Дифракция рентгеновских лучей в поликристаллических образцах

Рентгеноструктурный анализ можно проводить не только на монокристаллах, но и на поликристаллических образцах (спрессованные порошки, металлическая проволока и т. д.). Это метод Дебая-Шерера.

При работе с монохроматическим рентгеновским излучением видно, что спектрограммы поликристаллических образцов имеют наиболее простой вид. Как это уже объяснялось выше, используя монокристаллы, необходимо изменять наклон образца по отношению к падающему пучку.

При изучении поликристаллов это необязательно, так как среди многочисленных кристаллов, входящих в состав образца, всегда найдутся такие, которые ориентированы на выполнение условия Брегта-Вульфа. Отраженные от данной кристаллической плоскости лучи образуют конус, ось которого направлена по падающему лучу. Угол при вершине конуса равен 4<�р.

Окружим образец полоской фотопленки, свернутой в виде цилиндра и расположенной так, что падающий пучок проходит по его диаметру (рис. 7.3). Конус отраженных лучей пересекает цилиндрическую поверхность пленки по некоторой кривой. После проявления на пленке видны следы от ее пересечения конусами лучей, отраженных от разных кристаллических плоскостей и соответствующих различным порядкам отражения. Полученная таким образом спектрограмма носит название дебаеграммы.

По дебаеграмме может быть определена структура кристалла. Обычно ее снимают не на монохроматическом, а на характеристическом излучении /(-серии, содержащем две интенсивные линии К_а и Ар. Это несколько усложняет расшифровку спектрограмм такого типа.