Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Структура примесной зоны и механизмы проводимости по примесям некомпенсированного кремния

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Исследованиями центров и их влияния на кинетические свойства полупроводников занимаются достаточно давно и к моменту начала наших исследований был накоплен обширный экспериментальный и теоретический материал. Так, например, в было показано, что при определенных условиях центры могут полностью определять время жизни свободного носителя (непрямая рекомбинация на притягивающий центр). С ростом… Читать ещё >

Структура примесной зоны и механизмы проводимости по примесям некомпенсированного кремния (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Принятые сокращения и условные обозначения
  • ГЛАВА 1. СТРУКТУРА ПРИМЕСНОЙ ЗОНЫ И ПРОВОДИМОСТЬ ПО ПРИМЕСЯМ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ (ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ)
    • 1. 1. Локализация электронных состояний
    • 1. 2. Структура примесной зоны слаболегированного полупроводника при малой компенсации
    • 1. 3. Б состояния, их эволюция, Б «- зона
    • 1. 4. Механизмы примесной проводимости при очень низких температурах
    • 1. 5. Влияние электрического и магнитного полей на прыжковую проводимость
  • ГЛАВА 2. ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА. МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЙ И ОБРАБОТКИ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ РЕЗУЛЬТАТОВ
    • 2. 1. Измерение проводимости и постоянной Холла на постоянном токе
    • 2. 2. Образцы и их параметры
    • 2. 3. Обработка экспериментальных результатов
    • 2. 4. Установка для спектральных измерений
  • ГЛАВА 3. ОСОБЕННОСТИ ПРЫЖКОВОЙ ПРОВОДИМОСТИ ПО
  • ЗОНЕ ОСНОВНЫХ СОСТОЯНИЙ
    • 3. 1. Зависимость проводимости от температуры (энергия активации проводимости)
    • 3. 2. Уровень Ферми в слаболегированном некомпенсированном полупроводнике
    • 3. 3. Зависимость проводимости от электрического поля
    • 3. 4. Отрицательное магнетосопротивление при прыжковой проводимости

§ 4.1 Основные экспериментальные результаты.107.

§ 4.2 Природа состояний, определяющих ам — проводимость.122.

§ 4.3 Неомическая прыжковая проводимость в экспоненциальном хвосте зоны.129.

§ 4.4 О механизме см — проводимости.135.

§ 4.5 Основные выводы.142.

ГЛАВА 5. ВОЗНИКНОВЕНИЕ ДЕЛОКАЛИЗОВАННЫХ.

D — - СОСТОЯНИЙ В СИЛЬНОМ ЭЛЕКТРИЧЕСКОМ.

ПОЛЕ.144.

Введение

144.

§ 5.1 Статическая проводимость.145.

§ 5.2 Фотопроводимость в квазипробое.150.

§ 5.3 Делокализацйя D «- состояний в электрическом поле. 164 § 5.4 Энергетическое положение состояний, ответственных за проводимость .в квазипробое.169.

§ 5.5 О модели квазипробоя.172 4.

§ 5.6 Гистерезис проводимости по примесям в скрещенных электрическом и магнитном полях. 175.

§ 5.7 Основные выводы. 184.

ГЛАВА 6. О ПРИРОДЕ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ В ЩЕЛИ.

МОТТА-ХАББАРДА. 185.

Введение

185.

§ 6.1 Дислокации в кристаллах. 186.

§ 6.2 Взаимодействие примесей с дислокациями. 191.

§ 6.3 Влияние отжига на ам — проводимость. 196.

§ 6.4 Влияние деформации на проводимость по примесям. 200.

§ 6.5 Основные вьгводы. 206.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

207.

ПРИЛОЖЕНИЕ. 211.

СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ ПО ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ.233.

ЛИТЕРАТУРА

237.

Принятые сокращения и условные обозначения.

N — концентрация основной примеси Щ — концентрация компенсирующей примеси К — степень компенсации.

Им — концентрация, соответствующая переходу диэлектрик-металл.

— плотность дислокаций Т — температура.

Е — напряженность электрического поля Н — напряженность магнитного поля к, — диэлектрическая проницаемость е — заряд электрона к — постоянная Больцмана ао ~ радиус основного состояния примеси Кс — среднее расстояние между примесями До ~ радиус экранирования а-1 — длина спада волновой функции 0~-центра £р — уровень Ферми з — энергия активации прыжковой проводимости по основной зоне.

8.1 — энергия изолированного — центра — энергия ионизации основного состояния примеси.

2 — энергия активации проводимости по — зоне п — концентрация электронов и — проводимость д — плотность состояний.

1* - эффективная подвижность цс — подвижность в свободной зоне.

I — интеграл перекрытия.

А — магнитная длина.

НЦ — нейтральный центр ПЦ — притягивающий центр ВЗХ — верхняя зона Хаббарда НЗХ — нижняя зона Хаббарда ФП — фотопроводимость УШ — уравнение Шредингера МС — магнетосопротивление ПМС — положительное МС ОМС — отрицательное МС.

Классические полупроводники — германий и кремний — до сих пор остаются в поле зрения исследователей. Это связано с одной стороны с тем, что технология изготовления этих полупроводников доведена до совершенства и позволяет получать монокристаллы с дозированным легированием и компенсацией, что обеспечивает их широкое применене-ние в микроэлектронике.

С другой стороны, легированные мелкими водородоподобными примесями полупроводники являются хорошей моделью неупорядоченных систем, свойства которых интенсивно изучаются в настоящее время. Возросшее внимание к теоретическому и экспериментальному исследованию неупорядоченных полупроводников обусловлено как чисто научным интересом, так и широким практическим применением этих материалов в электронной технике.

Одним из важнейших применений кремния, легированного мелкими водородоподобными примесями, является его использование в качестве приемника ИК-излучения. Для увеличения чувствительности фотоприемника был получен кремний с достаточно большой концентрацией примеси и с рекордно малой компенсацией К ~ Ю-4 -тЮ-5. Как это почти всегда бывает, появление нового материала повлекло за собой обнаружение ряда новых физических эффектов. К моменту начала наших исследований в кремнии с малыми К были обнаружены эффекты, которые условно можно разбить на две группы.

Первая группа связана с состояниями в полупроводниках.

Известно, что в полупроводниках при низких температурах (гелиевых) примесный атом может присоединить «лишний» электрон (дырку) и образовать 1)~(А+)-центр [1,2,3]. В ультраслабокомпенсированном кремнии, в котором количество нейтральных доноров значительно (на несколько порядков) превышает число положительных (мы для определенности говорим о материале п-типа), резко возрастает, а иногда и становится определяющей, роль 1)~-состояний в кинетических процессах.

Исследованиями центров и их влияния на кинетические свойства полупроводников занимаются достаточно давно и к моменту начала наших исследований был накоплен обширный экспериментальный и теоретический материал. Так, например, в [4] было показано, что при определенных условиях центры могут полностью определять время жизни свободного носителя (непрямая рекомбинация на притягивающий центр). С ростом концентрации примеси в зоне появляются делокализованные состояния [5]. При низких температурах фотопроводимость по делокализованным ^" -состояниям может в десятки раз превышать фотопроводимость по свободной зоне [6].

Необходимо отметить, что особенностью всех выполненных ранее экспериментов является достаточно большое фоновое излучение (фон) комнатной температуры, необходимое для заселения .О-зоны носителями. Кроме того, измерения проводились в достаточно слабых электрических полях.

Другая группа эффектов связана с проводимостью по основным состояниям примеси (нижней зоне Хаббарда).

Известно, что при низких температурах (в Бг при Т < 1ЪК) проводимость компенсированных полупроводников является прыжковой. Проблеме прыжковой проводимости посвящено множество работ. На сегодняшний день наиболее полная теория, описывающая структуру примесной зоны и связанную с ней проводимость, изложена в работе Шкловского и Эфроса [7].

Согласно этой теории, при низких Т должна иметь место проводимость с переменной длиной прыжка (а ~ ехр[— (То/Т)¼]) — при промежуточных Т — проводимость с постоянной энергией активации = 0,99(е2/я^" ~1/3)(1 — 0,29Кг'А) проводимость) и при высоких ТТ > Т8, где Т> = ?ъ/к (1пК~1) — наступает насыщение температурной зависимости прыжковой проводимости.

К числу новых эффектов, связанных с очень малыми К, следует отнести, например, обнаружение предсказанного теорией уменьшения электропроводности с ростом электрического поля (отрицательная неомич-ность) и связанного с ним эффекта отрицательного дифференциального сопротивления в материалах с К < 103 в области насыщения сг (Т) [8,9].

Здесь необходимо отметить, что количественная теория прыжковой проводимости в [7] построена для очень малых К (К ~ Ю-4), а все основные эксперименты были проведены на более компенсированных материалах. Тем не менее, экспериментальные результаты достаточно хорошо согласуются с теорией [7]. Поэтому никаких новых эффектов при уменьшении К, выходящих за рамки теории, не ожидалось. Вернее, о них просто не задумывались. Это отчасти объясняет то, что результаты, представленные в данной работе, не были получены ранее.

На момент начала наших исследований физические явления в ульт-раслабокомпенсированных полупроводниках, были изучены, на наш взгляд, недостаточно. Это обстоятельство и определяет актуальность данной работы.

Подчеркнем, что предмет исследования интересен не только с точки зрения изучения свойств конкретного материала, но и, а, возможно, главным образом, как модель неупорядоченной среды, параметрами которой можно легко управлять.

Цель работы заключалась в исследовании свойств некомпенсированного кремния. При этом перед нами стояли две задачи:

1. Изучение зависимости проводимости по основным состояниям примеси от концентрации примеси, температуры, электрического и магнитного полей.

2. Изучение эффектов, связанных с D~(A+) — состояниями в полупроводниках, в частности, влияние этих состояний на проводимость полупроводника в сильном электрическом поле в отсутствие фонового излучения.

В качестве объекта исследования выбран кремний, легированный элементами III и V групп, с концентрацией основной примеси N ~ 0.01 -Ь 0. INm (Nm ~ концентрация, соответствующая переходу полупроводник — металл и компенсацией К < Ю-2. Основные измерения выполнены на Si: В. Современные способы очистки кремния позволяют получать концентрацию остаточных примесей на уровне 10и~1012сж~3. Поэтому образцы с такой концентрацией компенсирующей примеси будем называть некомпенсированными, в том смысле, что специально компенсирующая примесь не вводилась. Степень компенсации для таких образцов К < 10~3. Образцы с 103 < К < Ю-2 будем называть слабо-компенсированными.

Научная новизна проведенного исследования заключается в следующем:

1. Исследована равновесная проводимость по зоне основных состояний. Обнаружено существование в таком материале аномально больших значений энергиии активации прыжковой проводимости ?3.

2. Для объяснения результатов п. 1 предложена оценка положения уровня Ферми с учетом комплексов из двух близких нейтральных центров.

3. Исследовано влияние магнитного поля на прыжковую проводимость по зоне основных состояний примеси в неомическом режиме. Обнаружено гигантское отрицательное магнетосопротивление в диапазоне электрических полей, соответствующих отрицательной неомичности (уменьшению проводимости с ростом электрического поля).

4. В неомической области обнаружена проводимость с переменной энергией активации {сгм) в диапазоне температур, в котором в более компенсированных образцах наблюдается <73- проводимость. Величина ам возрастает с ростом электрического поля по закону ам ~ ехр (аЕ) и может превышать <73 в 103 -г 105 раз. Зависимость от температуры имеет вид ам ~ ехр[—(То/Т)1//4].

5. Исследовано влияние магнитного поля на ам ~ проводимость. Обнаружено большое положтельное магнетосопротивление, величина которого возрастает с ростом электрического поля и температуры.

6. Для объяснения механизма ам ~ проводимости предложена модель проводимости по локализованным состояниям хвоста 1)~-зоны. Показано, что в рамках этой модели можно объяснить все основные закономерности наблюдаемой проводимости.

7. При достижении электрическим полем некоторого критического значения Е = Ес, зависящего от концентрации, компенсации и температуры, наблюдается резкий рост проводимости с электрическим полем, по виду напоминающий примесный пробой. Такое явление было названо нами «квазипробоем» (сг^-проводимость).

8. Исследовано влияние магнитного поля на проводимость в квазипробое. Обнаружено гигантское положительное магнетосопротивление (до 103 раз в поле Н ~ 10к<�Э). Величина МС уменьшается с ростом Е при Е > Ес.

9. Показано, что адь — проводимость осуществляется по делокализо-ванным состояниям, возникающим под действием электрического поля.

10. В области квазипробоя в скрещенных электрическом и магнитном полях обнаружен гистерезис проводимости в зависимости сг (Е) при H = const и в зависимости сг (Н) при Е = const.

11. При Е > Ес в условиях очень слабого фонового излучения обнаружена фотопроводимость на энергиях квантов fiuj ~ 0,7 ч- 0,81, где? i — энергия ионизации примеси. Исследована зависимость величины ФП от Е и Н. Обнаружено, что по виду эти зависимости совпадают с зависимостью от Е и H проводимости в квазипробое.

12. В образцах, где присутствуют им и crge, в условиях отсутствия фонового излучения, способного вызвать фотопереходы примесь — свободная зона {hu ~ 0, 5? i), в электрическом поле Е < Ес, но соответствующем неомическому участку Ес — фотопроводимость на энергиях квантов fioo = 10мэВ. Величина фотопроводимости растет с ростом электрического поля.

13. Впервые обнаружена проводимость по примесям, сконцентрированным вблизи дислокаций в образцах, подвергнутых пластической деформации. Зависимости этой проводимости от Т, Е и H близки к соответствующим зависимостям проводимости, описанной в п. 4.

Основные положения, выносимые на защиту:

1. В слабо легированном и слабо компенсированном кремнии при определении положения уровня Ферми помимо наличия 0- и 2-комплексов [7], необходимо учитывать существование комплексов другого родапар примесных центров, сближенных на расстояние меньше среднего между примесями («примесных молекул»), энергия однократной ионо-зации которых меньше энергии ионизации изолированного примесного центра.

Образование примесных молекул приводит к увеличению энергии Ферми (отсчитанной от уровня основного состояния), что, в свою очередь, приводит к возрастанию энергии активации прыжковой проводимости по зоне основных состояний.

2. Верхняя зона Хаббарда слабо компенсированного полупроводника имеет хвост плотности состояний, простирающийся вниз по энергии вплоть до уровня Ферми. В образцах с малыми К в достаточно сильном электрическом поле возможна прыжковая проводимость по локализованным состояниям хвоста. Прыжки совершаются по некоторому транспортному уровню положение которого определяется электрическим полем и температурой.

3. При достижении электрическим полем некоторого критического значения Ес возникает делокализация 0~(А+) — состояний. При этом в И~-зоне формируется край подвижности е^. В поле Е > Ес транспортный уровень смещается в область делокализованных состояний, и проводимость резко возрастает.

4. Хвост плотности состояний ВЗХ обусловлен X)—состояниями примесей, сгруппированных вблизи дислокаций. Увеличение плотности дислокаций в образцах с достаточно «большой» компенсацией (К > 10~2), в которых доминирует прыжковая проводимость по зоне основных состояний, приводит к появлению в сильном электрическом поле неомической проводимости, по своим свойствам близкой к проводимости, описанной в п. 2.

Диссертация состоит из введения, шести глав, заключения и приложения.

§ 6.5 Основные выводы.

1. Расчет уровней энергии кластеров из п (п «2) примесных центров не дает необходимых значений энергии достаточных для того, чтобы электроны в электрическом поле достигали состояний с энергией ~ 10ч-15 мэВ под дном зоны проводимости.

2. Обнаружено, что отжиг при Т = 8001^ образцов с сгм~ проводимостью изменяет зависимости ам{Е) (сдвигает начало экспоненциальной зависимости в меньшие Е) и увеличивает сгм по величине.

3. Изменения в зависимостях сгм (Е) — обратимы. Нагрев образца до Т = 1200 К и быстрое охлаждение возвращают зависимости сгм (Е) к исходным.

4. Деформация компенсированного образца, в котором отсутствует стм-проводимостъ, приводит к появлению (7м.

5. Выдвинуто предположение о том, что хвост плотности состояний 1}~-зоны образован примесями, сгруппированными вблизи краевых дислокаций. Мы считаем, что результаты п. 2 и 3 связаны с изменением плотности облаков Коттрелла вблизи дислокаций при температурной обработке образцов, что подтверждает выдвинутое предположение.

Заключение

.

В диссертации впервые проведено исследование проводимости по примесям в кристаллическом полупроводнике при концентрации примеси в ~ 102 раз меньше, чем концентрация, соответствующая переходу Мотта, и аномально малой компенсацией К ~ 10~3 -Ь 10~5. Обнаружены существенные расхождения результатов эксперимента с результатами, ожидаемыми согласно общепринятым представлениям о проводимости по примесям. Установлено, что они обусловлены проявлением особенностей структуры примесных зон — нижней и верхней зон Хаббарда.

I. Нижняя зона Хаббарда.

В стандартной теории считается, что разброс уровней в примесной зоне обусловлен наличием кулоновских полей заряженных центров, возникающих из-за компенсации. Однако, при К —>• 0, с уменьшением концентрации заряженных центров, возрастает роль разброса уровней за счет квантовых эффектов — перекрытия состояний нейтральных центров.

Образование комплексов из двух близких нейтральных центров, энергия однократной ионизации которых меньше энергии ионозации изолированного примесного атома, приводит к появлению в структуре зоны дополнительного пика плотности состояний.

Этот пик сказывается на положении уровня Ферми и, как следствие, на величине энергии активации прыжковой проводимости — она возрастает по сравнению с предсказываемым классической теорией значением.

Звисимость величины ?3 от N при 2-Ю16 < N < 1017сж~3 оказывается более слабой, а зависимость ?3 от К при К < 10~2 — более сильной, по сравнению с предсказаниями стандартной теории.

Указанные выше особенности проводимости по НЗХ находят качественное объяснение в рамках модели НЗХ, учитывающей существование дополнительного пика плотности состояний.

II.Верхняя зона Хаббарда.

1. Обнаружено, что с увеличением электрического поля в образцах слабо легированного кремния в узком диапазоне концентрации примеси (1.5 • 1016 < N < б • 1016с, м~3) и К < 10~3 появляется неизвестная ранее неомическая проводимость ам-, зависимости которой от Е, Н, Т, N ш К кардинально отличаются от ожидаемых для проводимости по зоне основных состояний (03). Проводимость ам резко возрастает при увеличении Е и по величине может превосходить сг3-проводимость на несколько порядков при одинаковых Т и Е] в отличие от <73, проводимость уменьшается с ростом К и Л/" - ам характеризуется большим магнетосопротивлением, величина которого тем больше, чем больше проводимость. Прямые измерения показали, что ам~проводимость осуществляется по состояниям, находящимся на 10 -г 15 мэВ ниже дна свободной зоны, т. е. между уровнями основного и Д^-подобного состояния примеси, существенно ниже уровня последнего.

Показано, что все основные закономерности наблюдаемой проводимости могут быть объяснены в рамках модели прыжковой проводимости вдоль некоторого транспортного уровня энергетичесое положение которого определяется электрическим полем и температурой. Су-зествование еи возможность его заселения с ростом Е в темновых условиях свидетельствуют о наличии хвоста плотности состояний ВЗХ, простирающегося вплоть до уровня Ферми.

2. Впервые экспериментально обнаружена делокализация Л^-подобных состояний примеси в сильном электрическом поле в слабо легированном кремнии с К < Ю-3. Появление делокализованных состояний проявляется в резком возрастании проводимости при достижении электрическим полем некоторого критического значения Ес сопровождающимся сдвигом красной границы фотопроводимости на ~ 10 мэВ в сторону меньших значений энергии.

3. При Е > Ес обнаружены гистерезисы в зависимости <�у (Н) при Е — const и в зависимости а (Е) при Н = const. Пи плавном увеличении магнитного поля и достижении им некоторого значения Hi, зависящего от Е, проводимость скачком падает по величине. При уменьшении Н проводимость также скачком возрастает при Н2 < Н (т.е. наблюдается гистерезис). Изменения в величине проводимости могут достигать 106 и более раз. Это явление можно рассматривать как фазовый переход в области проводимости по примесям, вызванный внешними полями.

4. Выдвинута гипотеза о том, что хвост плотности состояний ВЗХ связан с примесями, находящимися вблизи линейных дислокаций. Для проверки этой гипотезы были проведены исследования влияния низкотемпературного отжига и пластической деформации на зависимости, а от Е.

Обнаружено, что увеличение плотности дислокаций в образцах с достаточно «большой» компенсацией (К > Ю-2), в которых доминирует сг3-проводимость, приводит к появлению в электрических полях неомической проводимости, по своим свойствам близкой к проводимости, описанной в п.П.1.

Величиной и зависимостями сг от Е и Н можно упрвлять, меняя плотность дислокаций и режим тепловой обработки образца. В образцах с ориентированными дислокациями наблюдается сильная анизотропия проводимости: отличие в величине, а вдоль и поперек дислокаций может достигать 104 раз.

Таким образом: а) Обнаружен новый механизм проводимости в полупроводниках проводимость по примесям, локализованным вблизи дислокацийб) Дано объяснение существования хвоста плотности состояний ВЗХ. Этот хвост обусловлен ^" -подобными состояниями примесей, сконцентрированных вблизи дислокацийв) Установлено, что описанная в п.П.1. проводимость сгм представляет собой проводимость по примесям, сконцентрированным вблизи дислокаций, образовавшихся в процессе роста кристалла.

Совокупность полученных результатов в значительной степени меняет точку зрения на структуру ВЗХ. Наряду с влиянием квантовых эффектов необходимо учитывать состояния примесей, локализованных вблизи структурных дефектов.

Работа выполнена в Проблемной радиофизической лаборатории Московского педагогического государственного университета.

Я выражаю искреннюю благодарность своим учителям — Мельникову Андрею Петровичу и Гурвичу Юрию Александровичу — за постоянное внимание и поддержку. Их вклад в проделанную работу трудно переоценить.

Я благодарен коллективу Проблемной лаборатории, долгое время возглавляемой Гершензоном Евгением Михайловичем, за помощь, оказанную при выполнении работы.

Показать весь текст

Список литературы

  1. ПЗ. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Наблюдение смещения порога подвижности Т>~-зоны кремния в электрическом поле по спектрам фотопроводимости. // Письма в ЖЭТФ, 1996, т.63, в.2, с. 89−94.
  2. П4. А. П. Мельников, JI.H. Шестаков, Ю. А. Гурвич, Е. М. Гершензон Природа проводимости по примесям некомпенсированного кремния. // Письма в ЖЭТФ, 1997, т.66, в.4, с. 232−236.
  3. П5. Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Прыжковая проводимость по D^-зоне в некомпенсированном кремнии./ / Тезисы докладов, III Всероссийская конференция по физике полупроводников, Москва, 1−5 декабря 1997 г., с 370.
  4. П6. Yu.A. Gurvich, А.P. Melnikov, L.N. Shestakov, Е.М. Gershenzon Non-ohmic hopping conductivity in the exponential bamd tail. // Pis’ma v ZhETF, 1994, vol.60, iss.12, pp. 845−848.
  5. П7. Bhatt R.N., Rice T.M. Clustering in the approuch to the metall -insulator transition // Phil.Mag.B, 1980, v.42, N6, p.859 872.
  6. П8. B.JI. Бонч-Бруевич, С. Г. Калашников. Физика полупроводников М.: Наука, 1990
  7. П9. Ю. Н. Демков, В. Н. Островский, Метод потенциалов нулевого радиуса в атомной физике, Ленинград, ЛГУ, 1975
  8. П10. Э. М. Каруле, В сб. «Атомные столкновения», «Зинатне», Рига, 1965, т. З с.33
  9. П11. Б. М. Смирнов, Физика слабоионозированного газа М.: Наука, 1972 П12. Е. Е. Никитин, Б. М. Смирнов, Атомно-молекулярные процессы (в задачах с решениями) — М.: Наука, 1988
  10. П13. Sharp Т.Е. Potential-energy curves for molecular hydrogen and its ions // Atomic Data, 1971, v.2, p.119 169.
  11. П14. Смирнов Б. М. ЖЭТФ, т.46, с. 578, (1964)
  12. П15. Коттрелл А. Х. Дислокации и пластическое течение в кристаллах М.: Металлургиздат, 1958, 268 с.
  13. П16. W.T. Read, Phil. Mag. v.45, p.775, (1954)
  14. П17. Шикин В. Б., Шикина Ю. В. Заряженные дислокации в полупроводниковых кристаллах // УФН, 1995, т.165, в.8, с. 887−917.
  15. П18. S. Marklund, Physica Status Solidi (b), v.85, p.673, (1978)
  16. П19. Jones R, Phil. Mag. v.35, p.57, (1977) — Journ. de Physicue v. C4, p.61, (1983)
  17. П20. Teichler H, Veth R., Journ. de Physicue, v. C4, p.93, (1983)
  18. П21. Л. Д. Ландау, E.M. Лифшиц, Квантовая механика M.: Наука, 1974.
  19. А2. Е. М. Гершензон, Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, JI.H. Шестаков Высокотемпературная проводимость с переменной длиной прыжка.// Письма в ЖЭТФ, 1990, т.51, в.4, с.204−206.
  20. A4. Е. М. Гершензон, Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, JI.H. Шестаков Верхняя зона Хаббарда и проводимость по примесям некомпенсированного кремния. // ФТП, 1991, т.25, в.1, с. 160−163.
  21. А5. Е. М. Гершензон, Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, JI.H. Шестаков Пороговые эффекты в фотопроводимости кремния при непрямом захвате. // ЖЭТФ, 1991, т.100, в.5(11), с. 1547−1555.
  22. А6. Е. М. Гершензон, Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, J1.H. Шестаков Гигантское отрицательное магнетосопротивление при прыжковой проводимости некомпенсированного кремния. // Письма в ЖЭТФ, 1991, т.54, в.11, с. 639−642.
  23. A8. E.M. Gershenzon, Yu.A. Gurvich, A.P. Melnikov, L.N. Shestakov The threshold appearance of photoconductivity (PC) through D~-band in uncompensated silicon. // International workshop on disordered systems (IPCMP'92), St-Peterburg, June 1−5, 1992.
  24. All. Yu.A. Gurvich, А.Р. Melnikov, L.N. Shestakov, E.M. Gershenzon Non-ohmic hopping conductivity in the exponential bamd tail. // Pis’ma v ZhETF, 1994, vol.60, iss.12, pp. 845−848.
  25. A12. Yu.A. Gurvich, A.P. Melnikov, L.N. Shestakov, E.M. Gershenzon Quasibreakdown in the impurity Hubbard band system of noncompensated silicon. // Pis’ma v ZhETF, 1995, vol.61, iss.9, pp. 717−721.
  26. A13. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, Л. Н. Шестаков, E.M. Гершензон Наблюдение смещения порога подвижности 1)~-зоны кремния в электрическом поле по спектрам фотопроводимости. // Письма в ЖЭТФ, 1996, т.63, в.2, с. 89−94.
  27. А14. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, Л. Н. Шестаков, Е. М. Гершензон Возникновение полосы делокализованных D"-состояний в электрическом поле в некомпенсированном кремнии. // Письма в ЖЭТФ, 1997, т.65, в.1, с. 56−59.
  28. A15. А. П. Мельников, JI.H. Шестаков, Ю. А. Гурвич, Е. М. Гершензон Природа проводимости по примесям некомпенсированного кремния. // Письма в ЖЭТФ, 1997, т.66, в.4, с. 232−236.
  29. А16. Ю. А. Гурвич, А. П. Мельников, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Прыжковая проводимость по D~-зоне в некомпенсированном кремнии./ / Тезисы докладов, III Всероссийская конференция по физике полупроводников, Москва, 1−5 декабря 1997 г., с 370.
  30. А17. Yu.A. Gurvich, А.Р. Melnikov, L.N. Shestakov, Е.М. Gershenzon Investigation of the conductivity through impurities in noncompensated silicon by means of IR-laser spectroscopy. // Laser Physics, 1998, vol.8, iss.2, pp. 541−545.
  31. A19. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Гистерезис проводимости по примесям в некомпенсированном кристаллическом кремнии в сильных скрещенных электрическом и магнитном полях. // Письма в ЖЭТФ, 1999, т.69, в.1, с. 70−75.
  32. А20. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Влияние перекрытия волновых функций примесных центров на энергию активации прыжковой проводимости. // Письма в ЖЭТФ, 2000, т.71, в.1, с. 28−33.
  33. А21. А. П. Мельников, Ю. А. Гурвич, JI.H. Шестаков, Е. М. Гершензон Влияние магнитного поля на неомическую проводимость по примесям некомпенсированного кристаллического кремния. // Письма в ЖЭТФ, 2001, т.73, в.1, с. 50−53.-236
  34. Е.М., Гольцман Г. Н., Мельников А. П. Об энергии связи носителей заряда с нейтральным примесным атомом в германии и кремнии. // Письма в ЖЭТФ, 1971, т.14, с.281−283.
  35. Е.М., Ладыжинский Ю. П., Мельников А. П. О новом механизме рекомбинации носителей заряда в полупроводниках. // Письма в ЖЭТФ, 1971, т.14, с.380−383.
  36. Э.Э., Курицын Ю. А., Синие В. П. Захват дырок нейтральными атомами бора в кремнии. // Письма в ЖЭТФ, 1971, т.14, с.377−379.
  37. Л.А., Гершензон Е. М., Гурвич Ю. А., Исмагилова Ф. М., Мельников А. П. Рекомбинация свободных носителей в легированном кремнии с малой компенсацией // ЖЭТФ, 1988, т.94, в.2, с. 350−363.
  38. Е.М., Заяц В. А., Мельников А. П., Рабинович Р. И., Серебрякова H.A., Товмач Ю. П. Обнаружение порога делокализации Н~-подобных состояний примесных центров в легированных полупроводниках. // Письма в ЖЭТФ, 1980, т.32, с.344−347.
  39. JI.A., Гершензон Е. М., Гурвич Ю. А., Исмагилова Ф. М., Литвак-Горская Л.Б., Мельников А. П. Примесная фотопроводимость слабокомпенсированного кремния в условиях делокализации D~(A+)-состояний. // ЖЭТФ, 1987, т.93, в.4(10), с.1419−1430.
  40. .И., Эфрос А. Л. Электронные свойства легированных полупроводников. М.: Наука, 1979, 416 с.
  41. Д.И., Адамия З. А., Лавдовский К. Г., Левин Е. И., Шкловский Б. И. Неомическая прыжковая проводимость слабокомпен-сированных полупроводников. // ФТП, 1990, т.24, в.2, с.234−249.
  42. Д.И., Адамия З. А., Лавдовский К. Г., Левин Е. И., Шкловский Б. И. Отрицательное дифференциальное сопротивление вобласти прыжковой проводимости. // Письма в ЖЭТФ, 1988, т.47, с.390−392.
  43. А.Х. Дислокации и пластическое течение в кристаллах. М.: Металлургиздат, 1958, 268 с.
  44. Anderson P.W. Absence of diffusion in certain random lattice. // Phys. Rev., 1958, v.109, p.1492.
  45. Thouless D.J. Electrons in disordered systems and the theory of localization // Phys. Rev., 1974, v.13C, p.94.
  46. M.B. Локализация электронов в неупорядоченных системах // ЖЭТФ, 1976, т.70, с. 1936.
  47. А.Л. Локализация электронов в неупорядоченных системах (переход Андерсона) // УФН, 1978, т.126, в.1, с. 41 65.
  48. М.В. Локализация электронов в неупорядоченных системах: критическое поведение и макроскопические проявления // УФН, 1981, т.133, в.2, с.233 257.
  49. Mott N.F. The transition to the metallic stage // Phil.Mag., 1961, v.6, p.287 309.
  50. Mott N.F. The basis of the electron theory of metals with special reference to the transition metals // Proc.Phys.Soc., 1949, v. A62, p.416 -421.
  51. Hubbard J. Electron correlations in narrow energy bands III. An imporved solution // Proc.Roy.Soc., 1964, v. A281, p.401 419.
  52. Н.Ф. Переходы металл изолятор. M.: Наука, 344 с.
  53. И.М. О структуре энергетического спектра и квантах состояний неупорядоченных конденсированных систем // УФН, 1964, т.83, в.4, с.617 663.
  54. Mott N.F. On the transition to metallic conduction in semiconductors // Can.Journ.Phys., 1956, v.34, p.1356
  55. А.И. Влияние резонансного рассеяния носителей тока на центрах примесей на электрические свойства атомных полупроводников // ЖЭТФ, 1953, т.24, с. 83 89.
  56. .М. Отрицательные ионы М.: Атомиздат, 1978, 176 с.
  57. Г., Солпитер Э. Квантовая механика атомов с одним и двумя электронами. М.: Физматгиз, 1960, 562 с.
  58. Lampert M. Mobile and immobile effective mass-particle complexes in nonmetalic solids // Phys.Rev.Lett., 1958, v. l, p.450 453.
  59. В.H., Гершензон Е. М., Мельников А. П., Рабинович Р. И., Серебрякова Н. А. О взаимодействии A+(D~)-центров в полупроводниках с заряженными и нейтральными примесями // Письма в ЖЭТФ, 1975, т.22, с.573−577.
  60. Norton P., Sluster R.E., Sturge M.D. Far infrared detection using photoconductivity of negative donor ion states in silicon // Appl.Phys.Lett., 1977, v.30, p.446−448.
  61. Gershenzon E.M., Mel’nikov A.P., Rabinovich R.I. i/~-like impurity centers, molecular complexes and electron derealization in semiconductors // Electron-electron interactions in disordered systems, 1985, Chapter 6, p.483−554.
  62. E.M., Мельников А. П., Рабинович P.И., Серебрякова Н. А. Примесные //"-подобные центры и обусловленные ими молекулярные комплексы в полупроводниках // УФН, 1980, т.132, с.353−378.
  63. В.Ф., Гершензон Е. М., Мельников А. П., Рабинович Р. И. //"-подобные центры в полупроводниках // ЖЭТФ, 1983, т.85, с.746−763.
  64. И.Е. Взаимодействие //"-подобных примесных состояний и делокализация электронов в кремнии. // Дисс.канд. ф.м.наук. М.: 1989, 139 с.
  65. Fritzsche H. Resistivity and Hall coefficient of antimony doped germanium at low temperatures // J.Phys.Chem.Sol., 1958, v.6, p.69−80.
  66. Hung C.S., Glissman J.R. Resistivity and Hall effect of germanium at low temperatures // Phys.Rev., 1954, v.96, p.1226−1236.
  67. Mott N.F., Twose W.D. The theory of impurity conduction // Adv.Phys., 1961, v.10, p.707−721.
  68. Miller A., Abrahams E. Impurity conduction in silicon // Phys.Rev., 1960, v.120, p.745−755.
  69. Kirkpatrick S. Percolation and conduction I. Transport theory of percolation processes // Rev.Mod.Phys., 1973, v.45, p.574.
  70. Ambegaokar V., Galperin B.I., Langer J.S. Hopping conductivity in disordered systems // Phys.Rev., 1971, v. B4, p.2612.
  71. Pollak M. A percolation treatment of d.c.hopping conduction // J. Non-Cryst.Sol., 1972, v. ll, p.l.
  72. .И., Эфрос A.JI. Примесная зона и проводимость компенсированных полупроводников // ЖЭТФ, 1971, т.60, с. 867.
  73. Ray R.K., Fan H.Y. Impurity coduction in silicon // Phys.Rev., 1961, v.121, p.768−779.
  74. Fritzshe H., Cuevas M. Impurity conduction in transmutation-doped p-type germanium // Phys.Rev., 1960, v.119, p.1238.
  75. Fritzshe H. Electical properties of germanium semiconductors at low temperatures // Phys.Rev., 1955, v.99, p.406−416.
  76. О.В., Масагутов К. Г., Наследов Д. Н. Тимченко И.Н. Прыжковая проводимость по примесям в n-InP // ФТП, 1975, т.9, с. 503.
  77. .И., Шлимак И. С. Прыжковая проводимость германия // ФТП, 1972, т.6, с. 129.
  78. Sher H., Lax M. Stochastic transport in a disordered solids. II Impurity conduction // Phys.Rev., 1973, v. B7, p.4502.
  79. Pollak M., Knotek M.L. Evidence for correlated hopping in impurity conduction at moderate impurity concentrations // Sol.St.Comm., 1977, v.21, p.183−184.
  80. .И., Янчев И. Я. Определение степени компенсации полупроводников по эффекту насыщения прыжковой проводимости // ФТП, 1972, т. б, с.1616−1619.
  81. Mott N.F. Conduction in glasses containing transition metal ions // J. Non-Cryst.Sol., 1968, v. l, p.1−17.
  82. А.С., Шкловский Б. И. О формуле Мотта для низкотемпературной прыжковой проводимости // ФТТ, 1976, т.16, с. 1820.
  83. Hamilton Е.М. Variable range hopping in a non-uniform density of states // Phil.Mag., 1972, v.26, p.1043.
  84. И.С., Никулин Е. И. Проводимость легированного германия при сверхнизких температурах // Письма в ЖЭТФ, 1972, т.15, с. 30.
  85. Sadasiv G. Magnetoresistance in germanium in the impurity conduction range // Phys.Rev., 1962, v.128, p.1131−1139.
  86. Allen F.R., Adkins C.J. Electrical conduction in heavily doped germanium // Phil.Mag., 1972, v.26, p.1027.
  87. О.В., Наследов Д. Н., Никулин Е. И., Тимченко И. Н. Проводимость по примесям в n-GaAs при сверхнизких температурах.// ФТП, 1972, т.6, с. 2283.
  88. Redfild D. Observation of loga ~ T~~1//2 in three-dimensional energy-band tails // Phys.Rev.Lett., 1973, v.30, p.1319.
  89. А.Г. Прыжковая проводимость и ход плотности локализованных состояний в окрестности уровня Ферми. // ФТП, 1977, т.11, с. 595.
  90. Nishimura Н. Impurity conduction in the intermediate concentrationregion // Phys.Rev., 1965, V.138A, p.815 821.
  91. Davis E., Compton W. Compensation dependance of impurity conduction in antimony-doped germanium // Phys.Rev., 1965, v.140, p.2183 2194.
  92. Yamanouchi C. Hall coefficient and resistivity in intermediate impurity conduction of n-type germanium // J.Phys.Soc.Jpn., 1965, v.20, p.1029 1034.
  93. Frood D.G. A dielectric approach to conduction // Proc.Phys.Soc., 1960, v.75, p.185 193.
  94. SladekR.J. Magnetically induced impurity banding // J.Phys.Chem.Sol., 1958, v.5, p.157 170.
  95. E.M., Ильин В. А., Литвак-Горская Л.Б. Влияние магнитного поля на прыжковую проводимость в n-InSb // ФТП, 1974, т.8, с.295 302.
  96. Е.М., Куриленко И. Н., Литвак-Горская Л.Б. Проводимость компенсированного p-InSb в области промежуточной концентрации примесей // ФТП, 1974, т.8, с.1057 1062.
  97. А.Р., Шлимак И. С. Влияние магнитного поля на прыжковую проводимость р-германия // ФТП, 1972, т.6, с.1582 1586.
  98. .И. Прыжковая проводимость в сильном магнитном поле // ЖЭТФ, 1971, т.61, с.2033 2037.
  99. .И. К теории экспоненциального магнитосопротив-ления полупроводников // ФТП, 1973, т.8, с.416 418.
  100. Zvyagin LP. On the hopping mechanism of dispersive transport // Phys.Stat.Sol.(b), 1979, v.95, p.227 235.
  101. Е.И., Шкловский Б. И. Низкотемпературная прыжковая проводимость в сильных электрических полях. Численный эксперимент на ЭВМ // ФТП, 1984, т.18, с.856 864.
  102. .И. Прыжковая проводимость полупроводников в сильном электрическом поле // ФТП, 1972, т.6, с. 2335 2340.
  103. Е.И., Нгуен В. Л., Шкловский Б. И. Прыжковая электропроводность в сильных электрических полях. Численный эксперимент на ЭВМ // ФТП, 1982, т. 16, с.815 821.
  104. Д.И., Адамия З. А., Лавдовский К. Г., Левин Е. И., Шкловский Б. И. Эффект Френкеля-Пула в области прыжковой проводимости в компенсированных полупроводниках // ФТП, 1989, т.23, с.213 220.
  105. В.Ф., Гершензон Е. М., Литвак-Горская Л.Б. К вопросу определения суммарной концентрации примесей в Ge высокой степени чистоты // Вопросы радиофизики и спектроскопии, 1968, т.2, с. 214 -220, изд. МГПИ им. В.И. Ленина
  106. Л.И. Электрический пробой примесей в чистом Ge. // Дисс.. канд. ф.м. наук. М.: 1978, 169 с.
  107. Erginsoy Neutral impurity scattering in semiconductors // Phys.Rev., 1950, v.79, p.1013 1016.
  108. Sharp Т.Е. Potential-energy curves for molecular hydrogen and its ions // Atomic Data, 1971, v.2, p.119 169.
  109. Л.Д., Лифшиц Е. М. Квантовая механика, М.: Наука, 1974.
  110. Н., Дэвис Э. Электронные процессы в некристаллических веществах. М.: Мир, 1974, 472 с.
  111. Я.Е., Смирнова О. И., Хвальковский H.A. Долгожи-вущие возбужденные состояния примесей в алмазоподобных полупроводниках // ЖЭТФ, 1997, т.112, с.221 236.
  112. Я.Е., Смирнова О. И., Хвальковский H.A. Кинетика фотопроводимости и поглощения в D~(A+) зоне легированного кремния // Письма в ЖЭТФ, 1997, т.66, в.4, с. 224 — 227.
  113. Aladashvili D.I., Adamia Z. A, Lavdovskii K.G., // Hopping and related phenomena. Edited by Fritzsche H. and Pollak M., North-Holland, 1990, p.283.
  114. Bottger H., Wegener D. Hopping conduction and localization in high electric fields. // Hopping and related phenomena. Edited by Fritzsche H. and Pollak M., North-Holland, 1990, p.317−345.
  115. Stachowitz R., Funz W. and Jahn R. Low-temperature transport and recombination in a-Si:H. // Phil.Mag., 1990, v. B62, p.5−18.
  116. Monroe D. Hopping band tails for from equilibrium // Hopping transport in solids. Edited by Pollak M. and Shklovskii В., North-Holland, 1991, p.49.
  117. Shklovskii B.I., Fritzshe H. and Baranovskii S.D. Electronic transport and recombination in amorphous semiconductors at zero T. // Phys. Re v. Lett., 1989, v.62, p.2989.
  118. Shapiro F. and Adler D.// J. Non-Cryst.Sol., 1988, v.77&78, p.139.
  119. Дж. Электронная структура молекул М.: Мир, 1965, 588с.
  120. В.Б. Полупроводниковые приборы с биполярной проводимостью М.: Энергоатомиздат, 1988, 128 с.
  121. Kirkpatrik T.R. Anderson localization and derealization in an electric field. // Phys.Rev.B, 1986, v.33, p.780 788.
  122. Рид В. Т. Дислокации в кристаллах М.: Металлургиздат, 1957.
  123. C.J. // Phys.Rev, 1952, v.88, p.721.245
  124. W. // Phys.Rev., 1953, v.91,p.228.
  125. W.T. // Phil.Mag., 1954, v.45, p.775.
  126. W.T. // Phil.Mag., 1954, v.45, p.1119.
  127. Е.Ю., Шефталь H.H. Дислокации в полупроводниковых кристаллах // УФН, 1960, т. LXXII, в. З, с. 479 494.
  128. В.Б., Шикина Ю. В. Заряженные дислокации в полупроводниковых кристаллах // УФН, 1995, т.165, в.8, с. 887−917.
  129. Ю.А., Прокопенко В. М., Тальянский В. И., Харламов A.A., Шевченко С. А. Анизотропия дислокационной СВЧ проводимости n-Ge. // Письма в ЖЭТФ, 1979, т. ЗО, с.123 125.
  130. Shevchenko S.A., Ossipyan Yu.A., Mchedlidze T.R. et.al. // Phys.Stat.So A, 1994, v.146, p. 745.
  131. И.В., Кожух M.JI., Рыбкин C.M., Трунов В. А., Шли-мак И.С. // Письма в ЖЭТФ, 1979, т.29, в.5, с. 268 272.
Заполнить форму текущей работой