Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Интерференционные эффекты при многоволновой дифракции рентгеновских лучей в многокомпонентных кристаллах

Диссертация: Интерференционные эффекты при многоволновой дифракции рентгеновских лучей в многокомпонентных кристаллах
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Проведено экспериментальное и теоретическое исследование механизма формирования интерференционной картины в условиях многоволновой дифракции с учетом неупругого когерентного рассеяния рентгеновских лучей на фононах. Показано, что процесс неупругого когерентного рассеяния на фононах также, как и процесс упругого рассеяния, носит интерференционный характер. В отличие от чисто упругого рассеяния… Читать ещё >

Интерференционные эффекты при многоволновой дифракции рентгеновских лучей в многокомпонентных кристаллах (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Глава 1. Двух- и многоволновая дифракция рентгеновских лучей в исследованиях реальной структуры кристаллов
    • 1. 1. Двухкристальная дифрактометрия и метод стоячих рентгеновских волн
    • 1. 2. Многоволновая дифракция рентгеновских лучей
    • 1. 3. Рентгеновская дифракция в условиях скользящего падения
    • 1. 4. Цели и задачи диссертационной работы
  • Глава 2. Экспериментальная база для дифракционных измерений с использованием рентгеновского и синхротронного излучений
    • 2. 1. Введение
    • 2. 2. Гониометрическое оборудование и система автоматизации для рентгенодифракционных измерений
    • 2. 3. Измерительный комплекс для рентгенодифракционных экспериментов по методу многоволновой дифракции и стоячих рентгеновских волн
    • 2. 4. Тестирование измерительного комплекса: измерение выхода флуоресцентного излучения и комптоновского рассеяния в условиях скользящей Брэгг-Лауэ дифракции рентгеновских лучей
    • 2. 5. Выводы
  • Глава 3. Неупругое когерентное рассеяние на фононах в условиях многоволновой рентгеновской дифракции
    • 3. 1. Введение
    • 3. 2. Эксперимент
    • 3. 3. Результаты теоретического анализа
    • 3. 4. Выводы
  • Глава 4. Метод компланарной многоволновой дифракции
    • 4. 1. Введение
    • 4. 2. Экспериментальная реализация метода компланарной многоволновой дифракции
    • 4. 3. Использование компланарной многоволновой дифракции для определения параметров кристаллической решетки
    • 4. 4. Выводы

В последние десятилетия рентгенодифракционные методы исследования кристаллической структуры претерпели существенное развитие и продолжают развиваться в настоящее время. В первую очередь это связано с совершенствованием полупроводниковых технологий выращивания монокристаллов и гетероструктур, служащих основой создания элементной базы современной микроэлектроники. С другой стороны, значительный прогресс в области биотехнологии обуславливает все более широкое применение рентгенодифракционных методов для исследования органических систем, таких как кристаллы белков, органические пленки и т. д. Широкие возможности для исследования атомной структуры с помощью рентгеновской дифракции открываются при использовании современных источников синхротронного излучения, обладающих высокой интенсивностью, непрерывным спектром, особыми поляризационными и когерентными свойствами.

Появление искусственно выращенных кристаллов высокой степени структурного совершенства позволило исследователям экспериментально изучать эффекты динамической дифракции рентгеновских лучей в, А совершенных кристаллах [1−5] и положило начало развитию специальной 4 области физики дифракции — рентгеновской оптике [6, 7], которая является основой разработки и создания современных кристаллооптических систем для формирования рентгеновских пучков с заданными свойствами. Прогресс в области рентгеновской оптики в значительной степени способствовал развитию рентгенодифракционных методов, основанных на динамической дифракции и требующих использования высококоллимированного и монохроматического рентгеновского пучка.

Многоволновая рентгеновская дифракция является одним из новых и перспективных направлений в рентгеноструктурных исследованиях неорганических и органических кристаллов [8]. В условиях многоволновой дифракции, когда в отражающем положении находятся одновременно несколько систем кристаллографических плоскостей, интерференция дифрагированных в кристалле волн приводит к образованию волнового поля, пространственно-модулированного в нескольких направлениях, что обуславливает более широкие возможности проявления интерференционных эффектов рассеяния рентгеновских лучей и их использования для структурной диагностики. В отличие от двухволновой дифракции, при многоволновой дифракции интенсивности отраженных волн определенным образом зависят от соотношения фаз структурных факторов вовлеченных отражений, что дает возможность для определения фаз из рентгенодифракционного эксперимента. Информация о фазах рентгеновских отражений чрезвычайно важна при изучении кристаллов неизвестной структуры, а также для структурной диагностики приповерхностных областей кристаллов.

В настоящее время все более интенсивно развиваются исследования структуры органических и биологических кристаллов различными методами, в том числе, с помощью многоволновой дифракции. Основной проблемой при измерении интенсивности многоволновых отражений в таких кристаллах является малая амплитуда интерференционного эффекта, обусловленная, с одной стороны, слабостью рассеяния, и с другой — несовершенством исследуемых кристаллов. Помимо вышеупомянутых факторов, существует еще одно явление, которое может усложнить извлечение фазовой информации. В процессе многоволновой дифракции наряду с чисто упругим рассеянием участвует также и неупругое когерентное рассеяние рентгеновских лучей на тепловых колебаниях кристаллической решетки — фононах. Это обстоятельство ранее не рассматривалось и в настоящей работе показано, что в условиях многоволновой дифракции неупругое когерентное рассеяние, также как и процесс упругого рассеяния, носит интерференционный характер. В ряде случаев вклад этого процесса в интенсивность интерференционной картины может изменить структуру слабого рефлекса, что следует учитывать при извлечении фаз рентгеновских отражений.

Для проведения рентгенодифракционных экспериментов в условиях многоволновой дифракции требуется высокомонохроматичный рентгеновский пучок, сколлимированный в двух направлениях. Обычно для этой цели используется двойная коллимация, что приводит к значительному ослаблению интенсивности падающего рентгеновского пучка. В условиях компланарной геометрии многоволновой дифракции, когда падающий и дифрагированные лучи лежат в одной плоскости, дополнительной коллимации рентгеновского пучка в направлении, перпендикулярном плоскости дифракции, уже не требуется. Таким образом, за счет использования компланарной геометрии может быть решена проблема нехватки интенсивности в многоволновом эксперименте.

Выводы и заключение.

1. Развита экспериментальная база и программное обеспечение для проведения рентгенодифракционных экспериментов с использованием как стандартных рентгеновских трубок, так и синхротронного излучения. Система управления экспериментом позволяет регистрировать интенсивности дифрагированного рентгеновского излучения в условиях многоволновой дифракции и выход вторичных излучений в методе стоячих рентгеновских волн.

2. Проведено тестирование измерительного комплекса с использованием метода стоячих рентгеновских волн в условиях скользящей Брэгг-Лауэ дифракции на кристалле Ое. Получены кривые дифракционного отражения и выхода вторичных излучений, на которых отчетливо наблюдаются эффекты динамической дифракции, что свидетельствует о надежной работе измерительного комплекса и его применимости для проведения высокоразрешающих рентгенодифракционных экспериментов.

3. Проведено экспериментальное и теоретическое исследование механизма формирования интерференционной картины в условиях многоволновой дифракции с учетом неупругого когерентного рассеяния рентгеновских лучей на фононах. Показано, что процесс неупругого когерентного рассеяния на фононах также, как и процесс упругого рассеяния, носит интерференционный характер. В отличие от чисто упругого рассеяния, когда характер интерференционной картины полностью определяется триплетной фазой, в случае неупругого рассеяния существенную роль играют соотношения между векторами обратной решетки, которые вовлечены в процесс многоволновой дифракции. В результате проведенного анализа экспериментальных кривых многоволновой дифракции в кристалле КОР определен средний вклад неупругого когерентного рассеяния на фононах, составивший порядка 12% от суммарной интенсивности отражения.

4. Экспериментально реализован метод многоволновой рентгеновской дифракции в компланарной геометрии на кристалле КОР. Получены кривые дифракционного отражения, на которых отчетливо наблюдается интерференционная особенность, обусловленная взаимодействием отраженных волн при многоволновой дифракции. Продемонстрирована эффективность использования метода в условиях слабого рефлекса. Экспериментально показана возможность усиления интерференционного эффекта при многоволновой дифракции за счет оптимального выбора кристалла-монохроматора.

5. Предложен метод прецизионного определения параметра кристаллической решетки, основанный на компланарной многоволновой рентгеновской дифракции. В ходе измерений и последующей численной обработки данных определено относительное изменение параметра решетки Аа/а кристалла ЮЭР с точностью 6−10″ 7. Экспериментально получена зависимость величины Аа/а от координаты пятна засветки вдоль образца, которая свидетельствует о секториальном строении исследуемого кристалла.

В заключение автор выражает искреннюю признательность своему научному руководителю доктору физико-математических наук, чл.-корр. РАН М. В. Ковальчуку за всестороннюю помощь, постоянное внимание и поддержку в течение всего времени проведения работы.

Особую благодарность автор выражает доктору физико-математических наук, чл.-корр. РАН А. М. Афанасьеву за проявленный интерес к работе, плодотворные дискуссии, ценные советы и помощь в проведении теоретических расчетов.

Автор благодарит весь коллектив лаборатории рентгеновской оптики и синхротронного излучения за полезные обсуждения и помощь в проведении этой работы.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Современная кристаллография (в 4-х томах). Под редакцией Вайнштейна Б. К. Т.1−2. -М.: Наука, 1980.
  2. Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. Под ред. Ивероновой В. И. -М.: ИЛ, 1950. 572с.
  3. Zachariasen W.H. Theory of X-ray diffraction in crystals. New York: J. Willey & Sons, 1945.
  4. З.Г. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах.-М.: Наука, 1974. 367с.
  5. Authier A. Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (International Union of Crystallography Monographs on Crystallography, 11). Oxford Science Publications, 2001.
  6. Hart M. Bragg reflection X-ray optics. Rep. Prog. Phys. 1971. V.34. № 5. P.435.
  7. Handbook on synchrotron radiation. Ed. by E.-E.Koch. V.1A. North-Holland Publishing Company, 1983.
  8. Ш. Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. Под ред. Афанасьева A.M. -М.: Мир, 1987.
  9. A.M., Александров П. А., Имамов P.M. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев.-М.: Наука, 1989. 152 с.
  10. A.M., Кон В.Г. Внешний фотоэффект при дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем. ЖЭТФ. 1978. Т.74. B.l. С. 300.
  11. М.В., Кон В.Г. Рентгеновские стоячие волны новый метод исследования структуры кристаллов. УФН. 1986. Т. 149. В.1. С. 69.
  12. Zegenhagen J. Surface structure determination with X-ray standing waves. Surf. Sci. Reports. 1983. V. 18. P. 119.
  13. Batterman B.W. An effect of dynamical diffraction in fluorescent X-ray scattering. J. Appl. Phys. Lett. 1962. V.l. P.68.
  14. Batterman B.W. Effect of dynamical diffraction in X-ray fluorescence scattering. Phys. Rev. 1964. V.133. P.759.
  15. Batterman B.W. Detection of forein atom sites by their X-ray fluorescence scattering. Phys.Rev.Lett. 1969. V.22. № 14. P.703.
  16. B.H., Круглов M.B., Пронин В. П. Угловая зависимость внешнего рентгеновского фотоэффекта в совершенных монокристаллах германия и кремния. ФТТ. 1970. Т. 12. В.8. С. 2495.
  17. В.Н., Круглов М. В. Внешний фотоэффект из совершенных монокристаллов германия в условиях брэгговского (111) отражения рентгеновских лучей. ФТТ. 1972. Т.14. В.12. С. 3556.
  18. М.В., Щемелев В. Н. Исследование нарушений, возникающих в кристалле при ионном легировании методом рентгеновского фотоэффекта. Электронная техника. Материалы. 1975. В.4. С. 98.
  19. Annaka S., Kikuta S., Kohra К. Intensity anomaly of thermal and compton scattering of X-rays accompanying Bragg reflection. J. Phys. Soc. Japan. 1965. V.20. № 11. P.2093.
  20. Annaka S., Kikuta S., Kohra K. Intensity anomaly of X-ray compton and thermal scattering accompanying Bragg reflection from perfect Si and Ge crystal. J. Phys. Soc. Japan. 1966. V.21. № 8. P. 1559.
  21. Brummer O., Stephanik H. Anomalous X-ray absorption and photocurrent in CdS single crystals (symmetrical Laue case). Phys. Stat. Sol (a). 1969. V.36. P.617.
  22. A.C. Угловая зависимость величины электрического напряжения при дифракции рентгеновского излучения кремниевым р-п переходом. Электронная техника. Сер.2 «Полупроводниковые приборы». 1977. Вып. 8(118). С. 59.
  23. Golovchenko J.A., Batterman B.W., Brown W.L. Observation of internal X-ray wave fields during Bragg diffraction with an application to impurity location. Phys.Rev.B. 1974. V.10. № 10. P.4239.
  24. Andersen S.K., Golovchenko J.A., Mair G. New application of X-ray standing wave fields to solid state physics. Phys. Rev. Lett. 1976. V.37. № 17. P.1141.
  25. Cowan P.L., Golovchenko J.A., Robbins M.F. X-ray standing waves at crystal surfaces. Phys.Rev.Lett. 1980. V.44. № 25. P.1680.
  26. Golovchenko J.A., Patel J.R., Kaplan D.R., Cowan P.L., Bedzyk M.J. Solution to the surface registration problem using X-ray standing waves. Phys.Rev.Lett. 1982. V.49. № 8. P.560.
  27. Patel J.R., Golovchenko J.A. X-ray standing wave atom location in heteropolar crystals and the problem of extinction. Phys.Rev.Lett. 1983. V.50. № 23. P. 1858.
  28. Akimoto K., Ishikawa Т., Takahashi Т., Kikuta S. Structural analysis of the NiSi2/Si (lll) interface by the X-ray standing wave method. Jpn. J. Appl. Phys. 1985. V.24. № 11. P. 1425.
  29. Vlieg E., Fischer A.E.M.J., van der Veen J.F., Dev B.N., Clausnitzer M., Materlik G. Structure determination of the CoSi2: Si (l 11) interface by X-ray standing wave analysis. Phys. Rev. B. 1987. V.36. P.4769.
  30. Saitoh Y., Hashizume H., Tsutsui K. Structure of lattice-matched CaxSri. xF2 epilayers on GaAs (lll)B surface analyzed by the X-ray standing-wave method. Jpn. J. Appl. Phys. 1988. V.27. № 8. P.1386.
  31. Zegenhagen J., Patel J.R. CaF2/Si (lll) heteroepitaxy: Importance of stoichiometry, interface bonding, and lattice mismatch. Phys. Rev. B. 1990. V.41. P.5315.
  32. А.Ю., Ковальчук M. В., Кон В.Г. Изучение структуры отдельных подрешеток в многокомпонентных эпитаксиальных пленках InGaP/GaAs методом стоячих рентгеновских волн. Письма в ЖТФ. 1988. Т.14. № 15. С. 1345.
  33. Novak P., Kub J., Marysko М., Kazimirov A.Yu., Sosphenov A.N., Kovalchuk M.V. Site preferences in Bi: YIG film determined by X-ray standing waves. J. Magn. Mater. 1991. V.101. P.155.
  34. Kazimirov A.Yu. Kovalchuk M.V., Sosphenov A.N., Kohn V.G., Kub J., Novak P., Nevriva M., Cermak J. X-ray standing wave analysis of the Bi preferential distribution in Y3. xBixFe5. Acta Cryst. 1992. V. B48. P.577.
  35. Afanas’ev A.M., Kovalchuk M.V., Kov’ev E.K., Kohn V.G. Photoemission as a method for investigating the structure of surface layers. Phys. Stat. Sol.(a). 1977. V.42. P.415.
  36. Hertel N., Kovalchuk M.V., Afanas’ev A.M., Imamov R.M. A new method of measuring electron emission from monocrystal under X-ray diffraction. conditions. Phys. Lett. 1980. V. A75. P.501.
  37. Kohn V.G., Kovalchuk M.V. On the theory of external photoeffect accompanying X-ray diffraction in an ideal crystal with disturbed surface layer. Phys. Stat. Sol. 1981. V. A64. P.369.
  38. Sozontov E.A., Kruglov M.V., Zakharov B.G. Photoemission in Bragg diffraction of X-ray by bicrystal. Phys. Stat. Sol. 1981. V. A66. P.303.
  39. .Г., Ковальчук M.B., Ковальчук Ю. В., Семилетов А. С., Смольский И. В., Созонтов Е. А. Техника стоячих рентгеновских волн в исследовании лазерной аморфизации арсенида галлия. Письма в ЖТФ. 1984. Т.10. В.22. С. 1402.
  40. Kovalchuk M.V., Mukhamedzhanov E.Kh. The use of a gas-flow proportional counter for the energetic analysis of photoelectrons under X-ray diffraction conditions. Phys. Stat. Sol. 1984. V. A81. P.427.
  41. Bedzyk M.J., Materlik G., Kovalchuk M.V. Depth-selective X-ray standing wave diffraction analysis. Phys. Rev. 1984. V. B30. P.4881.
  42. A.M., Имамов P.M., Маслов A.B., Пашаев Э. М. Фотоэффект при дифракции рентгеновских лучей в Брэгг-Лауэ геометрии. Кристаллография. 1985. Т.30. С. 847.
  43. Durbin S.M., Berman L.E., Batterman B.W. X-ray standing-wave determination of surface structure: Au on Si (lll). Phys. Rev. B. 1986. V.33. P.4402.
  44. Patel J.R., Freeland P.E., Hybertsen M.S., Jacobson D.C. Location of atoms in the first monolayer of GaAs on Si. Phys. Rev. Lett. 1987. V.59. № 19. P.2180.
  45. Andersen S.K., Bhattacharaya P.K., Golovchenko J., Hertel N., Mair G. A double crystal spectrometer stabilized by a dynamical feedback system. J. Phys. E: Sei. Instrum. 1979. V.12. P. 1063.
  46. Krolzig A., Materlik G., Zegenhagen J. A dynamical control and measuring system for synchrotron rocking curves. Nucl. Instr. Meth. 1983. V.208. P.613.
  47. M.B., Николаенко A.M., Семилетов A.C., Гусев Г. А. Динамическая стабилизация углового положения кристалла в экспериментах с использованием стоячих рентгеновских волн. ПТЭ. 1987. № 5. С. 178.
  48. Chang S.-L. Multiple diffraction of X-rays in crystals. Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York-Tokyo. 1984.
  49. M. «Umweganregung», eine bisher unbeachtete Wechselwirkungserscheinung bei Raumgitterinterferenzen. Z. Phys. 1937. V.106 P.141.
  50. Kossei W. Zur Systematik der Rontgenreflexe eines Raumgitters. Ann. d. Phys. 1936. V.5. № 25. P.512.
  51. Lonsdale К. Divergent-beam X-ray photography of crystals. Philos. Trans. 1947. V. A240. P.219.
  52. Кон В. Г. Теория когерентного резонансного рассеяния гамма-излучения регулярной системой ядер в кристалле в условиях многоволновой дифракции. ЖЭТФ. 1994. Т.105. В.З. С. 665.
  53. Patterson A.L. A direct method for the determination of the components of interatomic distances in crystals. Zs. Kristallogr. 1935. V. A90. P.517.
  54. Woolfson M.M. Direct methods in crystallography. Oxford: Oxford University Press. 1961.
  55. Perutz M.F. Proc. Roy. Soc. London. 1954. V. A225. P.264.
  56. Rossman M.G., Hodgkin D.C. The molecular replacement method, ed. Rossman M.G. New York: Gordon and Breach. 1972.
  57. Okaya Y., Pepinsky R. Computing methods and the phase problem in X-ray crystal analysis, ed. Pepinsky R., Robertson J.M. and Speakman J.C. Oxford: Pergamon. 1961.P.273.
  58. Caticha-Ellis S. Anomalous dispersion of X-rays in crystallography. Cardiff: University College Press. 1978.
  59. Karle J. The relative scaling of multiple-wavelength anomalous dispersion data. Acta Cryst. 1983. V. A39. P.l.
  60. Lipscomb W.N. Relative phases of diffraction maxima by multiple reflection. Acta Cryst. 1949. V.2. P. 193−194.
  61. Post B. The intensities of multiple diffraction effects. Acta cryst. 1969. V. A25. P.94.
  62. Colella R. Multiple diffraction of X-rays and the phase problem. Computational procedures and comparison with experiment. Acta Cryst. 1974. V. A30. P.413.
  63. Hummer K., Billy H.W. Theoretical considerations on phase determination by three-beam interference. Act Cryst. 1982. V. A38. P.841.
  64. Post B. The experimental determination of the phases of X-ray reflections. Acta Cryst. 1983. V. A39. P.711.
  65. Post В., Nicolosi J., Ladell J. Experimental procedure for determination of invariant phases of centrosymmetric crystals. Acta Cryst. 1984. V.40. P.684.
  66. Э.К., Симонов В. И. Экспериментальное определение фаз структурных амплитуд. Письма в ЖЭТФ. 1986. Т.43. В.5. С. 244.
  67. Chang S.-L. Solution to the X-ray Phase Problem Using Multiple Diffraction. Crystallography Reviews. 1987. V. l P.87.
  68. А.Ю., Ковальчук M. В., Кон В.Г. Исследование многоволновой дифракции рентгеновских лучей в совершенных кристаллах с помощью синхротронного излучения. Кристаллография, 1994, т. 39, № 2, 258−269.
  69. Kovalchuk M.V., Kazimirov A., Kohn V., Kreines A., Samoilova L. Phasesensitive multiple-diffraction studies of single crystals. Physica B: Cond. Matter. 1996. V.221. P.445.
  70. Shen Q., Colella R. Phase observation in an organic crystal (benzil: C14H10O2) using long-wavelendth X-rays. Acta Cryst. 1988. V. A44. P. 17.
  71. Chang. S.-L., King H.E., Huang M.-T., Gao Y. Direct phase determination of large macromolecular crystals using three-beam X-ray interference. Phys. Rev. Lett. 1991. V.67. N.22. P.3113.
  72. Huang M.-T., Wang C.-M. and Chang S.-L. Direct phase determination for macromolecular crystals using the multiple-diffraction technique and an in-house X-ray source. Acta Cryst. 1994. V. A50. P.342.
  73. Hummer K., Schwegle W., Weckert E. Experimental determination of reflection phases by three-beam diffraction and its applications. Acta Physica Polonica. 1992. V. A82. № 1. P.83.
  74. Weckert E., Schwegle W., Hummer K. Direct phasing of macromolecular structures by three-beam diffraction. Proc. R. Soc. Lond. 1993. V. A442. P.33.
  75. Weckert E., Hummer K. Multiple-beam X-ray diffraction for physical determination of reflection phases and its applications. Acta cryst. 1997. V. A53. P.108.
  76. Afanas’ev A.M., Zozulya A.V., Koval’chuk M.V. and Chuev M.A. Phase problem in three-beam X-ray diffraction. JETP Letters. 2002. V.75. N.7. P.309−313.
  77. Post B. Accurate lattice constants from multiple diffraction measurements. I. Geometry, techniques and systematic errors. J. Appl. Cryst. 1975. V.8. P.452.
  78. Horn T., Kiszenick W., Post B. Accurate lattice constants from multiple diffraction measurements. II. Lattice constants of germanium, silicon and diamond. J. Appl. Cryst. 1975. V.8. P.457.
  79. Greiser N., Materlik G. Three-beam X-ray standing wave analysis: a two dimensional determination of atomic positions. Z Phys. B. 1987. V.66. P.83.
  80. Kohn V.G. X-ray standing waves under the conditions of multiple diffraction. Phys. stat. Sol.(a). 1988. V.106. P.31.
  81. Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V., Kohn V.G., Kharitonov I.Yu., Samoilova L.V., Ishikawa T., Kikuta S., Hirano K. Multiple diffraction in X-ray standing wave method: photoemission measurements. Phys. Stat. Sol.(a). 1993. V.135. P.507.
  82. Brown B.R., Halliwell M.A., Isherwood B.J. The characterization of distortions in heteroepitaxial layers by multiple diffraction. J. Microscopy. 1980. V. l 18. P.375.
  83. Isherwood B.J. X-ray multiple diffraction as a tool for studying heteroepitaxial layers. I. Coherent, on-axis layers. J. Cryst. Growth. 1981. V.54. P.449.
  84. Isherwood B.J., Brown B.R., Halliwell M.A. X-ray multiple diffraction as a tool for studying heteroepitaxial layers. II. Coherent, off-axis layers. J. Cryst. Growth. 1982. V.60. № 1. P.33.
  85. Morelhao S.L., Avanci L.H., Hayashi M.A., Cardoso L.P., and Collins S.P. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. Appl. Phys. Lett. 1998. V.73. N.15. P.2194.
  86. Kottwitz D.A. High-resolution monochromator of neutrons and X-rays by multiple Bragg reflection. Acta Cryst. 1971. V. A27. P.391.
  87. Stepanov S.A., Kondrashkina E.A., Novikov D.V. X-ray surface back diffraction. Nucl. Instrum. Methods. 1991. V. A301. P.350.
  88. Afanas’ev A.M., Kohn V.G. Borrmann effect in the three-wave case of X-ray diffraction. Phys. Stat. Sol. a. 1975. V.28. № 1. P.61.
  89. Кон В.Г. К теории многоволновой дифракции рентгеновских лучей. Угловая зависимость аномального прохождения в шестиволновом случае. ФТТ. 1976. Т.18. В.9. С. 2538.
  90. Post В., Chang Sh.-L., Huang Т.С. Simultaneous four-beam Borrmann diffraction. Acta Cryst. 1977. V. A33. № 1. P.90.
  91. Кон В. Г. Об эффекте аномально слабого поглощения рентгеновских лучей в монокристалле в условиях 12-волновой дифракции. Кристаллография. 1987. Т.32. В.4. С. 844.
  92. Borrmann G., Hartwig W. Die Absorption der Roentgenstrahlen im Dreistahlfall der Interferenz. Z. Kristallographie. 1965. V.121. № 6.P.401.
  93. А.А., Иверонова В. И., Поляков H.А. Трехволновой эффект Бормана в германии. Кристаллография. 1969. Т.14. В.6. С. 965.
  94. В.Д., Кшевецкий С. А., Кшевецкая М. Л., Михайлюк И. П., Остапович М. В. Усиление эффекта Бормана при четырехволновой дифракции рентгеновских лучей в Ge. Конфигурация (220, 400, 220). Кристаллография. 1976. Т.21. В.5. С. 899.
  95. Chang S.-L. Coherent interactions of multiple-diffraction X-rays in crystals. Z.Naturforsch. 1982. V.37a. № 5. P.501.
  96. C.A., Михайлюк И. П. Усиление аномального прохождения при шестиволновой дифракции. Кристаллография. 1976. Т.21. В.2. С. 381.
  97. Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V., Kohn V.G., Ishikawa T., Kikuta S., Hirano К. Direct measurements of X-ray anomalous transmission in six-beam Laue diffraction. Europhys. Lett. 1993. V.24. № 3. P.211.
  98. Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V., Kharitonov I.Yu., Samoilova L.V., Ishikawa T., Kikuta S. New possibilities of the X-ray standing wave method in multiple diffraction of synchrotron radiation. Rev. Sci. Instrum. 1992. V.63. № 1. P.1019.
  99. Marra W.C., Eisenberger P., and Cho A.Y. X-ray total-external-reflection-Bragg diffraction: A structural study of the GaAs-Al interface. J. Appl. Phys. 1979. V.50(ll). P.6927.
  100. Afanas’ev A.M., Melkonyan M.K. X-ray diffraction under specular reflection conditions. Ideal crystals. Acta Cryst. 1983. V. A39. P.207.
  101. Golovin A.L., Imamov R.M. Investigation of the X-ray scattering intensity for the Laue-case diffraction under total-external-reflection conditions. Phys. Stat. Sol. (a). 1983. V.77. P. K91.
  102. Becker R.S., Golovchenko I.A. and Patel I.R. X-ray evanescent-wave adsorption and emission. Phys. Rev. Lett. 1983. V.50. P. 153.
  103. Bedzyk M J., Bommarito G.M. and Shildkraut I.S. X-ray SW at reflecting mirror surface. Phys. Rev. Lett. 1989. V.62. P.1376.
  104. Zheludeva S.I., Kovalchuk M.V., Novikova N.N., Sosphenov A.N., Erochin V.E., Feigin L.A. X-ray total external reflection fluorescence study of L-B films on solid substrate. J.Phys.D.: Appl.Phys. 1993. V.26. P. A202.
  105. Aleksandrov P.A., Afanas’ev A.M., and Stepanov S.A. Bragg-Laue diffraction in inclined geometry. Phys. Stat. Sol. (a). 1984. V.86. P.143.
  106. Afanas’ev A.M., Imamov R.M., Mukhamedzhanov E.Kh., and Qui L.C. Photoemission curves obtained in conditions of X-ray grazing-incidence Laue diffraction from crystals with a disturbed surface layer. Phys. Stat. Sol. (a). 1985. V.92. P.355.
  107. Afanas’ev A.M., Afanas’ev S.M., Aleksandrov P.A., Imamov R.M., and Pashaev E.M. Grazing Bragg-Laue diffraction for studying the crystal structure of thin films. Phys. Stat. Sol. (a). 1984. V.86. P. K1.
  108. A.M., Имамов P.M., Мухамеджанов Э. Х., Куи Jle Конг. Неупругое рассеяние рентгеновских лучей при асимметричной брэгговской дифракции. ДАН СССР. 1986. Т.288. С. 847.
  109. Bushuev V.A., Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V. Coherent Compton effect under conditions of X-ray dynamical Laue diffraction. Phys. Stat. Sol. (b). 1988. V.150. P.9.
  110. A.M., Имамов P.M., Мухамеджанов Э. Х., Куи Ле Конг. Переползание брэгговского пика на границе Брэгг-Лауэ геометрии. ДАН СССР. 1987. Т.295. С. 839.
  111. Afanas’ev A.M., Imamov R.M., Mukhamedzhanov E.Kh., Peregudov V.N. Fluorescence accompanying X-ray diffraction in the grazing incidence Bragg-Laue geometry. Phys. Stat. Sol. (a). 1986. V.98. P.367.
  112. Rouse K.D., Cooper MJ. The correction of measured integrated Bragg intensities for anisotropic thermal diffuse scattering. Acta Cryst. 1969. V. A25. P.615.
  113. Sakata M., Harada J. Anisotropic corrections of measured integrated Bragg intensities for thermal diffuse scattering. II. Acta Cryst. 1976. V. A32. P.426.
  114. Afanas’ev A.M., Azizian S.L. Secondary processes accompanying X-ray diffraction. Thermal diffuse scattering. Acta Cryst. 1980. V. A37. P. 125.
  115. Spalt H., Zounek A., Dev B.N., Materlik G. Coherent X-ray scattering by phonons: determination of phonon eigenvectors. Phys. Rev. Lett. 1988. V.60. P.1868.
  116. A.M., Зозуля A.B., Ковальчук M.B., Чуев M.A. О фазовой проблеме в трехволновой рентгеновской дифракции. Письма в ЖЭТФ. 2002. Т.75. В.7. С. 379.
  117. Afanas’ev A.M., Kagan Yu., Chukhovskii F.N. Dynamic treatment of the diffuse scattering of X-rays. Phys. Stat. Sol. 1968. V.28. P.287.
  118. Kohler R., Mohling W., and Peibst H. Influence of acoustic lattice vibrations on dynamical X-ray diffraction. Phys.stat.sol.(b). 1974. V.61. P. 173.
  119. Л.Д., Лифшиц Е. М. Квантовая механика. -М.: Физматгиз, 1963.
  120. A.B., Ковальчук М. В., Лидер В. В., Самойлова Л. В. Экспериментальное осуществление многоволновой компланарной дифракции на примере кристалла KDP. Поверхность. 2002. № 7. С. 6.
  121. Isomae S., Kishino S., Takagi К., Ishii M. and Maki M. Lattice-parameter measurement technique for single crystals using two lattice planes, and its application to Gd3Ga50i2 single crystals. J. Appl. Cryst. 1976. V.9. P.342.
  122. Pacherova O., Bubakova R. A treatment of the coplanar Si000, 440, 404. diffraction. Acta Cryst. 1987. V. A43. P.161.
  123. Smolsky I.L., Voloshin A.E., Zaitseva N.P., Rudneva E.B. and Klapper H. X-ray topographic study of striation formation in layer growth of crystals from solutions. Phil. Trans. R. Soc. bond. A. 1999. V.357. P.2631.
  124. A.B., Ковальчук M.B. Экспериментальное наблюдение усиления интерференционного эффекта в условиях компланарной трехволновой рентгеновской дифракции. Поверхность. 2002. № 12. С. 25.
  125. Morris W.G. Crystal orientation and lattice parameters from Kossel lines. J.Appl.Phys. 1968. V.39. P.1813.
  126. Tixier R., Wache C. Kossel patterns. J.Appl.Cryst. 1970. V.3. P.466.
  127. Ellis Т., Nanni L.F., ShrierF. et al. Strain and precision lattice parameter measurements by the X-ray divergent beam method. J.Appl.Phys. 1964. V.35. P.3364.
  128. B.B., Рожанский B.H. Новый рентгеновский метод прецизионного определения межплоскостных расстояний кристалла при. съемке в расходящемся пучке. ФТТ. 1967. Т.9. С. 3541.
  129. Bond W.L. Precision lattice constant determination. Acta Cryst. 1960. V.13. P.814.
  130. A.B., Лидер B.B., Ковальчук M.B. Использование компланарной многоволновой дифракции для прецизионного определения параметров кристаллической решетки. Поверхность. 2002. № 12. С. 28.
  131. Е.М., Гречушников Б. Н., Дистлер Г. И., Петров И. П. Оптические материалы для инфракрасной техники. -М.: Наука, 1965. 335с.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!