История развития электронной микроскопии

На протяжении длительного времени человек жил в окружении невидимых существ, использовал продукты их жизнедеятельности (например, при выпечке хлеба из кислого теста, приготовлении вина и уксуса), страдал, когда эти существа являлись причинами болезней или портили запасы пищи, но не подозревал об их присутствии [1]. Не подозревал потому, что не видел, а не видел потому, что размеры этих микро существ лежали много ниже того предела видимости, на который способен человеческий глаз. Известно, что человек с нормальным зрением на оптимальном расстоянии (25−30 см) может различить в виде точки предмет размером 0,07−0,08 мм. Меньшие объекты человек заметить не может. Это определяется особенностями строения его органа зрения [2].

Приблизительно в то же время, когда началось исследование космоса с помощью телескопов, были сделаны первые попытки раскрыть, с помощью линз тайны микромира. Так, при археологических раскопках в Древнем Вавилоне находили двояковыпуклые линзы — самые простые оптические приборы. Линзы были изготовлены из отшлифованного горного хрусталя. Можно считать, что с их изобретением человек сделал первый шаг на пути в микромир.

Тема развития микроскопии сейчас актуальна как никогда. В настоящее время во всем мире уделяется все возрастающее внимание исследованиям атомной структуры вещества приминительно к созданию новых полупроводниковых материалов, наноструктур, углеродных нанотрубок, металлов и сплавов, алмазных пленок, керамик и приборов на их основе. Понимание их строения на наноуровне, а также анализ различных парметров, включая границы раздела и электронные связи в кристаллических решетках, которые во многом определяют прочностные и электронные свойства получаемых новых материалов, влияют как на выбор технологии получения этих материалов, так и на применение в различных приборах.

Постоянный прогресс в развитии методической и приборной базы аналитической просвечивающей электронной микроскопии позволяет не уступать самые передовые позиции таким новейшим методам, как атомно-силовая микроскопия, Оже-микроанализ, РФЭС ВИМС, ЭПР, и различным рентгеновским спектральным методам исследования (например, EXAFS-спектроскопии) [3].

Целью данной работы является показать весь путь развития микроскопии вплоть до настоящего времени. Рассмотреть эволюцию приборов и методов их использования.