Стандарты измерения патентной деятельности

Измерение патентной деятельности и соответствующие патентные индикаторы направлены на оценку научно-технологической деятельности с точки зрения ее результативности (см. раздел 2.3). Рекомендации ОЭСР по измерению патентной деятельности представлены в «Патентном руководстве» [70].

ИНДИКАТОРЫ НАУКИ И ТЕХНОЛОГИИ НА ОСНОВЕ ПАТЕНТНЫХ ДАННЫХ

Общая характеристика

Патенты представляют собой средство защиты изобретений, созданных предприятиями, учреждениями и индивидами, и как таковые могут рассматриваться как индикаторы изобретательской деятельности. Изобретение является первой ступенью инновации, которая требует для своей реализации дополнительных усилий.

В последнее время патентные индикаторы находят вес большее применение при анализе темпа и направления технологических изменений. Необходимое для получения патента условие новизны делает такие индикаторы наиболее релевантными для передовых в технологическом отношении стран.

В качестве индикаторов научной и технологической деятельности патентные индикаторы обладают рядом специфических достоинств и недостатков. К их достоинствам относятся:

• • доступность данных за длительный период времени, собираемых патентными бюро, которые существуют в большинстве стран мира;
• • наличие подробной информации относительно вида технологии, изобретателя, релевантных рынков и т. д.;
• • широкая сеть компьютеризированных баз данных, облегчающая доступ к информации и работу с ней.

К основным недостаткам патентных индикаторов относятся:

• • различие патентного законодательства и патентных процедур в разных странах;
• • различие патентных стратегий предприятий;
• • различие патентного поведения предприятий и в разных секторах [70, 9].

Патентная документация содержит огромное количество самой различной информации относительно самого изобретения, сферы технологии, возможностей его коммерческого использования и т. д. Вся эта информация первоначально обрабатывается сотрудниками патентных бюро, которые классифицируют ее в соответствии с содержанием. Это делает патентную информацию легко доступной и удобной для работы.

Однако просто качественного описания технологий на основании патентной информации оказывается недостаточным для анализа технологическою развития той или иной страны и проведения международных сравнений. Необходима также количественная статистическая информация, позволяющая выстраивать паттерны технологической деятельности на различных уровнях агрегации. В связи с этим был создан целый ряд индикаторов на основе патентной информации, позволяющих соотносить между собой различные отрасли технологии, а также связывать технологию с НИОКР и экономикой в целом.