Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Научно-методическое обеспечение управления качеством холодных катодов на этапе разработки и организации производства

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Ведущие зарубежные фирмы Spectra Physics, Reytheon, Honeywell, Litton Sistems, Sperry определяют маркетинговую стратегию развития и ценовую политику производства лазерного навигационного оборудования для ориентации движущихся объектов. Например, гироскопы фирмы Honeywell на гелий-неоновых (He-Ne) лазерных датчиках используются для навигации воздушных, космических и морских судов. Отличительной… Читать ещё >

Научно-методическое обеспечение управления качеством холодных катодов на этапе разработки и организации производства (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Глава 1. Современное состояние разработки и производства He-Ne лазерных датчиков на холодных источниках электронов
    • 1. 1. Гироскопические системы на лазерных зеемановских гироскопах
    • 1. 2. Отличительные особенности зарубежных лазерных гироскопов
    • 1. 3. Влияние конструктивных и других особенностей элементов лазер* ных датчиков на свойства зеемановских гироскопов
    • 1. 4. Анализ отечественных разработок в области создания He-Ne лазерных датчиков на холодных катодах
    • 1. 5. Сравнительный анализ конструкций и способов изготовления лазерных датчиков с холодными катодами с целью определения перспективного варианта
    • 1. 6. Зеркала и холодные источники электронов лазерных датчиков на He-Ne смеси
      • 1. 6. 1. Современные приемы изготовления зеркал
      • 1. 6. 2. Методы изготовления холодных источников электронов (катодов)
  • Выводы к главе
  • Глава 2. Холодный катод как многокомпонентная техническая система
    • 2. 1. Особенности разработки холодного катода высокой надежности
      • 2. 1. 1. К выбору материала и конструкции
      • 2. 1. 2. Класс обработки поверхности и ее структура
      • 2. 1. 3. Чистота поверхности
      • 2. 1. 4. Покрытие поверхности подложек холодных катодов оксидной пленкой
    • 2. 2. Выбор критериев качества холодных катодов
      • 2. 2. 1. Особенности контроля технологического процесса изготовлем ния холодных катодов
      • 2. 2. 2. Толщина оксидной пленки
      • 2. 2. 3. Критерий долговечности и внешние воздействующие факторы
  • Выводы к главе 2
  • Глава 3. Современный подход к управлению качеством продукции
    • 3. 1. Необходимость повышения качества продукции
    • 3. 2. Общие принципы обеспечения качества продукции
    • 3. 3. Обеспечение качества (надежности) на всех этапах жизненного цикла изделия
    • 3. 4. Повышение качества (надежности) на этапе проектирования и разработки продукции
    • 3. 5. Система обеспечения и контроля качества на этапе производства
    • 3. 6. Обобщенная структурная схема системы обеспечения и контроля качества изделий на этапах их «жизненного цикла»
    • 3. 7. Особенности управления качеством изделий радиоэлектроники на предприятиях России
    • 3. 8. Повышение качества разработки и производства холодных катодов лазерных датчиков
  • Выводы к главе 3
  • Глава 4. Разработка и организация производства основы современных лазерных датчиков — холодных катодов
    • 4. 1. Концепция разработки лазерного датчика на основе пленочного холодного катода
    • 4. 2. Создание технологии получения пленочного холодного катода высокой надежности и долговечности
      • 4. 2. 1. Особенности выбора материала для новой конструкции
      • 4. 2. 2. Технические приемы и разработка методов получения и испытания многослойных холодных катодов
    • 4. 3. Организация производства и методы управления качеством холодных катодов
      • 4. 3. 1. Структура и задачи автоматизированной системы управления предприятием по производству холодных источников электро
      • 4. 3. 2. Функционирование информационно-советующей системы управления качеством лазерных гироскопов
  • Выводы к главе 4

Приборостроительные предприятия России, осуществляющей переход к социально-ориентированной рыночной экономике, поставлены перед необходимостью выработки стратегий, обеспечивающих, в том числе, разработку и производство отечественных навигационных систем и их основных узлов с учетом конкурентных преимуществ.

Ведущие зарубежные фирмы Spectra Physics, Reytheon, Honeywell, Litton Sistems, Sperry определяют маркетинговую стратегию развития и ценовую политику производства лазерного навигационного оборудования для ориентации движущихся объектов. Например, гироскопы фирмы Honeywell на гелий-неоновых (He-Ne) лазерных датчиках используются для навигации воздушных, космических и морских судов. Отличительной особенностью лазерных датчиков таких гироскопов является использование холодного источника электронов (катода). Холодный катод для эмиссии электронов не требует наличия источника высокотемпературного нагрева и является идеальным для использования в вакуумных и газоразрядных приборах современных устройств радиоэлектроники. Тем не менее, к холодному катоду, изготовленному, как правило, из бериллия, вещества I класса опасности, и обеспечивающему горение тлеющего разряда, а следовательно, и накачку лазера в процессе его работы, предъявляется ряд жестких требований по долговечности и надежности при аномальном тлеющем разряде. На практике диапазон их расширяется в связи с воздействием вибро-ударных, климатических и акустических нагрузок, действующих на лазерные датчики, в которые встроены такие холодные катоды.

Ученых и конструкторов и сегодня в особой степени занимают вопросы разработки новых и совершенствования известных холодных катодов, организации их производства, поскольку именно они, по мнению ведущих специалистов, в первую очередь определяют надежность отпаянных гелий-неоновых лазерных датчиков. Из-за отсутствия систем обеспечения качества у приборостроительных предприятий России, испытывающих хроническое недофинансирование по Госзаказам, производство не совершенствуется, поскольку считается не первостепенной задачей.

Зарубежные фирмы в своей маркетинговой стратегии не предусматривают продажу лазерных датчиков и готовых навигационных комплексов российским потребителям. Маловероятно и то, что гироскопы потребительского качества, одинакового с зарубежными, изготовленные в современной России и обремененные высокой трудоемкостью и энергоемкостью, станут конкурентоспособными на мировом рынке без модернизации их производства.

Поэтому, опираясь на уникальный отечественный научный задел в сфере разработки лазерных датчиков с холодными катодами, в основе отечественной стратегии развития лазерных навигационных комплексов должно лежать не только обеспечение эффективности совокупных затрат, но и прежде всего, высокое качество изделий. Причем это качество должно быть обеспечено соответствующей организацией производства. Эта система не должна давать сбоев при изготовлении основных узлов лазерного гироскопа, ответственных за его долговечность и надежность на всех этапах его жизненного цикла. Такая стратегия обеспечит монопольное положение российских лазерных навигационных систем и их основы, лазерных датчиков с холодными катодами, на мировом рынке на довольно длительную перспективу.

Поскольку в настоящее время в промышленности России происходят процессы перехода к новой системе организации деятельности и управления, возникла необходимость сформировать такие научные основы организации совершенствования структур управления качеством лазерного датчика с холодным катодом как на стадии разработки, так и на всех последующих стадиях его производства, на основе которых можно было бы оперативно модернизировать общую систему организации производства, корректируя при этом как сами изделия, так и структуру управления их производства и применения.

Таким образом, вышеизложенное, а также недостаточная разработанность данного направления в отечественной науке и практике, позволяет заключить, что разработка научно-методических основ обеспечения качества лазерных датчиков с холодным катодом на этапах разработки и организации производства является актуальной задачей.

Целью настоящей работы является формирование научно-методических основ обеспечения качества He-Ne лазерных датчиков с холодным катодом путем совершенствования структуры управления разработкой и производством наиболее уязвимых его элементов, выявленных при детальном анализе всех параметров и технологических процессов изготовления основных узлов датчика, ответственных за его долговечность (среднюю наработку на отказ).

Поставленная цель включает следующие задачи:

— исследование свойств основных узлов гелий-неонового датчика, и прежде всего холодного катода, влияющих на его надежность, выявление наиболее уязвимых элементов датчика с использованием для этих целей системного подхода как методической основы оценки качества;

— изучение существующих технологических процессов получения холодных катодов и их параметров, как многокомпонентной системы, влияющих на качество и надежность лазерного датчика, а также на экологическую безопасность методами системного моделирования и информационных технологий;

— изыскание научно-методических основ и процедур моделирования обеспечения качества холодных катодов для лазерных датчиков и разработка основ совершенствования структуры управления их разработкой, производством и применением;

— разработка оптимальной структуры организации производства отечественных лазерных датчиков с холодными катодами, обеспечивающей их высокое качество и конкурентоспособность на мировом рынке.

Объект исследования. Объектом исследования служили отечественные лазерные гелий-неоновые датчики с холодными катодами, технологические процессы производства датчика и его основных элементов.

Методы исследования. В работе использовались методы статистической физики, математической логики и вычислительной математики. Теоретическую основу исследований составляли методы системного анализа и моделирования, теории управления производством, а также теория и методы инженерных знаний.

Научная новизна. В рамках данной работы получены следующие новые научные результаты, выносимые в качестве положений на защиту.

— сформулирована детальная модель жизненного цикла гелий-неонового лазерного датчика с холодным катодом, позволяющая выявить его наиболее уязвимые элементы, в основу которой заложен базовый критерий качестванаработка на отказ;

— методами системного анализа и экспериментального моделирования разработана методология устранения уязвимых элементов лазерного датчика, основанная на совершенствовании процесса их конструирования и изготовления, обеспечивающая эффективный реинжиниринг организационной структуры производства наиболее уязвимой детали;

— исследованы и установлены особенности выработки критериев контроля качества и системы управления производством основного элемента лазерного датчика — холодного катода с конкурентоспособными параметрами как на этапах его разработки, так и в производстве.

Практическая ценность работы. Практическая значимость результатов исследования заключается в системном анализе и совершенствовании структуры управления производством лазерных датчиков с холодными катодами, примененными на приборостроительных предприятиях. Полученные результаты позволяют сформулировать и реализовать пути повышения качества и эффективности производства отечественных приборов, в том числе лазерных гироскопов, на всех этапах их жизненного цикла. Представленные в работе процедуры и методология организации производства и обеспечения качества основных элементов лазерного датчика, обладающих заданными структурными свойствами, определяющих долговечность и надежность гироскопа могут быть использованы в системах инерциальной лазерно-спутниковой системы навигации типа ГЛОНАС. Реализация результатов исследований позволит повысить технические характеристики (долговечность) лазерных гироскопов в условиях воздействия климатических, акустических и вибро-ударных нагрузок, что обеспечит конкурентоспособность отечественных лазерных навигационных систем и самое важное безопасность авиапассажиров и экипажей летательных аппаратов.

Нижеследующие технические аспекты данного исследования нашли применение в отечественной промышленности:

— результаты и доказательства того, что наиболее уязвимыми элементами гелийнеонового моноблочного лазерного датчика являются зеркала и источник электронов — холодный катод;

— экспериментальные результаты применения твердооксидных зеркал, обеспечившие необходимые оптические параметры лазерного датчика;

— холодный катод в виде пленки оксидированного А1, выполненный в зеркальной полости моноблока, изготовленный методами вакуумной техники из исходного высокочистого алюминия, обеспечивающий надежную работу He-Ne датчика на всех этапах жизненного цикла, экологическую безопасность производства;

— конкурентоспособные лазерные датчики, реализованные на рынке благодаря высокому уровню качества пленочных холодных катодов, достигнутому контролем параметров технологических процессов производства и организацией самого производства. Основные положения и выводы диссертации внедрены на предприятии «Лазекс», г. Москва.

Основные результаты диссертационной работы докладывались на 7 отечественных и международных конференциях и совещаниях.

Общие выводы по работе.

Благодаря выполненным исследованиям, впервые, создана перспективная структура управления качеством лазерных датчиков современного предприятия на этапах разработки, организации производства и освоения технологического процесса. Главным элементом предложенной структуры организации производства является информационно-аналитический центр (ИАЦ), который в реальном масштабе времени поддерживает и регулирует процесс выпуска продукции. Руководство предприятия, располагая сведениями о потребностях мирового рынка (в результате маркетинговых изысканий), параметрами текущего производства и данными фундаментальных и прикладных исследований, с помощью сотрудников ИАЦ, определяют стратегию развития предприятия.

Проведенные исследования позволяют сделать следующие выводы:

1. Выявленные особенности оценки качества разработки и организации производства зарубежных и отечественных лазерных моноблочных гелий-неоновых датчиков угла поворота и угловой скорости с учетом их надежности и длительности жизненного цикла могут быть рекомендованы в качестве методической основы оценки качества разработки и организации производства ЛД. Предложенная модель жизненного цикла гелий-неонового лазерного датчика с холодным катодом, основанная на выходных пооперационных параметрах изготовления и эксплуатации ЛД, позволяет выявить элементы, ограничивающие его надежность. Такими элементами в ЛД являются зеркала и холодный катод. В предложенной модели базовым критерием качества моноблочного датчика с холодным катодом является долговечность (средняя наработка на отказ).

2. С использованием методов экспериментального моделирования и системного анализа, разработана методология повышения качества лазерного датчика, и, прежде всего, его основного элемента — холодного катода, основанная на разработке новых конструкторско-технологических решений и совершенствовании структуры организации производства.

3. Предложенный метод экспериментального моделирования и системно-I го анализа, рассматривающий холодный катод как многокомпонентную техни-! ческую систему, позволил исследовать и установить критерии качества, их численные величины: шероховатость поверхности (Ra~0,160.0,08 мкм), толщина эмиссионного слоя (0,4.2,0 мкм), толщина оксидной пленки (20.40 нм), уменьшение давления He-Ne смеси на 20% и др. с целью разработки системы управления производством холодных катодов с конкурентоспособными параметрами. Созданный автором холодный катод, выполнен в виде неразъемного пленочного покрытия системы А120з-А1-кварц (ситалл) на стенках полости моноблока, в котором ранее размещался вставной бериллийсодержащий холодный катод, не уступает последнему по уровню долговечности и превосходит его по надежности в условиях виброударных нагрузок.

4. Автором, впервые, предложена методика совершенствования управления предприятием по производству лазерных моноблочных датчиков с принципиально новым холодным катодом, на базе информационно-аналитического центра контроля и управления качеством.

В целом, результаты работы, полученные автором, позволяют создать более совершенные малогабаритные моноблочные датчики с холодными катодами для отечественных лазерных гироскопов с качеством мирового уровня и исключить из их состава вещества I класса опасности. Последнее не только резко уменьшает вредное воздействие указанных веществ на персонал и окружающую природную среду, но и снимает большие затраты по производству и переработке особо опасных веществ.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Ю.В. Введение в лазерную технику. Киев: Техшка, 1977.
  2. Patent № 386 310 USA. Method of fabricating a gas laser / Urs. Hochuli, Paul R. Haldemann. 1975.
  3. А.П. Малогабаритные холодные катоды / Информационный листок № 144−77. Калуга: ЦНТИ, 1977.
  4. Korzhavyi А.Р., Kristya V.I. On the calculation of cold cathodes lifetimes for helium-neon lasers // J. Appl. Phys. 1991. — V. 70, № 9. — P. 5117−5118.
  5. Korzhavyi A.P. Advanced metallic materials for Vacuum devices // Journal of Advanced Materials. 1994. — № 1(1). — P. 46−53.
  6. B.E. Нанесение пленок в вакууме. М.: Высшая школа, 1989.
  7. Г. Г., Коржавый А. П. Ионно-плазменное напыление алюминиевых и бериллиевых покрытий на внутренние поверхности полых цилиндрических катодов // Изв. РАН. Сер. Металлы. 1995. — № 4. — С. 167 171.
  8. А.С. SU № 421 308, HOIS 3/00. Газовый оптический квантовый генератор с холодным катодом / С. И. Файфер, С. М. Жданов, А. П. Коржавый и др. -1983.
  9. А.П. Механизмы образования и способы устранения дефектов в плакированных материалах / Дефекты и физические свойства многокомпонентных электронных материалов / Под ред. К. Г. Никифорова. -Калуга: Изд-во КГПУ им. К. Э. Циолковского, 1999.
  10. А.П., Яранцев Н. В. Технологические аспекты получения сандвич материалов для электронной техники // Прогрессивные технологии, конструкции и системы в приборо- и машиностроении: Тезисы докладов
  11. Всероссийской научно-технической конференции. Калуга, 2000. -С. 111−112.
  12. Г. Г., Лищук Н. В. Химические и электрохимические способы повышения долговечности холодных катодов // Физика и химия обработки материалов. 1998. — № 3. — С. 96−98.
  13. Financial Times, 1983, N29087.- Р.21.
  14. Зарубежное военное обозрение, 1983, N1. С. 57−63.
  15. Developing a laser gyro for quited weapons // Brit. Aerospace News. 1983. -N71.-P.4.
  16. Xigh accuracy ring laser qyro for long — term submarine navigation // Aviation Werk and Space Technol., 1983. — V. 11, N 7. — P. 109.
  17. Ring laser gyro // New Scientist. 1982. — V.96, N 1335. — P.650.
  18. В Cal goes Honeywell’s way // Flight Internat. 1983. — V. 123, N 3851. -P. 525.
  19. Ф. Лазерные гироскопы / Применение лазеров. Пер. с англ. / Под ред. В. Тычинского. М.: Мир, 1974. — С. 182−269.
  20. N. М., Setterlund R. Н., Shmidt G. Inertial Instruments: Where to Now // Proc. of the I-th St-Petersburg Internat. Conf. on Gyroscopic Technology and Navigation, May 25−26, 1994. St-Petersburg: SCRI «Electropribor», 1994.-P. 13−24.
  21. A.M., Соловьева Т. И. Состояние лазерной гироскопии за рубежом // Зарубежная радиоэлектроника. 1981. — № 8. — С. 77−92.
  22. Electronics News. 1984. — V. 30, N 1512.
  23. Aviation Week and Space Technology (США). 1980. — V. 113. № 22. -С. 144.
  24. Aviation Week and Space Technology. 1984. — V. 121, N 21. — P.91.
  25. Interavia.- 1984.-V. 39, N 12.- P.17.
  26. Патент США № 3.860.310, кл. 316−26, опубл. 14.01.1975.
  27. Патент США № 4 017 808, кл. HOIS, 3/22, опубл. 12.04.1977.
  28. Материалы V Всесоюзного симпозиума по ФЭЭ, ВЭЭ и ВИЭЭ. Рязань, 1983.
  29. В.Н., Коржавый А. П., Кочурихин Е. В. Нитриды переходных металлов перспективные материалы для долговечных пленочных катодов // Электронная техника. Сер. Материалы. — 1989. — Вып. 6 (243). -С. 70−71.
  30. Патент Великобритании № 2.091.480, кл. HOIJ, 1/02, опубл. 28.07.1982.
  31. А.П., Суховский В. Н., Лоренц Г. Ф. Исследование немонотонного распыления полого холодного катода // Электронная техника. Сер. Материалы. 1986. — Вып. 8. — С. 68- 71.
  32. Патент ФРГ № 3 038 191 AI, кл. HOIS, 3/03.
  33. Chance D.A., Brusic V., Crawford V.S., Macennes R.D. Cathodes for HeNe Lasers // IBM J. Res. Develop. 1979. — V. 23, N 2. — P. 119−127.
  34. Tgang W.T., Logan R.A., Hegems M. Highpower fundamental trans-versemode Strip buried heterestructure lasers with linear light — current characteristics // J. Appl. Phys., 1978. — V. 32, N 5. — P. 311−314.
  35. Gannon J.J., Nuese C.J. A chemical etchant for the selective removal of GaAs through Si02 masks // J. Electrochem. Soc., 1974. V. 121, N 9. -P. 1215−1219.
  36. А.П. Материалы с высокой устойчивостью к распылению на основе легких металлов для холодных источников электронов // Наукоемкие технологии. 2001. — Т. 2, № 40. — С.29−32.
  37. Е.О., Пролейко Э. П. Метод создания катодов для датчиков лазерных гироскопов // Наукоемкие технологии. 2002. — Т. 3, № 5. — С. 618.
  38. B.C., Гусев A.M., Салауров М. П. О зависимости работы выхода холодного катода от изменений микрорельефа его поверхности под воздействием газового разряда в различных режимах // Электронная техника. Сер. 4.- 1976.-Вып. 3.
  39. А.с. 509 165. Способ изготовления холодных катодов / B.C. Ананьин и др.- 1975.
  40. А.с. 654 018 СССР. Холодный катод / Е. Т. Кучеренко, Е. В. Зыкова // Б.И.- 1982. -№ 48.
  41. А.с. 1 565 284 СССР. Способ изготовления пленочного катода газового лазера / В. Н. Суховский, А. П. Коржавый.
  42. О.Н., Магдеев Ш. Н., Чижиков А. Е. Влияние электронной и ионной бомбардировок на экзоэмиссию пленок окиси магния // Электронная техника. Сер. 6. Материалы 1980. — Вып. 8. — С. 17−20.
  43. Оптимизация конструкции катодного узла малогабаритных He-Ne лазеров / О. Н. Крютченко, А. Ф. Маннанов, В. А. Степанов, М. В. Чиркин // Лазерная техника и оптоэлектроника. 1993. — Вып. 1−2 (68−69). — С. 8083.
  44. Механизмы проводимости оксидного покрытия холодных ктаодов газоразрядных приборов / О. Н. Крютченко, А. Ф. Маннанов, А. А. Носов В.А. Степанов, М. В. Чиркин // Поверхность. Физика, химия, механика. 1994. -№ 6.-С. 93−99.
  45. Механизм деградации поверхности холодного катода в гелий-неоновых лазерах / О. Н. Крютченко, А. Ф. Маннанов, А. А. Носов В.А. Степанов, М. В. Чиркин // Радиотехника и электроника. 1996. — Т. 11, № 8. -С. 990−994.
  46. А.П., Корчагина Е. Е., Прасицкий В. В. Малогабаритный холодный катод гелий-неонового лазера // Электронная техника. Сер. Лазерная техника и оптоэлектроника. 1986. — Вып. 4. — С. 4−5.
  47. А.С. Квантовые приборы. Л.: Энергия, 1972. — 176 с.
  48. Г. Г., Бычков Н. А., Кристя В. И. Технологическое оборудование и материалы для перспективных газовых лазеров // Наукоемкие технологии. 2001. — Т. 2, № 4. — С. 4−11.
  49. П.И. Техника лабораторных работ. М.: Химия, 1969. -621 с.
  50. Р.А. Окись бериллия. Свойства и применение. М.: Госатомиздат, 1962.-239 с.
  51. А.Я. Технология спецматериалов электронной техники. М., 1993.-368 с.
  52. Научные основы материаловедения / Б. Н. Арзамасов, А. И. Крашенинников, Ж. П. Пастухова, А. Г. Рахштадт. Учебник для вузов. — М.: Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 1994. — 366 с.
  53. Материалы для авиационного приборостроения и конструкций / Под ред. А. Ф. Белова. М.: Металлургия, 1982. — 400 с.
  54. Ю.М., Жигун И. Г., Поляков В. А. Пространственно-армированные материалы: Справочник. М.: Машиностроение, 1987. -294 с.
  55. В.А. Машинное конструирование электронных устройств. М.: Сов. радио, 1977.-384 с.
  56. A.M. Промышленные сплавы цветных металлов. Фазовый состав и структурные составляющие. М.: Металлургия, 1980. — 255 с.
  57. Палатник J1.C., Ландау Л. И. Фазовые равновесия в многокомпонентных системах. Харьков: Издательство Харьковского госуниверситета 1961. — 405 с.
  58. В.Я., Озерова М. И., Фиалков Ю. А. Основы физико-химического анализа. М.: Наука, 1976. — 503 с.
  59. В.Л. Электрический ток в газе. М.: Наука, 1971. — 544 с.
  60. Г. Н., Заричняк Ю. П. Теплопроводность смесей композиционных материалов. М.: Энергия, 1974. — 264 с.
  61. Л. Нанесение тонких пленок в вакууме. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1963.-608 с.
  62. А.И., Щедринский Г. В. Современные методы анализа поверхности металлов и сплавов. М.: Металлургия, 1989. — 161 с.
  63. .И. Разряд с полым катодом. М.: Энергия, 1967. — 184 с.
  64. В.В. Управление качеством и сертификация / Учебное пособие для руководителей, специалистов предприятий и предпринимателей. -М.: Изд-во МИРЭА, 2002. 212 с.
  65. С.В. Оптимизация решения задач экологического менеджмента // Менеджмент в России и за рубежом. 1998. — № 5. — С. 27−31.
  66. А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. М.: Радио и связь, 1988. — 256 с.
  67. И.Е., Козырь И. Я., Горбунов Ю. И. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986. -340 с.
  68. А.С., Щука А. А. Возможность преодоления барьера межсоединений в микроэлектронике // Зарубежная радиоэлектроника. 1986. -№ 10.-С. 48−53.
  69. И.Я. Качество и надежность интегральных микросхем. М.: Высшая школа, 1987. — 144 с.
  70. В.В., Васильев В. И., Гутман Т. Н. Проектирование технологических процессов изготовления РЭА. М.: Радио и связь, 1982. — 161 с.
  71. Э.В., Венбрин В. Д. Технологическая подготовка производства радиоэлектронной аппаратуры. М.: Радио и связь, 1989. — 128 с.
  72. Методика отработки конструкций на технологичность и оценка уровня технологичности изделий машиностроения и приборостроения. М.: Издательство стандартов, 1976. — 55 с.
  73. ГОСТ 27.002−89. Надежность в технике. Основные понятия. Термины и определения. М.: Издательство стандартов, 1989.
  74. Т.А. Прикладная теория надежности. М.: Высшая школа, 1985.-310 с.
  75. Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности радиоэлектронных средств. М.: Радио и связь, 1991. — 430 с.
  76. РДВ 319.01.09. Руководство по оценке правильности применения элек-трорадиоизделий в аппаратуре военного назначения. М.: Издательство Росстандарт. — 39 с.
  77. В.П., Дубицкий А. Г. Выявление причин отказов радиоэлектронной аппаратуры. М.: Радио и связь, 1983. — 220 с.
  78. Общая технология / И. Я. Козырь, Ю. Горбунов, Ю. С. Чернозубов, А. С. Пономарев. М.: Высшая школа, 1989. — 223 с.
  79. Технология материалов электронной техники. Теория процессов полупроводниковой технологии / В. В. Крапухин, А. И. Соколов, Г. Д. Кузнецов. 2-е издание. — М.: «МИСиС», 1995. — 493 с.
  80. А.П. Роль поверхностных факторов при ионно-электронной бомбардировке в получении оптимальных характеристик вторично-эмиссионных катодов // Электронная техника. Сер. Материалы. 1990. -Вып. 8. — С. 6.
  81. Патент США № 3 614 642 от 19 октября 1971 г. / V. Hochuli and P.R. Halde-mann.
  82. J.P. Goldsborough. Laser Handbook, 1972. P. 597.
  83. Michael E. Fein and Charles W. Salisburg Integrated construction of low -cost gas lasers // Applied Optics. 1977. — V. 16. N 8. — P. 2308−2314.
  84. A. c. № 660 787 СССР. Отделочно-расточной станок / Я. И. Менделевский, В .Я. Элитис // Б.И. 1979. — № 17.
  85. А.П., Файфер С. И. Новые методы получения полых цилиндрических катодов // Электронная промышленность. 1980. — Вып. 3 (87). -С. 15−17.
  86. К вопросу электроадгезионного соединения некоторых материалов электронной техники / А. П. Коржавый, В. А. Приходченко, В. Н. Таиров, Г. М. Дзюбенко, В. А. Варенцов // Электронная техника. Сер. Материалы. -1983. Вып. 10 (183). — С. 57−59.
  87. А.П., Варенцов В. А., Бритун В. Ф. Исследование границы электроадгезионных соединений некоторых материалов электронной техники. // Электронная техника. Сер. Материалы. 1983. — Вып. 12 (185). -С. 36−39.
  88. А.П., Прасицкий В. В., Корчагина Е. Е. Получение композиционных материалов и изделий из компонентов с существенно различными КЛТР // Электронная техника. Сер. Материалы. 1986. — Вып. 7 (206). -С. 66−67.
  89. А.П., Прасицкий В. В., Петина Г. С. Особенности создания выносных холодных катодов квантовых приборов с He-Ne напылением // Электронная техника. Сер. Материалы. 1986. — Вып. 8 (219). — С. 1116.
  90. Wallis G. Field assisted glass sealing // Electrocomponent Science and Technology. 1975. — Vol. 2, N 1. — P. 45−53.
  91. Smith B. Laser Brewater Window sealing techniques // IEEE Quantum Electronics. 1973. — Vol. 9, N 5. — P. 456.
  92. А. с. № 782 581 СССР. Катодный узел / В. Н. Казаков, А. П. Коржавый и др.// Б.И. 1980. — № 43.
  93. А. с. № 919 530 СССР. Способ изготовления газоразрядного прибора с холодным катодом / В. Н. Казаков, А. П. Коржавый и др. // Б.И. 1982. -№ 13.
  94. Н.А., Коржавый А. П., Лунев А. Е. Долговечные источники электронов // Труды МГТУ им. Н. Э. Баумана. 1997. — № 569. — С. 77−80.
  95. Многослойные и многокомпонентные материалы для электронной техники / И. К. Белова, Н. А. Бычков, Н. П. Есаулов, К. Г. Никофоров // Межфазная релаксация в полиматериалах: Материалы Международной научно-технической конференции. М., 2001. — С. 247−249.
  96. Н.А., Есаулов Н. П. Физические параметры для контроля качества многокомпонентных материалов // Физика электронных материалов: Материалы Международной конференции. Калуга, 2002. — С. 390−391.
  97. Управляемый технологический процесс изготовления источников электронов / Л. Н. Вагин, К. А. Амеличева, Н. А. Бычков и др. // Наукоемкие технологии. 2003. — Т.4, № 2. — С. 38−46.
  98. Г. Г., Бычков Н. А., Коржавый А. П. Поведение холодных источников электронов в условиях аномального тлеющего разряда // Радиационная физика твердого тела // Тр. 9-го межнационального совещания. М., 1999. — С. 705−709.
  99. Автоматизированное рабочее место для обработки статистических данных / В. В. Шураков, Д. М. Дайнбергов, С. В. Мизрохи, С. В. Ясенковский. -М.: Финансы и статистика, 1990. 190 с.
  100. Автоматизированные системы управления / Применение вычислительных и автоматизированных систем управления на предприятиях и в отраслях промышленности. -М.: Экономика, 1972. 399 с.
  101. И.А. Моделирование вычислительных систем. М.: Машиностроение. Ленинградское отделение, 1988. — 223 с.
  102. Ю.В., Лакота Н. А. Гибкая автоматизация производства РЭА с применением микропроцессов и роботов: Учебное пособие для вузов. -М.: Радио и связь, 1987. 464 с.
  103. Информационные системы для руководителей / Ф. И. Перегудов, В.П. Та-расенко, Ю. П. Ехлаков и др. / Под ред. Ф. И. Перегудова. М.: Финансы и статистика, 1989. — 176 с.
  104. Л.В., Малашинин И. И. Диалоговая система в управлении научными исследованиями и разработками. М.: Наука. Глав. ред. физ.-мат. лит., 1988.-216 с.
  105. А.Ф. Персональные ЭВМ в организационном управлении. М.: Наука. Глав. ред. физ.-мат. лит., 1988. — 208 с.
  106. Автоматизированная система управления гибкими технологиями / В. И. Скурихин, А. А. Павлов, А. П. Путилов, С. Н. Гриша. Киев: Техника, 1987, — 164 с.
Заполнить форму текущей работой