Изучение и разработка тестового фрагмента ИМС
Курсовая
Конденсатор C1 имеет номинал 2.5 пФ и выполняется по МОП технологии, удельная емкость составляет Cs=500 пФ/мм2=5∙10−4 пФ/мкм2. Площадь конденсатора составляет. Варианта Разрез элемента Номинал резисторов R1 и R3, Ом Номинал резистора R2, кОм Номинал конденсатора С1, пФ Тип транзисторов в схеме. Быстрое развитие мироэлектроники как одной из самых обширных областей промышленности обусловлено… Читать ещё >
Список литературы
- Маслов А.А., Технология и конструкции полупроводниковых приборов, М.:Энергия, 1970. 296 с.: ил.
- Курносов А.И., Юдин В.В., Технология производства полупроводниковых
- приборов и интегральных микросхем. 5-е изд., перераб. и доп. М.:Наука, — 1986.
- Технология СБИС: в 2-х книгах, пер с англ., под ред. Зи С. — М.: Мир,
- с.: ил.
- Болтакс Б.И. Диффузия и точечные деффекты в полупроводниках. Л.:
- Наука, 1972. 384 с.: ил.
- Готра З. Ю Технология микроэлектронных устройств: Справочник. М.:
- Радио и связь, 1991. 528 с.: ил.
- Булкин А.Р., Якивчик П.Н. Технология производства полупроводниковых
- приборов. М.: Мир, 1986. 320 с.: ил.
- Готра З. Ю Технология микроэлектронных устройств: Справочник. Львов: Каменяр, 1986. 287 с.: ил.
- Малышева И.А. Технология производства интегральных микросхем: Учебникдля техникумов. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Радио и связь, 1991.344 с.: ил.
- Коледов Л.А. Конструирование и технология микросхем. Курсовое
- проектирование: Учеб. пособие для вузов М.: Высш. шк., 1984. 231 с.,
- ил.
- Черняев В. Н. Технология производства интегральных микросхем и
- микропроцессоров: Учебник для вузов. 2-е изд., перераб. и доп. М.:
- Радио и связь, 1987. 464 с.: ил.
- Матсон Э.А. Конструкции и технология микросхем. Мн.: Выш. шк., 1985. 207 с., ил.