Расчет основных формул по основам электроники
Построить в масштабе график 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии». Построить график 4 «Температурная зависимость Ef для донорной примеси по полученным точкам «. Рассчитать температурную зависимость положения уровня Ферми Ef (T) в донорном полупроводнике. Для низкотемпературной области найти положение максимума зависимости Ef (T), т. е. вычислить и. Концентрация… Читать ещё >
Расчет основных формул по основам электроники (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
КУРСОВАЯ РАБОТА Расчет основных формул по основам электроники по дисциплине
" ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ"
Вариант 28
Чита
Исходные данные
0,78 | 0,04 | 0,035 | 0,2 | 0,6 | 250 | ||||||
Физические и математические постоянные:
1. Постоянная Планка
2. Элементарный заряд
3. Масса покоя электрона
4. Постоянная Больцмана
5. Число пи
6. Число е
7. Электрическая постоянная
1. Рассчитать температурную зависимость концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике
Исходные формулы:
а) Получение расчетной формулы
Пример:
б) Результаты расчетов представил в таблице 1.
Таблица 1.
Концентрация равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике.
T | T3/2 | 1/T | KT | n0 | lnn0 | |
649,5 190 528 | 0,13 333 333 | 0,6 463 | 0,3 973 436 | — 5,528 124 115 | ||
0,01 | 0,8 617 | 21 789,62053 | 9,989 189 013 | |||
1314,534 138 | 0,8 333 333 | 0,10 341 | 54 057 905,69 | 17,80 556 636 | ||
1837,117 307 | 0,6 666 667 | 0,12 926 | 1,42581E+11 | 25,68 317 669 | ||
2828,427 125 | 0,005 | 0,17 235 | 4,14293E+14 | 33,65 759 481 | ||
5196,152 423 | 0,3 333 333 | 0,25 852 | 1,43642E+18 | 41,80 868 748 | ||
0,0025 | 0,3 447 | 9,60747E+19 | 46,116 581 | |||
11 180,33989 | 0,002 | 0,43 087 | 1,2904E+21 | 48,60 924 193 | ||
в) Построил график 1 зависимости равновесной конфигурации носителей тока от температуры в координатах .
График 1
г) Проверить правильность построения графика, выполнив обратную задачу: используя значение tg б, найти ширину запрещенной зоны полупроводника? Е, сравнить с исходным значением? Е. Найти погрешность д (?Е).
2. Рассчитать температурную зависимость уровня Ферми в собственном полупроводнике
Расчетная формула:
а) результаты расчетов представил в таблице 2
Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике
Таблица 2
T, K | KT, эВ | Ef, эВ | Ef/Ef0*100% | |
0,8 617 375 | 0,397 100 366 | 101,8 206 066 | ||
0,1 723 475 | 0,404 200 731 | 103,6 412 132 | ||
0,25 852 126 | 0,411 301 097 | 105,4 618 198 | ||
0,34 469 501 | 0,418 401 463 | 107,2 824 264 | ||
0,43 086 876 | 0,425 501 829 | 109,103 033 | ||
б) Построил график 2 «Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике
График 2
3. Рассчитать температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n тока методом последовательных приближений. В качестве начальных температур использовать значения Ti =400 К ,Ts=50 К
Расчетные формулы:
Таблица 3.
N приближ. | |||||||
Ti, K | 986,672 473 | 761,51 462 | 814,6 480 626 | 800,77 865 | 803,9 251 818 | ||
Nc*10E+25, | 0,345 561 057 | 1,337 502 517 | 0,907 720 567 | 1,4 361 024 | 0,977 536 968 | 0,984 596 428 | |
Nv*10E+25 | 1,795 587 925 | 6,949 866 942 | 4,716 654 422 | 5,218 812 967 | 5,79 431 084 | 5,116 113 117 | |
803,1 185 939 | 803,1 134 442 | |
0,983 115 014 | ||
5,108 415 461 | ||
Таблица 4.
N приближ | ||||||||||
Ts, K | 50,000 | 346,476 | 109,388 | 184,635 | 140,692 | 160,530 | 150,249 | 155,238 | 152,735 | |
Nc*10E+23 | 1,527 | 27,858 | 4,942 | 10,837 | 7,208 | 8,786 | 7,955 | 8,355 | 8,153 | |
153,970 | 153,355 | 153,660 | 153,509 | |
8,253 | 8,203 | 8,228 | ||
4. Рассчитать температуру ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений
Расчетные формулы:
Таблица 5.
N приближ. | ||||||||||
Ti, K | 856,68 | 704,36 | 738,10 | 729,75 | 731,76 | 731,27 | 731,39 | 731,36 | ||
Nc*10E+25, | 0,3455 | 1,83 100 | 0,8074 | 0,8661 | 0,8515 | 0,8550 | 0,8541 | 0,8544 | ||
Nv*10E+25 | 1,7955 | 5,627 955 | 4,1958 | 4,5008 | 4,4246 | 4,4429 | 4,4385 | 4,4396 | ||
Таблица 6.
N приближ | ||||||||||
Ts, K | 110,34 | 83,43 | 91,29 | 88,60 | 89,48 | 89,19 | 89,28 | 89,25 | ||
Nv*10E+23 | 7,9354 | 26,0163 | 17,104 | 19,579 | 18,719 | 18,998 | 18,9 | 18,93 | ||
5. Рассчитать температурную зависимость положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводнике
а) для низкотемпературной области использовать формулу:
Таблица 7.
T, K | 153,5 | ||||||
KT, эВ | 0,430 869 | 0,861 738 | 0,4 308 688 | 0,5 170 425 | 0,68 939 | 0,13 227 671 | |
Nc, м-3 | 4,82936E+21 | 1,36595E+22 | 1,52718E+23 | 2,00753E+23 | 3,09079E+23 | 8,21481E+23 | |
Ef, эВ | — 0,1 954 453 | — 0,1 953 705 | — 0,2 288 620 | — 0,2 417 045 | — 0,2 704 804 | — 0,3 998 852 | |
График 3 Зависимость Ef(T) для полупроводника n-типа в области низких температур.
б) для низкотемпературной области найти положение максимума зависимости Ef(T), т. е. вычислить и
в) для области средних температур использовать формулу:
Таблица 8.
T, K | ||||||||
KT, эВ | 0,861 737 | 0,12 926 063 | 0,1 723 475 | 0,21 543 438 | 0,2 585 212 | 0,3 016 081 | 0,34 469 501 | |
Nc, м-3 | 4,3195E+23 | 7,93545E+23 | 1,22174E+24 | 1,70744E+24 | 2,2444E+24 | 2,8283E+24 | 3,4556E+24 | |
Ef, эВ | — 0,1 453 136 | — 0,2 965 864 | — 0,4 698 205 | — 0,6 593 848 | — 0,861 962 | — 0,10 753 629 | — 0,12 980 275 | |
803,1 | ||||||||
0,38 778 188 | 0,43 086 876 | 0,47 395 564 | 0,517 042 | 0,56 013 | 0,60 322 | 0,6 463 | 0,6 920 614 | |
4,12338E+24 | 4,82936E+24 | 5,57159E+24 | 6,348E+24 | 7,16E+24 | 8E+24 | 8,87E+24 | 9,83081E+24 | |
— 0,15 287 922 | — 0,17 667 528 | — 0,20 111 873 | — 0,2 261 505 | — 0,25 172 | — 0,27 779 | — 0,30 432 | — 0,332 968 031 | |
г) в области высоких температур использовать формулу:
Таблица 9.
T, К | |||||
KT, эВ | 0,34 469 501 | 0,38 778 188 | 0,43 086 876 | 0,47 395 564 | |
Ef, эВ | — 0,361 598 537 | — 0,358 048 354 | — 0,354 498 171 | — 0,350 947 989 | |
д) построить график 4 «Температурная зависимость Ef для донорной примеси по полученным точкам «.
График 4.
6. Рассчитать критическую концентрацию вырождения донорной примеси
. В и
7.Рассчитать равновесную концентрацию основных и неосновных носителей тока в p-n и n — областях p-n перехода при температуре Т=300К. Полагая, что примесь полностью ионизирована, считать и равным концентрации соответствующей примеси
Концентрация неосновных носителей найти из закона действующих масс в и перевести в .
8. Найти высоту потенциального барьера равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов
9. Найти положение уровней Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответственно .(Т=300К)
а)
б)
в) определить высоту потенциального барьера p-n-перехода (проверка правильности п.8)
10. Найти толщину p-n-перехода в равновесном состоянии (Т=300К)
11. Определить толщину пространственного заряда в p-n-областях
12. Построить в масштабе график 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии»
График 5.
13. Найти максимальную напряженность электрического поля в равновесном p-n-переходе. Построить график 6 «Зависимость напряженности электростатического поля от расстояния в p-n-переходе»
График 6.
14. Найти падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода
15. Построить график 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния»
Задать 5 значений Хр через равные интервалы и вычислить 5 значений .
Задать 5 значений Хn через равные интервалы и вычислить 5 значений .
Таблица 9.
Xp*1E-7 | 0,245 902 211 | 0,491 804 423 | 0,737 706 634 | 0,983 608 846 | 1,229 511 057 | |
цp | 0,14 588 944 | 0,58 355 776 | 0,131 300 495 | 0,233 423 102 | 0,364 723 597 | |
Xn*1E-7 | — 0,122 951 106 | — 0,245 902 211 | — 0,368 853 317 | — 0,491 804 423 | — 0,614 755 529 | |
цn, в | — 0,7 294 472 | — 0,29 177 888 | — 0,65 650 248 | — 0,116 711 551 | — 0,182 361 799 | |
График 7.
16. Вычислить барьерную емкость p-n-перехода расчете на S=1 смІ для трех случаев
а) равновесное состояние p-n-перехода
б) при обратном смещении V=1 В
в) при прямом смещении V=0.8 Vk
Вывод: При обратном смещении барьерная емкость уменьшается. при прямом смещении барьерная емкость увеличивается.
17. Вычислить коэффициент диффузии для электронов и дырок (в смІ/с) и диффузионную длину для электронов и дырок (в см) при Т=300 К
18. Вычислить электропроводность и удельное сопротивление собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа при Т=300 К
Выводы: а) проводимостью неосновных носителей в легированных полупроводника можно пренебречь по сравнению с прводимостью, обусловленной основными носителями.
б) легированный п/п обладает большей электропроводностью.
В 10 раз.
19. Определить величину плотности обратного тока p-n-перехода при Т=300 К вА/смІ
20. Построить обратную ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К
Результаты расчетов привести в таблице 10.
По данным таблицы 10 построить график 7 «Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода».
Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К.
Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода
Таблица 10.
N | |||||||
qV | 4,14195E-22 | 1,24259E-21 | 2,07098E-21 | 4,14195E-21 | 6,21293E-21 | 8,2839E-21 | |
V | — 0,2 585 213 | — 0,7 755 638 | — 0,12 926 063 | — 0,25 852 126 | — 0,38 778 188 | — 0,51 704 251 | |
j*10, А/смІ | — 4,15542E-07 | — 1,13176E-06 | — 1,71814E-06 | — 2,76025E-06 | — 3,39232E-06 | — 3,77569E-06 | |
1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 2,07098E-20 | 2,48517E-20 | 8,2839E-20 | |
— 0,77 556 377 | — 0,103 408 502 | — 0,129 260 628 | — 0,155 112 753 | — 0,51 704 251 | |
— 4,14925E-06 | — 4,28667E-06 | — 4,33723E-06 | — 4,35583E-06 | — 4,3667E-06 | |
График 8.
21. Построить прямую ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К
Результаты расчетов привести в таблице 11.
Прямая ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К.
Таблица 11.
N | ||||||||
qV | 4,14195E-21 | 8,2839E-21 | 1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 1,86388E-20 | 2,07098E-20 | 8,2839E-20 | |
V | 0,25 852 126 | 0,51 704 251 | 0,77 556 377 | 0,103 408 502 | 0,116 334 565 | 0,129 260 628 | 0,517 042 511 | |
j, А/смІ | 7,50313E-09 | 2,78987E-08 | 8,33397E-08 | 2,34044E-07 | 3,88706E-07 | 6,437E-07 | 2,118 519 275 | |
График 9.
22. Вычислить отношение jпр/jобр при и при . Сформулировать вывод
Вывод:
Чем больше напряжение, тем выше коэффициент выпрямления