Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Определение газообразующих примесей в твердых веществах методом лазерной масс-спектрометрии

Диссертация: Определение газообразующих примесей в твердых веществах методом лазерной масс-спектрометрии
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Апробация работы. Результаты работы были представлены на XI и XII конференциях по химии высокочистых веществ (г. Нижний Новгород, 2000, 2004 гг.) — XIII Международном симпозиуме по неоксидным стеклам и новым оптическим материалам (г. Пардубице, Чехия, 2002 г.) — VIII Аналитическом Русско-германо-украинском симпозиуме «ARGUS» (г. Гамбург, Германия, 2003 г.) — Всероссийской конференции… Читать ещё >

Определение газообразующих примесей в твердых веществах методом лазерной масс-спектрометрии (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ГАЗООБРАЗУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ В ТВЕРДЫХ ВЕЩЕСТВАХ
    • 1. 1. Высокотемпературная экстракция
    • 1. 2. Радиоактивационный анализ
    • 1. 3. Электрохимические методы определения газообразующих примесей с использованием твердоэлектролитных ячеек
    • 1. 4. Масс-спектрометрические методы
      • 1. 4. 1. Искровая масс-спектрометрия
      • 1. 4. 2. Лазерная масс-спектрометрия
        • 1. 4. 2. 1. Лазерный источник ионов
        • 1. 4. 2. 2. Масс-анализаторы. 26 1.4.2.3.Определение газообразующих примесей методом лазерной масс-спектрометрии
    • 1. 5. Экспериментальная установка тандемный лазерный масс-рефлектрон
  • ГЛАВА 2. ИССЛЕДОВАНИЕ АНАЛИТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МЕТОДА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГАЗООБРАЗУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ НА ТАНДЕМНОМ ЛАЗЕРНОМ МАСС-РЕФЛЕКТРОНЕ
    • 2. 1. Влияние поверхности образца на результаты анализа. Методика очистки поверхности
    • 2. 2. Метрологические характеристики метода
      • 2. 2. 1. Исследование влияния условий облучения поверхности пробы на метрологические характеристики метода
      • 2. 2. 2. Система автоматизированного управления TJ1MP
      • 2. 2. 3. Сходимость
      • 2. 2. 4. Воспроизводимость
      • 2. 2. 5. Правильность
      • 2. 2. 6. Предел обнаружения
  • ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА МЕТОДИК ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГАЗООБРАЗУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ В МАТЕРИАЛАХ ДЛЯ ВОЛОКОННОЙ ОПТИКИ И ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
    • 3. 1. Условия проведения эксперимента
    • 3. 2. Методики определения ГП в халькогенидных стеклах
      • 3. 2. 1. ГП в халькогенидных стеклах
      • 3. 2. 2. Разработка методик анализа
    • 3. 3. Методика определения ГП в кремнии
      • 3. 3. 1. ГП в кремнии
      • 3. 3. 2. Разработка методики анализа
    • 3. 4. Методика расчета результатов анализа и контроля метрологических параметров
  • ВЫВОДЫ

Актуальность. Газообразующими примесями (ГП) принято называть кислород, углерод, азот и водород. Такой термин возник в связи с тем, что при определении этих элементов методами высокотемпературной экстракции их выделяют из образцов в виде газов.

Содержание ГП в современных высокочистых веществах (ВВ) колеблется в пределах от 10″ 1 до 10″ 6% и, как показали данные Выставки коллекции веществ особой чистоты, в подавляющем большинстве случаев, их содержание определяет суммарную чистоту веществ [1]. Это связано с тем, что газообразующие элементы широко распространены в окружающей среде и обладают высокой химической активностью. Это затрудняет, с одной стороны, очистку от них веществ и материалов, с другой стороны, значительно усложняет процедуру аналитического контроля этих примесей. Главными причинами этого являются поверхностные загрязнения пробы и высокий фон аналитического оборудования.

Несмотря на интенсивные усилия аналитиков на протяжении более чем 30-летнего периода, методы высокочувствительного определения ГП немногочисленны и сложны [2], и разработка новых методов определения ГП с низкими пределами обнаружения на сегодняшний день является актуальной задачей.

Целью работы являлась разработка прямого масс-спектрометрического метода определения газообразующих примесей в твердых веществах на тандемном лазерном масс-рефлектроне (TJIMP) [3], в конструкции которого предусмотрен ряд мер для реализации низких пределов обнаружения по газообразующим примесям.

Научная новизна. Разработана новая высокоэффективная система регистрации ионов TJIMP, обеспечивающая реализацию пределов обнаружения ГП в широком классе твердых веществ на уровне п><10″ 7 мас.%.

Разработана методика очистки поверхности пробы лазерным излучением с модулированной добротностью, включающая как предварительную очистку, так и непосредственную очистку в ходе анализа.

Исследовано влияние условий воздействия лазерного излучения на параметры (выход и зарядовый состав) образующейся плазмы при облучении твердых веществ в условиях эксперимента на ТЛМР. Показано существенное влияние процессов ионообразования при определении газообразующих примесей в твердых веществах на воспроизводимость и правильность результатов анализа.

Предложена система стабилизации процессов ионообразования, основанная на сохранении постоянства количеств однои двухзарядных ионов основы анализируемого вещества. Стабилизация достигается постоянством положения плоскости образца относительно плоскости фокусировки лазерного излучения. Показано, что, при проведении анализа в условиях стабилизации ионообразования воспроизводимость результатов анализа может быть увеличена более чем в пять раз.

Разработан прямой масс-спектрометрический метод определения ГП в твердых высокочистых веществах. Метод характеризуется линейной зависимостью аналитического сигнала от содержания для всех определяемых примесей, экспериментально определенной, в диапазоне -6 -2 концентраций 10 — 10 мае. %. Сходимость и воспроизводимость результатов в указанном диапазоне характеризуется величиной относительного стандартного отклонения 0,05 — 0,23. Экстраполяцией градуировочных характеристик для кремния, халькогенидных стекол и металлов пределы обнаружения для кислорода и углерода оценены на.

— 7 -8 уровне 7×10 мае. % и 1×10 мае. % для водорода, определенного по дейтерию в стандартном образце алюминия.

Практическая значимость работы. Аттестована методика лазерного масс-спектрометрического определения газообразующих примесей, в твердых высокочистых веществах, которая включена в область аккредитации Испытательного аналитико-сертификационного центра (ИАСЦ) ИХВВ РАН. Методика неоднократно использовалась для контроля содержания газообразующих примесей в различных твердых веществах, в том числе экспонатов Выставки-коллекции веществ особой чистоты, и включена в состав методик международного проекта по аттестации примесного состава высокочистого моноизотопного кремния 28 для уточнения числа Авогадро.

Разработанный метод был использован в рамках широкого межлабораторного эксперимента по аттестации ГСО меди с низким содержанием кислорода, разрабатываемого в Государственном научном центре «Уральский институт металлов», г. Екатеринбург. Принятое, по результатам межлабораторного эксперимента, аттестованное значение составило 6×10″ 5 мае. %, что совпало с результатами измерений на TJIMP.

На защиту выносятся следующие положения.

1. Метод стабилизации процессов ионообразования, основанный на сохранении постоянства количеств однои двухзарядных ионов основы анализируемого вещества.

2. Методика очистки поверхности образцов от ГП лазерным излучением в режиме модулированной добротности.

3. Аналитические характеристики TJIMP: сходимость, воспроизводимость, правильность, предел обнаружения, при определении ГП в металлах, халькогенидных стеклах и кремнии.

4. Прямой масс-спектрометрический метод определения ГП в твердых высокочистых веществах: металлах, неоксидных стеклах, кремнии.

Апробация работы. Результаты работы были представлены на XI и XII конференциях по химии высокочистых веществ (г. Нижний Новгород, 2000, 2004 гг.) — XIII Международном симпозиуме по неоксидным стеклам и новым оптическим материалам (г. Пардубице, Чехия, 2002 г.) — VIII Аналитическом Русско-германо-украинском симпозиуме «ARGUS» (г. Гамбург, Германия, 2003 г.) — Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России» (г. Москва, 2004 г.) — VII Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика Сибири и Дальнего Востока» (г. Новосибирск, 2004 г.) — VII Международном симпозиуме «Чистые металлы» (г. Харьков, Украина, 2001 г.) — V и VI Нижегородских сессиях молодых ученых (г. Дзержинск, 2000, 2001 гг.) — III Конференции молодых ученых-химиков г. Нижнего Новгорода (2000 г.).

Публикации. По материалам диссертации опубликовано 5 статей и тезисы 12 докладов. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант 03−03−32 947), Программы ОХНМ РАН № 2, проектов ISTC 2630 и 2980.

Объем и структура диссертации.

Диссертационная работа состоит из введения, трех глав, выводов, приложения и списка цитируемой литературы. Первая глава посвящена литературному обзору данных о современных методах определения ГП в твердых веществах. Во второй главе изложены результаты исследования аналитических характеристик разработанного метода. Показано влияние поверхности образца на результаты анализа, изложена методика очистки поверхности. Определены основные факторы, влияющие на метрологические характеристики метода, описана система автоматизированного управления TJIMP, позволяющая решить задачу.

ВЫВОДЫ.

1. Разработан метод определения газообразующих примесей (водорода, углерода, азота, кислорода) в широком классе твердых высокочистых веществ на тандемном лазерном масс-рефлектроне.

2. Метод характеризуется линейной зависимостью аналитического сигнала от содержания для всех определяемых примесей в диапазоне «6 «2 концентраций 10 — 10 мае. %. Сходимость и воспроизводимость результатов в указанном диапазоне характеризуется величиной относительного стандартного отклонения 0,05 — 0,23.

3. Для кремния, халькогенидных стекол и металлов получены пределы.

— 7 обнаружения для кислорода и углерода на уровне 7×10 мае. %,.

— 7 -8 водорода — 5 х Ю мае. % и 1 х Ю мае. % для водорода в алюминии, определенного по дейтерию в стандартном образце алюминия.

4. Разработана методика очистки поверхности пробы лазерным излучением с модулированной добротностью, включающая предварительную очистку поверхности проб и постоянную очистку ее в ходе анализа.

5. Исследовано влияние условий воздействия лазерного излучения на параметры (выход и зарядовый состав) образующейся плазмы при облучении твердых веществ в условиях эксперимента на TJIMP. Показано существенное влияние процессов ионообразования при определении газообразующих примесей в твердых веществах на воспроизводимость и правильность результатов анализа.

6. Предложена система стабилизации ионного тока лазерного источника ионов, основанная на сохранении постоянства количеств однои двухзарядных ионов основы анализируемого вещества. Стабилизация достигается постоянством положения плоскости образца относительно плоскости фокусировки лазерного излучения. Показано, что, при проведении анализа в условиях стабилизации ионообразования воспроизводимость результатов анализа увеличивается более чем в пять раз.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Г. Г., Ковалев И. Д., Малышев К. К. и др. «Анализ данных по примесному составу образцов простых твердых веществ Выставки коллекции веществ особой чистоты.» // Высокочистые вещества. 1992. № 5−6.
  2. Сборник статей по анализу высокочистых веществ под ред. Мясоедова Б. Ф. // Наука. 1987. стр. 166−187.
  3. И. Д. Малышев К.Н. Шмонин П. А. // Жури, аиалит. химии. 1998. Т.53. № 1. С. 38.
  4. K.G. Staffer, J.H. Phyllips // Analit. Chem.1955. 27. № 5. p.773.
  5. Ю.А.Карпов, К. Ю. Натансон «Кинетика и термодинамика взаимодействия газов с жидкими металлами.» // М. Наука. 1974. стр.182−185.
  6. А.В. Завьялов, Ю. А. Карпов // Жури, аиалит. химии. 1974. т.29. с.1620−1625.
  7. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов // Завод, лаб. 1981. т.47. № 9. с. 40−48.
  8. В.А. Данилкин, B.C. Талаев «Методы исследования и определения газов в металлах и неорганических материалах.» // Тез. докл. JL: Наука. 1979. с. 79.
  9. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов, К. В. Кондаков // Высокочистые вещества. 1993. №.6. с. 100.
  10. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов // Журн. аиалит. химии. 1995. т.50. № 9. с.987−993.
  11. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов, Ю. А. Быстров // Завод, лаб. 1996. т.62. № 5. с. 1−7.
  12. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов, Ю. А. Быстров // Завод, лаб. 1996. т.62. № 7. с. 1−4.
  13. П.Н. Петров, Ю. А. Карпов, Ю. А. Быстрое // Завод, лаб. 1996. т.62. № 9. с. 1−6.
  14. П.Н. Петров, Б. В. Маркин // Завод, лаб. 1996. т.62. № 8. с. 1−9.
  15. Ю.В.Ревин//Автореферат кандидатской диссертации. Г:. 1983.
  16. B.C. Талаев, В. А. Данилкин // Журн. аналит. химии. 1974. т.29. № 4. с.773−778.
  17. Р.А. Савинков, А. А. Киселев, О. П. Обухов // Журн. аналит. химии. 1974. т.29. № 4. с.779−784.
  18. Р. А. Кузнецов // Активационный анализ. М. Атомиздат. 1967.
  19. Д. Тейлор // Нейтронное излучение и активационный анализ. Перев. с англ. Под ред. А. С. Штаня. М:. Атомиздат. 1965.
  20. L. A. Currie // Analit. Chem. 1968. 40. р.586.
  21. Jl. И. Мосеев, В. И. Блохин, В. К. Богатырев // Журн. аналит. химии. 1968. т.23. № 11. с. 1695.
  22. С. Engelmann // J. Radioanal. Chem. 1971. 7. p.89.
  23. B.B. Сулин «Состояние работ в области создания и применения способов гамма-активационного элементного анализа различных веществ.» // М:. Изд. ВНИИ ядерной геологии и геохимии. 1968.
  24. G. I. Lutz //Analit. Chem. 1971. 43. № 1. р.93.
  25. D.B. Beard., K.G. Johnson, W.G. Bradshaw // Nucleonics. 1957.17. № 7. p.90.
  26. R. Basil, e. a. // Compt. Rend. 1954. 239. № 5. p.442.
  27. С.П. Капица, B.H. Мелехин // Микротрон. M:. «Наука». 1969.
  28. С. Engelmann // J. Radioanal. Chem. 1970. 6. p.227.
  29. C. Engelmann // Комиссариат по атомной энергии (Сакле), отчет CEA-R 3307.1967.
  30. Н.Н. Краснов, П. П. Дмитриев, И. О. Константинов, Г. А. Молин // Атомная энергия. 1969. 27. вып. 2. с. 125.
  31. Н.Н. Краснов, П.ГТ. Дмитриев, И. О. Константинов, Г. А. Молин // Атомная энергия. 1970. 28. вып. 6. с. 503.
  32. JI.JI. Кунин, Е. Д. Маликова, Б. А. Чапыжников «Определение кислорода, углерода, азота и водорода в Щелочных и щелочноземельных металлах.» // М:. Атомиздат. 1972.
  33. S.S. Markowitz, J.D. Mahony // Anal. Chem. 1962. 34. 3. 329.
  34. A.C. Demildt // Anal. Chem. 1963.35. 9.1228.
  35. P. Albert, C. Engelmann, S. May, J. Petit // Compt. Rend., 1962, 254, № 1, p.119.
  36. JI. И. Мосеев, А. И. Ластов, В. И. Блохин // Труды II Всесоюзного совещания по активационному анализу., Ташкент, 1968.
  37. М. Н. Щулепников, Г. И. Александрова и др. // Завод.лаб., 1981, т.47, стр.26−31.
  38. В.К. Даруга, Н. Н. Краснов // Атомная энергия, 1971, 30, вып. 4, с. 399.
  39. С.Н. Венков, Б. Г. Егиазаров, Л. А. Корытко // Атомная энергия, 1971,31, вып. 3, с. 227.
  40. Б.С. Джелепов, Л. К. Пеккер «Схемы распада радиоактивных ядер.» // М. Л., Изд-во АН СССР, 1958.
  41. А.В. Андреев, И .Я. Барит и др. // Журн. аналит. химии. 1966, т.21, № 12, с. 1453.
  42. Б.С. Алпатьев и др. // Завод, лаб., 1966, т.32, № 12, с. 1492.
  43. М. Valladon, G. Blodiaux, С. Koemmerer et. al. // J. Radioanal. Chem., 1980, Vol. 58,½, p.169−172.
  44. B. Borderie, J. Debrun // Ibid., 1977, vol.37, № 1, p. 297−306.
  45. K. Ishii, M. Valladon, J. Debrun // Nucl. Instrum. and Meth., 1978, vol.150, № 2, p. 213−219.
  46. X. Евжанов, Б. А. Чапыжников, Е. Д. Маликова, J1.JI. Кунин «Методы определения газов в металлах и сплавах.» // М., Дом научно — техн. пропаганды, 1971, с. 140.
  47. X. Евжанов, Б. А. Чапыжников, Е. Д. Маликова, JI.JI. Кунин // Журн. аналит. химии. 1971, т.26, № 7, с. 1373.
  48. G. I. Lutz, D.A. Soete // Analit. Chem.1968, 40, № 4, p.821.
  49. B.A. Кочеванов, P.A. Кузнецов // Завод, лаб., 1965, т.31, № 2, с. 204.
  50. К.П. Артемов, В. З. Гольдберг, И. П. Петров и др. // Атом, энергия, 1973, т.34, с. 215−270.
  51. Е. Ligeon, J. P. Budeat, R. Danielov et al. // J. Radional. Chem., 1980. vol.55, № 2, p.367−378.
  52. J. R. McGinley, L. Zikovsky, E. A. Schweikert // Ibid., 1977, vol.37, № 2, p.275−283.
  53. B. D. Lass, J.F. Ojo, E. A. Schweikert // Ibid., 1980, vol.60, № 1, p. 255 260.
  54. JI. JI. Кунин, В. П. Лузгин и др. // Журн. аналит. химии. 1973, т.28, с. 353.
  55. R.Steffen // Stahl und Eisen., 1974, Bd.94. № 12, s. 547−551.
  56. B.H. Чеботин, M.B. Перфильев «Электрохимия твердых электролитов.» // М., Химия, 1978, стр. 302.
  57. С.В. Alcock, Т. N. Belford // Trans. Faraday Soc., 1964, vol.60, p.822−835.
  58. А.А. Богданов, В. И. Родионов, Л. Л. Кунин «Твердые электролиты и их аналитическое применение.» // Ангарск, 1981, с. 31.
  59. В.И. Родионов, А. А. Богданов, Л. Л. Кунин // I Всесоюз. конф. по анализу неорганических газов: Тез. докл., Л.: Наука, 1983, с. 224.
  60. Ю.А. Карпов, И. П. Алимарин // сб. Методы анализа высокочистых веществ под. ред. Ю. А. Карпова, М.: Наука, 1987, с. 23−41.
  61. Масс-спектрометрический метод определения следов // под. ред. А. Ахерна, М.: Мир, 1975, с. 453.
  62. М.С. Чупахин, О. И. Крючкова, Г. И. Рамендик «Аналитические возможности искровой масс-спектрометрии.» // М.: Атомиздат, 1972, с. 221.
  63. Г. И. Рамендик // Жури, аиалит. химии. 1983, т.38, № 11, с.2036−2050.
  64. E.R.Blosser, W.M.Henry // 1966, Final Rep., Bur. Nav. Weapons Contract Now 65−0365-c.
  65. J. Roboz, R. Wallace // 1963, Proc. Ann. Conf. Mass. Spectrosc. Allied Topics, 11th, San Francisco, California, p.572.
  66. W.L. Harrington, R.K. Skogerboe, G.H. Morrison // Anal. Chem., 1966, 38, 821.
  67. F.D. Leipziger, R.G. Guidoboni // Appl. Spectrosc., 1967,
  68. G. Vidal et. al. // Chim. Anal., 1968, Paris, 50,369.
  69. G. Vidal et. al. // Chim. Anal., 1970, Paris, 42, 98.
  70. G. Vidal et. al. // Chim. Anal., 1968, ONERA, 92 Chatillon, France, Note Tech., 125.
  71. G. Vidal et. al. // Conf G.A.M.S., 22 Octobre 1970.
  72. G. Vidal et. al. // Conf. Soc. Francaise de Metall. au Colloq. Sur dosage des elements interstititiels, St. Pierre de Chartreuse, 29 October 1970.
  73. A.H. Дорохов // Автореферат кандидатской диссертации, Новосибирск, 1978.
  74. А.И. Сапрыкин // Автореферат кандидатской диссертации, Новосибирск, 1984.
  75. И.Д. Ковалев, Н. В. Ларин и др. // Высокочистые вещества, 1987, №.1, с. 199.
  76. А.И. Сапрыкин, И. Р. Шелпакова, И. Г. Юделевич // Изв. Сиб. отд. наук, Сер. хим. наук, 1982, № 5, вып.12, с.77−81.
  77. R. Е. Honig «Laser induced emission of elektrons and positive ions from metals and semiconductors.» // Appl. Phys. Lett., 1963, vol.3, p.8.
  78. R.E.Honig. J.R.Woolston «Laser inducted emission of elektrons, ions and neutrals atoms from solid surface.» // Appl. Phys. Lett., 1963, vol.2, p.138.
  79. Н.Г. Басов, O.H. Крохин «Нагревание плазмы, образованной воздействием лазерного излучения на твердую мишень.» // Журнал эксперим. и теор. физики, 1964, т. 46, стр. 171−176.
  80. И.В. Немчинов «Стационарный режим движения нагреваемых излучением паров вещества при наличии бокового растекания.» // Прикл. матем. и механ., 1967. т. 31, № 2, стр. 300.
  81. С.И.Анисимов «Действие излучения большой мощности на металлы.» // JI., Наука, 1970, стр. 274.
  82. В.А.Бойко, О. Н. Крохин, Г. В. Склизков «Исследование параметров и динамики лазерной плазмы при острой фокусировке излучения на твердую мишень.» // Тр. Физ. ин-та АН СССР, 1974, т.52, стр.186−228.
  83. Ю.А. Быковский «Лазерный масс-спектрометрический метод анализа веществ особой чистоты.» // М.: Наука, 1979, с. 276.
  84. Ю.А. Быковский и др. // Приборы и техника эксперимента, 1977, вып.2, с.163−166.
  85. А.И. Борискин и др. // Приборы и системы управления, 1983, № 1, с.26−29.
  86. В.П. Захаров, И. М. Протас, В. Н. Чугаев // ЖТФ, 1971, т.41, с.1296−1298.
  87. Т.А. Басова, В. И. Борискин, А. С. Брюханов, Ю. А. Быковский, В. М. Еременко, В. М. Неволин // Высокочистые вещества, 1987,№ 3, с.49−54.
  88. N.C. Fenner, N.R. Daly // Rev. Sci. Instrum., 1966, vol.37, p.1068−1072.
  89. Ю.А. Быковский // ЖТФ, 1969, т.39, c.1272−1274.
  90. В.Н. Неволин // Автореферат кандидатской диссертации, МИФИ, 1973.
  91. П.П. Барзилович и др. // Тез. докл. II Всесоюзной конференции по масс-спектрометрии, Л.: Наука, 1974, с. 67.
  92. R. Kaufman, F. Hillenkamp, Е. Remy // Microscopica Acta, 1972, vol.37, p.1−15.
  93. F. Hillenkamp e. a. // Applied Physics, 1975, vol.73, p.341−348.
  94. R. Weschung e. a. // Microscopica Acta, 1978, vol.2, p.281−289.
  95. В.И. Каратаев, Б. А. Мамырин, Д. В. Шмикк // ЖТФ, 1971, т.41, с.1498−1501.
  96. Б.А. Мамырин и др. // Журн. эксперим. и теор. физ., 1973, т.64, с.82−85.
  97. И.Д. Ковалев, Н. В. Ларин, А. И. Сучков и др. // Приборы и техника эксперимента, 1985, № 6, с.139−142.t
  98. Г. Г. Манагадзе, Н. Г. Манагадзе // ЖТФ, 1999, вып.10, с.138−142.
  99. А.А. Сысоев, С. С. Потешин, А. И. Дряннов и др. // Приборы и техника эксперимента, 1977, № 4, с. 78−83.
  100. Alexander A Sysoev, Alexey A Sysoev, S.S. Poteshin at al. // Frezenius J. Anal. Chem., 1988, vol.361, p.261−266.
  101. А.А. Сысоев, С. С. Потешин, А. Ю. Адамов, И. В. Мартынова // Завод, лаб. Диагностика материалов, 2001, т.67, № 5, с.16−22.
  102. R.J. Cotter «Time-of Flight Mass Spectrometry» // American Chemical Society: Washington, 1997, Chapters 8 and 9.
  103. F.W. McLafFerty «Tandem Mass Spectrometry» // J. Wiley and Sons, New York, 1983.
  104. K.L. Busch, G.L. Glish, S.A. McLuckey «Mass Spectrometry/Mass Spectrometry» // VCH, New York, 1988.
  105. R.J. Cotter, T.J. Cornish // Anal. Chem., 65, 1993,1043−1047.
  106. T.J. Cornish, R.J. Cotter// Org. Mass Spectrom., 28,1993,1129−1134.
  107. T.J. Cornish, R.J. Cotter // Rapid Commun Mass Spectrom., 8, 1994, 781−785.
  108. D.J. Beussman, P.R. Vlasak at al. // Anal. Chem., 67,1995,3952−3957.
  109. В.П. Велюханов, Г. В. Михайлова и др. // Журн. аналит. химии, 1976, т.31, № 5, с.946−951.
  110. С.В. Черняков, Л. П. Шпак, В. И. Белоусов // Высокочистые вещества, 1987, №.2, с. 168−171.
  111. С.В. Черняков, В. И. Белоусов // Журн. аналит. химии, 1991, т.46, JV"9, с. 1734.
  112. Z. Shankai, P.J. Conzemins, H.J. Svec // Anal. Chem., 56, 1984, J4®3 p.382.
  113. П.А. Красовский, B.H. Неволин, В. П. Иванов и др. // Письма в ЖТФ, 1988, т.24, JV®7, с. 61 65.
  114. И.Д. Ковалев, П. А. Шмонин // Высокочистые вещества, 192, №.2, с. 168−172.
  115. И.Д. Ковалев, К. Н. Малышев, П. А. Шмонин // Журн. аналит. химии, 1998, т.53, №.1, с. 38−42.
  116. И.Д. Ковалев, К. Н. Малышев, П. А. Шмонин // Журн. аналит. химии, 1998, т.53, №.3, с. 303−306.
  117. Б.Я. Каплан, Ю. А. Карпов, Л. Н. Филимонов // сб. Методы анализа высокочистых веществ под. ред. Ю. А. Карпова, М.: Наука, 1987, с. 41−54.
  118. Ю.А Быковский, В. Н. Неволин «Лазерная масс-спектрометрия.» // М: Атомиздат, 1985, с. 128.
  119. Г. Г. Девятых, Н. В. Ларин, Г. А. Максимов, А. И. Сучков // Журн. аналит. химии, 1975, т. ЗО, JN®.4, с. 664−668.
  120. Белоусов В.И. II Журн. аналит. химии. 1984. Т.39. С.909−926.
  121. Ю.А., Дегтяренко Н. Н. и dp. II Журн. аналит. химии. 1974. Т 19. № 1. С.73−82.
  122. ИД., Ларин Н. В., Максимов Г. А., Сучков А. И., Феоктистов И.Ю. II Журн. тех. физ. т.50. № 2. С.429−432.
  123. Ю.А., Дегтяренко Н. Н. и dp. II Журн. аналит. химии. 1973. Т. 18. № 12. С.2540−2546.
  124. С.В., Ковалев И. Д., Ларин Н. В., Лучин В. И., Максимов Г. А., Сучков А. И., Понтус Л.И. II Письма в Журн. тех. физ. 1976. Т.2. № 19. С.906−1001.
  125. Ф., Рамендик Г. И., и др. II Журн. аналит. химии. 1987. Т.42. № 10. С.1783−1796.
  126. КГ., Рамендик Г. И., Шуранова Н.Г. II Журн. аналит. химии. 1995. Т.50. № 11, С.1203−1207.
  127. В.И., Овчаренко С. М., Черняков С. В. И Высокочистые вещества. 1987. № 1. С. 213.
  128. В.В. Безруков, М. А. Гурьянов, ИД. Ковалев, Д. К Овчинников «Система автоматизированного управления тандемным лазерным масс-рефлектроном.» // Масс-спектрометрия, 2005, т.1, № 4.
  129. В.В. Безруков, ИД. Ковалев, К. Н. Малышев, Д. К Овчинников. II Журн. аналит. химии. 2002, т.57, № 4, с.378−382.
  130. В.В. «Применение математической статистики при анализе вещества.» // М.: Физматгиз. 1960. 430 с.
  131. Термины, определения и обозначения метрологических характеристик анализа вещества. // ЖАХ, 1975, т.30, №.10, с. 2058−2063.
  132. G.L. Long., J.D. Winefordner // Anal. Chem., 55, 1983, № 7 p.712A-724A.
  133. А.Б. Бланк. // Журн. аналит. химии, 1979, т.34, №.1, с. 5−9.
  134. К. Бахмен // Актуальные проблемы материаловедения. М.: Мир, 1982, с.7−191.
  135. A.M. Гуревич «Введение в физическую химию кристаллофосфоров.» // М.: Высшая школа, 1971,336с.
  136. Б.М. Гольцман, В. А. Кудинов, И. А. Смирнов «Полупроводниковые термоэлектрические материалы на основе В12Тез.» Н М.: Наука, 1972, 320с.
  137. М. Кноль, И. Эйхмейер // Техническая электроника. Т.2. Электронные приборы. М.: Энергия, 1971, 456с.
  138. Р.С. Резников, Ю. П. Сельдяков «Промышленные полупроводниковые детекторы.» // М.: Атомиздат, 1975, 87с.
  139. P. Miles // Opt. Ingineering, 1976, V.15, № 5, Р.451.
  140. R. Frerichs // J. Opt. Soc. Amer., 1953, V.43, № 12, P. l 153.
  141. E.A. Кислицкая, В. Б. Носов, В. Ф. Кокорина // Физика и химия стекла, 1977, Т. З, № 7, с. 624.
  142. В.В. Химинец // Квантовая электроника: Межведомств, респ. сборник. Киев: Наукова думка, 1983, 24, с. 84.
  143. B.C. Минаев // Электронная промышленность, 1980, вып. 86(92)-9(93), с. 67.
  144. В.В. Химинец // Квантовая электроника: Межведомств, респ. сборник. Киев: Наукова думка, 1982, 23, с. 64.
  145. S. Shibata, М. Hariguchi, К. Junguji а.о. // Electron, lett., 1981, V.17, № 21, Р.775.
  146. К. A. Delfino // Proc. 4-th Int. Simp. Uses Selenium and Tellurium, Banff, May 7−10, Darien (Conn.), 1989, P.694.
  147. Э.Г. Ахундова, Д. Ш. Абдинов, Jl.C. Ларионкина, Г. М. Алиев // Изв. АН СССР, Неорганические материалы, 1969, Т.5, № 6, с. 1130.
  148. В.Г. Борисевич, В. В. Войцеховский, И. В. Скрипачев, В. Г. Плотниченко, М. Ф. Чурбанов // Высокочистые вещества, 1991, № 1, С. 65.
  149. Т.Н. Грейвер, И. Г. Зайцева, И. М. Косовер «Селен и теллур. Новая технология получения и рафинирования.» // М.: Металлургиздат, 1977, 296с.
  150. J. Fischer, W. Schmidt // Angew. Chem., 1956, B.68, S.701.
  151. F. Feher, H.D. Lutz, K. Obst // Z. Analyt Chem., 1967, B.224, S.407.
  152. H.M. Алексеева, И. М. Шушканова // Завод, лаб., 1961, Т.27, № 9, с. 811.
  153. К. Obst // Inaugural Dissertation zur Erlangung des Doctorgrades der Math. Naturwiss, Fakultet der Univ., Koln, 1966.
  154. M. Ф., Чугунова С. Г., Девятых Г. Г. II Журн. аналит. химии. 1973. Т.28. № 2. С. 385.
  155. А. Е., Малыгина Л. С., Чурбанов М. Ф. II Журн. аналит. химии. 1982. Т.37. № 8. С. 1502.
  156. Ю.В. Ревин, Ежелева А. Е., Д. И. Погудалов, Малыгина JI. С. // VII Всес. конф. по методам получения и анализа высокочистых веществ, Горький, 1985, Тез. докл., ч.2, с. 35.
  157. Н. Forster // 5-th Int. Symp. High Purity Materials in Science and Technology. Dresden, GDR, May 5−9,1980, Poster-Abstracts, P.204.
  158. В. В., Богданов А. А., Демин Н. В. и др. II Журн. аналит. химии. 1988. Т.43. № 6. С. 1055.
  159. Voight В., Dressier G. II Anal. chim. acta. 1981. B.127. N.l. S.87.
  160. H. В., Виноградова Г. 3., Вельский Н. К. и др. II Изв. АН СССР. Неорганические материалы.1984. Т.20. №3. С. 511.
  161. К.Р. Rudolph, J. Flachowsky, A. Lange, J. Dubnak // Isotopen praxis, 1983, Vol.19, № 7, P.225.
  162. Ю.А.Карпов, A.M. Казанцев, К. Ю. Натансон // Высокочистые вещества, 1988, № 6, С. 158.//
  163. А.А. Богданов, A.M. Гаськов, В. Н. Демин // VII Всес. конф. по методам получения и анализа высокочистых веществ, Горький, 1985, Тез. докл., ч.2, с. 25.
  164. И.Л. Агафонов, А. П. Кузьмичев «Получение и анализ чистых веществ.» // Горький, ГГУ, 1979 Вып.4, с. 55.
  165. В.Г. Борисевич, И. В. Скрипачев, М. Ф. Чурбанов, В. А. Шипунов // Высокочистые вещества, 1989, № 2, С. 91.
  166. З.А., Ремезов О. А. // Электронная техника, серия Материалы, 1980, № 3, с.37−45.
  167. Э.Л., Маловоцкая В. М., Вавилов B.C. // ФТТ, 1962, т.4, № 5, с.1374−1376.
  168. K.Fujii, M. Tanaka, Y. Nezu, K. Nakayama, H. Fujimoto, P. De Bievre and S. Valkiers «Determination of the Avogadro constant by accurate measurement of the molar volume of a silicon crystal.» // Metrologia, 1999, 36, 455−464.
  169. M. // Physica. 1987, V.146B, p.187−200.
  170. Г., Васидов А., Муминов В. и др. II Радиохимия. 1979. Т.21. № 1. С. 50.
  171. Nozaki Т., Yatsurugi У, Endo У. II Ibid. 1976. Vol.32. N1. Р.43.
  172. Graff К., Grallath Е., Ades S. et. al. // Sol. St. Electr., 1973, v.16, № 8, p.887−893.
  173. М.И., Кекелидзе Г. П., Лазарева Г. В. // ФТТ, 1964, т.6, № 10, с.3148−3150.
  174. J. // Appl. Spectroscopy, 1982, v.36, № 2, p.153−155.
  175. M.A., Коварский В .Я., Орлов А. Ф. // Завод, лаб., 1984, № 1, с. 24.
  176. Г. Н., Ильин М. А., Коварский В. Я. и др. // Метрология, 1982, № 7, с.53−59.
  177. Г. Н., Ильин М. А., Коварский В .Я. // Метрология, 1979, № 9, с.56−61.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!