Разработка методов и математического обеспечения рентгено-дифракционного структурно-фазового анализа
Кирик С. Д., Куликова Н. Н., Бузунов В. Ю., Голощапов В. Г., И. С. Якимов. Промышленное внедрение дифрактометрического метода контроля электролита в отечественном производстве алюминия. // Цветные металлы № 9. 1996. с.75−77. Погодаев A.M., Шиманский А. Ф., Якимов И. С., Архипов Г. В., Иванова A.M. Эволюция состава алюмосиликатных футеровочных материалов в течение эксплуатации алюминиевого… Читать ещё >
Разработка методов и математического обеспечения рентгено-дифракционного структурно-фазового анализа (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
Содержание
- ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И
- ВЫВОДЫ Диссертационная работа направлена на развитие методов и математического обеспечения рентгеновского структурно-фазового анализа, их
- приложений к исследованию производственных продуктов и рентгенодифракционному контролю технологических процессов. Основные результаты работы сводятся к следующему
Разработан комплекс методов и математического обеспечения структурно-фазового анализа с повышенной точностью и степенью автоматизации по сравнению с прототипами. Это достигнуто за счет разработки поисковых и оптимизационных алгоритмов, использующих полнопрофильный анализ и данные элементного химического анализа.
1. Разработаны оригинальный поисковый язык запросов к базе дифракционных данных PDF2, средства визуального автопрограммирования запросов и основанный на них метод кластерной фазовой идентификации, которые объединены в информационно-поисковую систему рентгенофазового анализа. Метод кластерной идентификации обеспечивает более достоверный анализ образцов со сложным фазовым составом.
2. Разработаны новые математические модели и алгоритмы количественного рентгенофазового анализа по корундовым числам (метод RIR). Экспериментально показано, что предложенные мультирефлексный, регуляризированный и групповой варианты RIR обеспечивают существенное повышение точности по сравнению с прототипом. Математическое обеспечение интегрировано в информационно-поисковую систему РФА и обеспечивает одновременно качественный и бесстандартный количественный фазовый анализ.
3. Для определения кристаллических структур по данным порошковой дифракции предложен стохастический эволюционный гибридный генетический алгоритм в прямом пространстве, сопряженный с полнопрофильным методом производной разности МПР, и его адаптация для автоматизированного полнопрофильного структурно-чувствительного КРФА многофазных смесей. Экспериментально установлено, что при сходимости в глобальный минимум для определения структур с 5−10 независимыми атомами гибридный генетический алгоритм генерирует и тестирует всего 10 -104 вариантов структуры, т. е. примерно в 103 -104раз меньше, чем в методах имитации отжига — Монте Карло.
4. Оценка эффективности разработанных методов выполнена на дифракционных тестовых данных, использованных в международных Round Robin по дифракционному анализу. Полученные результаты показали существенное повышения точности относительно средних результатов, зафиксированных в Round Robin. В частности, в различных вариантах метода RIR точность КРФА тестовых многофазных смесей составила 0,60,2% масс./фазу, а в эволюционном полнопрофильном КРФА — 0,45% масс./фазу.
Созданное математическое обеспечение использовано при проведении физико-химических исследований производственных технологических продуктов и процессов и разработке рентгенодифракционного технологического контроля в цветной металлургии.
1. Определено 13 новых кристаллических структур неорганических соединений, входящих в состав продуктов производства платиновых металлов, подготовлено 44 рентгенофазовых стандарта, разработана и внедрена методика оперативного рентгенофазового технологического контроля производства ряда продуктов с помощью информационно-поисковой системы РФА. Структуры и стандарты включены, соответственно, в базы структурных и дифракционных данных ICSD и PDF ICDD.
2. На основе изучения фазового состава фрагментов отработавших катодных устройств реконструированы процессы химических взаимодействий электролита с футеровочными материалами алюминиевых электролизеров в технологическом процессе электролитического производства алюминия. Полученные результаты использованы в Инженерно-технологическом центре
РУСАЛ при разработке новых футеровочных материалов и конструкций электролизеров с повышенной силой и плотностью тока. 3. Выполнен комплекс исследований по разработке и внедрению автоматизированной системы рентгенодифракционного технологического контроля состава электролита производства алюминия.
Исследованы особенности кристаллизации электролита и кристаллической структуры ряда фторидных компонентов, в т. ч. неизвестные кристаллические структуры соединений 1лЫа2А1Рб и №А1Р4, и их влияние на фазовый состав, дифракционные характеристики и точность КРФА проб электролита.
Разработаны способы пробоотбора и термической пробоподготовки образцов производственного электролита для КРФА.
Разработан и аттестован комплект отраслевых стандартных образцов фазового и химического состава промышленного электролита для градуировки комбинированных приборов рентгенофазового и рентгенофлуоресцентного анализа.
Разработана методика автоматического оперативного (2−3 мин.) измерения рент-генодифракционным методом концентрации фторидов кальция, магния, лития и криолитового отношения в пробах промышленного электролита. ««'
В результате опытно-промышленной эксплуатации определены метрологические характеристики методики выполнения измерений: Д (р=0.95) СаР2 = 0.4% масс., Д (р=0.95) Мё¥-2 = 0.4% масс., Д (р=0.95) = 0.2% масс., Д (р=0.95) КО = 0,04 ед. КО, удовлетворяющие технологическим требованиям производства.
Результаты исследований внедрены на 6-ти алюминиевых заводах России и СНГ.
В заключение можно сделать следующие
выводы. Разработана 2-х уровневая организация гибридного ГА, обеспечивающая быструю сходимость в глобальный минимум с определением и уточнением кристаллической структуры. Выяснены некоторые элементы эволюционного механизма, обеспечивающие быструю сходимость, в частности, показано, что основными строительными блоками структуры в процессе ГА являются как отдельные координаты атомов, так и целые позиции х, у, г атомов. Текущая программная реализация ГА может использоваться для поиска структур с 20−30 степенями свободы структурных параметров, но для этого может понадобиться эмпирический подбор подходящий настроек генетических операторов (см. рис. 3.9). Гибридный ГА имеет ряд перспективных направлений развития, в частности, оптимизацию конструкции для поиска более сложных структур, гибкое задание априори известных структурных фрагментов, автоматизацию настройки генетических операторов и использование параллельной эволюции множества взаимодействующих популяций на суперкомпыотерном кластере как средство поиска сложных структур.
3.2. Эволюционный полнопрофильный КРФА В результате кластерной ФИ фазовый состав становится хорошо определенным, что обеспечивает доступ в БД к параметрам решетки и кристаллической структуры фаз, которые могут использоваться в качестве исходных приближений при КРФА по методу Ритвельда. Однако, из-за многофазности и особенностей реальной кристаллической структуры
171 материала подбор исходных приближений профильных параметров часто нетривиален, а уточнение по МНК структурных параметров фаз может расходиться. Это делает полнопрофильный КРФА достаточно сложным в использовании и сдерживает его внедрение в производственные аналитические лаборатории. Разработка гибридного двухуровневого ГА, интегрированного с полнопрофильным методом МПР, создает предпосылки для развития на их основе автоматизированного эволюционного полнопрофильного структурно-чувствительного КРФА.
3.2.1. Концепция эволюционного КРФА Концепция эволюционного КРФА [202] заключается в поиске на 1-м уровне ГА исходных приближений профильных или структурных параметров в интервалах возможных значений, и их уточнении по МПР на 2-м уровне. Эволюция параметров в процессе циклического выполнения обоих уровней ГА должна обеспечивать выбор таких исходных приближений, при которых МПР сходится до низких значений 11-фактора, а оптимизированные масштабные коэффициенты Sj расчетных дифракционных профилей фаз используются для вычисления их концентрации С,-, аналогично КРФА по Ритвельду:
3−6) где Ур М) — соответственно, объем ячейки, число формульных единиц в ячейке и молекулярная масса фазы], N — число фаз многофазного образца. В присутствии аморфной фазы может использоваться вариант КРФА с внутренним стандартом.
Интервалы поиска профильных параметров подбираются эмпирически, что существенно проще, чем подбор их исходных приближений. Декомпозиция дифрактограммы и уточнение профильных параметров выполняется по встроенному в МПР алгоритму Ле Бэйла. Интервалы поиска уточняемых координат атомов задаются в окрестности их позиций в структуре фаз, взятых из БД. Уменьшение области поиска параметров при КРФА позволяет многократно снизить размерность поисковой задачи ГА и за счет этого компенсировать ее общее усложнение в многофазном случае. Процедура КРФА по ГА разделена на 3 этапа: (а) поиск и уточнение профильных параметров, возможно, вместе с параметрами анизотропного уширения линий, обусловленного микроблоками и микронапряжениями- (б) поиск и уточнение структурных параметров, возможно, вместе с параметрами текстуры- (в) их совместное уточнение по МПР или, если МПР расходится, под управлением 2-го уровня ГА. Выбор адекватных функций формы дифракционных линий и других может обеспечиваться простым запуском и оценкой сходимости нескольких процессов ГА с различными вариантами задания функций.
3.2.2. Методика выполнения и апробация эволюционного КРФА Рассмотрим методику 3-х этапного эволюционного КРФА по ГА на примере анализа вышеописанной 4-х фазной смеси минералов СРБ2 из ЯЯ оп <ЗРА, состав которой представлен в таблице
2.1. Особенностью смеси, является сильная текстура и микронапряжения решетки фазы брусита, выраженные на дифрактограмме в аномально высокой (втрое выше нормы) интенсивности 1-й линии и некоррелированных с ростом угла дифракции уширениях его линий. Предварительно, с помощью ИПС РФА и базы расчетных эталонных спектров БД РЭР2, была выполнена кластерная идентификация образца, а по номерам идентифицированных фаз извлечены из базы кристаллоструктурных данных БД ГСБО данные о параметрах решетки и кристаллических структурах этих фаз. Заметим, что для каждой из фаз в БД присутствует около десятка немного различающихся структур, полученных из разных источников.
На 1-м этапе КРФА выполнялся выбор модели формы линий (ПирсонУП или псевдо-Войгт), поиск профильных параметров модели дифрактограммы и микронапряжений решетки фазы брусита. Для этой цели было запущено несколько вариантов эволюционного поиска профильных
Глава 4. Структурные исследования соединений металлов платиновой группы, получаемых в порошковой форме
В главе описаны результаты структурных исследований ряда соединений металлов платиновой группы, получаемых в порошковой форме и представлявших фундаментальный, а также практический интерес для развития рентгенодифракционного технологического контроля производства платиновых металлов.
4.1. Определение кристаллической структуры
Синтез кристаллических фаз был выполнен сотрудниками
ИХХТ СО РАН и Красноярского завода цветных металлов. Дифрактограммы регистрировались на дифрактометре Дрон-4 с использованием СиКа -излучения и графитового монохроматора на вторичном пучке. Для определения параметров решетки использовалась программа индицирования ITO (J.Visser), описанная в р-ле 1.4, с последующим их уточнением по МНК. Для определения кристаллических структур проводились расчеты синтезов Паттерсона и электронной плотности, и применялись программы полнопрофильного анализа методов Ритвельда [205, 190] и МПР [188]. Структура некоторых соединений позднее была уточнена с помощью вышеописанной системы структурно- фазового анализа на основе ГА.
4.1.1. Изучение структур соединений [Pd (NH3)2Hal2l, Hal = Cl, Br, I.
Группа комплексных соединений [Рё (ЫН3)2На12] палладия (II), где Hal = Cl, Br, I, представляла интерес для изучения особенностей химической связи координационных соединений, а также как продуктов, используемых для аффинажа палладия. Каждая серия галогенов содержит по 3 изомера: eis-, trans- и ?-trans со структурой молекулярного типа. На дифрактограммах всех соединений были зафиксированы заметные hkl — зависимые уширсния дифракционных линий. Форма линий моделировалась функцией Pearson VII, а зависимость полуширины линий от hkl и угла дифракции — функцией:
Г?НМ2 = Г1? НМ2^ + 12ш/соэ (0) 2, (4.1) где Ь2Ш -(г ¡-к2 + г2к2 + Ы2 + г4кк + г5к1 + г6М) с?, (4.2)
Р1?НМ15о — независимое от направления значение полуширины, с1 -межплоскостное расстояние, г{. гб — уточняемые параметры. Квадратичная форма (4.2) задает эллипсоид, моделирующий форму кристаллитов (см. п. 1.6.4 главы 1). /
Расчетные кристаллографические характеристики соединений диамино-дихлор-палладия и Я-факторы полнопрофильного уточнения представлены в таблице 4.1.
1. The ССР 14 (Collaborative Computational Project No. 14) http://www.ccr) 14.ac.uk/about.htm.
2. J-M Le Meins, L.M.D. Granswick, A. Le Beil. Results and conclusions of the internet based «Search/match round robin 2002» // Powder Diffraction June 2003 — Volume 18, Issue 2, pp. 106−113.
3. Search-Match Round Robin 2002 // http://sdpd.univ-lemans.fr/sinrr/results/.
4. Crystallographica a software toolkit for crystallography // J. Appl. Cryst. (1997) 30 418 419.
5. Ian C. Madsen et al. Round Robin on Quantitative Phase Analysis: samples 1 // J. Appl. Cryst. (2001). 34, 409−426.
6. Nicola V. Y. Scarlett et al. Round Robin on Quantitative phase analysis: samples 2 // J. Appl. Cryst. (2002). 35, 383−400.8. 4th Reynolds Cup competition (http://www.clays.org/reynoldscup.html).
7. DAVOR BALZAR, NICOLAE C. POPA. ANALYZING MICROSTRUCTURE BY RIETVELD REFINEMENT // The Rigaku Journal, Vol. 22, No. 1, 2005, 16−25.
8. B. Peplinski et al. Interlaboratory Comparison (Round Robin) of the Application of the Rietveld Method to Quantitative Phase Analysis by X-Ray and Neutron Diffraction // Materials Science Forum Vols. 378−381 (2001) pp 124−131.
9. B. Peplinski et al. Quantitative Phase Analysis Using The Rietveld Method. Estimates Of Possible Problems Based On Two Interlaboratory Comparisons // Materials Science Forum Vols. 443−444 (2004) pp 45−50.
10. L. Leon-Reina et al. Round robin on Rietveld quantitative phase analysis of Portland cements. J. Appl. Cryst. (2009). 42, 906−916.
11. R. Kleeberg. State-of-the-art and trends in quantitative phase analysis of geological and raw materials // Z. Kristallogr. Suppl. 30 (2009) 47−52.
12. A. Le Bail, L. M. D. Cranswick. Third structure determination by powder diffractometry round robin (SDPDRR-3) // Powder Diffr. Volume 24, Issue 3, pp. 254−262 (September 2009).
13. V. Favre-Nicolin and R. Cerny. FOX, «free objects for crystallography1: a modular approach to ab initio structure determination from powder diffraction / J. Appl. Cryst. (2002). 35, 734−743.
14. W. I. F. David, K. Shankland. Structure determination from powder diffraction data // Acta Cryst. (2008). A64, 52−64.
15. K. D. M. Harris, R. L. Johnston and В. M. Kariuki. Evolving Techniques in Powder Structure Solution an Introduction to the Genetic Algorithm //CPD IUCr Newsletter No. 20, 1998.
16. Genetic algorithms: A universal tool for solving computational tasks in Materials Science // Computational Materials Science, Volume 45, Issue 1, March 2009.
17. Е. К. Васильев, М. С. Нахмансон. Качественный рентгенофазовый анализ // Новосибирск, Наука, 1986, 192с.
18. Базы данных PDF ICDD // http://www.icdd.com/index.htm (Release 2009).
19. Cambridge Structural Database. Cambridge Crystallographic Data Centre // http://www.ccdc.cam.ac.uk/products/csd/.
20. Inorganic Crystal Structure Database. FIZ Karlsruhe // http://www.fiz-karlsruhe.de/icsd.html.
21. CCP14 Search-Match // http://www.ccpl4.ac.uk/solution/search-match.htm.
22. Crystallographica and Crystallographica Search-Match. / Copyright © Oxford Cryosystems Ltd. 2006. — 44P. // http://www.crystallouraphica.com/.
23. Crystallographica a software toolkit for crystallography // J. Appl. Cryst. (1997). -V.30. —P.418−419.
24. MATCH! for Windows by Crystal Impact// (http://www.crystalimpact.com/match/).
25. Re&Se. ООО «Синус Тета» (МГУ) // http://www.sinetheta.com/content/view/12/26/.
26. Caussin P., Nusinovici J., Beard D.W. Specific data handling techniques and new enhancement in a search/match program. Adv. X-ray Anal., 1989, v.32, 531−538.
27. Pecharsky and Zavalij. Основы порошковой дифракции / Kluwer Academic Publishers, Boston. 2003.
28. D.Y. Li and B.H. O’Connor / Mean-Normalised-Intensity (MNI) Method for X-ray Powder Diffraction Phase Composition Analysis // Materials Science Forum Vols. 278−281.-1998.-p. 57−62.
29. E. Halwax / The Full-Pattern Reference Intensity Ratio Method in Quantitative Phase Analysis // Materials Science Forum Vols. 278−281. 1998, — p. 93−98.
30. Zevin L.S., Kimmel G. Quantitative X-ray diffractometry. New York: Springer-Verlag, 1995.372 p.
31. J. Rius, et al. (1987) / A Standardless X-ray Diffraction Method for the Quantitative Analysis of Multiphase Mixtures // J.Appl.Cryst., 20. p. 457−460.
32. K. P. Zangalis / Standardless quantitative mineralogical analysis of rocks // J. Powder diff. 13. 1998,-p. 74−84.
33. Hill, R.J. and Fischer, R.X. / J.Appl.Cryst, 23, — 1987. p. 462−468.
34. Hill, R.J. Expanded use of the Rietveld method in studies of phase abundance in multiphase mixtures // Powder Diffr. 1992. -V.7. P. 152−161.
35. B.H. O’Connor. Application of the Rietveld refinement procedure in assaying powdered mixtures // Powder Diffr. 1988. -V.3. P.2−6.
36. Brindley G.W. The effect of grain of particle size on X-ray reflections from mixed powders and alloys, considered in relation to the quantitative determination of crystalline substances by X-ray methods / J. Philos. Mag., 36. 1945. p. 347−369.
37. Taylor J.C. and Matulis C.E. Absorbtion contrast effects in the quantitative XRD analysis of powders by full multi-phase profile refinement, J. Appl. Crystallogr., 1991, 24, 14−17.
38. Chateigner D. Combined Analysis: structure-texture-microstructure-phase-stresses-reflectivity determination by x-ray and neutron scattering // Crismat-Ensicaen, 141 p.
39. R.J. Hall and I.C. Madsen, in Structure Determination from Powder Diffraction Data, ed. W. David, K. Shankland, L. McCusker and c. Baerlocher, Oxford University Press, New York, 2002.
40. W.A. Dollase, Correction of intensities for preferred orientation in powder diffractometryA Application of the March model., J. Appl. Crystallogr., 1986, 19, 267−272.
41. N.J. Elton and P.D. Salt, Particle statistic in quantitative X-ray diffractometry, Powder diffr., 1996, 11,218−299.
42. D.K. Smith, Particle statistic and whole pattern methods in quantitative X-ray powder diffraction analysis., Adv. X-ray. Anal., 1992, 35, 1−15.
43. R. Shirley, lUCr CoTpnt. Commission Newsletter, 2003, 2, 48.
44. C. Runge, Phys. Z., 1917,18, 509.
45. P. M. de Wolff, J. Appl. Crystallogr., 1968, 1, 108.
46. G. S. Smith and R. L. Snyder, J. Appl. Crystallogr., 1979, 12, 60.
47. P.-E. Werner, in Structure Determination from Powder Diffraction Data, ed. W. I. F. David, K. Shankland, L. B. McCusker and Ch. Baerlocher, Oxford University Press, Oxford, 2002.
48. P. M. de Wolff, Acta Crystallogr., 1961,14, 579.
49. J. W. Visser, J. Appl. Crystallogr., 1969, 2, 89.
50. A. D. Mighell and A. Santoro, J. Appl. Crystallogr., 1975, 8, 372.
51. P.-E. Werner, L. Eriksson and M. Westdahl, J. Appl. Crystallogr., 1985, 18, 367.
52. A. Boultif and D. Louer, J. Appl. Crystallogr., 1991, 24, 987.
53. R. Shirley, The Crysfire 2002 System for Automatic Powder Indexing: User’s Manual, 2002, Lattice Press, Guildford, UK.
54. T. I to, Nature, 1949, 164, 755.
55. T. Ito, in X-ray Studies on Polymorphism, Maruzen, Tokyo, 1950, 187.
56. P. M. de Wolff, Acta Crystallogr., 1957, 10, 590.
57. P. M. de Wolff, Acta Crystallogr., 1958,11, 664.
58. R. Shirley, NBS Spec. Publ., 1980, 567, 361.
59. D. Louer and M. Louer, J. Appl. Crystallogr., 1972, 5, 271.
60. D. Louer and R. Vergas, J. Appl. Crystallogr., 1982,15, 542.
61. J. Bergmann, A. Le Bail, R. Shirley and V. Zlokazov, Z. Kristall., 2004, 219, 783.
62. A. Altomare, C. Giacovazzo, A. Guagliardi, A. G. G. Moliterni, R. Rizzi and P.-E. Werner, J. Appl. Crystallogr., 2000, 33, 1180.
63. A. Boultif and D. Louer, J. Appl. Crystallogr., 2004, 37, 724.
64. B. M. Kariuki, S. A. Belmonte, M. I. McMahon, R. L. Johnston, K. D. M. Harris and R. J. Nelmes, J. Synchrotron Radiat., 1999, 6, 87.
65. A. A. Coelho, J. Appl. Crystallogr., 2003,36, 86.
66. M. Neumann, J. Appl. Crystallogr., 2003,36, 356.
67. A. Le Bail, Powder Diffr., 2004, 19, 249.
68. D. E. Goldberg, in Genetic Algorithms in Search, Optimization and Machine Learning, Addison-Wesley, Reading, MA, 1989.
69. K. D. M. Harris, R. L. Johnston and B. M. Kariuki, Acta Crystallogr., Sect. A, 1998, 54, 632.
70. K. Y. Tam and R. G. Compton, J. Appl. Crystallogr., 1995, 28, 640.
71. W. Paszkovicz, Mater. Sci. Forum, 1996, 228−231, 19.
72. A. J. Markvardsen, W. I. F. David, J. C. Johnson and K. Shankland, Acta Crystallogr., Sect. A, 2001,57, 47.
73. W. I. F. David, K. Shankland, J. Cole, S. Maginn, W. D. S. Motherwell and R. Taylor, DASH User Manual, Cambridge Crystallographic Data Centre, Cambridge, UK, 2001.
74. A. Altomare, R. Caliandro, M. Camalli, C. Cuocci, I. da Silva, C. Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R. Spagna, J. Appl. Crystallogr., 2004, 37, 957.
75. A. Altomare, M. Camalli, C. Cuocci, I. da Silva, C. Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R.
76. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2005, 38, 760.
77. A. Altomare, R. Caliandro, M. Camalli, C. Cuocci, C. Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2004, 37, 1025.
78. A. J. C. Winson, Acta Crystallogr., 1949, 2, 318.81. http://www.accclrys.com/cerius2/index.html.82. http://www.cambridgesoft.com/products/83. http://www.tripos.com/software/sybyl.html.
79. F. H. Allen and O. Kennard, Chem. Des. Autom. News, 1993, 8, 1.
80. V. Favre-Nicolin and R. Cerny, J. Appl. Crystallogr., 2002, 35, 734.
81. Y. G. Andreev, P. Lightfoot and P. G. Bruce, J. Appl. Crystallogr., 1997,30, 294.
82. F. L. Hirshfeld, Acta Crystallogr., Sect. A, 1968, 24, 301.
83. B. E. Lattman, Acta Crystallogr., Sect. B, 1972, 28, 1065.
84. V. V. Chernyshev and H. Schenk, Z. Kristallogr., 1998, 213, 1.
85. R. B. Hammond, K. J. Roberts, R. Dorcherty, M. Edmondson and R. Gairns, J. Chem. Soc, Perkin Trans. 2, 1996, 1527.
86. N. Ma Sciocchi, M. Moret, P. Cairati, A. Sironi, G. Ardizzoia and G. La Monica, J. Am. Chem. Soc, 1994, 116, 7668.
87. V. V. Chernishev, Acta Crystallogr., Sect. A, 2000, 56, s 132.
88. N. Metropolis, A. Rosenbluth, M. Roscnbluth, A. Teller and E. Teller, J. Chem. Phys., 1978,21, 1087.
89. L. A. Solovyov, S. D. Kirik. Materials Science Forum, 1993, 133−136, 195−200.
90. K. D. M. Harris, M. Tremayne, P. Lightfoot and P. G. Bruce, J. Am. Chem. Soc, 1994, 116,3543.
91. M. Tremayne, B. M. Kariuki, K. D. M. Harris, K. Shankland and K. S. Knight, J. Appl. Crystallogr., 1997,30, 968.
92. M. Tremayne, B. M. Kariuki and K. D. M. Harris, OCTOPUS Monte Carlo Technique for Powder Structure Solution, 1997, Universities of Birmingham, England, and St Andrews, Scotland.
93. O. J. Lanning, S. Habershon, K. D. M. Harris, R. L. Johnston, B. M. Kariuki, E. Tedesco and G. W. Turner, Chem. Phys. Lett., 2000, 317, 296.
94. V. Brodski, R. Peshar and H. Schenk, J. Appl. Crystallogr., 2003, 36, 239.
95. M. Born and A. Lande, Sitzungsber. Preuss. Akad. Wiss. Berlin, 1918, 45, 1048.
96. K. Rappe, C. J. Casewit, K. S. Colwell, W. A. Goddard III and W. M. Skiff, J. Am. Chem. Soc, 1992, 114, 10 024.
97. A. Coelho, J. Appl. Crystallogr., 2000, 33, 899.
98. M. Born and J. E. Mayer, Z. Phys., 1932,75, 1.
99. H. Putz, J. C. Schon and M. Jansen, J. Appl. Crystallogr., 1999, 32, 864.
100. G. Bergerhoff, R. Hundt, R. Sievers and I. D. Brown, J. Chem. Inf. Comput. Sei., 1983, 23, 66.
101. H.-P. Hsu, S. C. Lin and U. H. E. Hansmann, Acta Ciystallogr., Sect. A, 2002, 58, 259.
102. S. Kirkpatrick and C. D. Gelatt, Jr. and M. P. Vecchi, Science, 1983, 220, 671.
103. S. Kirkpatrick, J. Stat. Phys., 1984, 34, 975.
104. S. Geman and D. Geman, IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell., 1984, PAMI-6, 721.
105. Y. G. Andreev and P. G. Brace, J. Chem. Soc, Dalton Trans., 1998, 4071.
106. W. I. F. David, K. Shankland and N. Shankland, Chem. Commun., 1998, 931.
107. W. I. F. David, K. Shankland, J. Cole, S. Maginn, W. D. S. Motherwell and R. Taylor, DASH User Manual., 2001, Cambridge Crystallographyc Data Centre, Cambridge, UK.
108. J. Markvardsen, W. I. F. David and K. Shankland, Acta Crystallogr., Sect. A, 2002, 58, 316.
109. K. Shankland, L. McBride, W. I. F. David, N. Shankland and G. Steele, J. Appl. Crystallogr., 2002, 35, 443.
110. Leach, in Molecular Modelling, Principles and Applications, Addison Wesley Longman Ltd., London, 1996.
111. G. E. Engel, S. Wilke, O. Konig, K. D. M. Harris and F. J. J. Leusen, J.Appl. Crystallogr., 1999, 32, 1169.
112. A. Coelho, TOPAS Version 3.1, 2003, Bruker AXS GmbH, Karlsruhe, Germany.
113. Le Bail, Mater. Sei. Forum, 2001, 378−381, 65.
114. D. E, Goldberg, in Genetic Algorithms in Search, Optimization, and Machine Learning, Addison-Wesley, New York, 1989.
115. M. Kariuki, H. Serrano-Gonzalez, R. L. Johnston and K. D. M. Harris, Chem. Phys. Lett., 1997, 280, 189.
116. K. Shankland, W. I. F. David and T. Csoka, Z. Kristallogr., 1997, 212, 550.
117. K. D. M. Harris, R. L. Johnston and B. M. Kariuki, Acta Crystallogr., Sect. A, 1998, 54, 632.
118. G. W. Turner, E. Tedesco, K. D. M. Harris, R. L. Johnston and B. M. Kariuki, Chem. Phys. Lett., 2000, 321, 183.
119. R. Storn and K. V. Price, J. Global Optimization, 1997, 11, 341.
120. M. Tremayne, C. C. Seaton and C. Glidewell, Acta Crystallogr., Sect. B, 2002, 58, 823.
121. J. C. Johnston, W. I. F. David, A. J. Markvardsen and K. Shankland, Acta Crystallogr., Sect. A, 2002,58, 441.
122. S. Brenner, L. B. McCusker and C. Baerlocher, J. Appl. Crystallogr., 1997, 30, 1167.
123. S. Brenner, «Structure Envelopes and their Application in Structure Determination from Powder Diffraction Data», PhD Thesis, 1999, ETH, Zurich.
124. S. Brenner, L. B. McCusker and C. Baerlocher, J. Appl. Crystallogr., 2002,35, 243.
125. Altomare, C. Giacovazzo, A. Guagliardi, A. G. G. Moliterni and R. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2000, 33, 1305.
126. Altomare, R. Caliandro, M. Camalli, C. Cuocci, C. Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2004, 37, 1025.
127. Altomare, C. Cuocci, C. Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2002, 35, 422.
128. Y. Tanahashi, H. Nakamura, S. Yamazaki, Y. Kojima, H. Saito, T. Ida and H. Toraya, Acta Cyrstallogr., Sect. B, 2001, 57, 184.
129. Altomare, R. Caliandro, C Giacovazzo, A. G. G. Moliterni and R. Rizzi, J. Appl. Crystallogr., 2003, 36, 230.
130. K. D. M. Harris, M. Tremayne and B. M. Kariuki, Angew. Chem., Int. Ed., 2001, 40, 1626.
131. Feng, Z. J. & Dong, C. (2007). J. Appl. Cryst. 40, 583−588.
132. Z. Michalewicz. — New York: Springer-Verlag, 1996. —387 p.
133. Rietveld, H.M. / J.Appl.Cryst, 2. 1969, — p. 65−71.
134. Hill, R.J. and Fischer, R.X. / J.Appl.Cryst, 23. 1987. p. 462−468.
135. Masciocchi N. / The contribution of powder diffraction methods to structurel crystallography: Rietveld and AB-initio techniques // The Rigaku Journal. 1997. p. 9−16.
136. Young, R.A. / The Rietveld Method // IUCr Monographs in Crystallography 5, Oxford Science Publications.- 1993.
137. Le Bail, Mater. Sci. Forum, 2001, 378−381, 65.
138. R. B. Von Dreele, J. Appl. Crystallogr., 2007, 40, 133−143.
139. Hill R.J. and Howard C.J. Quantitative phase analysis from neutron powder diffraction data using the Rietveld method, J. Appl. Crystallogr., 1987, 20, 467−474.
140. Lutterotti, L., and Scardi, P. Simultaneous Structure and Size-Strain Refinement by the Rietveld Method. J. Appl. Cryst, 1990, 23, P.246−252.
141. Le Bail, A., and Jouanneaux, A. A Qualitative Account for Anisotropic Broadening in Whole-Powder-Diffraction-Pattem Fitting by Second-Rank Tensors. J. Appl. Cryst, 1997, 30, P.265−271.
142. Solovyov, L. A. Allowance for Anisotropic Line Broadening in the Crystal Structure Solution of Pd (NH3)4. Pd (C204)] // Materials Science Forum. 1998. V. 278−281. PP. 885−890.
143. Caglioti, G., Paoletd, A., and Ricci, F. P. Choice of Collimators for a Crystal Spectrometer for Neutron Diffraction. Nucl. Instrum. 1958, 3, P.223−228.
144. Le Bail, A., and Jouanneaux, A. A Qualitative Account for Anisotropic Broadening in Whole-Powder-Diffraction-Pattem Fitting by Second-Rank Tensors. J. Appl. Cryst, 1997, 30, P.265−271.
145. Cumbrera F.L., Sanchez-Bajo F., Fernandez R., Lianes L. Microstructure effects in the X-ray powder diffraction profile of 9mol% Mg-PSZ. J. Eur. Ceram. Soc., 1998. V. 18. № 14. P. 2247−2252.
146. Balic Zunic T. & Dohrup J. Use of an Ellipsoid Model for the Determination of Average Crystallite Shape and Size in Polycrystalline Samples. Powder Diffraction. 1999, V.14, № 3, P.203−207.
147. Popa N. C. The (hkl) dependence of diffraction-line broadening caused by strain and size for all laue groups in rietveld refinement. J. Appl. Cryst. 1998. 31,2, P. 176−180.
148. Stephens P. W. Phenomenological model of anisotropic peak broadening in powder diffraction. J. Appl. Cryst. 1999. 32, 2, P. 281−289.
149. Angela Altomare, et al. (2001) / Quanto: a Rietveld program for quantitative phase analysis of polycrystalline mixtures // J.Appl.Cryst., 34, — p. 392−397.
150. Steve J. Chipera and David L. Bish. (2002) / FULLPAT: a full-pattern quantitative analysis program for X-ray powder diffraction using measured and calculated patterns // J.Appl.Cryst., 35, — p. 744−749.
151. Gordon Barr, et al. (2004) / SNAP-ID: a computer program for qualitative and quantitative powder diffraction pattern analysis using the full pattern profile // J.Appl.Cryst., 37. p. 665−668.
152. Iyengar S. S., Phadnis N. V. & Suryanarayanan R. (2001). Powder Diffr. 16, pp. 20−24.
153. Yamamura, S. & Momose, Y. (2001). Int. J. Pharm. 212, pp. 203−212.
154. Le Bail A. J. (1995). J. Non-Cryst. Solids, 183, pp. 39−42.
155. Lutterotti L. (1998). Mater. Sci. Forum, 278, pp. 87−92.
156. Christopher J. Gilmore, et al. (2004) / High-throughput powder diffraction. I. A new approach to qualitative and quantitative powder diffraction pattern analysis using full pattern profiles // J.Appl.Cryst., 37, — p. 231−242.
157. Orlhac X., et al. (2001) / Determination of the crystallized fractions of a largely amorphous multiphase material by the Rietveld method // J.Appl.Cryst., 34, — p. 114−118.
158. A. Coelho, TOPAS Version 3.1, 2003, Bruker AXS GmbH, Karlsruhe, Germany.
159. Bish, D.L., Howard, S.A. / Quantitative phase analysis using the Rietveld method. / J. Appl. Cryst. 1988. Vol. 21. P. 86 91.
160. Yakhimov I.S. Automatization of phase identification of X-ray diffraction powder pattern obtained by using SR. // Nucl. Instrum. Meth. A 1989. V. 282. P. 655−657.
161. Якимов И. С. Язык запросов для реитгенофазовой идентификации многофазных поликристаллических материалов. // Журнал Сибирского федерального университета. Серия «Химия». 2009. Т.2, № 4.С. 377−384.
162. Е.М. Burova, В.М. Shchedrin. / Regularized form of the X-ray powder phase analysis problem // Computational Mathematics and Modeling, Vol. 17, No. 1, 2006. p. 45−55.
163. Якимов И. С. Проблемно-ориентированный язык запросов и система реитгенофазовой идентификации существенно многофазных материалов. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. № 11. С. 32−37.
164. Мендельсон Э.
Введение
в математическую логику. // М., Наука, 1984, 300с.
165. Якимов И. С. Метод кластерной реитгенофазовой идентификации многофазных материалов. // Контроль. Диагностика. 2010. № 7. С. 12−17.
166. С. R. Hubbard, R. L. Snyder. RIR Measurement and Use in Quantitative XRD // Powder Diffraction. 1988. V.3. P.74−77.
167. Тихонов A.H., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1979. -224с.
168. Бурова Е. М., Жидков Н. П., Зубенко В. В. и др. Алгоритмизация процесса обработки данных рентгеновского фазового анализа. ДАН СССР, 197, т.232, № 5, с. 1066−1068.
169. Zevin L.S., Kimmel G. Quantitative X-ray diffractometry. New York: Springer-Verlag, 1995.372 p.
170. Якимов И. С., Дубинин П. С., Пиксина О. Е. Регуляризация метода ссылочных интенсивностей для количественного рентгенофазового анализа поликристаллов // Журнал Сибирского федерального университета. Серия «Химия». 2009. Т.2, № 1. С. 71−80.
171. Dollase, W.A. / Correction of intensities for preferred orientation in powder diffractometry: application of the March model // J. Appl. Cryst, 19, — 1986, — p. 267−272.
172. Якимов И. С., Дубинин П. С., Залога А. Н., Пиксипа О. Е., Якимов Я. И. Регуляризация методов бесстандартного рентгенофазового анализа // Жури, структур, химии. 2011. № 2. С. 329−335.
173. Якимов И. С., Дубинин П. С., Пиксина О. Е. Интеграция методов группового количественного рентгенофазового анализа и ссылочных интенсивностей // Контроль. Диагностика. 2010. № 12. С. 42−47.
174. Якимов И. С., Дубинин П. С. Бесстандартный групповой количественного фазовый анализ. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. № 11. С. 28−32.
175. Якимов. И.С. Информационно-поисковая система рентгенофазового анализа // Свидетельство о гос. регистрации программы для ЭВМ № 2 009 616 184 от 10.11.2009.
176. Harris, К. D. М.- Habershon, S.- Cheung, Е. Y.- Johnston, R. L. Developments in genetic algorithm techniques for structure solution from powder diffraction data. Z. Kristallogr. 219(2004) 838−846.
177. Feng, Z.J.- Dong C. GEST: a program for structure determination from powder diffraction data using a genetic algorithm. J. Appl. Crystallogr. 2007, 40, 583.
178. Yakimov Y.I., Semenkin E.S., Yakimov I. S. Hybrid genetic algorithm for a full-profile analysis of XRD powder patterns. // Acta Cryst. 2008. V. l, A64. P. C226.
179. L.A. Solovyov. The Derivative Difference Minimization Method / Chapter 10. Powder Diffraction Theory and Practice, cd. R.E. Dinnebier and S.J.L. Billinge // Royal Society of Chemistry. 2008.
180. A. Savitzky and M. J. E. Golay, Anal. Chem., 1964, 36, 1627.
181. R. A. Young. DBWS-9807a. User’s Guide. 2000.
182. Rodriguez-Carvajal J. An Introduction to the Program FullProf 2000. Saclay, 91 191 Cif sur Yvette Cedex, France, 2000, 139 p.
183. Yakimov Y.I., Semenkin E.S., Yakimov I.S. Two-level genetic algorithm for a fullprofile fitting of X-ray powder patterns // Z. Kristallogr. 2009. Suppl.30. P. 21−26.
184. Yakimov Y.I., Solovyov L.A., Zaloga A.N., Yakimov I.S. DDMSuite a powder diffraction full-profile analysis system // Acta Cryst. 2010. A66. P. s316.
185. В. M. Kariuki, H. Serrano-Gonzalez, R. L. Johnston, and K. D. M. Harris. The application of a genetic algorithm for solving crystal structures from powder diffraction data. Chem. Phys. Letters, 280:189.195, 1997.
186. L. A. Solovyov, S. D. Kirik. Application of a Simulated Annealing Approach in Powder Crystal Structure Analysis. Materials Science Forum 133−136 (1993) 195−200.
187. V. Favre-Nicolin and R. Cerny. FOX, Tree objects for crystallography': a modular approach to ab initio structure determination from powder diffraction / J. Appl. Cryst. (2002). 35, 734−743.
188. Thomas A. N. Griffin, Kenneth Shankland, Jacco van de Streek and Jason Cole. GDASH: a grid-enabled program for structure solution from powder diffraction data // J. Appl. Cryst. (2009). 42, 356−359.
189. A. A. Coelho, TOPAS Version 3.1, 2003, Bruker AXS GmbH, Karlsruhe, Germany.
190. Radovan Cerny and Vincent Favre-Nicolin. Direct space methods of structure determination from powder diffraction: principles, guidelines, perspectives // Z. Kristallogr. 222 (2007) 105−113.
191. Yakimov I.S., Dubinin P. S., Piksina О.Е., Yakimov Y.I., Zaloga A.N. RETRIEVE a system for XRPD phase and structure analysis. // Z. Kristallogr. 2009. Suppl.30. P. 209−214.
192. Семёнкин E.C., Швец А. В., Якимов И. С. Коэволюционный асимптотический генетический алгоритм для определения кристаллических структур // Программные продукты и системы. 2011. № 3. С. 151−154.
193. И. С. Якимов, Кирик С. Д. Модификация метода Ритвельда для многофазных систем. // В сборнике: Методы дифракционных исследований кристаллических материалов. Наука, Новосибирск. 1989. с.73−78.
194. Соловьев Л. А., Блохин А. И., Кирик С. Д., И. С. Якимов. Порошковое рентгеноструктурное исследование mic-Pd (NH3)2CI2. Журн. Структ. Химии, т.37, N.2. 1996. с.401−405.
195. Соловьев Л. А., Блохин А. И., Блохина M. JL, Кирик С. Д., И. С. Якимов. Кристаллическая структура Tpanc-Pd (NH3)2C12 по данным порошковой дифракции. // Журнал Структурной Химии, т.38, № 1. 1997. с. 148−154.
196. Кирик С. Д., Круглик А. И., И. С. Якимов. Определение кристаллической структуры beta-trans-Pd (NH3)2C12 методом полнопрофильного анализа. // Кристаллография, T.36,N6. 1991. с.1563−1566.
197. Kirik S.D., Solovyov L.A., Blokhin A.I., Yakimov I.S. Crystal structures and cis—>trans transformation in Pd (NH3)2Hal2. // Materials Science Forum. 1998. V. 278−281. P. 642−647.
198. Блохин А. И., Соловьев Jl.А., Блохина М. Л., Кирик С. Д., И. С. Якимов. Синтез кристаллическая структура и термические свойства nnc-Pd (NH3)2Br2. // Журн. неорг. Химии. T.43.N2. 1998. С.258−262.
199. Kirik S.D., Solovyev L.A., Blokhin A.I., Blokhina M.L., I.S.Yakimov. Structures and Isomerization in Diamminedichloropalladium (II). // J. Acta Crystallographica, B52 (6). 1996. p. 909−916.
200. Solovyov L.A., Kirik S.D., Blochina M.L., Blokhin A.I., I.S.Yakimov. Structure Transformation in Diammine Dichloro-Palladium (II) Studied by X-ray Powder Diffraction. // Materials Science Forum, V.228−231. 1996. p.705−710.
201. Якимов И. С., Бондаренко А. А., Кирик С. Д., Круглик А. И. Рентгеноструктурное изучение порошков некоторых амшшых комплексных соединений благородных металлов. Препринт Ш73Ф, ИФ СО АН СССР. Красноярск, 1990, 26с.
202. Gromilov, S.A.-Baydina, I.A.-Alekseev, V.l.-Venedictov, A.B.-Hranenko, S.P.The crystalstructure of ammonium-sodium hexanitrites of iridium (III) and rhodium (lll) //—Zhurnal.
203. Neorganicheskoi Khimii. (1990), 35, 682−684.
204. Блохин А. И., Соловьев Л. А., Блохина М. Л., Кирик С. Д., И. С. Якимов. Кристаллическая структура Tpanc-Pd (NH3)2(N02)2. по данным порошковой рентгенографии. // Координационная химия, т.22, N.3. 1996. с. 198−202.
205. Блохин А. И., Соловьев Л. А., Кирик С. Д., И. С. Якимов. Синтез, структура и термические свойства Na2Pd (C204)2.2H20 // Неорг. Химии, т.40, N.8. 1995. с.1291−1296.
206. И. С. Якимов, Бондаренко А. А. Кирик С.Д., Круглик А. И. Принципы реализации и состав интерактивной системы рентгеноструктурного анализа поликристаллов. // Препринт N6720, ИФ СО АН СССР. Красноярск. 1990. 59 С.
207. Минцис М. Я., Поляков П. В., Сиразутдинов Г. А. Электрометаллургия алюминия. -Новосибирск: «Наука», 2001. 368 с.
208. Johansson S.F., Kjelstrup S.// Light Metals. 1997. P 288−294.
209. Benjamin M. // Met. Trans. 1984. Vol. 15B. 277 280.
210. Погодаев A.M., Шиманский А. Ф., Якимов И. С., Архипов Г. В., Иванова A.M. Процессы, протекающие в углеродной футеровке алюминиевого электролизера. // Цветные металлы. 2005, № 5−6, с. 117−120.
211. A.M. Погодаев, А. Ф. Шиманский, Г. В., И. С. Якимов, Г. В. Архипов. Процессы, протекающие в углеродной футеровке алюминиевого электролизера. // Цветные металлы, № 5−6,2005. с.117−120.
212. Ветюков М. Н., Цыпляков A.M., Школьников С. Н. Электрометаллургия алюминия и магния. М.: «Металлургия», 1987.-320 с.
213. Хансен М., Андерко К. Структуры двойных сплавов, том 1. М.: ГНТИЛ по черной и цветной металлургии, — 1962. — 608 с.
214. Лукашенко Э. Е., Погодаев A.M., Сладкова И. А. Сборник примеров и задач по теории процессов цветной металлургии. М.: Металлургия, 1971. — 172 с.
215. Костюков А. А. Справочник металлурга. М.: Металлургия, 1971. -560С.
216. Ниженко В. И., Флока Л. И. Поверхностное натяжение жидких металлов и сплавов. М.: «Металлургия», 1981. — 204 с.
217. Практикум по физической химии. Под редакцией Горбачева С. А. — М.: Высшая школа, 1974. 496 с.
218. Верятин У. Д., Маширов В. П., Рябцов Н. Г. и др. Термодинамические свойства неорганических веществ. (Справочник). -М.:Атомиздат, 1965.-460с.
219. Кэй Дж., Лэби Т. Таблицы физических и химических постоянных. М.: ГИФМЛ, 1962.-246 с.. .
220. Куликов И. С. Термодинамика карбидов и нитридов.- Челябинск: «Металлургия», 1988.-320 с.
221. Asher R.C., Inorg J. Nucl. Chem. 10 (1959) P.238.
222. Pflugmacher I. and Boehm H.P., 3rd Conf. Ind. Carbons Graphite (1970) 62.
223. Tabereaux A.T. The Role of Sodium in Aluminum Electolysic: A pjsible indicatov of Cell Partormance. Light Metals, 1996; P. 319 325.
224. Куликов И. С. Термическая диссоциация соединений. -М.: «Металлургия», 1969;570с.
225. Dell М.В. Metals, 23 (1972), № 6, 18.
226. Kwande Н., Zhuxian Q, Kwantssung J/ Grjotheim K. Penetration of bath in to the Cathole zining in Aluminim Reductin Cell. Light Metals, 1989; P. 161 167.
227. Погодаев A.M., Шиманский А. Ф., Якимов И. С., Архипов Г. В., Борисов В. И. Эволюция состава алюмосиликатных материалов в течение эксплуатации алюминиевого электролизера. // Цветные металлы. 2005, № 3, с. 117−120.
228. Галевский Г. В., Жураковский В. М., Кулагин Н. М., Минцис М. Я., Сиразутдинов Г. А. Технология производства электродных масс для алюминиевых электролизеров. -Новосибирск: «Наука», 1999.-294 с.
229. Чалых Е, Ф. Технология углеграфитовых материалов. -М: «Металлургия, 1963. -304 с.
230. Мармер Э. Н. Углеграфитовые материалы. М: «Металлургия», 1973. — 136 с.
231. Thonstad J., Feller Р., Haarberg, G. et al. «Aluminium Electrolysis. Fundamentals of the Hall-Heroult Process», Dusseldorf: Aluminium-Verlag, 2001.
232. Патрахин И. Ю. Изучение механизма и кинетики адсорбции и десорбции влаги и фторсоединений на металлургических глиноземах с целью снижения потерь фтора в производстве алюминия // Диссертация, Красноярск, 2004, 138 с.
233. Бенар Ж. Окисление металлов, том 2. М.: Металлургия, 1969. — 450 с.
234. Сорлье М., Ойя Х. А. Катоды в алюминиевом электролизе. II издание / Пер. с англ. Поляков П. В. Красноярск: Алюмиииум Ферляг. 1996. — 459 с.
235. Ginbtrg Н., Wefers К. // Errmetall 1967. — Vol. 20, № 4, — p. 156−162.
236. A.JI. Юрков. Огнеупоры и углеродные катодные материалы для алюминиевой промышленности. Красноярск, 2005. 258 с.
237. Павлов В. Ф., Погодаев A.M., Прошкин A.B., Шабанов В. Ф. Производство теплоизоляционных пеносиликатных материалов. Новосибирск, издательство СО РАН. -1999. 68 с.
238. Михеев В. Г. Неметаллические полезные ископаемые. Красноярск: «КГАЦМиЗ», 2003, — 158 с.
239. Августинник А. И. Керамика. Ленинград: «Стройиздат», 1975. — 592 с.
240. Атлас шлаков, (под редакцией Куликова И.С.). М.: «Металлургия», 1985. — 204 с.
241. Юрков А. Л. Огнеупоры и углеродные катодные материалы для алюминиевой промышленности. Красноярск, 2005. 258 с.
242. Попель С. И., Сотников А. И., Бороненков В. Н. Теория металлургических процессов. М.: «Металлургия», 1986. — 462 с.
243. Погодаев A.M., Погодаева И. А. Теория металлургических процессов (сборник задач). Красноярск: «СФУ». — 2007. — 68 с.
244. Вашоков A.B., Зайцев В. Я. Теория пирометаллургических процессов. М.: «Металлургия». — 1973. — 504 с.
245. Морачевский А. Г. Термодинамика расплавленных металлических и солевых систем. М.: «Металлургия». — 1987. — 240 с.
246. Погодаев A.M., Шиманский А. Ф., Якимов И. С., Архипов Г. В., Иванова A.M. Эволюция состава алюмосиликатных футеровочных материалов в течение эксплуатации алюминиевого электролизера. // Цветные металлы. 2005, № 3, с. 46−50.
247. Торопов H.A., Барзаковский В. П., Лапин В. В., Курцева H.H., Бойкова А. И. Диаграммы состояния силикатных систем (справочник том 3). Ленинград: «Наука». -1972.-448 с.
248. O-J. Siljan, Т. Grande, С. Schoning. «Refractories for Aluminium Electrolysis Cells». Part I: Deterioration Mechanisms Based on Phase Equilibria // Aluminium, 77 (4), 2001, pp. 294−300.
249. J. Rutlin, T. Grande. Fluoride Attack on Alumino-Silicate Refractories in Aluminium Electrolysis Cells // Light Metals 1997, P. 294 300.
250. O-J. Siljan, T. Grande, C. Schoning. «Refractories for Aluminium Electrolysis Cells». Part 2: Physical properties of penetrating mel, reduction by metals and volatile fluorides ALUMINIUN, 77(2001), 5, pp. 385 — 390.
251. Siljan O.J., Grande T, Schoning С. «Refractories for Aluminium Electrolysis Cells». Part 4: Comparision of laboratory investigation and autopsies ALUMINIUM, 77 (2001), 10, p. 809−814.
252. Siljan O. J., Grande T. The stability of refractory oxides in sodium-rich environments, JOM, 54 (2006),-p. 58−61.
253. Property change of dry barrier mixes used in a cathode of aluminium cells Proshkin A.V., Pogodaef A.M., Polyakov P.V., Pingin V.V., Patrachin I.U. Light Metals, 2007, — p. 833 -838.
254. Schoning С., Grande Т., Siljan O.J. //Light Metals. 1999. P. 231 237.
255. Harris D., Oprea G. //Light Metals. 2000. P. 419 427.
256. Siljan O.J., Schoning С., Grande Т. //ЮМ. 2002. P. 46 54.
257. Шарапова В. В., Лищук И. И., Богуславский Д. Ю., Чесняк В. В. Изменение минерального состава и фазовые превращения в футеровке подины алюминиевых электролизеров. Новые огнеупоры. 2005, № 3, с. 13−17.
258. Некрасов Б. Н. Основы общей химии (том 1).- М.: Химия. 1974.-656 с.
259. Siljan О. J. Dr. Ing. Thesis Insitute of Inorganic Cemistry/NTH., 1990.
260. Куликов Б. П. Основы технологических процессов переработки вторичных ресурсов и техногенных отходов алюминиевого производства. Автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора химических наук. Шелехов. — 2010. -45С.
261. И. С. Якимов, Дубинин П. С., А. Н. Залога, О. Е. Пиксина, С. Д. Кирик / Разработка отраслевых стандартных образцов электролита алюминиевых электролизеров // Стандартные образцы.-2008.-с.34−42.
262. Справочник металлурга по цветным металлам. Производство алюминия. М. Металлургия, 1971,560с.
263. S. Kirik, I.S.Yakimov. XRD versus XRF in the bath chemistry control in aluminum production // Advances in X-ray Analysis, Vol. 44, 2001. p.85−90.
264. Grjotheim K., Krohn C., Malinovsky M., Matiasovsky K. Aluminium Electrolysis. Fundamentals of the Hall-Heroult Process // 2nd Edition Aluminum-Verlag Dusseldorf. 1982.
265. Ginsberg H., Wefers K. ThermochemischeUntersuchungen am System NaFAlF3 // Zeitschrift flier Erzbergbau und Metallhuettenwesen. -1967. -20. 4. — P. 156−161.
266. Foster P.A.//J.Chem.Eng.Data. 1964. V.9(2), P.200.
267. Foster P.A. // J.Ceram.Soc. 1975. V.58(7−9), P.288.
268. Holm J.L. The Phase Diagram of the System Na3AlF6-CaF2, and the Constitutionof the Melt in the System // Acta Chem. Scand. 1968. — 22. — P.1004−1012.
269. Chrencova M., Danek V., Silny A. Solid solutions in the system Na3AlF6-CaF2 // Ninth International Symposium on Light Matals Production. ed. J.Thonstad. — NTNU Trondheim Norway, 1997.
270. Craig D.F., Brawn J.Jr. Phase equilibria in the System CaF2-AlF3-Na3AlF6-A1203 and Part of the System CaF2-AlF3-Na3AlF6-A1203 // American Cer. Soc. 1980. -N. 63. — P. 254 261.
271. Ануфриева Н. И., Балашова 3.H., Верстинский B.H. Новые данные по тройным диаграммам состояния систем NaF-AlF3-CaF2 и NaF-AlF3-MgF2 // Цветные металлы. -1985.-8.-С. 66−71.
272. Pfundt Н., Zimmermann N. The Quasi Binary System NaF-CaAIF5, an Investigation from the. Ternary Sistem NaF-AlF3-CaF2// Erzmetall. 1972. Bd. 25. — 11. — S. 564−567.
273. Baggio S" Massiff G. Calcium Cryolites // J. Appl. Cristallogr. 1985. — P.537−539.
274. Hcmon A., Courbion G. The NaF-CaF2-AlF3 system: Structures of p-NaCaAlF6 and Na4Ca4A17F33 // J. Solid State Chem. 1990. — 84. — P. 153−164.
275. Courbion G., Ferey G. Na2Ca3A12F14: A new example of a structure with «independent F—» —A new method of comparison between fluorides and oxides of different formula// J. Solid State Chem. 1988. -76. -P. 426−431.
276. Le Bail A., Hemond Ribaud A., Courbion G. Structure of a-NaCaAlF6 determinated ab initio from conventional powder diffraction data. // Eur. J. Solid State Inorg. Chem. 1998. — 35. -P. 265−272.
277. Соколов O.K., Беляев A.M. // Изв. ВУЗов., Цветн.металлы. 1960. N3(1). с. 108.
278. Кирик С. Д., Куликова Н. Н., Бузунов В. Ю., Голощапов В. Г., И. С. Якимов. Промышленное внедрение дифрактометрического метода контроля электролита в отечественном производстве алюминия. // Цветные металлы № 9. 1996. с.75−77.
279. Методы определения криолитового отношения электролита алюминиевых электролизеров. Методические рекомендации. ВАМИ. Ленинград, 1974, 37с.
280. С. Д. Кирик, И. С. Якимов. Результаты Round Robin технологического контроля состава электролита. // Сб-к материалов Междунар. Конф. «Алюминий Сибири-2003». Красноярск. 2003.
281. ГОСТ 8.531−2002 ГСИ. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности.
282. ГОСТ 8.532−2002 ГСИ. Стандартные образцы состава веществ и материалов. Межлабораторная метрологическая аттестация.
283. Ануфриева Н. И., Балашова З. П. и др. / Отчет ВАМИ, тема № 5−75-ПА-61, — 1975. р. 4.
284. Мауритс А. А., Меньшиков В. И., Соколов А. П. / Отчет ВАМИ, тема № 5−79−773, этап 20. 1981.
285. Feret, F.R. Light Metals, 1988, 697−702.
286. Ружников С. Г., Кирик С. Д., Пиксина O.E., Якимов И. С. Рентгенофлуоресцентный способ определения криолитового отношения при электролитическом получении алюминия // Патент РФ № 2 424 379 от 20.08.2011.
287. Якимов И. С., Дубинин П. С., Пиксина О. Е., Ружников С. Г., Кирик С. Д. Система аналитического рентгеновского контроля состава электролита алюминиевого производства//Контроль. Диагностика. 2011.№ 1.С. 14−18.
288. Дифрактометрическое определение криолитового модуля закаленных и медленноохлажденных электролитов алюминиевых ванн с добавками фторидов кальция и магния. ВАМИ. Ленинград. 1982.
289. Кирик С. Д., Куликова Н. Н., Якимов И. С., Бузунов В. Ю. Промышленное внедрение дифрактометрического контроля электролита в отечественном производстве алюминия.//Цветные металлы., 1996, № 9, с.75−77.
290. Lorents Petter Lossius, Helge Hoie, Hanne Hoel Pedersen, Trygve Foosnaes. Analysis of excess A1F3 Harmonization in Hydro Aluminium // Light Metals, 2000. — P. 265−270.
291. Компаниец М. Ф. «Кристаллооптическии анализ в алюминиевом производстве"// МеталлургИздат, 1959.
292. O. Crottaz, R.G.Haverkamp //Light Metals, 2001, 1195−1199.
293. Use of Shainin on 2 problems at Elkem Aluminium Lista // VVS Conference in Haugesund, May 2000.
294. Аракенян О. И., Белецкий М. С. и др. Отчет ВАМИ, тема № 101, 1960 г.
295. Ануфриева Н. И., Балашова З. П. и др. Отчет ВАМИ, тема № 5−75-ПА-61, р. 4, 1975 г.
296. Мауритс А. А., Меньшиков В. И., Соколов А. П. Отчет ВАМИ, тема № 5−79−773, этап 20, 1981.
297. Компаниец М. Ф. и др. //Заводская лаборатория, 1953,6,671.
298. Sergei Kirik, Igor Yakimov. AN EVALUATION OF XRD AND XRF METHODS USED IN AN ALUMINIUM BATH ANALYSIS // Advances in X-ray Analysis, Vol.44, 2001. p. 85−90.
299. Ferret, FR, 2008. Breakthrough in analysis of electrolytic bath using Rietveld-XRD method, in: TMS2008: 137th Annual Meeting & Exhibition of the Minerals, Metals & Materials Society. Minerals, Metals & Materials Society.
300. Karsten Knorr. Present progress in fast XRD analysis applying the Rietveld method for bath control / the 19th International Symposium and Exhibition of ICSOBA (International Committee for Study of Bauxite, Alumina & Aluminium). Brazil. October, 2012.
301. Alcan non-metallic standards, Electrolytic Bath, Technical Information, ALCAN International Ltd. (Quebec, Canada) 1999.
302. Combined XRD/XRF System for Potflux Analysis PW1760/10. Instructional Manual 9499−303−1 711, 840 127. Almelo, The Netherlands.
303. Adkins E.M. «Why use lithium?»: «Алюминий Сибири-2001» Программа, тезисы докладов, Красноярск 2001, с. 106.
304. Ануфриева Н. И., Балашова З. Н., Баранова Л. С., Веретинский В. Н., Ключникова Е. Ф. Тройная диаграмма состояний системы NaF-AlF3-LiF // Сборник Н. Т. Повышение эффективности электрического производства алюминия. Ленинград. 1985. — С.8−16.