Механизмы рассеяния электронов в наноструктурах на гетерогранице AlGaAs/GaAs
Диссертация
В приборах с высоким уровнем мощности для получения больших токовых значений необходимо одновременно повышать концентрацию п8 и подвижность ц электронов. Однако с увеличением п8 падает подвижность электронов, а при уменьшении концентрации подвижность растет только до определенного предела. Исследования процессов релаксации электронов при больших концентрациях позволяют выявить, какие физические… Читать ещё >
Список литературы
- J.Batey, S.L.Wright. Surface Science, v.174, N 1 -3 (1986) p. 320 — 323.
- Giugni S., Tansley T.L. Semiconductor Science and Technology, v.7, N 8 (1992) p.1113 -1116.
- Андо Т., Фаулер А., Стерн Ф. Электронные свойства двумерных систем: Пер. с англ. М.: Мир, 1985. — 416 с.
- K.Lee, M.S.Shur, T.J.Drummond, H.Morkoc. Journal of Applied Physics, v. 54, N 11 (1983) p. 6432−6438.
- V.Umansky, R. De-Picciotto, M.Heiblum. Applied Physics Letters, v. 71, N 5 (1997) p.683−685.
- Mendez E.E. In: Yamada Conf. XIII Electron. Prop. Two — Dimensional Systems (EP2DSVI). Kyoto, Yapan, 1985, p. 564 — 577.
- J.-H.Reemtsma, K. Heime, W. Schlapp, G.Weimann. Journal of Applied Physics, y.66, N 1 (1989) p. 298 302.
- Hirakawa K., Sakaki H. Physical Review B. v.33, N 12 (1986) p. 8291 -8303.
- Волков В.А., Гродненский И. М. Микроэлектроника, т.11, в. З (1982) с. 195−207.
- Рашба Э.И., Тимофеев В. Б. ФТП. 1986. Т.20, в.6. — с. 977 — 1024.
- IHhk A.u. OTIT. t.26, b.7 (1992) c. 1161−1181.
- Mezrin O.A., Shik A.Ya., Mezrin V.O. Semiconductor Science and Technology, v.7, N 5. (1992) p.664 667.
- N.Pan, J. Carter, G.S.Jackson, H. Hendriks, X.L.Zheng, M.H.Kim. Applied Physics Letters, v.59, N 4 (1991) p.458 460.
- Young P.G., Mena R.A., Alterovitz S.A., Schacham S.E., Haugland E.J. Electronic Letters, v.28, N 14. (1992) p.1352 1354.
- Yang G.M., Park S.G., Seo K.S., Choe B.D. Applied Physics Letters. v.60, N 19 (1992) p.2380 2382.
- Ploog K. Journal Crystalline Growth, v.81, N 1 (1987) p.304 313.
- Wagner J., Ganser P., Kohler K., Fischer A., Ploog K. Surface Science. v.263, N 1 3 (1992) p.628 — 632.
- Mao-Long K., Rimmer J.S., Hamilton B., Missous M., Khamsehpour B., Evans J.H., Singer K.E. Surface Science, v.267, N 1 3 (1992) p.65 — 68.
- Mao-Long K., Rimmer J.S., Hamilton B., Evans J.H., Missous M., Singer K.E., Zalm P. Physical Review B. v.45,N 24 (1992) p.14 114−14 121.
- Mayah A., Carles R., Bedel E., Munoz-Gague A. Journal of Applied Phisics. v.74, N 2 (1993) p. 1072 1078.
- Maaref H., Mejri H., Priester C., Barrau J., Bacguet J.C. Journal of Applied Physics, v.74, N 3 (1993) p. 1987 1991.
- E.F.Schubert, J.M.Kuo, R.F.Kopf, H.S.Luftman, L.C.Hopkins, N.J.Sauer. Journal of Applied Physics, v.67, N 4 (1990) p.1969 1979.
- Никифоров А.И., Кантер Б.З, Стенин С. И, Рубанов C.B. Поверхность, физика, химия, механика. N 10 11 (1992) — с. 95 -101.
- Ashwin M. J, Tahy M., Harris J.J., Newman R.C., Sansom D.A., Addinall R., Me Phail D.S., Sharma V.K.M. Journal of Applied Physics, v.73, N 2 (1993) p.633 639.
- Гусев Г. М., Квон З. Д., Лубышев Д. И., Мигаль В. П., Погосов А. Г. ФТП. т.25, в.4 (1991) с. 601 -607.
- R.Rodrigiues, P. S.S.Guimaraes, J.F.Sampaio, R.A.Nogueira, A.T.Oliveira, I.F.L.Dias, J.C.Bejerra, A.G.de Oliveira, A. S.Chaves. Solid State Communications, v.78, N 9 (1991) p.793 796.
- Yang M.J., Moore W. J, Wagner R. J, Waterman J. R, Yang C. H, Thompson P. E,
- Davis J.L. Journal of Applied Physics, v.72, N 2 (1992) p.671 675.
- S.Yamada, T.Makimoto. Applied Physics Letters, v.57, N 10 (1990) p. 1022 1024.
- Котельников И. Н, Кокин В. А, Медведев Б. К, Мокеров В. Г, Ржанов Ю. А, Анохина С. П. ФТП. т.26, в.8 (1992) с.1462 1470.
- E.F.Schubert, J.E.Cunningham, W.T.Tsang. Solid State Communications. v.63, N 7 (1987) p.591 594.
- Cheng W, Zrenner A, Ge-Qiu Yi, Koch F, Crutzmacher D, Balk P. Semiconductor Science Technology, v.4, N 1 (1989) p. 16 19.
- Koenraad P.M., Yoncken A.P.J., Singleton J., Blom F.A.P., Langerak C.J.G.M., Leys M.R., Perenboom J.A.A.J., Spermon S.J.R.M., Van Vleuten W.C., Wolter J.H. Surface Science, v.228, N 1 3. (1990) p.538 — 541.
- Zrenner E. Thesis. Technische Universitat of Munchen, 1987.
- D.C. Tsui, H.L. Stornier, A.C. Gossard. Phys.Rev.Lett, v.48, 1559(1982).
- A.Y. Cho. J. Vac. Sei. Technol, v. 8, 31 (1971) — A.Y. Cho. Appl.Phys. Lett., v.19, 467 (1971).
- H.M. Manasevit. Appl. Phys. Lett., v. 12, 156 (1968).
- L. Esaki, R. Tsu. IBM J. Res. Dev., v.14, 61 (1970).
- P.O. KasapHHOB, P.A. Cypnc. OTn, t.5, 707 (1971) — d>Tn, t.6,120 (1972) — 0>Tn, t.7, 347 (1973).
- R. Tsu, L. Esaki. Appl Phys. Lett., v.22, 562 (1973).
- L.L. Chang, L Esaki. WE. Howard, R. Ludke. J. Vac. Sei. Technol., v. 10, 11 (1973).
- L.L. Chang, L. Esaki, R. Tsu. Appl. Phys. Lett, v.24, 593 (1974).
- L. Esaki, L.L. Chang. Phys. Rev. Lett, v.33, 686 (1974).
- J.R. Shriffer. Semiconductor Surface Physics, ed. byR.H. Kingston (University of Pennsylvania Press, Philadelphia) p. 68.
- A.B. Fowler, F.F. Fang, WE. Howard, PJ. Stilee. Phys. Rev. Lett, v.16, 901 (1966).
- V.N. Lutskii. Phys. St. Sol. (a), v. l, 199 (1970).
- R. Dingle, H. L Stornier, H.L. Gossard, W Wiegmann. Appl.Phys.Lett, v.33, 665 (1978).
- D. Delagebeaudeuf et’al. Electron. Lett, v.16, 667 (1980).
- T. Mimura, S. Hiyamizu, T. Fuji, K.A. Nanbu. Jpn. J. Appl. Phys., v. 19, L225 (1980).
- А. де Виссер, В. И. Кадушкин, В. А. Кульбачинский, В. Г. Кытин, В. М. Скороходов, Е. Л. Шангина. ЖЭТФ, 105,1701(1994).
- J.J. Harris, B.A.Joyce, J.P. Govers, J.H. Neave. Appl.Phys., A28, 63 (1982).
- J.J. Harris, D.E. Asendird, C.T. Foxon, P.J. Dodson, B.A.Joyce. Appl.Phys., A33, 87 (1984).
- P.R.Pukite, G.S. Petrich, S. Batra, P.J. Cohen. J.Cryst.Crowth., 95, 269 (1989).
- M.A.Herman, D. Bimberg, J.Christen. J.Appl.Phys., 70 (2), p. R 1(1991).
- Ж.И.Алферов, С. В. Иванов, П. С. Копьев, Б. Я. Мельцер, Т. А. Полянская, И. Г. Савельев, В. М. Устинов, Ю. В. Шмарцев. ФТП, 19,1199(1985).
- R.I.Sladek.Phys.Rev., 110,817(1958).
- В.И.Кадушкин. ФТП, 15, 230(1981).
- K.Ohta.J.Phys.Soc.Japan, 31,1627(1971) — Japan J.Appl. Phys., 10,850(1971).
- J.Haidu.Jn:Modern Problem in Condensed Matter Sciences (Landau Level Spectroscopy).Ed: G. Landwehr, E.I.Rashba, 1991, v.27.2 (Ch.l7), p.999. Amsterdam, Oxford, New York, Tokyo, Elsevier Science Publishers B.V.
- A.Isichara, L.Smrcka.J.Phys.C:Sol.St.Phys, 19,6777(1986)
- F.F.Fang, T.P.Smith, S.L.Wright.Surf.Sei., 196,310(1988)
- P.T.Coleridge.Semicond.Sci.Technol., 5,961(1990)-Phys.Rev, 44,3793(1991).
- В .Laikhtman, M. Heiblum, U.Meirav. Appl., Phys .Lett., 57, 1557(1990).
- В.И.Кадушкин. ФТП, 25,459(1991) — ФТП, 26,1323(1992).
- A.Gold. Phys.Rev.B., 38,10798(1988).
- С.Д.Быстров, А. М. Крешук, С. В. Новиков, Т. А. Полянская, И. Г. Савельев. ФТП, 27,645(1993).
- В.И.Кадушкин. Автореферат диссертации.М., 1994.
- Y.Takagaki, K.J.Friedland, K.Ploog.Appl.Phys.Lett, 64, 3258(1994).
- F.Stern, W.E.Howard. Physical Review, v. 163 (1967) p.816 835.
- L.R.Leadley, R.J. Nicholas, J.J. Harris, C.T. Foxon. Semicond. Sci. Tecnoi., 4, 885 (1989) — 5,1081 (1990).
- Л.Д.Ландау, Е. М. Лифшиц.Квантовая механика, М., ГИФМЛ, 1963, 702с.
- В. Карпус. ФТП, 20,10 (1986) — 22, 43 (1988).
- В.Ф. Гантмахер, И. Б. Левинсон. Рассеяние носителей тока в металлах и полупроводниках. М., Наука, ГИФМЛ, 1984, 352 с.
- S. Mori, Т. Ando. J. Phis. Soc. Jap., 48, 865 (1980).
- R. Fletcher, E. Zaremba, M.D.'Jorio et al. Phis. Rev. В., 38, 7866 (1998).
- M. Slutzky, O. Entin- Wohlman, Y. Berk, A. Palevski. Phys. Rev. B, 53, № 7,4065, 1996.
- Ben Yu- К. Ни, K. Fleusberg. Phys.Rev. В., 53, № 15, 10 072−10 077, 1996.
- .