Измерительные микроскопы

Кроме того, на микроскопе можно измерять диаметры малых отверстий.

Описание: Инструментальный микросокоп ИМЦ-100×50А применяется: измерительные лаборатории предприятий машиностроения, приборостроения, микроэлектроники, лаборатории институтов. Микроскол должен эксплуатироваться в закрытых помещениях при температуре окружающего воздуха (20±3) °С, скорости изменения температуры не более 0,5°С в течение одного часа и относительной влажности не более 80%.

Технические характеристики:

Диапазон измерения длин:

в продольном направлении, мм: 0 … 100

в поперечном направлении, мм: 0 … 50

фотоэлектрическими преобразователями, мм: 0 … 25

Диапазон измерения плоских углов окулярной угломерной головкой, град: 0 … 360

Угол поворота накладного круглого стола, град: 360

Угол поворота предметной плиты координатного стола, град: ± 5

Максимальный угол наклона линии центров бабки относительно горизонтальной плоскости, град: ± 12

Видимое увеличение отсчетного окулярной угломерной головки, крат: 45

Максимальное расстояние между объективом микроскопа и предметным стеклом координатного стола, мм: 175

Максимальное расстояние между центрами:

бабки с наклоняемой линией центров, мм: 200

бабки с горизонтальным положением линии центров при измерении изделии диаметром:

— до 29 мм, мм: 315

— до 85 мм, мм: 235

Максимальный диаметр устанавливаемого изделия:

в центрах бабки с наклоняемой линией центров, мм: 70

в центрах бабки с горизонтальным положением линии центров, мм: 85

в призматических опорах, мм: 100

Расстояние от колонки до оси тубуса (вылет), мм: 105

Пределы измерений в третьей координате при работе с контактным приспособлением, мм: 28

Диапазон показаний шкалы дуг окружностей, мм: 0,1 … 60,0

Диапазон измерений радиусов дуг окружностей:

с объективом 1х, мм: 5,5 … 30,0

с объективом 3х, мм: 0,1 … 5,0

Цена деления:

шкалы окулярной угломерной головки, град: 1

нониуса шкалы наклона линии центров бабки, град: 15

нониуса шкалы поворота накладного круглого стола, град: 3

Цена деления шкал барабанов фотоэлектрических преобразователей, мм: 0,005

Дискретность цифрового отсчета при линейных измерениях, мм: 0,001

Емкость счетчика устройства цифрового отсчетного: 9 999 999

Масса измеряемого изделия, устанавливаемого на координатном столе, не более, кг: 10

Габаритные размеры:

микроскопа, мм: 445×445×610

осветителя, мм: 220×145×165

Параметры питания, В/Гц: 220 / 50

Масса:

микроскопа с окулярной углотмерной головкой, кг: 37

осветителя, кг: 4,7

Измерительный микроскоп МПБ-3

Назначение: отсчетный измерительный микроскоп МПБ-3 предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов. при определении твердости по методу Бринелля.

Описание: Принцип работы измерительного микроскопа МПБ-3 основан на определении размера изображения отпечатка, получаемого от вдавливания шарика в исследуемый материал под определенной нагрузкой, по шкале сетки.

Технические характеристики: объектив 4х объектив 2х Максимальный диаметр измеряемого отпечатка, мм 3,5 7,0 Цена деления, мм 0,02 ±0,0025 0,04 ±0,005 Поле зрения, мм, не менее 4,5 9,0 Увеличение, крат 50±2,5 25±1,2 Предел допустимой абсолютнойпогрешности, мм: на диапазоне измерений 0−1,5(на любом интервале) ±0,006 на диапазоне измерений 0−3,0(на любом интервале) ±0,012 на диапазоне измерений 0−3,5 ±0,02 на диапазоне измерений 0−2,0(на любом интервале) ±0,01 на диапазоне измерений 0−7,0 ±0,02 Пределы установки окуляра, дптр ±4 ±4 Мертвый ход установочного кольца, мм, не более 1,2 1,2 Боковое смещение точки наводки, мм, не более 0,04 0,04 Габаритные размеры, мм, не более высота (в крайнем нижнем положении микроскопа) 203 203 диаметр 53 53 Масса микроскопа, кг, не более 0,300 0,300 Масса микроскопа с принадлежностями, кг, не более 2,0 2,0

Заключение

Микроскоп на сегодня является самым распространенным прибором для медицинских и научных исследований в аналитической и лабораторно-клинической практике.

Современный микроскоп имеет массивный штатив с присоединенным к нему тубусодержателем. На нем смонтирована оптическая система: микромеханизм грубой и тонкой настройки оптической системы, головка для крепления револьверного устройства со сменными 3—4 объективами. предметный столик с конденсором и диафрагмой, и под ним светонаправляющее зеркало, концентрирующее естественный или искусственный свет на объект исследования. Движение препарата в обоих направлениях можно определить по нониусам — вспомогательным шкалам, имеющим цену деления 0,1 мм.

Но первый микроскоп, появившийся в XVI веке, выглядел иначе и представлял собой две выпуклые линзы внутри одной трубки. После того, как А. Левенгук с помощью микроскопа обнаружил и зарисовал сперматозоиды. различных простейших, детали строения человеческих тканей, началось активное усовершенствование этого прибора, причем шло оно очень быстрыми темпами.

В частности, в 1668 г. Е. Дивини, присоединил к окуляру полевую линзу и, таким образом, был создан окуляр современного типа. в 1673 г. Гавелий придумал микрометрический винт, а Гертель предложил под столик микроскопа поместить зеркало. С того самого момента, микроскопы стали монтировать из тех основных деталей, которые и сегодня входят в состав современного биологического микроскопа.

В Россию микроскоп пришел в начале 18 века. Большой вклад в усовершенствование оптических систем микроскопической техники внесли М. В. Ломоносов, И. П. Кулибин, Л. И. Мандельштам, Д. С. Рождественский, А. А. Лебедев, С. И. Вавилов и др.

В 18 и 19 веках микроскопы пережили период активного совершенствования. В 1827 г. Амичи впервые применил иммерсионный объектив.

В конце 18 была предложена новая конструкция микроскопа и был дан расчет ахроматических объективов. Благодаря этому оптические качества микроскопов значительно улучшились. К тому времени увеличение объектов, обеспечиваемое микроскопами возросло до 1000 раз.

В 1850 г. английский оптик Сорби сконструировал первый микроскоп для наблюдения объектов в поляризованном свете. В 1872—1873 гг. Аббе разработал теорию образования изображений несамосветящихся объектов в микроскопе. Английский оптик Сиркс разработал начала интерференционной микроскопии.

В самом начале ХХ века Р. Жигмонди и Зидентопф создали ультрамикроскоп. В 1911 г. появился первый двухлучевой интерференционный микроскоп. В 1935 г. Зернике предложил использовать метод фазового контраста для наблюдения прозрачных, слабо рассеивающих свет объектов.

В середине ХХ века в эволюции микроскопов произошел переломный момент — был изобретен электронный микроскоп. Основное отличие электронного микроскопа от светового состоит в том, что в нем наводка на объект, в основном, производится диафрагмированием за счет применения малых апертур электронных пучков.

Электронный микроскоп предназначен для исследования сверхтонких структур, неразличимых в световых микроскопах. В зависимости от применяемых линз различают магнитные, электростатические или комбинированные электронные микроскопы. По характеру исследования выделяют ПРОСВЕЧИВАЮЩИЕ, ОТРАЖАТЕЛЬНЫЕ, ЭМИССИОННЫЕ, РАСТРОВЫЕ, ТЕНЕВЫЕ и ЗЕРКАЛЬНЫЕ электронные микроскопы. Наиболее распространены микроскопы просвечивающего типа, что связано с их наиболее высокой разрешающей способностью по сравнению с другими типами микроскопов.

В просвечивающем электронном микроскопе пучок электронов проходит через объект и попадает в линзу, которая создает первое электронное промежуточное изображение. Это изображение можно наблюдать на флюоресцирующем экране. Пучок электронов, несущий информацию об исследуемом объекте, проходя через отверстие в центре экрана, попадает на проекционную линзу, которая создает второе увеличение на втором экране. Полученное изображение можно фотографировать встроенным фотоаппаратом.

В отражательном электронном микроскопе изображение объекта видится в отраженных от него электронных лучах, что позволяет непосредственно изучать поверхность объектов.

В эмиссионном электронном микроскопе изображение объекта формируется с помощью имитируемых им электронов.

В растровом микроскопе изображение формируется на кинескопе, а в теневом — создается увеличенное теневое изображение объекта на удаленном экране или фотопленке.

В зеркальном электронном микроскопе основой является электронное зеркало, отражающее электроны от эквипотенциальной поверхности исследуемого объекта (все ее точки имеют один и тот же потенциал) для последующего формирования изображения. Преимущества такого способа получения изображения заключаются в том, что объект практически не облучается электронами или облучается электронами слабых энергий, почти не повреждающих биологические объекты.

С развитием лазерной техники в практику исследований, например при изучении динамических процессов движущейся крови, вошли ГОЛОГРАФИЧЕСКИЕ микроскопы, обеспечивающие получение объемного изображения микроструктур. В этих микроскопах источником освещения объекта служит монохроматическое излучение, генерируемое лазерным источником. Управление исследованиями и обработка их результатов происходит с с использованием ЭВМ.

Список используемой литературы Атомный силовой микроскоп, Наука и жизнь, 2002.

Егорова О., Техническая микроскопия. С микроскопом на «ты», Репроцентр М, 2006.

Егорова О. В., Техническая микроскопия, 2007.

Кете Р., Микроскоп, 2007.

http://www.nikon-instruments.ru

http://tehnicka.ru