Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Развитие методов количественного анализа функциональных групп органических соединений с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Диссертация: Развитие методов количественного анализа функциональных групп органических соединений с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Если проведение элементного анализа поверхности материалов современными спектральными методами принципиальных трудностей не представляет, то анализ функциональных групп (ФГ) имеет ряд принципиально не решенных до сих пор вопросов. К ним относятся: недостаточная локальность большинства спектральных методов исследования поверхности по глубине, невозможность прямого изучения ближайшего химического… Читать ещё >

Развитие методов количественного анализа функциональных групп органических соединений с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Глава 1. Анализ поверхности органических соединений методом РФЭС
    • 1. 1. Возможности метода РФЭС при анализе поверхности органических соединений
      • 1. 1. 1. Глубина анализируемого слоя органических соединений
      • 1. 1. 2. РФЭ-спектры и количественный анализ
      • 1. 1. 3. Разрешающая способность РФЭ-спектрометра
      • 1. 1. 4. Учет зарядки непроводящего образца
    • 1. 2. Математические методы обработки РФЭ-спектров
      • 1. 2. 1. Сглаживание РФЭ-спектров
      • 1. 2. 2. Вычитание фона в РФЭ-спектрах
      • 1. 2. 3. Эмпирическая подгонка РФЭ-спектров методом наименьших квадратов
      • 1. 2. 4. Разложение РФЭ-спектров
        • 1. 2. 4. 1. Дифференцирование РФЭ-спектров (метод четных производных)
        • 1. 2. 4. 2. Методы обратной свертки в разложении РФЭ-спектров
    • 1. 3. Анализ ФГ на поверхности органических субстратов с использованием метода СХР
      • 1. 3. 1. Условия проведения СХР
      • 1. 3. 2. Применение метода СХР для анализа органических полимеров с известным строением поверхности
      • 1. 3. 3. Применение метода СХР для анализа органических полимеров с неизвестным строением поверхности
  • Выводы
  • Глава 2. ПФР как метод разложения РФЭ-спектров
    • 2. 1. Применение метода ПФР для разложения модельных спектров
    • 2. 2. Метод ПФР и другие методы разложения спектров
    • 2. 3. Разложение спектров аттестованных образцов органических соединений .65 2.3.1. Форма одиночной спектральной линии, применяемой для разложения экспериментально полученных спектров
      • 2. 3. 2. Учет неоднородной зарядки непроводящих органических соединений
  • Выводы
  • Глава 3. Применение метода СХР для анализа ФГ на поверхности органических соединений
    • 3. 1. Реагенты, субстраты и продукты маркирования. Подготовка образцов и проведение СХР
    • 3. 2. Изучение особенностей протекания СХР на поверхности органических соединений
      • 3. 2. 1. Исследование взаимодействия кратных С-С-связей с молекулярным бромом
      • 3. 2. 2. Изучение поведения ОН-групп при реакции с трифторуксусным ангидридом
      • 3. 2. 3. Исследование реакции конденсации С=0-групп с гидразином

Интенсивное развитие современных спектральных методов исследования поверхностных слоев нанометровой толщины стимулировало разработку методик изучения не только поверхности материалов как таковой, но и различных явлений, протекающих на них [1−5]. Исследование таких явлений наряду с проведением элементного анализа требует информации о реакционной способности поверхности. Знание особенностей химического строения и реакционной способности поверхностных слоев важно при изучении целого ряда свойств, обусловленных в значительной мере поверхностными явлениями. К ним можно отнести адгезию, смачивание, трение, износ, старение, диффузию, катализ, биосовместимость, проницаемость и другие явления, в разной степени затрагивающие процессы, протекающие в многокомпонентных системах. При этом принципиально важными остаются вопросы, связанные с соотнесением макроскопических свойств материалов с микроскопическими характеристиками и химическим строением их поверхностных слоев. Иными словами, существует ряд фундаментальных задач, требующих своего решения при приложении спектральных методов к исследованию явлений на поверхности полимеров, стекол, биоматериалов и пр. [6], а именно:

1) дальнейшее развитие методов элементного анализа и анализа по функциональным группам поверхностей различных материалов;

2) подробные исследования связи между химическим строением и структурой поверхности с реакционной способностью функциональных групп на ней;

3) установление связи между химическим строением сверхтонких поверхностных областей материала и макроскопическими свойствами изделий на его основе.

Последняя задача наиболее актуальна в связи с проблемами модификации поверхности полимеров, наполнителей в композиционных системах с целью получения материалов с требуемыми свойствами [7−10].

Если проведение элементного анализа поверхности материалов современными спектральными методами принципиальных трудностей не представляет, то анализ функциональных групп (ФГ) имеет ряд принципиально не решенных до сих пор вопросов. К ним относятся: недостаточная локальность большинства спектральных методов исследования поверхности по глубине, невозможность прямого изучения ближайшего химического окружения интересующих атомов в большинстве таких методик (за исключением рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и инфракрасной спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения), принципиальная сложность выделения межфазных поверхностей в объеме материалов для их дальнейшего исследования, возможная деструкция поверхности материалов, в частности полимеров, под действием зондирующего излучения, недостаточное спектральное разрешение методов и т. д. [3−5].

Недостаточное (в том числе и для возможности анализа ФГ) спектральное разрешение большинства серийных РФЭ-спектрометров послужило причиной развития методов математической обработки сложных РФЭ-спектров с целью выявления их структуры, например [11,12].

Следует отличать разложение спектра от его эмпирической подгонки, для проведения которой требуется некоторая априорная информация о спектре (например, о числе, примерном положении и интенсивностях линий спектра в шкале энергий связи [Есв]), получаемая при помощи каких-то иных методов.

Наиболее популярные методы математического разложения РФЭ-спектров, например, метод преобразования Фурье, метод четных производных, не позволяют разрешать близко расположенные спектральные линии. Так линии с шириной на половине их интенсивности (далее «шириной») 1.5 эВ в шкале с-св не разрешаются даже после математической обработки, если находятся на расстоянии менее 1 эВ. К тому же эти математические методы достаточно чувствительны к статистическому разбросу исходных данных и не позволяют проводить количественное разложение спектров (т.е., получать информацию не только о числе и положении линий, но и об их относительных интенсивностях).

В то же время известно, что для обработки спектров в таких методах исследования, как рентгеноспектральный структурный анализ (ЕХАРБ) [13], спектроскопия Мёссбауэра [14], спектроскопия энергетических потерь электронов (ЕЕЬРБ) [15] весьма успешно применяется метод преобразования Фурье с регуляризацией задачи по Тихонову (ПФР) [16], позволяющий получить высокое разрешение спектра.

Особенно сложны для интерпретации РФЭ-спектры, в которых линии, соответствующие некоторым типам ФГ, практически совпадают по положению. При помощи методов математического разложения такие линии разделить невозможно. В этом случае используют метод селективных химических реакций (СХР). Он заключается в следующем. Образец, содержащий различные типы ФГ, например, А, В, С, обрабатывают реагентом-маркером «хУ», который способен реагировать лишь с одной из имеющихся ФГ, например, «С» (рис.1). При этом образуется новая ФГ, «С-х», которая содержит атомы элемента-метки, не присутствовавшего ранее в образце и легко идентифицируемого в РФЭ-спектрах [5,6,9,10,17−22].

Рис. 1. Схема протекания СХР. А, В, С — функциональные группы, хУ — реагент-маркер. / / / / / А.

В + хУ С / / / / / / А.

В +У С-х.

Основные реакции, протекающие при такой химической модификации, аналогичны применяемым в органической химии для анализа ФГ в растворах [21−23]. Поскольку содержание элемента-метки в маркированном образце пропорционально количеству определяемых ФГ, то их количество можно вычислить.

Однако имеющиеся в литературе данные по применению метода СХР могут быть противоречивы, например [24,25] и [26]. Возможная причина тому — существование неучтенных факторов, пренебрежение которыми и приводит к искажению результатов. Так, например, известно, что одна и та же ФГ имеет различную реакционную способность в зависимости от типа соседних атомов. Однако в работах по применению СХР этот эффект не учитывался при проведении анализа, что в ряде случаев приводило к неправильным результатам. Кроме того к искажению результатов количественного анализа ФГ могут привести и другие факторы, например, протекание побочных реакций, что также до сих пор не учитывалось.

Исходя из вышеизложенного целью настоящей работы является развитие методов количественного РФЭ-анализа ФГ в поверхностных слоях органических соединений с применением методов ПФР и СХР.

Для достижения намеченной цели были поставлены следующие задачи:

1. Разработка программного обеспечения для разложения РФЭ-спектров методом ПФР;

2. Определение эффективности и границ применимости метода ПФР при разложении модельных РФЭ-спектров;

3. Применение метода ПФР для разложения РФЭ-спектров аттестованных органических соединений с целью определения точности анализа ФГ;

4. Исследование особенностей протекания СХР при определении некоторых типов ФГ.

Научная новизна.

1. Впервые для разложения РФЭ-спектров применен метод ПФР, не требующий предварительных данных о количестве и положении линий спектрапроведена оценка его применимости.

2. Для повышения точности РФЭ-анализа ФГ предложено в качестве ядра уравнения свертки при разложении экспериментально полученных сложных спектров использовать экспериментально полученную одиночную линию, учитывающую особенности функции пропускания спектрометра. Показано, что в качестве такой линии можно применять С 18-спектр н-докозана СНз (СН2)2оСНз.

3. Предложен способ учета неоднородной зарядки непроводящих образцов органических соединений, заключающийся в оптимизации ширины ядра уравнения свертки по минимальной величине невязки исходного и восстановленного по результатам разложения спектров.

4. Впервые показано, что точность РФЭ-анализа ФГ в поверхностных слоях органических соединений с применением метода СХР можно повысить, учитывая побочные химические реакции и изменение реакционной способности ФГ в зависимости от их ближайшего окружения.

Практическое значение.

1. Разработано программное обеспечение, позволяющее осуществлять предварительную подготовку данных и проводить разложение РФЭ-спектров с применением метода ПФР, не требующего априорных данных о структуре спектров.

2. Высокое разрешение РФЭ-спектров, получаемое с помощью метода ПФР, позволяет повысить точность количественного анализа ФГ и исследовать особенности протекания химических реакций в поверхностных слоях органических соединений.

Структура диссертации.

Работа состоит из введения, трех глав, заключения и приложения. Материал диссертации изложен на 150 страницах текста, содержащего 28 рисунков и 5 таблиц. Список используемой литературы включает 118 наименований.

Выводы.

1. Разработан метод корректного разложения рентгенофотоэлектрон-ных спектров, не требующий введения априорных данных об их структуре. Метод основан на преобразовании Фурье с регуляризацией задачи по Тихонову. Получены критерии применимости метода к разложению спектров органических соединений с целью количественного анализа функциональных групп на их поверхности. Подготовлен пакет прикладных программ;

2. Индивидуальные особенности спектрометра предложено учитывать применением в качестве ядра уравнения свертки экспериментально полученной на этом спектрометре одиночной спектральной линии образца аттестованного соединения, что позволяет повысить точность результатов разложения экспериментально получаемых спектров;

3. На модельных спектрах исследовано влияние статистического шума на точность разложения спектров. Предложено использовать уровень шума как критерий, определяющий пригодность получаемого спектра для корректного разрешения линий с заданным расстоянием между ними. Показано, что для корректного разрешения линий, находящихся друг от друга на расстоянии не менее 0.6 эВ, необходимо получать спектр со средним уровнем шума не более 0.7%;

4. Для учета уширения спектральных линий вследствие неоднородной зарядки поверхности непроводящих образцов органических соединений предложено применение критерия %2, который характеризует уровень невязки исходного и восстановленного по результатам разложения спектров;

5. На примерах реакций присоединения брома к кратной углерод-углеродной связи, ацилирования спиртовой группы и конденсации карбонильной группы с гидразином оценена корректность результатов количественного анализа поверхности органических соединений по функциональным группам методом РФЭС с применением селективных химических реакций. Впервые установлено, что отсутствие учета побочных реакций и поляризующего влияния ближайших атомов приводит к ошибочным результатам. Показано, что точность количественного анализа можно существенно повысить, исследуя особенности протекания селективных химических реакций с помощью разработанной методики разложения РФЭ-спектров.

Заключение

.

Проведенные исследования показали, что для корректного разложения РФЭ-спектров органических соединений успешно применим метод ПФР. При этом не требуется введения дополнительной информации о структуре спектров. Разложение экспериментально полученных спектров целесообразно проводить, применяя в качестве ядра уравнения свертки экспериментально полученную одиночную Ь-линию таких, например, элементов, как углерод, азот, кислород, фтор. Получена оценка допустимого уровня спектрального шума. Предложен способ учета неоднородной зарядки непроводящих образцов органических соединений, заключающийся в оптимизации ширины ядра уравнения свертки по минимальной величине невязки исходного и восстановленного по результатам разложения спектров.

Разработанная процедура разложения РФЭ-спектров позволяет осуществлять количественный анализ ФГ в анализируемом поверхностном слое.

Изучение процессов маркирования ФГ, достаточно часто встречающихся в составе органических низкои высокомолекулярных соединений (кратная С-С-связь, ОН-, С=0-группы), показало, что СХР идут далеко не всегда однозначно, причем побочные процессы могут вносить достаточно ощутимый вклад в протекание реакции. Также показано, что изменение химического окружения ФГ приводит к изменению их реакционной способности, иногда весьма значительному. В связи с этим необходим учет особенностей протекающих реакций для получения корректных результатов. По вышеизложенным причинам можно рекомендовать применение метода СХР в качестве самостоятельного метода лишь для анализа таких ФГ, соответствующие которым РФЭ-линии располагаются друг к другу ближе, чем 0.6 эВ в шкале Есв, и не могут быть корректно разрешены при помощи ПФР. В то же время полученные результаты крайне важны для понимания процессов, протекающих на поверхности органических веществ. Кроме того метод СХР может помочь в решении и более общих вопросов изучения явлений на поверхности. Одним из них является проблема, связанная с возможным изменением реакционной способности функциональной группы органической молекулы (ее равновесной конфигурации), находящейся в поле поверхностных сил, по сравнению с таковой в объеме. Экспериментальное изучение реакционной способности функциональной группы может не только послужить основанием для более детального исследования кинетики поверхностных химических реакций, но и основанием для квантовохимических расчетов, описывающих поведение молекул органических соединений на поверхности.

Как показали наши исследования, весьма перспективным представляется совместное использование метода ПФР и метода СХР для изучения химических процессов, протекающих на поверхности органических соединений.

Показать весь текст

Список литературы

  1. А. Физическая химия поверхности. М.: Мир, 1979. — 568 с.
  2. В.И., Черепин В. Т. Физические методы исследования поверхности твердых тел. М.: Наука, 1983. — 296 с.
  3. Электронная и ионная спектроскопия твердых тел. / Под ред. Фирменса JI. и др. -М.: Мир, 1981. -467 с.
  4. Методы анализа поверхностей. / Под ред. Зандерны А. М.: Мир, 1979. -582 с.
  5. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. / Под ред. Бриггса Д., Сиха М. П. / Пер. с англ. -М.: Мир, 1987.- 600 с.
  6. Nuzzo R.G., Smolinsky G. Preparation and Characterization of Functionalized Polyethylene Surfaces. // Macromol., 1984. У. 17. — № 5. — P. 1013−1019.
  7. А.Г. Модификация структуры и свойства полиолефинов. JL: Химия, 1984. — 152 с.
  8. В.Н. Физические методы модификации полимерных материалов. М.: Химия, 1980. — 224 с.
  9. Briggs D. Surface Analysis and Pretreatment of Plastics and Metals. / Ed. by D.M.Brewis. London & N. Jersey, 1982. — 268 p.
  10. В.И., Кодолов В. И., Михайлова С. С. Строение и свойства поверхности полимерных материалов. М.: Химия, 1988. — 192 с.
  11. Carley A.F., Joyner R.W. The Application of Deconvolution Methods in Electron Spectroscopy a Review. // J. Electron Spectrosc., 1979. — Y.16. — P. 123.
  12. Maddams W.F. The Scope and Limitations of Curve Fitting. // Appl. Spec., 1980.-V.34.-№ 3.-P. 245−267.
  13. Ershov N.V., Ageev A.L., Vasin Y.V., Babanov Yu.A. A New Interpretation of EXAFS Spectra in Real Space. II. A Comparison of the Regularization Technique with the Fourier Transfonnation Method. // Phys. Stat. Sol. (b), 1981. V. 108. — № 1. — P. 103−111.
  14. Voronina E.V., Ershov N.V., Ageev A.L. and Babanov Yu.A. Regular Algorithm for the Solution of the Inverse Problem in Moessbauer Spectroscopy. // Phys. Stat. Sol.(b), 1990. Y.160. P. 625.
  15. Surnin D.V., Ruts Yu.V., Guy D.E., Kadikova A.H. et al. The Comparison Between Mathematical Treatment by Fourier Transform and Regularization Method. // Book of Abstracts of 5 International ICSOS Conference. France, Aux, 1996. -Tu.001. P.l.
  16. A.H., Гончарский А. В., Степанов В. В., Ягола А. Г. Регуляризи-рующие алгоритмы и априорная информация. М.: Наука, 1983. — 200 с.
  17. Briggs D. New Developments in Polymer Surface Analysis. // Polymer, 1984. Y.25. -№ 10.-P. 1379−1391.
  18. Batich C.D. Chemical Derivatization and Surface Analysis. // Appl. Sur. Sci., 1988. Y.32. — P. 57−73.
  19. Andrade J.D. In: Surface and Interfacial Aspects of Biomedical Polymers Y. 1. // X-ray Photoelectron Spectroscopy. — Plenum Press, New York, 1985. — Ch.4. — P. 105−195.
  20. Everhart D.S., Reilley C.N. Chemical Derivatization in Electron Spectroscopy for Chemical Analysis of Surface Functional Groups Introduced on Low-Dencity Polyethylene Film. //Anal. Chem., 1981. V. 53. — P. 665−676.
  21. Ф. Анализ основных функциональных групп в органических соединениях. М.: Мир, 1965. — 207 с.
  22. С., Ханна Дж. Г. Количественный органический анализ по функциональным группам. М.: Химия, 1983. — 672 с.
  23. Gerenser L.J., Elman J.F., Mason M.G., Pochan J.M. E.S.C.A. Studies of Corona-Discharge-Treated Polyethylene Surfaces by Use of Gas-Phase Derivatization. // Polymer, 1985. Y.26. — № 8. — P. 1162−1166.
  24. Pochan J.M., Gerenser L.J., Elman J.F. An E.S.C.A. Study of the Gas-Phase Derivatization of Poly (ethylene terephtalate) Treated by Dry-Air and Dry-Nitrofgen Corona Discharge. // Polymer, 1986. У. 27. — № 7. — P. 1058−1062.
  25. Chilcoti A., Ratner B.D., Briggs D. Plasma-Deposited Polymeric Films Prepared from Carbonyl-Containing Volative Precursors: XPS Chemical Derivatization and Static SIMS Surface Characterization // Chem. Mater., 1991. V.3. -№ 1. — P. 51−61.
  26. Т.А. Фотоэлектронная и оже-спектроскопия.- / Пер. с англ. -JL: Машиностроение, 1981. 431 с.
  27. Siegbahn К., Nordling С., Fahlman A. et al. ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. // Nova Acta Regiae Soc. Sci. Upsal. Ser. IV, 1967. V.20. — 260 p.
  28. В.И., Кодолов В. И., Михайлова С. С. Строение и свойства поверхности полимерных материалов.-М.: Химия, 1988.- 192с.
  29. Wagner C.D., Riggs W.M., Davis L.E., Moulder J.F. Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy. // Ed. Muldenberg G.E. Perkin-Elmer Corp., Eden Prairie, Minnesota, 1979. — 190 p.
  30. В.И. Применение рентгеноэлектронной спектроскопии в химии. М.: ВИНИТИ, 1975. — 176 с.
  31. Баринский P. JL, Нефедов В. И. Рентгеноспектральное определение эффективного заряда атома. М.: Наука, 1966. — 247 с.
  32. В.И., Порай-Кошиц М.А. Аддитивный характер сдвигов внутренних уровней атомов в химических соединениях.- Журн. структурной химии, 1972. Т.13. — № 5. — С. 865−868.
  33. Gelius U., Heden P.F., Hedman J., Lindberg B.G. et al. Molecular Spectroscopy by Means of ESCA. III. Carbon Compounds. Chem. Scr., 1970. -Y.2. -№½. — P. 70−80.
  34. Lindberg B.J., Hedman J. Molecular Spectroscopy by Means of ESCA. VI. Group Shift for N, P and As Compounds. Chem. Scr., 1975. — Y.7. — № 4. -P. 155−166.
  35. .М., Детлаф A.A. Справочник по физике. Изд. 5-е.- М.: Наука, 1971.-С. 648.
  36. Beamson G. and Briggs D. High Resolution XPS of Organic Polymers. The Scienta ESCA300 Database. John Wiley & Sons. Chichester, New York, Brisbane, Toronto, Singapore, 1992. 582 p.
  37. Swift P., Shuttleworth D., Seah M.P. in Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy. / Ed. by Briggs D. and Seah M.P. John Willey & Sons. Chichester, New York, Brisbane, Toronto, Singapore, 1983.
  38. Brandt E.S., Untereker D.F., Reilley C.N., Murray R.W. A Comparison of Carbon Contaminant Build Up on Conductors and Insulators in X-Ray Photoelectron Spectroscopy. // J. Electron Spectrosc., 1978. V.14. — № 2. — P. 113−120.
  39. Nefedov V.l., Salyn Ya.V., Leonhardt G., Sheibe R. A Comparison of Different Spectrometers and Charge Corrections Used in X-Ray Photoelectron Spectroscopy. //J. Electron Spectrosc., 1977. Y.10. — № 2. — P. 121−124.
  40. Nordberg R., Brecht U., Albridge R.G. et al. Binding Energy of 2p Electrons of Silicon in Various Compounds.- Inorg. Chem., 1970. V.9. — № 11. -P. 2469−2474.
  41. Johansson G., Hedmann J., Berndtsson A. et al. Calibration of Electron Spectra. // J. Electron Spec., 1973. V.2. — № 2. — P. 295−317.
  42. В.И., Кахана М. Н. Выбор стандарта в рентгеноэлектронном методе анализа. // Журн. аналит. химии, 1972. Т.27. — № 10. — С. 1249−1252.
  43. Bremser W., Linemann F. Problem of Calibration in X-Ray Photoelectron Spectroscopy.//Chem. Ztg., 1971. Bd.95. — № 23. — S. 1011−1013.
  44. Connor J.A. Handbook of X-Ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy. / Ed. D. Briggs. Heyden, London, 1977. — Ch.5. — P. 183.
  45. Kohiki S., Ohmura Т., Kusao K. A New Charge Correction Metod in X-Ray Photoelectron Spectroscopy. // J. Electron Spec., 1983. V.28. — P. 229−237.
  46. Savitsky A., Golay M.J.E. // Anal. Chem., 1964. V.36. — P. 1627. «
  47. Proctor A., Sherwood P.M.A. Smoothing of Digital X-Ray photoelectron Spectra by an Extended sliding Least-Squares Approach. // Anal. Chem., 1980. -V.52. P. 2315−2321.
  48. B.H., Орлов А. Г., Никитина Г. В. Книга для начинающего исследователя-химика. Л.: Химия, 1987. — С. 181−183.
  49. Lephardt J.О., Transform Techniques in Chemistry / Ed. P.R. Griffits), Ch. l 1, Plenum Press, New York, 1978. P. 285.
  50. B.C., Селина А. Ю., Чистякова Н. И. Повышение разрешения в мессбауэровской спектроскопии: линейные методы обработки. М.: МГУ, 1998.- 37 с.
  51. Proctor A. and Sherwood P.M.A. Data Analysis Techniques in X-Ray Photoelectron Spectroscopy. // Anal. Chem., 1982. V.54. — P. 13−19.
  52. В.А., Сирая Т. Н. Методы обработки экспериментальных данных при измерениях. Л.: Энергоатомиздат, 1990. — С. 112.
  53. Pavlath А.Е. and Millard М.М. Analysis of X-Ray Photoelectron Spectra Trough Their Even Derivatives. // Applied Spectrosc., 1979. V.33. — N5. — P. 502−509.
  54. Beatham N. and Orchard A.F. The Application of Fourier Transform Techniques to the Problem of Deconvolution in Photoelectron Spectroscopy. // J. Electron Spec., 1976. Y.9. — P. 129−148.
  55. I. // Nucl. Instr. and Meth., 1982. У. 199. — P. 247.
  56. В., Sopizet R. Gressus C.Le. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 1987. V.42. — P. 329.59. van Cittert P.H. //Z. Phys., 1931. V.69. — P. 298.
  57. Briggs D. and Kendall C.R. Derivatization of Discharge-Treated LDPE: an Extension of XPS Analysis ans a Probe of Specific Interactions in Adhesion. // Adhesion and Adhesives, 1982. P. 13−17.
  58. Gombotz W.R., Hoffman A.S.Functionalization of Polymeric Films by Plasma Polymerization of Allyl Alcohol and Allylamine. // J. of Appl. Polym. Sei.: Appl. Polym. Symp. 1988. V. 42. — P. 285−303.
  59. Zeggane S., Delamar M. XPS Study of the Penetration and Reaction Speed of Polymer Derivatisation Reagents. // Appl. Surf. Sei., 1988. Y.31. — № 1. — P. 151−156.
  60. Riggs W.M., Dwight D.W. Characterization of Fluoro-Polymer surfaces. //J. Electron Spectrosc. and Related Phenom., 1974. Y. 5. — P. 447−460.
  61. Reilley C.N., Everhart D.S. In: Applied Electron Spectroscopy for Chemical Analysis./ Eds. H. Windawi and F.F.-L.Ho.Willey. N.-Y., 1982. -P. 105−134.
  62. Общая органическая химия: Пер. с англ./ Под ред. Бартона Д., Оллиса У. Д. М.: Химия, 1981. — в 12 т.
  63. А.Е. Избранные главы органической химии: Учебное пособие для вузов. 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Химия, 1990. — 560 с.
  64. Dickie R.A., Hammond J.S., de Yries J.E., Holubka J.W. Surface Derivatization of Hydroxyl Functional Acrylic Copolymers for Characterization by X-Ray Photoelectron Spectroscopy. //Anal.Chem., 1982. V. 54. — P. 2045.
  65. Inagaki N., Kubokawa Y. Plasma Polymerization of Ethylene Glycol Monomethylether and Water-Vapor Permeability. // J. Pol. Sci., 1989. Part. A. -V. 27. — P. 795−805.
  66. Zeggane S., Dubois J.E. XPS Identification of Functional Groups Responsible for the Adhesion of Polyethylene Mixtures to Aluminium. // 23rd Annu. Conf. Adhes., London, 1985- New York, 1986. P. 57−59.
  67. Nuzzo R.G.and Smolinsky G. Preparation and Characterization of Functionalized Polyethylene Surfaces. // Macromol., 1984. V. 17. — P. 1013−1019.
  68. D.R. Knapp. Handbook of Analytical Derivatization Reactions. A Wiley-Interscience Publication. John Wiley & Sons. — New York, Chichester, Brisbane, Toronto, 1979. — 741 p.
  69. D.S., Reilley C.N. // Surf, and Interface Anal., 1981. V. 3. — № 6. -P. 258.
  70. Nakayama Y., Takahagi Т., Soeda F., Hatada K., Nagaoka S., Suzuki J., Ishitani A. XPS Analysis of NH3 Plasma-Treated Polystyrene Films Utilyzing
  71. Gas Phase Chemical Modification.//J. of Polym. Sci.: Part A: Polym. Chem., 1988. Y. 26. — № 2. — P. 559−572.
  72. Delamar M., Zeganne S., Dubois J.E. XPS Identification of Functional Groups Responsible for the Adhesion of Polyethylene Mixtures to Aluminium. //"Adhes. 10. 23rd Annu. Conf. Adhes. and Adhes., London, 1985″. London- New York, 1986. — P. 57−59.
  73. Denison P., Jones F.R., Watts J.F. X-Ray Photoelectron Spectroscopic Analysis of Barium-Labelled Carbon Fibre Surfaces. // J. of mater. Sci., 1985. -V.20. P. 4647−4656.
  74. Denison P., Jones F.R. and Watts J.F. The Use of XPS and Labelling Techniques to Study the Surface Chemistry of Carbon Fibres. // J. Phys. D.: Appl. Phys., 1987. V.20. — P. 308−310.
  75. С., Munro H.S. // Polym. Commun. 1987. V. 29. — № 2. — P. 47.
  76. Andrade J.D., Chen W.-Y. // Surface and Interface Anal., 1986. V. 8. — № 6.- P. 253.
  77. Pennings J.F.M., Bosman B. // Coll. Polym. Sei., 1980. Y. 258. — P. 1099.
  78. Lanauze J.A., Myers D.L. Ink Adhesion on Corona-Treated Polyethylene Studied by Chemical Derivatization of Surface Functional Groups. -J.Appl.Polym.Sci., 1990. V. 40. — P. 595.
  79. D.S., Reilley C.N. // Surf, and Interface Anal., 1981. V. 3. — № 3. -P. 126.
  80. E. V., Ageyev A.L., Yelsukov E. P. // Nucl. Instr. and Meth., 1993.- V. B73. P. 90.
  81. A.P., Meier R.J. // J. Electron Spectrosc. Pelated Phenom., 1987. -V.43.-P. 131.
  82. Pijpers A.P. Donners W.A.B. // J. Polym. Sei., Polym. Chem. Ed., 1985. -Y.23. P. 453.
  83. Dunn W.A. and Dunn T.S. An Asymmetric Model for XPS Analysis. // Surf, and Interface Anal., 1982. Y.4. — № 3. — P. 77−88.
  84. Shaw R.W., Thomas T.D. Chemical Effects on the Lifetime of ls-Hole States. // Phys. Rev. Lett., 1972.- Y.29.- № 11, — P.689−692.
  85. Friedman R.M., Hudis J., Perlman M.L. Chemical Effects on Linewidths Observed in Photoelectron Spectroscopy. // Phys. Rev. Lett., 1972.- V.29.- № 11.-P.692−695.
  86. Справочник химика. М., JL: Химия, 1964, Т.2. — 1168 с.
  87. В.А., Хавин 3.Я. Краткий химический справочник. JL: Химия, 1978. — 392 с.
  88. Handbook of Data on Organic Compounds.- Ed. Weast R.C. et al., CRC Press, Inc., Boca Raton, Florida, 1985. P. 791.
  89. The Aldrich Handbook of Fine Chemicals.- Aldrich Chemical Company, Inc., 1994−1995. P. 572.
  90. B.H. Количественный анализ./ Под ред. Агасяна П. К., М.: Химия, 1972. С. 395.
  91. М.И., Калинкин И. П. Практическое руководство по фотоколориметрическим и спектрофотометрическим методам анализа. Л.: Химия, 1976. — 376 с.
  92. Препаративная органическая химия: Пер. с польск./ Под общ. ред. Вульфсона Н. С. М., Л.: Химия, 1964. — 908 с.
  93. А.Я. Техника лабораторной работы в органической химии. -М.: Химия, 1973. 368 с.
  94. А.А., Дорфмап A.M., Ляхович A.M., Михайлова С. С., Повсту-гар В.И. Особенности бромирования кратных С-С связей на поверхности органических соединений. // Тез. докл. Первая всеросс. конф. СПб, 1999, С. 48−49.
  95. Шур A.M. Высокомолекулярные соединения. М.: Высшая школа, 1966.- 504 с.
  96. A.C., Темникова Т. И. Теоретические основы органической химии. J1.: Химия, 1979. — 520 с.
  97. Гауптман 3., Грефе Ю., Ремане X. Органическая химия: Пер. с нем. -М.: Химия, 1979. 832 с.
  98. Вейганд-Хильгетаг Г. Методы эксперимента в органической химии: Пер. с нем./ Под ред. Суворова H.H. М.: Химия, 1968. — 944 с.
  99. Kang Е.Т. et al. XPS Studies of Charge Transfer Interactions in Some Poliphenylacetylene-Electron Acceptor Systems. // J. Polym. Sei.: Part. B: Polym. Phys., 1989.-V. 21.- P. 2061.
  100. Idage S.B., Badrinarayanan S., Yernekar S.P. and Sivaram S. X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Sulfonated Polyethylene. // Langmuir, 1996. -№ 12. P. 1018−1022.
  101. В.И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений.» М.: Химия, 1984. 256 с.
  102. Povstugar V.l., Lyakhovich A.M. and Shakov A.A. Bromination Reaction in C=C Double Bond Determination by XPS. // J. Elec. Spec., 1994. V.68. — P. 565−568.
  103. А. Справочник по органическим реакциям. M.: Химия, 1962. -С. 83.
  104. ИЗ. Некрасов Б. В. Основы общей химии. М.: Высшая школа, 1966. — Т.1. -С. 272.119
  105. П. Курс органической химии: Пер. с нем./ Под ред. Колосова М.Н.-М., Л&bdquo- i960. 1216 с.
  106. Н.К. и др. Химия углеводов. М.: Химия, 1967. — 672 с.
  107. Ю.П., Бузыкин Б. И. Гидразоны. М.: Наука, 1974. — С. 18.
  108. Химия гидразонов. / Под ред. Китаева Ю. П. М.: Наука, 1977. — 208 с.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!