Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Особенности отражения рентгеновского излучения от изогнутых поверхностей

Диссертация: Особенности отражения рентгеновского излучения от изогнутых поверхностей
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Личный вклад автора. Автор участвовал в проведении всех рентгеновских экспериментов, а эксперименты, связанные с многократным отражением рентгеновских лучей (по исследованию элементов капиллярной оптики и эффекта шепчущей галереи), проведены им лично. Создание использованной для этих целей экспериментальной установки стало возможным в результате выполненных автором работ по её автоматизации… Читать ещё >

Особенности отражения рентгеновского излучения от изогнутых поверхностей (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОТРАЖЕНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ РЕАЛЬНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ. ЭЛЕМЕНТЫ ЗЕРКАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ОПТИКИ. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР
    • 1. 1. Отражение рентгеновского излучения от границы раздела двух сред
    • 1. 2. Рассеяние рентгеновского излучения на поверхностных шероховатостях
    • 1. 3. Многократное отражение рентгеновского пучка
    • 1. 4. Эффект шепчущей галереи
  • ВЫВОДЫ ГЛАВЫ
  • ГЛАВА 2. ВЫБОР МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ СОЗДАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ЗЕРКАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ОПТИКИ. ОПИСАНИЕ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ УСТАНОВКИ ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ТЕСТОВЫХ ИСПЫТАНИЙ
    • 2. 1. Выбор материалов для изготовления элементов зеркальной рентгеновской оптики
      • 2. 1. 1. Измерение шероховатости поверхности
      • 2. 1. 2. Измерение оптических констант
      • 2. 1. 3. Наблюдение поверхностных артефактов кристаллических образцов
    • 2. 2. Экспериментальная установка для испытания элементов зеркальной рентгеновской оптики
    • 2. 3. Методы обработки экспериментальных данных
    • 2. 4. Исследование стеклянных поликапиллярных систем для поворота пучка рентгеновского излучения
  • ВЫВОДЫ ГЛАВЫ
  • ГЛАВА 3. ЭЛЛИПСОИДАЛЬНЫЕ КОНЦЕНТРАТОРЫ ДЛЯ ЛАБОРАТОРНЫХ РЕНТГЕНОВСКИХ ИСТОЧНИКОВ: ОПТИМИЗАЦИЯ И
  • ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
  • ЗЛ. Необходимость в оптимизации эллипсоидальных концентраторов. Аналитический подход к описанию свойств и оптимизации параметров эллипсоидального концентратора
    • 3. 1. 1. Решение для точечного источника излучения
    • 3. 1. 2. Концентратор конечной длины
    • 3. 1. 3. Решение в случае источника конечных размеров
    • 3. 1. 4. Пример применения результатов для расчета параметров концентратора
    • 3. 2. Тестирование эллипсоидальных концентраторов на лабораторных источниках
    • 3. 2. 1. Методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных
    • 3. 2. 2. Применение эллипсоидальных концентраторов для белковой кристаллографии
  • ВЫВОДЫ ГЛАВЫ
    • ГЛАВА 4. ЭФФЕКТ ШЕПЧУЩЕЙ ГАЛЕРЕИ НА ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ В ЖЕСТКОМ ДИАПАЗОНЕ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
    • 4. 1. Качественный анализ эффекта шепчущей галереи на вогнутых сферических поверхностях в жестком диапазоне рентгеновского излучения
    • 4. 2. Экспериментальные исследования эффекта шепчущей галереи
    • 4. 3. Численное моделирование
    • 4. 3. 1. Описание расчетной программы
    • 4. 3. 2. Алгоритм численного моделирования
    • 4. 3. 3. Сравнение результатов эксперимента с результатами моделирования
    • 4. 4. Теоретическое описание полученных результатов по наблюдению эффекта шепчущей галереи в жестком диапазоне рентгеновского излучения на вогнутом сферическом зеркале
  • ВЫВОДЫ ГЛАВЫ
    • ГЛАВА 5. ИССЛЕДОВАНИЕ КАЧЕСТВА ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ СКОЛЬЗЯЩИМ ПУЧКОМ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
    • 5. 1. Возможность получения информации о качестве вогнутой поверхности с помощью скользящего рентгеновского пучка
    • 5. 2. Предварительные оценки
    • 5. 3. Эксперименты по диагностике качества вогнутой сферической поверхности скользящего рентгеновским пучком
    • 5. 4. Полученные результаты
  • ВЫВОДЫ ГЛАВЫ
  • ВЫВОДЫ ДИССЕРТАЦИИ
  • БЛАГОДАРНОСТИ
  • ПУБЛИКАЦИИ ПО МАТЕРИАЛАМ ДИССЕРТАЦИИ

28-го декабря 1895 года в журнале Вюрцбургского физико-медицинского общества Вильгельм Конрад Рентген опубликовал работу под названием «О новом типе лучей» [1]. Она была посвящена рентгеновским лучам, или, как их назвал сам автор, Х-лучам. Безусловно, этот тип излучения стал незаменимым инструментом во многих сферах деятельности человека. Со времен этого открытия прошло более ста лет. С тех пор источники рентгеновского излучения неоднократно и существенным образом совершенствовались, однако желание исследователей получать пучки максимально возможной интенсивности при минимальных геометрических размерах с учетом имеющихся характеристик источника присутствовало всегда. Кроме того, для более широкого практического применения рентгеновского излучения необходимо уметь управлять им, облучая лишь желаемую область. Решением всех этих задач занимается рентгеновская оптика.

Всю рентгеновскую оптику можно разделить на зеркальную, дифракционную и рефракционную. К основным элементам дифракционной оптики относятся кристаллы-монохроматоры, дифракционные решетки, френелевские зонные пластинки, брэгг-френелевские пластинки, работающие на отражение. Основное предназначение данных элементовфокусировка и монохроматизация. Элементы рефракционной оптики (пузырьковые и составные линзы) являются аналогами простых линз в оптике видимого диапазона, и прямой задачей их применения является фокусировка пучка и получение увеличенных/уменьшенных изображений. Наконец зеркальная оптика, основываясь на эффекте отражения, позволяет управлять рентгеновским пучком, т. е. поворачивать, концентрировать и фокусировать излучение.

Каждый из названных разделов рентгеновской оптики имеет свою историю, успехи и собственное теоретическое описание. Данная же работа затрагивает вопросы, связанные лишь с областью зеркальной рентгеновской оптики.

Исследованиями в области зеркальной рентгеновской оптики занимаются достаточно давно. Основные положения теории и достигнутые результаты изложены в главе 1. Тем не менее, до сих пор существует ряд нерешенных проблем. Несколько таких задач, актуальность которых продемонстрирована ниже, рассмотрены в данной работе.

Глава 2 посвящена вопросу выбора оптимального материала для создания элементов зеркальной рентгеновской оптики. В ней также описано экспериментальное оборудование, использованное при выполнении данной работы, продемонстрирован вклад автора в его модификацию.

В главе 3 аналитически решена задача оптимизации эллипсоидальных концентраторов для лабораторных рентгеновских источников. Этот результат позволяет без каких-либо вспомогательных вычислений определить максимально возможную эффективность концентратора на любой длине волны и проанализировать зависимость эффективности от размера источника, длины волны, вещества отражающего покрытия, а также технологических и экспериментальных ограничений, накладываемых на длину концентратора, расстояние между источником и образцом и т. д.

В главах 4 и 5 впервые исследуется эффект шепчущей галереи на вогнутой сферической поверхности в жестком диапазоне рентгеновского излучения. Также впервые рассмотрена и экспериментально реализована идея диагностики качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком жесткого рентгеновского излучения.

Цели работы.

1. Создание экспериментальной установки для тестирования элементов зеркальной оптики.

2. Оптимизация параметров эллипсоидальных концентраторов по переданной мощности для лабораторных рентгеновских источников.

3. Исследование эффекта шепчущей галереи в рентгеновском диапазоне длин волн (0.5А — З. ОА) на вогнутых сферических поверхностях.

4. Разработка метода диагностики качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком жесткого рентгеновского излучения.

Научная новизна работы.

1. Впервые аналитически решена задача оптимизации параметров эллипсоидальных концентраторов рентгеновского излучения по переданной мощности для лабораторных источников.

2. Впервые исследован эффект шепчущей галереи в рентгеновском диапазоне длин волн (1.2А — З. ОА) на вогнутых сферических поверхностях.

3. Впервые предложен и экспериментально реализован подход к диагностике качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком жесткого рентгеновского излучения.

Практическая значимость работы.

В процессе выполнения работы автором была создана лабораторная рентгеновская установка, позволяющая проводить испытания зеркальных рентгенооптических элементов. В ходе выполнения работы автором были исследованы капилляры, поликапиллярные системы, эллипсоидальные концентраторы, поворотные зеркала шепчущей галереи. Продемонстрированы возможности эффекта шепчущей галереи для неразрушающего контроля поверхностей вогнутых сферических зеркал.

На защиту выносятся следующие положения:

1. Аналитическое решение задачи оптимизации параметров эллипсоидальных концентраторов по переданной мощности для лабораторных источников рентгеновского излучения.

2. Теоретическое и экспериментальное описание особенностей эффекта шепчущей галереи в диапазоне рентгеновского излучения (длины волн от 1.2 А до 3 А) на вогнутых сферических поверхностях.

3. Возможность применения эффекта шепчущей галереи для диагностики качества вогнутых сферических поверхностей.

Апробация работы.

Основные положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на: Второй международной молодёжной научной школе-семинаре «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», Великий Новгород, 1−5 сентября 2008 г.- Втором международном научном симпозиуме X-RAY MICRO AND NANOPROBES 2009 (Рентгеновские исследования с микрои нанометровым пространственным разрешением), Палинуро, Италия, 14−22 июня 2009 г.- Седьмой национальной конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования наносистем и материалов, Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии (РСНЭ-НБИК 2009), Москва, 16−21 ноября 2009 г.- Рабочем совещании «Рентгеновская оптика — 2010», ИПТМ РАН, г. Черноголовка, 20 — 23 сентября 2010 гнаучных совещаниях рабочей группы COST МР0601 «Лабораторные источники коротковолнового излучения» (Европейский Союз), Дублин, Ирландия, 30−31 мая 2011 г. и Париж, Франция, 16−19 ноября 2011 г.- Третьей международной молодёжной научной школе-семинаре «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», Великий Новгород, 12−16 сентября 2011 г.;

Восьмой национальной конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования наносистем и материалов, Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии (РСНЭ-НБИК 2011), Москва, 14−18 ноября 2011 г.

Личный вклад автора. Автор участвовал в проведении всех рентгеновских экспериментов, а эксперименты, связанные с многократным отражением рентгеновских лучей (по исследованию элементов капиллярной оптики и эффекта шепчущей галереи), проведены им лично. Создание использованной для этих целей экспериментальной установки стало возможным в результате выполненных автором работ по её автоматизации. Автором разработана часть программ для обработки результатов эксперимента. Автору удалось аналитически решить задачу оптимизации по переданной мощности концентраторов рентгеновского излучения лабораторных источников, а также описать распространение пучков шепчущей галереи вдоль вогнутых сферических поверхностей. Таким образом, все основные результаты, изложенные в тексте диссертации, получены соискателем лично или при его непосредственном участии.

ВЫВОДЫ ДИССЕРТАЦИИ.

1) Впервые теоретически и экспериментально изучены особенности возникновения и существования эффекта шепчущей галереи на сферической поверхности в жестком диапазоне рентгеновского излучения (0.12 — 0.3 нм):

— впервые показано, что наблюдение эффекта на сферической поверхности не требует столь тщательной юстировки, как, например, на цилиндрической поверхности;

— получены аналитические выражения для условий наблюдения эффекта шепчущей галереи на сферической поверхности в жестком диапазоне длин волн;

— эти выражения подтверждены как в эксперименте, так и при численном моделировании, проведенном по методу прогонки лучей;

— проведенные исследования подтверждают значительную эффективность (-20%) поворота рентгеновского пучка с использованием эффекта шепчущей галереи на сферической поверхности (радиус кривизны 25 см, диаметр 6 см, изготовлено из плавленого кварца). Численный расчет показал, распространяясь вдоль вогнутой поверхности исследованного зеркала, луч с наибольшей вероятностью претерпевает около 50 отражений при повороте, а в среднем каждый луч испытывает 60 отражений от сферической поверхности;

— впервые показана возможность исследования качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком жесткого рентгеновского излучения;

— разработанный метод позволяет определять местоположение и размеры дефектов или нанесенных объектов на анализируемой поверхности;

— работоспособность предложенного подхода была продемонстрирована на вогнутом сферическом зеркале из плавленого кварца с диаметром 6 см и радиусом кривизны 25 см. Данным методом удается обнаруживать дефекты с линейными размерами -50 мкм.

2) Впервые аналитически решена задача оптимизации концентраторов для лабораторных рентгеновских источников:

— эффективность концентратора выражена через несколько.

1 /9 универсальных параметров I//7, 5У (^|1−8|) и (1-е)/|1-г|, представляющих собой безразмерные комбинации из межфокусного расстояния и эксцентриситета е эллипсоида, длины Ь и диэлектрической проницаемости е вещества концентратора, а также диаметра источника 5*;

— аналитическое решение задачи оптимизации позволяет без каких-либо вспомогательных вычислений, определить максимально возможную эффективность концентратора и рассчитать его оптимальные параметры в зависимости от размера источника, длины волны излучения, вещества отражающего покрытия, а также технологических и экспериментальных ограничений, накладываемых на длину концентратора, расстояние между источником и образцом и т. д.;

— показано, что, несмотря на низкую эффективность эллипсоидальных концентраторов в рентгеновском диапазоне длин волн (от 0.027% для к = 0.154 нм до 42.8% для к = 13.5 нм), выигрыш по интенсивности в центре фокусного пятна составляет.

2 5 несколько порядков (от 2.7−10 раз до 1.17−10 для соответствующих длин волн);

— эффективность концентратора приближается к максимально возможной при использовании источника конечных размеров, а не точечного, как можно было бы ожидать. За счет этого эффекта можно добиться повышения эффективности концентратора примерно на 4% (по сравнению с точечным источником).

3) Проведенные испытания капиллярных оптических элементов из стекла демонстрируют возможность их эффективного применения как для фокусировки излучения, так и для поворота рентгеновского пучка даже при использовании лабораторного источника, причем их дополнительным преимуществом является сравнительно низкая стоимость:

— в экспериментах с поликапиллярным волокном было показано, о что эффективность поворота пучка на 10 составляет не менее 5% от интенсивности пучка, прошедшего через неизогнутый поликапилляр;

— исследованные эллипсоидальные концентраторы, изготовленные по капиллярной технологии, продемонстрировали фокусировку излучения Си Ка (Я = 1.54 А) в пятно диаметром 0.15 мм с увеличением интенсивности в нем в 7 раз.

4) Для проведения указанных выше исследований был разработан аппаратурно-программный комплекс, включающий в себя:

— пакет программ для численного моделирования по методу прогонки лучей взаимодействия рентгеновских пучков с зеркальными поверхностями различной формы;

— экспериментальную установку для проведения измерений, состоящую из узла рентгеновской трубки (с управлением заслонкой), узла юстировки образца и двумерного координатного детектора (2048×2048 элементов, 13×13 мкм). Узел юстировки позволяет проводить линейные перемещения образца в двух взаимно перпендикулярных направлениях (ход 15 мм, точность 0.1 мм) и его покачивания вокруг двух взаимно о о перпендикулярных осей (угол наклона до 8, точность 0.1), а о также вращать образец с угловой точностью -0.03. Перемещения детектора позволяют регистрировать излучение с угловым отклонением относительно исходного направления пучка из трубки ±45° в горизонтальной плоскости и ±10° в вертикальной- - пакет программ для обработки экспериментальных данных.

БЛАГОДАРНОСТИ.

Автор выражает благодарность следующим людям:

Своим научным руководителям А. В. Андрееву и В. Е. Асадчикову, за постановку задачи, постоянную поддержку и участие в обсуждении работы;

И. В. Кожевникову (ИК РАН) и А. В. Бузмакову (ИК РАН), без участия которых эта работа могла бы и не состоятся;

P.A. Сенину (РНЦ «Курчатовский институт») и Б. С. Рощину (ИК РАН) за помощь на ранних стадиях работы;

C.B. Кузину и A.A. Перцову, сотрудникам ФИАН, за предоставленный CCD-детектор и решение проблем, возникших по ходу работы;

С. И. Сагитову за вогнутую сферическую подложку, предоставленную в распоряжение автору;

Автор хочет поблагодарить сотрудников лаборатории рефлектометрии и малоуглового рассеяния ИК РАН В. Н. Шкурко, Д. А. Золотова, Ю. О. Волкова, С. А. Кантеева и других за дружеское отношение, помощь в работе и участие в обсуждении;

Автор хочет выразить особую благодарность В. А. Шишкову, A.C. Арсеньеву, а также другим сотрудникам СКВ ИК РАН, без помощи которых была бы невозможна модификация и создание установок, а, следовательно, и выполнение всей экспериментальной части работы.

И, наконец, автор выражает особую благодарность своим супруге и сыну, близким и друзьям, оказывавшим моральную поддержку при выполнении работы.

ПУБЛИКАЦИИ ПО МАТЕРИАЛАМ ДИССЕРТАЦИИ.

1. Якимчук И. В., Рощин Б. С., Кожевников И. В., Асадчиков В. Е., ВангДж. Исследование эффекта шепчущей галереи на сферической поверхности в жёстком рентгеновском диапазоне // Кристаллография. 2008. Т. 53. № 6. С. 1111−1117.

2. Геранин A.C., Волков Ю. О., Рощин Б. С., Якимчук И. В., Асадчиков В. Е., Смирнов И. С., Шкурко В. Н., Гилёв О. И., Липин A.B. Реализация рентгеновских рефлектометрических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2010. Т. 76. № 4. С. 34−39.

3. Прохоров И. А., Захаров Б. Г., Асадчиков В. Е., Буташин A.B., Рощин Б. С., Толстихина А. Л., Занавескин М. Л., Грищенко Ю. В., Муслимое А. Э., Якимчук И. В., Волков Ю. О., Каневский В. М., Тихонов Е. О. Характеризация монокристаллических подложек лейкосапфира рентгеновскими методами и атомно-силовой микроскопией // Кристаллография. 2011. Т. 56. № 3. С. 515−521.

4. Якимчук И. В., Бузмаков A.B., Асадчиков В. Е., Скибина Ю. С., СкибинаН.Б., Белоглазое В. И. Исследование эффективности применения аксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла на лабораторных источниках" // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 6. С. 26−32.

5. Геранин A.C., Бузмаков A.B., Волков Ю. О., Золотое Д. А., Рощин Б. С., Якимчук КВ., Асадчиков В. Е., Смирнов И. С., Шкурко В. Н. Реализация рентгеновских томографических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 10. С. 41−44.

6. Якимчук КВ., Бузмаков A.B., Андреев A.B., Асадчиков В. Е. Рентгеновское томографическое изображение депозита на сферической поверхности // Письма в ЖЭТФ. 2011. Т. 94. В. 9. С. 738−741.

7. Якимчук КВ., Бузмаков A.B., Андреев A.B., Асадчиков В. Е. Исследование качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком рентгеновского излучения // Кристаллография 2012. Т. 57. № 2. С. 341−344.

8. Якимчук КВ., Рощин Б. С., Кожевников КВ., Асадчиков В. Е. Эффект шепчущей галереи на сферической поверхности в жестком рентгеновском диапазоне // Современные методы анализа дифракционных данных, 1−5 сентября 2008, НовГУ им. Ярослава Мудрого, Великий Новгород, тезисы докладов, С. 163−165.

9. Yakimchuk I.V., Roschin B.S., Kozhevnikov I.V., Asadchikov V.E. Peculiarities of X-Ray Reflection from a Concave Spherical Surface // X-Ray microand nanoprobes 2009, Palinuro, Italy, conference theses, P. 16.

10. Каневский B.M., Асадчиков B.E., Буташин A.B., Васильев А. Б., Волков Ю. О., Денисов A.B., Дерябин А. Н., Кожевников КВ., Кривоносое Ю. С., Муслимое А. Э., Рощин Б. С., Семенов В. Б., Тихонов Е. О., Якимчук КВ., Андреев A.B., Ангелуц A.A., Коновко A.A., Прудников K.P., Сапожников Д. А., Шкуринов А. П., Усенов К. Е., Евдокимов М. Г., Рябов А. Ю., Новоселова Е. Г., Смирнов И. С. Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлических нанопроводов на структурированной поверхности монокристаллического лейкосапфира" // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 121.

11. Рощин Б. С., Асадчиков В. Е., Якимчук КВ., Шкурко В. Н., Ахсахалян А. Д., Шишков В. А. Оптимизация систем управления, регистрации излучения, а также рентгенооптической схемы дифрактометра ДТС // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 551.

12. Волков Ю. О., Асадчиков В. Е., Буташин A.B., Денисов A.B., Дерябин А. И., Каневский В. М., Кожевников И. В., Муслимое А. Э., Рощин Б. С., Семенов В. Б., Тихонов Е. О., Якимчук И. В. Рентгеновская рефлектометрия в исследовании структуры приповерхностного слоя сверхгладких подложек из лейкосапфира // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 164.

13. Геранин A.C., Золотое Д. А., Якимчук И. В., Волков Ю. О., Рощин Б. С., Бузмаков A.B., Смирнов КС., Асадчиков В. Е. Рефлектометрические и томографические эксперименты с применением кристаллов-монохроматоров различной степени совершенства // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 572.

14. Якимчук КВ., Бузмаков A.B., Кожевников КВ., Асадчиков В. Е., Скибина, Ю.С., Скибина Н. Б., Белоглазое В. К. Некоторые рефракционные оптические элементы для фокусировки и поворота жесткого рентгеновского излучения // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 624.

15. Якимчук КВ., Кожевников КВ., Асадчиков В. Е., Скибина Ю. С., Политое В. Ю., Пхайко H.A., Гилев О. Н. Эллиптические концентраторы для рентгеновского излучения: оптимизация и экспериментальные исследования // Рабочее совещание «Рентгеновская оптика — 2010», Черноголовка, тезисы докладов, С. 136−138.

16. Yakimchuk I.V., Buzmakov A.V., Andreev A.V., Asadchikov V.E. Method of the concave spherical surface quality investigation based on x-ray whispering gallery effect // COST MP0601 WG & MC Meetings 30−31 May 2011, Dublin, Ireland, http://www.shortwavelengthsources.net.

17. Якимчук КВ., Бузмаков A.B., Андреев A.B., Асадчиков В. Е. Исследование качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком рентгеновского излучения // Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии), 12−16 сентября 2011, Великий Новгород, тезисы докладов, С. 141−143.

18. Минеев Е. В., Якимчук КВ., Асадчиков В. Е., Котляр В. В., Налимов А. Г., Шанина М. И., Сойфер В. А., О’Фаолайн Л. Исследование зонных пластинок для жесткого рентгеновского излучения на лабораторных источниках // Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии), 12−16 сентября 2011, Великий Новгород, тезисы докладов, С.79−81.

19. Якимчук КВ., Бузмаков А. В., Андреев А. В., Асадчиков В. Е. Выявление дефектов вогнутых сферических поверхностей скользящим рентгеновским пучком // РСНЭ-2011, Москва, тезисы докладов, С. 233.

20. Якимчук КВ., Кожевников КВ., Асадчиков В. Е. Влияние конечного размера источника на эффективность эллиптических концентраторов рентгеновского излучения // РСНЭ-2011, Москва, тезисы докладов, С. 450.

21. Yakimchuk I.V., Kozhevnikov I.V., Asadchikov V.E. Ellipsoidal concentrators for laboratory x-ray sources: analytical optimization // COST MP0601 Final meeting 16 — 19 November 2011, Paris, France, http://www.shortwavelengthsources.net.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Roentgen W.C. On a New Kind of Rays (Roentgen) (Preliminary Communication). Eine Neue Art von Strahlen 28 dec 1895.
  2. M., Вольф Э. Основы оптики. M.: Наука, 1970. 856 с.
  3. К. В., Langmuir I. Built-up-films of barium stearate and their optical properties //Phys. Rev. 1937. V. 51. P. 964.
  4. Henke B. L. Low energy X-ray spectroscopy with crystals and multilayers // AIP Conf. Proc. 1981. N. 75. P. 85.
  5. Bilderback D.H., Thiel D.J. Microbeam generation with capillary optics // Rev Scilnstrum. 1995. V. 66(2), P. 2059−2063.
  6. Hosokawa Y., Ozawa S., Nakazawa H., Nakayama Y. An x-ray guide tube and a desk-top scanning x-ray analytical microscope // X-ray Spectrom. 1997. V. 26. P. 380−387.
  7. Pahl R., Bilderback D. Development of capillary optics for microbeam applications with synchrotron radiation // Proc SPIE. 1996. V. 2805. P. 202−211.
  8. В., Kanngiesser В., Langhoff N., Wedell R., Wolff H. (Eds.) Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis. Springer, 2006. 863 p.
  9. Зеркальная рентгеновская оптика / под ред. А. В. Виноградова. Л. Машиностроение, 1989. 463 с.
  10. Abeles F. II Ann. Physique. 1950. V. 5. P. 596−640.
  11. Lekner J. Theory of reflection of electromagnetic and particle waves. Martinus Nijhoff Publishers, Dordrecht/Boston/Lancaster. 1987. 279 p.
  12. Parr at L.G. Surface studies of solids by total reflection of X-rays // Physical Review. 1954. V. 95(4). P. 359 369.
  13. Dennis J.E., Schnabel R.B. Numerical Methods for Unconstrained Optimization and Nonlinear Equations. NJ. 1983. 378 p.
  14. Zhou X.L., Chen S.H. Model independent method for reconstruction of scattering-lenght-density profiles using or X-ray reflectivity data // Physical Review. 1993. V. 47. P. 3174−3190.
  15. Rieutard P., Benattar J .J., Rivoira R. et al. X-ray phase determination in multilayers II Acta Crys. 1992. V. 25. P. 129−145.
  16. Kozhevnikov I.V. Physical analysis of the inverse problem of X-ray reflectometry // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 2003. V. 508. P. 519−541.
  17. Windt. D.L. IMD: Software for modeling the optical properties of multilayer films // Computers in Physics. 1998. V. 12. P. 360−370.
  18. A.B., Кожевников. И. В. Рентгеновское рассеяние на слабошероховатых поверхностях // Труды ФИАН. 1989. Т. 196. С. 31.
  19. Beckmann P., Spizzichino A. The scattering of electromagnetic waves of rough surfaces. N.Y.: Pergamon press, 1963. 503 p.
  20. Ф.Г., Фукс И. М. Рассеяние волн на статистически неровной поверхности. М.: Наука, 1972. 424 с.
  21. Л.Д., Лифшиц Е. М. Электродинамика сплошных сред. М.:Наука, 1982. 624 с.
  22. А.В., Кожевников И. В. Отражение и рассеяние рентгеновского излучения от шероховатых поверхностей // Труды ФИАН. 1989. Т. 196. С. 18−46.
  23. М.Л., Занавескина И. С., Рощин Б. С. и др. Исследование шероховатости поверхности методами атомно-силовой микроскопии, рентгеновского рассеяния и дифференциального рассеяния света // Вестн. МГУ. 2006. Т. 3. С. 80−82.
  24. T.W. (Jr). Multilayers for X-rays optics // Proc. SPIE. 1985. V. 563. P. 2−28.
  25. С. В., Гусев С. А., Платонов Ю. Я., Салащенко И. Н. Выбор материалов для многослойных элементов рентгенооптики // Письма в ЖТФ. 1983. Т. 9. № 18. С. 1140−1143.
  26. С. В., Гусев С. А., Платонов Ю. Я., Салащенко H. Н. Искусственные многослойные отражающие и селективные элементы для мягкого рентгеновского излучения. Выбор пар материалов и расчет многослойных зеркал // ЖТФ. 1984. Т. 54, № 4. с. 747 754.
  27. А. В., Кожевников И. В. Угловые, дисперсионные и поляризационные свойства многослойных зеркал мягкого рентгеновского диапазона: Препр. ФИАН СССР № 102. М., 1986. 65 с.
  28. Kozhevnikov I. V, Vinogradov А. V. Basic formulae of XUV multilayer optics UPhys. Scripta. 1987. V. 17. P. 137 145.
  29. Т. (мл.). Многослойные структуры в рентгеновской оптике // Рентгеновская оптика и микроскопия / Под ред. Г. Шмаля, Д. Рудольфа. М.: Мир, 1987. С. 196 221.
  30. A.B., Коноплев H.A., Попов. A.B. О широкополосных зеркалах для вакуумного ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения // Доклады АН СССР. 1982. Т. 266. С. 610−612.
  31. A.B., Елинсон В. М., Жилина В. И. и др. Поворот пучка мягкого рентгеновского излучения с помощью сферической поверхности. // Доклады АН СССР. 1987. Т. 292. С. 594−596.
  32. В.А., Кумахов М. А. Многократное отражение рентгеновского излучения на изогнутой поверхности // Поверхность: Физика, химия, механика. 1986. Т. 10. С. 25−32.
  33. Vinogradov А. V, Kozhevnikov I. V, Popov А. V On wideband mirrors for soft X-ray region // Opt. Commun. 1983. V. 47. N. 6. P. 361 363.
  34. А. В., Ковалев В. Ф., Кожевников И. В., Пустовалов В. В. Мода шепчущей галереи, вогнутые поворотные зеркала и резонаторыдля излучения мягкого рентгеновского диапазона: Препр. ФИАН СССР № 9. М., 1984. 50 с.
  35. А. В., Ковалев В. Ф., Кожевников И. В., Пустовалов В. В. Вогнутые поворотные зеркала рентгеновского диапазона // ЖТФ.1985. Т. 55. № 2. С. 244−250.
  36. А. В., Ковалев В. Ф., Кожевников И. В., Пустовалов В. В. Дифракционная теория скользящих мод в вогнутых зеркалах и резонаторах рентгеновского диапазона // ЖТФ. 1985. Т. 55. № 3. С. 567−574.
  37. Ф. Ф., Наумович А. И., Самусевич Г. Г. и др. Поворот пучков рентгеновских квантов при скользящих отражениях на изогнутой поверхности твердых тел // Поверхность: Физика, химия, механика.1986. № 6. С. 31−35.
  38. P. J., Epstein Н. М., Jung R. G. et al. Laser-generated plasmas as a source of X-rays for medical application //J. Appl. Phys. 1974. V. 45. N4. P. 1891 1895.
  39. Mosher D., Stephanacis S. X-ray «light pipe» // Appl. Phys. Lett. 1976. V. 29. N. 2. P. 105- 107.
  40. W. Т., PoundR. Measurements on an X-ray light pipe at 5.9 and 14.4 keV // J. Opt. Soc. Amer. 1976. V. 66. N. 10. P. 1048 1049.
  41. Pantell R. H., Chung P. S. Transmission of X-ray through curved waveguides II IEEE J. Quant. Electron. 1978. V. 14. N. 9. P. 694 697.
  42. Watanable M., Hidaka Т., Tanio H. et al. Vacuum ultraviolet light transmission through hollow-core quartz-glass cladding optical fibers // Appl. Phys. Lett. 1984. V. 45. N. 7. P. 725 727.
  43. Watanable M., Suzuki I. H., Hidaka T. et al. Soft X-ray transmission characteristics of hollow-core fused-quartz fibers // Appl. Opt. 1985. V. 24. N. 23. P. 4206−4209.
  44. А. В., Кожевников И. В. О свойствах волноводов рентгеновского диапазона // ЖТФ. 1984. Т. 54. № 9. С. 1755 1762.
  45. В.А., Коломийцев А. И., Кумахов М. А. и др. Широкополосная рентгеновская оптика с большой угловой апертурой // Успехи физических наук. 1989. Т. 157. № 3. С. 529−537.
  46. В. А., Оруджалиев М. Н., Кузьмин Р. Н. Коэффициент пропускания изогнутых рентгеновских волноводов // ЖТФ. 1989. Т. 59, № 11. С. 153−155.
  47. М.Н., Бушуев В. А. Распространение рентгеновского излучения в изогнутых капиллярах // ЖТФ. 1991. Т. 61. № 2. С. 51−57.
  48. Arkadiev V.A., Bzhaumikhov A.A., Gorny H.-E, Ibraimov N.S. Experimental investigation of Kumakhov lenses // Proc SPIE. 1995. V. 2515. P. 103−113.
  49. Ullrich J.В., Ponomarev I.Yu., Gubarev M.V. et al. Development of monolithic capillary optics for x-ray diffraction applications // Proc SPIE. 1994. V. 2278. P. 148−155.
  50. Owens S.M., Ullrich J.В., Ponomarev I.Yu., et al. Polycapillary x-ray optics for macromolecular crystallography // Proc SPIE. 1996. V. 2859. P. 200−209.
  51. Gao N., Ponomarev I., Xiao Q.F. et al. Application of monolithic polycapillary focusing optics in MXRF // Proc SPIE. 1996. V. 2859. P. 140−147.
  52. Bzhaumikhov A.A., Langhoff N., Schmalz J. et al. Polycapillary conic collimator for micro-XRF // Proc SPIE. 1998. V. 3444. P. 430−435.
  53. Kanngieser В., Malzer W., Reiche I. A new 3D micro x-ray fluorescence analysis set-up First archeometric applications // Nucl Instrum Meth Phys ResB. 2003. V. 211. P. 259−264.
  54. Berthold С., Bjeoumikhov A., Brugemann L. Fast XRD2 Microdiffraction with Focusing X-Ray Microlenses // Particle & Particle Systems Characterization. 2009. V. 26. P. 107−111.
  55. Bremer J., Kaihola L. An X-ray resonator based on successive reflections of a surface-wave // Appl. Phys. Lett. 1980. V. 37. P. 360−362.
  56. KB. Системы скользящего падения с большим числом отражений // Труды ФКАН. 1989. Т. 196. С. 143−167.
  57. Bukreeva I.N., Kozhevnikov I.V., Vinogradov A.V. Whispering gallery mirrors for the soft X-ray region: properties and applications // J. X-Ray Sci. Technol. 1995. V. 5. P. 396−419.
  58. K.B., Рощин Б. С., Кожевников КВ. и др. Исследование эффекта шепчущей галереи на сферической поверхности в жестком рентгеновском диапазоне // Кристаллография. 2008. Т. 53 С. 1111−1117.
  59. Kaihola L. Soft-X-Ray propagation on cylindrical polystyrene surface by successive grazing reflections // Appl. Optics. 1981. V. 20. P. 1269−1270.
  60. A.B., Елинсон B.M., Кожевников КВ. и др. Исследование поворота пучков мягкого рентгеновского излучения на большие углы // Оптика и спектроскопия. 1989. Т. 67. С. 206−209.
  61. Aleksandrov Yu.M., Bukreeva I.N., Vinogradov A.V. et al. Investigation of synchrotron radiation turning using a cylindrical surface // J. Sov. Laser Research. 1992. V. 13. P. 400−416.
  62. Ostashev VI., Asadchikov V.E., Bukreeva IN. et al. Experimental study of the whispering gallery effect in soft X-ray spectral range // Optics Commun. 1998. V. 155. P. 17−22.
  63. Liu C., Golovchenko J.A. Surface trapped x-rays: Whispering-gallery modes at lambda = 0.7 angstrom // Phys.Rev.Lett. 1997. V. 79. P. 788−791.
  64. Kozhevnikov I.V. Whispering gallery optics for synchrotron radiation beamlines //Proc. SPIE. 1995. V. 2453. P. 98−112.
  65. Bukreeva I.N., Kozhevnikov I.V. Vertical synchrotron radiation beamline for proximity X-ray lithography: Theoretical analysis // Nucl. Instr. Meth. A. 1997. V. 395. P. 244−258.
  66. Braud J.P., Hagelstein P.L. Whispering-gallery laser resonators.
  67. Diffraction of whispering-gallery modes // IEEE J. Quantum Electr. 1991. V. 27. P. 1069−1077.
  68. Braud J.P., Hagelstein P.L. Whispering-gallery laser resonators.
  69. Analysis of mirrors with nonuniform curvature // IEEE J. Quantum Electr. 1992. V. 28. P. 254−264.
  70. Artyukov I.A., Vinogradov A.V., Kozhevnikov I.V. On the efficiency of grazing incidence optics. The spiral collimator // Appl. Opt. 1991. V. 30. P. 4154−4157.
  71. .Н., Кожевников И. В., Федорец А. Г. Многоэлементный рентгеновский коллиматор //ЖТФ. 1993. Т. 63. С. 138−144.
  72. Ostashev V.I., Abramov I.A., Makarkin A.N., Shamraev L.N. Theoretical and experimental study of x-ray concentrators based on the whispering gallery effect // Proc. SPIE. 2001. V. 4145. P. 203−208.
  73. Bukreeva I.N., Kozhevnikov I. V. Whispering gallery effect for the testing of concave surface microroughness // Physica B. 1994. V. 198. P. 13−15.
  74. B.E., Букреева И. Н., Виноградов A.B. и др. Об определении шероховатостей вогнутых лазерных зеркал // Квантовая электроника. 1997. Т. 2. С. 845−850.
  75. В.В. Методы измерения и контроля формы выпуклых асферических зеркал оптических телескопов: дис.. канд. тех. наук / Москва. 2008. 120 с.
  76. М.А., Белоусов С. П., Игнатов А. Н. и др. Интерференционные методы производственного контроля оптических поверхностей зеркал телескопов Электронный ресурс]. URL: http://lzos.ru/content/view/216/5/ (дата обращения: 17.02.2012).
  77. Bukreeva I.N., Asadchikov V.E., Gilev O.N. et al. X-ray study of concave surface roughness Л Proc. SPIE. 1999. V. 3739. P. 395−403.
  78. B.E., Кожевников И. В., Кривоносое Ю. С. Рентгеновские исследования поверхностных шероховатостей // Кристаллография. 2003. № 48. С. 897−911.
  79. М.В. и др. Трехкристальный рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства реальных кристаллов. Приборы и техника эксперимента. 1976. № 1. С. 194 -196.
  80. A.A. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков и др. Многослойные рентгеновские зеркала для формирования пучков субнанометрового диапазона длин волн // Известия РАН. Сер. физическая. 2005. Т. 69, № 2. С. 174−181.
  81. В. Е. Рентгенооптические методы полное внешнее отражение с учетом рассеяния и микроскопия — в анализе границ раздела конденсированных фаз: дис.. доктора физ.-мат. наук / Москва. 2003. 311 с.
  82. X-Ray interactions with matter Электронный ресурс]. URL: http://henke.lbl.gov/opticalconstants/ (дата обращения: 16.02.2012).
  83. В.Е., Буташин A.B., Волков Ю. О. и др. Неразрушающие методы контроля нанорельефа поверхности на примере сапфировых подложек. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 10. С. 21.
  84. В.Е., Бабак В. Г., Бузмаков A.B. и др. Рентгеновский дифрактометр с подвижной системой излучатель-детектор // Приборы и техника эксперимента. 2005. № 3. С. 99−107.
  85. .С. Строение поверхностей аморфных и монокристаллических материалов, отличающихся по типу химической связи, и нанесённых на них многослойных покрытий поданным рентгеновской рефлектометрии: дне.. канд. физ.-мат. наук / Москва. 2009. 136 с.
  86. А. С. Геранин, Ю. О. Волков, Б. С. Рощин и др. Реализация рентгеновских рефлектометрических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2010. Т. 76. № 4. С. 34−39.
  87. Blonski S., Garofalini S.H. Molecular Dynamics Simulations of a-aluminia and y-aluminia Surfaces // Surface Science. 1993. V. 205. N. 1−2. P. 263−274.
  88. И.А., Захаров Б. Г., Асадчиков B.E. и др. Характеризация монокристаллических подложек лейкосапфира рентгеновскими методами и атомно силовой микроскопией // Кристаллография. 2011. Т. 56. № 3. С. 515−521.
  89. Shiratsuchi Y., Yamamoto М., Kamada Y. Surface structure of self-organized sapphire (0001) substrates with various inclined angles // Japanese J. Applied Physics. 2002. V. 41. P. 5719.
  90. Н.И., Фейгин JI.A., Бондаренко К. П. и др. Автоматический малоугловой рентенодифрактометр АМУР-1. //Аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1969. Т. 5. С. 53−72.
  91. В.Е. Асадчиков, А. В. Бузмаков, Д. А. Золотое и др. Лабораторные рентгеновские микротомографы на монохроматическом излучении. // Кристаллография. 2010. Т. 55. № 1. С. 167−176.
  92. А.В., Асадчиков В. Е., Бузмаков А. В. и др. Двумерное увеличение изображения в рентгеновском микроскопе асимметричного отражения // Письма в ЖЭТФ. 2007. Т. 85. С. 106−108.
  93. Watts J.F., Wolstenholme J. An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES. John Wiley & Sons Ltd. Chichester, West Sussex, England. 2003.212 р.
  94. H.A., Гилев О. Н., Елисеев M.B, Политое В. Ю. Концентраторы мягкого рентгеновского излучения, изготовленные методом термопластической деформации стекла // Поверхность. 2011. Т. 5. С. 7−13.
  95. Bilderback D.H., Hoffman S.A., Thiel D.J. Nanometer spatial-resolution achieved in hard X-ray-imaging and Laue diffraction experiments // Science. 1994. V. 263. P. 201.
  96. Balaic D.X., Barnea Z., Nugent K.A. et al. Protein crystal diffraction patterns using a capillary-focused synchrotron X-ray beam // J. Synch. Rad. 1996. V. 3. P. 289.
  97. Zeng X., Duewer F., Feser M. et al. Ellipsoidal and parabolic glass capillaries as condensers for x-ray microscopes // Appl. Optics. 2008. V. 47. P. 2376.
  98. Furuta K., Nakayama Y., Shoji M. et al. Theoretical consideration of intensity of an X-ray microbeam formed by a hollow glass pipe // Rev. Sei. Instrum. 1993. V. 64. P. 135−142.
  99. Wang L., Rath B.K., Gibson W.M. et al. Performance study of polycapillary optics for hard x rays // J. Appl. Phys. 1996. V. 80. P. 3628−3638.
  100. Xiao Q.F., Ponomarov I., Kolomitsev A.I., Kimball J.C. Numerical simulations for capillary-based x-ray optics // Proc. SPIE. 1992. V. 1736. P. 227−228.
  101. Voss K.F., Kim K.H., Stern E.A. et al. A capillary concentrator for an X-ray microprobe // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347. P. 390−396.
  102. Chen G.J., Cerrina F., Voss K.F. et al. Ray-tracing of X-ray focusing capillaries // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347 P. 407−411.
  103. Vincze L., Janssens K., Adams F., Rindby A. Detailed ray-tracing code for capillary optics //X-ray Spectrom. 1995. V. 24. P. 27−37.
  104. Thiel D. J. Ray-tracing analysis of capillary concentrators for macromolecular crystallography // J. Synchrotron Rad. 1998. V. 5. P. 820−822.
  105. Vincze L., Riekel C. Status and perspectives of capillary optics at a third-generation synchrotron radiation source // X-ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 208−214.
  106. Gao N., Ponomarev Y. Polycapillary x-ray optics: manufacturing status, characterization and the future of the technology // X-ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 186−194.
  107. A.B., Зорев H.H., Кожевников KB. О предельных возможностях оптики мягкого рентгеновского диапазона // Труды ФКАН. 1986. Т. 176. С. 195−210.
  108. А.В., Кожевников КВ., Толстихин O.K. О выборе материалов концентраторов, предназначенных для оптической накачки // Квант, электроника. 1986. Т. 13. № 12. С. 2424−2430.
  109. А.В., Толстихин O.K. Концентраторы мягкого рентгеновского излучения // Труды ФИАН. 1989. Т. 196. С. 168.
  110. Huang R., Bilderback D. Single-bounce monocapillaries for focusing synchrotron radiation: modeling, measurements and theoretical limits // J. Synchrotron Rad. 2006. V. 13. P. 74−84.
  111. Bukreeva I.N., Dabagov S.B., Lagomarsino S. Efficiency of an elliptically shaped x-ray mirror // Appl. Optics. 2004. V. 43. P. 6270−6277.
  112. Bukreeva I.N., Kozhevnikov I.V. Vertical synchrotron radiation beamline for proximity X-ray lithography: Theoretical analysis // Nucl. Instrum. Methods A. 1997. V. 395. P. 244−258.
  113. B.E., Букреева И. Н., Виноградов A.B. и др. Об определении шероховатости вогнутых лазерных зеркал. // Квант, электроника. 1997. Т. 24. С. 845−850.
  114. Справочник по специальным функциям / под ред. М. Абрамовича и И. Стиган. М.: Наука, 1979. 743 с.
  115. Л.А. Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа. М.: Изд-во МГУ, 1983. 288 с.
  116. С. С., Скоков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Изд-во МИСИС, 1994. 328 с.
  117. Я.С., С.С., Скаков Ю.А., Иванов Ю. Н., Расторгуев Л. Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. 632 с.
  118. Г. С., Илюшин А. С., Никитина С. В. Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980. 254 с.
  119. В.В. Экспериментальные методы рентгеноструктурного анализа. М.: Изд-во МГУ, 1992. 150 с.
  120. Рентгенотехника: Справочник / под ред. В. В. Клюева. М.: Машиностроение, 1980. Т.1. 431 с.
  121. Cormack A.M. Representation of a function by its line integrals, with some radiological applications. // J. Appl. Physics. 1963. V. 34. P. 2722−2727.
  122. Hounsfield G.N. A method of and apparatus for examination of a body by, radiation such as x-ray or gamma radiation // Patent Specification 1 283 915,1. The Patent Office, 1972.
  123. Hounsfield G.N. Computerized transverse axial scanning (tomography). Part I.: Description of system // Br. J. Radiol. 1973. V. 46. P. 1016.
  124. Kak A.C., Slaney M. Principles of Computerized Tomographic imaging. IEEE Press, NY 1988.329 p.
  125. Asadchikov V.E., Chulichkov A.I., Buzmakov A.V. et al. Morphological Analysis and Reconstruction for Computed Tomography // International Journal of Computer Information Systems and Industrial Management Applications. 2011. V.3. P. 19−25.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!