Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Приборы для наноиндентирования

РефератПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Приборы для наноиндентирования (называемые наноиндентометрами, нанотестерами) принципиально устроены сходным образом (рис. 3.4). Они содержат узел нагружения /, прецизионный датчик 2 для регистрации перемещения индентора 3 на мягких пружинах 4, конструктивно объединенные в одну измерительную головку 5, контроллерный блок 6 и компьютер 7 с пакетом программ для управления всеми рабочими циклами… Читать ещё >

Приборы для наноиндентирования (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Приборы для наноиндентирования (называемые наноиндентометрами, нанотестерами) принципиально устроены сходным образом (рис. 3.4) [52]. Они содержат узел нагружения /, прецизионный датчик 2 для регистрации перемещения индентора 3 на мягких пружинах 4, конструктивно объединенные в одну измерительную головку 5, контроллерный блок 6 и компьютер 7 с пакетом программ для управления всеми рабочими циклами прибора, сбора, обработки и хранения данных. Для выбора места укола служит оптический микроскоп, а для перемещения образца 8 — двухили трехкоординатный столик 9. Набор узлов, их функции и взаимосвязи в наноинденторах и атомно-силовых микроскопах аналогичны (рис. 3.4). Разрешение тракта измерения перемещения зонда в них также сопоставимо и может составлять сотые доли. Поэтому зачастую их объединяют в одном комплексе или даже в одной головке, что позволяет расширить возможности зондовых методов и сделать их одним из наиболее востребованных в современных нанотехнологиях.

Внешний вид динамического ультрамикротвердомера (наноиндентора) DUH-211 фирмы Shimadzu представлен на рис 3.5 и 3.6 — внешний вид нанотвердомера «Nano Hardness Tester» фирмы CSEM.

В технике наноиндентирования используют инденторы различной формы — в виде цилиндра с плоским торцом, сферы, конуса, пирамиды. Каждая из них имеет свои достоинства и недостатки.

Наиболее часто применим трехгранный пирамидальный инденгор Берковича. Он позволяет избежать проблемы сведения четырех граней в одну точку, свойственной инденторам Виккерса, и получить радиус закругления вершины менее 100 нм [52].

Пример представления экспериментальных результатов, полученных на ультрамикротвердомере (наноинденгоре) Shimadzu DUH-211 для керамики ZrB2, спеченной SPS-методом, показан в табл. 3.1.

Принципиальные схемы устройства наноиндентометра (а) и атомно-силового микроскопа (б).

Рис. 3.4. Принципиальные схемы устройства наноиндентометра (а) и атомно-силового микроскопа (б):

1 — сшовая ячейка; 2 — датчик регистрации перемещения подвижного штока с индентором; 3,4- пружины подвески штока; 5 — корпус измерительной головки; 6 — блок контроллера; 7 — компьютер; 8 — образец; 9 — предметный столик; 10- зонд; 11 — пьезоэлектрический актуатор; 12 — консольная микробалочка (квантилевер); 13 — четырехоконный фотоприемник (регистратор перемещения

зонда); 14-лазер [52]

Общий вид ультрамикротвердомера (наноиндентора) DUH-211 фирмы Shimadzu.

Рис. 3.5. Общий вид ультрамикротвердомера (наноиндентора) DUH-211 фирмы Shimadzu

Общий вид нанотвердомера «Nano Hardness Tester» фирмы CSEM.

Рис. 3.6. Общий вид нанотвердомера «Nano Hardness Tester» фирмы CSEM

Таблица 3.1.

Экспериментальные результаты, полученные на ультрамикротвердомере (наноинденторе) Shimadzu DUH-211 для керамики ZrB2, спеченной SPS-

методом

SEQ.

F.

1 max.

hmax.

HMT1.

Hit.

Eit.

Cit.

nit.

HV*.

HT11.

[mN].

[urn].

[N/m.

m21.

[N/m.

m21.

[N/m.

m21.

[%].

[%].

  • 1970,1
  • 5
  • 18,308
  • 5
  • 222,38
  • 1

262,29.

2,43E.

+04.

0,831.

30,256.

24,236.

  • 1185,0
  • 67
  • 1970,5
  • 9
  • 17,773
  • 8
  • 236,01
  • 5
  • 279,71
  • 3

2,4 IE +04.

0,582.

36,583.

25,845.

  • 1095,0
  • 49
  • 1973,5
  • 6

3,7949.

  • 5184,9
  • 63
  • 8128,5
  • 7

1,48E.

+05.

3,14.

35,252.

751,08.

  • 1206,0
  • 6
  • 1971,3
  • 2

3,6145.

  • 5709,1
  • 04
  • 9303,1
  • 79

1,52E.

+05.

2,559.

37,771.

  • 859,61
  • 4
  • 1279,3
  • 08
  • 1968,4
  • 5

3,6731.

  • 5520,2
  • 23
  • 8907,0
  • 88

1,49E.

+05.

2,908.

37,706.

  • 823,01
  • 5
  • 1288,7
  • 66
  • 1967,8
  • 4

3,5437.

  • 5929,0
  • 2
  • 9898,3
  • 4

1,5 IE +05.

3,326.

39,559.

  • 914,60
  • 7
  • 1543,1
  • 15
  • 1967,8
  • 4

3,5872.

  • 5786,0
  • 04
  • 9456,1
  • 69

1,53E.

+05.

2,999.

38,527.

873,75.

  • 1482,7
  • 8
  • 1967,6
  • 7

2,9168.

  • 8750,4
  • 16
  • 15 992,
  • 4

2,04E.

+05.

3,54.

44,434.

  • 1477,6
  • 97
  • 2159,5
  • 31
  • 1967,8
  • 6

3,2985.

  • 6843,2
  • 31
  • 11 372,
  • 2

1,80E.

+05.

2,898.

36,927.

  • 1050,7
  • 91
  • 1499,9
  • 48
  • 1967,8
  • 9

2,717.

  • 10 086,
  • 28
  • 18 207,
  • 5

2,48E.

+05.

2,187.

43,991.

  • 1682,3
  • 73
  • 2144,3
  • 25

Avg.

  • 1969,3
  • 2

6,3228.

  • 5426,7
  • 64
  • 9180,7
  • 44

1,43E.

+05.

2,497.

38,101.

  • 848,30
  • 1
  • 1488,3
  • 95

Std.

Dev.

2,01.

6,187.

  • 3150,3
  • 41
  • 5708,0
  • 68
  • 70 357,
  • 33

1,017.

4,092.

  • 527,42
  • 5
  • 379,
  • 517

CV.

0,102.

97,848.

58,052.

62,174.

49,106.

40,739.

10,74.

62,174.

25,474.

В таблице приведены следующие обозначения:

SEQ — номер измерения;

Fmax — максимальная нагрузка измерения;

hmax — максимальная глубина вдавливания;

hp — величина («высота») пластической деформации;

hr — величина («высота») упругой деформации;

НМТ115 — твердость по измерению трехгранным индентором;

HMs — твердость по Мартенсу — по углу наклона нагрузочной кривой;

Hit — твердость вдавливания;

Ей — модуль вдавливания (модуль Юнга);

Cit — коэффициент текучести — (перемещение от мгновенного до стационарного режима вдавливания, отнесенное к мгновенному);

nit — относительная величина упругой составляющей работы деформации от полной работы деформации (упругой + пластической);

HV — твердость по Виккерсу (= 0.0924*Hit);

Average — среднее арифметическое значение по всем измерениям.

(Примечание. Некоторые из указанных обозначений не приведены в таблице, хотя выдаются прибором.).

В качестве еще одного примера использования нанотвсрдометрии приведены результаты испытаний керамических образцов, выполненных в НОИЦ НМНТ НИ ТПУ методом динамической ультрамикротвердометрии (нанотвердометрии).

Оценку упругопластических свойств, а также микротвердости спеченной керамики YbLuY02 проводили на динамическом ультрамикротвердомере (наноинденторе) Shimadzu DUH-211S. Результаты исследований механических характеристик показали, что модуль продольной упругости исследуемой керамики находится в диапазоне значений от 150 до 200 ГПа в зависимости от приложенной нагрузки (500 и 2000 мН соответственно) и слабо зависит от режимов прессования. При этом полученная керамика характеризуется выраженным вкладом пластической составляющей деформации. В частности, относительная величина пластической составляющей работы деформации составляет до 60% от полной работы деформации, а коэффициент текучести материала при индентировании, характеризующий долю перемещения индентора в процессе течения материала под нагрузкой от ее пикового значения к установившемуся значению, составляет около 2% (рис. 3.7). Величина микротвердости полученной керамической структуры составляет 12,8 ГПа.

Кривые нагружения при наноиндентировании керамики YbLuYC>2 с линией обратного хода, характеризующей упругую составляющую." loading=

Рис. 3.7. Кривые нагружения при наноиндентировании керамики YbLuYC>2 с линией обратного хода, характеризующей упругую составляющую.

деформации

Таблица 3.2.

Результаты испытаний керамических образцов, выполненных в НОИЦНМНТ НИ ТПУ методом динамической ультрамикротвердометрии (нанотвердометрии)

Материал.

Метод.

Т сп., °С.

F, мН.

Е, ГПа.

Cit, %.

nit, %.

HI 15, ГПа.

Yb:LuY02

Статическое.

161,0.

2.244.

45,419.

10.65.

YAG.

SPS.

200,5.

1,252.

51,249.

16.29.

YAG.

SPS.

148,0.

1,602.

52,520.

14.50.

YAG.

УЗ (W=l кВт) +SPS.

111,0.

1,254.

56,535.

16.91.

YAG.

УЗ (W=l кВт) +SPS.

172,1.

1,004.

53,077.

18.98.

YAG.

УЗ (W=l кВт) +SPS.

93,2.

1,217.

58,832.

12.42.

YAG.

УЗ (W=l кВт) +SPS.

155,3.

1,847.

47,266.

13.02.

YAG.

Статическое 318 МПа.

1750*.

111,2.

2,992.

41,494.

13.09.

YAG.

Статическое 478 МПа.

1750*.

110,2.

1,482.

50,078.

13.43.

YAG.

УЗ (W=2 кВт) 318 МПа.

1750*.

172,2.

1,679.

45,168.

13.32.

YAG.

УЗ (W=2 кВт) 478 МПа.

1750*.

101,6.

1,913.

47,826.

13.57.

YSZ.

Статическое.

176,8.

1,331.

45,311.

11.87.

YSZ.

УЗ (У=1 кВт).

199,5.

1,279.

49,796.

14.42.

YSZ.

Коллекторное.

179,8.

1,395.

46,303.

12.26.

АЬОз.

SPS.

221,2.

1,283.

45,231.

12.02.

Примечание:

Yb:LuY02 — допированная иттербием керамика на основе оксидов иттрия и лютеция (0.01 vol. %Yb3+>:[LuxY (l-x)C>3];

YAG — керамика на основе иттрий-алюминиевого граната Y3AI5O12; YSZ — циркониевая керамика, модифицированная примесью иттрия;

«Метод» — метод получения керамических образцов;

«Статическое» — статическое прессование образцов с последующим термическим отжигом;

«УЗ» — прессование порошков с наложением ультразвукового воздействия (W = 1 КВт) — мощность ультразвукового воздействия;

«SPS» — спекание в плазме искрового разряда (SPS-spark plasma sintering);

Т сп., °С — температура спекания образцов;

F, мН — нагрузка индентирования.

Для оценки относительной прочности межзеренных связей один из образцов керамики Yb: LuY02 был подвергнут разрушению с последующим исследованием поверхности скола, а также структуры возникших в процессе механического воздействия трещин. Анализ изображений показал, что разрушение керамики носит преимущественно транскристаллитный характер: поверхность скола практически полностью состоит из поверхностей излома зерен (рис. 3.8, б), а трещины распространяются независимо от расположения межзеренных границ (рис. 3.8, в). Эго обстоятельство указывает на высокую прочность межзеренных связей и достаточную степень совершенства межзеренных границ в полученной прозрачной керамике.

Результаты изучения свободной поверхности и поверхности скола спеченных образцов методами СЭМ показали, что синтезированная керамика Yb: LuY02 состоит из зерен со средним размером 8 мкм, что наряду с данными ACM указывает на протекающие при спекании процессы рекристаллизации частиц в первичных агломератах компактов (рис. 3.8, а).

Кроме того, СЭМ-анализ позволяет утверждать, что толщина межзеренных границ в спеченной керамике Yb: LuY02 не превышает значения 1 нм, поскольку паспортный предел разрешения СЭМ (1 нм) не позволяет достоверно оценить их размеры на фойе структурных элементов на поверхности разрушения самого зерна (рис. 3.8, г). Характер расположения сколов зерен в спеченной керамике не обнаруживает преимущественной ориентации, что указывает на отсутствие или равномерное распределение остаточных механических напряжений полученной структуры.

СЭМ-изображения свободной поверхности (а), поверхности скола (б), характера распространения трещин (в) и межзеренных границ (г) прозрачной керамит, спеченной из компактов НП Yb:LuY0.

Рис. 3.8. СЭМ-изображения свободной поверхности (а), поверхности скола (б), характера распространения трещин (в) и межзеренных границ (г) прозрачной керамит, спеченной из компактов НП Yb: LuY02

Показать весь текст
Заполнить форму текущей работой