Физические свойства полупроводниковых пленок диоксида олова для датчиков газов
Диссертация
Таким образом, обобщая накопленный опыт, можно отметить, что газовые датчики на основе металлооксидных полупроводников (диоксид олова, оксид цинка) в своей конструкции используют керамические и толстопленочные ЧЭ. В последнее время непрерывно возрастает интерес к исследованиям тонких пленок металлооксидных полупроводников, технология получения которых хорошо совместима с технологией… Читать ещё >
Список литературы
- Евдокимов А.В., Муршудли М. Н., Подлепецкий Б. И., РжановА.Е., Фоменко С. Ф., Филипов В. И., Якимов С. С. Микроэлектронные датчики химического состава газов // Зарубежная электронная техника. 1988. — № 2. -С. 3−39.
- Gopel W. Solid-state chemical sensors: atomistic models and research trends // Sensor and Actuators. 1989. — Vol. 16. — P. 167 — 193.
- Айвазов A.A., Тимошенко В. И., Кузин A.C. Современное состояние и перспективы производства толстопленочных датчиков // Зарубежная электронная техника. 1991. — № 7. -С. 36 — 47.
- Gopel W., Schierbaum K.D. Sn02 sensor: current status and future prospects // Sensor and Actuators. 1995. — Vol. B, 26 -27. — P. l — 12.
- Подлепецкий Б.И. Интегральные полупроводниковые сенсоры: состояние и перспективы разработок // Новости о микросхемах-1998. 1 № 5(26).-С. 38 -45.
- Топология универсального базового кристалла (УБК) для полупроводникового датчика газов: Свидетельство об официальной регистрации топологии интегральной схемы РосАПО РФ № 95 008 от 13.12.95 / Рембеза С. И., Ащеулов Ю. Б., Свистова Т. В., Горлова Г. В
- Полупроводниковый датчик газов: Патент РФ № 2 114 422 МКИ6 G 01N27/12 / Рембеза С. И., Ащеулов Ю. Б., Свистова Т. В., Рембеза Е. С., Горлова Г. В (РФ). 4 с.
- Волькенштейн Ф.Ф. Электронные процессы на поверхности полупроводников при хемосорбции. М.: Наука, 1987. — 432 с.
- Полупроводниковые сенсоры в физико-химических исследованиях / Мясников И. А., Сухарев В. Я., Куприянов Л. Ю., Завьялов С.А.-М.: Наука, 1991.-327 с.
- Иоффе А.Ф. Сообщение о научно-технических работах в республике: Катализ. Л.: НХТИ, 1930. — 53 с.
- Рогинский С.З. Адсорбция и катализ на неоднородных поверхностях. М.: АН СССР, 1948. — 278 с. ~
- Волькенштейн Ф. Ф. Физико-химия поверхности полупроводников. -М.: Наука, 1973.-400 с.
- Моррисон С.Р. Химическая физика поверхности твердого тела.-М.: Мир, 1982.-583 с.
- Бонч-Бруевич B. JL, Калашников С. Г. Физика полупроводников. -М: Наука, 1977.-528 с.
- Сухарев В.Я., Мясников И. А. Теоретические основы метода полупроводниковых сенсоров в анализе активных газов // Журн. физ. химии. -1986. Т. LX. — Вып. 10. — С.2385 — 2401.
- Гутман Э.Е. Влияние адсорбции свободных атомов и радикалов на электрофизические свойства полупроводниковых окислов металлов // Журн. физ. химии. 1984. — Т. LVIII. — Вып.4. — С. 801 — 821.
- Киселев В.Ф. Поверхностные явления в полупроводниках и диэлектриках. М.: Наука, 1970. — 399 с.
- Yamazoe N., Fuchigami J., Kishikawa M., Seiyama Т. Interaction of tin oxide surface with 02, H20 and H2 // Surface Sci. 1979. — Vol. 86. — P.335 -344.
- Chang S.C. Sensing mechanism of thin film tin oxide // Proc. 1st Meet. Chemical Sensors. -Japan, Fukuoka, 1983. P.78 — 83.
- Kohl D. Surface processes in the detection of reducing gases with Sn02 based devices//Sensor and Actuators. — 1989. — Vol. 18. — P.71 — 114.
- Hubner H.R., Obermeier E. Gas sensors based on metal oxide semiconductors//Sensor and Actuators. 1989.-Vol. 17.-P.351 — 380.
- Бутурлин А.И., Габузян Г. А., Голованов H.A., Бараненков И. В., Евдокимов А. В., Муршудли М. Н., Фадин В. Г., Чистяков Ю. Д. Полупроводниковые датчики на основе металлооксидных полупроводников // Зарубежная электронная техника. 1983. — № 10. — С. 3 — 38.
- Clifford Р. К., Tuma D.T. Characteristics of semiconductor gas sensors //Sensor and Actuators. 1982. — Vol. 3. — P.233 — 254.
- Ogava H., Nishikawa M., Abe A. Hall measurement studies and electrical conduction model of tin oxide ultrafine particle films // J. Appl. Phis-1982. -Vol.53(6). P.4448 — 4456.
- Barsan N. Conduction model in gas-sensing Sn (>2 layers: grain-size effects and ambient atmosphere influence // Sensor and Actuators-1994 Vol. B.-№ 17.-P.241 -246.
- Sanson S., Fonstad C.G. Defect structure and electronic donor levels in stanic oxide crystals // J. Appl. Phis.-1973. Vol.44. — P.4618 — 4621.
- Jarsebski Z. M., Marton J.P. Physical properties of SnC>2 materials -electrical properties // J. Electrochem. Soc. 1976.- Vol.123.- № 9.- P. 229 -310.
- Maier J., Gopel W. Investigation of the bulk defect chemistry of poly-crystalline tin (IV) oxide // J. Solid State Chem. 1988.- № 72.- P. 293 -302.
- Xu C., Tamaki J., Miura N., Yamazoe N. Relationship between gas sensitivity and microstructure of porous Sn02 // J. Electrochem. Soc. 1990.-Vol.58.-№ 12.-P. 1143−1148.
- Watson J., Ihokura K., Colest G.S.V. The tin dioxide gas sensor // Meas. Sci. Technol. -1993. -№ 4. P.717−719.
- Horrillo M.C., Gutierrez J., Ares L., Robla J.I., Sayago I., Getino J., Agapito J.A. Hall effect measurement to calculate the conduction controlling -semiconductor films of Sn02// Sensor and Actuators.-1994.-Vol. A.- № 41−42,-P.619 621.
- Ihokura H. Sn02 based inflammable gas sensor // Ph. D. Thesis -1983.-P.52−57.
- Mitsudo H. Gas sensors // Ceramic.- 1980.-№ 15-P. 339 345.
- Панкратов E.M., Рюмин В. П., Щелкина Н. П. Технология полупроводниковых слоев двуокиси олова М.: Энергия, 1969.- 56 с.
- Stoev I., Khol D. An integrated gas sensor on silicon substrate with sensitive layer of SnOx // ISPPME 6th International School on Physical Problems in Microelectronics 1989.- P.482 — 489. t
- Астафьева JI.В., Скорняков Г. П. Установка для получения пленок двуокиси олова // ПТЭ.-1980.- № 5.- С.235 237.
- Popova L.I., Michailov M.G., Georguiev V.K. Structure and morphology ofthin Sn02 films//Thin Solid Films.- 1990.- Vol.186.-P.107- 112.
- Onyiat A.I., Okeket C.B. Fabrication and characterisation of tin oxide Sn02thin films using simple glass spray systems // Appl. Phys 1989 — Vol.22-P.1515 — 1517.
- Технология СБИС / Под ред. С.Зи.-М.: Мир, 1986.-453 с.
- Данилин Б.С., Сырчин В. К. Магнетронные распылительные систе-мы.-М.: Радио и связь, 1982.-72 с.
- Jones F.H., Dixon R., Foord J.S., Egdell R.G., Pethica J.B. The surface structure of Sn02 (110)(4xl) revealed by scanning tunneling microscopy // Sur- • face Science. -1997.-Vol.376.-P.367−373.
- Robertson I. Defect levels of Sn02 // Phis. Rev.- 1984.- Vol. B.-№ 30. -P. 3520- 3522.
- Гриневич B.C., Сердюк B.B., Смынтына B.A., Филевская JI.H. Физико-химический механизм формирования параметров газовых сенсоров на основе оксидных материалов // Журнал аналитической химии 1990.-Т.45-Вып.8 — С. 1521 — 1525.
- Gutierrez J., Ares L., Robla J.I., Getino J., Horrillo M.C., Sayago I., Agapito J.A. Hall coefficient measurement for Sn02 doped sensor, as function of temperature and atmosphere// Sensor and Actuators.-1993.-Vol. В.- № 15−16-P.98- 104.
- Таланчук П.М., Киричек Т. Ю. Выходные информативные параметры полупроводниковых чувствительных элементов// Диэлектрики и полупроводники.- 1989.-Вып.35.- С.93 100.
- Максимович Н.П., Дышель Д. Е., Еремина Л. Э. Полупроводниковые сенсоры для контроля состава газовых сред // Журн. аналит. химии 1990-Т.45.-№ 7 — С.1312−1316.
- Goyat D., Agashe С., Marathe В. et al. Effect of dopant incorporation on structural and electrical properties of sprayed Sn02: Sb films // J. Appl. Phys.-1993, — Vol.73.-№ 11.- P.7520- 7523.
- Иващенко А.И., Хорошун И. В., Киоссе Г. А., Марончук И. Ю., По-пушой В.В. Природа изменений физических свойств поликристаллических тонких • пленок Sn02, вызванных термообработкой // Кристаллография,-1997.-Т.42 № 5.-С.901−905.
- Bornand E. Influence of the annealing temperature of non-doped sintered tin dioxide sensors on their sensitivity and response time to carbon monoxide // Sensor and Actuators, 1983.- № 4.-P.613 620.
- Beensh-Marchwicka G., Krol-Stepniewska L., Misiuk A. Influence of annealing on the phase composition, transmission and resistivity of Sn02 thin films // Thin Solid Films.-1984.- Vol. l 13.- P.215 224.
- Технология тонких пленок: Справочник: В 2 т. / Под ред. Л. Майссела, Р.Глэнга.-М.: Сов. радио, 1977. Т.1. — 390 с.
- Zemel J.N. Theoretical description of gas film interaction on SnOx // Thin Solid Films. — 1988.-Vol.163.-P. 189−202i
- Sanon G., Mansingh A. Growth and characterisation of tin oxide films prepared by chemical vapour deposition // Thin Solid Films 1990 — Vol. l 90-P.287 — 301.
- Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов.-М.: Физматгиз, 1961.-863 с.
- X-ray Powder Data File. ASTM Spec. Techn. Publ., 48 L Inorganic / Ed. Smith J.V.-Philadelfia: ASTM, 1962.
- Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения / Под ред. Г. Хасса и Р. Э. Туна.-М.: Мир, 1970-T.IV.- 439 с.
- Технология тонких пленок: Справочник: В 2 т. / Под ред. Л. Майссела, Р.Глэнга.-М.:Сов. радио, 1977. Т.2. — 768 с.
- Инструкция к пользованию. Микроинтерферометр Линника МИИ-4. Л.: ЛОМО, 1978.-23 с.
- Ковтонюк Н.Ф., Концевой Ю. А. Измерение параметров полупроводниковых материалов.-М.: Металлургия, 1972.-432 с.
- Уханов Ю.И. Оптические свойства полупроводников М.: Наука, 1977,-366 с.
- Инструкция к пользованию. Спектрофотометр СФ 16. — Л.: ЛОМО, 1975.-37 с.
- Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур/ Батавин В. В., Концевой Ю. А., Федорович Ю.В.- М.: Радио и связь, 1 985 264 с.
- Нашельский А.Я. Технология полупроводниковых материалов-М.: Металлургия, 1987 336 с.
- Рембеза С.И., Иванова О. А., Свистова Т. В., Горлова Г. В. Релаксационные процессы в окисных полупроводниках // Релаксационные явления в твердых телах: Тез. докл. междунар. семинара.-Воронеж, 1995 С. 189.
- Свистова Т.В., Сивак В. М. Разработка датчиков на основе оксида олова // Элементы и устройства микроэлектронной аппаратуры: Межвуз. сб. научн. тр-Воронеж, 1995 С. 45−48.
- Рембеза Е.С., Свистова Т. В., Рембеза С. И., Горлова Г. В. Физические свойства пленок 8пОх // Вестник ВГТУ. Сер. Материаловедение-Воронеж, 1996.-Х" 1.-С. 165−167.
- Рембеза С.И., Свистова Т. В., Рембеза Е. С., Горлова Г. В., Ельчани-нов Е.А. Газовая чувствительность пленок на основе 8пОх // II Междунар. конф. по электротехническим материалам и компонентам: Тез. докл.- Крым, 1996.-С. 79.
- Рембеза С.И., Свистова Т. В., Подкопаева О. И., Рембеза Е. С., Горлова Г. В. Изготовление и свойства пленок 8пОх для датчиков газов // Твердотельная. электроника и микроэлектроника: Межвуз. сб. науч. тр.- Воронеж: Изд-во ВГТУ, 1997.-С. 73−78.
- Рембеза С.И., Свистова Т. В., Новокрещенова Е. П. Комбинированная методика измерения газовой чувствительности датчиков // Датчик-97: ^ Тез. докл. научн.-техн. конф- Крым, Гурзуф, 1997 С. 428−429.
- Rembeza S.I., Svistova T.V., Rembeza E.S., Gorlova G.V. Physical properties and gas sensibility SnOx films // Eurosensors XI. Proceedings of the 11th European Conference on Solid State Transducers Varshava, Polsha, 1997-V.l.-P. 459−462.
- Рембеза С.И., Свистова T.B., Подкопаева О. И., Рембеза Е. С. Исследование свойств пленок диоксида олова, полученных методами магнетрон-ного напыления // Известия ВУЗов. Электроника-1999-№ 1−2-С.26−23.
- Рембеза С.И., Рембеза Е. С., Свистова Т. В., Борсякова О. И. Нанок-ристаллические пленки Sn02 // Второй Всероссийский семинар «Нелинейные процессы и проблемы в современном материаловедении»: Тез. докл-Воронеж, 1999.- С. 107.
- Панков Т. Оптические процессы в полупроводниках / Пер. с англ.-М: Мир, 1986.-456 с.
- Рембеза С.И., Свистова Т. В., Рембеза Е. С., Горлова Г. В., Термообработка и газовая чувствительность пленок на основе SnOx // Вестник ВГТУ. Сер. Материаловедение-Воронеж, 1997-№ 2-С. 52−54.
- Рембеза С.И., Свистова Т. В., Рембеза Е. С., Подкопаева О. И. Электрические и оптические свойства плецок Sn02 // Физико-технические проблемы электротехнических материалов и кабельных изделий: Тез. докл. МКЭМК-97 Второй Междунар. конф.-М., 1997.- С. 172.
- Рембеза С.И., Логинов В. А., Свистова Т. В., Подкопаева О. И., Рембеза Е. С., Горлова Г. В. Влияние различных термообработок на свойства пленок Sn02 //Вестник ВГТУ. Сер. Материаловедение-Воронеж, 1998 № 3-С. 74−77.
- Шкловский Б.И. Переколяционная электропроводность в сильных электрических полях // Физика и техника полупроводников.-1979.-Т.13-№ 1.-С.93−97.
- Винников А. Я., Мешков Ф. М., Савушкин В. Н. Экспериментальное обнаружение перколяционной электропроводности в сильных электрических полях // Физика твердого тела.-1980.-Т.22.- № 10.-С.2989−2995.
- Логинов В.А., Рембеза С. И., Свистова Т. В., Щербаков Д. Ю. Лазерная обработка газочувствительных пленок // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах: Матер, докл. междунар. научн.-техн. семинара.-М., 1998.-С187−191.
- Логинов В.А., Рембеза С. И., Свистова Т. В., Щербаков Д. Ю. Влияние лазерной обработки на газовую чувствительность пленок диоксида олова // Письма в ЖТФ.- 1998, — Т. 24, — № 7.- С. 57−60.
- Логинов В.А., Рембеза С. И., Свистова Т. В. Повышение газовой чувствительности пленок диоксида олова // Научн.-практич. конф. ВВШ МВД РФ: Тез. докл.- Воронеж, 1998.- С. 22.
- Виглеб Г. Датчики: Устройство и применение / Пер. с нем.- М.: Мир, 1989.-196 с.
- Prudenziati М., Morten В. Thick-film: an overview // Sensor and Ac-tuators.-1986.-Vol. 10.-P.65−82.
- Heiland J., Kohl D. Problems and possibilities of oxidic and organic semiconductors // Sensor and Actuators-1985-Vol. 8.—P.227 233.
- Рембеза С.И., Рембеза E.C., Свистова T.B., Прокопенко А.А.
- Датчики газов на основе нанокристаллических пленок Sn02 // Методы и средства измерения физических величин: Тез. докл. IV Всероссийской науч-но-техн. конференции Нижний Новгород, 1999. — С.22.
- Сох D. F., Fryberg Т.В., Semacik S. Oxygen vacancies and defect electronic state on the Sn02 (110) lxl surface // Phys. Rev.-1988--Vol.B, ЗЪ.-'З. -P.2078 2083.
- Barsan N., Ionescu R. The mechanism of the interaction between CO and the Sn02 surface the role of water vapour // Sensor and Actuators-1993-Vol.B, 12.-P.71 -75.
- Strasler S., Reis A. Simple models for n-type metal oxide gas sensor// Sensor and Actuators.-1983.-Vol. 4.-P.465 472.
- Orton J. W., Powll M. J. Hall effect in polycrystalline and powdered semiconductors // Pep. Prog. Phys.-l980-Vol.43.- № 11.-P.1263−1305.
- Many A., Golastein Y., Grover N.B. Semiconductor surface. New York, 1965.-308 p.