Разработка математического обеспечения специализированных систем контроля цифровых узлов на основе автоморфизмов тестовых последовательностей
Диссертация
Несмотря на то, что современные модули СВТ содержат не только цифровые ИС (ЦИС), но и различные дискретные элементы — транзисторы, диоды, резисторы, конденсаторы и т. д. — в диссертационной работе рассматриваются тесты, предназначенные только для цифровых функциональных модулей (ЦФМ). Это объясняется тем, что методологии тестирования цифровых и аналоговых элементов имеют принципиальные различия… Читать ещё >
Список литературы
- БайдаН.П., Кузьмин И. В., Шпилевой В. Т. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. М.: Радио и связь, 1987. 256 с.
- Кондратьев В.В., Махалин E.H. Автоматизация контроля цифровых функциональных модулей. М.: Радио и связь, 1990. 152 с.
- Львович Я.Е., Юрочкин А. Г., Чурюмов В. А. Микропроцессорные системы автоматизированного контроля производства СВТ. С. Петербург: Политехника, 1992. 203 с.
- Байда Н.П., Месюра В. И., Роик А. М. Самообучающиеся анализаторы производственных дефектов РЭА. М.: Радио и связь, 1991, 256 с.
- БайдаН.П., Шпилевой В. Т. Автоматизация производственного контроля в системе управления качеством гибридных узлов ЭВМ//АСУ технологическими процессами в промышленности. Киев: Знание, 1977, С. 16−18.
- Salter M.W. In-clrcult VS Functional PS-board Testing Trade off//Semicond. Test. Conf. 1978. P. 71−75.
- Шевкопляс Б.В. Контроль, наладка и тестирование. М.: Высшая школа, 1988. -79с.
- Лихтциндер Б.Я. Внутрисхемное диагностирование узлов радиоэлектронной аппаратуры//Киев: Тэхника, 1989. 167с.
- Крейг Пинн. Внутрисхемные испытания с применением сигнатурного анализа//Электроника. -1979. № 11 — С. 64−70.
- Тюрин C.B., Токарев И.Б.Оценка полноты тестов цифровых ИС при поэлементном диагностировании // Тез. докл. науч. -техн. конф. «Контроль и диагностика РЭА и изделий электронной техники», Пенза, 1990. С. 70−72.115
- Оптимизация этапов подготовки исходных данных и разработки тестов для внутрисхемного контроля компонентов СВТ/Отчет о НИР (заключительный). Тема 37 189- N ТП 1 890 014 241- инв. 2 900 026 073. — Воронеж: ВПИ, 1989. — 75с.
- Технические средства диагностирования: Справочник/Клюев В.В., Пархоменко П. П., Абрамчук В. Е. и др.: М.: Машиностроение, 1989. 672 с.
- Говард Бирман. Проблемы тестирования схемных плат и пути их решения//Электроника. 1985. № 25. С. 34−40.
- Питер Хансен. Система функционального и внутрисхемного контроля плат со сверхбольшими интегральными схемами//Электрони-ка. 1979. Ш 8. С. 53−62.
- Джеймс Д., Мейнд JI. Микросхемы для компьютеров//В мире науки. 1987. М2. — С. 26−36.
- Waicukauski J.A., Lindbloom Е., Eichelberger Е.В., For-lenza 0. Р. А Method for Generating Weighted Random Patterns//IBM. J. Res. Develop. Mar. 1989. P. 149−161.
- Brglez F., Gloster C., Kedem G. Built-In Self-Test with Weighted Random Pattern Hardware//Proc. ICCD. 1990. P. 161- 166.
- Быков Ю.В., Ярмолик В. H. Синтез преобразователей псевдослучайных кодов для реализации самотестирования цифровых устройств, удовлетворяющих требованиям стандарта 1ЕЕЕ//Автоматика и телемеханика. 1996. — № 4. — С. 148−154.116
- Тюрин С.В., Петрухнова Г. В. Об одном алгоритме построения тестовой последовательности для цифровых устройств//Оптимиза-ция и моделирование в автоматизированных системах. Межвуз. сб. науч. тр. Воронеж: ВПИ, 1994. С. 129−133.
- Boubezari S., Kaminska В. A Deterministic Built-in Self-Test Generator Based on Cellurar Automata Structures. IEEE Transaction on Computers. June 1995. Vol. 44, No 6, P. 805−816.
- Agrawal P., Agrawal V.D. On Monte Carlo Testing of Logic Networks//IEEE Trans. Computers. June 1987. Vol. 15, P.664−667.
- Борщевич В.И., Бодян В. К., Филимонов С. Н. Метод максимума энтропии в задачах псевдослучайного тестирования микропроцессорных устройств//Приборостроение. -1989, — № 9.-С. 33−38.
- Клисторин И.Ф., Борщевич В. И., Филимонов С. Н. Структурно-лингвистический подход перспективное направление развития методов и средств контроля микропроцессорных устройств//Измере-ния, контроль, автоматизация.- 1990, № 3(75).- С. 38−43.
- Majumdar A., Vrudhula S.B.K. Analysis of Signal Probability in Logic Circuits Using Stochastic Models//IEEE Trans. VLSI Systems, Sept. 1993. Vol. 1. P. 365−379.
- Bardell P.H., McAnney W.H., Savir J. Built-in Test for VLSI: Pseudorandom Techniques. John Wiley & Sons, 1987.
- Wunderlich H.J. Self Test Using Unequiprobable Random Patterns//Proc. 17th Ann. Symp. Fault-Tolerant Computing. 1987. P. 258−263.
- Wunderlich H.J. Multiple Distribution for Biased Random Test Patterns/VTEEE Trans. Computer-Aided Design. June 1990. Vol. 9. P. 584−593.117
- Muradali F., Agarval V.K., Nadeau-Dostie B. A New Procedure for Weighted Random Built-in Self-Test//Proc. IEEE Int’l Test Conf., 1990. P. 660−669.
- Закревский Jl. А. Оптимизация параметров метода вероятностного тестирования//Электронное моделирование.-1992, N 4.-С. 70−74.
- Pateras S., Rajski J. Generation of Correlated Random Patterns for the Complete Testing of Synthesized Multi-Level Cir-cuits//Proc. 28th ACM/IEEE Design Automation Conf. 1991. P. 347−352.
- Agraval V. D. An information theoretic approach to digital fauit testing//IEEE Trans. Comput. 1981. C.30. P. 582−587.
- Сперанский Д. В., Черевко Н. В. Об оптимизации распределения вероятностей входных сигналов при случайном тестировании дискретных устройств// Электронное моделирование. 1992. № 2. С. 46−54.
- Петрухнова Г. В. Синтез критериев качества тестов внутрисхемного контроля на основе принципа минимума симметрии//Труды МАИ. Отделение микроэлектроники и информатики, 1997. Вып. 2, с.357−363.
- Karavay М. F. Theory of Symmetry and Fault-Toleran-ce//IEEE-IFAC Intern. Symp. on Distributed Intelligence Systems. 13 -15 August 1991, Arlington, VA, USA. P. 305−311.
- Каравай М.Ф. Инвариантно-групповой подход к синтезу отказоустойчивых систем//Докл. РАН. 1996. Т.347. № 2.
- Каравай М.Ф. Применение теории симметрии к анализу и синтезу отказоустойчивых систем//Автоматика и телемеханика. 1996. Ш 6. С. 159−173.
- Плутес B.C., Петрухнова Г. В. Формализация процедур синтеза тестов внутрисхемного контроля//Современные проблемы информатизации. Тез. докл. I Республиканской электронной научной конференции. Воронеж: ВГТУ, 1996. С. 32−33.
- Урманцев Ю. А. Симметрия природы и природа симметрии.-М.: Наука, 1974.-161 с.
- Шрейдер Ю.А., Шаров А. А. Системы и модели.- М.:Радио и связь, 1982.- 151 с.
- Петрухнова Г. В. Методологические аспекты оценки качества тестов ЦИС с позиций структурной классификации//Современные проблемы информатизации. Тез. докл. II Республиканской электронной научной конференции. Воронеж: ВГТУ, 1997. С. 93.
- Петрухнова Г. В. Критерии качества тестов внутрисхемного контроля// Математическое обеспечение информационных технологий в технике, образовании, медицине. Ч. 2. Тез. докл. Всерос. сов.-сем. (Воронеж, 28−31 мая 1997 г.). Воронеж: ВГТУ, 1997. С. 76.
- Гребешкова Г. Ю., Сперанский Д. В. О минимизации длины псевдослучайного теста для цифровых устройств// Автоматика и вычислительная техника. 1990. N 5. С. 90−94.
- Кнут Д. Искусство программирования для ЭВМ-. М.: Мир, 1977. — 724 с.
- Растригин А.А. Системы экстремального управления. М.: Наука, 1974. — 629 с.
- Нурминский Е.А. Численные методы решения детерминированных и стохастических минимаксных задач. -Киев: Наук, думка, 1979. 159 с.
- Васильев Ф.П. Численные методы решения эксперементальных задач. М.: Наука, 1980. -518 с.
- Гмурман В.Е. Теория вероятностей и математическая статистика. М.: «Высшаяьшкола», 1977, 480 с.
- Горяшко А.П. Синтез диагностируемых схем вычислительных устройств. М.: Наука, 1987. — 287 с.
- Основы технической диагностики. Книга 1./Карибский В.В., Пархоменко П. П., Согомонян Е. С., ХалчевВ.Ф.- Под ред. Пархоменко П. П. — М.: Энергия, 1976. — 464 с.
- Петрухнова Г. В. Подходы к тестированию цифровых элементов в системах управления электроприводами// Электромеханические120устройства и системы. Межвузовский сборник научных трудов. Воронеж: ВГТУ, 1996. С. 49−54.
- Афанасьев JI. А., Петрухнова Г. В. Сравнительные оценки полноты тестов внутрисхемного контроля ЦИС//Современные проблемы информатизации. Тез. докл. Республиканской электронной научной конференции. Воронеж: ВГТУ, 1996. С. .58.