Текстура поверхности.
Какой бы гладкой визуально или на ощупь не выглядела поверхность детали, при наблюдении ее с помощью микроскопа или при сканировании с увеличением можно убедиться в наличии на ней сложного рельефа, называемого текстурой поверхности.
Текстура (строение) поверхности — повторяющиеся и случайные отклонения от геометрической (номинальной) поверхности, которые формируют трехмерную топографию поверхности. В текстуре поверхности выделяют:
- • шероховатость;
- • волнистость;
- • направление неровностей;
- • изъяны поверхности;
- • отклонение формы в пределах ограниченного участка поверхности.
Для нормирования и количественной оценки параметров текстуры поверхностей используют профильный метод (двухмерное измерение) и метод «Ареал» (трехмерное измерение). В настоящее время наибольшее распространение получил профильный метод, при котором текстуру оценивают профилем поверхности — параметрами линии пересечения поверхности с плоскостью.
При контроле текстуры поверхности выделяют три основных типа профилей поверхности:
- 1) трассированный профиль — траектория центра иглы щупа при перемещении (трассировании) по поверхности;
- 2) базовый профиль — траектория щупа при перемещении по совершенно гладкой поверхности (эта траектория отражает погрешности геометрии направляющей поверхности прибора);
- 3) полный профиль — цифровая форма профиля, зафиксированная измерительным прибором, содержащая в себе трассированный и базовый профили.
Для отсечения неровностей профиля, которые в процессе трассирования проявляют себя с разной длиной волны А, используют фильтры. Фильтры могут быть механическими, электрическими, математическими и др. В частности, функцию первичного (механического) фильтра выполняет щуп измерительного прибора, размеры которого определяют степень сглаживания профиля при трассировании.
Полный профиль, полученный в результате применения коротковолнового фильтра As, называют первичным профилем. Использование фильтра Ас позволяет получить профиль шероховатости. Фильтр профиля А/ разделяет неровности, относящиеся к волнистости, и более длинные волны и способствует выявлению профиля волнистости.
