Исследование технологического процесса пайки бессвинцовыми припоями с целью повышения надежности электронной аппаратуры
Диссертация
Повышение качества продукции является одной из важнейших задач современного производства. При отказе от свинецсодержащего припоя и переходе на бессвинцовые припои необходимо избежать резкого увеличения количества дефектов паяных соединений. Применение бессвинцовых припоев приводит к изменению технологии пайки, потребуется корректировка режимов пайки и доработка технологического оборудования… Читать ещё >
Список литературы
- Ивасык А., Рощук Д., Коваль Ю. Бессвинцовая пайка в подробностях // Инженерная микроэлектроника. -2005. —№ 6. -С. 24−29.
- Suganuma К. Lead and the Electronic Industry: A Proactive Approach // Journal of National Center for Manufacturing Sciences. —1995. —№ 5. -P. 50−54.
- Вотипцев A.M. Современные материалы для бессвинцовой технологии // Подготовка к введению европейских директив RoHS и WEEE: Тез. докл. Всерос. конф. -Москва, 2006. -С. 30−34.
- Шапиро Лев. Директива RoHS после 1 июля 2006 г. // Электронныекомпоненты. -2006. -№ 9. -С. 23−24.i
- Turbini L.J., Bent W.R., Ready W.J. Impact of Higher Melting Lead-free Solders on the Reliability of Printed Wiring Assemblies // SMTA International. -Chicago, 2000. -P. 20−24.
- Петер Биокка. Дефекты бессвинцовой пайки // Производство электроники: технологии, оборудование, материалы. —2005. —№ 1. -С. 1−4.
- Справочник по пайке: Справочник / Под ред. И. Е. Петрунина. М.: Машиностроение, 1984. -С. 298−299.
- Медведев A.M. Требования к материалам и технологиям печатных плат при бессвинцовой пайке // Производство электроник: технологии, оборудование, материалы. -2006. -№ 2. -С. 31−32.
- Zeng К. Influence of Solder Reaction Across Solder Joints // 6th TRC. -Austin, 2003.-P. 378−392.
- Армии Ран, Рольф Дием. Бессвинцовое производство компоненты и покрытия // Подготовка к введению европейских директив RoHS и WEEE: Тез. докл. Всерос. конф. -Москва, 2006. -С. 34−36.
- Медведев A.M. Проблемы технологий бессвинцовой пайки // Технология приборостроения. -2006. —№ 3. -С. 3−9.
- Рягузов А.В. Модификация процесса бессвинцовой пайки кристаллов к основаниям корпусов силовых полупроводниковых приборов: Автореф. дисс.. канд. техн. наук. Воронеж, 2006. -16 с.
- Нинг-Ченг Ли. Технология пайки оплавлением, поиск и устранение дефектов: поверхностный монтаж, BGA, CSP и FLIP CHIP технологии. М.: Изд-во Технологии, 2006. — 391 с.
- Fulong Zhu. Honghai Zhang. Rongfeng Guan. Investigation of microstructures and tensile properties of a Sn-Cu lead-free solder alloy // J Mater Sci. Mater Electron. -2006. -№ 17. -P. 379−384.
- Zhao J, Miyashita Y, Mutoh Y. Fatigue crack growth behavior of 96.5Sn-3.5Ag lead-free solder // Int J Fatigue, -2004. -№ 23. -P. 723−731.
- Ahmed S, Islam M. N., Chan Y.C. Interfacial reactions of BGA Sn-3.5%Ag-0.5%Cu and Sn-3.5%Ag solders during high-temperature aging with Ni/Au metallization // Mater Sci Eng. -2004. -№ 113. -P. 184−189.
- Liu Xiao-bo, Wang Guo-yong. The Surface Mount joint strength and Melting Range of Lead-free Solders // Electronic Components and Materials. -2002.-Vol.21, № 4.-P. 18−19.
- Григорьев В. Бессвинцовая технология теребование времени или прихоть законодателей от экологии? // Технологии и Материалы. -2001. -№ 6. -С. 43−47.
- Huang В. L., Lee С. Prospects of Lead Free Alternatives For Reflow Soldering//Proc. of IMAPS'99. Chicago, 1999.-P. 105−108.
- Roos-Kozel B. L. Parameters Affecting the Incidence of Pad Briding in Surface Mounted Device Attachment // ISHM. 1983. — Vol.6(l). — P. 251−255.
- Lee N. C., Evans G. P. Solder Paste Meeting the SMT Challenge // SITE Magazine. — 1987. -№ 6. -C. 52−58.
- Бере Соня. Методы анализа с целью квалификации бессвинцовых паяных узлов // Технологии в электронной промышленности. —2008. -№ 1. -С.58−60.
- Suganuma К. Mechanism and Prevention of Lift-off in Lead-free Soldering // IMAPS. -Boston, 2000. -P. 330−335.
- Кузнецов O.A., Погалов А. И., Сергеев B.C. Прочность элементов микро электронной аппаратуры. — М.: Радио и связь, 1990. — 142 с.
- Кузнецов О.А., Погалов А. И. Прочность паяных соединений. — М.: Машиностроение, 1987. 112 с.
- Yan Y., Jiang Х.Н., Zhang J.Z., Xu J.Y.High Performances Sn-Cu Electronic Lead-free Solder // Electronic Components & Materials. -2004. -№ 4. -P. 54−56.
- Shang Yangeng, Sun Daqian, Lang Bo. Effects of intermetallic compounds on the properties of Sn-Ag-Cu Lead-free solder joints // Journal of Jilin University / Engineering and Technology Edition. —2006. — Vol 36, № 6. -P. 846 850.
- Zhao Xiaoyan, Zhao Maiqun, Bai Yanxia. Mechanical properties and practical properties of Sn-Ag-Cu Lead-free solder alloys // Electronic Components & Materials. -2006. -№ 10. -P. 30−33.
- Gu Xiaoyan, Qu Wenqing, Zhao Haiyun. Investigation on the Wetability of Sn-Cu Lead-free solder in electronic packaging // Semiconductor Technology. -2006.-№ 5.-P. 337−349.
- Моисеев В.А. Технология выполнения паяных соединений. Основы технологии пайки / Под ред. С. П. Половников. М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003.-4.1.-47 с.
- Yoshiyuki Osawa, Wang Jun. Reliability test of lead-free solders and solder joints // Equipment for Electronic Products Manufacturing. -2005. -№ 12. -P. 51−55.
- ГОСТ 28 830–90. Соединения паяные. Методы испытаний на растяжение и длительную прочность. -М.: Из-во стандартов, 1990.-43 с.
- А. Н. Чеканов. Надёжность неразъёмных соединений / Под ред. A.M. Гуськов. М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2005. — 77 с.
- Александровская JI. Н., Афанасьев А. П., Лисов А. А. Современные методы обеспечения безотказности сложных технических систем. — М.: Логос, 2003.-206 с.
- Jiang Yan-feng, Zhang Xiao-bo. The Interfacial Reactions and Reliability with Lead-free Solders // Journal of Shanhaijiaotong University. -2007. -Vol 41, № 4.-P. 71−74.
- Хансен M., Андерко К. Структуры двойных сплавов. М.: Издательство Металлургия. — 1970. —'Т.1. —1487 с.
- Dirnfeld S.F., Ramon J.J. Microstructure Investigation of Copper-tin Intermetallics and the Influence of Layer Thickness on Shear Strength // Welding Research Supplement. -New York, 1990. -P. 373−377.
- Билибин К.И., Соловьев B.A. Проектирование технологических процессов в производстве электронной аппаратуры / Под ред. П. Б. Оганджанян, Г. И. Ревунков. — М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. 73 с.
- Фомин А.В. Методы оценки и оптимизации конструкторско-технологических характеристик качества микроэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры. -М.: Из-во МАИ, 1969. 66 с.
- Wang Zongjie, Lu Lin, Wang Min. Optimal design of multi-element lead-free soft solder with computer // Journal of Shenyang University of Technology. -2005. -Vol27, № 6. -P. 615−618.
- Адлер Ю. Л., Маркова E.B., Грановский Ю. В. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий. —2-е изд., перераб. и доп.-М.: Наука, 1976.-278 с.