Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Распад аморфного состояния пленок Co-P, Co-Ni-P, Fe-Si в сеточной модели и стохастическая магнитная структура

Диссертация: Распад аморфного состояния пленок Co-P, Co-Ni-P, Fe-Si в сеточной модели и стохастическая магнитная структура
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Исследование тонкой магнитной структуры мелкодисперсных и стохастической магнитной структуры аморфных сред проведено в пятой главе. Отслежена динамика пространственного спектра ряби намагниченности при воздействии внешних полей в модели случайных процессов, случайных потоков и случайных полей. Проведено электронно-микроскопическое изучение стохастической магнитной структуры. Выделены планарная… Читать ещё >

Распад аморфного состояния пленок Co-P, Co-Ni-P, Fe-Si в сеточной модели и стохастическая магнитная структура (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА I. СТРОЕНИЕ АМОРФНЫХ ПЛАНАРНЫХ СРЕД. МАГНЕТИКИ СО СЛУЧАЙНЫМИ ПАРАМЕТРАМИ
    • 1. 1. Строение аморфных сплавов в дифракционных методах
    • 1. 2. Статистические характеристики пространственных флуктуирующих магнитных параметров в аморфном ферромагнетике
    • 1. 3. Стохастическая магнитная структура. Г
    • 1. 4. Супероеточная модель строения аморфных пленарных сред
  • Постановка задачи
  • ГЛАВА II. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА. ПРОСВЕЧИВАИЦАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ- РАДИООПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА АМОРФНЫХ ПЛАНАРНЫХ СРЕД
    • 2. 1. Электронная микроскопия аморфных пленарных оред
    • 2. 2. Электронная и оптическая дифракция. Подобие и различие
    • 2. 3. Оптический анализатор пространственных спектров
    • 2. 4. Метод когерентной амплитудной фильтрации в решении задач физики твердого тела
    • 2. 5. Лазерно-дифрактометрическая оценка параметров корреляционного поля флуктуации анизотропии
    • 2. 6. Общая схема и технические характеристики комплексного тракта обработки сеточных структур
  • ГЛАВА III. ИДЕНТИФИКАЦИЯ СЕТОЧНЫХ СТРУКТУР В АМОРФНОМ СПЛАВЕ ТИПА ПМ-М
    • 3. 1. Кривые радиального распределения пленок С. а: Р
    • 3. 2. Метод МУРё в изучении аморфных ПС
    • 3. 3. Визуализация Subnetwork в пленках типа ПМ-М
    • 3. 4. Планерная стохастическая модуляционная модель аморфной среды
  • Выводы
  • ГЛАВА 1. У. ИСОВДОВАНИЕ АНИЗОТРОПИИ СЕТОЧНЫХ СТРУКТУР АМОРФНЫХ ПЛЕНОК ТИПА ПМ-М ПРИ ИЗОТЕРМИЧЕСКОМ ОТЖИГЕ
    • 4. 1. Статистика сеток с фазовым контрастом в пленках
  • Со-Р, Co~/V?-P
    • 4. 2. Поведение «бесцветных» сеток аморфных пленок ПМ-М при изотермическом отжиге
    • 4. 3. Принцип подобного вложения подсеток. Инверсная симметрия
    • 4. 4. Воздействие изотермического ступенчатого отжига на характер вложения подсеток"инверсную симметрию в пленках Со ~Р .III
  • Выводы
  • ГЛАВА V. ИССЛЕДОВАНИЕ 1ШАНАРН0Й И ВРАЩАТЕЛЬНОЙ ТМС В
  • МОДЕЛИ СЛУЧАЙНЫХ ПОЛЕЙ. CMC В АМОРФНЫХ ПЛЕНКАХ Со-Ni- Р, Fe-St .от
    • 5. 1. Динамика пространственного спектра ряби намагниченности при воздействии внешних полей
    • 5. 1. I.Цифровой спектральный анализ реализаций М-структу
    • 5. Л.2. Характеристика спектра ряби намагниченности в модели случайных потоков
      • 5. 2. Оценка пленарной анизотропии тонкой магнитной структуры на когерентном спектроанализаторе
      • 5. 3. Стохастическая магнитная структура и суперсетка
      • 5. 4. Корреляционные связи между стохастической магнитной
  • — 4 структурой аморфных пленок Со-А/с-Р, Ге-Sc и особенности сеточного строения
  • Выводы

До недавнего времени в большинстве работ строение аморфных материалов рассматривалось с позиций ближнего атомного порядка. Считалось, что аморфизация приводит к крайней степени измельчения о структурных единиц, доходящих до кластерного уровня 6А [3].

Однако, уже в первых работах по субструктурному исследованию мелкокристаллических металлов, аморфных полупроводников была установлена и проанализирована колонковая, столбчатая структура однокомпонентных тонких пленок бе, , с точки зрения физических факторов, ее обуславливающих. Систематическое применение методик МУР X,/?, е и электронной микроскопии на аморфных сплавах типа ПМ-М и РЗ-ПМ сформировало вполне обусловленное утверждение о существовании крупномасштабных неоднородностей структурных, концентрационных, магнитных в аморфных пленарных средах, ответственных за перпендикулярную магнитную анизотропию.

В 1976;80 гг. был выявлен суперсеточный дефект в аморфных магнитных сплавах, изучено поведение размеров ячейки сетки от условия препарирования и предложена его интерпретация как флуктуации плотности материала. Интенсивное развитие в последние годы получили работы, описывающие аморфные магнетики как стохастические магнитные системы. В рамках феноменологической теории описания аморфных структур со случайными параметрами, описываемой в работах [7−14], уверенно идентифицированы радиусы обменного взаимодействия (— ЗОА), локальной магнитной анизотропии /Ц о.

100−150А,), которые почти на 1−2 порядка превышают аналогичные структурные характеристики пленок в концепции ближнего порядка. Задачей настоящей диссертационной работы являлась визуализация сеточного строения аморфных ферромагнитных сплавов типа ПМ-М, параметризация найденной суперсеточной структуры (один из структурных компонентов которой, как оказалось, коррелирует с параметрами /}) и наблвдение стохастической магнитной структуры. Поставленную задачу можно решить использованием электронно-микроскопической и лазерно-дифрактометрической методик, позволяющих определить и описать эти стохастические субструктуры. Следует подчеркнуть значительную сложность электронно-микроскопического наблюдения строения аморфных сред-, стохастической магнитной структурынеобходимость предварительной когерентно-оптической обработки серии околофокусных изображений аморфных структур, проведение количественной параметризации аморфных структур в моделях случайных процессов, полей.

Материал диссертационной работы распределен следующим образом:

1. Первая глава посвящена обзору литературы. Излагаются данные структурного исследования ближнего порядка аморфных сплавов. Рассматриваются основные характеристики ферромагнетиков, их поведение при аморфизации вещества. Приводятся сведения о стохастической магнитной структуре в свете феноменологического описания аморфного ферромагнетика. Подробно рассматриваются имехщиеоя данные по сеточному отроению аморфных полупроводников и ферромагнетиков. В конце главы приводится обоснованная постановка задачи.

2. Во второй главе дано описание метода электронно-микроскопического набледения сеточного строения аморфных материалов с позиций частотно-контрастной характеристики электронного микроскопа, приводится описание когерентно-оптического анализатора, пространственных спектров, методика отбора и обработки электронно-микроскопических изображений. Установлено подобие оптических картин Фраунгофера, электронограмм и картин МУРё. Обсуждаетоя методика спектрального анализа и когерентной оптической фильтрации для решения поставленных задач, приведены технические характеристики комплексного тракта обработки сеточных структур.

3. Б третьей главе проводится исследование строения аморфных Со-Р сплавов стандартными дифракционными методами (электронография, МУРё с фильтром для отсева фона неупругого рассеяния), обсуждаются результаты расчета кривых радиального распределения, визуализация сеточных структур аморфных сплавов типа ПМ-М в диао о пазоне размеров 20−50А и Ю0−1200А. Разработана планарная стохастическая модуляционная модель аморфной пленарной среды, проведено сравнение с известными моделями в литературе, найдены большие (~50А) образования на построенной модели.

4. Четвертая глава посвящена изучению сеточного строения аморфных Со-Р сплавов. Проведена идентификация 6−8 мод зиЬпеЫог/-, количественно описано сеточноб упорядочение и пространственная анизотропия компонент сетки, найдено условие вложения подсеток. Изучено поведение «бесцветных» (без фазового контраста) сеток аморфных пленок ПМ-М при изотермическом отжиге. Оценено влияние изотермического отжига на корреляционные свойства сеточных структур.

5. Исследование тонкой магнитной структуры мелкодисперсных и стохастической магнитной структуры аморфных сред проведено в пятой главе. Отслежена динамика пространственного спектра ряби намагниченности при воздействии внешних полей в модели случайных процессов, случайных потоков и случайных полей. Проведено электронно-микроскопическое изучение стохастической магнитной структуры. Выделены планарная и «вращательная» области, количественно оценена степень анизотропии стохастической магнитной структуры, получены оценки Л^ и Л^ из сеточного представления строения аморфных ферромагнитных сплавов Со-1VI- /'(типа ПМ-М). Проведен поиск корреляционных связей между стохастической магнитной структурой аморфных пленок Со-Ш-Р, Те-^1 и особенностями сеточного строения.

Диссертацию завершает Заключение, в котором излагаются основные результаты, полученные в работе, в конце имеется Приложение.

Научная новизна:

I. Разработан метод прямого экспериментального определения областей пространственного упорядочения в диапазоне размеров о.

100−120OA по электронно-микроскопическим изображениям аморфных сплавов ПМ-М. Метод является принципиально новым, аналогов в СССР и за рубежом не имеет. 2. Этим методом впервые проведено экспериментальное исследование сеточного строения структуры аморфных Со-Р, Co-NL-P сплавов, изменение этой структуры цри изотермическом отжиге. Найдены характерные пространственные размеры subnetwork, один из которых, как оказалось, коррелирует с величиной радиуса локальной магнитной анизотропии — ранее определенной косвенными методами. Проведен спектральный анализ пространственной супер-оеточной структуры аморфных сплавов типа ПМ-М.

3. Впервые получены электронно-микроскопические изображения стохастической магнитной структуры Со-Л/1-Р сшшва. Проведен спектральный анализ и измерены компоненты ряби намагниченности, получены оценки параметров стохастической магнитной структуры по сеточному отроению аморфного оплава.

Отмеченные результаты получены впервые и выносятся на защиту.

Настоящая работа выполнялась в рамках: а. координационного плана исследований по теме «Аморфный магнетизм» пп. Б1,ВУсекция «Аморфные магнетики» Научного Совета АН СССР по проблеме «Физика магнитных явлений» — б. НИР ВТ — совместная программа АН СССР и MB и ССО СССР 1981;85 гг., n.I.I2.3.7 (JI гос. регистрации 01.82.8 016 091) .

Основание: Постановление о совместных НИР «ВТ» МВ ССО СССР и АН СССР за № 1473/46 от 29.12.1980/31.12Л980- в. х/д в обеспечение НИР «Самшит-В» с 1983 г., и/я Г-4020 (Л гос. регистрации 01.83.109 000) — г. х/д в обеспечение НИР «Эра-81» МЭИ СССР, 1981;1983 гг., п/я Х-5476 (№ гос. регистрации 81.56 021).

Приношу свою глубокую признательность сотрудникам, семинарам, организациям «взявшим на себя труд ознакомиться о соответствующими разделами, результатами диссертации и высказать ценные, полезные замечания и советы:

— ИМЕТ АН СССР им. А. А. Байкова — члену корреспонденту АН СССР И. И. Новикову и сотрудникам Лаборатории электронной микроскопии снс к.х.н. Р. М. Сафроновой, А. Н. Тимофееву. -ИФ СО АН СССР им. Л.В.Киренского-проф., д.ф.м.н. В.А.Игнатчен-ко, снс к.ф.м.н. Р. С. Исхакоду и другим сотрудникам теоретического отдела и лаборатории магнитных явлений. -МИФИ МВ ССО СССР-проф. «д.ф.м.н. Ю. А. Быковскому и сотрудникам кафедры физики твердого тела.

— МИСиС МВ ССО СССР-проф., д.т.н. Ю. А. Скакову, снс к.ф.м.н. Н. В. Еднерал и сотрудникам кафедры рентгенографии и физики металлов. -Институт Металлофизики АН УССР — члену-корреспонденту АН УССР А. Г. Леснику, д.ф.м.н. А. И. Мицеку.

— Институт физики металлов УНЦ АН СССР-проф., д.ф.м.н.А. А. Глазеру. -Физ.фак. МГУ им. М. В. Ломоносова — д.ф.м.н. А. Г. Шишкову, доц., к.ф.м.н. Л. И. Антонову.

— Семинару проф.В. В. Ветер по физике магнитных явлений цри каф. ФТТ ДВГУ, а также семинару доц., к.ф.м.н. Л.А.К&даной по физике неупорядоченных сред каф. АНИ ДВГУ.

— Руководителям: д.х.н. Н. Я. Коварскому (Институт химии ДВВД АН СССР) и доц., к.ф.м.н. В.В.К (цину (каф. АНИ ДВГУ).

Выводы.

Проведенный сравнительный анализ электронно-мшфоскопичес-ких изображений тонкой магнитной структуры и стохастической магнитной структуры позволил сделать следующие выводы:

I. Установлено, что тонкая магнитная структура, обладающая двукомпонентной рябью намагниченности (Л^ — 0,95−2,2 мкм и.

Л&trade— 0,2−0,4 мкм), по разному откликаются на внешнее воздейст.

Оа вие магнитным полем. а. Процесс воздействия внешнего магнитного поля для инверсной пленки ГП4-П6] проявляется через механизм вращения с последующим смещением доменной границы. Получены оценки поля для старта границы и величины дисперсии ряби намагниченности. б. Коротковолновая компонента ряби характеризуется малой вариабельностью, что означает достаточно жесткую корреляцию с кристаллической структурой. в. В целом рябь намагниченности при воздействии внешнего магнитного поля становится более коротковолновойиспытывает характерное «выглаживание», оставаясь при этом многомодальной и обладает «белым» спектром.

2. В рамках лоренцевой электронной микроскопии аморфных ПС проведено систематическое изучение CMC, теория которой развита в работах В. А. Игнатченко и др. [7−143. Подобное исследование ТМС аморфных пленок Co-A/i-P, Со-Р, Pe-SL является одним из первых в мире ?113]. Используя разработанную нами методику радиооптического анализа лоренцевых микрофотографий, получены количественные оценки спектров ряби различных поддиапазонов. Найдена интерпретация CMC в модели subneiwork а. ДКФ лорецевых микрофотографий характеризуются наличием двух типов рефлексов. Один из них относится к обычной ряби намагниченности, магнитный контраст которой распределен по волновому. Другойсущественно модуляционного типа, главные моды приходятся на 0,13−0,17 мкм, составляет специфику CMC. б. По лоренцевым микрофотографиям проведена оценка магнитных параметров вышеупомянутых аморфных пленок: =1,28 мкмугол дисперсии В ъ 60−70°- К=2'ТО4 эрг/см3- d =2000Адля Co-Ni-P пленок, полученных при указанной ранее технологии препарирования. Магнитный контраст «круговых» областей создается конусообразной случайной вариацией /4?, которая, вследствии сильной развитости планарной составляющей, выглядит как области «враща-тельно» анизотропии. в. В развиваемой нами сеточной модели анизотропных ПС найдено, что Л0 определяется самой длинноволновой сеткой с размером, близким к минимальной границе области магнитной однородности. Вся иерархия структуры и dK& ж cl^m по разному обуславливают ALR. Предложена трактовка через формфак-торы сеток Ж-Ж^д • ~ 0,05. г. Предложена формула.

Ки { -Кmax • exp hX.

— 151 -ЗАКЛЮЧЕНИЕ .

В работе проведено систематическое исследование процесса распада аморфного состояния пленок Со-Р, Со-№-Р, Ре-Ш в методологии суперсеточного подхода, который получил интенсивное развитие в последние несколько лет. Ценность настоящей диссертации состоит еще и в том, что удалось уверенно идентифицировать в ло-* ренцевой микроскопии стохастическую магнитную структуру на пленках типа Ш1-М, а также выяснить ее взаимоотношение с сеточной структурой релаксированннх пленок.

В диссертации комплексно использованы шесть методов изучения структуры аморфных пленок, к которым относятся: просвечивающая и лоренцевая электронная микроскопияметодика кривых радиального распределения от электронограмм, малоугловое рассеяние электроновлазерная дифрактометрия и цифровое моделирование топологических покрытий. Часть методов была реализована с определенными методическими усовершенствованиями. Так, например, методики КРР и МУРё применялись к аморфным пленкам ПМ-М с фильтром для отсева неупруго рассеянных электронов. Электронная микроскопия аморфных ПС потребовала обработки и коррекции режима дефокусировки, выбора оптимальных условий наблюдения фазового контраста. Лазерная дифрактометрия и модуляционная модель строения тонких аморфных пленок являются авторскими.

Полностью оригинальными также являются предложенный математический формализм количественной параметризации динамики анизотропных сеточных и магнитных структур пленок типа ПМ-М.

Все это позволило получить следующие принципиальные физические выводы по процессам распада аморфного состояния пленок в режимах ступенчатого изотермического отжига, имеющие и технологическую ценность.

I. Для химически осажденных пленок Со-Р в диапазоне 9−13 ат. Р в методике КРР от большеугловых электронограмм с фильтром для отсева фона неупругого рассеяния электронов прослежена динамика распада аморфного состояния. Доказано, что в окрестности 10 ат.$ Р наблюдается фазовый переход в твердый раствор поликристаллических модификаций. Отношение ГУ =1,67- 1,99- 2,48 для I =1, л.

2,3,4 при Г/ =2,58А с числом атомов 13, общее число атомов в кластере 5А) порядка 40. МУР на аморфных пленках Со-Р, Со-№-Р показало, что сеточный дефект представляет собой мик-ропоровую сеть с размытыми градиентами, формой существования которой служит избыток свободного объема. Слаборелаксированные суперсетки являются флуктуациями плотности материала, а не концентрационными, химическими неоднородностями.

2. Для пленок Со-Р, Т-е-?с в когерентнооптической методике скорректирована частотно-контрастная характеристика электронного микроскопа и последующего тракта обработки, что позволило идентифицировать стохастическую квазиволновую структуру в диапазоне 20−50А, которая характеризуется изотропными свойствами. Глубоко развитые процессы релаксации, старения приведут к появлению в аморфных пленках столбчатой, колонковой структуры. СТВС представляет собой волновое поле фазового контраста на перепадах плотности материала, превосходящих на порядок размеры элементарного кластера.

Развита цифровая модель построения в среднем плотного поко о рытия квадрата 250×250 А с 5*10 атомов в поле мягкого потенциала с шумящими параметрами в ограниченной подобласти. Критерий аморфности базировался на подобии электронографии МУРё и лазерной дифрактометрии. Он выражался достаточно размытым Фурье-спектром модуляционного типа.

Проведенная цифровая гильбертова фильтрация показала, что при справедливости обычного ближнего упорядочения существуют квазипериодические чередующиеся области повышенной-пониженной плото ности с размером 40−50А. СТВС не противоречит концепции ближнего порядка.

3. а. Изучена планарная анизотропия суперсеточной структуры Со-Р аморфных пленок в диапазоне 100−120А. Установлено, что под-сетки характеризуются в среднем изотропным распределением главных волновых векторов, при этом имеются сетки с размером ячеек 260о.

310 и 830-Ю00А, отличающиеся значительной парциальной анизотропией. В процессе распада аморфного состояния подсетки диапазона о.

260-ЗЮА обладают большой устойчивостью, а их размер хорошо согласуется с оценками корреляционного радиуса флуктуации оси локальо ной анизотропии =130−150А). Консервативность анизотропных подсеток подобных размеров указывает на то обстоятельство, что процесс аморфного расслоения состояния не приводит к значительному увеличению размеров подсеток, их ячеек. Иерархия сеток перестает быть таковой, превращаясь в твердом поликристаллическом растворе в близкие по размерам ячеек сетки кристаллы. б. В результате распада аморфного состояния происходит полная раскорреляция главных осей анизотропии подсеток. Аморфное состояние характеризуется сильной угловой корреляцией подсеток, что доставляет более высокую степень упорядоченности в сравнении поликристаллическими пленками. в. Установлено, что наложение ступенчатого изотермического отжига на пленку Со-Р, Со-/?/?-Р приводит к следующему механизму структурной релаксации: размеры ячеек коротковолнового диапазона уменьшаются, а длинноволнового увеличиваются (коалесценция сеток,). Найден степенной закон вложения подсеток. Суперсетки могут быть получены в результате плотной упаковки СТВС.

4. Отработана методика спектрального анализа ряби намагниченности цифровым и лазерно-дифрактометрическим методами при наложении магнитных полей.

Длинноволновая (Л^ 1−2 мт) и коротковолновая ТМС 0,2−0,4 mm) по разному откликаются на внешнее магнитное поле. Длинноволновая компонента подавляется смещаясь в высокочастотную область пространственного спектра, однако, рябь при этом остается многомодальной, с «белым» спектром. Коротковолновая рябь жестко коррелировала со отруктурными неоднородностями такого же диапазона.

5. Лоренцевой микроскопией и лазерно-дифрактометрическими методами исследована CMC аморфных пленок Со-/)/с-Р, Со-Р, Te-Si. ДКФ CMC указывает, что ТМС в ПМ-М характеризуется не только известным аддитивным рефлексом с угловой вариацией «струй» ряби равной дисперсии волновых векторов подсеток, но имеются на них «точечные» области с размерами 0,13−0,17 мкм. Последний размер близок к удвоенной ячейке сетки сильно анизотропной диапазона о.

830-I000A. Магнитный контраст этих областей происходит от флуктуации сеточной анизотропии, которая «размывает» в конце ортогональный вектор намагниченности, порожденный столбчатой структурой. В случае преобладания сеточной анизотропии эти круговые области выглядят как области вращательной анизотропии.

Сравнительные оценки CMC и ее параметров подсеточной модели: s -*C Kusei? 2 где р^ (cos ч*) — средневзвешенный фактор порядка сеточной иерархии, показали адекватность магнитной и сеточной анизотропии.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Ferrier R. P. Small llngle Electron Diffraction 1. the Electron Microscope/Idva nee Opt. and electron Microscopy, /969, v. 3, p.p. 155-Zil,
  2. Т. Изучение структуры с помощью рентгеновской дифракции с дисперсией по энергиям. В кн.:Математические стекла.-М.: Мир, 1983,376с.
  3. К., Кобе С. Аморфные ферро- и ферромагнетики.-М.: Мир, 1982,193с.
  4. А.Г., Верховская Т. А. Малоугловые исследования микроструктуры пленок на электронографе ЭМР-100.-Тезисы докладов X Всесоюзной конференции по электронной микроскопии. Москва, 1976, т.1,с340−341.
  5. .Т., Палатник Л. С., Деревянченко A.C., Горбенко Н. И. Применение метода малоуглового рассеяния электронов для изучения структуры кондесированного углерода.-Кристаллография, 1974, т.19, в. I, c. I9I-I92.
  6. P.C. Спектр спиновых волн в стохастической модели аморфного ферромагнетика.-ФТТ, 1977, т.19,с.3−7.
  7. В.А., Исхоков P.C. Спиновые волны в случайно-не однородной анизотропной среде.-ЖЭТФ, 1977, т.72,№ 3,с.1005−1017.
  8. Игнатченко В.А."Исхаков P.C."Попов Г. В. Закон приближения намагниченности к насыщению в аморфных ферромагнетиках.-Красно-ярск:Препринт ИФС0-Г70Ф, Институт физики СО АН СССР, 1981,35с.
  9. P.C., Хлебопрос Р. Г. Структурные превращения в аморфных ферромагнитных сплавах переходной металл металлоид. -Красноярск:Препринт ИФС0−133Ф, Институт физики СО АН СССР, 1980,59с.
  10. Egarni T. Structure and magnetismojamorphous alloys. -Jfff Trans, on Magn/98/, Mag. H не, p. гвоо-гт,
  11. Еда mi T. Magnetism and structure of amorphous alloys. Pros• of ihe I International conference onphysics of magnetic ma terials. Jaszowiec, /980, v.{, p- 68- 7S.
  12. Александров К.С."Игнатченко В. А. Аморфные магнетики.-Вестник Академии Наук СССР, 1983, в.7,с.56.
  13. И.И., Манаков H.A. Некоторые проблемы теории аморфного магнетизма.-Сб.Физика магнитных пленок, Иркутск, 1979, с. 118−143.
  14. Г. А., Исхаков P.C., Саблина К. А. Аморфные магнетики.-Сб. Резонансные и магнитные свойства магнитодиэлектриков, Красноярск, 1978, с.3−63.
  15. Handerson R.&., de&raaf Д-М. Semi-classical theory of spin wave exications in amorphous ferromaynet. -Amorphous magnetism. Ней/-York-London: Plenum Press, /9/в, p. 33/.
  16. В.А. Магнитная структура тонких магнитных пленок и ФМР.-ЖЭТФ, 1968, т.54,в.I, с. 303.
  17. Fuller H.W., Hale М.Е. Determination of mayпе/га-lion distribution in this film s using electron microscopy. -7. fippi Phgs., i960, I/. 31, p. Z38.
  18. Тимакова Г. П. .Юдина Л. А., Кленин С. А., К}цин B.B., Ветер B.B. Фурье-оптика в физике тонких ферромагнитных пленок.-ФММ, 1977, т.44, вып.6,c.II93-I202.
  19. Hoffman/? H., Quantitative calculation of the magnetic ripple of uniaxial thin permalloy films. -7- h/pp/. PhyS- /964, V- 3S} p. /790.
  20. Эдельман И.С. .Чернышева Л. И. Статистические характеристики тонкой магнитной структуры ферромагнитных пленок.-ФММ, 1969, т.28,с.440.
  21. Theorie des ripple contrasts Inder Loren? z micro -skopie. — У. /Ing eh/. Phys., /970, во, pp.
  22. В. А. Дегтярев Г. В. Резонансные смещения и уширение линии ФМР, обусловленные тонкой магнитной структурой.1. ЖЭТФ, 1971, т.60,в.2,с.724.
  23. Husumu Keitoku and Kazue Wish ¿-око. &-ю1/? structure and Magnetic ffnl sot ropy of Те TLlm Evaporated об -timely from Two Souress. Japanese Journal of Applied PfrljSLCS, /98/, К 20, N 1, July, p¦ /2У9.
  24. Chen C. M Direct observations columnar structure in glassy freSea films by electron microscopy. -У. /Jon-Cryst. Solids, /98/, i/. /vZ-з, p. 39/.
  25. Nachodkin ty. ff-., Gnd Sh alder van A.J. Effect of vapor incidence angles on profit and properties of condensed films. Thin solid Tilms, /972, v. /о, p.p. /09-/22.
  26. Chi C., Caryl 11 S. Perpendicular Anlsotropy of J/morphous1 Bleclroc/eposited Cobalt Phosphours
  27. ЛHoy Tilms- HIP Conf. Proc. vol. ?9, Amorphous and Disordered Magnetism П, Section dOS. Ha rits, Chairman, МММ-75, /975, I/. V, p.p. /97-/48.
  28. Л. С. Лукашенко Л.И., Шипкова И. Г. Измерение магнитных свойств и структуры аморфных пленок Со-Р в процессе отжига. -Сб. Физика магнитных пленок, Иркутск, 1980, с. 60.
  29. Wac/h /?run S. Therm о I properties of amor/?/?ous materials at low temperatures. «У. P/iys- and C/?em. So-Lids», /98/, v.*/Z,/v3, p.p. /S5-/9/.
  30. Diet I G. and Hlinseler A. Magnetic domains? r? amorphous Co-P at toys. Physlca, /977, M-ffS, p.p. /537−133 Я.
  31. Hoffmann Н-, О и/en Schrdpf Г. Electron microscopy of eyaporated and sputtered Gel-Co a/?d tt0-Co films.- Phys.stat. sot. fa).} /979, ?/. $ 2, pp. t6t- t79.
  32. Дж. Физика дифракции.-M.:Мир, 1979, с. 431.
  33. М., Вольф Э. Основы оптики.-М.:Наука, 1973, с. 719.
  34. Белавцева Е.М. .Беляев О. Ф. Малоугловая электронная дифракция на электронном микроскопе УЭМВ-ЮО.-Физические методы исследования., 1968, т. ХХХ1У, ШI.
  35. Г. Методика электронной микроскопии.-М. :Мир, 1972, с. 472.
  36. Строук У., Халиуа М., Тон Ф., Виллаш Д. Г. Улучшение качества и восстановление трехмерных изображений голографическими методами .-ТИИЭР, 1977, т.65, ЖЕ, с.49−75.
  37. У. Введение в Фурье-оптику.-М.:Мир, 1970, с. 364.
  38. Е.В., Анаскин И. Ф., Стоянов П. А. Экспериментальный анализ методов коррекции электронно-микроскопических изображений.-Изв.АН СССР, 1977, т.41,№ 7,с.1447−145I.
  39. С.А., Дьяков Ю. Е., Чиркин A.C. Введение в статистическую радиофизику и оптику.-М.:Наука, 1981,640с.
  40. И.Ф., Агеев Е. В., Стоянов П. А., Мосев В. В. Коррекция электронно-микроскопических изображений с помощью голографи-ческих фильтров.-ПТЭ, 1976,№ 1,с.188−190.
  41. Е.В., Анаскин И. Ф., Стоянов П. А. Дифрактометр для анализа и коррекции электронно-микроскопических изображений.-ПТЭ, 1977, Ж, с.236−239.
  42. Fuji worn Sho/o, koikedo Tosioki, Chtkammi Sos hin, Perpendicular Nnisotropy Observed in Nickel and Nickel-Iron Magnetic Thin Films. -I. Phys. Soc. Уарап., 19?4, ZP, p.p. W-M9.
  43. Muhl //., kleilsch-Naturwissenschaften, t%0, W, pM
  44. Mahl H.7 Weitsch hf. KLeinwinkdbeuguny mit Fleclronen-strahle/?. Haturfarshuny, l9co, 15q, p.p. /т-тя fa).
  45. Wade R.H., SU сох У. SmaLl /Ingle Flectron Scattering from vacuum Соиr? den sed Metallic Films. У Phys. Statesol., 196?, y. 19, /vG5, p.p. S3- 76.
  46. WQde R.H., SI сох У Columnar structure ш Uu? vacuum -condensed Pj films. 1966, v. J, n /, 7, p.p. 7-/0.
  47. Л.И. Структура твердых аморфных и жидких веществ. -М., Наука, 1983,150с.
  48. Taigel fry., de Vries W.H., Lonsen Н.УЕ./Tegie AI. and Vinci e У- Q vas i crystalline modelling of amorphous alloys. Conf.met. С las., &u du pest, proc/9М, vip.p. 2.SI.
  49. Tocacs L., Hargilai С Characterisation o J the local order in amorphous model strusture «hoipju. kut inler Дbub.», 19SO, a/
  50. Finney XL. Amorphous poh’morf/s/n structural variability and characterisation in amorphous sistems. Dijr. stucl. non-crust, subsl, /93/, p.p. 439-У90
  51. MQhl H. Ftectronen-Kleinwinkel -?engung anperiodischen Objekten und Llchlbengung am elect ronen -mikroskopischen object bild. Mikroskopie, 197/, 3d. 27, S. 73- 79.
  52. Тимакова Г. П., Матохин A.B. .Ветер В, В., К}цина Л.А., Е&щн в.В. Когерентные методы анализа системы субдефектов в тонких магнитных слоях.-ФММ, 1979, т.47,с.741−746.
  53. В.В. «Алексеев А.Г., Верховская Т.А."Плотников B.C., Матохин А., В., Щщша Л. А. Исследование изменений структуры высокодисперсных пленок методом лазерной дифрактометрии.-Поверхность. Физика, химия, механика., 1984,№ 8,с.97−103.
  54. Цщш В. В, .Матохин A.B., Тимакова Г. П, Ветер В. В., Юдина Л. А. Методы малоуглового рассеяния и фурье-оптики в количественных оценках ультрадисперсных структур.-Тез.докл.I Всесоюзного семинара по аморфному магнетизму. Красноярск, 1978, с. II5-I16.
  55. М., Вольф Э. Основы оптики.-М.:Наука, 1970.
  56. Дж., Стенли Г. Метод дискретизации дифракционных картин для автоматического распознавания образцов.-ТИИЭР, 1970, т.58,ч.2.
  57. Т.И., Лифшиц И. Е. Киселев H.A. Оптический диф-ратометр.-Кристаллография, 197I, т.16,в.4,с.813−82I.
  58. Л. Дейт Е., Парчелло Л., Вивиан В. О применении когерентных оптических методов обработки: сигналов в радиолокационных устройствах с синтезируемой апертурой.-ТИИЭР, 1966, т.54,№ 8, о.11−19.
  59. Л., Лейт Е., Парчелло Л. Оптическая обработка данных и система фильтрации.-Зарубежная радиоэлектроника, 1962, МО, с. 3−30.
  60. Toy lor С J., LLpson H. Optical trans form s. Their preparation and application ta x-ray diffraction problems. London.» 196Ц.
  61. Верцнер В.H., Воронин Ю. М., Розов С. П., Петрова Г. А., Хайт-лина Р. Ю. Оптический дифрактометр для анализа электронно-микроскопических изображений.-Материалы IX Всесоюзной конференции поэлектронной микроскопии.-M., 1973, с. 8.
  62. Э. Свойства симметриив картинах дифракции Фраунго-фера.-УФН, 1973, т.1П, в.2,с.355−364.
  63. Коварский Н.Я., К}цина Л.А., Рудик Е. И., Матохин A.B., Юдин В. В. Исследование морфологии, структурных особенностей, анизотропии микрорельефа поликристаллических осадков методами когерентной оптики. -Электрохимия, 1981, т .ХУП, в. 4, с. 569−575.
  64. Г. П. «Юдина Л.А., Матохин A.B., Юдин В. В., Гулен-ко В.А., Ветер В. В. Интегральные оценки системы пор в пленках с регулярной магнитной структурой.-Сб.Физика магнитных материалов, Калинин, 1980, с.37−42.
  65. К}цин В.В., Матохин A.B., Макогина Е. И., 1^ленко В.А. Дол-жиков C.B. Оптико-цифровой комплекс в анализе РЭМ-информации.-Поверхность.Физика, химия, механика, I982,№ 12,с.86−94.
  66. К}дин В.В., Рудик Е. И., Матохин A.B., Тимакова Г. П., Гуленко В. А. .Чухрий Н. И., Щщша Л. А. Дальний порядок в структуре аморфных пленок.-ФТТ, 1982, т.24,в.2,с.443−448.
  67. Матохин А.В., К}цин В.В., Тимакова Г. П., К}цина Л.А. Фурье-оптика электронно-микроскопических изображений ультрадисперсных и аморфных пленок.-Сб.Физика магнитных пленок, Иркутск, 1979, с.34−37.
  68. Ф.А. Шумы модуляторов света в когерентных оптических системах.-В кн.: Экспериментальная радиооптика. М.: Наука, I979, c. I08-I26.
  69. Дж. Модели беспорядка. .-М. :Мир, 1982,591с.
  70. Rohenberg RX, Mlshra Thomas О., Kohmoto 0. and Ojima T. Electron Microscopy of Со/Ре/в!Si Amorphous olloys-Ifff Tran sachons on mag ne lie s, lept, {980, vol mag--/G, к5, р.ш.
  71. B.A., Орлов Е. Ф. Оптические анализаторы.-М., Сов. радио, 1971,206с.
  72. Зверев В.А., Зуйкова Э. М. Орлова Е.Ф., Раков И.С."Рубцов С. Н. Оптические методы обработки информации с использованием когерентного света.-В кн.: Оптические методы обработки информации, Л., Наука, 1974, с.25−32.
  73. Ъс/oin Ronald Е. Diffraction oj a laser beam. -» /Jm er. X Pfiys. № 79, pp. ?/98-^99.
  74. NUI Norman ?. Conlrase effection imagery power specira. " ?ppi.opt '. /919, 18? p.p.
  75. К^цина Л.А., Тимакова Г. П. Плотников B.C., Матохин A.B., К) дин В. В. Структурная мультиплетность ультрадисперсных и аморфныхпленок и проблема старения магнитной структуры.-Тез.докл.Всесоюз-ной конференции по физике магнитных явлений, Пермь, 1981, с. ТО5.
  76. В.В. «Тимакова Г.П., Матохин A.B., Должиков C.B., Щци— на Л.А. Лазерно-дифрактометрическая оценка параметров корреляционного поля флуктуации анизотропии в пленках Со-Р -ФТТ, 1983, т.25,в.7,с.1953−1957.
  77. Г. А. Аморфные магнетики.-УНФ, 1981, т.134, в.2,с.305−330.
  78. Д. Временные ряды. Обработка данных и теория. -М.:Мир, 1980,755с.
  79. P.C., Бахридинов А. Температурная зависимость электрических и гальваномагнитных свойств аморфных Со-Р сплавов.-Препринт ИФС0−126Ф, Красноярск, 1980, с. 45.
  80. Д., Льюис П. Статистический анализпоследовательнос-тей событий.-М.:Мир, 1969, с. 312.
  81. Л.С., Черемский П. Г., Фукс М. Я. Поры в пленках*1. М., Энергоиздат, 1982,214с.
  82. Kapperl Н., ReimerL. Qwanliialii/e determination ripple О J mapetiiatton inLorentz microscopy with laser beam Proc. 5 ** European Cong¦ on Electron Micros с opt/, 1972, p. -W
  83. Т. Статистический анализ временных рядов.-М.: Мир, 1980,536с.
  84. Г. С.Физика магнитных явлений.-Изд.Московского университета, 1976,367с.
  85. E.JI., Юдин В. В. Реккурентный метод оценивания параметров случайного потока.-Изв.АН СССР, сер. Техническая кибернетика, 1979, № 3, с .148 .
  86. НО. Уайт Р., Джебелл Т. Дальний порядок в твердых телах.-М.:Мир, 1982, с. 447.
  87. Я.М., Говоркян С. Д., Погосян Т. А. Микромагнитная структура пленок Te-Ni в состоянии недонасыщения в перпендикулярных полях.-ФММ, 1975, т.47,М, с. 875.
  88. Я.М., Погосян Т. А., Мамаян В. А. Перемагничивание инверсных пленок в направлении оси легкого намагничивания.-Изв. АН Армянской ССР, Физика, 1968,3,с.378−383.
  89. Я.М. «Погосян Т.А. «Мамаян В. А. Перемагничивание инверсных пленок вблизи направления оси трудного намагничивания.-Изв.АН Армянской ССР, Физика, 1969,1У, о.19−26.
  90. Погосян Т.А."Погосян Я.М., Безирганян П. А. Электронномикроскопические исследования одноосноанизотропных пленок вблизи оси трудного намагничивания.-Изв.АН Армянской ССР, Физика, 1970,5, с.169−174.
  91. Тимакова Г. П., Щцина Л. А., Матохин A.B. .К^цин В.В., Вётер В. В. Морфологические особенности строения ультрадисперсных и аморфных оред и наведенная анизотропия.-Материалы Всесоюзной конференции по физике магнитных явлений, Харьков, 1979, с.48−49.
  92. Kovarsky /к. Ya, Lisov ft. К, Vu dir? К V, Matokhin А. У. Siatis -ileal analysis of the yroivkh of polycrystatki/?e electrolytic deposits. -32"*Мее/. M. Society Ekeckrocktem, Dubrovniк, Ca vtat, /931, Ext fibs к v. к, р./э. 303−306.
  93. Матохин A.B., К}цин В. В. Должиков C.B. .Хламенок A.B. .Лазарев Ю. В. Радиооптическое моделирование динамики структурной сетки пленок Со~Р, CO-k/i-P .-Материалы III семинара по аморфному магнетизму., 1983, с. 75.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!