Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Информационно-измерительная система контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муара

Диссертация: Информационно-измерительная система контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муара
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Практическая ценность работы заключается в том, что разработана ИИС контроля качества плоских проводников, основанная на визуализации магнитных полей рассеяния в малых объемах посредством электронно-оптических муаровых картин, отличающаяся усовершенствованной геометрией съемки позволяющей получать более четкие муаровые картины. Предложена методика контроля качества металлизированных отверстий… Читать ещё >

Информационно-измерительная система контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муара (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • 1. ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ПРЯМОЙ ОЦЕНКИ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ
    • 1. 1. Методы исследования электромагнитных полей
    • 1. 2. Методы производственного контроля качества электромагнитных изделий
    • 1. 3. Способы визуализации электромагнитных полей
  • 2. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ
  • 3. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕОДНОРОДНЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ
    • 3. 1. Применение муаровой методики при контроле качества печатных плат на производстве
    • 3. 2. Физическая модель магнитного поля плоского проводника с током на отверстии
    • 3. 3. Математическая модель магнитного поля плоского проводника с током на отверстии
    • 3. 4. Выводы
  • 4. ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МУАРОВЫХ КАРТИН
    • 4. 1. Применение фрактального анализа к муаровой методике
    • 4. 2. Фильтрация муаровых картин
    • 4. 3. Вычисление фрактальной размерности муаровой картины
    • 4. 4. Выводы
  • 5. ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ПРОВОДНИКОВ
    • 5. 1. Структура информационно-измерительной системы контроля качества плоских проводников
    • 5. 2. Аппаратные средства
    • 5. 3. Программное обеспечение
    • 5. 4. Выводы
  • 6. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ПРОВОДНИКОВ
    • 6. 1. Предварительная обработка экспериментальных данных по металлизированным отверстиям печатных плат
    • 6. 2. Исследование вероятности брака контроля при использовании Информационно-измерительной системы
    • 6. 3. Выводы
  • ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
  • СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ

Актуальность работы. Современные сложные электронные системы включают ряд составляющих, в том числе основополагающих: радиотехническую, вычислительную и энергетическую. Энергетические устройства, такие как монтажные платы — неотъемлемая часть всех систем. Эти «кирпичики» — составляющие фундамента электронной аппаратуры, построены на основе использования электромагнитных явлений и применении новых магнитных материалов. Поэтому измерение параметров электромагнитных полей, а также исследование электрических и магнитных свойств материалов занимают значительное место в технике.

Производственный контроль печатных плат представляет собой многопараметрический, трудоёмкий процесс, зависящий от личных качеств оператора. Работа проводника часто сопровождается генерированием неоднородных электрических и магнитных полей малой протяженности из-за геометрических и физических особенностей самого проводника и границ раздела. Например, при производственном контроле соответствия серийно выпускаемых электротехнических изделий запроектированным стандартам не поддаются учету особенности, вызванные различной физико-химической предысторией систем, создающих магнитные поля рассеяния. Это способ обработки металлизированных отверстий, состояние материала и полировки рабочей поверхности, которые существенно влияют на топологию магнитного поля рассеяния. Многочисленность подобных трудно учитываемых при моделировании полной картины магнитных полей факторов требует прямых методов исследования магнитных и электрических полей рассеяния малой протяженности. К данным методам можно отнести оптические, оптические теневые, электронно-оптические.

Использование средств электронной микроскопии в совокупности с цифровой фототехникой, сопряжённой с персональным компьютером (ПК), открывает широкие возможности по созданию информационноизмерительных систем (ИИС) для промышленности с целью автоматизации и повышения оперативности процесса разбраковки готовой продукции. Применение в ИИС методики электронно-оптических муаровых картин позволяет визуализировать магнитные поля рассеяния контролируемых изделий. Создание ИИС, основанной на использовании критериев, характеризующих муаровые картины от металлизированных отверстий печатных плат, открывает возможность разработки более надёжного и менее трудоёмкого метода контроля, что является: важной и актуальной задачей. Актуальность работы также подтверждается возможностью создания на базе муаровой методики наблюдения магнитных полей принципиально новых программно-управляемых систем при автоматизации процесса контроля качества электротехнических изделий на производстве.

Предмет исследования: Методы контроля электромагнитных изделий на производстве. Разработка ИИС контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муара.

Цель работы. Разработка оперативной, с большой достоверностью информационно-измерительной системы, и метода контроля качества металлизированных отверстий печатных плат с помощью электронно-оптического муара, отличающейся использованием единого критерия характеризующего полученные муаровые картины.

Идея работы заключается в применении ИИС, позволяющей по единому критерию, характеризующему электронно-оптические муаровые картины от исследуемых неоднородных магнитных полей рассеяния в малых объёмах, предложить более надёжный и оперативный метод контроля качества электронных изделий в масштабах производства.

Методы исследования. В диссертационной работе использованы методы получения муаровых картин от электрических и магнитных полей средствами электронной микроскопии, математического моделирования, схемотехники и метрологии. усовершенствована методика наблюдения неоднородных электромагнитных полей рассеяния малой протяженности средствами электронной микроскопиисоздана математическая модель, позволяющая описать электронно-оптические муаровые картины от поля рассеяния плоских проводниковпредложена методика обработки муаровых картин от поля рассеяния металлизированных отверстий печатных плат с помощью фрактального анализаразработан единый критерий, характеризующий полученные муаровые изображения по фрактальной размерности и предложен метод контроля качества металлизированных отверстий печатных платразработана структура и программное обеспечение ИИС контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муарапроведен метрологический анализ ИИС на погрешность определения качественных параметров, характеризующих муаровое изображение и результаты разбраковки электротехнических изделий на производстве.

Практическая ценность работы заключается в том, что разработана ИИС контроля качества плоских проводников, основанная на визуализации магнитных полей рассеяния в малых объемах посредством электронно-оптических муаровых картин, отличающаяся усовершенствованной геометрией съемки позволяющей получать более четкие муаровые картины. Предложена методика контроля качества металлизированных отверстий по фрактальной размерности муарового изображения, получаемого в процессе машинного математического моделирования, отличающаяся использованием в роли критерия контроля полученной фрактальной размерности муарового изображения.

Для ИИС, реализующей предложенный метод разбраковки, разработан алгоритм функционирования, аппаратное и программное обеспечение, метрологическое обеспечение с учетом вероятности брака при контроле.

Реализация работы. Основные результаты работы нашли применение при создании ИИС контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муара, прошедшей испытания в акционерном обществе открытого типа «Тамбовэлектроприбор» (г. Тамбов).

Апробация. Основные положения диссертации докладывались: IX Международная научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Радиоэлектроника, электротехника и энергетика» (Москва, 2003) — III Международная конференция «Микромеханизмы пластичности, разрушения и сопутствующих явлений (MPFP)» (Тамбов, 2003) — VII Всероссийская научно-техническая конференция «Повышение эффективности средств обработки информации на базе математического моделирования» (Тамбов, 2004).

Публикации. Основные результаты диссертации опубликованы в 7 печатных работах.

Структура и объем работы. Диссертационная работа состоит из введения, шести глав, заключения, библиографического списка из 107 наименований, приложений. Общий объем работы составляет 113 страниц. Основная часть диссертации изложена на' 94 страницах машинописного текста. Работа содержит 30 рисунков.

Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований: усовершенствована методика наблюдения неоднородных электромагнитных полей рассеяния малой протяженности средствами электронной микроскопиисоздана математическая модель, позволяющая описать электронно-оптические муаровые картины от поля рассеяния плоских проводниковпредложена методика обработки муаровых картин от поля рассеяния металлизированных отверстий печатных плат с помощью фрактального анализаразработан единый критерий, характеризующий полученные муаровые изображения по фрактальной размерности и предложен метод контроля качества металлизированных отверстий печатных платразработаны структура и программное обеспечение ИИС контроля качества плоских проводников с помощью электронно-оптического муарапроведен метрологический анализ ИИС на погрешность определения качественных параметров, характеризующих муаровое изображение и результаты разбраковки электротехнических изделий на производстве.

Показать весь текст

Список литературы

  1. , Л.И. Магнитные сердечники в автоматике и вычислительной технике Текст. / Л. И. Пирогов, Ю. М. Шамаев.-М.: Энергия, 1967.-296 с.
  2. , М.А. Магнитные элементы автоматики и вычислительной техники Текст. / М. А. Розенблант.-М.: Наука, 1974.-768 с.
  3. , В.Г. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий Текст. / В. Г. Герасимов, В. В. Клюев, В. Е. Шатерников.-М.: Энергоатомиздат, 1983.-272 с.
  4. , М.М. Проблемы магнитных измерений и магнитоизмерительной аппаратуры Текст. / М. М. Червинский // Материалы Всесоюз. науч.-техн. совещ.-Л., 1977.-С. 124−128.
  5. , Ю.В. Средства измерения параметров магнитного поля Текст. / Ю. В. Афанасьев, Н. В. Студенцов, В. Н. Хорев.-Л.: Энергия, 1979.-320 с.
  6. , Л.Д. Теория поля Текст. / Л. Д. Ландау, Е. М. Лифшиц.-М.: Наука, 1967.- 453 с.
  7. , О.В. Математические модели для расчета электрических и магнитных полей Текст. / О. В. Тозони.-1Сиев: Наукова думка, 1964.-378с.
  8. , А .Я. Расчет напряженности поля прямым методом Текст. / А. Я. Сочнев.- Л.: Энергоатомиздат, 1984.-539 с.
  9. , Д.А. Теория электромагнетизма Текст. / Д. А. Стрэтон.-М.: ОГИЗ, 1948.-539 с.
  10. , Р. Фейнмановские лекции по физике Текст. / Р. Фейнман, Р. Лейтон, М. Сэндс.-М.: Мир, 1969.-Т.5.-330 с.
  11. А.с. 318 894 СССР, МКИ GOl № 33/06. Устройство для измерения напряженности магнитного поля Текст. /.
  12. А.с. 1 818 602 RU, МКИ G02 № 1/29. Устройство для определения пространственного распределения магнитного поля Текст. /.
  13. Fowler, C.A. Magnetic olomains in thin films by the Faraday effect Текст. / C.A. Fowler, E.M. Fryer//Phys. Rev.-1956.-V. 104, N2.-P. 548−552.
  14. , Ю.М. Магнитные измерения: Обзор зарубежных и отечественных изобретений Текст. / Ю. М. Теснек.-М.: ЦНИИПИ, 1964.-380 с.
  15. ГОСТ 16 263–70. Государственная система обеспечения единства измерений. Метрология. Термины и определения Текст. .-Введ. с 01.01.71.-Пе*реизд. дек.1990 г.-М.: Изд-во стандартов, 1990.-54 с.
  16. , Е.Н. Приборы для измерения магнитных величин Текст. / Е. Н. Чечурина.-М.: Энергия, 1969.-168 с.
  17. , В.В. Практическая магнитометрия Текст. / В. В. Панин, Б. М. Степанов.- М.: Машиностроение, 1978.-256 с.
  18. , В.Г. Магнитоизмерительные приборы и установки Текст. /B.Г. Сергеев, А. Я. Шихин.-М.: Энергоатомиздат, 1982.-152 с.
  19. , Ю.В. Магнитометрические преобразователи, приборы и установки Текст. / Ю. В. Афанасьев, Н. В. Студенцов, А. П. Щелкин.-JI.: Энергия, 1972.-264 с.
  20. , Б.М. Вопросы изучения измерения нестационарных •магнитных полей Текст. / Под ред. Б. М. Степанова.-М.: ВНИИОФИ, 1980.-287 с.
  21. , А.В. Микрорезонаторный датчик магнитного поля Текст. / А. В. Листвин, В .Т. Потапов. // Письма в ЖТФ.-1993.-Т.19, № 17.-С. 2628.
  22. , Г. П. Интегральные полупроводниковые датчики магнитного поля Текст. / Г. П. Балтес, Р. С. Потапович. // ТИИЭИР.-1986.-Т.74, № 8.C. 60−66.
  23. , Э.М. Кодирование в радиоэлектронике Текст. / Э.М. •Габидулин, В. Б. Афанасьев.-М.: Радио и связь, 1986.-176 с.
  24. , С.В. Анализ метрологических характеристик индукционных электрометрических преобразователей Текст. / С. В. Аленин, В. В. Панин, В. В. Паршин.-М.: Энергоатомиздат, 1983.-429 с.
  25. , В.И. Индуктивные излучатели и приемники вихревого электрического поля Текст. / В. И. Гордиенко, Н. И. Калашников, К. Д. Надточий.-Киев: Наукова думка, 1972.-386 с.
  26. , С.В. Магнетизм Текст. / С. В. Вонсовский.-М.: Наука, 1971.-630 с.
  27. , Л.Я. Входные преобразователи для измерения напряженности низкочастотных магнитных полей Текст. / Л. Я. Мизюк.-Киев: Наукова думка, 1964.-173 с.
  28. , М.И. Новые приборы для измерения магнитной индукции, основанные на эффекте Холла Текст. / М. И. Вассерман, А. П. Щелкин. // Труды метрологических институтов СССР / ВНИИМ им. Менделеева.-Л., 1974.-Вып. 152.-С. 61−65.
  29. , А.В. Измерение слабых, медленно изменяющихся магнитных полей с использованием датчика Холла Текст. / А. В. Васенин. // Электроизмерительная техника.-М., 1978.-Вып. 1.-С. 37−41.
  30. , А. Датчики Холла и магниторезисторы Текст. / А. Кобус, Я. Тушинский.-М.: Советское радио, 1971.-76 с.
  31. , Г. Физика гальваномагнитных полупроводниковых приборов и их применение Текст. /Г. Вайсс.-М.: Энергия, 1974.-384 с.
  32. , Е.В. Методы исследования эффекта Холла Текст. / Е. В. Кучис.-М.: Советское радио, 1974.-91 с.
  33. , А.Б. Электроизмерительная техника в научных исследованиях Текст. / Под. ред. А. Б. Филлипова.-М.: Атомиздат, 1978.-348 с.
  34. , И.А. Миниатюрные преобразователи Холла для определения топографии магнитного поля Текст. / И. А. Петрушенко, А. П. Щелкин. // Автометрия.-1969.-№ 6.-С. 8−11.
  35. , Ю.В. Вопросы проектирования феррозондовых магнитометров Текст. / Ю. В. Афанасьев, И. Г. Гольдреер, С. Ш. Долгинов. // Геофизическое приборостроение: Сб. тр.-М., 1960.-Вып. 6.-С. 53−58.
  36. , С.Ш. Малогабаритный магнитометр для измерения очень слабых магнитных полей Текст. / С. Ш. Долгинов, JI.H. Шуров. // Тр. ин-та физики металлов АН СССР.-Свердловск, 1959.-Вып. 21.-С. 44−49.
  37. , А.В. Электрические измерения Текст. / Под ред. А. В. Фремке.-Л.: Энергия, 1980. 392 с.
  38. , Г. С. Оптика Текст. / Г. С. Ландсберг.-М.: Гостехиздат, 1957.236 с.
  39. , М. Фотоника Текст. / Под. ред. М.Баланси.-М.: Мир, 1978.-470с.
  40. Rowe, R.G. Magnetostriction compass Текст. / R.G. Rowe // Electronics.-1954.-V. 18, № 7 .-P. 114−119.
  41. Perls, T.A. Magnetostriction magnetometr Текст. / T.A. Perls // Phys. Rev.-1952.-V.87, № 1.-P. 68−71.
  42. , Д.А. Теория электромагнетизма: Пер. с англ. Текст. / Д. А. Стрэттон.-М.: Огиз, 1954.-539 с.
  43. , А.И. Моделирование магнитных полей на ЭВМ Текст. / А. И. Вичес, А. И. Горон, В. А. Смирнов.-М.: Радио и связь, 1984.-183 с.
  44. , Г. А. Опыты моделирования при изучении электромагнитного поля Текст. / Г. А. Рязанов.- М.: Наука, 1966.-290 с.
  45. , Г. А. Электрическое моделирование с применением вихревых полей Текст. / Г. А. Рязанов.-М.: Наука, 1969.-337 с.
  46. , А.А. Электронная микроскопия Текст. / Под ред. А. А. Лебедева.-М.: Наука, 1954.- 640 с.
  47. , JI.A. Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Текст. / Л. А. Арцимович, С. Ю. Лукьянов.-М.: Наука, 1972.-220 с.
  48. , З.А. Электронная микроскопия Текст. / З. А. Лейзеганг.-М.: Изд-во иностр. лит., 1960.-537 с.
  49. , Н.Г. Применение магнетрона для измерения напряженности .магнитного поля Текст. / Н. Г. Зуева // Труды ВНИИМ.-М., 1938.-С. 3439.
  50. Peter, М. A New method for the measurement of inhomogeneous magnetic fields Текст. / M. Peter, D. Weizierl // Review of Scient. Instrum.-1950.-№ 5.-P. 63−71.
  51. Whitham, K. Measurement of the Geomagnetic Elements Текст. / К. Whitham // Coontribution from Dominion Observatory (Ottawa).-1960.-V.3, № 30.-P. 34−37.
  52. Marton, L. Elektron-Optical Shadow Method of Magnetic Field Mapping • Текст. / L. Marton, J. Arol Simpson, S.H. Lachenbruch // J. Research NBS.1954.-V.52, № 2.-P. 97−99.
  53. Вуд, P. Физическая оптика Текст. / P. Вуд.-М.: ОНТИ, 1936.-382 с.
  54. , Д.Д. Теневые методы исследования оптических систем Текст. / Д. Д. Максутов.-М.: ГТТИ, 1934.-276 с.
  55. , Г. В. Визуализация магнитного поля при помощи электронного зеркала Текст. / Г. В. Снивак, Р. Д. Иванов, О. П. Павлюченко // Изв. АН. СССР. Сер. Физ.-1963. Т.27, № 9.-С. 1210−1212.
  56. , Л.Н. Электронно-оптический метод исследования микрополей ' Текст. / Л. Н. Малахов, Ю. В. Воробьев // Докл. АН СССР.-1959.-Т. 152, № 2.- С. 315.
  57. , В.Н. Применение теневого электронно-оптического метода к исследованию р-п переходов Текст. / В. Н. Верцнер, Ю. В. Воробьев, Л. Н. Малахов // Физика твердого тела: Сб. тр.-М- Л., 1959.-№ 2.-С. 109
  58. Neumaier, P. Kupferschicht-dicken an Durchkontaktierungen von LeiterplattenMessen Текст. / Leiterplatten-technik, 1992, LP58-LP61.
  59. , В.В. Дефектоскопия Текст. /В.В. Сухоруков, Ю. М. Улитин 1988, №Ю, с.32−39.
  60. Палеес, Е. Э Дефектоскопия Текст. / Е. Э. Палеес, В. В. Сухоруков, Ю. М. Улитин 1993, № 4, с.30−33.
  61. , В.В. Измерение импульсных магнитных и электрических полей Текст. /В.В. Панин, Б. М. Степанов.-М.: Энергоатомиздат, 1987.-120 с.
  62. Гак, Е. З. Патент СССР 290 244 G 01, 22.12.1970. Способ визуального определения напряженности неоднородных магнитных полей Текст. / Гак Е.З.
  63. , В.М. Патент СССР 393 705 G 01, 10.08.1973. Кузмичев В. М. и др. Устройство для визуализации электромагнитного излучения Текст. / Кузмичев В.М.
  64. , М.Ю. Пат. 2 177 162 Российская федерация, МПК G 1, 10.03.2000. Способ получения оптического изображения магнитного поля Текст. / Гусев М.Ю.- заявитель и патентообладатель и др.
  65. , Е.А. Измерительно-вычислительная система контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов Текст. / Е. А. Печатан, Автореферат кандидатской диссертации, Липецк 2002
  66. , А. Анализ деформаций с использованием муара Текст. / А. Дюрелли, В. Паркс.-М.: Мир, 1974.-356 с.
  67. Tollenaar, D. Moire-Interferentieverschienselen bie rasterdruk Текст. / D. Tollenaar- Amsterdam Institut vor Grafische Technik.- Amsterdam, 1945.-142P
  68. Kaczer, J. The Determination of Strains by Mechanical Interference Текст. / J. Kaczer, F. Kroupa // Czechoslovak J. Phys.-1952.-V.l, № 80.-P. 73−81.
  69. Weller, R. Displacement Measurement by Mechanical Interferometry Текст.R. Weller, B.M. Shepard // Proc. SESA.-1948.-V.6, № 1.-P. 21−24.
  70. Teocaris, P. Moire Fringes Текст. / P. Teocaris // Appl. Mech. Surveys. • Spartan.-1966.-V. 15, № 33.-P. 613−617.
  71. , В. Испытание оптических систем Текст. / В. Ронки.-М.: Гостехиздат, 1933.-357 с.
  72. , А.В. Антисимметрия Текст. / А. В. Шубников // VII Международ, конгр.: Сб. докл. АН СССР.-М., 1966.-С. 147.
  73. , С. Методы прямого наблюдения дислокации Текст. / С. Амелинкс.-М.: Мир, 1968.-347 с.
  74. , Г. В. О контрасте картины магнитных микрополей, наблюдаемых в растровом электронном микроскопе- Текст. / Г. В. Спивак, Г. В. Сапарин, Н. Н. Седов, Л. Ф. Комолова // Изв. АН СССР. Сер. Физ.-1968.-Т.32, № 6.-С. 962−965.
  75. , Ю.И. Магнитное поле в трещине, обтекаемой током Текст. / Ю. И. Головин, В. М. Иванов, В. П. Иванов, В. М. Финкель // Дефектоскопия.-1982.-ЖЗ .-С. 43−45.
  76. , В.М. Электронная оптика Текст. / В. М. Кельман, С .Я. Явор.-М.-Л.: Изд-во АН СССР, 1963.-362 с.
  77. , В.Н. Наблюдение магнитных полей по теневым электронно-оптическим муаровым картинам Текст. / В. Н. Гусев, Б. А. Красюк // Физика и химия обработки материалов.-1969.-№ 5.-С. 40−46.
  78. , А.Н. Электронно-оптический муар в оценке качества магнитныхизделий Текст. / А. Н. Уваров, В. М. Иванов, Е. А. Печатан // Вестник ТГУ. Сер. Естественные и технические науки.-2003.-Т.8.-вып. 4.-С. 691 -694.- (Труды участников III Международ, конф.).
  79. , Г. А. Действие импульсного электрического поля на малолегированные стали вблизи отверстий и неметаллических включений Текст. / Барышев, Г. А. и др. // Физика и химия обработки материалов. 1980. № 4. С.-12−17.
  80. Финкель, В. М Доклады АН СССР Текст. / Финкель, В.М., Головин Ю. И., Слетков А. А., 1977, т.237, № 2, с.325−327.
  81. , A.JT. Электромагнитная дефектоскопия Текст. / A.JT. Дорофеев, Ю. Г. Казанамов М.: Машиностроение, 1980. 232с.
  82. , Г. Сверхсильные импульсные магнитные поля Текст. / Г. Кнопфель.: М. «Мир», 1972. 391с.
  83. , Д. Получение сильных магнитных полей с помощью соленоидов Текст. / Д. Монтгомери.-М.: Мир, 1971.-359 с.
  84. , Е. Таблицы функций Текст. / Е. Янке, Ф. Эмде.-М.: Мир, 1951.512 с.
  85. , Е. Фракталы Текст. / М.: Мир, 1991, 254 с.
  86. , М. Фракталы, хаос, степенные законы Текст. / Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2001, 528 с.
  87. , С.В., Паршин Д. А. Фракталы и мультифракталы Текст. / Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2001, 128 с.
  88. , В.К. Введение в теорию фрактального исчисления Текст. / Улан-Удэ.: Изд. Бурятского гос. ун-та, 2001, 58 с.
  89. , X., Табочник Я. Компьютерное моделирование в физике Текст. / ч.П.- Москва.: Мир, 1990,400 с.
  90. , Н.А. Исследование пространственной структуры ветвящихся стримерных каналов коронного разряда Текст. // Физика плазмы, 2002, том 28, j 7, с. 664−672.
  91. , М.П. Измерительные информационные системы Текст. / М.: Энергия, 1974, 320с.
  92. , А.Я. Программирование в Delphi 5.0 Текст. / А. Я. Архангельский.-М.: ЗАО «Изд-во Бином», 2000.-1072 с.
  93. , Б.В. Математические методы и ЭВМ в стандартизации и управлении качеством Текст. / Б. В. Осипов, Е. А. Мировская.-М.: Изд-во стандартов, 1990.-168 с.
  94. , Н.И. Корреляционная теория статически оптимальных систем Текст. /Н.И. Андреев.-М.: Наука, 1966.-459 с.
  95. , С.А. Прикладная статистика и основы эконометрики Текст. / С .А. Айвазян, B.C. Михитарян.-М.: Юнити, 1998.-1023 с.
  96. , Е.Н. Статистические методы построения эмпирических формул Текст. / Е. Н. Львовский.-М.: Высш. шк., 1982.-224 с.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!