Методология диагностики на наноразмерном уровне локального физико-химического строения поверхности и межфазных слоев полимерных композиционных материалов
Диссертация
Создан новый алгоритм комплексного применения стандартных и разработанных автором методов и методик для диагностики физико-химического строения поверхности и межфазных слоев полимерных композиционных материалов. Алгоритм включает в себя^ следующие методы физического эксперимента: рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию, атомно-силоваую микроскопию в. сочетании с разработанными: автором… Читать ещё >
Список литературы
- Fahlman М., Salaneck W.R. Surfaces and interfaces in polymer-based electronics // Surface Science. 2002. V.500.1.1−3. P.904−922.
- Обуденов А. Наноэлектроника вокруг нас. URL: http://www.nanorf.ru/educ.aspx7cat id=215&d no=902 (дата обращения 6.04.2010).
- As easy as blowing bubbles. URL: http://nanotechweb.org/articles/news/6/6/3/l?rss=2.0 (дата обращения 14.03.2010).
- Bacteria ferry nanoparticles into cells for early diagnosis, treatment. URL: http://news.uns.purdue.edU/x/2007a/Q70613BashirSmartnano.html (дата обращения 17.08.2009).
- Kalaugher L. DNA origami creates complex nanostructures. URL: http://nanotechweb.Org/articles/news/5/3/ll/l (дата обращения 6.04.2010).
- Vertical1 nanofibres point towards neural, interface. URL: http://nanotechweb.Org/articles/news/6/7/5/l (дата обращения 6.04*2010).
- Mikheev G.M., Zonov R.G., Obraztsov A.N., Volkov A.P. Pulse laser processing of nanocarbon film structures // Laser-Assisted Micro- and Nanotechnologies. Proceedings Paper. 2003. P. 184−191.
- Михеев Г. М., Зонов Р. Г., Образцов A.H., Волков А. П. Анизотропное лазер-индуцированное испарение углеродных пленок // ЖЭТФ. 2004. Т.98. № 3. С.483−488.
- Повстугар В.И., Кодолов В. И., Михайлова С. С. Строение и свойства поверхности полимерных материалов. М.: Химия, 1988. 192 с.
- Binnig G., Rohrer Н. Scanning tunneling microscopy // Helv.Phys.Acta. 1982. V.55. № 6. P.726−735:.
- Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Weibel E. Tunneling through a controllable vacuum gap // Appl.Phys.Lett. 1982. V.40. P. 178.
- Celotta R., Lucatorto Т. Experimental methods in the physical sciences'// Academic Press. 2001. V.38. R.89−109.
- Casalis L., Gregoratti L., Kiskinova M. et al. First results from the ESCA microscopy beamline on ELETTRA // Surface And Interface Analysis. 1997. V.25. P.374−3 79.
- СЗМ комплекс Рамановской спектроскопии ИНТЕГРА Спектра. URL: http://www.ntmdt.ru/device/ntegra-spectra (дата обращения 23.03.2010).
- Sarid D. Exploring scanning probe microscopy with «Mathematica». New York: John Wiley & Sons Inc., 1997. 262 p.
- Магонов C.H. Сканирующая силовая микроскопия полимеров и родственных материалов // Высокомолекулярные соединения. 1996. Т.38. № 1. С.143−182.
- Somorjai G.A. Modern Surface Science and Surface Technologies // Chem.Rev. 1996. V.96. № 4. P.1223−1236.
- Suchco М. et al. Physics of cantilever biosensors // Advanced Materials. 2008. V.20. P.3848−3853.
- Instruction manual Solver P47 // M.: Copyright © NT-MDT. 144 p.
- Frisbie C.D., Rozsnyai L.F., Noy A. et al. Functional group imaging by chemical force microscopy // Science. 1994. V.265. P.2071−2074.
- Magonov S.N., Whangbo M.H. Surface Analysis with STM and.AFM. VCH: Weinheim, 1996. 323 p.
- Hudson J.E., Abruna H.D. Electrochemically controlled adhesion in atomic force spectroscopy // J.Am.Chem.Soc. 1996. V. l 18. P.6303−6304.
- Vezzenov D: V" Noy A., Rozsnyai? E.F. efc al. Force titrations andv ionizations state: sensitive: imaging of fimctionab groups* im aqueous: solutions! by-. chemicaPfbrce microscopy7/JiAmiChem-Soc. 1997: V. E19i P:2006r2015t
- Зандерн А. Методы анализа поверхностей. M.: Мир, 1979. 582 с.
- Моррисон С. Химическая физика поверхности твердого тела. М.: Мир, 1980. 488 с.
- Haber J. // Pure.and Appl. Ghem. 1984. V.56. № 12. P.1663−1676.
- Alley R.L., Komvopoulos K., Howe R.T. SelfDassembled monolayer film for enhanced imaging of rough surfaces with atomic force microscopy// J.Appl.Phys. 1994. V.76. P.5731−5738.
- Бухараев A.A., Овчинников- Д.В., Бухараева А. А. Диагностика- поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии // Заводская- лаборатория. 1997. № 5: С. 10−27.
- Grigg D.A., Russel P.E., Griffith J.E. Tip-sample forces in scanning probe microscopy in air and vacuum // J.Vac.Sci.Technol. 1992. V.10. № 4. P.680−683.
- Zhikharev A.V., Bystrov S.G. Auxiliaries for scanning probe microscopes // Proceedings «Scanning probe microscopy-2003″. Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microstructures RAS, 2003. P.240−242.
- Duwez A.S., Poleunis C., Bertrand P. and Nysten B. Chemical Recognition of Antioxidants and UV-Light Stabilizers at the Surface of Polypropylene: Atomic Force Microscopy with Chemically Modified Tips/// Langmuir. 2001. V.17. P.6351−6357.
- Wei Z.Q., Wang C., Bai C.L. Surface imaging of fragile materials with hydrophobic atomic force microscope tips // Surface Science. 2000.» V. 467. P. 185 190.
- Vezenov D.V., Noy A., Rozsnyai L.F., Lieber C.M. Force titrations and ionization state sensitive imaging of functional groups in aqueous solutions by chemical force microscopy // J.Am.Chem.Soc. 1997. V.119. P.2006−2015.
- Энциклопедия полимеров. M.: Сов. Энциклопедия, 1977. Т.З. 1150 с.
- Вульфсона Н.С. Препаративная органическая химия. М.: Химия, 1964. 167 с.
- Schreiner М., Woisetschlager G., Schmitza I. and Wadsaka M. // J.Anal.At.Spectrom. 1999. V.14. P.395−403.
- Sasa S., Ikeda Т., Dohno C., Inoue M. // Physica. 1998. V. 2. P.858−861.
- Shirakashil J.-I., Matsumotol K., Konagai M. // Appl.Phys. 1998. V. 66. P.1083−1087.329'
- Быстров G.r., Жихарев А. В. Исследование локальной химическойструктуры плазмополимеризованных покрытий методом химической* силовой микроскопии, // Материалы, международного симпозиума' «Нанофизика и наноэлектроника». Нижний"Новгород, 2005. Т.2, С. 468.
- Briggs D., Seah М.Р. Practical Surface Analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. New-York: John Wiley and Sons, 1983. 533 p.
- Сиггиа С., Ханна Дж.Г. Количественный органический анализ по функциональным группам. М.: Химия, 1983. 672 с.
- Быстров С.Г. Использование атомной силовой микроскопии в газовых средах с регулируемым составом для исследования и модификации поверхности и межфазных слоев, твердых тел // Химическая! физика и мезоскопия. 2008. Т.10, № 1. С. 37−48.
- Beake B.D., Leggett G.J., Shipway Р.Н. Tapping mode and" phase imaging of biaxially oriented polyester films // Surface and Interface Analysis. 2001. V.31.P.39−45.
- Basnar В., Friedbacher G. et al. Analytical evalution of tapping, mode-atomic force microscopy for chemicaF imaging of surfaces // Appl-Surf.Sci. 2001. V.171. P-213−225. ' •
- Okabe Y., Akiba U., Fujihira M. Chemical force microscopy of -CH3 and -COOH terminal groups in mixed self-assembled monolayers by pulsed-forcemode atomic force microscopy // Appl.Surf.Sci. 2000. V.157. P.398−404.
- Moreno-Herrero F., de Pablo P.J., et al. Jumping mode scanning force microscopy: a suitable technique for imaging DNA in liquids // Appl.Surf.Sci. 2003. V.210. P.22−26.
- Норр В., Kresz N., Kokavecz J. et al. Adhesive and morphological characteristics of surface chemically modified polytetrafluoroethylene films // Appl.Surf.Sci. 2004. V.221. P.437−443.
- Magonov S.N., Whangbo M.-H. Surface analysis with STM and AFM: experimental and theoretical aspects of image analysis. Weinheim: VCH, 1996. 323 p.
- Дедков Г. В. Нанотрибология: экспериментальные факты и теоретические модели // УФН. 2000. Т.170. № 6. С.585−618.
- Beake B.D., Legget G.J., Shipway Р.Н. Frictional, adhesive and mechanical properties of polyester films probed by scanning force microscopy // Surf. Interface Anal. 1999. V.27. P. l084−1091.
- Schmitz I., Schreiner M. et al. Phase imaging as an extension to tapping mode AFM for the identification of material properties on humidity — sensitive surfaces // Appl.Surf.Sci. 1997. V. l 15. P.190−198.
- Magonov S.N., Elings V.B., Whangbo M.-H. Phase imaging and stiffness in tapping mode atomic force microscopy // Surf.Sci.Lett. 1997. V.375. P. I3 85−1391.
- Duwez A.-S., Poleunis C., Bertrand P. et al. Chemical Recognition of antioxidants and UV-light stabilizers at the surface of polypropylene: atomic force microscopy with chemical modified tips // Langmuir. 2001. V.17. P.6351−6357.
- Smith D.A., Connell S.D., Robinson C. et al. Chemical force microscopy: applications in surface characterization of natural hydroxyapatite // Analytica Chimica Acta. 2003. V.479. P.39−57.
- Dupont-Gillain Ch.C., Jacquemart I. Patterned collagen layers on polystyrene: direct probing using AFM in the adhesion mapping mode // Surface Science. 2003. V.539. P. 145−154.
- Vezzenov D.V., Noy A., Rozsnyai L.F. et al. Force titrations and ionization state sensitive imaging of functional groups in aqueous solutions by chemical force microscopy // J.Am.Chem.Soc. 1997. V. l 19. P.2006−2015.
- Электронный спектрометр ЭС2401. Техническое описание и инструкция по эксплуатации 1Г3.394.500.ТО. Черноголовка: НТО ЭЗНП АН СССР, 1979. 150 С.
- Захватова М.В., Гильмутдинов Ф. З., Сурнин Д. В. Учет фоновой составляющей в рентгеновской фотоэлектронной и оже-электронной спектроскопии// ФММ, 2007. Т. 104., № 2. С. 166−171.
- Дополнительные- общие требованиям для сканеров. ТУ 4254−358 699 387−20 041.
- Байбурин В.Б., Волков Ю. П. Двухкоординатное устройство" перемещения объекта для сканирующего туннельного микроскопа // ПТЭ. 1996. № 5. С.124−125.
- McGord M.A. An. X-Y-Z stage for scanning proximity microscopes using elastic elements //Rev.ScientTnstrum. 1991. V.62. № 2. P.530−531.
- Адамович М.Л., Косячков A.A., Черепин B.T. Столик для дистанционного микроперемещения и микроповорота образца // ПТЭ. 1991. № 3. С.202−203.
- NT-MDT Catalog. Moscow: Copyright © NT-MDT, 2003. 40 р.
- Zhikharev A.V., Bystrov S.G. Auxiliaries for scanning probe microscopes // Proceedings «Scanning probe microscopy-2003». Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microstructures RAS, 2003- P.240−242.
- Быков П.В., Быстров Є.Г., Баянкин В .Я., Коршунов С. Н. Влияние плотности ионного тока на изменение механических свойств титанового сплава ОТ4 // Деформация и разрушение материалов. 2005. № 11. С.46−48.
- Eder-Hinterleitner A., Neubauer W., Melichar P. Restoring Vagnetic Anomalies // Archaeological Prospection. 1996. V.3. P. 185−197.
- Дудкін В.П., Жарких M.I., Кошелев I.M. Первинна обробка результатів магнитометричнних спостережень на археологичних памятках // Археометрія. 1997. Вип.І. С.10−18.
- Дроздов А. Ю, Баранов M.А., Баянкин В. Я. Исследование эволюции микротрещины в модельных металлах при ионной имплантации. Компьютерный эксперимент // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2004. № 5. С.76−80-ч .) 1
- Иванов В.В., Паранин С. Н., Вихрев А. Н. и др. Эффективность динамического метода уплотнения наноразмерных порошков // Материаловедение. 1997. № 5. С.49−55.
- NT-MDT Catalog. Moscow: Copyright © NT-MDT, 2003. 40 p.
- Attachment to Solver P47: Instruction manual liquid cell AU008. M.: Copyright © NT-MDT, 2000. 25 p.89: Attachment to Solver Pro/Solver P47H-PRO: Instruction manual-closed- liquid cell MP3LC. M.: Copyright © NT-MDT, 2004. 20 p.
- Wanless '.E-Ji, Senden T. J, Hyde A. Mtet all A new electrochemical"celH for atomic force microscopy //Rev.Sci.Instrum. 1994^ V.65. № 4. P.1019−1020.
- Valeev R.G., Kobziev V.F., Zolotaryova O.A. et al. The Structure and properties of nanocrystalline Ge //Phys.Low-Dim.Struct. 2002. № ½. P.315−324.
- Bystrov S: G., Shakov A.A., Zhikharev A.V. Probe modifications and, development- of model samples for use in chemical force microscopy // Proceedings «Scanning probe microscopy-2002». Nizhny Novgorod-: IPM RAS, 2002. P: 163−165.
- Bystrov S. G-, Shakov A.A., Zhikharev A.V. Structure and characteristicsi of silicon probe tips for atomic force microscopy after plasma treatment // Phys. Low-Dim.Struct. 2002. № 5/6. P.47−53.
- Mikhailova S.S., Mikhaylyk O.M., Dorfinan A.M., Povstugar V.l. // SIA. 2000. V.29. P.519−523.•¦• ', ' ' «„' ¦ ¦ ' ' '.. 334
- С1еуе1ап<1г Х: Р., Маппе Б., Восек Ш, НапБша Р.К. // Кеу.8сь1пз1гит.1.1993. У.64. V. 2. Р.403−409., ,.'• 98. Быстрое-- С.Т., Дорфман А. М-, Ляхович- А. М“, Повстугар? В-И.
- Федерация. № 2 008 106 530: заявл. 19.02.2008- опубл. 10.02.2010. Бюл, № 4.-:-.''¦ 2 с. i'. ¦ ' I 101. Colchero S., Marti О., Mlynek J., Humbert F., Henry C.R., Chapon C. .
- J // JiVac.Sci.Technoh 1991. В 9. PI794−797.1102. Schleicher A., Jung Т., Burtsher H- Colloids //Interface Sci. 1993--,' V.161. P.271−276.,. — '¦"•¦"•-.¦,•"'. -Л'-':.1103. Shakesheff, MIC: Davies, Jackson D.E., Roberts С J. Tenddler S.J.,
- Brown> V.A.,. Watson R: C, Barret D.A., Shiaw PIN. // Surf Sci: Letti 1994! V.304.i!1.P.393−399.
- Demanet M. // Appl.Surf.Sci. 1995. V.89. P.97−102.
- Бухараев А.А., Овчинников Д. В., Нургазизов Н.И., Куковицкий
- Е.Ф., Кляйтер М. и Вейзендангер Р. // ФГГ. 1998. № 40: Р.1277−1281.
- Бухараев А.А., Можанова А. А., Нургазизов Н. И. и Овчинниковj Д.В. II Материалы всероссийского совещания „Зондовая микроскопия -99“.
- РІііжний Новгород: ИФМ РАН, 1999. С.91−97.. ., , I 107. Junno, S., Deppert К, Montelius L., and- Samuelsom L.//..: ' ¦ '.'.'¦ Appl.Phys.Lett. 1995. V.66. P.3295−3300.
- Maoz L., Gun J., and Sagiv J. II Chim: Phys. et Phys. r Cliim-Biol. 1988.1.V.85. P.1060−1067. I-- •$. v
- Ломаева С.Ф., Повстугар В. И., Быстров С. Г., Михайлова С. С. АСМ- исследования высокодисперсных нанокристаллических порошков железа // Материалы совещания „Зондовая- микроскопия 2000“. Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2000. С.75−79.
- Повстугар В.И., Ломаева С. Ф., Быстров С. Г., Михайлова С. С. Способы фиксации высокодисперсных частиц для АСМ исследований // Материалы совещания „Зондовая микроскопия — 2000“. Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2000. С.337−341.
- Ломаева С.Ф., Повстугар В. И., Быстров С. Г., Михайлова С. С. Исследование высокодисперсных порошков железа методом» атомной силовой микроскопии // Коллоидный.журнал. 2001. Т.бЗ. № 3. С.1−5.
- Ломаева С.Ф., Быстров С. Г., Михайлова С. С., Повстугар В. И. Возможности АСМ-исследований высокодисперсных нанокристаллических порошков железа // Микросистемная техника. 2001'. № 3*. С. 19−21.
- Руководство пользователя Solver PRO. M.: НИИФП, ЗАО HT-МДТ, 2004. 144 c.
- Усеинов A.C. Измерение модуля Юнга сверхтвердых материалов с помощью сканирующего зондового микроскопа «НаноСкан» // Приборы и техника эксперимента. 2004. № 1. С. 134−138.
- SundararajanSj, BhushamB: Developmentof AFM-based techniques. to- measure mechanical properties of nanoscale structures // Sensors and Actuators A. 2002. V.101. P.338−351.
- Галлямов M.O. Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок: дис. канд. физ-мат. наук. М. 1999. 227с.
- Povstugar V.l., Dorfman A.M., Zamyatina O.V., Bystrov S.G. Plasmochemical Immobilization of the Atmospheric Corrosion Inhibitors // Proceed: of the European Corrosion Congress (EUROCORR* 97). Trondheim, 1997. P. 1:78−183.
- Briggs D., Seah M.P. Practical Surface Analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. New-York: John Wiley and Sons, 1983. 533 p.
- Повстугар В.И., Михайлова C.C., Шаков A.A.II Журнал аналитической химии. 2000. Т.55. № 5. С.455−459.
- Кондратов А.П., Шестопалов Е. В. Основы физического эксперимента и математическая обработка результатов измерений. М.: Атомиздат, 1977. 141 С.
- Галлямов М.О., Яминский И. В. Сканирующая зондовая микроскопия: основные принципы, анализ искажающих эффектов. URL: http://www.spm.genebee.msu.su/members/gallyamov/gal yam/gal yaml. ht ml (дата обращения 18.05.2010).
- Лапшин Р.В. Способ автоматической коррекции искаженных дрейфом СЗМ-изображений // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. № 11. С. 13−20.
- Микроскоп ИНТЕГРА Терма. URL: http://www.ntmdt.ru/platform/ntegra (дата обращения 18.05.2010).
- Нефедов В.И., Чренин В. Т. Физические методы исследования поверхности твердых тел. М.: Наука, 1983. 296 с.
- Быстров С.Г., Кодолов В. И., Шилов В* В. Исследование взаимодействий* на границе контакта полимера и огнезамедлительной системы методом рентгеновской, фотоэлектронной спектроскопии // Композиционные полимерные материалы. 1988. № 39. С.35−38.
- Крысанов А.В., Махин B.C., Соколов И. Б. Химико-технические свойства и применение пластмасс. М.: Наука, 1986. 145 с.
- Mark S. Flammability the heat is on // Plast.World. 1986. № 7. P.44−89.
- Thomas W.S. Flammability of polymers materials // 2-nd Int. Conf. «Flame Retardants 85″. Luton: Var. pag GB, 1985. P.20−21.
- Hirrchler M.M. Flame Retardant Mechnismr: Recent Developments // Develop. Polymer Stab. 1982. № 6. P. 107−152.
- Seiner J.A., Thomas W.A. Fire protective coatings for structural steel // ICTTE 86: Technol. Shaping Future. Proc. Int. Congr. Pittsburgh: Pa, 1986. P.76−80.
- Aseeva R.M., Zaikov G.E. Economic and technical aspects, of flame retardants for polymers //Dev.Polym.Stabilirat. 1984. № 7. P.223−273.
- Kodolov V.I. Mikhailov V.I., S.G. Bystrov. Problems and prospects of modification of polimeric materials with the aim of lowering their flammability //
- Fire Science* and. Technology: Proceeding of the First Asian Conf. Hefei, China-: Int.Acad.Publ., 1992. P.505.
- Й0. Кодолов В. И: Михайлов В. И, Быстров, С .Г. Кластерые системы, в * эпоксиполимерных композициях для снижения их горючести // 5 межд.конф. по химии и физикохимии олигомеров. Чёрноголовка, 1997. G.215−216.
- Быстров С.Г., Кодолов В. И., Шилов В. В., Гомза Ю. П., Повстугар В-И. Структура композиции поликарбонат бинарная огнезамедлительная система//Высокомолекулярные соединения. 1987. Сер.А. № 6. С. 1305−1312.
- Kodolov V.I., Bystrov S.G., Povstugar V.I., Tyurin S-A. Investigation of phosporus containing fire-retardant mechanism // Flame Retardants: Prc. of the 2-ndiBeijingi Int, Symp./Exh. Beijing: GeoLPubhH., 1993. P: l84−189i
- Кодолов В.И., Повстугар В-И, Быстров С. Г. Исследование полимерных материалов методом РФЭС // Респ. конф. „Полимерные, материалы в машиностроении“. Ижевск: НТО, 1983. С.З.
- Нефедов В.И. Рентгеноэлектронная спектрскопия химических соединений. Справочник. М.: Химия, 1984. 256 с.
- Храмая Г. С., Садакова Г. П., Кодолов В. И. и др. Исследование фосфорванадийсодержащих добавок методом ИК спектроскопии // Пласт.массы. 1984. № 4. С.58−63.
- Кодолов В.И., Повстугар В. И., Михайлов В.И- Теоретические и практические аспекты огнезащиты древесных материалов. Рига, 1985. 122 с.
- Lindberg B.J., Hedman J. Molecular spectroscopy by means of ESCA // Phys.Scripta. 1975. V, 7. № 4. P.155−166.
- Коварская Б.М., Блюмменфельд А. Б., Левантовская И. И. Теоретическая стабильность гетероцепных полимеров. М.: Химия, 1977.156 с.
- Kodolov V.I., Bystrov S.G. Investigation of copper complexes influence on acrylate compozition photopolimerization // Coordinat. Chemistry: Poster Abstr. 31 stint. Conf. Vancuver: Vancuver Univer., 1996. P.337.
- Asada S., Sugano S., Phys J. // Soc.Jap. 1976. V.41*. P.1291−1305.
- Ефремова А.А. Разарботка олигоэфиракрилатных композиций лазерного отверждения для стереолитографии: автореф. дисс. канд. наук. Казань: КГТУ, 1996. 18 с.
- Скорик, Н.А., Кумок В. Н. Химия координационных соединений. М.: Химия, 1975. 207 с. 159! Энциклопедия полимеров. М.: Сов.энц., 1974. Т.2, С. 180−186.
- Лейдлер К. Кинетика органических реакций. М.: Мир, 1966. 347 с.
- Тагер А.А. Физико-химия полимеров. 2-е изд. М.: Химия, 1968.536 с.
- Энциклопедия полимеров. М.: Сов.энц., 1972. T.l. С.896−906.340 163. Andreetat J.C. // Ann.Phys. 1991. V.16. № 2. P.83−89.
- Фотополимеризующаяся композиция. С. Г. Быстров, В. И. Кодолов, Е. И. Чиркова, Ю. В. Бондарь, А. Ю. Бондарь: пат. 127 444 Рос. Федерация. № 97 104 261: заявл. 18.03.1997- опубл. 10.03.99: Бюл. № 7. 4 с.
- Бондарь А.Ю., Бондарь Ю. В., Кодолов В. И., Быстров С. Г. Исследование лазерной фотополимеризации. Разработка оборудования и технологии для лазерной фотополимеризации // Химия и химическая технология. 1997. Т.40, Вып.6. С.68−70.
- Бондарь Ю.В., Бондарь А. Ю., Чиркова Е. И., Кодолов В. И., Быстров С. Г. Технология отверждения олигометакрилатов на лабораторной стереолитографической установке // Труды 5 межд. конф. по химии и физикохимии олигомеров. Казань: Черноголовка, 1997. С. 247.
- Чиркова Е.И., Бондарь Ю. В., Бондарь А. Ю., Быстров, С.Г., Кодолов В. И. Исследование процесса каталитической лазерной фотополимеризации олигометакрилатов. // 5 межд. конф. по химии и физикохимии олигомеров. Казань: Черноголовка, 1997. С. 252.
- Кодолов В. И. Шуклин С.Г., Быстров С. Г., Михалкина Т. М. Экспериментальное моделирование процессов во вспучивающихсяогнезащитных материалах // Горение и взрыв: всеросийсск. симпозиум. Черноголовка: РАН, 1996. С. 106−109.
- Дидик A.A., Кодолов В. И., Волков А. Ю., Волкова Е. Г., Халльмайер К. Х. Низкотемпературный способ получения углеродных нанотрубок в конденсированной фазе // Неорганические материалы. 2003. Т.39. № 6. С.693−697.
- Уббелоде А.Р., Льюис Ф. А. Графит и его5 кристаллические-соединения. Пер. с англ. М.: Мир, 1965. 256 с.
- Шуклин С.Г., Дидик А. А., Быстров С. Г., Кузнецов А. А., Кодолов В. И. Регулирование структуры пенококсов путем введения в огнезащитные вспучивающиеся покрытия углеродных металлсодержащих наноструктур // Химические волокна. 2004. № 3. С.28−32.
- Mater.: Sci. and Eng. Ed, 1987. V.56. P.599−605.179- Cho D.L.,. Yasuda H. II J.Appl.Polymer.Sci.: Appl.Polym.Symp. 1988.1. V.42: № 6−8i P-2 331 239.
- Ясуда Х. Полимеризация в плазме. М.: Мир, 1988. 376 с.
- Sharma А.К., Yasuda Н. // J. Appl. Polymer Sci. 1989. V.38. № 4: Р.741−747.
- Ткачук Б.В., Колотыркин В. М. Получение тонких полимерных пленок из газовой фазы. М.: Химия, 1977. 214 с.
- Grundmeier G., Stratmann М. // Thin Solid Films. 1999. V.352. № 3.1. P. 119.
- Способ консервации металлов. BiML Повстугар|. A. Mi Дорфман, G. BtЗамятина-, C.F. Быстров^ G.C. Михайлова: пат. 2 024 649 Рос. Федерация. № 5 038 657: заявл. 20.04.1982- опубл. 15.12.94. Бюл. № 23. 3 е. ' .
- Дорфман A.M., Ляхович A.M., Кузнецов Ю. И. // Защита металлов. 1997. T.33i № 4: G.360−365- '186г Дорфман^ Ляхович? АМ, Б1овстугар? В-И®, Быстров^ ClF:.
- Плазменное модифицирование защитного покрытия, образованного м-нитробензоатом гексаметиленимина на железе // Защита металлов. 2000. Т.36. № 3. С.298−304.
- Дорфман- A.M., Ляхович A.M., Повстугар В. И., Быстров С. Г. Влияние режимов, плазмообработки на морфологию поверхности и свойства пленок, полученных из гептана на стали // Защита металлов. 2003. Т.39. № 1, С.70−77.
- Lyakhovitch A.M., Dorfinan А. М, Povstugar V.I., Bystrov S.G. Surface structure and characteristics of plasma-polymerized geptane investigatedby means of probe microscopy 11 Physic of Low—Dimensional» Structures. 2001. №> ¾. P.277−286.
- Быстров С.Г. Особенности процесса формирования, строение и свойства полимерного покрытия, полученного методом плазменной* полимеризации на поверхности высокопористого окисленного железа // Химическая физика и мезоскопия. 2010. Т. 12. № 1. С. 83−92.
- Способ консервации металлических изделий. В. Я. Баянкин, С. Г. Быстров, К. И. Куликов: пат. 2 280 512 Рос. Федерация. № 2 004 132 056: заявл. 02.11.2004- опубл. 27.07.2006. Бюл. № 21. 3 с.
- Способ получения защитных покрытий на поверхности, в труднодоступных порах и дефектах металлических изделий. В. Я. Баянкин, С. Г. Быстров, К. И. Куликов: пат. 2 348 737 Рос. Федерация. № 2 007 109 003: заявл. 12.03.2007- опубл. 10.03.2009. Бюл. № 7. 4 с.
- Толстихина А.Л., Виленский А. И. // Поверхность. 2000- № 12. С. 16−22.
- Laricheva Т.Е., Machula A.A., Milinchuk V.K., Zagorski D.L. // Colloid J. 2000. V.62. P.575−581.
- Ilagcn Т., Grafstrom S., Ackermann J., Neumann R., Trautmann. G., Vetter J., AngertN. //J.Vac.Sci.Technol. 1994. V.12. P.168−173.
- Diet P., Hansma P.K., Inacker O., Lehmann H.D., Lehmann K.I., // J.Membr.Sci. 1992. V.65. P.101−107.
- Kamusewitz H., Keller M., Paul D. // Thin Solid Films. 1995. V.264. P.184−191.
- Vilensky A.I., Zagorski D.L., Bystrov S.G., Michailova S.S., Gainutdinov R.V., Nechaev A.N. Investigation of latent tracks in polyethyleneterephthalate and their etching // Surface Science. 2002. V. 507−510. P.911−915.
- Bystrov S.G., Povstugar V.l., Mikhailova S.S., Mtchedlishvilly V., Netchayev A.N., Zagorsky D.L. The AFM and XPS Investigation of the Surface of Polyethylene Terephthalate Irradiated by High Energy Ions // Phys. Low-Dim.Struct. 2001. № ¾. P.257−262.
- Михайлов В. И', Кодолов В .И., Быстров C.F., Гомза Ю. П., Близнюк В. Н. К вопросу о модификации вторичного полиэтилена высокомолекулярной фосфорсодержащей огнезамедлительной' системой // Композиционные полимерные материалы. 1990. № 46. С.49−52.
- Wayne R. Gombotz et all. Functionalization of polymeric films by plasmapolymarization of allyl alcohol and allylamine // J.Apl.Polym.Sci. 1988. V.42. P.285−303.
- Sinniah S.K., Steei A.B. et al. // J.Amer.Chem.Soc. 1996. V.118. P.8925−8930.
- Goodman D., Kizhakkedathu J. N., Brooks D. E. Attractive Bridging Interactions in Dense Polymer Brushes in Good Solvent’Measured by Atomic Force Microscopy //Langmuir. 2004. V.20i P.2333−2340.
- Santer S., Kopyshev A.} Donges J., Yang H.K., Ruhe J: Domain Memory of Mixed Polymer Brushes // Langmuir. 2006. V.22. P.4660−4667.
- Whangbo M.-H.- Denley D.- Magonov S.N.- Cleveland J.- Elings V. Tapping-mode atomic force microscopy study of the near-surface composition of a styrene-butadiene-stvrene triblock copolymer film // Surface Science. 1997. V.389. P.201−211.
- Leonard D.N. // Polymer. V.43. 2002. P.6719−6726.
- Большакова A.B., Киселёва О. И., Никонорова Н. И., Яминский И. В. Сканирующая- зондовая микроскопия, блок-сополимеров. Mi: МГУ. Химический факультет, 2006. 22 с.
- Ishizu К. Microstructure control in block and graft copolymers and5 polymer blends // Polim-Plast.Technol.Eng. 1989.V.28. № 5. P.601−630.
- OttH. //Journal of microscopy. 2002. V.205. pt.l. P. 106−108.
- KonradM. //Macromolecules. 2000. V.33. P.5518−5523.
- Wang Y., Song R., Li Y., Shen J. // Surface Science. 2003. V.530. P.136−148.
- Knoll A., Magerle R., Krausch G. // Macromolecules. 2001. V.34. P.4159−4165.
- Dubourg F. // The European Physical Journal E. 2001. V.6. P.387−397.
- Imaging and Mapping Trends For Polymer Materials With Veeco Atomic Force Microscopes URL:// http: www.azom.com (дата обращения 11.10.2007).
- Puskas J.E. // European Polymer Journal. 2003. V.39. P.2041−2049.
- Большакова А.В. // Высокомолекулярные соединения- А. 20 041 Т.46. № 9. СЛ511—1518.
- Быстров С.Г. Применение: методов ХСМ и РФЭС для исследования, особенностей локальной химической структуры, поверхности блоксополимера ПС39Э061г// Микросистемная техника. 2005. № 6. С. 19−21.
- Thomas H.R., OMalley J.J. // Amer.Chem.Soc.Polym.Prepr. 1980- V.21. № 1. P. 144−146.
- Thomas H.R., OMalley J.J. // Macromolecules. 1979. V.12. № 2. P.323−329.
- OMalley J. J, Thomas H.R., Lee G.M. // Macromolecules. 1979. V.12. № 5. P.996−1001.
- Chillkoti A., Ratner B.D., Briggs D. // Chem.Mater. 1991. V.3. P.5159.
- Beamson G., Briggs D. High resolution XPS of organic polymers. Chichester: Wiley, 1992. 277 p.
- Жихарев A.B., Быстров С. Г., Ляхович A.M. Изучение локального- химического- строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом- атомной силовой микроскопии // Вестник Удмуртского- университета, Физика. 2005. № 4, С.189−194.
- Быстров С.Г. Применение селективных химических реакций в атомной силовой микроскопии для получения информации о локальномфизико-химическом строении поверхности полимерных материалов // Приборы и техника эксперимента. 2009. Т.2. С.153−158.