Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа

Диссертация: Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Установлена и подробно исследована возможность существенных качественных и количественных отличий динамических изодиффузных линий и профилей интенсивности диффузного рассеяния от соответствующих изолиний и профилей кинематической теории. Эти отличия проявляются в окрестности узлов обратной решетки, превышающей на порядок и более ширину брэгговского пика. Тем самым показана принципиальная… Читать ещё >

Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА I. ДШАШКЕСШ ТЕОРШ ДЙМШЮГО РАССЕЯНШ ИЗЯУЧЕНШ В НЕВДЕАЛЪНЫХ КРИСТАЛЛАХ (ОБЗОР)
    • 1. 1. Общие замечания
    • 1. 2. Тепловое диффузное рассеяние
    • 1. 3. Диффузное рассеяние на статических искажениях. 19 1.4 Метод трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
    • 1. 5. !&-ртины Кикучи
    • 1. 6. Выводы
  • ГЛАВА 2. ОБЩЕТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ВОПРОСЫ ОПВДЕЛЕНШ АМПЛИТУДЫ И ЖТЕНСИШОСТИ ДШАМИЧЕСЮГО ДШУЗНО ГО РАССЕЯНШ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В КРИСТАЛЛАХ С ДЕФЕКТАМИ
    • 2. 1. Основные уравнения и амплитуда рассеяния
    • 2. 2. Одноволновой случай дифракции: диффузный фон в одноволновом направлении
      • 2. 2. 1. Вычисление амплитуды диффузного рассеяния в различных представлениях
      • 2. 2. 2. Эквивалентность метода плоских волн и метода волновых мод
      • 2. 2. 3. Сравнение с кинематической теорией
    • 2. 3. Одноволновой случай дифракции: диффузный фон в двухволновом направлении (линии Кикучи)
    • 2. 3. Л. Вычисление амплитуды диффузного рассеяния. 57 2.3.2. Интенсивность линий и полос Кикучи при рассеянии в неупорядоченных твердых растворах. 64 2. 4. Выводы
    • 131. АВА 3. ИНТЕНСИВНОСТЬ ДШФУШОГО РАССЕЯНШ В ДВУХ ВОЛНОВОМ СЛУЧАЕ ДШРАКЦИИ ПО БРЭГГУ
      • 3. 1. Амплитуда диффузного рассеяния и потенциал кристалла, содержащего дефекты кулоновского типа
      • 3. 2. Поле упругих смещении дефекта кулоновского типа в ограниченном кристалле
      • 3. 3. Интенсивность диЩгзного рассеяния с учетом и без учета «сил зеркального изображения»
      • 3. 4. Профили интенсивности, изодиЗ&фузные линии и их связь с характеристиками дефектов
      • 3. 5. Выводы
  • ГЛАВА 4. ИНТЕНСИВНОСТЬ ДШФУШОГО РАССЕЯНШ В ДВУХ ВОЛНОВОМ СЛУЧАЕ ДШРАКЦИИ ПО ЛАУЭ
    • 4. 1. Вычисление интенсивности диффузного рассеяния
    • 4. 2. Зависимость профилей интенсивности ди|)фузного рассеяния от толщины кристалла и характеристик дефектов
      • 4. 2. 1. Случаи тонкого и толстого кристаллов. Эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей
      • 4. 2. 2. Вклады процессов внутриветвевого и мекветвевого рассеяний в профили интенсивности
    • 4. 3. Изодлффузные линии и их характерные особенности, связанные с динамическими эффектами и характеристиками дефектов. III
      • 4. 3. 1. Изоди|)фузше линии в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу. III
      • 4. 3. 2. ИзодЕффузные линии в плоскости рассеяния
    • 4. 4. Интенсивность ди! Фузного рассеяния в неупорядоченных твердых растворах
    • 4. 5. Выводы

Актуальность темы

Неразрушакяцие методы исследования структуры реальных твердых тел представляют собой важную область физики твердого тела и играют все более весомую роль в современной технике. Особое место среди таких методов занимает рассеяние излучений (рентгеновских лучей, электронов, нейтронов), длина волны которых сравнима с межатомными расстояниями кристаллических структур. Наблюдаемые дифракционные и интерференционные картины в этом случае позволяют получать ценную информацию как о макроскопических характеристиках реальных кристаллов, так и о тонких деталях их атомного строения. При этом наиболее полную информацию о характеристиках дефектов кристаллов несет диффузное рассеяние.

Характер распределения интенсивности диффузного рассеяния, вид изодиффузных поверхностей, т. е. поверхностей равной интенсивности в пространстве обратной решетки, существенно зависит от типа дефектов, их положения в кристаллической решетке, закона упругого взаимодействия дефектов с атомами кристалла. Вследствие этого оказывается возможным проводить анализ типа дефектов и определять их характеристики по данным о диффузном рассеянии излучений. Теоретической базой для интерпретации наблюдаемых картин диффузного рассеяния и установления их связи с характеристиками дефектов служит кинематическая теория дифракции излучений в неидеальных кристаллах.

Кинематический подход справедлив в тех случаях, когда можно пренебречь многократным рассеянием и интерференционным взаимодействием волн, т. е. при исследовании достаточно несовершенных кристаллов, а также монокристаллов, толщина которых намного меньше длины экстинкции. Для исследования же почти совершенных монокристаллов произвольной толщины необходима динамическая теория диффузного рассеяния. Основы такой теории для монокристаллов с макроскопически однородно распределенными дефектами произвольного типа в настоящее время созданы. Получены общие выражения для интенсивностей диффузных волн и установлены в общем виде связи между распределением диффузного фона в условиях динамической дифракции и характеристиками дефектов.

Однако, для практической реализации возможностей динамической теории диффузного рассеяния в интерпретации экспериментальных результатов необходимы детальные аналитические выражения для интенсивности диффузного рассеяния в каждом конкретном случае дефектов. Наиболее важное место среди них в монокристаллических материалах для новой техники занимают дефекты кулоновского типа (точечные дефекты и их группы — включения, зародыши новой фазы, дислокационные петли малого радиуса). Этим и обусловлена актуальность темы данной диссертационной работы.

Целью работы является развитие динамической теории диффузного рассеяния излучений в монокристаллах с дефектами кулоновского типа для случаев дифракции по Брэггу и по Лауэ.

Научная новизна. Разработана динамическая теория диффузного рассеяния излучений в случаях дифракции по Лауэ (на просвет) и по Брэггу (на отражение).

Впервые в рамках динамической теории построены изодиф-фузные линии. Установлена и подробно исследована возможность их качественного и количественного отличия от соответствующих изолиний кинематической теории. Показана необходимость динамического рассмотрения при исследовании монокристаллов.

— 7 В рамках динамической теории проанализирована зависимость характерных особенностей изодиффузных линий, профилей интенсивности и линий Кикучи от параметров динамической дифракции и характеристик дефектов кулоновского типа в монокристаллах.

Практическая ценность. Полученные результаты положены в основу создания новых количественных методов исследования характеристик монокристаллов с дефектами кулоновского типа на базе рентгеновской дифрактометрии.

Основные положения, выносимые на защиту:

1. Разработанная в диссертации динамическая теория диффузного рассеяния излучений монокристаллами с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа и построенные на ее основе изодиффузные линии устанавливают закономерности распределения интенсивности диффузного фона в существенно динамической области обратного пространства.

2. Распределение интенсивности диффузного рассеяния монокристаллами с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа не только в непосредственной окрестности узлов обратной решетки, айв области на порядок и более превышающей ширину брэгговского пика, существенным образом качественно и количественно отличается от распределения, полученного в кинематической теории, и установленные динамические особенности этого распределения содержат дополнительную зависимость от характеристик дефектов.

3. В монокристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа имеет место явление аномального прохождения диффузно рассеянного излучения, механизм возникновения которого более сложный по сравнению с известным эффектом Бормана для брэгговских лучей, а установленная в работе количественная зависимость описывающих его параметров от характеристик дефектов имеет качественно иной вид.

Апробация работы. Материалы диссертации были доложены на:

1. У Семинаре по дифракционным методам исследования искаженных структур (Иркутск, 1981),.

2. У1 Семинаре по дифракционным методам исследования искаженных структур (Ленинград, 1982),.

3. II Всесоюзном совещании по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом (Ереван, 1982),.

4. I Республиканском семинаре по изучению радиационных и технологических дефектов в полупроводниковых кристаллах дифракционными методами (Киев, 1982),.

5. X Бакурианской школе по радиационной физике металлов и сплавов (Бакуриани, 1983).

Основное содержание диссертации опубликовано в следующих работах;

1. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в твердых растворах /Тезисы докладов У Семинара по дифракционным методам исследования искаженных структур. -Иркутск, 1981, с. 42−43.

2. Молодкин В. Б., Олиховский С. И-, Осиновский М. Е. Динамические эффекты при диффузном рассеянии излучений в кристаллах с хаотически распределенными дефектами. — Киев, 1981, -46 с. — (Препринт / АН УССР, Ин-т металлофизики- 13.81).

3. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамические эффекты дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа / Тезисы докладов II Всесоюзного совещания по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом. — М., 1982, с. 35 — 36.

4. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Влияние сил зеркального изображения на когерентные динамические эффекты диффузного рассеяния / Тезисы докладов II Всесоюзного совещания по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом. -М., 1982, с. 37 — 38.

5. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах, содержащих дефекты кулнновского типа. — Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 3 — 15.

6. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (лауэ-дифракция). — Металлофизика, 5, № 5, с. 3 — II.

7. Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. О применении диффузного рассеяния рентгеновских лучей для исследования структурного совершенства монокристаллов. — Металлофизика, 1983, 5, № б, с. 112 — 114.

Структура и объем диссертации

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения и списка цитируемой литературы. Работа изложена на 147 страницах машинописного текста, включающего 22 рисунка и список цитируемой литературы из 118 наименований.

4.5. Выводы.

Получены выражения для амплитуды и интенсивности диффузного рассеяния на кристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа в двухволновсм случае дифракции по Лауэ.

Найденные выражения для интенсивности диффузного рассеяния в о! фестности нулевого и й-го узлов обратной решетки состоят из слагаемых, обусловленных процессами внутрии межветвевого рассеяний, и интенрференционных слагаемых.

Выполнен сравнительный анализ вкладов процессов межветвевого и внутриветвевого рассеяния в профили суммарной интенсивности диффузного рассеяния в упруго изотропном кристалле и показано принципиальное отличие этих вкладов от рассмотренных Такаги в случае теплового диффузного рассеяния.

При точном брэгговском направлении падающего луча вклад процессов межветвевого рассеяния дает два максимума, разделенных провалом в узле обратной решетки. Вклад процессов внутриве^твевого рассеяния дает один максимум в узле обратной решетки.

В случае тонкого кристалла доминирует вклад процессов межветвевого рассеяния и суммарный профиль интенсивности может оказаться двухгорбым. В случае толстого кристалла преобладает вклад процессов внутриветвевого рассеяния и суммарный профиль имеет одинарный максимум в узле обратной решетки.

Показано резкое возрастание с толщиной отношения интенсивности диффузного рассеяния к ее кинематическому пределу в щ широком интервале отклонения диффузно рассеянного луча от точного брэгговского направления в случае лауэ-дифракции. Предсказан и количественно описан эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей в толстых поглощающих кристаллах с дефектами кулоновского типа. Установлена связь параметров эффекта с характеристиками дефектов кристалла.

Построены изодиффузные линии в плоскости рассеяния. Наиболее характерной чертой изодиффузных линий в плоскости рассеяния является то, что они вытянуты вдоль прямых, которые соответствуют выполнению условия Брэгга соответственно для падающего и диффузно рассеянного лучей. Для дасталлов малой и промежуточной толщин изолинии состоят из двух лепестков, между которыми через узел обратной решетки проходит линия пониженной интенсивности. Изолинии етущаются к двум максимумам, расположенным по разные стороны от узла обратной решетки вдоль вектора дифракции. При болших толщинах кристалла изолинии еще сильнее деформируются по сравнению с кинематическими, которые в рассмотренном случае упруго изотропного континуума имеют вид соприкасающихся окружностей, и сгущаются к одному максимуму, находящемуся в узле обратной решетки.

Проведено рассмотрение интенсивности динамического диффузного рассеяния в монокристаллах бинарных твердых растворов. Полученные формулы дозволяют вычислять, по аналогии с кинематической теорией, параметры корреляции и энергии упорядочения твердого раствора методом обратного фурье-преобразования экспериментально измеренной и перенормированной с учетом динамических эффектов интенсивности диффузного рассеяния.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

1. Разработана динамическая теория диффузного рассеяния излучений в монокристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа. Получены аналитические выражения для интенсивности диффузного рассеяния в случаях дифракции по Лауэ и по Брэггу.

2. Впервые в рамках динамической теории построены изолинии интенсивности диффузного рассеяния.

Установлена и подробно исследована возможность существенных качественных и количественных отличий динамических изодиффузных линий и профилей интенсивности диффузного рассеяния от соответствующих изолиний и профилей кинематической теории. Эти отличия проявляются в окрестности узлов обратной решетки, превышающей на порядок и более ширину брэгговского пика. Тем самым показана принципиальная необходимость динамического рассмотрения при исследовании диффузного рассеяния в почти совершенных монокристаллах с дефектами кулоновского типа.

3. Проанализированы изодиффузные линии, построенные как в плоскости рассеяния, так и в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу.

Динамические изодиффузные линии в плоскости рассеяния сильно вытянуты вдоль тех направлений в пространстве обратной решетки, которые соответствуют точному выполнению условия Брэгга для падающего или диффузно рассеянного лучей.

Форма изодиффузных линий в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу, существенно зависит от величины и знака отклонения падающего луча от условия Брэгга и в случае брэгг-дифракции дополнительно характеризуется обусловленной экстинкцией полосой пониженной интенсивности, ширина которой прямо пропорциональна статическому фактору Дебая-Валлера.

4. Дано количественное описание экстинкционного провала в профиле интенсивности диффузного рассеяния, экспериментально обнаруженного ранее Дедерихсом и др. для монокристалла меди с радиационными дефектами.

5. Исследовано влияние." сил зеркального изображения" дефектов кулоновского типа на интенсивность диффузного рассеяния. Показано, что учет сил зеркального изображения в случае брэгг-дифракции на порядок усиливает интенсивность диффузного рассеяния в динамической области, а в случае лауэ-дифракции к заметным изменениям интенсивности не приводит.

6. Для случая лауэ-дифракции выполнен сравнительный анализ вкладов процессов межветвевого и внутриветвевого рассеяния в профили суммарной интенсивности диффузного рассеяния в упруго изотропном кристалле и показано принципиальное отличие этих вкладов от расмотренных Такаги в случае теплового диффузного рассеяния.

При точном брэгговском направлении падающего луча вклад процессов межветвевого рассеяния дает два максимума, рахделенных провалом в узле обратной решетки. Вклад процессов внутриветвевого рассеяния дает один максимум в узле обратной решетки.

В случае тонкого кристалла доминирует вклад процессов межветвевого рассеяния и суммарный профиль интенсивности может оказаться двухгорбым. В случае толстого кристалла преобладает вклад процессов внутриветвевого рассеяния и суммарный профиль имеет одинарный максимум в узле обратной решетки.

7. Показано резкое возрастание с толщиной отношения интенсивности диффузного рассеяния к ее кинематическоу пределу в широком интервале отклонения диффузно рассеянного луча от точного брэгговского направления в случае лауэ-дифрак-ции. Предсказан и количественно описан эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей в толстых поглощающих кристаллах с дефектами кулоновского типа. Установлена связь параметров эффекта с характеристиками дефектов кристалла.

8. Исследована толщинная зависимость кикучи-линий, образующихся на упругом диффузном фоне.

Проведено сравнение кикучи-линий, формирующихся процессами упругого и неупругого диффузного рассеяния. Показана возможность обращения контраста реально наблюдаемых кикучи-линий по мере приближения к узлу обратной решетки при постоянной толщине кристалла из-за преобладания вклада упругого рассеяния на статических искажениях, создаваемых дефектами кулоновского типа, над вкладом неупругого рассеяния.

9. Проведено рассмотрение интенсивности динамического диффузного рассеяния в монокристаллах бинарных твердых растворов. Полученные формулы позволяют вычислить, по аналогии с кинематической теорией, параметры корреляции и энергии упорядочения твердого раствора методом обратного фурье-преобразования экспериментально измеренной и перенормированной с учетом динамических эффектов интенсивности диффузного рассеяния.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Джеймс Р., Оптические принципы. дифракции рентгеновских лу-. чей. -М.: Изд-во иностр. лит., 1950.572 с.
  2. ГиньеА. Рентгенография кристаллов. М.: Физматгиз, I96X.-. 604 с.
  3. М.А. Теория рассеяния рентгеновских.лучей и тепловых нейтронов реальными кристаллами. М.: Наука, 1967. 336, с.
  4. Иверонова В.И.,.Ревкевич Г. П. Теория рассевяния рентгенов, ских лучей. М.: Изд-во МГУ, 1978. — 277 с.
  5. Дж. Физика дифракции. М.: Мир, 1979. — 431 с.
  6. М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Киев: Наук, думка, 1983.408 с.
  7. З.Г. Дифракция электронов. М.-Л.: Изд-во АН СССР, 1949. — 404 с.
  8. Электронная микроскопия тонких-кристаллов / П. Хирш, А. Хо-ви, Р. Николсон и др. М.: Мир, 1968. — 576 с.
  9. Bethe Н. Theorie der Beugung von Elektronen an Kristallen.-Ann. cL. Phys.) 1928, 82, N I, S.55−129.
  10. Zachariasen W.H. Theory of X-ray diffraction in crystals.-New lorki Wiley, 1945. 255 p.
  11. Laue M. Rontgenstrahlinterferenzen. Leipzig: Akad. Verl., 1948. — 410 S.
  12. Sears V.P. Dynamical theory of neutron diffraction. -Can. J. Phys., I97O, ?6, N 10, p.1261−1277.
  13. X-ray diffraction / L.V.Azaroff, R. Kaplow, N. Kato, R.J.Weiss, A.J.C.Wilson, R.A.Young. New York: Mc Graw-Hill, 1974* - 652 p.
  14. Dynamische Interferenztheorie. Grundlagen und Anwendungen bei Rontgenstrahlung, Elektronen und Neutronen / Samml. von Beitr., herausg. von O. Brummer, H.Stephanik. Leipzig- Akad. Verl.,-1976.-.- 376 S.. .
  15. Пинскер 3.Г.Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982. 392 с... .19. йрямфе методы исследования, дефектов в. кристаллах,/.Сб. статей под ред. А. М. Елистратова. М.: Мир, 1965. 352 с. .
  16. В.Л., Чуховский Ф. Н. Проблемы-изображения в рентгеновской оптике. УФН, 1972, 107, вып.2, с.229'265″". ,. .. Г 7 «Г,.¦.:... .
  17. В.Л., Каганер В. М. Дифракционная нейтронная оптика. Металлофизика, 1979, I, № I, с.17−332.
  18. В.Л., Чамров В. А. Однолучевая электронная микроскопия. Кристаллография, 1980, 25, № 3, с.465−472.
  19. В.М. Формирование изображений в лучевой и дифракционной оптике рентгеновских блоховских волн: Автореф. дис.. канд. физ.-мат. наук. М, 1984. — 16 с.
  20. Ohtsuki Y.H. temperature dependence of X-ray absorption by crystals. II. Direct phonon absorption. J. Phys. Soc. Japan, 1965, 20, N 3, p.374−380.
  21. Hall C.R., Hirsch P.B. Effect of thermal diffuse scattering on propagation of high energy electrons through crystals. Proc. Hoy. Soc., 1965, 286. Ж 1405, p. I58-I77.
  22. Ohtsuki Y.H. Effects of lattice vibration on dynamical diffraction of electrons and X-rays. J. Phys. Soc. Japan, 1966, ?1, N II, p.2300−2306.
  23. Ф.Н. К динамической дифракции быстрых электронов в идеальном колеблющемся кристалле. Кристаллография, 1968, 13, вып.6, с.960−968.
  24. В.Б., Тихонова Е. А. Влияние диффузного рассеяния на эффект Бормана. ФММ, 1967, 24, вып. З, с. 385 -394.
  25. В.Б., Тихонова Е. А. Влияние упорядочения на эффект Бормана. ФММ, 1968, вып.6, с.987−995.
  26. Dederichs P.H. Dynamical scattering theory for crystals with point defects* Phys. status solidi, 1967,1. N I, p.377−386.
  27. Dederichs P.H. Effect of defect clustering on anomalous X-ray transmission. Phys. Hev. B, 1970, I, S 4,1. P. I3O6-I3I7.
  28. Dederichs P.H. Dynamical diffraction theory by optical potential methods. Solid State Phys., 1972, Д2"p.135−236.4.1. Batterman B.W. Дп effect dynamical diffraction in fluorescent X-ray scattering. -Appl.Phys.Lett., 1962,1,p.68−69.
  29. Batterman B.W. Effect of dynamical diffraction in X-ray fluorescence scattering. -Phys. Eev. A, 1964, 155. N 3, p.759−764.
  30. Annaka S, Kikuta S., Kohra K. Intensity anomaly of X-ray Compton and thermal scattering accompanying the Bragg reflections from perfect Si and Ge crystals. -J. Phys. Soc. Japan, I966, 21, U 8, р. ВД9−1564.
  31. Annaka S. Intensity anomaly of fluorescent X-ray emission accompanying the Laue case reflection from a perfect crystal. J. Phys. Soc. Japan, 1967, 22, N 2, p.372−577.
  32. Miyake S., Hayakawa K., Miida R. Variation of emission yield of X-rays from crystals with diffraction conditions of exiting electrons. Acta Crystallogr. A, 1968, 24,1. I, p.182−191.
  33. Annaka S. Direction dependence of the intensity anomaly of the X-ray thermal scattering accompanying the Bragg case reflection. J. Phys. Soc. Japan, 1968, N 6, p.1332−1337.
  34. Batterman B.W. Detection of foreign atoms by their X-ray fluorescence scattering. Phys. Rev. Lett., 1969» 2g,
  35. J.А., Вatterman B.W., Brown W.L. Observation of internal X-ray wave fields daring Bragg diffraction with an application to impurity lattice location.
  36. Phys. Rev. B, 1974, 10, p.4259−4245.
  37. Kikuta S.K., Takahashi T., Tuzi I. Variation of the Yield of electron emission from a silicon single crystal with the diffraction condition of exiting X-rays. Phys. Lett. A, 1975, 50, p.455−454.
  38. Шгисадо P. Use of dynamical diffraction effects on. X-ray to determine the polarity of GaP single crystals. Phys. Kev. B, 1976, 12, p.2524−2551.
  39. A.M., Кон В.Г. Внешний фотоэффект при дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем. ЖЭТФ, 1978, 74, вып.1, с.300−313.
  40. Исследование тонких кристаллических слоев полупроводниковых материалов / А. М. Афанасьев, Б. Г. Захаров, P.M.Имамов и др. Электрон, пром-сть, 1980, вып. П/12, с. 4755.
  41. Kohn V.G., Kovalch.uk M.V. On the theory of external photo effect accompanying X-ray diffraction in an ideal crystal with disturbed surface layer. Phys. status solid! A, 1981, 64, N I, p.359−366.
  42. Takagi S. On the temperature diffuse scattering of electrons. I. Derivation of general formulae. J. Phys. Soc. Japan, 1958, il, N 2, p.278−286.
  43. Eakagi S. On the temperature diffuse scattering of electrons. II. Applications to practical problems. J. Phys. Soc. Japan, 1958, I^, И 3, p.287−296.
  44. E.A. Основные уравнения динамической теории рассеяния рентгеновских лучей для несовершенных кристаллов. ФТТ, 1967, 9, вып.2, с.516−525.
  45. O’Connor D.A. The dynamical theory of the interaction of X-rays and neutrons with phonons. Proc. Phys. Soc., 1967, SL* N 574-, p.917−927.
  46. Основные уравнения динамической теории рассеяния в кристаллах с дислокациями / И. М. Дубровский, В. Б. Молодкин, Л. В. Тихонов, Е. А. Тихонова. ФММ, 1969, 27, вып.1, с. 2126.-.. .
  47. В.Б. Классификация дефектов кристалла по их влиянию на дифракцию излучений.в радках динамической теории рассеяния. .- Киев, 1976.- 44 с. (Препринт /
  48. АН. УССР. Ин-т металлофизики- 76.4).
  49. В.Б. Динамическая теория диффузного рассеяния кристаллами .с.хаотически.распределенными дефектами. -Металлофизика, 1981, 3, № 4, с.27−38.
  50. Olekhnovich. N.M., Olekhnovich A.I. Dynamic effects of diffuse X-ray scattering near Bragg reflections. Phys. status solidi A, 1981, 62, N 2, p.-427−433.
  51. Pujimoto F., Kainuma Y. Inelastic scattering of fast electrons by thin crystals. J. Pbys. Soc. Japan, 1963, 18, N 12, p.1792−1804.73* Ishida K. Inelastic scattering of fast electrons by crystals. J. Phys. Soc. Japan, 1970, 28, К 2, p.430−437.
  52. Ishida K. Inelastic scattering of fast electrons by crystals. II. Che excess and defect Kikuchi bands. J. Phys. Soc. Japan, 1971″ ?0, Я 5i p. 1439−1448,
  53. Dederichs P.H. The theory of diffuse X-ray scattering and its application to study of point defects and their clusters. J. Phys. Ft Metal Phys., 1973, N 2, p.471−496.. .
  54. M.A. Применение рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов для исследования несовершенств в кристаллах., В.кн.: Металлы, электроны, решетка.
  55. Киев: Наук. думка, 1975, с.355−386.. .
  56. . К.П. Кинематическая теория, рассеяния рентгеновских лучей в твердых телах, содержащих различные дислокационные структуры, Автореф. дис.. докт. физ.мат. наук. -.Киев, .1981. 28 с.. .
  57. О.В. Теория рассеяния рентгеновских.лучей кристаллами, содержащими дислокационные структуры с, корреляцией: Автореф. дис.. канд. физ.-мат. наук. -Киев, 1981. 16 с.
  58. Ehrhart P., CCrinkaus Н., Larson B.C. Diffuse scattering from dislocation loops. Phys. Rev. B, 1982, p.834−848.
  59. Miyake S., Kohra K., Takagi M. The nature of the specular reflection of the electrons from a crystal surface. ¦ Acta Crystallogr., 1954-, 2, N 5, p.393−401.
  60. Eisenberger P., Alexandropoulos N.G., Platzman P.M.-xay Brillouin scattering. Plays. Bev. betters, 1972, 28, N 25″ p.1519−1522.
  61. Q5e Bez P"t Humphreys C.J., Whelan M"J. The distribution of intensity in electroh diffraction patterns due to phonon scattering. Phil. Mag., 1977″ 15″ H 1, p.81−96.
  62. Kashiwase y., Kainuma y., Minoura M. Observation of a diffraction pattern caused by thermal diffuse scattering of X-rays. J. Phys. Soc. Japan, 1981, ?0, N 9, p.2793−2794.
  63. Siems A. Quantitative Untersuchungen an Kikuchi-Struktu-ren. II. Termisch diffuse Streuung. Phys. status soli-di A, 1978, ?6, U 2, p.697~709.
  64. Р.И., Кривоглаз М. А. 0 рентгенографическом исследовании дефектов кулоновского типа в слабо искаженных кубических кристаллах. Металлофизика, 1979, № I, с. 33 — 51.
  65. Р.И., Кривоглаз М. А. 1^еории рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов сильно искаженными кристаллами, содержащими дислокационные петли. Металлофизика, 1982, 4, № 3, с. 3−10.
  66. Р.И., Кривоглаз М. А. К теории рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами. Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 100 — 108.91. barson B.C., Schmatz W. Huang diffuse scattering from dislocation loops and cobalt precipitates in copper.
  67. Phys. Eev. B, 1974, 10, К 6, p.2307−2314.
  68. Ii&a A., Kohra K. Separate measurements of dynamical and kinematical X-ray diffraction from silicon crystals with a triple crystal diffractometer. -Phys. status solidi A, 1979, ?1, И 2, p.533−542.
  69. Iida A. Applications of X-ray triple crystal diffracto-metry to studies on the diffusion-induced defects in silicon crystals. Phys. status solidi A, 1979"1. U 2, p.701−706.
  70. Трехкристальная рентгеновская дифрактометрия в исследовании тонких нарушенных слоев / Афанасьев A.M., Ко-вальчук М.В., Лобанович Э. Ф. и др. Кристаллография, 1981, 26, вып. I, с. 28 35.
  71. Fingerland A. Das Dreikristalldiffraktometer eine Einleitung zur Theorie. — Ins Dynamische Interferenztheorie. Leipzig: Akad. Verl., 1976, S.162−164.
  72. Godwod K.J. Dreikristallrontgenspektrometer. Iiii Dynamische Interferenztheorie. Leipzig:'Akad. Verl., 1976,1. S.165−180.
  73. M.А. Влияние геометрических искажений на распределение интенсивности фона на рентгенограмме или нейтронограмме. ЗМ, 1959, 8, вып.4, с. 514−530.
  74. П.А., Афанасьев A.M., Мелконян М. К. Феория рассеяния рентгеновских лучей кристаллом с дефектами поверхности. Кристаллография, 1981, 26, вып.6,с. 1275 1281.
  75. М.К. Рентгенодифракционные методы исследования тонких поверхностных слоев : Автореф. дис.. канд. физ.-мат. наук. Аштарак, 1983, — 16 с.
  76. ЮЗ. Thomas J.E., Baldwin Т.О., Dederichs Р.Н. Diffuse X-ray scattering in fast-neutron-irradiated copper crystals.-Phys. Rev. Б, 1971, 1″ N 4, p.1167~1173.
  77. В.Б. Классификация дефектов кристалла по их влиянию на дифракцию излучений в рамках динамической теории рассеяния. I. Когерентное рассеяние. Металлофизика, 1980, 2, № I, с. 3−24.
  78. Meyer-EJimsen G., Siems A. Contribution of plasmon and quasi-elastic scattering to the Kikuchi structures of Si. Measurement and comparison with the dynamical theory. Phys. status solidi B, 1974, 6?, S 2, p.577−586.
  79. Siems A. Quantitative Untersuchungen an Kikuehi-Struk-turen. I. Energieanalyse von Intensitatsprofilen. -Phys. status solidi A, 1978, jj^, H 2, p.621−628.
  80. В.Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамические эффекты при диффузном рассеянии излучений в кристаллах с хаотически распределенными дефектами. -Киев, 1981. Препринт / АН УССР, Ин-т металлофизики
  81. Klimanek Р. Grundlagen der dynamischen Theorie der Elektronenbeugung und ihre Beziehungen zur Theorie der Bontgenstrahlinterferenzen. Ins Dynamische Interferenztheorie. beipzig: Akad.Verl., 1976, S.281−291.
  82. HO. Барышевский В. Г. Ядерная оптика поляризованных сред. -Минск: Наука и техника, 1976.
  83. М., Ватсон К. Теория столкновений. Мир, 1967. — 824 с.
  84. А.И., Берестецкий В. Б. Квантовая электродинамика. М.: Наука, 1969. — 624 с.
  85. В.Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах, содержащих дефекты кулоновского типа. Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 3−15.
  86. Л.Д., Лнриц Е. М. Теория упругости. М.: Гос. изд-во физ.ниат. лит., 1954
  87. В.Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (лауэ-дифракция). -Металлофизика, 5, № 5, с. 3 II.
  88. В.Б., Олиховский С. И., Осиновский М. Е. О применении диффузного рассеяния рентгеновских лучей для исследования структурного совершенства монокристаллов. -Металлофизика, 1983, 5, .№ 6, с. 112 114.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!