Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Токи в полупроводниках

РефератПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В полупроводниках свободные электроны и дырки находятся в состоянии хаотического движения. Поэтому, если выбрать произвольное сечение внутри объема полупроводника и подсчитать число носителей заряда, проходящих через это сечение за единицу времени слева направо и справа налево, значения этих чисел окажутся одинаковыми. Это означает, что электрический ток в данном объеме полупроводника отсутствует. Читать ещё >

Токи в полупроводниках (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Дрейфовый ток

В полупроводниках свободные электроны и дырки находятся в состоянии хаотического движения. Поэтому, если выбрать произвольное сечение внутри объема полупроводника и подсчитать число носителей заряда, проходящих через это сечение за единицу времени слева направо и справа налево, значения этих чисел окажутся одинаковыми. Это означает, что электрический ток в данном объеме полупроводника отсутствует.

При помещении полупроводника в электрическое поле напряженностью Е на хаотическое движение носителей зарядов накладывается составляющая направленного движения. Направленное движение носителей зарядов в электрическом поле обусловливает появление тока, называемого дрейфовым (Рисунок 1.6, а) Из-за столкновения носителей зарядов с атомами кристаллической решетки их движение в направлении действия электрического поля прерывисто и характеризуется подвижностью. Подвижность равна средней скорости, приобретаемой носителями заряда в направлении действия электрического поля напряженностью Е = 1 В/м, т. е.:

. (1.11).

Токи в полупроводниках.

Подвижность носителей зарядов зависит от механизма их рассеивания в кристаллической решетке. Исследования показывают, что подвижности электронов n и дырок p имеют различное значение (n > p) и определяются температурой и концентрацией примесей. Увеличение температуры приводит к уменьшению подвижности, что зависит от числа столкновений носителей зарядов в единицу времени.

Плотность тока в полупроводнике, обусловленного дрейфом свободных электронов под действием внешнего электрического поля со средней скоростью, определяется выражением:

.

Перемещение (дрейф) дырок в валентной зоне со средней скоростью создает в полупроводнике дырочный ток, плотность которого. Следовательно, полная плотность тока в полупроводнике содержит электронную jn и дырочную jр составляющие и равна их сумме (n и p — концентрации соответственно электронов и дырок).

Подставляя в выражение для плотности тока соотношение для средней скорости электронов и дырок (1.11), получаем:

(1.12).

(1.12).

Если сравнить выражение (1.12) с законом Ома j =Е, то удельная электропроводность полупроводника определяется соотношением:

Токи в полупроводниках.

.

У полупроводника с собственной электропроводностью концентрация электронов равна концентрации дырок (ni = pi), и его удельная электропроводность определяется выражением:

Токи в полупроводниках.

.

В полупроводнике n-типа >, и его удельная электропроводность с достаточной степенью точности может быть определена выражением.

Токи в полупроводниках.

.

В полупроводнике р-типа >, и удельная электропроводность такого полупроводника.

Токи в полупроводниках.

В области высоких температур концентрация электронов и дырок значительно возрастает за счет разрыва ковалентных связей и, несмотря на уменьшение их подвижности, электропроводность полупроводника увеличивается по экспоненциальному закону.

Показать весь текст
Заполнить форму текущей работой