Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур

Диссертация: Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Проведены сравнительные АСМ и РР исследования шероховатостей поверхности подложек с различными типами неровностей. Для поверхностей с существенно негауссовым распределением по высотам наблюдается существенное расхождение в полученных АСМ и РР методами значениях шероховатости Показано, что АСМ дает более адекватную информацию о шероховатостях поверхности. Развита методика расчета угловой… Читать ещё >

Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • 1. 1. Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследований шероховатости поверхности
  • 1. 2. Исследование состояний намагниченности в субмикронных ферромагнитных частицах методом магнитно-силовой микроскопии
  • 1. 3. Исследование состояний намагниченности в субмикронных ферромагнитных многослойных частицах методом магнитно-силовой микроскопии
  • Глава 2. Методы изготовления образцов и методики измерений
  • Глава 3. Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности подложек методом сканирующей зондовой микроскопии
    • 3. 1. Особенности применения атомно-силовой микроскопии для анализа рельефа поверхности подложек, сравнение с рентгеновскими методами
    • 3. 2. Исследование возможности сглаживания шероховатостей поверхности методом репликации при помощи тонких слоев полимерных материалов
    • 3. 3. Сравнительные АСМ исследования подложек, применяемых для изготовления многослойных рентгеновских зеркал
      • 3. 3. 1. Измерения шероховатостей подложек, изготовленных в ИЛФ
  • С. Петербург)
    • 3. 3. 2. Исследование шероховатости подложек, изготовленных в оптической группе ФИАНа
    • 3. 3. 3. Измерения шероховатостей подложек, изготовленных на Казанском оптико-механическом заводе
    • 3. 3. 4. Измерения шероховатостей подложек, изготовленных в НПО «Композит»
    • 3. 3. 5. Результаты сравнительных АСМ исследований шероховатости тестовых подложек
    • 3. 3. 6. Исследование возможности изготовления сверхгладких асферических подложек
    • 3. 4. Выводы к главе 3
  • Глава 4. Исследования индуцированных магнитным полем МСМ зонда переходов между магнитными состояниями в ферромагнитных наночастицах
    • 4. 1. Исследование индуцированных магнитным полем МСМ зонда переходов между состояниями с однородной намагниченностью в субмикронных частицах Fe-Cr
    • 4. 2. Исследование индуцированных магнитным полем МСМ зонда переходов между однородным и одновихревым состояниями намагниченности в эллиптических частицах Со
    • 4. 3. Применение МСМ методик перемагничивания субмикронных частиц для управления свойствами джозефсоновских контактов
    • 4. 4. Выводы к главе 4
  • Глава 5. МСМ исследования состояний намагниченности в многослойных ферромагнитных частицах
    • 5. 1. МСМ исследования состояний намагниченности в двухслойных ферромагнитных частицах
    • 5. 2. Наблюдение индуцированных зондом МСМ эффектов перемагничивания в двухслойных ферромагнитных субмикронных частицах
    • 5. 3. Диаграмма магнитных состояний трехслойных субмикронных ферромагнитных частиц
    • 5. 4. Моделирование МСМ изображений трехслойных ферромагнитных частиц с коллинеарным и неколлинеарным состоянием намагниченности
    • 5. 5. Экспериментальные МСМ исследования трехслойных ферромагнитных частиц
    • 5. 6. Выводы к главе 5

    • За последние двадцать лет сформировалось новое направление в исследованиисвойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). Применение различных зондовыхмикроскопов, таких, как сканирующий туннельный (СТМ), атомно-силовой (АСМ), магнитно-силовой (МСМ), позволяет получать уникальную информацию о свойствахповерхности. Данная диссертационная работа посвящена развитию СЗМ методик и ихприменению для исследования особенностей микрорельефа сверхгладкихповерхностей с различными типами микрошероховатостей и для исследованиянаномасштабных свойств различных магнитных наноструктур на основеферромагнитных материалов. Первая часть работы посвящена исследованиям шероховатости рельефаповерхности подложек, применяемых для изготовления многослойных зеркалрентгеновского диапазона длин волн. Традиционно для исследованиянаномасштабных неровностей рельефа поверхности применяются методы атомносиловой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии (РР). В силу различнойнрироды взаимодействия АСМ зонда и рентгеновского излучения с исследуемымобразцом эти методы дают различную информацию о микрошероховатостяхповерхности. Поэтому существует ряд метрологических проблем, связанных сосравнением результатов измерений, получаемых АСМ и РР методами, и ихадекватной интерпретации. Часть диссертационной работы посвящена сравнениювозможностей АСМ и РР методик по исследованию микрорельефа поверхностей сразличным типом неровностей. Шероховатость поверхности исходной подложки является одним из основныхфакторов, влияющих на качество интерфейсов многослойных зеркал рентгеновскогодиапазона длин волн, и, в конечном итоге, на их отражательные характеристики. Особенно важно использование высококачественных подложек с предельно низкимзначением шероховатости при создании короткопериодных зеркал жесткогорентгеновского диапазона, так как с уменьшением периода отражающих слоеввлияние шероховатости на характеристики изготавливаемого зеркала существенноувеличивается. С другой стороны, требования к качеству зеркал существенновозрастают нри создании рентгенооитических установок, содержащих несколькоотражательных элементов. Величина нотерь интенсивности пучка в таких системахзависит от количества зеркал и от отражательных характеристик каждого из них, чтотакже накладывает крайне жесткие требования на шероховатость поверхностиподложек и шероховатость интерфейсов каждого из зеркал, входящих в систему. Достаточно большая часть данной работы посвящена нроблеме АСМ контроляшероховатости сверхгладких плоских и асферических подложек, изготавливаемыхметодами глубокой полировки. Вторая часть диссертационной работы посвящена МСМ исследованияммагнитных состояний в субмикронных ферромагнитных частицах. Массивыферромагнитных наночастиц вызывают в настоящее время повыщенный интерес, обусловленный, прежде всего, возможностью их применения в качестве источниковнеоднородного магнитного поля, датчиков слабых магнитных полей, а таюке вкачестве среды для записи информации с высокой плотностью. Особый интересвызывают многослойные частицы, состоящие из нескольких ферромагнитных слоевразделенных немагнитными прослойками. Так, на базе двухслойных ферромагнитныхнаночастиц, разрабатываются спинвентильные приборы и структуры для записиинформации. С фундаментальной точки зрения интерес к многослойнымферромагнитным частицам обусловлен возможностью создания искусственныхнеколлинеарных состояний намагниченности. Структуры такого типа представляютнесомненный интерес для изучения спинзависимых эффектов при исследованииэлектронного транспорта во внешних магнитных нолях. Массивы ферромагнитных наночастиц используются в качестве источниковнеоднородного магнитного поля, применяемых для управления свойствамичувствительных к магнитному нолю объектов. При этом, изменение состоянийнамагниченности отдельных частиц в массиве, позволяет управлять величиной иструктурой индуцированного такими источниками магнитного ноля, насубмикронных масштабах. С этой точки зрения, проведенные в диссертационнойработе исследования возможностей изменения магнитного состояния в наночастицахс помощью зонда магнитно-силового микроскона являются новыми и актуальными. Цели работы:1. Исследование возможности изготовления сверхгладких (со среднеквадратичнойшероховатостью 0,2 — 0,3 нм) нодложек плоской и асферической формы, нригодныхдля изготовления высококачественных многослойных зеркал рентгеновского дианазонадлин волн.2. Исследование индуцированных магнитным нолем зонда МСМ эффектовнеремагничивання ферромагнитных частиц субмикронного размера.3. МСМ исследования магннтньк состояний в двухслойных (Со / Si / Со) ферромагнитныхсубмикронных частицах. Исследование возможности управления состояниемнамагниченности в таких двухслойных частицах МСМ зондом.4. МСМ исследования состояний намагниченности трехслойных (Со / Si / Со / Si / Со) ферромагнитных дисков субмикронного размера. В частности, исследованиевозможности реализации неколлинеарных распределений намагниченности в такихчастицах. Научная новизна работы1. Впервые методом репликации сверхгладких эталонных пластин при помощитонких слоев полимерных материалов изготовлены сверхгладкие подложки длязеркал рентгеновского диапазона длин волн. Методом АСМ показано хорошеесовпадение параметра среднеквадратичной шероховатости эталонных пластин иизготовленных комбинированных подложек полимер-стекло.2. Исследованы индуцированные магнитным полем зонда МСМ эффектыперемап-гачивания в субмикронных эллиптических ферромагнитных частицах, обладающих двумя метастабильными состояниями. Обнаружены индуцированныезондом МСМ обратимые переходы между однородным и одновихревымсостоянием намагниченности. Впервые показана возможность управлениянаправлением завихренности магнитного вихря в процессе перехода изоднородного в вихревое состояние.3. Исследованы состояния намагниченности в двухслойных ферромагнитныхчастицах субмикронного размера. В таких объектах впервые наблюдалисьиндуцированные зондом МСМ переходы между ферромагнитной (векторамагнитных моментов в соседних ферромагнитных слоях сонаправлены) иантиферромагнитной (вектора магнитных моментов в соседних ферромагнитныхслоях направлены в противоположные стороны) конфигурацияминамагниченности в ферромагнитных слоях.4. Проведены МСМ исследования субмикронных трехслойных ферромагнитныхчастиц в виде круглых дисков, представляющих собой три слоя ферромагнитногоматериала, разделенные немагнитными прослойками. Впервые экспериментальнонаблюдались неколлинеарные распределения намагниченности в такихмногослойных объектах. Практическая значимость работы1. Совместно с НПО «Композит» (г. Москва) отработана технология глубокойполировки кварцевых подложек различной геометрии для изготовлениярентгеновских зеркал. Данная технология позволяет получатьвысококачественные подложки с шероховатостью поверхности на уровне 0,2 0,3 нм.2. Предложен и реализован метод репликации поверхностных структур при помощитонких слоев полимерных материалов с разрешением до 30 нм. С помощьюданного метода изготовлены высококачественные комбинированные подложкиполимер-стекло, пригодные для создания многослойных зеркал рентгеновскогодиапазона длин волн.3. Разработаны процедуры сканирования зондом МСМ, позволяющие эффективноуправлять состояниями намагниченности в эллиптических ферромагнитныхсубмикронных частицах. Упорядоченные массивы таких ферромагнитных частициспользовались в ИФМ РАП в качестве управляемых источников неоднородногомагнитного поля, влияющих на транснортные свойства джозефсоповскихконтактов.4. Показана возможность осуществления индуцированных МСМ зондом переходовмежду ферромагнитной и антиферромагнитной конфигурациями магнитныхмоментов в двухслойных (ферромагнетик / немагнитная прослойка /ферромагнетик) субмикропных частицах при помощи МСМ зонда. Исследования7переходов между магнитными состояниями в таких объектах актуальны с точкизрения разработки и создания приборов спинтроники и сред для записиинформации. Основные ноложения, выносимые на защиту1. Проведенная совместно с НПО «Композит» оптимизация технологии глубокойполировки позволила изготовить сверхгладкие кварцевые подложки сшероховатостью на уровне 0,2−0,3 нм, пригодные для созданиявысококачественных рентгеновских зеркал.2. Метод репликация сверхгладких эталонных поверхностей с номощью тонкихслоев полимерных материалов позволяет изготавливать подложки сшероховатостью на уровне 0,3 нм, пригодные для создания зеркал рентгеновскогодиапазона длин волн.3. Под действием ноля зонда МСМ в эллиптических ферромагнитных частицах свысоким аспектным соотношением латеральных размеров происходят переходымежду однородными состояниями с нротивоноложно нанравленным магнитныммоментом, а в частицах с малым аспектным соотношением переходы междусостояниями с однородной намагниченностью и одновихревым состоянием.4. Экспериментально осуществлено изменение знака завихренности магнитноговихря в субмикронной ферромагнитной частице нод действием поля зонда МСМпосредством двухстадийного процесса, сопровождающегося переходом извихревого в однородное состояние, а затем вновь в вихревое с заданнымнаправлением завихренности, 5. Под действием поля зонда МСМ осуществлены контролируемые переходы междуферромагнитнои антиферромагнитно — упорядоченными конфигурациямимагнитных моментов в субмикронных двухслойных ферромагнитных частицахэллиптической формы.6. В субмикронных трехслойных ферромагнитных дисках с сильныммагнитостатическим взаимодействием между слоями реализуютсянеколлинеарные распределения намагниченности. Публикации по теме диссертацииВсего по результатам диссертации опубликовано 38 работ, из них 11 статей вреферируемых журналах и 27 публикаций в материалах конференций. Список работавтора приводится в конце диссертации [А1-А38]. Личиый вклад автора в получение результатовРавнозначный в сравнительные исследования шероховатостей подложек методамиАСМ и РР (совместно с В. Л. Мироновым и А.А.Фраерманом) [А1, A3, А4, А12, А13,А15]. — Равнозначный в исследование возможности наномасштабной ренликацииповерхности при помошп топких слоев полимерных материалов (совместно сВ.Л.Мироновым и Д.Г.Волгуновым) [А2, АИ, А16, А17]. — Основной в АСМ исследования шероховатости поверхности высокополировапныхнодложек плоской и асферической формы, предназначенных для изготовлениямногослойных рентгеновских зеркал (совместно с Н.Н.Салащенко) [А23]. — Определяющий в исследование индуцированного магнитным полем МСМ зондаперемагничивания субмикронных частиц Fe-Cr с однородной намагниченностью (совместно с В.Л.Мироновым) [А7, А11, А18, А21, А24]. — Основной в МСМ исследования возможности управления знаком завихренностиодновихревого состояния в субмикронных частицах Со (совместно сВ.Л.Мироновым) [А5, А7, А19, А20, А24, А25]. — Основной в МСМ исследоваиия состояний намагниченности двухслойных итрехслойиых субмикронных ферромагнитных частиц (совместно сД.С.Никитушкиным, А. А. Фраерманом, В.Л.Мироновым) [А27, А28]. Общий объем диссертации составляет 148 страпиц. В диссертации содержится 73рисупка и 1 таблица.

    Список литературы

    включает 140 наименований. Содержание работы по главам.

    Основные результаты работы могут быть сформулированы следующим образом:

    1. Проведены сравнительные АСМ и РР исследования шероховатостей поверхности подложек с различными типами неровностей. Для поверхностей с существенно негауссовым распределением по высотам наблюдается существенное расхождение в полученных АСМ и РР методами значениях шероховатости Показано, что АСМ дает более адекватную информацию о шероховатостях поверхности. Развита методика расчета угловой зависимости зеркальной компоненты отраженного рентгеновского излучения и эффективной шероховатости непосредственно по АСМ профилям поверхности без использования каких-либо модельных представлений о характере неровностей рельефа. Показано, что угловые зависимости коэффициента отражения и эффективная шероховатость поверхности, рассчитанные непосредственно по АСМ данным, хорошо совпадают с результатами рентгеновских измерений.

    2. Проведены сравнительные АСМ исследования рельефа поверхности подложек различной формы, предназначенных для изготовления элементов изображающей оптики рентгеновского диапазона длин волн. Совместно с НПО «Композит» проведена оптимизация технологии глубокой полировки кварцевых пластин, что позволило получить образцы сверхгладких плоских и асферических подложек с параметром среднеквадратичной шероховатости на уровне 0,2 нм.

    3. Проведены эксперименты по репликации сверхгладких эталонных пластин с помощью тонких слоев полимерных материалов на стеклянных подложках. АСМ исследования показали, что величина шероховатости полимерных реплик совпадает с шероховатостью поверхности реплицируемых эталонных пластин. Рентгеновские зеркала, изготовленные на контрольных эталонных подложках и на комбинированных подложках полимер-стекло, имели идентичные спектральные зависимости коэффициентов отражения.

    4. Проведены исследования индуцированных зондом магнитно-силового микроскопа процессов перемагничивания субмикронных ферромагнитных частиц. Экспериментально показано, что в частицах Fe-Cr (700×280 нм) под действием поля.

    МСМ зонда происходят переходы между однородными состояниями с противоположным направлением намагниченности. Экспериментально показана возможность управляемого перемагничивания отдельных частиц Fe-Cr зондом МСМ.

    В эллиптических частицах Со (600×400×27 нм) экспериментально наблюдались индуцированные зондом МСМ переходы между состояниями с однородным и вихревым распределениями намагниченности. Микромагнитное моделирование показало, что возможно зарождение магнитного вихря выделенной ориентации при несимметричном сканировании частицы зондом МСМ. Впервые экспериментально осуществлено управление знаком завихренности магнитного вихря в процессе перехода из однородного в вихревое состояние.

    5. Исследованы состояния намагниченности в многослойных субмикронных частицах, представляющих собой систему из нескольких слоев ферромагнетика, разделенных тонкими немагнитными прослойками.

    Экспериментально установлено, что в частицах с латеральными размерами 400×250 нм, состоящих из двух слоев Со толщиной 15 нм, разделенных прослойкой Si толщиной 3 нм, реализуются два устойчивых состояния с ферромагнитной и антиферромагнитной ориентацией магнитных моментов в соседних слоях Со. Проведены эксперименты по перемагничиванию таких частиц зондом МСМ. Показано, что воздействие МСМ зонда на частицы приводит к ориентационным переходам двух типов: переходы из ферромагнитной в антиферромагнитную конфигурацию за счет переориентации намагниченности верхнего слоя и переходы с изменением ориентации магнитного момента в обоих слоях.

    Показано, что в трехслойных субмикронных круглых дисках возможна реализация, как коллинеарных состояний различной симметрии, так и состояний с неколлинеарной намагниченностью соседних слоев. В частицах, представляющих собой круглые диски диаметром 300 нм, содержащие три слоя Со с толщиной слоев 16−11−8 нм, разделенных прослойками Si толщиной 5 нм, впервые экспериментально зарегистрировано спиральное распределение МСМ контраста, соответствующее неколлинеарной конфигурации магнитных моментов.

    В заключении автор выражает искреннюю благодарность своим научным руководителям Салащенко Николаю Николаевичу и Миронову Виктору Леонидовичу за чуткое руководство и постоянную помощь на всех этапах работы над диссертациейсотрудникам ИФМ РАН, совместная работа с которыми сделали возможным появление настоящей диссертацииособую благодарность автор выражает А. Ю. Климову, А. А. Фраерману и С. Н. Вдовичеву за помощь и постоянный интерес к работеС. А. Гусеву, В. В. Рогову, Н. И. Полушкину, Д. С. Никитушкину, Д. Г. Волгунову за помощь в работе и ценные советы при обсуждении результатовлаборатории математического моделирования — И. А. Шерешевскому, И. М. Нефедову, И. Р. КаретниковойН. А. Коротковой, Н. И. Чхало, О. Г. Удалову, С. Ю. Зуеву, Ю. Н. Ноздрину за помощь в работеС.В.Гапонову за постоянную поддержку работы.

    Заключение

    .

    Показать весь текст

    Список литературы

    1. , G. 7 х 7 Reconstruction on Si(lll) Resolved in Real Space / G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, E. Weibel // Physical Review Letters. 1983. — V.50. — P.120−125.
    2. Tortonese, M. Atomic resolution with an atomic force microscope using piezoresistive detection / M. Tortonese, R. C. Barrett, C. F. Quate // Applied Physics Letters. 1993. -V.62. -P.834−836.
    3. Giessibl, F. Atomic resolution on Si (l 1 l)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork / F. Giessibl // Applied Physics Letters. -2000. V.76. -P.1470−1473.
    4. Seo, Yongho. Atomic-resolution noncontact atomic force microscopy in air / Yongho Seo, Hwansung Choe, Wondo Jhe // Applied Physics Letters. 2003. — V.83. — P. 18 601 863.
    5. Goss, Charles A. Imaging and modification of Au (lll) monoatomic steps with atomic force microscopy / Charles A. Goss, Jay C. Brumfield, Eugene A. Irene, Royce W. Murray // Langmuir. 1993. — V.9. — P.2986−2994.
    6. Griffith, Joseph E. Dimensional metrology with scanning probe microscopes / Joseph E. Griffith, David A. Grigg // Journal of Applied Physics. 1993. — V.74. — P. R83-R109.
    7. , П. А. Параметры шероховатости по данным измерений атомно-силового микроскопа / П. А. Арутюнов, А. Л. Толстихина, В. Н. Демидов // Микроэлектроника. 1998. -Т.27. -Вып.6. -С.431−439.
    8. , П. А. Сканирующая зондовая микроскопия (туннельная и силовая) в задачах метрологии и наноэлектроники / П. А. Арутюнов, A. JI. Толстихина // Микроэлектроника. 1997. — Т.26. — Вып.6. — С.426−439.
    9. Markiewicz, Peter. Simulation of atomic force microscope tip-sample/sample-tip reconstruction / Peter Markiewicz, M. Cynthia Goh // Journal of Vacuum Science and Technology B. 1995. — V.13. -P.l 115−1117.
    10. , A.A. ССМ-метрология микро- и наноструктур / А. А. Бухараев, H. В. Бердунов, Д. В. Овчинников, К. М. Салихов // Микроэлектроника. 1997. — Т.26. -Вып.З. — С.163−175.
    11. Aue, J. Influence of atomic force microscope tip-sample interaction no the study of scaling behavior / J. Aue, J. Th. M. De Hosson // Applied Physics Letters. 1997. — V.71. -P.1347−1349.
    12. Dongmo, Samuel. Blind restoration method of scanning tunneling and atomic force microscopy images / Samuel Dongmo, Michel Troyon, Philippe Vautrot, Etienne Delain, Noel Bonnet // Journal of Vacuum Science and Technology B. 1996. — V.14. — P.1552−1556.
    13. Williams, P. M. Blind reconstruction of scanning probe image data / P. M. Williams, К. M. Shakesheff, M. C. Davies, D. E. Jackson, C. J. Roberts // Journal of Vacuum Science and Technology B. 1996. — V.14. — P. 1557−1562.
    14. Villarubia, J. S. Morphological estimation of tip geometry for scanned probe microscopy / J. S. Villarubia// Surface Science. 1994. — V.321. -P.287−300.
    15. Villarubia, J. S. Scanned probe microscope tip characterization without calibrated tip characterizers / J. S. Villarubia // Journal of Vacuum Science and Technology B. 1996. -V.14. -P.1518−1521.
    16. Markiewicz, Peter. Atomic force microscope tip deconvolution using calibration arrays / Peter Markiewicz, M. Cynthia Goh // Review of Scientific Instruments. 1995. — V.66. -P.3186−3190.
    17. Radlein, Edda. Atomic force microscopy as a tool to correlate nanostructure to properties of glasses / Edda Radlein, Gunther Heinz Frischat // Journal of non-crystalline solids. 1997. — V.222. — P.69−82.
    18. , В. В. Измерение пространственного распределения шероховатости сверхгладких поверхностей и дефектов многослойных рентгеновских зеркал / В. В. Протопопов, К. А. Валиев, Р. М. Имамов // Поверхность. 1999. — Т. 1. — С. 111−119.
    19. De Boer, D. К. G. Influence of the roughness profile on the specular reflectivity of x-rays and neutrons /D. K. G. de Boer//Physical Review B. 1994. — V.49. -P.5817−5820.
    20. Sinha, S. K. X-ray and neutron scattering from rough surfaces / S. K. Sinha, E. B. Sirota, S. Garoff, H. B. Stanley // Physical Review B. 1988. — V.38. — P.2297−2311.
    21. De Boer, D. K. G. X-ray reflection and transmission by rough surfaces / D. K. G. de Boer // Physical Review B. 1995. — V.51. — P.5297−5305.
    22. Protopopov, V. V. Comparative study of rough substrates for x-ray mirrors by the methods of x-ray reflectivity and scanning probe microscopy / V. V. Protopopov, K. A. Valiev, and R.M. Imamov // Crystallography Reports. 1997. — V.42. — P.686−694
    23. , R. Н. Magnetic nanoparticles condens. matter / R. H. Kodama // Journal of magnetism and magnetic materials. — 1999. — V.200. — P.359−372.
    24. Martin, J. I. Ordered magnetic nanostructures: Fabrication and properties / J. I. Martn, J. Nogues, K. Liu, J. L. Vicent, I. K. Schuller // Journal of magnetism and magnetic materials. 2003. — V.256. — P.449−501.
    25. Sun, Shouheng. Monodisperse FePt nanoparticles and ferromagnetic FePt nanocrystal superlattices / Shouheng Sun, С. B. Murray, Dieter Weller, Liesl Folks, Andreas Moser // Science. 2000. — V.287. — P. 1989−1992.
    26. Zutic, I. Spintronics: fundamentals and applications /1. Zutic, J. Fabian, S. Das Sarma //Review of Modern Physics. -2004. V.76. -P.323−410.
    27. Prejbeanu, I. L. In-plane reversal mechanisms in circular Co dots /1. L. Prejbeanu, M. Natali, L. D. Buda, U. Ebels, A. Lebib, Y. Chen, K. Ounadjela // Journal of Applied Physics. 2002. — V.91. — P.7343−7345.
    28. Farhoud, M. The effect of aspect ratio on the magnetic anisotropy of particle arrays / M. Farhoud, Henry I. Smith, M. Hwang, C. A. Ross // Journal of Applied Physics. 2000. -V.87. — P.5120−5122.
    29. Cowburn, R. P. Single-Domain Circular Nanomagnets / R. P. Cowburn, D. K. Koltsov, A. O. Adeyeye, M. E. Welland, D. M. Tricker // Physical Review Letters. 1999. — V.83. -P.1042−1045.
    30. Ovchinnikov, D. V. The computer analysis of MFM images of separate ferromagnetic nanoparticles / D. V. Ovchinnikov, A. A. Bukharaev // AIP Conference Proceedings. -2003.-V.696, — P.634−641.
    31. Pulwey, R. Transition of magnetocrystalline anisotropy and domain structure in epitaxial Fe (001) nanomagnets / R. Pulwey, M. Zolfl, G. Bayreuther, D. Weiss // Journal of Applied Physics. 2003. — V.93. — P.7432−7434.
    32. Fidler, J. Micromagnetic simulation of the magnetic switching behavior of mesoscopic and nanoscopic structures / J. Fidler, T. Schrefl, V. D. Tsiantos, W. Scholz, D. Suess // Computational material science. 2002. — V.24. — P.163−174.
    33. Kin Ha, Jonathan. Micromagnetic study of magnetic configurations in submicron permalloy disks / Jonathan Kin Ha, Riccardo Hertel, J. Kirschner // Physical Review B. -2003. V.67. P. 224 432−1 — 224 432−9.
    34. Natali, M. Correlated Magnetic Vortex Chains in Mesoscopic Cobalt Dot Arrays / M. Natali, I. L. Prejbeanu, A. Lebib, L. D. Buda, K. Ounadjela, Y. Chen // Physical Review Letters. 2002.-V.88.-P. 157 203−1 — 157 203−4.
    35. Raabe, J. Magnetization pattern of ferromagnetic nanodisks / J. Raabe, R. Pulwey, R. Sattler, T. Schweinbock, J. Zweck, D. Weiss // Journal of Applied Physics. 2000. V.88. -P.4437−4439.
    36. Okuno, T. MFM study of magnetic vortex cores in circular permalloy dots: behavior in external field / T. Okuno, K. Shigeto, Т. Ono, K. Mibu, T. Shinjo // Journal of magnetism and magnetic materials. 2002. — V.240. — P. 1−6.
    37. Shima, H. Pinning of magnetic vortices in microfabricated permalloy dot arrays / H. Shima, V. Novosad, Y. Otani, K. Fukamichi, N. Kikuchi, 0. Kitakamai, Y. Shimada // Journal of Applied Physics. 2002. — V.92. — P. 1473−1476.
    38. Pokhil, Taras. Spin vortex states and hysteretic properties of submicron size NiFe elements / Taras Pokhil, Dian Song, Janusz Nowak // Journal of Applied Physics. 2000. -V.87. — P.6319−6321.
    39. Schneider, M. Lorentz microscopy of circular ferromagnetic permalloy nanodisks / M. Schneider, H. Hoffmann, J. Zweck // Applied Physics Letters. 2000. — V.77. — P.2909−2911.
    40. Alexeev, A. Remanent state studies of elliptical magnetic particles / A. Alexeev, V.A. Bykov, A.F. Popkov, N.I. Polushkin, V.I. Korneev / Journal of magnetism and magnetic materials. 2003. — V.258−259. — P.42−44.
    41. Zhu, Xiaobin. Magnetic force microscopy study of electron-beam-patterned soft permalloy particles: Technique and magnetization behavior / Xiaobin Zhu, P. Griitter, V. Metlushko, B. Ilic // Physical Review B. 2002. V.66. — P. 24 423−1 — 24 423−7.
    42. , A. M. Наблюдение остаточных состояний малых магнитных частиц: микромагнитное моделирование и эксперимент / А. М. Алексеев, В. А. Быков, А. Ф. Попков, Н. И. Полушкин, В. И. Корнеев // Письма в ЖЭТФ. 2003. — Т.75, — Вып.6. -С.318−322.
    43. Fernandez, A. Magnetic domain structure and magnetization reversal in submicron-scale Co dots / A. Fernandez, M.R. Gibbons, M.A. Wall, C.J. Cerjan // Journal of magnetism and magnetic materials. 1998. — V.190. — P.71−80.
    44. Fernandez, A. Nucleation and annihilation of magnetic vortices in submicron-scale Co dots / A. Fernandez, C. J. Cerjan // Journal of Applied Physics. 2000. — V.87. — P. 13 951 401.
    45. Lebib, A. Size and thickness dependencies of magnetization reversal in Co dot arrays / A. Lebib, S. P. Li, M. Natali, Y. Chen // Journal of Applied Physics. 2001. — V.89. -P.3892−3896.
    46. Okuno, Т. Two types of magnetic vortex cores in elliptical permalloy dots / T. Okuno, K. Mibu, T. Shinjo // Journal of Applied Physics. 2004. — V.95. — P.3612−3617.
    47. Hehn, Michel. Nanoscale Magnetic Domains in Mesoscopic Magnets / Michel Hehn, Kamel Ounadjela, Jean-Pierre Bucher, Franchise Rousseaux, Dominique Decanini, Bernard Bartenlian, Claude Chappert// Science. 1996. — V.272. — P.1782−1785.
    48. Koo, H. Slow magnetization dynamics of small permalloy islands / H. Koo, Т. V. Luu, R. D. Gomez, V. V. Metlushko // Journal of Applied Physics. 2000. — V.87. — P.5114−5116.
    49. Garcia, J. M. MFM imaging of patterned permalloy elements under an external applied field / J.M. Garcia, A. Thiaville, J. Miltat, K.J. Kirk, J.N. Chapman // Journal of magnetism and magnetic materials. -2002. -V.242−245. P. 1267−1269.
    50. Ovchinnikov, D. V. In situ MFM investigation of magnetization reversal in Co patterned microstructures / D. V. Ovchinnikov, A. A. Bukharaev, P. A Borodin, D. A. Biziaev // Physics of Low-Dimensional Structures. -2001. V.¾. — P. 103−106.
    51. Temiryazev, A. G. Domains in micron-sized permalloy elements / A. G. Temiryazev, V. I. Borisov, A. I. Krikunov, M. P. Tikhomirova // SPM-2003 Proceedings (Nizhni Novgorod, March 2−5). 2003. — P. 158.
    52. Koblischka, M. R. Resolving magnetic nanostructures in the 10-nm range using MFM at ambient conditions / M. R. Koblischka, U. Hartmann, T. Sulzbach // Materials Science and Engineering: C. 2003. — V.23. — P.747−751.
    53. Koblischka, M. R. Improvements of the lateral resolution of the MFM technique / M. R. Koblischka, U. Hartmann, T. Sulzbach // Thin Solid Films. 2003. — V.428. — P.93−97.
    54. Temiryazev, A. G. MFM study of soft magnetic samples / A. G. Temiryazev // SPM-2003 Proceedings (Nizhni Novgorod, March 2−5). 2003. — P.161.
    55. Tomlinson, S. L. Modeling the perturbative effect of MFM tips on soft magnetic thin films / S. L. Tomlinson, E.W. Hill // Journal of magnetism and magnetic materials. 1996. — V.161. -P.385−396.
    56. Zhu, Xiaobin. Systematic study of magnetic tip induced magnetization reversal of e-beam patterned permalloy particles / Xiaobin Zhu, P. Grutter, V. Metlushko, B. Ilic // Journal of Applied Physics. -2002. -V.91. P.7340−7342.
    57. Kleiber, M. Magnetization switching of submicrometer Co dots induced by a magnetic force microscope tip / M. Kleiber, F. Kiimmerlen, M. Lohndorf, A. Wadas, D. Weiss, R. Wiesendanger // Physical Review B. 1998. — V.58. — P.5563−5567.
    58. Schneider, M. Magnetic switching of single vortex permalloy elements / M. Schneider, H. Hoffmann, J. Zweck // Applied Physics Letters. 2001. — V.79. — P.3113−3115.
    59. Daughton, J. M. GMR applications / J. M. Daughton // Journal of magnetism and magnetic materials. 1999. — V.192. -P.334−342.
    60. Tezuka, N. Magnetization reversal and domain structure of antiferromagnetically coupled submicron elements / N. Tezuka, N. Koike, K. Inomata, S. Sugimoto // Journal of Applied Physics.- 2003. -V.93. P.7441−7443.
    61. Girgis, E. Characterization of the magnetization vortex state in magnetic tunnel junctions patterned into nanometer-scale arrays / E. Girgis, S. P. Pogossian, M. Gbordzoe // Journal of Applied Physics.- 2006. -V.99. P.14 307−1 — 14 307−5.
    62. Buchanan, K. S. Magnetic remanent states and magnetization reversal in patterned trilayer nanodots / K. S. Buchanan, K. Yu. Guslienko, A. Doran, A. Scholl, S. D. Bader, V. Novosad // Physical Review B. 2005. — V.72. — P. 134 415−1 — 134 415−8.
    63. Cheng, J. Y. Magnetic nanostructures from block copolymer lithography: Hysteresis, thermal stability, and magnetoresistance / J. Y. Cheng, W. Jung, C. A. Ross // Physical Review B. 2004. — V.72 — P.64 417−1 — 64 417−9.
    64. Russek, S. E. Switching characteristics of spin valve devices designed for MRAM applications / S. E. Russek, J.O. Oti, Y.K. Kim // Journal of magnetism and magnetic materials. 1999. — V. 198−199. -P.6−8.
    65. Castano, F. J. Switching field trends in pseudo spin valve nanoelement arrays / F. J. Castano, Y. Hao, C. A. Ross, B. Vogeli, Heniy I. Smith, S. Haratani // Journal of Applied Physics. 2002. — V.91. — P.7317−7319.
    66. Castano, F. J. Magnetization reversal in sub-100 nm pseudo-spin-valve element arrays / F. J. Castano, Y. Hao, C. A. Ross, B. Vogeli, Henry I. Smith, S. Haratani // Applied Physics Letters. 2001. — V.79. — P. 1504−1506.
    67. Nozaki, Y. Sub-micron scale relief structures of GMR materials fabricated by half-milling control / Y. Nozaki, T. Misumi, K. Matsuyama // Journal of magnetism and magnetic materials. 2002. — V.239. — P.237−239.
    68. Matsuyama, K. Magnetoresistive measurement of switching behavior in nano-structured magnetic dos arrays / K. Matsuyama, Y. Nozaki, T. Misumi // Journal of magnetism and magnetic materials. 2002. — V.240. — P. l 1−13.
    69. Wahlstrom, Erik Scanning tunneling microscopy for laterally resolved measurements of magnetoresistance through a point contact / Erik Wahlstrom, Rimantas Bruas, Maj Hanson//Applied Physics Letters. -2006. V.88. — P. 112 509−1 — 112 509−3.
    70. Zhu, Xiaobin. Magnetization switching in 70-nm-wide pseudo-spin-valve nanoelements / Xiaobin Zhu, P. Griitter, Y. Hao, F. J. Castano, S. Haratani, C. A. Ross, B. Vogeli, H. I. Smith // Journal of Applied Physics. 2003. — V.93. — P. l 132−1136.
    71. Tatara, Gen. Permanent current from noncommutative spin algebra / Gen Tatara, Hiroshi Kohno // Physical Review В. 2003. — V.67 — P. 113 316−1 — 113 316−3.
    72. Binnig, G. Tunneling through a controllable vacuum gap / G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, E. Weibel // Applied Physics Letters. 1982. — V.40. — P.178 — 180.
    73. Pohl, D. W. Optical near-field scanning microscope / D. W. Pohl // European patent application No. 112 401. 1982.
    74. Pohl, D. W. Optical stethoscopy: Image recording with resolution X/20 / D. W. Pohl, W. Denk, M. Lanz // Applied Physics Letters. 1984. — V.44. — P.651 — 653.
    75. Matey, J. R. Scanning capacitance microscopy / J. R. Matey, J. Blanc // Journal of Applied Physics. 1985. — V.57. — P.1437−1444.
    76. Williams, С. C. Scanning thermal profiler / С. C. Williams, H. K. Wickramasinghe // Applied Physics Letters. 1986. — V.49. — P.1587 — 1589.
    77. Binnig, G. Atomic Force Microscope / G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber // Physical Review Letters. 1986. — V.56. — P.930−933.
    78. Wickramasinghe, H. K. Magnetic imaging by «force microscopy» with 1000 A resolution / Y. Martin, H. K. Wickramasinghe // Applied Physics Letters. 1987. — V.50. -P.1455- 1457.
    79. Kaiser, W. J. Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic-electron-emission microscopy / W. J. Kaiser, L. D. Bell // Physical Review Letters. 1988. -V.60. -P.1406−1409.
    80. Takata, Keiji. Tunneling acoustic microscope / Keiji Takata, Tsuyoshi Hasegawa, Sumio Hosaka, Shigeyuki Flosoki, Tsutomu Komoda // Applied Physics Letters. 1989. -V.55.-P.1718- 1720.
    81. San Paulo, Alvaro. Tip-surface forces, amplitude, and energy dissipation in amplitude-modulation (tapping mode) force microscopy / Alvaro San Paulo, Ricardo Garcia // Physical Review B. 2001. — V.64. — P. 193 411−1 — 193 411−3.
    82. Magonov, S. N. Phase imaging and stiffness in tapping-mode atomic force microscopy / S. N. Magonov, V. Elings, M.-H. Whangbo // Surface Science. 1997. -V.375. — P. L385 -L391.
    83. Cleveland, J. P. Energy dissipation in tappingmode atomic force microscopy / J. P. Cleveland, B. Anczykowski, A. E. Schmid, V. B. Elings // Applied Physics Letters. 1998. -V.72.-P.2613 -2615.
    84. , И. В. Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров / И. В. Яминский // Москва, Научный мир. 1997.
    85. Rugar, D. Magnetic force microscopy: General principles and application to longitudinal recording media / D. Rugar, H. J. Mamin, P. Guethner, S. E. Lambert, J. E. Stern, I. McFadyen, T. Yogi // Journal of Applied Physics. 1990. — V.68. — P.1169−1183.
    86. Martin, Y. Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100-A scale / Y. Martin, С. C. Williams, H. K. Wickramasinghe // Journal of Applied Physics. -1987.-V.61.- P.4723−4729.
    87. Nonnenmacher, M. Kelvin probe force microscopy / M. Nonnenmacher, M. P. O’Boyle, H. K. Wickramasinghe // Applied Physics Letters. 1991. — V.58. — P.2921 -2923.
    88. Wolter, O. Micromachined silicon sensors for scanning force microscopy / O. Wolter, Th. Bayer, J. Greschner // Journal of Vacuum Science and Technology B. 1991. — V.9. -P.1353−1357.
    89. Albrecht, T. R. Microfabrication of cantilever styli for the atomic force microscope / T. R. Albrecht, S. Akamine, Т. E. Carver, C. F. Quate // Journal of Vacuum Science and Technology A. 1990. — V.8. — P.3386−3396.
    90. , Ю. С. Силы Ван-дер-Ваальса / Ю. С. Бараш // Москва, Наука. 1988.
    91. Koblischka, М. R. Recent advances in magnetic force microscopy / M. R. Koblischka, U. Hartmann // Ultramicroscopy. 2003. — V.97. — P. 103−112.
    92. Deng, Zhifeng. Metal-coated carbon nanotube tips for magnetic force microscopy / Zhifeng Deng, Erhan Yenilmez, Josh Leu, J. E. floffman, Eric W. J. Straver, Hongjie Dai, Kathryn A. Moler // Applied Physics Letters. 2004. — V.85. — P.6263 — 6265.
    93. Hirose, R. Tip production technique to form ferromagnetic nanodots / R. Hirose, M. Arita, K. Hamada, A. Okada // Materials Science and Engineering: C. 2003. — V.23. -P.927−930.
    94. Wu, Yihong. Point-dipole response from a magnetic force microscopy tip with a synthetic antiferromagnetic coating / Yihong Wu, Yatao Shen, Zhiyong Liu, Kebin Li, Jinjun Qiu // Applied Physics Letters. 2003. — V.82. — P. 1748 — 1750.
    95. Polushkin, N. I. Characterization of patterned nanomagnet arrays by scanning probe microscopy / N.I.Polushkin, B.A.Gribkov, V.L.Mironov // Book of abstracts international conference «Micro- and nano electronics 2003», Zvenigorod. — 2003. — P. Ol-21.
    96. A. Shereshevskii, L. V. Sukhodoev // Physical Review B. 2002. — V.65. — P.64 424−1 -64 424−5.
    97. Gusev, S. A. C60 Fulleride as a resist for nanolithograthy / S. A. Gusev, E. B. Kluenkov, L. A. Mazo et. al. // Abstract of IWFAC-97 (St. Peterburg). 1997. — P.296.
    98. , А. К. Магнитооптика тонких пленок / А. К. Звездин, В. А. Котов // Москва, Наука. 1988.
    99. Boerner, Е. D. Dynamics of thermally activated reversal in nonuniformly magnetized single particles / E.D.Boerner, H.N.Bertran // IEEE Transactions on Magnetic. 1997. -V.33.-P, 3052−3054.
    100. Kebe, Th. Calibration of magnetic force microscopy tips by using nanoscale current-carrying parallel wires / Th. Kebe, A. Carl // Journal of Applied Physics. 2004. — V.95. -P.775−792.
    101. , С. В. Рассеяние мягкого рентгеновского излучения и холодных нейтронов на многослойных структурах с шероховатыми границами / С. В. Гапонов, В. М. Генкин, Н. Н. Салащенко, А.А. Фраерман//ЖТФ. 1986. — Т.56. — С.708−714.
    102. , M. Основы оптики / M. Борн, Э. Вольф // Москва, Наука. 1970.
    103. , М. Т. Replication techniques for diffractive optical elements / M. T. Gale // Microelectronic Engineering. 1997. — V.34. — P.321−339.
    104. Krauss, Peter R. Nano-compact disks with 400 Gbit/in2 storage density fabricated using nanoimprint lithography and read with proximal probe / Peter R. Krauss, Stephen Y. Chou//Applied Physics Letters. 1997. — V.71. -P.3174 — 3176.
    105. Schifta, H. Nanoreplication in polymers using hot embossing and injection molding / H. Schifta, C. Davida, M. Gabrielb, J. Gobrechta, L. J. Heydermana, W. Kaiserc, S. Koppeld, L. Scandellaa // Microelectronic Engineering. 2000. — V.53. — P.171−174.
    106. , С. Н. Торцевые джозефсоновские переходы с прослойкой из нитрида кремния / С. Н. Вдовичев, А. Ю. Климов, Ю. Н. Ноздрин, В. В. Рогов // Письма в ЖТФ. 2004. — Т.ЗО. — С.42−56.
    107. , А. В. Максимальный сверхток джозефсоновского перехода в поле магнитных частиц / А. В. Самохвалов // Письма в ЖЭТФ. 2003. — Т.78.- Вып.6. -С.822−826.
    108. Stolz, R. LTS SQUID sensor with a new configuration / R. Stolz, L. Fritzsch, H.-G. Meyer // Superconductor science and technology 1999. — V.12. — P.806−808.
    109. Chopra, Harsh Deep. Nature of coupling and origin of coercivity in giant magnetoresistance NiO-Co-Cu-based spin valves / Harsh Deep Chopra, David X. Yang, P. J. Chen, D. C. Parks, W. F. Egelhoff, Jr // Physical Review B. 2000. — V.61. — P.9642−9652.
    110. Barness, D. Zero field resistance dip in magnetic tunnel junctions employing a granular electrode / D. Barness, A. Frydman // Physical Review B. 2005. — V.72. -P.12 313−1 -12 413−4.
    111. A. Gusev, A. Yu. Klimov, Yu. N. Nozdrin, V. V. Rogov. S. N. Vdovichev // Physical Review В.-2005. V. 72.-P. 1−6.
    112. А 12. Gaponov, S. V. Comparative investigations of surface roughness by X-ray reflection and probe microscopy / S. V. Gaponov, B. A. Gribkov, V. L. Mironov, N. N. Salaschenko,
    113. A. A. Fraerman // Proceedings of International Conference «Interaction of radiation with solids» (Minsk, October 3−5). 2001. — P.335−337.
    114. A13. Бирюков, А. В. ACM и PPM исследования шероховатостей поверхности стеклянных подложек с негауссовым распределением по высотам / А. В. Бирюков, С.
    115. B. Гапонов, Б. А. Грибков, М. В. Зорина, В. JI. Миронов, Н. Н. Салащенко // Труды Всероссийского совещания «Рентгеновская оптика 2002» (Н.Новгород, 18−21 марта). — 2002.-С.241 -244.
    116. , А. В. Самохвалов, В. В. Рогов, А. А. Фраерман // Материалы X международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» (Н.Новгород, 13−17 марта).-2006.-С. 142.
    Заполнить форму текущей работой

    Сессия? Спокойно!