Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Композитные керамические материалы с отрицательной и положительной магниторезистивностью на основе La0, 67Sr0, 33MnO3

РефератПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В зависимости электрического сопротивления образцов композита 1-го типа от концентрации (N) стеклообразующего компонента наблюдается резкий рост сопротивления при N > 25%. Этот факт свидетельствует о существовании перколяционной границы вблизи указанной концентрации GeO2. Отметим также, что при увеличении концентрации GeO2 меняется тип проводимости с p — типа на n — тип при N = 25%. В образцах… Читать ещё >

Композитные керамические материалы с отрицательной и положительной магниторезистивностью на основе La0, 67Sr0, 33MnO3 (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Аннотация

Манганит лантана стронция La0,67Sr0,33MnO3, обладающий высокой спиновой поляризацией носителей, использован для создания композитных материалов с различными барьерными веществами — GeO2, Li4P2O7, C. Исследованы магниторезистивные свойства синтезированной керамики при комнатной температуре. Значения отрицательной изотропной магниторезистивности для образцов с оксидом германия при комнатных температурах в магнитном поле 18 kOe достигают 15%, с барьерами из пирофосфата лития — 16%. Образцы с содержанием графита 10−85% проявляют положительную магниторезистивность до 15% в поле 15 kOe.

Ключевые слова: манганит лантана стронция, композитный материал, керамика, магниторезистивность, рентгеновская дифракция, микроструктура, барьерный слой, туннелирование, перколяционный переход, спиновая поляризация, эффект Зеебека.

керамика магниторезистивность германий температура.

Микрокристаллическое строение гранулированных пленок и керамики — ферромагнитные кристаллиты и немагнитная прослойка — представляет собой прекрасную возможность для формирования магнитных туннельных контактов [1 — 11], в том числе и на основе манганитов. Туннельные контакты такого рода интересны тем, что в них возможно усиление слабополевой отрицательной магниторезистивности (LFMR) [5 — 19]. К таким системам относятся керамика La0,7Sr0,3MnO3 (LSMO) и композиты на ее основе, в которых в качестве второй фазы используются диэлектрики, заполняющие межкристаллитное пространство [3 — 19]. При этом в случае керамических композитов для создания барьерных границ между кристаллитами (LSMO) применяются различные соединения: Ta2O5, La2O3, SiO2, Al2O3, CuO, ZnO, NiO, CeO2, Sb2O5, Sb2O3, SrTiO3, SrZrO3, TiO2, CuFe2O4, ZnFe2O4, SrFe12O19 [5 — 19]. Как отмечается в [17], барьерные слои играют отнюдь не пассивную роль туннельного барьера, но и активную. Наибольшее влияние на величину магниторезистивности (и ее знак) оказывает контактная прослойка между немагнитной компонентой и LSMO. Помимо отрицательной туннельной магниторезистивности, представляет интерес изотропная положительная магниторезистивность (PMR) — увеличение электросопротивления во внешнем магнитном поле. Физические причины PMR в различных соединениях (C, Ag2Se, Ag2Te и других), активно исследуются [1, 2, 20 — 29].

Целью работы является исследование влияния некоторых барьерных материалов на магниторезистивность в двухфазных композитных материалах (La0.7Sr0.3MnO3)/I, где I — барьерное соединение: GeO2, Li4P2O7, С (графит).

Методика эксперимента

Для синтеза композитов в стехиометрическую смесь La2O3, SrCO3, Mn2O3 состава La0.7Sr0,3MnO3 мы вводили добавки оксида германия GeO2 (или пирофосфата лития Li4P2O7) (5 — 35% по массе). После измельчения и гомогенизации прессованные таблетки диаметром 8 мм и толщиной 2 мм выдерживались для синтеза при температуре 1100°С в течение 4 часов с последующим медленным охлаждением. Для приготовления образцов LSMO/C в графит добавлялся заранее приготовленный LSMO от 5 до 85% по массе. После гомогенизации из смеси под давлением 100 МПа прессовались таблетки диаметром 10 мм и толщиной 2 мм. После этого следовал отжиг при температуре 550°С в течение 2 часов. Приготовленная образцы тестировались на дифрактометре ARL-X'TRA с помощью излучения CuKб анода с длиной волны 1,5406 ?. Обработку рентгенограмм осуществляли полнопрофильным методом Ритвельда. Микроструктура поверхности керамики исследовалась с помощью растрового электронного микроскопа Zeiss Supra 25. Электроды на развитые поверхности образцов наносились методом вжигания серебряной пасты при 500°C. Измерение сопротивления образцов проводилось по двухэлектродной схеме методом вольтметра-амперметра на постоянном токе в магнитном поле 0 — 18 kOe при комнатной температуре. Магниторезистивность MR рассчитывалась по формуле:

(1),.

где R(0) — сопротивление образца без поля, R(H) — сопротивление образца в магнитном поле.

Результаты исследований и их обсуждение

Рентгендифракционные исследования приготовленных образцов с барьерным веществом из оксида германия (материал 1 типа) или Li4P2O7 (материал 2 типа) помимо основного компонента LSMO показали наличие в них оксида GeO2 или LiPO3, Li4P2O7, LaPO4 соответственно. В случае материалов с графитом — на рентгенограммах видны отражения LSMO и графита.

На рис. 1 показана морфология поверхности материала 80%La0,67Sr0,33MnO3/20%GeO2.

Sem-изображение поверхности скола образца 85%LaSrMnO/20%GeO.

Рис. 1. — Sem-изображение поверхности скола образца 85%La0,67Sr0,33MnO3/20%GeO2

Средний размер частиц манганита 5 — 6 мкм. При этом микрочастицы LSMO окутаны аморфным стеклообразным оксидом германия. Аналогичная морфология поверхности наблюдается и у образцов LSMO/Li4P2O7.

Значения отрицательной магниторезистивности при комнатной температуре для образцов 80%La0,67Sr0,33MnO3/20%GeO2 и 85%LSMO/15%Li4P2O7 в зависимости от напряженности магнитного поля приведены на рис. 2.

Зависимости магниторезистивности от напряженности магнитного поля для образцов композита 80%LSMO/20%GeO(1) и 85%LSMO/15%LiPO(2).

Рис. 2. — Зависимости магниторезистивности от напряженности магнитного поля для образцов композита 80%LSMO/20%GeO2 (1) и 85%LSMO/15%Li4P2O7 (2)

Следует отметить изотропность MR для таких материалов, а также характер зависимости MR от H, близкий к линейному.

В зависимости электрического сопротивления образцов композита 1-го типа от концентрации (N) стеклообразующего компонента наблюдается резкий рост сопротивления при N > 25%. Этот факт свидетельствует о существовании перколяционной границы вблизи указанной концентрации GeO2. Отметим также, что при увеличении концентрации GeO2 меняется тип проводимости с p — типа на n — тип при N = 25%. В образцах композита типа 2 не наблюдается признака перколяционного перехода, что, вероятно, связано с высокой ионной проводимостью пирофосфата лития [11].

Для образцов LSMO/C c помощью эффекта Зеебека определен преобладающий тип проводимости для каждого образца. Образцы чистого синтетического графита представляют собой скомпенсированный полупроводник. Однако, для композитов, начиная с 5% добавки LSMO характерен n — тип проводимости. Микроструктура поверхности образца графита без добавок представлена на рис. 3.

SEM-микрофотография поверхности образца чистого графита.

Рис. 3. — SEM-микрофотография поверхности образца чистого графита

Средний размер частиц графита около 40 мкм, а для кристаллитов LSMO около 1 — 2 мкм. В доперколяционном образце (20% LSMO) частицы LSMO расположены неупорядоченно и не составляют сплошную проводящую сетку. Как показывают результаты измерений магниторезистивности, для различных соотношений компонент проявляются оптимальные соотношения. Значения магниторезистивности в поле 15 kOe при различной концентрации LSMO в графите представлены в таблице № 1.

Для композитов с концентрацией 50%-60% LSMO в графите, вероятно, отражается размытый порог перколяции для наших образцов. В качестве характерного признака порога перколяции следует отметить, что в области концентраций LSMO более 70% происходит смена знака температурного коэффициента сопротивления: с положительного на отрицательный.

Таблица № 1. Магниторезистивность приготовленных образцов в зависимости содержания от LSMO в графите при комнатной температуре.

LSMO, %.

MR, %.

6.5.

5.1.

На рис. 4 показана характерная зависимость магниторезистивности от напряженности магнитного поля. Следует отметить близкую к линейной зависимость MR(H). Во внешнем магнитном поле возможно существование нескольких конкурирующих процессов, обуславливающих эффекты магниторезистивности с различными знаками. Это классическая «ординарная» магниторезистивность, связанная с лоренцевским изменением траектории носителей. Она имеет положительный знак. Поскольку толщины барьеров между FM кристаллитами LSMO меняются от нуля до 30 мкм, нельзя исключить существование квантовомеханического туннельного магниторезистивного эффекта. Туннельная MR дает отрицательный вклад в суммарную магниторезистивность. В случае использования спин-поляризованных электронов локальные диамагнитные поля атомов графита [27], ориентированные против внешнего магнитного поля, оказывают рассеивающее воздействие на потоки «мажорных» носителей, источником которых являются гранулы LSMO.

Зависимость магниторезистивности композита 60%LSMO/40%C от напряженности магнитного поля.

Рис. 4. — Зависимость магниторезистивности композита 60%LSMO/40%C от напряженности магнитного поля

Важно отметить, что при этом вклад локальных диамагнитных полей прямо пропорционален напряженности внешнего поля, что отражается на характере зависимости магниторезистивности от напряженности магнитного поля. Вследствие этого с увеличением напряженности магнитного поля проводимость композита линейно уменьшается. Комбинация веществ LSMO/C, вероятно, работает как эффективный спиновый фильтр, не пропуская (в идеале) ни «минорные» носители, подавляемые в LSMO, ни «мажорные», рассеиваемые графитом. Как выясняется, этот эффект особенно ярко проявляется вблизи порога перколяции LSMO/C.

Интересно отметить, то композиты, состоящие из сверхпроводящих слоев Bi1.6Pb0.4Sr2Ca2Cu3O или YBCO и LSMO, проявляют существенную PMR [28, 29] при низких температурах. Авторы [29, 30] связывают это явление с разрывом куперовских пар электронов, отмечая мощный диамагнетизм сверхпроводников.

Использованная технология позволяет получить материалы с отрицательной магниторезистивностью с барьерами из GeO2 (или Li4P2O7) в «один шаг», так как стадия синтеза LSMO в присутствии этих стеклообразующих добавок объединена со спеканием керамики. Также в нашей работе показана возможность получения высоких значений положительной магниторезистивности при комнатной температуре в слабых магнитных полях с помощью использования LSMO, обладающего почти стопроцентной спиновой поляризацией носителей, и матрицы из графита.

Отметим, что исследования композитов (La0,67Sr0,33MnO3)/I с различными барьерными веществами далеки от завершения. Вполне возможно, что графит — не единственное барьерное соединение, позволяющее проявиться положительной магниторезистивности в композитных материалах.

Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ 14−03−103А.

  • 1. Gerber A., Milner A., Groisman B., Karpovsky M., and Gladkikh A. Magnetoresistance of granular ferromagnets // Phys. Rev. B. 1997. V. 55. № 10. pp. 6446 — 6452.
  • 2. Гриднев С. А., Калинин Ю. Е., Ситников А. В., Стогней О. В. Нелинейные явления в нано — и микрогетерогенных системах. М.: Бином, 2012. 352 с.
  • 3. Волков Н. В. Спинтроника: магнитные туннельные структуры на основе манганитов // УФН. 2012. Т. 183. С. 263 — 285.
  • 4. Meservey R. and Tedrow P.M. Spin-polarized electron tunneling // Physics Reports. 1994. V. 238. pp. 173 — 243.
  • 5. Yang X.S., Yang Y., He W., heng C.H. and Zhao Y. Low-field

magnetoresistance in La0.7Sr0.3MnO3/Ta2O5 composites // J. Phys. D: Appl. Phys. 2008. V. 41. pp. 115 009 — 115 014.

  • 6. Kim H.-J., Yoo S.-I. Enhanced low field magnetoresistance in La0.7Sr0.3MnO3-La2O3 composites // J. of Alloys and Comp. 2012. V. 521. pp. 30 — 34.
  • 7. Gupta S., Ranjit R., Mitra C., Raychaudhuri P., Pinto R. Enhanced room-temperature magnetoresistance in La0.7Sr0.3MnO3-glass composites // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 78. № 3. pp. 362 — 364.
  • 8. Zhou Zh.-Yu., Wu X.-Sh., Luo G.-Sh., Jiang F.-Y. Effect of second introduced phase on magnetotransport properties of La0.7Sr0.3MnO3/0.33(CuO, ZnO, Al2O3) composites // Trans. nonferrous met. Soc. China. 2008. V. 18. pp. 890 — 896.
  • 9. Gaur A., Varma G.D. Magnetoresistance behaviour of La0.7Sr0.3MnO3/NiO composites // Solid State Communications. 2006. V. 139. pp. 310 — 314.
  • 10. Balcells Ll., Carrillo A.E., Martinez B., and Fontcuberta J. Enhanced field sensitivity close to percolation in magnetoresistive La2/3Sr1/3MnO3/CeO2 composites // Appl. Phys. Lett. 1999. V. 74. № 26. pp. 4014 — 4016.
  • 11. Miao J.-H., Yuan S.-L., Ren G.-M., Xiao X., Yu G.-Q., Wang Y.-Q. and Yin Sh.-Y. Enhancement of room temperature magnetoresistance in (1? x)La0.67Sr0.33MnO3/x Sb2O5 composites // J. Phys. D: Appl. Phys. 2006. V. 39. pp. 2897 — 2901.
  • 12. Кабиров Ю. В., Гавриляченко В. Г., Богатин А. С., Чупахина Т. И., Гавриляченко Т. В. Магниторезистивность стеклокомпозитов La0,7Sr0,3MnO3/Sb2O3 при комнатной температуре // ФТТ. 2015. Т. 57. В. 1. С. 16 — 18.
  • 13. Shlyakhtin O.A., Shin K.H., and Oh Y.-J. Enhancement of low field magnetoresistance by hemical interaction in bulk composites

La0,7Sr0,3MnO3/SrMeO3 (Me = Ti, Zr). J. Appl. Phys. 2002. V. 91. № 10. pp. 7403 — 7405.

  • 14. Gaur A. and Varma G.D. Electrical and magnetotransport properties of La0,7Sr0,3MnO3/TiO2 composites // Cryst. Res. Technol. 2007. V. 42. № 2. pp. 164 — 168.
  • 15. Seo Y.J., Kim G.W., Sung C.H., Lee C.G. and Koo B.H. Magnetic and electrical transport properties on (La0,7Sr0,3MnO3)1?x/(CuFe2O4)x composites // J. Phys.: Conference Series. 2011. V. 266. pp. 1 — 6.
  • 16. Zi Zh., Fu Y., Liu Q., Dai J., Sun Y. Enhanced low-field magnetoresistance in LSMO/SFO composite system // J. Magn. Magn. Mater. 2012. V. 324. pp. 1117 — 1121.
  • 17. De Teresa J.M., Barthйlйmy A., Fert A., Contour J.P., Lyonnet R., Montaigne F., Seneor P., and Vaurиs A. Inverse tunnel magnetoresistance in Co/SrTiO3/La0.7Sr0.3MnO3: new ideas on spin-polarized tunneling // Phys. Rev. Lett. 1999. V. 82. pp. 4288 — 4291.
  • 18. Кабиров Ю. В., Гавриляченко В. Г., Богатин А. С., Чупахина Т. И., Русакова Е. Б., Чебанова Е. В. Стеклокомпозиты на основе магнитного полупроводника La0,67Sr0,33MnO3 как функциональные материалы // Инженерный вестник Дона, 2014, № 3 URL: ivdon.ru/ru/magazine/ archive/n4y2014/2605.
  • 19. Фиговский О. Новейшие нанотехнологии // Инженерный вестник Дона, 2012, № 1 URL: ivdon.ru/magazine/archive/n1y2012/725/.
  • 20. Alekseev P. S., Dmitriev A.P., Gornyi I.V., Kachorovskii V.Yu., Narozhny B.N., Schьtt M., and Titov M. Magnetoresistance in two-component systems // Phys. Rev. Lett. 2015. V. 114. pp. 156 601 — 156 601 — 6.
  • 21. Zhang X., Xue Q.Z., Zhu D.D. Positive and negative linear magnetoresistance of graphite // Phys. Lett. A. 2004. V. 320. pp. 471 — 477.
  • 22. Mandal G., Srinivas V., Rao V.V. Role of particle size on the

magnetoresistance of nano-crystalline graphite // Carbon. 2013. V. 57. pp. 139 — 145.

  • 23. Lee M., Rosenbaum T.F., Saboungi M.L., Schnyders H.S. Band-gap tuning and Linear magnetoresistance in the silver chalcogenides // Phys. Rev. Lett. 2002. V. 88. pp. 66 602 — 66 602 — 4.
  • 24. Xue Q.Z., Zhang X., Zhu D.D. Positive linear magnetoresistance in Fex — C1-x composites // J Magn Magn Mater. 2004. V. 270. pp. 397 — 402.
  • 25. Xue Q.Z., Zhang X., Zhu D.D. Room-temperature positive magnetoresistance in micro-sized Cox — C1-x composites // Physica B. 2003. V. 334. pp. 216 — 220.
  • 26. Xue Q.Z., Zhang X. Positive magnetoresistance in micro-sized granular Nix — C1-x composites // Phys. Lett. A. 2003. V. 313. pp. 461 — 466.
  • 27. Макарова Т. Л. Магнитные свойства углеродных структур // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 38. Вып. 6. С. 641 — 664.
  • 28. Paredes O., Moran O., Fuchs D. and Baca E. Negative and positive magnetoresistance in thick films of (Bi-2223)0.95(LSMO)0.05/LaAlO3 composites // Revista Mexicana de Fisica. 2012. V. 58(2). pp. 1 — 3.
  • 29. Lin Y.B., Huang Z.G., Yang Y.M., Wang S., Li S.D., Zhang F.M., Du Y.W. Giant positive magnetoresistance in heterostructure (La0.7Sr0.3MnO3) coated with YBa2Cu3O7 composites // Appl. Phys. A. 2011. V. 104. pp. 143 — 147.

References

  • 1. Gerber A., Milner A., Groisman B., Karpovsky M., and Gladkikh A. Phys. Rev. B. 1997. v. 55. № 10. pp. 6446 — 6452.
  • 2. Gridnev S.A., Kalinin Yu.E., Sitnikov A.V., Stogney O.V. Nelineynye yavleniya v nanoi mikrogeterogennykh sistemakh. [Nonlinear phenomena in nano — and microheterogeneous systems]. M.: Binom, 2012. 352 p.
  • 3. Volkov N.V. UFN. 2012. v. 183. pp. 263 — 285.
  • 4. Meservey R. and Tedrow P.M. Physics Reports. 1994. v. 238. pp. 173 — 243.
  • 5. Yang X.S., ang Y., He W., Cheng C.H. and Zhao Y. J. Phys. D: Appl.

Phys. 2008. v. 41. pp. 115 009 — 115 014.

  • 6. Kim H.-J., Yoo S.-I. J. of Alloys and Comp. 2012. v. 521. pp. 30 — 34.
  • 7. Gupta S., Ranjit R., Mitra C., Raychaudhuri P., Pinto R. Appl. Phys. Lett. 2001. v. 78. № 3. pp. 362 — 364.
  • 8. Zhou Zh.-Yu., Wu X.-Sh., Luo G.-Sh., Jiang F.-Y. Trans. nonferrous met. Soc. China. 2008. v. 18. pp. 890 — 896.
  • 9. Gaur A., Varma G.D. Solid State Communications. 2006. v. 139. pp. 310 — 314.
  • 10. Balcells Ll., Carrillo A.E., Martinez B., and Fontcuberta J. Appl. Phys. Lett. 1999. v. 74. № 26. pp. 4014 — 4016.
  • 11. Miao J.-H., Yuan S.-L., Ren G.-M., Xiao X., Yu G.-Q., Wang Y.-Q. and Yin Sh.-Y. J. Phys. D: Appl. Phys. 2006. v. 39. pp. 2897 — 2901.
  • 12. Kabirov Yu.V., Gavrilyachenko V.G., Bogatin A.S., Chupakhina T.I., Gavrilyachenko T.V. FTT. 2015. v. 57(1). pp. 16 — 18.
  • 13. Shlyakhtin O.A., Shin K.H., and Oh Y.-J. J. Appl. Phys. 2002. v. 91. № 10. pp. 7403 — 7405.
  • 14. Gaur A. and Varma G.D. Cryst. Res. Technol. 2007. v. 42. № 2. pp. 164 — 168.
  • 15. Seo Y.J., Kim G.W., Sung C.H., Lee C.G. and Koo B.H. J. Phys.: Conference Series. 2011. v. 266. pp. 1 — 6.
  • 16. Zi Zh., Fu Y., Liu Q., Dai J., Sun Y. J. Magn. Magn. Mater. 2012. v. 324. pp. 1117 — 1121.
  • 17. De Teresa J.M., Barthйlйmy A., Fert A., Contour J.P., Lyonnet R., Montaigne F., Seneor P., and Vaurиs A. Phys. Rev. Lett. 1999. v. 82. pp. 4288 — 4291.
  • 18. Kabirov Yu.V., Gavrilyachenko V.G., Bogatin A.S., Chupakhina T.I., Rusakova E.B., Chebanova E.V. Inћenernyj vestnik Dona (Rus), 2014, № 3

URL: ivdon.ru/ru/magazine/ archive/n4y2014/2605.

  • 19. Figovskiy O. Inћenernyj vestnik Dona (Rus), 2012, № 1 URL: ivdon.ru/magazine/archive/n1y2012/725/.
  • 20. Alekseev P. S., Dmitriev A.P., Gornyi I.V., Kachorovskii V.Yu., Narozhny B.N., Schьtt M., and Titov M. Phys. Rev. Lett. 2015. v. 114. pp. 156 601 — 156 601 — 6.
  • 21. Zhang X., Xue Q.Z., Zhu D.D. Phys. Lett. A. 2004. v. 320. pp. 471 — 477.
  • 22. Mandal G., Srinivas V., Rao V.V. Carbon. 2013. v. 57. pp. 139 — 145.
  • 23. Lee M., Rosenbaum T.F., Saboungi M.L., Schnyders H.S. Phys. Rev. Lett. 2002. v. 88. pp. 66 602 — 66 602 — 4.
  • 24. Xue Q.Z., Zhang X., Zhu D.D. J. Magn. Magn. Mater. 2004. v. 270. pp. 397 — 402.
  • 25. Xue Q.Z., Zhang X., Zhu D.D. Physica B. 2003. v. 334. pp. 216 — 220.
  • 26. Xue Q.Z., Zhang X. Phys. Lett. A. 2003. v. 313. pp. 461 — 466.
  • 27. Makarova T.L. Fizika i tekhnika poluprovodnikov. 2004. v. 38(6). pp. 641 — 664.
  • 28. Paredes O., Moran O., Fuchs D. and Baca E. Revista Mexicana de Fisica. 2012. v. 58(2). pp. 1 — 3.
  • 29. Lin Y.B., Huang Z.G., Yang Y.M., Wang S., Li S.D., Zhang F.M., Du Y.W. Appl. Phys. A. 2011. v. 104. pp. 143 — 147.
Показать весь текст
Заполнить форму текущей работой