрактометрах из-за нестабильности излучения. Поэтому нельзя не согласиться с мнением Гинье, высказанным полвека назад: «Оба метода дополняют друг друга, и будет благоразумным, кроме установок со счетчиком, иметь также современные фотографические установки».Список использованной литературы1.
Геологический словарь, т. 1−2, М., 2008.
2. Очерки о выдающихся деятелях естествознания и техники, кн. 2 — Геология. География, М., 2009.
3. Тихомиров В. В., Хаин В. Е., Краткий очерк истории геологии, М., 2006.
4. Шатский Н. С., История и методология геологической науки, Избранные труды, т. 4, М., 2008
Библиография. Геология в изданиях АН, в. 1. 1728−1928, М. — Л., 1938; в. 2. 1929;1937, М.
— Л., 1941; Геологическая литература СССР. Библиографический ежегодник, М. ;
Л., 1956;68; Реферативный журнал. Геология, М., 1954;70
