Литература. 
Дифракционный структурный анализ

Глава 1.

• 1. Рентген В.К. О новом роде лучей. М.-Л.: ГТТИ, 1933.
• 2. Бронштейн М. Лучи Икс. М.-Л.: ЦК ВЛКСМ Изд-во детской литературы, 1937.
• 3. Иоффе А.Ф. О физике и физиках. Л.: Наука, 1985.
• 4. Кудрявцев П.С. История физики. Т. 2. М.: ГУПИ, 1956.
• 5. Гернек Ф. Пионеры атомного века. М.: Прогресс, 1974.

в. Жданов Г. С. 75-летие открытия дифракции рентгеновских лучей. //УФН. 1987. Т. 153. Вып. 4. С. 619.

• 1. Илюшин А. С. Кафедра физики твердого тела Московского университета (Очерк истории). М.: физический факультет МГУ, 2002.
• 8. Вульф Ю.В. О рентгенограммах кристаллов. // в книге Вульф Ю. В. Избранные работы по кристаллофизике и кристаллографии. М.-Л.: ГИТТЛ, 1952. С. 133.
• 9. Шпольский Э.В. Преломление рентгеновых лучей. // УФН. 1925. Т. Вып. 11. С. 149.
• 10. Томас В.К. Три письма русских физиков В. К. Рентгену. // УФН. 1966. Т. 90. Вып. 3. С. 541.

Глава 2.

• 1. Блохин М.А. Физика рентгеновских лучей. М.: ГИТТЛ, 1953.
• 2. Горяга Г. И. Конспект лекций по атомной физике. Часть 2. М.: Изд-во Моек, ун-та, 1977.
• 3. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М.Л. Практический курс рентгеноструктурного анализа. М.: Изд-во Моек, ун-та, 1951.

• 4. Шполъский Э.В. Введение в атомную физику. М., Л.: ГИТТЛ, 1949.
• 5. Тамм И.Е. Основы теории электричества. М.: ГИТТЛ, 1957.
• 6. Шполъский Э.В. Преломление рентгеновых лучей. // УФН. 1925. Т. Вып. 11. С. 149.
• 7. Берестецкий В.Б., Лившиц Е. М., Питаевский Е.П. Квантовая электродинамика. М.:Наука, 1981.
• 8. Вейсскопф В. Ширина спектральных линий в газах. // УФН. 1933. Т. 13. Вып. 4. С. 552.
• 9. Уманский Я.С. Рентгенография металлов и

полупроводников. М.: Металлургия, 1969.

10. Гинье А. Рентгенография кристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961.

Глава 3.

• 1. Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В. Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.
• 2. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 3. Сиротин Ю.И., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. М.: Наука, 1979.
• 4. Бокий Г. М., Порай-Кошиц М.А. Рентгеноструктурный анализ. Т.1. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1964.
• 5. Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высш. школа, 1989.
• 6. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 7. Физическая энциклопедия. Т.2. Под. ред. А. М. Прохорова. М.: Советская энциклопедия, 1988.

• 8. Васильев Д.М. Кристаллография. СПб.:Изд-во СПбГУ, 1996.
• 9. Бухгольц Н.Н. Основной курс теоретической механики. Т.
• 1. М.: Физматгиз, 1967.
• 10. Шубников А.В. Симметрия и антисимметрия конечных фигур. М.: Изд-во АН СССР, 1951.
• 11 .Зоркий П.М. Симметрия молекул и кристаллических структур. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1986.
• 12. Илюшин А.С., Овчинникова Е.Н. Теоретико-групповые методы в дифракционных исследованиях структуры и свойств твердых тел. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1996.
• 13. Хамермеш М. Теория групп и ее применение к физическим проблемам. М.: Мир, 1966.
• 14. Любарский Г. Я. Теория групп и ее применение в физике. М.:ГИТТЛ, 1957.

Глава 4.

• 1 .Ландсберг Г. С. Оптика. М.: Наука, 1976.
• 2. Ахманов С.А., Никитин С.Ю. Физическая оптика. М.: Издво Моек. Ун-та, 1998.
• 3. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Оптика. М.: Наука, 1985.
• 4. Физическая энциклопедия. Т.1. Под. ред. А. М. Прохорова. М.: Советская энциклопедия, 1988.
• 5. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М.А. Рентгеноструктурный анализ. Т. 1. М.: Изд-во Моек, ун-та, 1964.
• 6. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 1. Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.
• 8. Гинье А. Рентгенография кристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961.

• 9. Чжан Ш. Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. М.: Мир, 1987.
• 10. Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. Вторичные процессы в рентгеновской оптике. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1990.

Глава 5.

I. Жданов Г. С. Проблемы физики и химии твердого тела. // в сб. «Физика и химия твердого тела». М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1979.

2 .Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В.

Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

3. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.

А. Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.

• 5. Иверонова В.И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1978.
• 6. Будак Б.М., Фомин С.В. Кратные интегралы и ряды. М.: Наука, 1965.
• 7. Фихтенголъц Г. М. Курс дифференциального и интегрального исчисления. Т. 1. М.: Наука, 1969.
• 8. Титчмарш Е. Введение в теорию интегралов Фурье. М., Л.: ОГИЗ, 1948.
• 9. Бюргер М. Структура кристаллов и векторное пространство. М.: ИЛ, 1961.
• 10. Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высш. школа, 1989.

II. Порай-Кошиц М.А. Практический курс рентгеноструктурного анализа. Т. 2. М.: Изд-во Моек. Ун-та,.

• 12. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 13. Фетисов Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. М.: Физматлит, 2007.
• 14. Мильбурн Г. Рентгеновская кристаллография. М.: Мир, 1975.
• 15. Горелик Г. С. Колебания и волны. Л.: Гостехиздат, 1950.
• 16. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Квантовая механика. М.: Наука, 1989.
• 17. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961.
• 18. Гудмен Дж. Введение в Фурье-оптику. М.: Мир, 1970.
• 19. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970.
• 20. Жданов Г. С., Поспелов В.А. ЖЭТФ. 1945. Т. 15. С. 709.

Глава 6.

1 .Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В.

Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

• 2. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Квантовая механика. М.: Наука, 1989.
• 3. Нозик Ю.З., Озеров Р. П., Хеннинг К. Структурная нейтронография. М.: Атомиздат, 1979.
• 4. Вайнштейн Б.К. Структурная электронография. М.: Изд-во АН СССР, 1956.
• 5. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

6. Современная кристаллография. Т. 2. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

• 7. International tables for X-Ray crystallography. Vol. 4. 1974.
• 8. Doyle P.A., Turner P.S. Relativistic Hartree-Fock X-ray and electron scattering factors. // Acta crystallogr. 1968. A24. N. 3. P. 390.
• 9. Блохин M.A. Физика рентгеновских лучей. M.: ГИТТЛ, 1953.
• 10. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 11. Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.
• 12. Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ. М.: Гостехиздат, 1950.
• 13. Колпаков А.В., Бушуев В. А., Кузьмин Р.Н.

Диэлектрическая проницаемость в рентгеновском диапазоне частот. // УФН. 1978. Т. 126, Вып. 3. С. 479.

• 14. Харрисон У. Теория твердого тела. М.: Мир, 1972.
• 15. Слэтер Дж. Методы самосогласованного поля для молекул и твердых тел. М.: Мир, 1978.
• 16. Ястребов Л.И., Кацнелъсон А.А. Основы одноэлектронной теории твердого тела. М.: Наука, 1981.
• 17. Hirschfelder O.J., Curtiss C.F., Bird R.B. Molecular theory of gases and liquids.

New York: Wiley and Sons, 1954.

• 18 .Даценко Л. И., Кладько В. П., Мачулин В. Ф., Молодкин В.Б. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами в области аномальной дисперсии. Киев: Академпериодика, 2002.
• 19. Пинскер З.Г. Диффракция электронов. М.: Изд-во АН СССР, 1949.
• 20. Давыдов А.С. Квантовая механика. М.: ГИФМЛ, 1963.
• 21. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теория поля. М.: Наука, 1988.

• 22. Власов Н.А. Нейтроны. М.: Наука, 1971.
• 23. Гуревич И.И., Тарасов Л.В. Физика нейтронов низких энергий. М.: Наука, 1965.
• 24. Бэкон Дж. Дифракция нейтронов. М.: ИЛ, 1957.
• 25. Изюмов Ю.А., Озеров Р.П. Магнитная нейтронография. М.: Наука, 1966.
• 26. Изюмов Ю.А., Найш В. Е., Озеров Р.П. Нейтронография магнетиков. М.: Атомиздат, 1981.
• 27. Изюмов Ю.А., Черноплеков Н.А. Нейтронная спектроскопия. М.: Атомиздат, 1983.
• 28. ЮзД. Нейтронные эффективные сечения. М.: ИЛ, 1959.

Глава 7.

• 1. Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.
• 2. Современная кристаллография. Т. 2. Под. ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 3 .Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В.

Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

• 4. Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. Вторичные процессы в рентгеновской оптике. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1990.
• 5. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 6. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 7. Алешина Л.А., Шиврин О.Н. Рентгенография кристаллов. Петрозаводск: Изд-во Петрозводского Гос. Ун-та, 2004.
• 8. Колпаков А.В. Динамическая дифракция рентгеновских лучей. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1989.

• 9. Иверонова В.И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1978.
• 10. Кривоглаз М.А. Теория рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов реальными кристаллами. М.: Наука, 1967.
• 11. Вустер У. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей в кристаллах. М.: ИЛ, 1963.
• 12. Китель Ч. Введение в физику твердого тела. М.: Наука, 1978.
• 13. Борн М, Кунь X. Динамическая теория кристаллических решеток. М.: ИЛ, 1958.
• 14. Рейссленд Дж. Физика фононов. М.: Мир, 1975.

Глава 8.

• 1. Ломов А.А. Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур. Дисс. док. физ.-мат. наук. М.: ИК РАН, 2006.
• 2. Боуэн ДК, Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография. СПб.: Наука, 2002.
• 3. Прямые методы исследования дефектов в кристаллах. Под ред. А. М. Елистратова. М.: Мир, 1965.
• 4 .Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 5. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М.А. Рентгеноструктурный анализ. Т. 1. М.: Изд-во Моек, ун-та, 1964.
• 6. Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высш. школа, 1989.
• 7. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

• 8. Асланов Л.А. Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа. М.:Изд-во Моек. Ун-та, 1983.
• 9. Гинье А. Рентгенография кристаллов. М: ГИФМЛ, 1961.
• 10. Бургер М. Рентгеновская кристаллография. М.: ИЛ, 1948.
• 11. Азаров Л., Бургер М. Метод порошка в рентгенографии. М.: ИЛ, 1961.
• 12. Хейкер Д.М. Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. Л.: Машиностроение, 1973.
• 13. Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С. В. Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.
• 14. Блохин М.А., Швейцер И.Г. Рентгеноспектральный справочник. М.: Наука, 1982.
• 15. Уманский М.М. Аппаратура рентгеноструктурных исследований. М.: ГИФМЛ, 1960.
• 16. Caciuffo R., Melone S., Rustichelli F. Monochromators for Xray Synchrotron radiation. // Physics Reports (Review Section of Physics Letters). 1987. V.152. P. 1−71.

П.Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961.

• 18. Ren Z, Bourgeois D., Helliwell J.R., Moffat К., Srajer V. and Stoddard B.L. Laue crystallography: coming of age. // J. Synchrotron Rad. 1999. V. 6. P. 891−917.
• 19. Фетисов Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. М.: Физматлит, 2007.
• 20. Ravelli R.B.G., Hezemans A.M.F., Krabbendam Н., Kroon J. Towards automatic indexing of Laue diffraction pattern. // J. Appl. Cryst. 1996. V. 29. P. 270−278.
• 21 .Ren Z., Moffat K. Quantitative analysis of synchrotron Laue diffraction pattern in macromolecular crystallography. // J. Appl.

Cryst. 1995. V. 28. P.461−481.

• 22. Brunzelle J.S., Shafaee P., Yang X, Weigand S., Ren Z. and Anderson W. Automated crystallographic system for highthroughput protein structure determination. // Acta. Cryst. D. 2003. V. 59. P. 1138−1144.
• 23. Липсон Г., Стипл Г. Интерпретация порошковых рентгенограмм. M.: Мир, 1972.
• 24. У майский Я.С. Рентгенография металлов и полупроводников. М.: Металлургия, 1969.
• 25. Хейкер Д.М., Зевин Л.С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: ГИФМЛ, 1963.
• 26. Compton А.Н., Allison S.K. X-ray in theory and experiment. New York: D. Van Nostrand, 1935.
• 21. Джеймс P. Оптические принципы диффракции

рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.

• 28. Лисойван В.И. Измерения параметров элементарной ячейки на однокристальном спектрометре. Новосибирск: Наука. 1982.
• 29. Renninger М. Messungen zur Rontgenstrahl. Optik des IdealKristells. // Acta Crystall. 1955. V. 8. P. 597−606.
• 30. Ломов A.A., Шитов H.B.,. Бушуев В.А. Исследование совершенства структуры монокристаллов CsdS0₄, CsHS0₄ и CsH₂P0₄ высокоразрешающими рентгенодифракционными методами. // Кристаллография. 1992. Т. 37. Вып. 2. С. 444- 450.
• 31 .Данильчук Л. Н., Окунев А. О., Ткаль В.А. Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристаллах на основе эффекта Бормана. В. Новгород: Изд-во НовГУ, 2006.

Глава 9.

• 1. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теория поля. М.: Наука, 1988.
• 2. Тернов И.М., Михайлин В. В., Халилов В.Р. Синхротронное излучение и его применения. М.: Изд-во Моек, ун-та, 1980.
• 3. Тернов И.М. Синхротронное излучение. // УФН. 1995. Т. 165. Вып. 4. С. 429.
• 4. Овчинникова Е.Н., Андреева М.А. Синхротронные исследования в физике твердого тела. М.: физический факультет МГУ, 2007.
• 5. Фетисов Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. М.: Физматлит, 2007.
• 6. Saldin E.L., Schneidmiller Е.А., Yurkov М. V. The physics of free electron lasers. Berlin: Springer-Verlag, 2000.
• 7. Coppens P., Cox D., Vlieg ?., Robinson I.K. Synchrotron radiation crystallography. London: Academic Press, 1992.
• 8. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1992.
• 9. Колпаков А.В., Бушуев В. А., Кузьмин Р.Н. Диэлектрическая проницаемость в рентгеновском диаРпазоне частот. // УФН. 1978. Т. 126, Вып. 3. С. 479.
• 10. Blume М. Magnetic effects in anomalous dispertion. // Resonant anomalous X-ray scattering. (Eds. Materlik G., Spark C.J., Fisher K.), Amsterdam: Elsevier Science, 1994. P. 495.
• 11. Feil D. The physical origin of anomalous scattering. // Cryst. Rev. 2002. V. 8. P. 95.
• 12. Beaurepaire E., Bulou II, Scheurer F., Kappler J.-P. Magnetism: A synchrotron radiation approach. Berlin: SpringerVerlag, 2006.
• 13. Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. M.: Наука, 1982.

• 14. Caticha-Ellis S. Anomalous dispersion of X-rays in crystallography. The contribution of resonance or dispersion effects to the atomic scattering factors. IUCr Teaching Pamphlet. V. 8. Ed. Taylor C.A. Cardiff: University College Cardiff Press, 1998. (http://www.iucr.org/iucrtop/comm/cteach/pamphlets/8/index.html)
• 15. Ландау Л.Д., Лифшиц E.M. Квантовая механика. M.: Наука, 1989.
• 16. Hodeau J.-L., Favre-Nicolin V., Bos S., Renevier H., Lorenzo E., BerarJ.-F. Resonant Diffraction. //Chem. Rev. 2001. V. 101. P. 1843.
• 17. Дмитриенко B.E., Овчинникова E.H. Резонансная дифракция рентгеновского излучения в кристаллах: новый метод исследования структуры и свойств материалов. // Кристаллография. 2003. Т. 48. № 6. С. S1-S19.
• 18. Dmitrienko V.E., Ishida К., Kirfel A., Ovchinnikova E.N. Polarization anisotropy of X-ray atomic factors and «forbidden» resonant reflections. // Acta. Cryst. A. 2005. V. 61. P. 481.
• 19. International Tables for Crystallography. V. A. / Ed. Hahn T. Dordreht: Kluwer, 1996.
• 20. Беляков В.А., Дмитриенко B.E. Поляризационные явления в рентгеновской оптике. // УФН. 1989. Т. 158. Вып. 4. С. 679- 721.
• 21. Дмитриенко В.Е. Поляризационная рентгеновсая оптика: новые возможности для структурных исследований. //Структурные исследования кристаллов. М.: Физматлит, 1996. С. 84.
• 22. Kirfel A., Grybos J., Dmitrienko V.E. Phonon-Electron interaction and Vibration Correlation in Germanium within a Broad Temperature Interval. // Phys. Rev. B. 2002. V. 66. P. 165 202.

• 23. Collins S.P., Laundy D., Dmitrienko V.E., Mannix D" Thompson P. Temperature-dependent forbidden resonant x-ray scattering in zinc oxide. // Phys. Rev. B. 2003. V. 68. P. 64 110- 1.
• 24. Rehr J.J., Albers R.C. Theoretical approaches to X-ray absorption fine structure. // Rev. Mod. Phys. 2000. V. 72. N. 3. P. 621.
• 25. Берестецкий В.Б., Лифшиц E.M., Питаевский Л.П. Квантовая электродинамика. М.: Наука, 1980.
• 26. Овчинников С.Г. Использование синхротронного излучения для исследования магнитных материалов. // УФН. 1999. Т. 169. Вып.4. С. 869.
• 27. Орешко А.П., Овчинникова Е. Н., Дмитриенко В. Е., Колчинская А. М., Кабаре Д., Коллинз С. П., Лонди Д. Моделирование температурных эффектов в спектрах «запрещенных» рентгеновских отражений при резонансной дифракции в ZnO. // Изв. РАН. серия физическая. 2005. Т.60. С. 250.
• 28. Колчинская А.М. Резонансная дифракция рентгеновского излучения в монокристаллах железо-иттриевого граната и оксида цинка. Дисс. канд. физ.-мат. наук. М.: МГУ, 2008.
• 29. Joly У. X-ray absorption near-edge structure calculations beyond the muffin-tin approximation. // Phys. Rev. B. 2001. V. 63. P. 125 120.
• 30. Андреева M.A., Бушуева В. А., Овчинникова E.H., Орешко А. П., Прудников И. Р., Смехова А.Г. Численные эксперименты в задачах рентгеновской оптики. М.: физический факультет МГУ, 2005.
• 31. Смехова А.Г. Развитие метода резонансного рентгеновского отражения вблизи ?₂, з краев поглощения для исследования магнитных мультислоев. Дисс. канд. физ.-мат.

наук. М.: МГУ, 2006.

• 32. Goulon J., Rogalev A., Wilhelm F., Goulon-Ginet C., Carra P., Marri I., Brouder Ch. X-ray optical activity: applications of sum rules. // Journal of Experimental and Theoretical Physics, 2003. V. 97. N. 2. P. 402.
• 33. Gell-Mann M, Goldberger M.L. Scattering of Low-Energy Photons by Particles of Spin Vi. И Phys. Rev. 1954. V. 96. P. 1433.
• 34. Lee P.A., Citrin P.H., Eisenberger P., Kincaid B.M. Extended X-ray absorption fine structure — its strengths and limitations as a structural tool. // Rev. Mod. Phys. 1981. V. 53. N. 4. P. 769.
• 35. Боровский И.Б., Ведринский P.B., Крайзман В. Л., Саченко В.U. ?Х^ГЗ-спсктроскопия — новый метод структурных исследований. //УФН. 1986. Т. 149. Вып. 2. С. 275.
• 36. Ведринский Р.В., Гегузин И.И. Рентгеновские спектры поглощения твердых тел. М.: Энергоатомиздат, 1991.
• 37. Зубавичус Я.В., Словохотов Ю.Л. Рентгеновское синхротронное излучение в физико-химических исследованиях. // Успехи химии. 2001. Т. 70. Вып. 5. С. 429.
• 38. Козпенков А.И. Теория тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1961. Т. 25. № 8. С. 957.

Глава 10.

• 1. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 2 .Горелик С. С., Скоков Ю. А., Расторгуев Л.Н.

Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: МИСИС, 2002.

• 3. Бокий Г. М., Порай-Кошиц М.А. Рентгеноструктурный анализ. Т.1. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1964.
• 4. Фетисов Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. М.: Физматлит, 2007.
• 5. Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М: Наука, 1982.
• 6. Боуэн Д-К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография. СПб.: Наука, 2002.
• 7. Shvyd’ko Y. X-ray optics. High-energy-resolution applications. Berlin: Springer-Verlag, 2004.
• 8. Уманский ММ Аппаратура рентгеноструктурных исследований. M.: ГИФМЛ, 1960.
• 9. Асланов Л.А. Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа. М.:Изд-во Моек. Ун-та, 1983.
• 10. Уманский Я.С. Рентгенография металлов и полупроводников. М.: Металлургия, 1969.
• 11. Мишетт А. Оптика мягкого рентгеновского излучения. М.: Мир, 1989.
• 12. Андреева М.А., Борисова С. Ф., Степанов С.А.

Исследование поверхности методом полного отражения излучения рентгеновского диапазона. // Поверхность. 1985. № 4. С. 5.

• 13. Бушуев В.А., Орешко А.П. Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции. М.: физический факультет МГУ, 2002.
• 14. Борн М, Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука. 1970.
• 15. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука. 1992.
• 16. Колпаков А.В., Бушуев В. А., Кузьмин Р.Н.

Диэлектрическая проницаемость в рентгеновском диапазоне частот. //УФН. 1978. Т. 126. № 3. С. 479.

17. Андреева М.А., Кузьмин Р.Н. Мессбауэровская и рентгеновская оптика поверхности. М.: Изд.

Общенациональной академии знаний, 1996.

• 18. Бушуев В.А., Сутырин А.Г. К вопросу о корректном учете межслойных шероховатостей в рекуррентных формулах Парратта. // Поверхность. 2000. № 1. С. 82.
• 19 .Аркадьев В. А., Коломийцев А. И., Кумахов М. А., Пономарев И. Ю., Ходеев И. А., Чертов Ю. П., Шахпаронов И.М. Широкополосная рентгеновская оптика с большой угловой апертурой. // УФН. 1989. Т. 157. № 3. С. 529.
• 20. Рощупкина О.Д. Волновая теория возбуждения

рентгеновских волноводов на основе планарных многослойных наноструктур. Дипломная работа. М.: физический факультет МГУ, 2007.

21. Бушуев В.А., Рощупкина О.Д. Тонкопленочный рентгеновский волновод на основе многослойной структуры с нанорезонатором. Изв. РАН. Серия физическая. 2008. Т. 72. № 2. С. 209.

• 22. Аристов В.В., Ерко А.И. Рентгеновская оптика. М.: Наука, 1991.
• 23. Аристов В.В., Шабельников Л.Г. Современные достижения рентгеновской оптики преломления. // УФН. 2008. Т. 178. № 1.С.61.
• 24. Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В.

Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

• 25. Хейкер ДМ Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. Л.: Машиностроение, 1973.
• 26. Хейкер Д.М., Зевин Л.С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: ГИФМЛ, 1963.
• 27. Финкель В.А. Высокотемпературная рентгенография металлов. М.: Металлургия, 1968.
• 28. Финкель В.А. Низкотемпературная рентгенография металлов. М.: Металлургия, 1971.
• 29. Бредли К. Применение техники высоких давлений при исследованиях твердого тела. М.: Мир, 1972.

Глава 11.

1. Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С.В.

Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

• 2. Иверонова В.И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1978.
• 3. Азаров Л., Бургер М. Метод порошка в рентгенографии. М.: ИЛ, 1961.
• 4. Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. М.: ГИТТЛ, 1940.
• 5. Горелик С.С., Скоков Ю. А., Расторгуев Л.Н.

Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: МИСИС, 2002.

• 6. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961.
• 7. Михеев В.И. Рентгенометрический определитель

минералов. М.: Госгеолитиздат, 1957.

8. Михеев В.И., Сальдау Э.П. Рентгенометрический определитель минералов. Т. 2. Л.: Недра, 1960.

9. Горелик С.С., Расторгуев Л. А., Скоков ЮЛ.

Рентгенографический и электронографический анализ. М.: Металлургия, 1970.

10. Ковба Л.М., Трунов В.К. Рентгенофазовый анализ. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1976.

• 11. Тейлор А. Рентгеновская металлография. М.: Металлургия, 1965.
• 12. Овчинников С.Г. Использование синхротронного излучения для исследования магнитных материалов. // УФН. 1999. Т. 169. Вып.4. С. 869.
• 13. Современная кристаллография. Том. 1. Под редакцией Б. К. Вайнштейна. М.: Наука, 1979.
• 14. Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние. М.: Наука, 1986.
• 15. Чернышев В.В. Определение кристаллических структур методами порошковой дифракции. // Изв. АН. Серия химическая. 2001. № 12. С. 2171−2190.
• 16. Young R.A., Wiles D.B. Profile shape functions in Rietveld refinements. // J. Appl. Crystallogr. 1982. V. 15. P. 430−438.
• 17. Rietveld H.M. Line profiles for neutron powder-diffraction peaks for structure refinement. // Acta Crystallogr. 1967. V. 22. P. 151−152.
• 18. Rietveld H.M. A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Hi. Appl. Crystallogr. 1969. V. 2. P. 65−71.
• 19. The Rietveld Method. Ed. R.A. Young, International Union of Crystallography, Oxford University Press. 1993.
• 20. Жданов Г. С. Физика твердого тела. М.: Изд-во Моек. Унта, 1962.
• 21. Riekel С. New avenues in X-ray microbeam experiments. // Rep. Prog. Phys. 2000. V. 63. P.233−262.
• 22. ГиньеА. Рентгенография кристаллов. M.: ГИФМЛ, 1961.
• 23. Андреева М.А., Борисова С. Ф., Степанов С.А. Исследование поверхности методом полного отражения излучения рентгеновского диапазона. // Поверхность. 1985. № 4. С. 5−26.
• 24. Parratt L.G. Surface studies of solids by total reflection of Xrays. // Phys. Rev. 1954. V. 95. № 2. P. 359−369.
• 25. Бушуев B.A., Сутырин AT. К вопросу о корректном учете межслойных шероховатостей в рекуррентных формулах Парратта. // Поверхность. 2000. № 1. С. 82−85.
• 26. Смехова А.Г. Развитие метода резонансного рентгеновского отражения вблизи ?_2>з краев поглощения для исследования магнитных мультислоев. Дисс. канд. физ.-мат. наук. М: МГУ, 2006.
• 27. Ломов А.А. Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур. Дисс. док. физ.-мат. наук. М.: ИК РАН, 2006.
• 28. Молекулярно-лучевая эпитаксия. / Под ред. Ченга Л., Плюга Л. М.: Мир. 1989.
• 29. Леденцов Н. Н., Устинов В. М., Щукин В. А., Копъев П. С., Алферов Ж. И., Бимберг Д. Гетероструктуры с квантовыми точками: получение, свойства, лазеры. Обзор. // ФТП. 1998. Т. 32. Вып. 4. С. 385.
• 30. Segmuller A., Murakami М. Caracterization of thin films by X-ray diffraction in thin films from free atoms and particles. Klabunde K. J., Ed. Academic Press, New-York. 1985. P. 325.
• 31. Бушуев В.А., Кузьмин P.H. Вторичные процессы в рентгеновской оптике. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1990.
• 32. Tapfer L., Ploog К. Improved assessment of structural properties of Al_xGa,._x As/GaAs heterostructures and superlattices by double-crystal x-ray diffraction. // Phys. Rev. B. 1986. V.33. N8. P. 5565.
• 33. Goudeau P., Nandon A., Bomchil G., Herino R. X-ray smallangle scattering analysis of porous silicon layers. // J.Appl.Phys. 1989. V. 66. N2. P. 625.
• 34. Lomov A.A., Bellet D., Dolino G. X-ray diffraction study of thin porous silicon layers. // Phys.stat.sol.(b). 1995. V.190. P. 219.
• 35. Бушуев B.A., Ломов А. А., Сутырин А.Г. Восстановление профиля распределения плотности приповерхностного слоя в методе рентгеновской рефлектометрии. // Кристаллография. 2002. Т. 47. №.4. Стр. 741.
• 36 Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. М.: ИЛ, 1950.
• 37. Бушуев В.А., Орешко А.П. Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции. М.: физический факультет МГУ, 2002.
• 38. Афанасьев А.М., Александров П. А., Имамов Р.М. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев. М.: Наука, 1989.
• 39. Afanas 'ev А.М., Aleksandrov Р.А., Imamov R.M., Lomov A.A., Zavyalova A.A. Three-crystal diffractometry in grazing BraggLaue geometry. // Acta Cryst. 1985. V. A41. P. 227.
• 40. Robinson I.K. Crystal truncation rods and surface roughness. // Phys. Rev. B. 1986. V. 33. N 6. P. 3830.
• 41. Барышевский В.Г. Аномалия в зеркальном отражении рентгеновских лучей и у-квантов от кристаллов. // Письма в ЖТФ. 1976. Т. 2. № 3. С. 112.
• 42. Афанасьев А.М., Имамов Р.М. Эффекты динамической дифракции в методе стоячих рентгеновских волн. // Кристаллография. 1995. Т. 40. № 3. С. 446.
• 43. Орешко А.П. Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции. Дисс. канд. физ.-мат. наук. М.: МГУ, 2003.
• 44. Соменков В.А., Ткалич А. К., Шильштейн С.Ш. Рефракционный контраст в рентгеновской интроскопии. // ЖТФ. 1991. Т. 61. Вып. 11. С. 197.

• 45. Ingal V.N., Beliaevskaya E.A. X-ray plane-wave topography observation of the phase contrast from a non-crystalline object. // J. Phys. D. 1995. V. 28. N 10. P. 2314.
• 46. Davis T.J., Gureyev T.E., Gao D., Stevenson A.W., Wilkins

S. W. X-Ray Image Contrast from a Simple Phase Object. // Phys. Rev. Lett. 1995. V. 74. N 16. P. 3173.

• 47. Петраков А.В. Рентгеновский метод фазового контраста и демонстрация применения его для исследования кровеносных сосудов на модельном объекте. // ЖТФ. 2003. Т. 73. Вып. 5. С. 84.
• 48. Бушуев В.А., Ингал В. Н., Беляевская Е.А. Динамическая теория формирования изображения некристаллических объектов в методе фазодисперсионной интроскопии. // Кристаллография. 1996. Т. 41. № 5. С. 808.
• 49. Bushuev V.A., Beliaevskaya Е.А., Ingal V.N. Wave-optical description of X-ray phase contrast images of weakly absorbing non-crystalline objects. // Nuovo Cimento D. 1997. V. 19. N 2−4. P. 513.
• 50. Бушуев В.А., Ингал B.H., Беляевская E.A. Волновая теория рентгеновской фазоконтрастной интроскопии. // Кристаллография. 1998. Т. 43. № 4. С. 586.
• 51. Бушуев В.А., Петраков А.П. Рентгеновский фазовый контраст воздушного шнура, нагретого лазерным пучком. // Кристаллография. 2001. Т. 46. № 2. С. 209.
• 52. Billinge S.J.L., Levin I. The problem with determining atomic structure at the nanoscale. // Science. 2007. V. 316. N 5824, P. 561.
• 53. Суздалев И.П. Нанотехнология: физико-химия

нанокластеров, наноструктур и наноматериалов. М.: КомКнига, 2006.

Глава 12.

1. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

2. Современная кристаллография. Т. 4. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1981.

3. Современная кристаллография. Т. 2. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

• 4. Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высш. школа, 1989.
• 5. Порай-Кошиц М.А. Практический курс

рентгеноструктурного анализа. Т. 2. М.: Изд-во Моек. Ун-та, 1960.

• 6. Бюргер М. Структура кристаллов и векторное пространство. М.: ИЛ, 1961.
• 7. Гельфанд И.М., Вул Е. Б., Гинзбург С. Л., Федоров Ю.Г. Метод оврагов в задачах рентгеноструктурного анализа. М.: Наука, 1966.
• 8. Прямые методы в рентгеновской кристаллографии. Под ред. М. Ледда, Р. Палмера. М.: Мир, 1983.
• 9. Китайгородский А.И. Теория структурного анализа. М.: Изд-во АН СССР, 1957.

Глава 13.

1. Современная кристаллография. Т. 1. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

2. Современная кристаллография. Т. 2. Под. ред. Б.К.

Вайнштейна. М.: Наука, 1979.

3. Вайнштейн Б.К. Структурная электронография. М.: Изд-во АН СССР, 1956.

• 4. Пинскер З.Г. Диффракция электронов. М.: Изд-во АН СССР, 1949.
• 5. Бэкон Дж. Дифракция нейтронов. М.: ИЛ, 1957.
• 6. Изюмов Ю.А., Озеров Р.П. Магнитная нейтронография. М.: Наука, 1966.
• 7. Нозик Ю.З., Озеров Р. П., Хеннинг К. Структурная нейтронография. М.: Атомиздат, 1979.
• 8. Изюмов Ю.А., Найш В. Е., Озеров Р.П. Нейтронография магнетиков. М.: Атомиздат, 1981.
• 9. Изюмов Ю.А., Черноплеков Н.А. Нейтронная спектроскопия. М.: Атомиздат, 1983.
• 10. Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии. М.: Мир, 1966.
• 11. Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения. М.: Наука, 1986.
• 12. Хоке П., Каспер Э. Основы электронной оптики. Т.1. Основы геометрической оптики. М.: Мир, 1993.
• 13. Хоке П., Каспер Э. Основы электронной оптики. Т.2. Прикладная геометрическая оптика. М.: Мир, 1993.

Использованная литература.

• 1. Авдеев М.В., Аксенов В. Л. Малоугловое рассеяние нейтронов в структурных исследованиях магнитных жидкостей // УФН. 2010. Т. 180. С. 1009.
• 2. Алексеев П. А. Нейтронная спектроскопия и сильнокоррелированные электроны: взгляд изнутри // УФН. Т. 187. С. 65.
• 3. Андреева М. А. Рентгено-оптические методы исследования многослойных структур. Рефлектометрия изотропных мультислоев. М.: Физический факультет МГУ, 2016.
• 4. Андреева М.А., Овчинникова Е. Н. Синхротронные исследования в физике твердого тела. Часть 3. Ядерно-резонансные (мёссбауэровские) эксперименты на синхротронах. М.: Физический факультет МГУ, 2010.
• 5. Андреева МА. Ядерно-резонансные исследования на синхротронном излучении (Мессбауэровская спектроскопия на синхротронах). LAMBERT Academie Publishing, 2013.
• 6. Барышева М.М., Пестов А. Е., Салащенко Н. Н., Торопов МЛ., Чхало Н. И. Прецизионная изображающая многослойная оптика для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазонов // УФН. 2012. Т. 182. С. 727.
• 7. Бугаев А. С., Ерошкин ПА., Романько В Л., Шешин Е.П. Маломощные рентгеновские трубки (современное состояние) // УФН. 2013. Т. 183. С. 727.
• 8. Бушуев В.А., Орешко А.П. Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях дифракции в кристаллах с нарушенными приповерхностными слоями. М.: Физический факультет МГУ, 2016.
• 9. Егоров-Тисменко Ю.К. Кристаллография и кристаллохимия. М.: КДУ, 2005.
• 10. Еремин Н.Н., Еремина Г. А. Занимательная кристаллография. М.: МЦНМО, 2013.

И. Илюшин А.С., Ковальчук М. В. Столетие открытия дифракции рентгеновских лучей // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 5. С. 693.

• 12. Илюшин А.С., Прудников И. Р. Современные проблемы физики конденсированного состояния вещества.

  Введение

  в рентгеновскую дифракционную оптику сверхрешеток. М.: Физический факультет МГУ, 2010.

• 13. Ищенко, А А., Асеев С А., Баграташвили В. Н., Панченко В Л., Рябов ЕА. Сверхбыстрая электронная дифракция и электронная микроскопия: современное состояние и перспективы // УФН. 2014. Т. 184. С. 681.
• 14. Кудрявцев Л.Д. Курс математического анализа: в 3 т. Том 2: в 2 книгах: учебник для академического бакалавриата. 6-е изд., перераб. и доп., 2017.
• 15. Лидер В.В. Рентгеновские кристаллические интерферометры // УФН. 2014. Т. 184. С. 1217.
• 16. Лидер В.В. Рентгеновская микроскопия // УФН. 2017. Т. 187. С. 201.
• 17. Малеев С.В. Рассеяние поляризованных нейтронов в магнетиках // УФН. 2002. Т. 172. С. 617.
• 18. Матышев А.А. Атомная физика в 3 ч. Часть 3. Дискретность динамических переменных классической физики: учебное пособие для академического бакалавриата., 2016.
• 19. Овчинникова Е.Н., Андреева МА., Дмитриенко В.Е. Синхротронные исследования в физике твердого тела. Часть 2. Изучение запрещенных отражений — новый метод исследования структуры и свойств кристаллов. М.: Физический факультет МГУ, 2009.
• 20. Овчинникова Е.Н., Мухамеджанов ЭХ. Резонансная дифракция синхротронного излучения: новые возможности // Кристаллография. 2016. Т. 61. № 5. С. 735.

• 21. Овчинникова Е.Н., Орешко А. П., Дмитриенко В.Е. Синхротронные исследования конденсированных сред. Резонансная дифракция синхротронного излучения. М.: Физический факультет МГУ, 2016.
• 22. Овчинникова Е.Н., Рогалев А., Вилхельм Ф. и др. Рентгеновский естественный круговой дихроизм в метаборате меди // ЖЭТФ. 2016. Т. 150. № 1. С. 34.
• 23. Орешко А.П., Дмитриенко В. Е., Овчинникова Е.Н. Интерференционные явления в резонансной дифракции рентгеновского излучения. МО, Щелково: Онто-принт, 2012.
• 24. Орешко А.П. Эффект Бормана в резонансной дифракции рентгеновского излучения // ЖЭТФ. 2013. Т. 144. С. 253.
• 25. Павлинский Г. В. Основы физики рентгеновского излучения. М.: Физматлит, 2007.
• 26. Шасколъская М.П. Кристаллография. М.: Высшая школа,
• 1984.
• 27. Пирожков А. С., Рагозин Е.Н. Апериодические многослойные структуры в оптике мягкого рентгеновского излучения // УФН. 2015. Т. 185. С. 1203.
• 28. Пунегов В.И. Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками // УФН. 2015. Т. 185. С. 449.
• 29. Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах. Сыктывкар: СыктГУ, 2007.
• 30. Розин К.М. Практическая кристаллография. М.: МИСИС, 2005.
• 31. Суворов Э.В., Смирнова И.А. Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии) // УФН. 2015. Т. 185. С. 897.
• 32. Цыбуля С.В., Черепанова С.В. Введение в структурный анализ нанокристаллов. Новосибирск, 2008.

• 33. Advanced X-ray crystallography / eds. Rissanen K. Springer,
• 2012.
• 34. Altarelli M. Resonant X-ray Scattering: A Theoretical Introduction // Magnetism: A Synchrotron Radiation Approach / eds. Beaurepaire E., Bulou H., Scheurer F., Kappler J.-P. Springer, 2006. P. 201.
• 35. Authier A. Early Days of X-ray Crystallography. OUP Oxford, 2013.
• 36. Clegg IT. X-ray crystallography. OUP Oxford, 2015.
• 37. Cremer J.T. Neutron and X-ray optics. Elsevier, 2013.
• 38. Crystal structure analysis: principles and practice / ed. Clegg W. OUP Oxford, 2009.
• 39. Current trends in X-ray crystallography/ed. Chandrasekaran A. InTech, 2011.
• 40. Dorset D.L. Structural electron crystallography. New York: Plenum, 1995.
• 41. Dmitrienko V.E., Ovchinnikova E.N., Collins S.P. et al. Measuring the dzyaloshinskii-moriya interaction in a weak ferromagnet // Nature Physics. 2014. Vol. 10. P. 202.
• 42. Duke P.J. Synchrotron radiation: production and properties. OUP Oxford, 2000.
• 43. Electron Diffraction Techniques/ ed. Cowley J.M. OUP, Oxford, 1993.
• 44. Erko A., Idir V., Krist T., MichetteA. G. Modern Developments in X-Ray and Neutron Optics. Springer, 2008.
• 45. Fifty Years of X-ray Diffraction/ ed. Ewald P. P. Springer,
• 1962.
• 46. Fundamentals of crystallography / ed. Giacovazzo C. OUP Oxford, 2011.
• 47. FurrerA., Mesot/., Strassle T. Neutron scattering in condensed matter physics. World Scientific, 2009.

• 48. Glusker J.P., Trueblood K. N. Crystal structure analysis: a primer. OUP Oxford, 2010.
• 49. International Tables for Crystallography. Vol. A / ed. Hahn T. Springer, 2005.
• 50. International Tables for Crystallography. Vol. B / ed. Shmueli U. Springer, 2001.
• 51. Joly Y., Di Matteo S., BunauO. Resonant X-ray diffraction: Basic theoretical principles // Eur. Phys. J. Spec. Top. 2012. Vol. 208. P. 21.
• 52. Lume M. Magnetic effects in anomalous dispertion // Resonant anomalous X-ray scattering/ eds. Materlik G., Spark C.J., Fisher K. Amsterdam: Elsevier Science, 1994. P. 495.
• 53. Magnetism and synchrotron radiation. New trends / eds. Beaurepaire E., Bulou H., Scheurer F., Kappler J.-P. Springer, 2010.
• 54. Magnetism and Synchrotron Radiation: Towards the Fourth Generation Light Sources / eds. Beaurepaire E., Bulou H., Joly L., Scheurer F. Springer, 2013.
• 55. Paganin D.M. Coherent X-ray optics. OUP Oxford, 2006.
• 56. Richter C., Novikov D.V., Mukhamedzhanov E.Kh. et al. Mechanisms of the paraelectric to ferroelectric phase transition in rbh2po4 probed by purely resonant x-ray diffraction // Phys. Rev. B. 2014. Vol. 89.
• 57. The X-Ray standing wave technique. Principles and applications / eds. Zegenhagen J., Kazimirov A. Word Scientific Publishing, 2013.
• 58. Willis B.T.M., Carlile C.G. Experimental neutron scattering. OUP Oxford, 2009.
• 59. Willmott P. An introduction to synchrotron radiation: techniques and applications. John Wiley and Sons, 2011.
• 60. X-ray and neutron reflectivity: principles and applications/ ed. Gibaud A. Springer, 1999.