Исследование прибора для измерения астрофотографий

§ 1. Цель и содержание работы. ,.

Измерительный прибор Fencoльда, предназначенный для изшрешя астрофотографий, приобретен Московской обсерваторией в начале текущего столетия. Перво е исследование этого прибора было произведено проф. П. Штернбергом в 13И2г. [zj Исследование прибора не являлось основной частью этой работы, поэтому исследованию были подвергнуты лишь основные детали прибора.

Последующие измервзшлв пользовалась поправками делений основнойшкалы,-полученными П. К. Штернбергом, поправки за другие ошибки (ошибки микрометрического винта, кривизна цилиндра) обычно не вводились, ввиду их малой величины. Изменение рэна вдоль шкалы опреде-, лялось, обычно/каждым измерителем самостоятельно.

Большой период времени протекший, в экяпдоатации с первого исследования/ и обнаруженная из измерений неточности некоторых поправок штрихов шкалы требовали постановки специального исследования измерительного прибора/оо возможности, во всех деталях.

Мы произвели исследование ошибок микрометрического винта основного микроскопа и основной шкалыX. i получив попутно суждение о качестве’вспомогательной шкалы 3″. /.

Подверглось также тщательному исследованию положение и <, и движение пластики и основного микроскопа. иледует заметить, о существует ограниченное число работ, в которых исследование измерительного прибора является главной целью, йих числу следует отнести в первую очередь исследования л.А.Туликова Ж и. Костин ci: orc и ф. гешцаЕ7]отличающиеся наибольшей полнотой. Заслуживает внимания работа Г. Риттера [>ч], г. Шора \ь] и ф. Шлезингера Г/s" J, последняя интересна анализом преимуществ^ и недостатков измерительного при-бора со шкалой по сравнения с прибором, снабженным вин- ' том.^. ~ s *.

§ 3. Результаты исследования шкалыX •.

Первоначально да исследовали штрихи Ги-ти миллиметровых интервалов шкалы. В качестве вспомогательной шкалы употреблялся участок шкалы У, оцифрованный с 291 до 300, как имещий ровные штрихи на однородном фоне. Проведение измерении для исследования одного 13 мм участка шкалы X занимало около 4-х часов.

Исследования производились в следующем порядке: 0−10, 170−180, 10−20, 160−170. 160−170, 10−20, 170−180, 0-ГС.Таким образом каждый сантиметр исследовался дважды.

В агаблице. Хб приведены полученные при исследовании сантиметровых интервалов поправки миллиметровых штрихов шкалы X. Поправки сантиметровах крайних штрихов принят^ равными нулю.

— bo.

ТаблщЭсХ Ь.

0 0 10 20 30 40 50 60 70 80 оСоо оСоо оСоо о^оо оГоо оСоо оСоэ оСзо оСоо 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00' 0.00.

1 -2.60 +0.59 -0.39 +0.03 -0.42 +1.39 +0.22 +0.01 НЭ.11. * t * -2.32 +0.44 — 0.28 +0.15 — 0.45 +1.59 +0.j>7 +0.21 +0.27.

2 -1.48 +0.76 -0.26 +0.27 — 0.34 — 0.54 -1.52 +0.16 -0.55 -1.54 +0.10 -0.37 +0.22 +0.12 -0.44 '0.77 +0.15 -0.50.

3 -1.16 +0.32 '0.22 +0.08 +1.08 +0.54 -1.68 -0.61 -0.90 -1.06 +0.08 +0.14 +0.53 +0.75 +0.63 -0.93 -0.57 -0.30.

4 -1.70 +0.93 +0.27 -1.34 +0.46 +0.53 +0.62 -0.30 -1.73 -1.77 +1.07 +1.05 -1.23 +0.74 +0.43 +0.36 — 0.60 -1.22.

5 -1.39 -0.01 -0.82 '0.06 -0.93 +0.13 -0.70 -0.23 -0.77 -0.72 -0.70 -0.63 +0.25 -0.74 +0.66 -1.00 -0.50 -0.67.

6 -1.90 -0.03 -0.50 +0.01 -0.26 -0.58 -0.85 +0.22 -1.08 -1.54 — 0.07 — 0.01 +0.28 — 0.61 -0.32 -1.22 +0.12 -0.85.

7 -1.12 +0.63 +0.54 -0.11 +0.87 +0.61 -1.24 +1.06−2.05 +0.08 +0.71 +1.07 +С.14 +0.67 +0.37 -1.11 +1.22−2.03.

8 -1.02 +0.95 +0.38 +0.54 +2.16 +0.12 +0.42 +0.71 -1.40 -0.87 +1.48 +0.96 +0.79 +1.77 -0.38 +0.59 +0.91 -0.67.

9 -0.99 -0.19 -0.24 +0.07 -0.20 -0.99 -0.29 +0.09 -1.51 -0.39 +0.09 +0.68 +0.02 -0.23 -0,07 +0.09 +0.17 -1.14.

10 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 Ш. ОО 0.00 0.00.

0 10 20 30 40 50 60 70 80.

90 100 110 120 130 и 0 150 и ю 170 oCoo оСоо оСоо оСоо — оСоо oCqq оСоо оСоо о{Ьо 0. ,.

0.00 0.00 0 00 0 00 0 00 0 00 0 00, 0, 00 0 00 1,.

— 0.93 -0.63 +0 71 -0 25 -0 23 +0 56 +1 60 -0 01 -1 03 1.

— 0 81 -0.56 +0 82 -0 30 -0 22 +0 д2 +1 30 +0 16 -0 46 о. б8 -0.35 -0 51 -о 50 0 00 +0 23 +1 50 '0 30 -0 37 9.

— 0.67 -0.45 -0 62 -0 35 -0 21 +0 24 +0 87 -0 14 +0 06 с&

— 1.19 -0.32 67 -0 91 +0 03 -0 03 +1 14 -2 24 -а 68 3.

— 1.36 -0.37 00 «0 57 '0 63 +0 06 +0 85 -1 42 -0 22.

— 0.27 -1.34 +0 30 +0 27 +0 61 +0 47 +0 21 -0 06 -1 05 А.

— 0.72 -1.28 -0 14 +0 97 +0 74 +0 54 -1 14 -0 41 -0 81.

— 0.99 -0.61 -0 13 +0 14 +1 48 +0 92 +0 56 -1 $ 7 ,?80 1.42 -0″ 25 -0 51 +0 43 +1 55 +0 86 +0 -1 34 -1 06 и.

40.37 -1.57 +0 11 -0 67 +0 25 +0 86 +0 75 -1 46 -0 87 А.

— 0.32 — 1. <3 $ +0 40 -о (44 -0 2 В +0 76+0 38 -1 25 -0 49 0.

— 0.24 -1.64 +0 31 40 99 +1 30 +1 05 +1 94 -1 1)2 +0 37.

— 0.98 -1.67 +0 35 +1 44 +0 67 +1 32 +1 37 -1 43 +9 64 (.

0.69 -0.79 +1 13 +0 17 +1 38 +0 29 +0 40 -1 35 +0 87 Q.

— 0.10 -0.79 +0 61 +0 81 +1 43 +0 85 -0 07 -0 81 +0 51 о.

0.51 +0.03 +0 3?> +0 54 +1 19 +0 57 +0 21 '0 42 +0 04 9.

0д6 -0.24⁰ 01 +1 00 +1 18 +0 37 -0 26 +0 39 -0 10.

0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0,00 0 0 00 00 0 0 00 00 0 0 00 0 00 0 00 00 0 0 00 00 0 0 00 00 10.

90 100 110 120 130 140 150 160 170.

Для определения поправок оперных штрихов сантиметровые штрихи шкалы X сравнивались, с сантиметровыми делениями шкалы У, а именно с 200−370. Ввиду большего числа измерений их пришлось растянуть на 2−3 дня.

Опорные штрихи исследовались три раза. В табл. iAf7 приведены полученные величины «поправок опорных штрихов для трех исследований, а также среднее из них. Ил Рис.)/ графически представлены результаты этих исследований.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

I 1. Об учете ошибок прибора. рассмотрим вопрос об учете поправок за ошибки прибора при измерении астрофотографий при обычно употребляющемся объективном увеличении основного микроскопа 1:1.

Если принять точность наведения на звезду разной одному микрону, то при обработке измерений следует учесть поправки наименований делений щкалыХ, поправки за кривизну цилиндра, если измеряемое объекты виходят за пределы участка между 250 и 350 делениями зкалн^ и учесть изменение рэна вдоль шкалы X, если измеряемые объекты выходят за пределе участка мецду 30 и 140 делениями шкаль X.

В случае, если точность наведения на объекты мо -&-ет быть повышена, то необходимо помимо поправок. за ошибки делений шкалы вводить поправки за кривизну цилмндра и изменение рэна вдоль шкалы, а такке за ходовые ошибки мйкрометриш&эго а$нта, если микрометром измеряется интервалы больше первых семи оборотов винта,. считая их слева направо.

К числу ошибок, которые не следует учитывать при обработке измерений, относятся периодические ошибки микрометрического винта и ходовые ошибки этого винта при измерении первыми семью оборотами.

— Во избежание ошибки перекоса платформы следует подводить измеряемый объект под микроскоп однотипным движением платформы, лучше в сторону той части системы, которая легче: платформа ийм груз.. а.

§ 'd. Замечания конструктивного характера. Измерительный прибор при достаточной точности изготовления, если не говорить о шкале, обладает рядом недостатков конструктивного характера. Не ставя себе целью разработку конструкции измерительного прибора, мы’считаем необходимым упомянуть о некоторых деталях, имеющих практическое значение. о.

1. Пластинка вставляется в прибор и закрепляется в нем не аналогично закреплению в кассете, поэтому монет оказаться^что пластинка имеет при измерении про гиб отличный от прогиба при фотографировании. Допустимая величина различия в прогибе равная 0.1мм (.см.стр

76) может быть превзойдена.

2. Основной микроскоп фокусируется на шкалу про стым передвижением его трубки в держателе и затем его положение закрепляется зажимным винтом. йрш смене увеличения очень трудно бывает отфо-кусировать микроскоп, сохраняя параллельность нитей микрометра к штрихам. Мы считаем, что следовало устроить кремальеру с зажимным, винтом.

— I од.

3. С цельэ улучшения дзшенгя платформы, а юлешо-уменьоения перекоса платформы следует заменить перодвк-аение платформы с помощьо рейка w эесте^енки тягой' за верхний край платформы. Для чего следует вместо троса для груза поставить цепь Галля, а вместо блока-зубчатое колесо и осуществлять перемещение платформы с помощью выведенной оси зубчатого колеса. ц]ще лучле укрепить о груз на линии центра тяжести, а тянуть платформу за точку на равнрдеЁствующей сил трения.

Следует отметить, что рфцро®уюорзигодд!* перекос^ платформы является технически трудно устраняемым, и необего/ ходшо добиваться лишь постоянства (величины «ЩзцаиобД. у.

4.4 Небольшим неудобством при изменении является расположение микрометрического винта, вращающего платформуего следовало расположить слева в менее доступном для случайного прикосновения месте. В заключение считаю своим долгом выразить глубокуэ благодарность профессору С.Н.БЛ&&&Э, руководившему выполнением настоящей работы. f.