Приборы для наноиндентирования
Приборы для наноиндентирования (называемые наноиндентометрами, нанотестерами) принципиально устроены сходным образом (рис. 3.4). Они содержат узел нагружения /, прецизионный датчик 2 для регистрации перемещения индентора 3 на мягких пружинах 4, конструктивно объединенные в одну измерительную головку 5, контроллерный блок 6 и компьютер 7 с пакетом программ для управления всеми рабочими циклами… Читать ещё >
Приборы для наноиндентирования (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
Приборы для наноиндентирования (называемые наноиндентометрами, нанотестерами) принципиально устроены сходным образом (рис. 3.4) [52]. Они содержат узел нагружения /, прецизионный датчик 2 для регистрации перемещения индентора 3 на мягких пружинах 4, конструктивно объединенные в одну измерительную головку 5, контроллерный блок 6 и компьютер 7 с пакетом программ для управления всеми рабочими циклами прибора, сбора, обработки и хранения данных. Для выбора места укола служит оптический микроскоп, а для перемещения образца 8 — двухили трехкоординатный столик 9. Набор узлов, их функции и взаимосвязи в наноинденторах и атомно-силовых микроскопах аналогичны (рис. 3.4). Разрешение тракта измерения перемещения зонда в них также сопоставимо и может составлять сотые доли. Поэтому зачастую их объединяют в одном комплексе или даже в одной головке, что позволяет расширить возможности зондовых методов и сделать их одним из наиболее востребованных в современных нанотехнологиях.
Внешний вид динамического ультрамикротвердомера (наноиндентора) DUH-211 фирмы Shimadzu представлен на рис 3.5 и 3.6 — внешний вид нанотвердомера «Nano Hardness Tester» фирмы CSEM.
В технике наноиндентирования используют инденторы различной формы — в виде цилиндра с плоским торцом, сферы, конуса, пирамиды. Каждая из них имеет свои достоинства и недостатки.
Наиболее часто применим трехгранный пирамидальный инденгор Берковича. Он позволяет избежать проблемы сведения четырех граней в одну точку, свойственной инденторам Виккерса, и получить радиус закругления вершины менее 100 нм [52].
Пример представления экспериментальных результатов, полученных на ультрамикротвердомере (наноинденгоре) Shimadzu DUH-211 для керамики ZrB2, спеченной SPS-методом, показан в табл. 3.1.
Рис. 3.4. Принципиальные схемы устройства наноиндентометра (а) и атомно-силового микроскопа (б):
1 — сшовая ячейка; 2 — датчик регистрации перемещения подвижного штока с индентором; 3,4- пружины подвески штока; 5 — корпус измерительной головки; 6 — блок контроллера; 7 — компьютер; 8 — образец; 9 — предметный столик; 10- зонд; 11 — пьезоэлектрический актуатор; 12 — консольная микробалочка (квантилевер); 13 — четырехоконный фотоприемник (регистратор перемещения
зонда); 14-лазер [52]
Рис. 3.5. Общий вид ультрамикротвердомера (наноиндентора) DUH-211 фирмы Shimadzu
Рис. 3.6. Общий вид нанотвердомера «Nano Hardness Tester» фирмы CSEM
Таблица 3.1.
Экспериментальные результаты, полученные на ультрамикротвердомере (наноинденторе) Shimadzu DUH-211 для керамики ZrB2, спеченной SPS-
методом
SEQ. | F. 1 max. | hmax. | HMT1. | Hit. | Eit. | Cit. | nit. | HV*. | HT11. |
[mN]. | [urn]. | [N/m. m21. | [N/m. m21. | [N/m. m21. | [%]. | [%]. | |||
|
|
| 262,29. | 2,43E. +04. | 0,831. | 30,256. | 24,236. |
| |
|
|
|
| 2,4 IE +04. | 0,582. | 36,583. | 25,845. |
| |
| 3,7949. |
|
| 1,48E. +05. | 3,14. | 35,252. | 751,08. |
| |
| 3,6145. |
|
| 1,52E. +05. | 2,559. | 37,771. |
|
| |
| 3,6731. |
|
| 1,49E. +05. | 2,908. | 37,706. |
|
| |
| 3,5437. |
|
| 1,5 IE +05. | 3,326. | 39,559. |
|
| |
| 3,5872. |
|
| 1,53E. +05. | 2,999. | 38,527. | 873,75. |
| |
| 2,9168. |
|
| 2,04E. +05. | 3,54. | 44,434. |
|
| |
| 3,2985. |
|
| 1,80E. +05. | 2,898. | 36,927. |
|
| |
| 2,717. |
|
| 2,48E. +05. | 2,187. | 43,991. |
|
| |
Avg. |
| 6,3228. |
|
| 1,43E. +05. | 2,497. | 38,101. |
|
|
Std. Dev. | 2,01. | 6,187. |
|
|
| 1,017. | 4,092. |
|
|
CV. | 0,102. | 97,848. | 58,052. | 62,174. | 49,106. | 40,739. | 10,74. | 62,174. | 25,474. |
В таблице приведены следующие обозначения:
SEQ — номер измерения;
Fmax — максимальная нагрузка измерения;
hmax — максимальная глубина вдавливания;
hp — величина («высота») пластической деформации;
hr — величина («высота») упругой деформации;
НМТ115 — твердость по измерению трехгранным индентором;
HMs — твердость по Мартенсу — по углу наклона нагрузочной кривой;
Hit — твердость вдавливания;
Ей — модуль вдавливания (модуль Юнга);
Cit — коэффициент текучести — (перемещение от мгновенного до стационарного режима вдавливания, отнесенное к мгновенному);
nit — относительная величина упругой составляющей работы деформации от полной работы деформации (упругой + пластической);
HV — твердость по Виккерсу (= 0.0924*Hit);
Average — среднее арифметическое значение по всем измерениям.
(Примечание. Некоторые из указанных обозначений не приведены в таблице, хотя выдаются прибором.).
В качестве еще одного примера использования нанотвсрдометрии приведены результаты испытаний керамических образцов, выполненных в НОИЦ НМНТ НИ ТПУ методом динамической ультрамикротвердометрии (нанотвердометрии).
Оценку упругопластических свойств, а также микротвердости спеченной керамики YbLuY02 проводили на динамическом ультрамикротвердомере (наноинденторе) Shimadzu DUH-211S. Результаты исследований механических характеристик показали, что модуль продольной упругости исследуемой керамики находится в диапазоне значений от 150 до 200 ГПа в зависимости от приложенной нагрузки (500 и 2000 мН соответственно) и слабо зависит от режимов прессования. При этом полученная керамика характеризуется выраженным вкладом пластической составляющей деформации. В частности, относительная величина пластической составляющей работы деформации составляет до 60% от полной работы деформации, а коэффициент текучести материала при индентировании, характеризующий долю перемещения индентора в процессе течения материала под нагрузкой от ее пикового значения к установившемуся значению, составляет около 2% (рис. 3.7). Величина микротвердости полученной керамической структуры составляет 12,8 ГПа.
Рис. 3.7. Кривые нагружения при наноиндентировании керамики YbLuYC>2 с линией обратного хода, характеризующей упругую составляющую.
деформации
Таблица 3.2.
Результаты испытаний керамических образцов, выполненных в НОИЦНМНТ НИ ТПУ методом динамической ультрамикротвердометрии (нанотвердометрии)
Материал. | Метод. | Т сп., °С. | F, мН. | Е, ГПа. | Cit, %. | nit, %. | HI 15, ГПа. |
Yb:LuY02 | Статическое. | 161,0. | 2.244. | 45,419. | 10.65. | ||
YAG. | SPS. | 200,5. | 1,252. | 51,249. | 16.29. | ||
YAG. | SPS. | 148,0. | 1,602. | 52,520. | 14.50. | ||
YAG. | УЗ (W=l кВт) +SPS. | 111,0. | 1,254. | 56,535. | 16.91. | ||
YAG. | УЗ (W=l кВт) +SPS. | 172,1. | 1,004. | 53,077. | 18.98. | ||
YAG. | УЗ (W=l кВт) +SPS. | 93,2. | 1,217. | 58,832. | 12.42. | ||
YAG. | УЗ (W=l кВт) +SPS. | 155,3. | 1,847. | 47,266. | 13.02. | ||
YAG. | Статическое 318 МПа. | 1750*. | 111,2. | 2,992. | 41,494. | 13.09. | |
YAG. | Статическое 478 МПа. | 1750*. | 110,2. | 1,482. | 50,078. | 13.43. | |
YAG. | УЗ (W=2 кВт) 318 МПа. | 1750*. | 172,2. | 1,679. | 45,168. | 13.32. | |
YAG. | УЗ (W=2 кВт) 478 МПа. | 1750*. | 101,6. | 1,913. | 47,826. | 13.57. | |
YSZ. | Статическое. | 176,8. | 1,331. | 45,311. | 11.87. | ||
YSZ. | УЗ (У=1 кВт). | 199,5. | 1,279. | 49,796. | 14.42. | ||
YSZ. | Коллекторное. | 179,8. | 1,395. | 46,303. | 12.26. | ||
АЬОз. | SPS. | 221,2. | 1,283. | 45,231. | 12.02. |
Примечание:
Yb:LuY02 — допированная иттербием керамика на основе оксидов иттрия и лютеция (0.01 vol. %Yb3+>:[LuxY (l-x)C>3];
YAG — керамика на основе иттрий-алюминиевого граната Y3AI5O12; YSZ — циркониевая керамика, модифицированная примесью иттрия;
«Метод» — метод получения керамических образцов;
«Статическое» — статическое прессование образцов с последующим термическим отжигом;
«УЗ» — прессование порошков с наложением ультразвукового воздействия (W = 1 КВт) — мощность ультразвукового воздействия;
«SPS» — спекание в плазме искрового разряда (SPS-spark plasma sintering);
Т сп., °С — температура спекания образцов;
F, мН — нагрузка индентирования.
Для оценки относительной прочности межзеренных связей один из образцов керамики Yb: LuY02 был подвергнут разрушению с последующим исследованием поверхности скола, а также структуры возникших в процессе механического воздействия трещин. Анализ изображений показал, что разрушение керамики носит преимущественно транскристаллитный характер: поверхность скола практически полностью состоит из поверхностей излома зерен (рис. 3.8, б), а трещины распространяются независимо от расположения межзеренных границ (рис. 3.8, в). Эго обстоятельство указывает на высокую прочность межзеренных связей и достаточную степень совершенства межзеренных границ в полученной прозрачной керамике.
Результаты изучения свободной поверхности и поверхности скола спеченных образцов методами СЭМ показали, что синтезированная керамика Yb: LuY02 состоит из зерен со средним размером 8 мкм, что наряду с данными ACM указывает на протекающие при спекании процессы рекристаллизации частиц в первичных агломератах компактов (рис. 3.8, а).
Кроме того, СЭМ-анализ позволяет утверждать, что толщина межзеренных границ в спеченной керамике Yb: LuY02 не превышает значения 1 нм, поскольку паспортный предел разрешения СЭМ (1 нм) не позволяет достоверно оценить их размеры на фойе структурных элементов на поверхности разрушения самого зерна (рис. 3.8, г). Характер расположения сколов зерен в спеченной керамике не обнаруживает преимущественной ориентации, что указывает на отсутствие или равномерное распределение остаточных механических напряжений полученной структуры.
Рис. 3.8. СЭМ-изображения свободной поверхности (а), поверхности скола (б), характера распространения трещин (в) и межзеренных границ (г) прозрачной керамит, спеченной из компактов НП Yb: LuY02