Применение метода совпадений для исследования эмиссии вторичных частиц при ионной бомбардировке твердого тела
Диссертация
В настоящее время большое внимание уделяется изучению взаимодействия ионов с поверхностью твердого тела. При таком взаимодействии происходят самые разнообразные процессы, которые ведут к эмиссии заряженных и нейтральных частиц и к изменению свойств бомбардируемой поверхности за счет радиационных нарушений и имплантации первичных ионов. Исследование этих процессов приобрело в последнее время… Читать ещё >
Список литературы
- Brunnee С. Uber die 1. nenreflexion und Sekundarenenemission beim Aufreffen von (Alkaluonen auf reine Molybdan-Oberflachen, Zs. fur Phys. J 1957. Ift2, 161.
- Панин Б.Б., Взаимодействие атомных частиц средних энергий10.100, кэБ) с твердыми телами, МТФ, 1962, 42, 313.
- Smith D.P. Scattering of Low-Energy Noble Gas Ions from Metal Surface, J. Appl. Phys., 1967″ ?8, 340.
- Strehlow W.H., Smith D.P., Determination of the crystallogra-phic polarity of CdS by ion scattering, Appl. Phys. Lett., 1968, 34.
- Smith D.P., Analysis of surface composition with low-energy backscattered ions, Surf. Sci., 1971″ 2?, 171.
- Пашкова E.G., Молчанов Б. А., Рассеяние ионов средних энергий поверхностью твердых тел, «Атомиздат», М., 1980.
- Кишеневский JI.M., Ионизация и нейтрализация быстрых атомных частиц, покидающих поверхность металла, Изв. АН СССР, сер, физ. 1974, 38, 392.
- Ball D.J., Buck Т.М., MacNair D., The energy spectrum of ejected atoms during the higt energy sputtering, Surf. Sci., 1972, 20, 69.
- Buck T.M., Ball D.J., Energy spectra of 6−32 keV neutral and ionized Ar and He scattered from Ru targets- ionized fraction as funtion of energy, Surf. Sci., 1У75″ 4Z, 244.
- Нижняя СЛ., Парилис Э. С., Фергелер В. Х., Степень ионизации атомов при рассеянии в полуканалах и на адсорбированных молекулах на поверхности монокристалла, Поверхность, 1981,№ 4, 79.
- Williams P., The sputtering process and sputtered ion emission, Surf. Sci., 1979″ 20, 58 818. Snowdon K.J., MacDonald R.J., Secondary ion energy spectraof policristalline transition metals and aluminium, Int.
- Jour, of Llass Spectr. and Ion Phys., 1978, 28, 255.
- Bayly A.R., MacDonald R.J., The spattering process and energy spectra of transition metals, Had. Eff., 1977, jj>4″ 169.
- Blaise G., Slodzian G. Distribution energetiques des ion secondaires, Rev. Phys. Appl., 1973″ 8, 105.
- Jurela Z., Energy distribution of secondary ion from 15 poly-crystalline targets, Rad. Eff., 1973, 12″ 175*
- Benninghoven A., Mueller A., Surface investigation on solids by the statical method of secondary ion mass-spectroscopy, Surf. Sci., 1973, 427.
- Hennequin J., Distributions energetique et angulaire de Remission ionique secondare, Jour. Phys., 1968, 22, 957.
- Slodzian G., Hennequin J. Sur 16mission ionique secondaire des metaux en presence doxygene, C. r. Paris, 1966, B2631 1246.
- Фогель Я.М., Слабоспицкий P.П., Карнаухов И. М., Масс-спектро-метрические исследования вторичной положительной и отрицательной ионной эмиссии, возникающей при бомбардировке поверхности молибдена положительными ионами, Ж, I960, 30, 824.
- Bradley R.O., Secondary positive ion emission from metal surfaces, J. Appl. Phys., 1959″ 20, 1.
- Wehner G.K., Sputtering yields for normally incident Hg+ ion bombardment at low ion energy, Phys. Rev., 1957, 108, 35.
- Лебедев С.Я., Стависский B.C., Шутько Ю. В., Катодное распыление при бомбардировке ускоренными ионами цезия, Изв. АН СССР, сер. физ. 1964, 28, 1488.
- Плешивцев Н.В., Катодное распыление, Атомиздат, 1968.
- Уманский Я.С., Скаков D.A., Физика металлов, «Паука», М., 1978, с. 210.
- Черныш B.C., Температурные Эффектн при взаимодействии ионных пучков с монокристаллами, Лисс. канд. физ.-мат. наук МГУ, 1975.
- Бачурин В.И., Черныш B.C., Широков А. В., Шмелев А. Б., Вторичная ионная эмиссия никеля, кобальта и инвара вблизи точек, фазового перехода, Поверхность, Гб, 1982, 110,37* Andersen С.A., Hinthorn© J.К., Ion microprobe mass analyzer, Science, 1972, 853.
- Thomas G., Kluzenuaar E., A chemical effect on leght emission from ion- bombardment copper and aluminium surface, Int. J. Mass Spectrom. Ion. Phys., 1974, v. 15″ 2.
- Williams P., Evans C., Anomalous enhancement of negative sputtered ion emission by oxyden, J. Surf. Sci., 1978, 78,324.
- Tsong Y*, Yu sut N., Appl. Phys. Lett., 1978,22, 999″ Absolute photpn yields in the sputter-induced optical emission process.
- Guenot D., Diplome d’Etudes Superieures, ursay, France, 1%6
- Blaise G., SlodzianG., Evolution des rendementes, de 1*emission ionique des alliages avec la natur du solute. 1. Resultats experimentaux, 2. Resultats Theory, 1974, ^43.
- Sroubek Z., A quantum-mechanical model for ionisation and excitation of atom during sputtering, Surf.Sci., 1974, 44, 47.5U. Schroeer J.M., A quantum-mechanical model for atom during sputtering, Surf. Sci., 1973″ 571 •
- Cini M., A new theory of sims at metal surfaces, Surf. Sci., 1976, %t> 71.
- Antal J., On the quantum theory of the emission of secondary ions, Phys. Lett., 1976, ?4, 281.
- Andersen G.A., Hithorne j., Progress in analytic methods for the ion microprobe mass analyzer, Jour. Anal. Ghem., 1973, 4?, 1421.
- Morgan A., Werner H., Un the use of the Saha- Eggert equa-tionfor SIMS analysis, Anal. Ghem., 1976, 48, 6У9.-М
- Bayly A., MacDonald R., The energy spectra of secondary ions emitted daring ion bombardment, 1978, jj>6, 242.
- Snowdon K., MacDonald R., Secondary ion energy spectra of polycrystalline transition metals and aluminium, Inter. Jour, of mass spect. and ion phys., 1978, 28, 255.
- Dennis E., MacDonald R., The energy spectra of sputtering ions, Rad. Eff., 1972, Щ, 24 558) Joyes P., Ion surface interaction, Sputtering and relatedphenomena, edited by R. Bhrisch. (Gordon and Breach, London) 1975, 159.
- Martin P., Bayly A., MacDonald R., J. Kelly, Surf. Sci. 1976, 60, 549. De-excitation processes near the surface of ion bombarded Si02 and Si.
- Adler D., Solid State Physics, 1968, 21, 1.
- Hennequin J., Joyes P., Oastaing R., Emission d*electrons par desexcitation Auger d’atomes ejectes d’une cible metal-lique par pulverisation cathodique, 0. r. Paris, 1967, В265″ 512.
- Lesegno P.V., Joyes P., Sur la intensites relatifes d’emis-sion d’electrons Auger par less metaux legers sounns a un bombardment ionique, G.r. Paris, 1972, 275″ B95.
- Hennequin J., Emission dfelectron Auger par les atomes d’une cible metallique soumis a bombardment ionique, Jour, de Phys. 1968, 22, 1053.
- Hennequin J., besegno p., Distribution energetique des electrons Auger emis par les metaux legers soumis a un bombardment ionique, C.R. Paris, 272, В 1259, 1971.
- Slater J., One-electron energies of atoms, molecules and solids, Phys. Rev., 1955, 2§" Ю39
- Hagstrum H.D., Theory of Auger ejections of electrons and from metals by ions, Phys. Rev., 1954, 2i> 35 669) Принцева H.B., Рахимов P.P., труды Второго всесоюзного симпозиума: Взаимодействие атомных частиц с твердым телом, Москва, 1972.
- Дорожкин А.А., Петров Н. П., Оже-электроны при ионном облучении химических соединений, Поверхность, 1982, № 9, 65.
- Сошка М., Сошка В., Ионно-электронная эмиссия с поверхности магнитных сплавов, в кн.: Взаимодействие атомных частиц с твердым телом, Мат. 1У Всесоюз. конф., Минск, 1981.
- Машкова Е.С., Молчанов В. А., Ионно-электронная эмиссия изпри высоких температурах, 1974, 44, № I, 301.
- Soszka W., Stepin Т., Ion-electron emission on transit from Curie temperature, Acta Phys. Pol. 1979, A56, 911.
- Дорожкин A.A., Петров Н. П., Автоионизационные явления при взаимодействии частиц с поверхностью, в кн. Автоионизационные явления в атомах, П научный семинар, Москва, МГУ, 1981, с. 209.
- Joyes P., Rad. Eff. 1973″ v. 29, 235"-14 076) Joyes P., Hennequin J., (Temps de desexcitation Auger d, un trou cree par bombardement ionique sur un niveau electron-ique lie d*un atome du metal irradie, Jour, de Phys. 1968,29, 485.
- Кораблев Б.В., в кн. Электронная Оже-спектроскопия, Л. из-во ЛПИ, 1973.
- Микушкин В.М., Огурцов Г. Н., Флакс И. П. Экспериментальное определение энергий автоионизационных состояний иона неона, в кн. Автоионизационные явления в атомах, П научный семинар, Москва, МГУ", 1981, с. 145.
- Зандерна А., Методы анализа поверхности, «Мир», М., 1978.
- Черепин В.Т., Майферт Ю. П., Локальный анализ концентрационных распределений элементов в твердых телах методом масс-спектральной микроскопии, Препринт, ИМФ, АН УССР, 71.8 Киев, 1971.
- Каминский М., Атомные и ионные столкновения на поверхности металла, «Мир», М., 1967.
- Афросимов В.В., Гордеев Ю. С., Ионизационные явления в газах, СЕРМА, Париж, 1964.
- Kessel Q., Morgenstern R., Muller В., Angular correlation between autoionization electrons and scattered ion in 2000 eV He+ — He collisions, Phys. Rev., 1979, A20, N 3, 804.
- Boskamp E., Giebling 0., Morgenstern R., Nienhuis G., Angular correlation between autoionisation electrons from Ne (гр^Зз2)^ and scattered ions in He+ — Ne collisions, Jour, of Phys. «В», At And Mol. Phys., 1982, 1j>, N 20, 3745.
- Brandt D., Resonant transfere and excitation in ion-atom collisions, Phys. Rev. «A» Gen. Phys., 1983, 2?, N 3, 1314.- 1Н
- Шаршмидт Г. Особенности процесса распыления ГЦК-металлов- Дисс. кнд. физ.-мат. наук, МГУ, 1983.
- Niwa У., Nishimura Т., Noroye Н., Tshuhiya Т., Photoelectron-photoion coincidence spectrometer with double field TOFmass analysis, J. of Mass Spect. and Ion Bhys., 1979"30. 63.
- HubbellH., Herzog R., Sputtering ion source for solids, Jour.APPl. Phys., 1963, 21. 2893.
- Миньков И.1.1., Повышение разрешающей способности сферических анализаторов, Ж,-1962, 32, 12, 1409.
- Козлов И.Г., Методы энергетического анализа электронных п от ок о в, Ат оми з д ат, М., 19 71.
- Абраменко В.А., Дубский Г. А., Шелякин Л.Б., Компактный эннер-го-масс-анализатор, Мат Бсес. сем. Вторичная ионная и ионно-фотонная эмиссия, Харьков, 1983, с. 285,
- Вилдгрубе Г. С., Айбунд М. П., Даниленко И. К., Дунаевская И. В., Умножители с непрерывным динодом, Электронная техника, 1. Сер. 4, вып.4,1968, с.З.
- Айбунд М.П., Дунаевская И. В., Электронный умножитель' с открытым выходом, Электронная техника, Сер.4f вып.4, 1968, с. 45.
- Wright W.H., Calibration of Satellite-Borne Soft Particle Spectrometer, Rev. Sci. Inst., 1968, 22″ 1909.-т
- Egidi а., Marconero R., Channeltron Fatique and Efficiency for Protons and Electrons, Rev. Sci. Instr., 1969, 40, 88.
- Bennani A.L., Pebay J., Nguyen В., Mesure absolue de l’effi-cacite de detection des electrons pas un multiplicateur tu-bulaire (Ghanneltron), J. Phys. Exp., 1973, 6, NS-15, 556.
- Sharber J.R., Winningham J.D., Sheldon W.R., A directional low energy electron detector employing channel electron multipliers, «IEEE Trans. Nucl. Sci.», 1968, NS-15, 636.
- Зинченко И.О., Курс лекций по электронной оптике, йз-во ХГУ, 1961.
- Wheeler A., Structure and Properties of Solid Surface, University of Chicago Press, 1955, 439, 455.
- Trapnell B.M.W., Chemisorption, New-York-London, 1965.
- Alme O.E., Collection and sputtering experiments with noble gas ions, Nucl. Instr. and Meth., 1961, 11., 257.
- Almen O.E., Bruce G., Sputtering experiments in the high energy region, Nucl. Inst, and Method., 1961, Ц, 279.
- Werner H.W., Vacuum, 1972, 22, 613, Instrumental aspects of secondary ion mass spectrometry and secondary ion imaging mass spectrometry.
- Morrison J.H., SlodEian J". Anal. Chem. 1975, 4Z, 932A. The theory aspects of secondary ion mass spectrometry.
- Ю7) Рехин Е. И., Метод совпадений, Атомиздат, М., 1979.
- Bassett P.J., Gallon Т.Е., Prutton N., A high energy resolution Auger electron spectrometer using concentric hemispheres, Sci. Instr., 1972, 1008.
- Slodzian G., In secondary ion mass spectrometry, edited by K.P.J., Heinrich (NBS publication No. SP-427, 1975).
- Париже E.C., Тураев Н. Ю., К теории отражения ионов и атомов от поверхности твердого тела, Докл. АН Уз ССР, 1965,161, t$ 4.
- Свойства металлов и сплавов, часть I, Физ, свойства, пой ред. Самсонова Г. В., «Иеталлургия», М., 1976.
- Хэгструм X., Оке-нейтрализация. В кн. Электронная спектроскопия твердых тел, «Мир», М., 1981, с. 323, 354.
- Атлас Оже-спектров спектрометра «ВАРИАН», 1975.
- Siegbahn K., Norling С., Fahiman A., Atomic, molecularand Solid State structure studied by means of electron spectroscopi, ESGA, UPPSALA, 1967.
- Bearden J.A., Burr A.F., Sputtering yield measurment, Rev.
- Mod. Phys., 1967″ IS" 1*5?
- Sigmund P., Collision Theory of displacement aainag. 5.-Some aspects of sputtering, Rev. Roum. Phys., 1972,1Z, 1u79.
- Fluit J., Friedman L., Snoek C., Kistemaker J., Foton and metastable atoms rormed by sputtering (, 5−20 keV), Int. Conf. of Ionisational Phenomena in (jasses, Amsterdam, 1962.
- Новикова С. И", Термическое расширение твердых тел, 1. Наука", Ы., 1974, с. 284.
- Sigmund P., Theory of Sputtering,
- Phys. Rev., 1969, 184, 383.123. харламочкин E.G., Кинетика распыления аморфного и кристаллического вещества, Дисс. канд. физ.-мат. н. МГУ, 1983.
- Добрецов Л.Н., Гомоюнова М"В., Эмиссионная электроника, «Наука», М., 1966, 195.
- Mott N.F., Jones Н., The Theory of properties of metals and alloys, Oxford, 1966.
- Бобашев С.В., Амусья М. Л., Шейнерман С. А., Влияние автоионизационного уровня неона на интенсивность линии /V^IT, А =40,71 нЫ при столкновении №. , Труды II науч. сем.- Автоионизационные явления в атомах, Москва, 190I, с. 302.
- Пономарев Б.К., Тиссен В. Г., Намагниченность никеля в поле ло 3? кЭ при температурах ло 700К, Ш’Ф, 1977, 73, 332.
- Поташинский, Покровский, Флуктуационная теорияфазовых переходов, «Наука», М., 1982.
- Карпова Е.Е. Особенности распыления лантанидов при магнитном фазовом переходе, £исс. канд. физ.-мат. наук, МГУ, 1984.
- Борн Н., Прохождение атомных частиц через вещество, Перевод с анг., «Мир», М., I960.
- Hagstrum H.D., Scatering of noble gases ions by solidssurface, Phys.Rev., 1961,122, 758.
- Петров H.H., Вторичная эмиссия с раскаленного металла поддействием ионов цезия и калия, ФТТ, I960, 2, 9 40.
- Френкель Я.И., Введение в теорию металлов, «Наука», JI., 1972, с. 396.
- Ziman J.M., The physics of metals, Cambridge, atthe University Press, 1969*
- Harrison 7/., Solid State Theory, McGraw-Hill Book Company, 1970.
- Крэкнелл А., Уонг К., Поверхность Ферми, Атомиздат, III., 1978.
- Kittell С., Quantum Theory of Solids, ITeley New-York, 1963.
- T38. Абакумов А. И., Васильев Ы. А., Косячков A.A., Кувакин M.B., Черепин В. Т., Черншп B.C., Особенности распыления металлов при магнитном фазовом перехоле, Письма в л. УТФ, 1975, I, 945.
- Шульга В.И., Расчет на OBIi отражения ионов и распыления монокристаллов, Цисс. кащг. физ.-мат. наук, ИГУ, IS71.
- Schroeer J.M., Rhodin T.N., Bradley R.C., A quantum mechanical model for the ionisation and excitation of atomsduring sputtering, Surf. Sci., 1973> J54, 571″
- Schroeer J.M., Calculation from first principles of the yield ions and excited neutral atoms sputtered frommetal, Surf. Sci., 1973} 485.
- Фирсов О.Б., Качественная трактовка средней энергии возбуждения электронов при атомных столкновениях, л.ЗТФ, 1959, 36, 1517. Кишиневский Л. М., Неупругие потери и сечение ионизации, Изв. АН СССР, сер. физ., 196Я, ?6, 1410.