Разработка оптических методов исследования твёрдого тела при возбуждении поверхностных плазмонов зондирующим излучением
Диссертация
В результате выполненных в ходе подготовки диссертации исследований разработаны новые оптические способы (или усовершенствованы известные) изучения твёрдого тела в условиях возбуждения зондирующим излучением поверхностных плазмонов (1111) видимого и терагерцового (ТГц) диапазонов. Разработанные способы и устройства открывают новые возможности в изучении свойств поверхности твёрдого тела… Читать ещё >
Список литературы
- Жижин Г. Н., Москалёва М. А., Шомина Е. В., Яковлев В. А. Селективное поглощение ПЭВ, распространяющейся по металлу в присутствии тонкой диэлектрической плёнки // Письма в ЖЭТФ. — 1976. — т.24. — Вып.4. -с.221−225.
- Никитин А.К., Тищенко А. А. Поверхностные электромагнитные волны и их применения // Зарубежная радиоэлектроника. — 1983. -№ 3.-с.38−56.
- Поверхностные поляритоны. Электромагнитные волны на поверхностях и границах раздела сред / Под ред. В. М. Аграновича и Д. Л. Миллса. -М.: Наука, 1985.-525 с.
- Либенсон М.Н., Макин B.C., Пудков С. Д. Поверхностные электромагнитные волны в оптике // Л.: О-во «Знание», 1990. 24 с.
- Никитин А.К. Плазмонная оптометрия // Дисс. д.т.н. М., НТЦ УП РАН, 2002.-270 с.
- Яковлев В.А. Спектроскопия поверхности и переходных слоёв с использованием поверхностных электромагнитных волн и поляритонов // Дисс. д.ф.-м.н.-Троицк, Институт спектроскопии СССР, 1989. 368 с.
- Zhizhin G.N. and Yakovlev V.A. Broad-band spectroscopy of surface electromagnetic waves // Physics Reports,-1990. v.194. — No.5/6. — p.281−289.
- Маршалл Т. Лазеры на свободных электронах // М.: Мир, 1987. 240 с.
- Ritchie R.H. Plasma loses by fast electrons in thin films // Physical Review. -1957. v.106. — No.5. — p. 874−878.
- Otto A. Excitation of nonradiative surface plasma waves in silver by the method of frustrated total reflection // Zeitschrift fur Physic. 1968. -Bd.216. -s.398−410.
- Шомина E.B. ПЭВ ИК диапазона и их применения для спектроскопии сверхтонких плёнок на поверхности металлов // Дисс. к.ф.-м.н. Троицк, Институт спектроскопии АН СССР, 1980. — 169 с.
- Силин В.й. Дифракция и интерференция ПЭВ ИК диапазона в задачах спектроскопии поверхности // Дисс. к.ф.-м.н. Троицк, Институт спектроскопии АН СССР, 1985. — 186 с.
- Трубаев В.В. Исследование поверхностных и прижатых электромагнитных волн среднего ИК диапазона, распространяющихся на металлических поверхностях II Дисс. к.ф.-м.н. СПб., ГОИ, 1994. -125 с.
- Коваленко Д.И. Исследование отражения поляризованного излучения от слоистых структур в условиях возбуждения поверхностных плазмо-нов // Дисс. к.ф.-м.н. Саратов, СГУ, 1997. — 123 с.
- Белоглазов А.А. Физические принципы сенсоров на основе поверхностных электромагнитных волн в структурах металл-полупроводник // Автореферат дисс. к.ф.-м.н. -М., ИОФ РАН, 1998.-22 с.
- Raether Н. Surface plasma oscillations and their applications // Physics of Thin Films. 1977. — v.9. — p.145−261.
- Гинзбург В.JI. и Мотулевич Г.П. Оптические свойства металлов // УФН. 1955. — т.55. — вып.4. — с.469−535.
- Соколов А.В. Оптические свойства металлов // М., 1961. 464 с.
- Nagel S.R. and Schnatterly S.F. Frequency dependence of the Drude relaxation in metal films // Phys. Rev. B. 1974. — v.9. — No.4. — p. 1299−1303.
- Raether H. Surface plasmons on smooth and rough surfaces and on gratings // Springer Tracts in Modern Physics. 1988. — v. 111. — 130 p.
- Abeles F., Lopez-Rios T. and Tadjeddine A. Investigation of the metal-electrolyte interface using surface plasma waves with ellipsometric detection // Solid State Communications. 1975. — v. 16. -No.7. — p.843−847.
- Burshta I.I., Venger E.F. and Zavadskii S.N. Ellipsometry of guided wave polaritons at solid surfaces // Surface Science. 1994. — v.301. — No.1−3. -p.399−404.
- Никитин A.K., Тищенко A.A. О точности и чувствительности метода эллипсометрии с возбуждением ПЭВ // Поверхность (физ., хим., мех.). 1987. — № 9. — с.84−88.
- Schildkraut J.S. Limitations to the determination of the optical properties of a thin film by combined ellipsometric and surface plasmon resonance measurements // Applied Optics. 1988. — v.27. -No.16. — p.3329−3333.
- Буршта И.И., Венгер Е. Ф., Завадский C.H. Чувствительность метода эллипсометрии в условиях возбуждения поверхностных поляритонов // ЖТФ. 1994. — т.64. — Вып. 10. — с. 191−194.
- Bortchagovsky E.G. Possibilities of ellipsometry with surface plasmon excitation in the investigation of thin films in comparison to separated ellipsometry and surface plasmon spectroscopy // Proc. SPIE. -1997. -v.3094. -p.239−249.
- Большаков М.М., Кассандров В. В., Никитин А. К., Тищенко А. А. Эл-липсометрическое детектирование электромагнитных мод в тонких металлических плёнках // Сб. науч. трудов «Эллипсометрия в науке и технике». Новосибирск, ИПФ СО АН СССР. — 1990. — с. 161−167.
- Yeatman Е.М., Ash Е.А. Surface plasmon microscopy // Electronics Letters. 1987. — v.23. -No.20. — p.1091−1092.
- Rothenhausler В., Knoll W. Surface-plasmon microscopy // Nature. 1988.- v.332. -No.6165. -p.615−617.
- Либенсон M.H., Диденко И. А. Оптическая микроскопия сверхвысокого разрешения // Оптический Вестник. — 1992. № 5−6. — с. 1−2.
- Nemetz A., Knoll W. Raman-spectroscopy and microscopy with plasmon surface-polaritons // J. of Raman Spectroscopy. 1996. — v.27. — No.8. -p.587−592.
- Green R.J., Frazier R.A., Shakesheff K.M. et al. Surface-plasmon resonance analysis of dynamic biological interactions with biomaterials // Biomaterials.- 2000. v.21. — No. 18. — p. l 823−1835.
- Berger C.H., Kooyman R.P.H. and Greve J. Resolution in surface, plasmon microscopy // Reviews of Scientific Instruments. — 1994. v.65. — No.9. -p.2829−2836.
- Никитин A.K., Тищенко А. А. Фазовая ПЭВ-микроскопия // Письма в ЖТФ. 1991. — т. 17. — Вып. 11. — с.76−79.
- Nikitin P.I., Beloglazov А.А., Kochergin V.E., Valeiko M.V., Ksenevich T.I. Surface plasmon resonance interferometry for biological and chemical sensing // Sensors & Actuators (B). 1999. — v.54. — No.l. — p.43−50.
- Kabashin A.V., Kochergin V.E., Nikitin P.I. Surface plasmon resonance bio- and chemical sensors with phase-polarisation contrast // Sensors & Actuators (B). 1999. — v.54. — No.l. — p.51−56.
- Концевой Ю.А., Резвый P.P., Гололобов В. М. Применение лазерного эллипсометрического микроскопа для контроля полупроводниковых структур // Заводская лаборатория. — 1971. -т.37. -№ 2. с.184−186.
- Концевой Ю.А., Жарковский Е. М., Шутов Д. Г., Резвый P.P. Контраст и разрешающая способность метода эллипсометрической микроскопии // Заводская лаборатория. — 1993. т.59. -№ 9. — с.26−29.
- Ржанов А.В., Свиташёв К. К., Семененко А. И. и др. Основы эллипсо-метрии / Новосибирск, 1979. 422 с.
- Никитин А.К. Способ эллипсометрического исследования тонких плёнок на плоских подложках // Патент РФ на изобретение RU 2 133 956 (МКИ6 G 01N 21/21). Бюл. № 21 от 27.07.1999 г.
- Никитин А.К. Эллипсометрическая микроскопия в условиях поверхностного плазмонного резонанса // Оптический журнал. 1998. — № 11. -с.99−100.
- Kretschmann Е. Die Bestimmung optischer Konstanten von Metallen durch Anregung von Oberflachenplasmaschwingugen // Zeitschrift fur Physic. -1971.-Bd.241.-No.4. s.313−324.
- Weber W.H. Modulated surface-plasmon resonance for in situ metal-film surface studies // Phys. Rev. Lett. 1977. — v.39. -No.3. — p. 153−156.
- Pockrand I. Surface enhanced Raman vibrational studies at solid/gas interfaces // Springer Tracts in Modern Physics. — 1984. — v. 104. 159 p.
- Moskovits M. Surface-enhanced spectroscopy // Reviews of Modern Physics. 1985. — v.57. -No.3. — p.783−826.
- Сударкин A.H., Ушаков K.H. Вынужденное комбинационное рассеяние ПЭВ ИЖЭТФ. 1989. -т.96. — Вып.2(8). — с.561−573.
- Жижин Г. Н., Москалёва М. А., Сигарёв А. А., Яковлев В. А. Применение Фурье-спектроскопии для изучения тонких плёнок с помощью ПЭВ // Оптика и спектроскопия. 1982. — т.52. — № 3. — с.395−398.
- Валянский С.И., Виноградов С. В., Савранский В. В. Частотно-угловая спектроскопия поверхностных плазмонных поляритонов, возбуждаемых в тонких плёнках // Письма в ЖТФ. 1992. -т.18. -Вып.5.-с.70−73.
- Никитин А.К. Спектрометр поверхностных электромагнитных волн // Патент РФ на изобретение RU 2 091 733 (МКИ6 G 01 J 3/42). Бюл. № 27 от 27.09.1997 г.
- Никитин А.К. Широкополосный спектрометр поверхностных электромагнитных волн // Патент РФ наизобретение RU 2 173 837 (МКИ G 01 J 3/42). Бюл. № 26 от 20.09.2001 г.
- Kitajima Н., Hieda К., Suematsu Y. Use of a total absorption ATR method to measure complex refractive indexes of metal foils // J. Optical Society of America. 1980. — v.70. -No.12. -p.1507−1513.
- Owner-Petersen M., Zhu B.-S., Dalsgaard E. Extreme attenuation of total internal reflection used for determination of optical properties of metals // J. Optical Society of America (A). 1987. — v.4. -No.9. -p. 1741−1747.
- Мошкунов С.И., Петрушин A.H., Хомич В. Ю. О точности определения параметров тонких плёнок методом возбуждения поверхностных плаз-монов // Известия РАН (сер. Физическая). -1992. -т.56. -№ 4. -с.212−215.
- Chabal Y.J. Surface infrared spectroscopy // Surface Science Reports. -1988. v.8. -p.211−357.
- Schoenwald J., Burstein E. and Elson J.M. Propagation of surface polaritons over macroscopic distances at optical frequencies // Solid State Communications. 1973. — v.12. -No.3. — p.185−189.
- Жижин Г. Н., Теричев В. Ф., Тищенко A.A., Черняй А. И., Яковлев В. А. Распространение ПЭВ пятимикронной области спектра // Письма в ЖТФ. 1987. — т. 13. — Вып. 15. — с.944−948.
- Воронов С.А., Жижин Г. Н., Киселёв С. А., Кузик Л. А., Яковлев В. А. Фазовая спектроскопия поверхностных электромагнитных волн // Компьютерная оптика. 1989. — № 4. — с.66−71.
- Жижин Г. Н., Москалёва М. А., Шомина Е. В., Яковлев В. А. Оптические постоянные меди, полученные по распространению ПЭВ // Физика твёрдого тела. 1979. -т.21. — № 9. — с.2828−2831.
- Жижин Г. Н., Москалёва М. А., Шомина Е. В., Яковлев В. А. Определение оптических постоянных металлов в ИК области по распространению ПЭВ // Физика металлов и металловедение. 1980. — т.50. — № 4. -с.734−740.
- Никитин А.К., Рыжова Т. А. Регулирование контраста изображения и глубины резкости в ПЭВ-микроскопии // Письма в ЖТФ. 1996. — т.22. -Вып. 9.-с. 14−17.
- Hickel W. and Knoll W. Surface-plasmon microscopic imaging of ultrathin metal coatings // Acta Metallurgies 1989. — v.:37. — No.8. — p.2141−2144.
- Золотарёв B.M., Морозов B.H., Смирнова E.B. Оптические постоянные природных и технических сред // Л.: Химия, 1984. 215 с.
- Никитин А.К., Рыжова Т. А. ПЭВ-микроскопия с большой глубиной резкости // Тезисы докл. XXII научной конф. факультета физико-математических и естественных наук РУДН. М.: РУДН, 1996. — с. 31.
- Никитин А.К., Логинов А. П., Рыжова Т. А. Иммерсионно-оптический датчик линейного ускорения // Тезисы докл. VII международной конференции «Лазеры в науке, технике и медицине», 26−30 сентября 1996 г., г. Сергиев-Посад. М.: 1996. — с. 63−68.
- Органические соединения (Справочник) // М.: Химия, 1984. 876 с.
- Денисюк Ю.Н. Принципы голографии // Л., 1978. 230 с.
- Островский Ю.И., Бутусов М. М., Островская Г. В. Голографическаяинтерферометрия // М., 1977. 336 с.
- Bryngdahl О. Holography with evanescent waves // JOSA. 1969. — v.59.1. No.12. -p.1645−1650.
- Cowan J.J. Holography with standing surface plasma waves // Optics Communications. 1974. — v.12. -No.4. -p. 373−378.
- Cowan J.J. Surface plasmon holography // American Institute of Physics (AIP) Conference Proceedings. 1980. — No.65. — p.515−518.
- Maruo S., Nakamura O., Kawata S. Evanescent-wave holography by use of surface-plasmon resonance // Applied Optics. 1997. — v.36. — No.ll. -p. 2343−2347.
- Жижин Г. Н., Никитин A.K., Рыжова T.A., Логинов А. П. О применении голографической интерферометрии для оптического контроля поверхности твердого тела // Письма в ЖТФ. 2004. — Т.30.- Вып.21.- с.88−94.
- Никитин А.К., Логинов А. П., Рыжова Т. А. Устройство для исследования переходного слоя проводящей поверхности И Патент на полезную модель RU № 42 661. Бюл. № 34 от 10.12.2004 г.
- Никитин A.K. Поляриметрическое детектирование фотонного возбуждения поверхностных плазмонов // Квантовая электроника. 2000. -т.30. — № 1. — с.73−77.
- Названов В.Ф., Коваленко Д. И. О поведении амплитуды и фазы отражённого излучения в многослойных структурах с поверхностными плаз-монами // Письма в ЖТФ. 1995. -т.21. -Вып.14. — с.60−63.
- Волкова Е.А. Поляризационные измерения// М.: Стандарты, 1974.-214с.
- Siegel Р.Н. Terahertz technology // IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 2002. — v.50. -No.3. — p. 910−955.
- Csurgay A.I., Porod W. Surface plasmon waves in nanoelectronic circuits // Intern. J. of Circuit Theory and Applications. 2004. — v.32. -p.339−361.
- Физика поверхности: колебательная спектроскопия адсорбатов / Ред. Уиллиса P.M. М.: Мир, 1984. — 246 с.
- Schlesinger Z., Webb B.C. and Sievers A.J. Attenuation and coupling of far infrared surface plasmons // Solid State Communications. — 1981. — v.39. -p.1035−1039.
- Zhizhin G.N., Alieva E.V., Kuzik L.A., et al. Free-electron laser for infrared SEW characterization of surfaces of conducting and dielectric solids and nm films on them II Applied Physics (A). 1998. — V.67. -p.667−673.
- Schlesinger Z., Sievers A.J. IR Surface-plasmon Attenuation coefficient for Ag and Au films // Applied Physics Letters. 1980. — V.36. — p.409−415.
- Яковлев B.A., Сычугов B.A., Хакимов A.A. Интерференционные явления при срыве поверхностных электромагнитных волн с края металлической подложки // Квантовая электроника. 1983. — Т. 10. — № 3. -с.611−612.
- Silin V.I., Voronov S.A., Yakovlev V.A., Zhizhin G.N. Surface plasmon (po-lariton) phase spectroscopy // International J. of Infrared and Millimeter Waves. 1989. — Y.10. -No.l. — p.101−120.
- Roseler A. Infrared spectroscopic ellipsometry / Berlin: Akademie-Verlag, 1990. 140 p.
- Handbook of optical constants of solids. Ed. by E. D. Palik / Academic Press, San Diego, USA. 1998. 804 p.
- Schlesinger Z. and Sievers A.J. IR surface-plasmon attenuation coefficients for Ge-coated Ag and An metals // Physical Review (B). 1982. — v.26. -No. 12. — p.6444−6454.
- Справочник «Физические величины» 11 M.: Энергоатомиздат, 1991. -575 с.
- Begley D.L., Alexander R.W., Ward C.A., Miller R. and Bell R.J. Propagation distances of surface electromagnetic waves in the far infrared // Surface Science. 1979. — V.81. — p.245−251.
- Koteles E.S., McNeill W.H. Far infrared surface plasmon propagation // Intern. J. Infrared and Millimeter Waves. 1981. — V.2. — No.2. — p.361−371.
- Stegeman G.I., Seymour R.J. Surface plasmon attenuation by thin film overlayers in the far infrared // Solid State Comm. 1982. — V.44. — No.9. -p.l 357−1358.
- Steijn K.W., Seymour R.J., Stegeman G.I. Attenuation of far-infrared surface plasmons on overcoated metal // Applied Phys. Letters. 1986. — V.49. -No. 18. — p. 1151−1153.
- Кабашин А.В., Никитин П. И. Интерферометр с использованием поверхностного плазмонного резонанса для сенсорных применений // Квантовая электроника, 1997, т.24, № 7, с.671−672.