Разработка основ технологии создания и исследование газочувствительных сенсоров на основе пористого SiC и структур TiO2/пористый SiC
Диссертация
Для контроля технологических сред и безопасности производства, необходимы датчики различных неэлектрических величин и в том числе датчики состава газов. В настоящее время, для этих целей широко используются датчики на основе полупроводников. В качестве чувствительных элементов в таких датчиках используют окислы металлов, органические полупроводники, кремний. Особенно перспективными являются… Читать ещё >
Список литературы
- Виглеб Г. Датчики. Устройство и применение. М.: Мир. 1989.
- Субочева О.А., Крутоверцев С. А., Сорокин С. И. Адсорбция паровф низкомолекулярных соединений активированными пленками оксида кремния. -Тезисы докладов «НТК, Интегральные преобразователи неэлектрических величин», Баку, 1989, с. 98.
- Гаджи-заде Ф.М., Касимов Ф. Д., Муршудли М. Н. Прибор для определения концентрации окислов азота в воздухе. Тезисы докладов 1-й Международной конференции «Датчики электрических и неэлектрических величин», Барнаул, 1993, с. 78.
- Муршудли М.Н., Нагиева С. Ф., Асадов Х. А. Метод изготовления пленочной структуры. Научные известия Сумгаитского Государственного Университета,• 2001, т.1, № 2, с.29−32.
- Евдокимов А.В. и др. Микроэлектронные датчики химического состава газов // Зарубежная электронная техника. 1988. Вып.2. С.З.
- Бутурлин А.И. и др. Газочувствительные датчики на основе металлооксидных полупроводников //Зарубежная электронная техника. 1989. № 10. С.З.
- Karsten Henkel. Micro-hotplate sensors. Rewiev. 2001.
- R. P. Gupta, Z. Gergintschew, D. Schipanski, and P. D. Vyas, YBCO-FET room temperature ammonia sensor, Sensors and Actuators B (2000) 35−41.• lO. Jsu Т., Fujvwara K. Ultraviolet photoemission spectroscopy of NN3 and NO on
- Si (lll) surfaces. -Solid State Communications, 1982, v.42, № 6, p.477−479.ll.Kubler L., Hlil E.K., Bolmont D., Jewcnner J. Si-H bond production by NH3 adsorption on Si (lll): an UPS study. -Surface Science, 1987, v. 183, p.503−514.
- Fujiwara К., Ogata H., Nishijima. Adsorption of H2S, H20, and 02 on Si (111.), surface. -Solid State Communications, 1972,. v.21, p.895−897.
- Nguyen Van Hicu, Lichtman D. Photodesorption studies of C02 from an oxygen-saturated silicon (100) surface. -J. Vac. Sci. Technol. Al, № 1, 1983, p. 1−6.
- Физико-химические и электрофизические свойства паров различных веществ, адсорбированные на двуокиси кремния. -Обзоры по электронной технике, Сер.2. Полупроводниковые приборы, М.: ЦНИИ «Электроника», 1978, вып.6(554).-52с.
- Галушков, А.И., Зимин В. Н., Чаплыгин Ю. А., Шелепин Н. А. Кремниевые интегральные датчики физических величин на основе технологии микроэлектроники. Электронная промышленность, 1995, № 4−5, с.95−101.
- Касимов Ф. Д, Магнито- фото- и газочувствительные функциональные ИС и приборы на их основе. Тезисы докладов Всероссийской НТК с международным участием «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники», Таганрог, 1994, ч1, с. 60.
- L. М. Lechuga, A. Calle, d. Golmayo, and F. Briones, Different catalytic metals (Pt, Pd and Ir) for GaAs Schottky barrier sensors, Sensors and Actuators B, 7 (1992) 614−618.
- Сеченов Д.А., Агеев O.A., Светличный A.M., и др. Газочувствительные датчики на основе карбида кремния. -Баку: Мутарждим, 2004 92 с.
- Лучинин В.В., Таиров Ю. М. Карбид кремния ~ перспективный материал электронной техники. -Известия вузов. Электроника, 1997, № 1, с. 10 37.
- Лебедев А.А., Челноков В. Е. Широкозонные полупроводники для силовой электроники. -Физика и техника полупроводников, 1999, т. ЗЗ, вып.9. с 10 961 099.
- Muller G., Krotz G., Schalk J. New Sensors for Automotive and Aerospace Applications. -Phys.stal.sol.(a), v. 185,2001, № 1, p. 1−14.
- Филиппов В.И., Иванов П. А. Синянский В.Ф. и пр. Газочувствительность диодных структур на основе карбида кремния. -Журнал технической физики, 1999, т.69, № 2, с.54−57.
- Nakagomi S., Shindo Y., Kokubun Y. Stability of electrical properties of high-temperature operated H2 sensor based on Pt-I-SiC diode. -Phys.stat.sol.(a), 2001, v. 185, N. I, p.33−3~8.
- Lloyd Spetz A., Baranzahj A., Tobias P., Lundstrom I. High temperature sensors based on metal-insulator-silicon carbide devices -Phys.stat.sol.(a), 1997, V.162,N l, p.493~5H.
- Hunter G.W., Chen L-Y., Neudeck P.G. et all, NASA/TM-1997−107 444
- Shingi Nakagomi, Munetery Namoto et al. Study of CO sensivity of high• temperature field effect sensors based on SiC.
- A. Lloyd Spetzl, P. Tobiasl, L, Uneusl, H. Svenningstorpl, Combustion monitoring field effect gas sensors based on silicon carbide, Proc. Transducers.99, Sendai, Japan, June 7−10, pp. 946−949,1999. (3B2.3).
- L. Uneus, P. Ljung!*, M. Mattsson*, P. Martenssson, Measurements with MISiC and MOS sensors in flue gases, Proc. Eurosensors XIII, The Hague, The Netherlands, September 12−15, pp. 521−524,1999.
- Henrik Svenningstorp, Peter Tobias, Andrei Kroutchinine, MiSiC Schottky Diodes and Transistors as NH3 Sensors in Diesel Exhausts to Control SCR, The 14th• European Conference on Solid-State Transducers August 27−30,2000, Copenhagen, Denmark
- Shields V. В., Ryan M.A., Williams R.M. A variable potential porous Siliconcarbide hydrocarbon gas sensor. -Inst. Phys. Conf. Ser, 1996. № 142. p. 1067−1070.
- Connolly E.J., Timmer B. et al. A new ammonia sensor// Eurosensors XVIII.-Rome, 2004, p.672−674.
- Shields V.B., Varying potential porous Silicon carbide gas sensor// Pat. 5 698 771 US.
- Жуховицкий А.А., Шварцман JI.A. Физическая химия: учебник для вузов 4-е изд., переработ, и доп. М.: Металлургия, 1987,688 с.
- Волькенштейн Ф.Ф. Электроны и кристаллы. М.: Наука, 1983.128 с.
- Р.М. Fauchet. J. Lumin. 80 (1999), р.53−64.ф 37.Т. Matsumoto, J. Takahshi, Т. Tamaki, Т. Futagi, H. Mimura, Y. Kanemitsu. Appl. Phys. Lett., 1994, v.65, p.226−228.
- H. Mimura, T. Matsumoto, Y. Kanemitsu. Appl. Phys. Lett. 65 (1994), p. 33 503 352.
- K.H. Wu, Y.K. Fang, W.T. Hsiesh, J.J. Ho, W.J. Lin, J.D. Hwang. Electron. Lett. 34 (1998), p.2243.
- Shields V.B., Ryan M.A., Williams R.M., A variable potential porous Silicon carbide hydrocarbon gas sensor. -Inst. Phys. Conf. Ser 142 (1996) 1067−1070.
- H.C. Савкина, B.B. Ратников, В. Б. Шуман. Влияние высокотемпературного• эпитаксиального роста слоев SiC на структуру пористого карбида кремния. Физика и техника полупроводников. 2001, т.35, в. 2, с.159−161.
- В.Б. Шуман, В. В. Ратников, Н. С. Савкина // ФТП. 2001. Т. 35 (2). С. 159−163. 43. Savkina N.S., Sorokin L.M., Hutchison J.L. et al. // Appl. Surf. Sci. 2002.
- Московченко H.H., Светличный A.M. Газоанализаторы на основе пористого карбида кремния. Техника и конструирование в электроннй аппаратуре, 2006 в печати.
- В.Б. Шуман, В. В. Ратников, Н. С. Савкина. Влияние высокотемпературного отжига на структуру пористого карбида кремния// ФТП. 2001. Т. 35 (2). С.• 159−163.
- Светличный A.M. Московченко Н. Н. Влияние режимов травления на морфологию поверхности пористого-SiC Материалы L научно-технической конференции. Известия ТРТУ.- № 8.- 2004.- с. 105.
- Soloviev S., Das Т., Sudarshan T.S. Structural and Electrical Characterization of Porous Silicon Carbide formed in n-6H-SiC Substrates. Electrochem. Solid State. Lett., 2003,6, G22−4.
- Московченко H.H., Светличная JI.A., Серба П. В. Получение и свойства пористого карбида кремния Технология и конструирование в электронной аппаратуре.-2005.-№ 1(55).-С.53−58.
- Shor J.S., Grimberg J., Weiss В. et al. // Appl. Phys. Lett. 1993. V. 62 (22).P. 2836−2838.
- Bellet D., Dolino G., Ligeon M., Blanc P., Krisch M., J. Appl. Phys., 71,145 (1992).
- Шуман В.Б., Ратников B.B., Савкина H.C. Письма в ЖТФ, 2002, том 28, вып. 10
- Радованова Е.И. Автореф. канд. дис. ФТИ им. А. Ф. Иоффе АН СССР. Л., 1973.
- HerinoR., BomchilC., BarlaC. et al. //Journ. El. Soc. 1987. V. 134 (8). P. 19 942 000.
- HerinoR., BomchilC., BarlaC. et al. //Journ. El. Soc. 1987. V. 134 (8). P. 19 942 000.
- Arita V., Sunohara Y.//Journ. El. Soc. 1977. V. 124 (2). P. 285−295.
- Canham L.T. Appl. Phys. Lett. 57, (1994), p.1046.
- Konstantinov A.O., Henry A., Harris C.//Appl.Phys. Lett. 1995, V.66. № 17. P.2250−2252.
- Милешко Л.П., Варзарёв Ю. Н. Кинетические и термодинамические особенности анодного окисления карбида кремния в электролитах на основе этиленгликоля. Физика и химия обработки материалов. 2000, № 2, с.45−48.
- Светличный А. М. Конакова Р.В., Московченко Н. Н и др. Морфологические и оптические свойства слоев пористого карбида кремния, легированного титаном «Письма в ЖТФ» 2006, том 32, вып.4
- Данишевский A.M., Шуман В. Б., Рогачев А. Ю. и др. // ФТП, 1996, Т.ЗО. В.6. С. 1064−1070.
- Данишевский A.M., Шуман В. Б., Гук Е.Г. и др. // ФТП, 1997, Т.31. В.4. С. 420−424.
- Данишевский A.M., Шуман В. Б., Рогачев А. Ю. и др. // ФТП, 1995, Т.29. В.12. С. 2122−2132.
- Касимов Ф.Д., Гусейнов Я. Ю., Светличный A.M., Поляков В. В., Кочеров А. Н. Фотостимулированные процессы окисления карбида кремния. Баку-Таганрог- «Мутарджим"-2005, 84с
- Лазарев В.Б., Соболев В. В., Шаплыгин И. С. Химические и физические свойства простых оксидов металлов. М.: Наука. 1983. 239 с.
- Анацкая Н.О., Осадчев Л. А., Савельев С. П. и др. Пленки оксидов и их соединений в планарных оптических устройствах. Обзоры по электронной технике, Серия „Материалы“, вып. 5 (968). М.: ЦНИИ „Электроника“. 1983. 53 с.
- Мамиконова В.М. Особенности токопереноса в структурах на основе локальных пленок моно- и поликристаллического кремния со средним уровнем легирования, Диссертация на соискание ученой степени кандидата физ.мат. наук. Баку-1986.
- Агеев О.А. Быстрая термообработка некогерентным ИК-излучением контактов к карбиду кремния Таганрог: ТРТУ, 2003. — 128с.
- W.J.Choyke and R.P. Devaty. Characterization of EPI Ill-Nitrides & SiC on porous SiC and photoelectrochemical etching of porous SiC// rewiev. January 3,4,2002, Stockholm.
- Московченко H.H., Светличный A.M., Варзарев Ю. Н. Влияние БТО на характеристики омических контактов Ti-por SiC. „Известия ТРТУ“ № 9 -2005″, с. 96.
- Бонч-Бруевич В.JI., Калашников С. Г. Физика полупроводников// М., 1977 г., 672 с.
- Московченко Н.Н., Светличный A.M., Варзарев Ю. Н. Влияние геометрии контакта Ti пористый SiC на его электрические свойства// Труды V МНТК „Электроника и информатика -2005″, Москва, ноябрь 2005. Изд-во МИЭТ.
- Grekov A., Soloviev S., Das Т., Sudarshan Т. Electrical characterization of Ni/porous SiC/n-SiC structure. Mat. Sci. For., 2003, v.433−436, p.419−422.
- Агеев О.А. Термодинамический анализ твердофазных взаимодействий в контактах Ni/SiC// Известия вузов. Электроника, 2005, № 2, стр.42−48.
- Самсонов Г. В., Винницкий И. М. Тугоплавкие соединения. М.: Металлургия, 1976.-560 с.
- Кубашевский О., Олкокк К. Б. Металлургическая термохимия. М.: Металлургия, 1982. -392 с.
- Агеев О.А. Быстрая термообработка некогерентным ИК-излучением контактов к карбиду кремния Таганрог: ТРТУ, 2003. — 128с.
- Goesmann F., Schmid-Fetzer R. Temperature-dependent interface reactions and electrical contact properties of titanium on 6H-SiC // Semicond. Sci. Technol. 10 (1995) pp. 1653−1658.
- Makhtari A., La Via F., Raineri V. et all. Structural characterisation of titanium silicon carbide reaction // Microelectronic Engineering, v. 55 (2001), p. 375.
- Мясоедов Б.Ф., Давыдов A.B.// Ж.анал.химии. 1990. T.45. С. 1259−1278.
- Persaud К., Dodd G.// Nature. 1982.V.299. P.352−355.
- Gardner J.W., Bartlett P.N.//Sens.Actuat.B.1996.V 33. P. 60−67.
- Lundstrom I., Erlandsson R.//Nature. 1991. V 352. P.47−50.88.http://www.newsit.ru/internet/id27042
- P. Althainz, J. Goschnic, S. Ehrmann, H. J. Ache, „Multisensor microsystem for contaminants in air“, Sensors and Actuators В 33 (1996) 72−76.
- P. Althainz, J. Goschnic, S. Ehrmann, H. J. Ache,"A gas sensor system based on conductivity measurements with segmented metal oxide films to be used in mass products.“ Интернет адрес: http://irchsurf5.fzk.de/mox-sensors/Information/InfoArticleENG.htm
- P. Althainz, J. Goschnic, S. Ehrmann, H. J. Ache,"Gas Detection for Intelligent Mass Products with the Karlsruhe Micronose.» Интернет адрес: http://irchsurf5.fzk.de/mox-sensors/Information/MessTecArticle ENG. htm
- Светличный A.M., Поляков В. В., Кочеров А. Н. Влияние импульсного инфракрасного нагрева на процесс окисления карбида кремния. // В кн.: Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники. Таганрог: ТГРУ, 2002.С.90.
- Бачериков Ю. Ю, Конакова Р. В., Светличный А. М, и др. Влияние сверхвысокочастотного отжига на структуры двуокись кремния-карбид кремния.//ЖТФ, 2003, т.7.№ 5.с.75−78.
- Черняев В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров: Учебник для Вузов. 2-е изд. М.: Радио и связь, 1987.96.3и С. Технология СБИС. М.: Мир, 1986.
- Московченко Н.Н. Использование пористого карбида кремния в качестве активного элемента газочувствительных сенсоров/ Микроэлектроника и информатика 2006, тезисы 13-й МНТК, Зеленоград, 19−21 апреля 2006, с. 52.
- Московченко Н.Н., Негоденко О. Н. Сенсоры дыма на основе оксидов редкоземельных металлов/ НПК «Современные информационные и электронные технологии», Одесса, 22−26 мая 2006, с. 157.
- Kim I.D., Rothschild A., Tuller H.L. Electrospun Ti02 nanofibers for gas sensing applications. NSTI Nanotech 2006. Boston, Massachusetts, May 7−11,2006.
- Gouma P.I. Nanostructured polymorphic oxides for advanced cgemosensors// Rev.Adv.Mater.Sci. 5(2003) 147−154.
- Minerals and reactions at the atomic scale: Transmission electron microscopy, ed. By P.R.Buseck, In: Reviews in mineralogy, vol.27 (MSA, 1993).
- АКТ О ВНЕДРЕНИИ В УЧЕБНЫЙ ПРОЦЕСС
- Зам. Зав. Кафедрой ТМиНА, к.т.н., доцент1. В.В. Иванцов1. Б.Г.Коноплев
- Проректор по научной работегосударственного-л.—?го университетах’урейчик В.М. Ч 1 М 2006 Г. 1. ЕЖЬч VfeJWWSMS ХЖ:.¦•".
- АКТ О ВНЕДРЕНИИ РЕЗУЛЬТАТОВ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОЙ РАБОТЫ
- Технологические процессы изготовления газочувствительных сенсоров на основе пористого SiC и структур ТЮг/пористый SiC.
- Методика измерения температурной зависимости газочувствительности сенсоров на основе пористого SiC.
- Методика формирования пористого слоя с контролируемой толщиной и структурой.
- Технологический процесс получения оксидных пленок на пористом SiC с помощью быстрой термической обработки.1. Декан ФЭП, д-р техн. наук, профессор1. Зам. Зав. Кафедрой ТМиНА, к.т.н., доцент
- ЦЕНТР НАУЧНЫХ И ТЕХНИЧЕСКИХ УСЛУГ1. Э КО Ц ЕНТ Р"г. Таганрог, 'ул. Солодухина 85а Телефон: 7−93−731. АКТвнедрения результатов диссертационных исследований Московченко Н. Н. в ЦЕНТРЕ НАУЧНО- ТЕХНИЧЕСКИХ УСЛУГ «ЭКОЦЕНТР».