Диагностирование управляющих логических устройств на основе процедуры машинного доказательства теорем в исчислении высказываний
Диссертация
В связи с повышением степени интеграции микросхем и расширением применения микросхем четвертой, пятой и шестой степени интеграции (так называемых БИС и СБИС) возможности автоматической генерации тестов и моделирования дефектов уменьшаются. Отрешение к поиску параметров, которые бы, с одной стороны, определяли поведение схемы, и, с другой стороны, легко поддавались диагностированию, и способов… Читать ещё >
Список литературы
- Уильяме Т.У., Паркер К. П. Проектирование контролепригод-ных устройств. — Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Проектирование СБИС: Проблемы и средства / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, т. 71, № 1. с 122 -139.
- Камерфорд Р., Лаймен Дж. Специальный обзор по средствам самотестирования. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, № 5, с. 25 — 48.
- Северен Д.П., Лай Л.Ц. Контроль цифровых систем. Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Автоматизированное проектирование / Пер. с англ. М.: Мир, 1981, т. 69, № 10, с. 163 — 179.
- Faulkner T.L., Bartlett C.W. Hardware logic design faults-a classification and some measurements.-Proceedings: the
- Annual International Symposium Fault Tolerant Computing, 1982. New York: IEEE, 1982, pp.377−380.
- Пархоменко П.П. О диагностическом аспекте надежности.
- В кн.: Технические средства систем управления и вопросы их надежности. М.: Наука, 1982, с. 131 138.
- Богомолов A.M., Твердохлебов В. А. О классификации и оценке методов технической диагностики. В кн.: Методы и системы технической диагностики. Саратов: Сарат. ун-т, 1980, вып. I, с. 3−17.
- Галин А.Б. Методы проверки работоспособности и диагностирования дискретных устройств с памятью. Ростов н/Д, 1978. — 51 с. — Рукопись представлена Рост. инж.-строит, ин-том. Деп. в ВИНИТИ9 окт. 1978, № 3189−78.
- Hill F.J., Huey В.M. SCIRTSS i s search system for sequential circuit test sequences. IEEE Transactions on Computers, 1977, 26, И5, pp.490−502.
- Breuer M.A., Friedman A.D. TEST/80 a proposal for an advanced automatic test generation system. — Autotestcon*79. International Automatic Testing Conference, 1979. New York: IEEE, 1979, PP.305−312.
- Метод диагностики цифровых схем с применением ЭВМ. = Rechnergestutzte Diagnosevertahren fur digitale Schaltungen/Hermann L.e.a.- ВЦП. № Г — 25 828. — 43 с. -Elektronik, 1980, 7.30, Nr.8, pp.317−326.
- Trishler E. Incomplete scan path with an automatic test generation methodology. Siemens Forschungs — und Entwicklungsber, 1981,10,U3, pp.150−155.
- El-zig Y.M. A new test pattern generation system. -Proceeding: the 17th Design Automation Conference, 1980. New York? IEEE? 1980, pp.62−68.
- Голыничев B.H., Звягин В. Ф., Немолочнов О. Ф. Регулярный метод синтеза тестовых последовательностей. Установочная последовательность, корректность проверяющей последовательности. Автоматика и телемеханика, 1981, № 9, с. 162−172, 1984, № I. с. 125 134.
- Звягин В.Ф., Немолочнов О.Ф, Слоев Б. А. Метод синтеза корректных последовательностей для логических схем с триггерами. -Автоматика и вычислительная техника, 1983, № 4, с. 53−58.
- Bottorff P. S. Computer aids to testing an overview. -Computer design Aids VLSI Circuits. Proceeding: Nato Advantage Study Institute Programming, 1980. Rockville, 1981, pp.417−763.
- Биргер А.Г., Гурвич Е. Т. Построение тестов для древовидных сетей автоматов. Автоматика и телемеханика, 1981, № 8,с. 142 151- № 9, с. 151 — 161.
- Пинн К. Внутрисхемные испытания с применением сигнатурного анализа. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1979, № II, с. 64 70.
- Нищргеу J.R., Firooz К. ATE brings speedy, complete testing via signature analysis to LSI board production. — Electronic Design, 1980, 28, H3, pp.75−79.
- Huaprey J.R., Firooz K. Signature analysis for board testing. Radio and Electronic Engineering, 1981, 51, H1,pp.37−50.
- Новик Г. Х., Сташин В. В. Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ. Автоматика и телемеханика, 1982, № 8,с. 162 164.
- Ситон Дж. Программные средства для автоматизации поиска неисправностей в условиях производства и ремонта. Электроника/ Пер. с англ. М.: Мир, 1982, № 24, с. 43 — 50.
- Thevenod-Fosse P., David R. A method to analyse random testing of sequential circuits. Digital Processes, 1974,4,83−4-, pp.313−332.
- David R., Thevenod-Fosse P. Minimal detecting transition sequiences: application to random testing. IEEE Transactions on Computers, 1980, 29″ N6, pp.514−518.
- Бедренко С.В., Матросова А. Ю. О вероятностном подходе к проверке последовательностных устройств. Автоматика и телемеханика, 1980, № I, с. 97 — 102.
- Романкевич A.M. О направленном поиске отказов в вероятностных системах диагностирования цифровых объектов. Управляющие системы и машины, 1981, № I, с. 47 — 49.
- Muehldor E.I., Savkar A.D. LSI logic testing an overview. — IEEE Transactions on Computers, 1981, 30, N1, pp.1−17.
- Хиглинг P., Кейс Г. Автоматизированная генерация тестов -последнее звено в цикле проектирования. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1981, № 24, с. 59 — 66.
- Breuer М.А., Pridman A.D. Functional level primitives in test generation. IEEE Transactions on Computers, 1980, 29, N3, pp.223−235.
- Barto R., Szygenda S.A. A computer architecture for digital logic simulation. Electronic Engineering, 1980, 52, N642, pp.35, 36, 41, 45t 47, 50, 54, 56, 60, 63, 66.
- Фойер M. Автоматизация проектирования СБИС: Введение. -Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Проектирование СБИС: Проблемы и средства / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, т. 71, с. 8 13.
- Savir J., Roth J .P. Testing for, and distinguishing between failures. Proceedings: the 12th Annual International Symposium Fault — Tolerant Computing, 1982. New YorksIEEE, 1982, pp.165−172.
- Мартин M, Сигнатурный анализ приобретает все новых поклонников. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1980, № 5, с. 25−28.
- Шкиль A.C., Рустинов В. А., Черножуков Е. С. Автоматизированная система проверки и поиска дефектов дискретных устройств. -В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост, инж.-строит. ин-т, 1983, с. 103−107.
- Кривуля Г. Ф., Рустинов В. А., Хаханов В. И. Динамическое тестирование цифровых блоков на основе сигнатурного анализа.
- В кн.: Методы и системы технической диагностики. Саратов: Сарат. ун-т, 1981, с. 49−53.
- Кривуля Г. Ф., Немченко В. П., Шкиль A.C. Построение диагностического теста цифрового устройства на этапе проектирования.-В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост, инж.-строит. ин-т, 1981, с. 20−28.
- Шкиль A.C., Хаханов В.И. D -метод построения тестов диагностирования для последовательностных схем. Харьков, 1982. б с. Рукопись представлена ХИРЭ. Деп. в ВИНИТИ II мая 1982, № 2344−82.
- Шкиль A.C., Рустинов В. А., Хаханов В. И. Применение D -исчисления при построении тестов для последовательностных счетных структур. Автоматика и вычислительная техника, 1983, № 4, с. 59−63.
- Основы технической диагностики. Кн. I. Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза / Под ред. П. П. Пархоменко. М.: Энергия, 1976. — 464 с.
- Гуляев В.А., Макаров С. М., Новиков B.C. Диагностика вычислительных машин. Киев: Техника, 1981. — 167 с.
- Томас Д.Э. Автоматизированный синтез цифровых систем. -Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Автоматизированное проектирование / Пер. с англ. М.: Мир, 1981, т. 69, № 10, с. 20−35.
- Ньютон А.Р. Автоматизация проектирования сверхбольших интегральных схем. Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Автоматизированное проектирование / Пер. с англ. М.: Мир, 1981, т. 69, № 10, с. 720.
- Горяшко А.П. 0 синтезе схем с минимальной трудоемкостью тестирования. Автоматика и телемеханика, 1981, № I, с. 145−153.
- Асафьев Ю.В., Бойкевич A.M., Волчек B.JI., Горяшко А. П. Создание контролепригодных устройств направление, продиктованное интегральной технологией. — Изв. АН СССР. Техническая кибернетика, 1981, № 4, с. 146−154.
- Горяшко А.П. Некоторые результаты теории синтеза легко тестируемых схем. Изв. АН СССР. Техническая кибернетика, 1982, № 2, с. 139−150.
- Слабаков Е.В., Согомонян Е. С. Самопроверяемые вычислительные устройства и системы (обзор). Автоматика и телемеханика, 1981, № II, с. 147−167.
- Турино Й., Биннендик Ф. Рациональные методологии тестирования, позволяющие снизить стоимость производства. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1981, № 26, с. 35−40.
- Лаймен Дж., Камерфорд Р. У. Новые направления в технике проверки СБИС систем. — Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1982, № 22, с. 39−46.
- Williams T.W. Dsign for testability. Proceedings: theh
- Design Automation Conference, 1982. New York: IEEE, 1982, p.9.
- Saluja K.K. An enhancement of LSSD to reduce test pattern generation effort and increase fault coverage. Proceedings: the 19th Design Automation Conference, 1982. New YorksIEEE, 1982, pp.489−494.
- Ando H. Testing VLSI with random access scan. Proceedings: the 20^ IEEE Computing Society International Conference, 1980. New York: IEEE, 1980, pp.50−52.
- Фазанг П.П. Схемный модуль для практической реализации самотестирования. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1982, № 10, с. 64−69.
- Miller D.M. Spectral signature testing for multiple -valued combinational networks. Proceedings: the 12 International Symposium Multiple-Valued Logic, 1982. New York: IEEE, 1982, pp.152−158.
- Carter W.C. The ubiquitous parity bit. Proceedings: the1. XL
- Annual International Symposium Fault-Tolerant Computing, 1982. Sew York: IEEE, 1982, pp.289−296.
- Muzio J.C., Miller D.M. Spectral techniques for fault de4* fttection. Proceedings: the 12 Annual International Symposium Fault-Tolerant Computin, 1982. New York: IEEE, 1982, pp.297 302.
- Susskind A.K. Testing by verifying Walsh coefficients.-IEEE Transactions on Computers, 1983, 32, N2, pp.198−201.
- McClusky E.J. Verification testing. Proceedings: the 19 Design Automation Conference, 1982. New York: IEEE, 1982, pp.495 500.
- Комоницки Д. Полное самотестирование системы результат синтеза существующих методов. — Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, № 5, с. 26−35.
- Метц С., Вильсон Д. Диагностическая подсистема, обеспечивающая непрерывную работу отказоустойчивого многомашинного комплекса. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1982, № 24,с. 50−55.
- Коробова И.Л., Турчина Е. Д. Пути сокращения времени построения тестов. В кн.: Автоматизация технического проектирования. Вильнюс: Вильн. политехи, ин-т, 1981, с. 57−69.
- Турчина Е.Д., Коробова И. Л. Построение тестов для устройств на микропроцессорных БИС. В кн.: Техническая диагностика. У Всесогоз.совещ. (Тезисы докладов). М.: Ин-т проблем управления АН СССР, 1982, с. 176−178.
- Турчина Е.Д., Коробова И. Л. Метод многотактовой активизации путей в автоматизированной системе построения тестов. В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост, инж.-строит. ин-т, 1983, с. 79−84.
- Смит К. Язык автоматизированного проектирования шаг к универсальным описаниям аппаратных средств. — Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, № I, с. 18−19.
- Фалькович М.А., Галин А. Б. 0 контроле и диагностике цифровых автоматов методами логического вывода. В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост. инж.-строит, ин-т, 1977, вып. 17, с. 124−129.- 137
- Сперанский Д.В. Методы преобразования структур дискретных систем с целью повышения их контролепригодности и оптимизации процессов диагностирования: Автореф. дис.. д-р техн.наук. Киев: ИЭП АН УССР, 1983. 42 с.
- Майерс Г. Надежность программного обеспечения. М.: Мир, 1980. — 360 с.
- Тейер Т., Липов М., Нельсон Э. Надежность программного обеспечения. М.: Мир, 1981. — 323 с.
- Schindler М. Software testing a scarce art struggles tobecome a science = Современное состояние и тенденции развития методологии проверки программного обеспечения. Экспресс — информация. Вычислительная техника. М.: ВИНИТИ, 1983, № 21, с. 18−22.
- Daniels В.К. Software Reliability. Reliability Engineering, 1983, 4, N4, 199−234.
- Юценко Е.Л., Касаткина И. В. Современные методы доказательства правильности программ. Кибернетика, 1980, № б, с. 37−62.
- Андерсон Р. Доказательство правильности программ. М.: Мир, 1982. — 168 с.
- Майерс Г. Искусство тестирования программ. М.: Финансы и статистика, 1982. — 176 с.
- Бичевский П.П., Борзов Ю. В. Развитие методов символического тестирования программ. Автоматика и телемеханика, 1982, № 8, с. 93 — 101.
- Пархоменко П.П., Правильщиков П. А. Диагностирование программного обеспечения. Автоматика и телемеханика, 1980, № I, с. I03-I2I.
- Чень Ч., Ли Р. Математическая логика и автоматическое доказательство теорем. М.: Наука, 1983. — 360 с.
- Гордиенко А.В. 0 сложности проблемы автоматизации генерирования исходных данных для тестирования программ. Кибернетика, 1982, № I, с. 123−124.
- Галин А.Б., Фалькович М. А. Дианостирование цифровых автоматов без памяти на основе модификации естественного логического вывода. Автоматика и телемеханика, 1980, № I, с. I3I-I37.
- Генцен Г. Исследования логических выводов. В кн.: Математическая теория логического вывода. М.: Наука, 1967, с. 974.
- Шанин H.A., Даввдов Г. В., Маслов С. Ю., Минц Г. Е., Орев-ков В.П., Слисенко А. О. Алгоритм машинного поиска естественного логического вывода в исчислении высказываний. Л.: Наука. Ленингр. отд-ние, 1965. — 40 с.
- Новиков П.С. Элементы математической логики. М.: Физмат-гиз, 1959. 400 с.
- Минц Г. Е. Теорема Эрбрана. В кн.: Математическая теория логического вывода. М.: Наука, 1967, с. 311−350.
- Хао Ван. На пути к механической математике. В кн.: Кибернетический сборник. М.: Изд-во иностр. лит., 1962, № 5,с. II4-I65.
- Казначеев В.И. Дианостика неисправностей цифровых автоматов. М.: Советское радио, 1975. — 256 с.
- Ахо А., Хопкрофт Дж., Ульман Дж. Построение и анализ вычислительных алгоритмов. М.: Мир, 1979. — 536 с.
- Гэри М., Джонсон Д. Вычислительные машины и труднорешае-мые задачи. М.: Мир, 1982. — 416 с.
- Кук С. А. Сложность процедур вывода теорем. В кн.: Кибернетический сборник. Новая серия. М.: Мир, 1975, вып. 12, с. 5−15.
- Рабин М.О. Разрешимые теории. В кн.: Справочная книга по математической логике: В 4-х частях /Под ред. Дж. Барвай-са. — Ч. Ш. Теория рекурсии: Пер. с англ. — М.: Наука, 1982, с. 77−11I.
- Чжен Г., Мэнинг Е., Метц Г. Диагностика отказов цифровых вычислительных систем. М.: Мир, 1972. — 232 с.
- Мадатян Х.А. Полный тест для бесповторных комбинационных схем. В кн.: Проблемы кибернетики. М.: Наука, 1970, вып. 23, с. I03-II8.
- Кузнецов О.П. 0 программной реализации логических функций и автоматов. I, П. Автоматика и телемеханика, 1977, № 7, с. 163 174, № 9, с. 137−149.
- Пупырев Е.И. Интерпретирующие программы реализации булевых функций и автоматов. Автоматика и телемеханика, 1982, № I, с. 132−140.
- Леман М.М. Программы, жизненные циклы и законы эволюции программного обеспечения. Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Техника программного обеспечения/ Пер. с англ. М.: Мир, 1980, т. 68, № 9,с. 26−45.
- Min Y., Su S.Y.H. Testing functional faults in VLSI. -Proceedings: the 19 Design Automation Conference, 1982. New York: IEEE, 1982, pp.489−494.
- Галин А.Б., Фалькович M.A. Проверка работоспособности дискретных устройств. В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост. инж.-строит, ин-т, 1981, с. 154−162.
- Галин А.Б. Аналитические модели дискретных объектов диагностирования. Ростов н/Д, 1981. — 24 с. Рукопись представлена Рост. инж.-строит, ин-том. Деп. в ВИНИТИ 5 мая 1981, «1958−81.
- Шива С.Г. Языки описания аппаратуры ЭВМ: Методологический обзор. Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике / Пер. с англ. М.: Мир, 1979, т. 67, № 12, с. 27−39.
- Thatte S. J5. t Abraham J.A. Test generation for microprocessors. IEEE Transactions on Computers, 1980, 29, N6, pp.4−29−441.
- Хейес Дж.Л. Обобщенная теория переключательных схем и ее применение для проектирования СБИС. Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике / Пер. с англ. М.: Мир, 1982, т. 70, № 10, с. 5−19.
- Галин А.Б. Автоматизированная система диагностирования управляющих логических устройств. В кн.: Вопросы технической диагностики. Ростов н/Д: Рост. инж.-строит, ин-т, 1984, с. 127 135.
- Шива С.Г. Автоматизированный синтез аппаратных средств. -Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. Тематический выпуск: Проектирование СБИС: Проблемы и средства / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, т. 71, № I, с. 95−110.
- Глэдстоун Б. Рабочая станция, экономящая время проектирования систем. Электроника / Пер. с англ. М.: Мир, 1983, № I, с. 87−93.