Идентификация механизмов токопереноса структур Me-a-Si: H при автоматизированной обработке экспериментальных данных
Диссертация
В случае надежной идентификации механизмов прохождения, появляется возможность контролировать качество получаемых барьерных структур на аморфных полупроводниках, регистрируя надбарьерную эмиссию Шоттки (в случае «активного» барьера металл-а-БпН) и квадратическую проводимость в случае получения квазиомического контакта для структуры p-i-n солнечного элимента. Разработан пакет программ «Обработка… Читать ещё >
Список литературы
- Аморфные полупроводники//под ред. Хейванга.
- Аморфные полупроводники и приборы на их основе//Под. ред. Хамайковы И. М.: Металлургия 1986. С. 376.
- Гибадатов И.Ю. Неравновесные процессы в барьерных слоях некристаллических полупроводников дисс. канд. техн. наук//Рязань. РРТИ. — 1991.
- Shirashi Т., Iida M.I., Shinohava К., Adler D. Electrical conduction mechanisms in amorphous GeTe thin films//J. Non- Cryst. Sol. 1981.-Vol. 45 № 2-P.169−181.
- Andrisesh A.M., Arkhipov V.I., Iovu M.S., Rudenko A.I., Shutov S.D. Anomalous transient photocurrent in disordered semiconductors: theory and experiment// Sol. St. Commun. -1983.-Vol. 48 № 12-p.l041−1043.
- Родерик Э.Х. Контакты металл полупроводник: Пер. с англ./Под ред.Г.В. Степанова-М.:Радио и связь. 1982.-С.208.
- Д. Карлсон, К. Вронски: Солнечные батареи из аморфного кремния/ Под ред. М. Бродски.-М.: Мир. 1982. С. 424.
- Вихров С.П., Вишняков Н. В., Маслов А.А Особенности формирования барьера металл-аморфный гидрогенизированный кремний//Известия ВУЗов. Электроника.№ 3. 2000. С.48−54.
- Маслов А.А., Вишняков Н. В. Релаксационные процессы в контактах металл аморфный полупроводник////докл. межд. конф. «Релаксационные явления в твердых телах». Воронеж. 1999. С.87−88.
- Вишняков Н.В. Контактные явления в структурах металл -аморфный гидрогенизированный кремний: дисс. канд. техн. наук, — Рязань, РРТИ.1993.
- Нагельс П. Электронные явления в аморфных полупрводниках//в кн. Аморфные полупроводники/ под ред. Н. Бродски. М.: Мир, 1982. С. 424.
- Effeckts of tunneling on a-Si:H Shottky Barriers/ L. Mariucci, C. Colurra, A. Frova// f. Appl. Phys. 1987. Vol 62. № 8. P.3285−3287.
- Цветков А.Ф. Планирование эксперимента. Теория и практика: Учеб. Пособие для вузов. Рязань: РГРТА, 1998.
- Копченова Н.В., Марон И. А. Вычислительная математика в примерах и задачах. М.:Наука, 1972.368 С.
- Румшинский Л.З. Математическая обработка результатов эксперимента. М.: Наука, 1971. 192 С.
- Калиткин Н.Н. Численные методы. М.: Наука, 1978.
- Пустыльник Е.И. Статистические методы анализа и обработки наблюдений. М.: Наука, 1968.
- Асатурян В.И. Теория планирования эксперимента: Учеб. пособие для вузов. М.: Радио и связь, 1983. С. 248.
- Дрейпер Н., Смит Г. Прикладной реграссионный анализ. В2 кн.: Пер. с англ. М.: Финансы и статистика. Кн. 1, 1986- Кн. 2, 1987.
- Ферстер Э., Рену Б. Методы регрессионного и корреляционного анализа. М.: Финансы и статистика, 1983.
- Статистические методы в инженерных исследованиях: Учеб. пособие для вузов/ В. П. Бородок, А. П. Вощинин, А. З. Иванов и др. М.: Высш. школа, 1983. С. 216.
- Краснощеков П.С., Петров А. А. Принципы построения моделей. М.: Издательство МГУ, 1983.
- Львович Я.Е., Фролов В. Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности РЭА: Учеб. пособие для вузов. М.: Радио и связь, 1986. С. 192.
- Борисов Ю.П., Цветков В. В. Математическое моделирование радиотехнических систем и устройств. М.: Радио и связь. 1985.
- Зейдель А.Н. Ошибки измерения физических величин. Д.: Наука, 1971. 108 С.
- Закс Л. Статистическое оценивание. М.: Статистика, 1976.
- Математическая теория планирования эксперимента/Под ред. С. М. Ермакова. М.: Наука, 1983.
- Себер Дж. Линейный реграссионный анализ. М.: Мир, 1980.
- Шалыгин А.С., Палагин Ю. И. Прикладные методы статистического моделирования. Л.: Машиностроение, 1986.
- Аппроксимация: алгоритмы, программы: Методические указания / РРТИ- Сост. М. П. Булаев, Рязань, 1993.
- Чураков Е.П. Математическое моделирование и вычислительный эксперимент. Учеб. пособие для вузов. Рязань: РГРТА, 1991.
- Галкин В.Я., Уфимцев М. В. Монте-Карловское исследование многомерных робастных оценок параметра сдвига/УМатематическая статистика и ее применения. 1981. № 7. С.20−23.
- Устойчивые статистические методы оценки данных /Под. ред. Р. Лонера, Г. Уилкинсона. М.: Машиностроение, 1984.
- Тихонов А.Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1974.
- Тихонов А.Н., Уфимцев М. В. Статистическая обработка результатов экспериментов. М.: МГУ, 1988.
- Лебедев А.Н. Моделирование в научно технических исследованиях. М.: Радио и связь, 1989.
- Канту М. Delphi. Руководство разработчика.-М.:ВЕК, Десс, Энтроп, 1999.-752 стр.
- Калверт Ч. Delphi 2. Энциклопедия пользователя.-Киев. :ДиаСофт, 1996.-73 6С.
- Калверт Ч. Delphi 4. Энциклопедия пользователя.-Киев.: ДиаСофт, 1999.-800С.
- Минаеи М. Графический интерфейс пользователя: секреты ипроектирования.-М.:Мир, 1996.-160С.
- Обзор комплекта модулей MCU4. http://www.fractal.com.ru/HTML/MCU4.htm
- AT89S53 In-System Programmable Microcontroller with 12k bytes Flash, http://www.atmel.com/atmel/acrobat/doc0787.pdf
- Современные микроконтроллеры: Архитектура, средства проектирования, примеры применения, ресурсы сети Интернет.// Под ред. Коршуна И.В.— М:"Аким", 1998. — 272 с.
- Описание Fractal-BASIC. http://www.fractal.com.ru/HTML/Fractal-BASIC/Basdoc.htm
- The I2C-bus specification. http://www.semiconductors.eom/acrobat/various/I2CBUSSPECIFICATION3.p
- PIC 16F873/4/6/7 Datasheet. http://www.microchip.com/download/lit/pline/picmicro/families/16f87x/30292c.pd
- Вольтметр-электрометр универсальный B7−30: техническое описание и инструкция по эксплуатации.-1987.
- Грановский В.А., Сирая Т. Н. Методы обработки экспериментальных данных при измерениях. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд., 1990. 288 с.
- Новицкий П.В., Зограф И. А. Оценка погрешности результатов измерений. 2-е изд. перераб. и доп. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд., 1991. 304 с.
- Кунце X.- И. Методы физических измерений / Пер. с нем. М.: Мир, 1989.216 с.
- Тойберт П. Оценка точности результатов измерений / Пер с нем. М.: Энергоатомиздат, 1988. 88 с.
- Варне Дж. Электронное конструирование: Методы борьбы с помехами / Пер. с англ. М.: Мир, 1990. 228 с.
- Князев А.Д., Кечиев Л. Н., Петров Б. В. Конструирование радиоэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры с учетом элек-рромагнитной совместимости. М.: Радио и связь, 1989. 224 с.
- Зубков М.В. Резонансная релаксационная спектроскопия глубоких уровней / Дис. канд. техн. наук: 01.04.10. Рязань, 1989. 226 с.
- Бодягин Н.В. Закономерности эволюции неупорядоченных полупроводников и технология элементов памяти на-основе a-si:H / Дисс. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10. М. 1990. 210 е.
- Лигачев. В.А. Морфология и электрофизические свойства гидрогенизированного аморфного кремния, получаемого плазменным методом / Дисс. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10. М., 1987. 261 с.
- Хикс Ч. Основные принципы планирования эксперимента / Пер. с англ. Под ред. В. В. Налимова. М.: Мир. 1967. 406 с.
- Бабуров Э.Ф., Куликов Э. Л. Мариигодов В. К. Основы научных исследовании. Киев: Выща шк. Головное из-во. 1988. 230 с.
- Радкевич И. А. Организация и планирование научных исследованй : Учебное пособие. М.: изд-во МФТИ, 1986. 214 с.
- Данеш П., Банчев Б. Микропоры в a-Si:H // Аморфный кремний и родственные материалы / Под. ред. X. Фрицше. М: Мир. 1991. С.40−49.
- Вихров Д.С. Обработка экспериментальных данных аморфного полупроводника на ЭВМ//Информатика и приркладная математика: Межвуз. Сб./Рязань:РГПУ, 1998. -С.17.
- Вихров Д.С. Этапы обработки экспериментальных данных аморфного гидрогенизированного кремния на ЭВМ//Компьютерные технологии в науке, проектировании и производстве: Тез. докл. I
- Всероссийской научно-технической конференции. Нижний Новгород: НГТУ, 1999, — С. 26.
- Вихров Д.С. Новые технологии в решении экологических проблем/УЧеловек экология здоровье. Тез. докл. III Научно практической конференции. — Рязань: РГРТА, 1999. — С.47−48.
- Вихров Д.С. Алгоритм идентификации механизмов прохождения тока в барьерах на неупорядоченных полупроводниках//Физика полупроводников. Микроэлектроника. Радиоэлектронные устройства. Межвуз. Сб./- Рязань: РГРТА, 2000. С. 25 — 27.
- Вихров Д.С. Компьютерная обработка результатов физического эксперимента по исследованию барьерных структур на аморфных полупроводниках//Физика полупроводников. Микроэлектроника. Радиоэлектронные устройства. Межвуз. Сб./- Рязань: РГРТА, 2001. С. З — 7.
- УТВЕРЖДАЮ" >ектор по учебной
- АКТ ВНЕДРЕНИЯ Результатов кандидатской диссертации аспиранта Вихрова Дмитрия Сергеевичав учебном процессе в Московском энергетическом институте (техническом университете)
- Зав. кафедрой ФТЭМК проф. с-«' Филиков В.А.
- РОССИЙСКОЕ АГЕНТСТВО ПО ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ (РОСПАТЕНТ)1. СВИДЕТЕЛЬСТВО
- Об официальной регистрации программы для ЭВМ2 000 610 030у '', / 7? / '"У, ' 'Л
- Оораоотка экспериментальных данных аморфного гидрогенизированного кремния (Me-a-Si:H)» (DETMED) /→-- / ' «' у*' 7
- Поавообладатель (ли): ' - ^ ' ^ «- ®-ихЫ ЮмнтШ CdteeSni (RU) '1. Автор (ы):, ' ', 'пфв Юмтфп4 C4ue6ui (RU) /ГГ
- Страна: Российская Федерация ' 'по заявке № 990 888. дата поступления: 18 ноября 1999 г. ' X /
- Зарегистрировано в Реестре программ для ЭВМг. Москва, 18 января 2000 г. 1. J (Шкальный (jf ufwfimxji