Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии

Диссертация: Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В настоящее время в аналитической химии приобретают большую актуальность исследования, направленные на создание новых и модернизацию существующих методов вещественного анализа поверхности. При этом особое внимание уделяется методам, позволяющим проводить селективные по глубине элементный, фазовый и структурный анализ ультратонких слоев поверхности в нанометровом диапазоне глубин. Эти методы… Читать ещё >

Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА 1. СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
    • 1. 1. Методы анализа физико-химического состояния поверхности
    • 1. 2. Применение геометрии полного внешнего отражения в аналитических целях
    • 1. 3. Мессбауэровская спектроскопия как метод анализа поверхности
    • 1. 4. Рентгенфлуоресцентная спектроскопия в условиях полного внешнего отражения
  • ГЛАВА 2. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЖЕСТКОГО ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С УЛЬТРАТОНКИМИ СЛОЯМИ ПОВЕРХНОСТИ
    • 2. 1. Модель взаимодействия излучения с однородной средой
    • 2. 2. Дискретная модель взаимодействие излучения со слоисто-неоднородной средой в геометрии ПВО
    • 2. 3. Формирование аналитических сигналов в условиях ПВО
      • 2. 3. 1. Флуоресцентное излучение
      • 2. 3. 2. Мессбауэровское излучение. ^
  • ГЛАВА 3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ КОМПЛЕКСНОГО АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
    • 3. 1. Рентгено- и гамма-оптическая схема экспериментальной установки
    • 3. 2. Детектирование различных типов излучения. 6у
    • 3. 3. Оптимизация рентгено- и гамма оптической схемы установки. j^
    • 3. 4. Электронная система управления и накопления спектрометрической информации
  • ГЛАВА 4. МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ
    • 4. 1. Юстировка оптической схемы экспериментальной установки. jq
    • 4. 2. Методика проведения исследований. уд
    • 4. 3. Методика обработки экспериментальных данных. gу
    • 4. 4. Пакет программ математической обработки экспериментальных результатов
  • ГЛАВА 5. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК И МНОГОСЛОЙНЫХ СИНТЕТИЧЕСКИХ СТРУКТУР
    • 5. 1. Анализ многослойных синтетических структур. gg
      • 5. 1. 1. Мессбауэровская спектроскопия. ду
      • 5. 1. 2. Результаты рефлектометрических измерений
      • 5. 1. 3. Элементный анализ многослойной структуры
    • 5. 2. Селективный по глубине анализ продуктов коррозии в ультратонких пленках железа. Ю
      • 5. 2. 1. Результаты рефлектометрических измерений.^ ^
      • 5. 2. 2. Мессбауэровская спектроскопия продуктов коррозии
      • 5. 3. 0. пределение спиновой текстуры в Fe/V сверхрешеток

В настоящее время в аналитической химии приобретают большую актуальность исследования, направленные на создание новых и модернизацию существующих методов вещественного анализа поверхности. При этом особое внимание уделяется методам, позволяющим проводить селективные по глубине элементный, фазовый и структурный анализ ультратонких слоев поверхности в нанометровом диапазоне глубин. Эти методы востребованы при исследовании таких объектов, важных с теоретической и практической точки зрения, как объекты микрои нано-электроники, катализаторы, биологические объекты, продукты коррозии на ее начальной стадии, процессы адсорбции, а также новые многослойные синтетические структуры.

Важным требованием к применяемым для анализа методам является их неразрушающий характер. Этому в полной мере отвечают методы, основанные на взаимодействии электромагнитного излучения с веществом.

Интенсивное развитие рентгеновской и мессбауэровской оптики поверхности стимулировало появление поверхностно-чувствительных методов, которые основаны на сочетании эффекта полного внешнего отражения и различных спектроскопических и дифракционных методов. Изменение угла падения излучения на поверхность исследуемого образца в диапазоне углов полного внешнего отражения приводит к изменению глубины проникновения излучения, и, следовательно, позволяет получать информацию о физико-химическом состоянии поверхности на различных глубинах. Современной тенденцией в аналитической химии является одновременное использование нескольких методов, позволяющих получать взаимодополняющую информацию об анализируемом объекте, обеспечивая, таким образом, высокую достоверность результатов анализа.

Рентгенфлуоресцентная спектроскопия в условиях скользящего падения позволяет извлекать информацию о распределении по глубине элементного состава анализируемых поверхностей.

Использование скользящих углов в экспериментах по ядерному гамма резонансу (эффект Мессбауэра) позволило развить новый поверхностно-чувствительный метод фазового анализа — скользящую мессбауэровскую спектроскопию. Большой коэффициент внутренней конверсии, присущий резонансным переходам во многих мессбауэровских ядрах, приводит к тому, что в процессе резонансного поглощения, ядро, при разрядке возбужденного состояния, излучает вторичное излучение (электроны конверсии, Оже-электроны, рентгеновское излучение и рассеянное гамма-излучение). Это позволяет эффективно регистрировать не только зеркально-отраженное излучение, но и выход вторичного излучения.

Настоящая работа посвящена разработке комплексного подхода для неразрушающего, селективного по глубине исследования элементного и фазового состава поверхности изучаемых объектов. Такой подход позволяет объединить методологические возможности мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии при нормальных и скользящих по отношению к поверхности углах падения излучения. Решение этой задачи позволит добиться прогресса в приоритетных областях науки и техники. Цель работы.

Цель настоящей работы — разработка и исследование аналитических возможностей комбинированного метода анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии, а так же выбор путей его оптимальной реализации.

Для достижения поставленной цели было необходимо решить следующие задачи:

— провести исследование особенностей взаимодействия рентгеновского и мессбауэровского излучений при скользящих углах падения для решения проблемы комбинированного селективного по глубине многоэлементного и фазового анализа поверхности;

— выполнить численное моделирование процесса взаимодействия рентгеновского и гамма-излучений с исследуемым веществом;

— создать экспериментальную установку для проведения на Heq исследований;

— разработать методику эксперимента;

— провести экспериментальную оценку аналитических возможностей разработанного метода.

Научная новизна.

1. Проведено теоретическое и экспериментальное обоснование возможности применения рентгеновской и гамма-оптики скользящего падения для селективного по глубине элементного и фазового анализа поверхности.

2. Предложена комбинированная рентгенои гамма-оптическая схема для проведения рентгенрефлектометрических, рентгенфлуоресцентных, рентгендифракгометрических и мессбауэровских исследований, и анализа.

3. Предложен алгоритм для численного моделирования процесса формирования аналитических сигналов при взаимодействии рентгеновского и гамма излучений с поверхностью в области углов полного внешнего отражения.

4. Созданы программы комплексной взаимодополняющей обработки экспериментальных результатов.

5. На примере анализа образцов многослойной наноструктуры гг9.5"м/[Сго.49нм/Рео.91"м]х26/Сг50нм/стекло и пленок продуктов коррозии показаны аналитические возможности метода для селективного по глубине элементного и фазового анализа.

6. Впервые установлена магнитная текстура в многослойной металлической системе Fe/V.

Практическая значимость работы.

1. Разработан новый метод для решения задач селективного по глубине элементного и фазового анализа поверхности в субнанометровом диапазоне глубин.

2. Создана, не имеющая аналогов, экспериментальная установка, позволяющая проводить комплексные измерения рентгенрефлектометрических, рентгенфлуоресцентных, рентгендифракционных и мессбауэровских спектров.

На защиту выносятся:

1. Обоснование комбинированной единую гаммаи рентгено-оптической схемы проведения селективного по глубине элементного и фазового анализа ультратонких слоев поверхности и многослойных синтетических структур

2. Макет спектрометра малоугловых рассеяний рентгеновского и мессбауэровского излучений.

3. Методики проведения измерений и обработки экспериментальных данных для недеструктивного послойного элементного и фазового анализа.

4. Результаты анализа элементного и фазового состава многослойных синтетических структур.

5. Результаты селективного по глубине фазового анализа продуктов коррозии.

Личный вклад автора. Все новые результаты, сформулированные в диссертации, получены лично диссертантом. Вклад диссертанта состоит в разработке и сборке экспериментальной установки, в проведении экспериментальных исследовании, интерпретации их результатов и формулировке выводов.

Достоверность результатов, полученных в диссертационной работе подтверждается сравнением данных численного моделирования и статистически обработанных экспериментальных данных.

Финансовая поддержка работы осуществлялась: Министерством образования Российской Федерации, гранты №№ АОЗ-2.11−289 и А04−2.11−144.

Апробация результатов. Основные результаты диссертационной работы обсуждались на конференциях: «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Санкт-Петербург, Россия, 2002 г.), «Рентгеновская оптика 2003» (Нижний Новгород, Россия, 2003 г.), «International Conference on the Application of the Mossbauer Effect» щ (Мускат, Оман, 2003 г.), IV национальной конференции «По применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов» (Москва, Россия, 2003), IV международной конференции «Химия высокоорганизованных веществ и научные основы нанотехнологии» (Санкт-Петербург, Россия, 2004 г.) и «Рентгеновская оптика 2005» (Нижний Новгород, Россия, 2005 г.). Публикации. По теме диссертации опубликовано 16 печатных работ.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ.

1. Теоретически и экспериментально обоснованы достоинства применения рентгеновской и гамма-оптики скользящего падения для селективного по глубине элементного и фазового анализа поверхности.

2. Проведено численное моделирование формирования аналитического сигнала при взаимодействии излучения с поверхностью в окрестности углов полного внешнего отражения, на основе которых созданы алгоритмы обработки экспериментальных результатов.

3. Разработана комбинированная рентгенои гамма-оптическая схема и создан макет спектрометра для селективных по глубине исследований поверхности, который позволяет проводить измерения рентгенрефлектометрических, рентгенфлуоресцентных, рентген-дифракионных и мессбауэровских спектров в условиях полного внешнего отражения излучения.

4. Аналитические возможности разработанного комбинированного метода для послойного анализа подтверждены результатами исследований синтетической многослойной наноструктуры.

91нм]х26/Сг5онм/стекло.

5. На примере пленок продуктов коррозии железа показана возможность применения метода для анализа образцов априорно неизвестного состава.

6. С использованием разработанного метода определена спиновая текстура в сверхрешетках Fe/V.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

В соответствии со сформулированной целью работы в диссертации рассмотрен круг проблем, связанных с созданием недеструктивного селективного по глубине метода комбинированного элементного и фазового анализа ультратонких пленок и многослойных синтетических систем на основе скользящей рентгеновской и мессбауэровской оптики.

Результаты теоретических и экспериментальных исследований показывают, что совместное использование рентгеновской и мессбауэровской спектроскопии позволяет восстанавливать профиль распределения элементов и фаз по глубине поверхности. Показаны перспективы применения метода при исследовании границ раздела в многослойных синтетических структурах, что имеет важное значение для создания оптимальных технологий их изготовления.

Разработанный программный пакет обработки экспериментальных данных с незначительными изменениями, отражающими специфику взаимодействия с веществом того или иного типа излучения, может быть использована для получения селективной по глубине информации с использованием других типов излучения (нейтронов, синхротронного излучения и т. д.).

Показать весь текст

Список литературы

  1. Р., Мерме Ж.-М., Отто М., Видмер Г. М., Аналитическая химия проблемы и подходы, // пер с анг.- М.:Мир, 2004, с. 728. 2, Oechsner Н., Thin Film and Depth Profile Analysis. // Berlin: Springer, 1985, pp205.
  2. VanselowR., Howe R. (Eds.), Chemistry and Physics of Solid Surfaces IV-VH.// Heidelberg: Springer, 1990, pp 464.
  3. Chu W. K., Nicolet M. A., Mayer J. W., Back Scattering Spectrometry.// New York: Academic Press, 1978. pp. 328
  4. Jamal В., Correlation Spectroscopy of Surfaces, Thin Films, and Nanostructures. Chechester// Wiley, 2004, pp 300.
  5. Komolov S.A. .Total current spectroscopy of surfaces // Gordon and Breach Science Publishers, 1992.- pp 3177.3олотов Ю.А., Основы аналитической химии // М: Высшая школа, 2004, с. 503.
  6. Вудраф.Д., Делчар.Т., Современные методы исследования поверхности // М.:Мир, 1989, с 564 .
  7. Heinrich K.F.J.Electron Beam X-Ray Microanalysis // New York: Van Nostrand-Reinhold, 1981.pp.287.
  8. Дж. и др. .Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ // М.: Мир, 1984.
  9. Goodhew, P.J., Humphreys, F.J.Electron Microscopy and Analisis // London: Taylor and Francis, 1988. pp. 360
  10. Ratner B. .Surface modification of polymers: chemical, biological and surface analytical challenges. // Biosensors & Bioelectronics v. 10, 1995, p.797−805,
  11. Д., Сих M. .Анализ поверхности методами оже- и ренгеновской фотоэлектронной спектроскопии // М.: Мир, 1987.
  12. В.М., Черепин В.Т., Физические методы исследования поверхности твердого тела // М.: Наука, 1983. р.328
  13. Pejova В., Grozdanov I. .Three-dimensional confinement effects in semiconducting zinc selenide quantum dots deposited in thin-film form // Materials Chemistry and Physics, V.90,1.1,2005,P 35−46
  14. Chu W.K., Mayer J.M., Nicolet M.A., Backscattering Spectrometry // New York: Academic Press, 1978. pp 216
  15. Ципенюк Ю.М., Принципы и методы ядерной физики // М.:Энергоатомиздат, 1993 с 362.
  16. Kuk J, Scanning tunneling microscopy // Heidelberg, Springer-Verlag, 1992 pp. 259.
  17. Bonnell, D.A., Scanning Tunneling Microscopy. // New York: VCH1. Publishers, 1993, pp 325.
  18. McMaster T. J. Berry M., Corfield A. P. and Miles M. J. Atomic force microscopy of the submolecular architecture of hydrated ocular mucins., // Biophysical Journal, V.77, 1999, p.533−541
  19. Stolz M., Stoffler D., Aebi U., and Goldsbury C., Monitoring biomolecular interactions by time-lapse atomic force microscopy // Journal of Structural Biology N131, 2000, p.171−180.
  20. Swanson К.Р., Spikerman J.J.Analysis of Thin Surface Layers by Fe Mossbauer Backscattering Spectrometry // J.Appl.Phys., 41 (1970) 31 553 158.
  21. Belozerskii G.N., Bohm C., Ekdahl Т., Liljequist D., Study of very thin surface layers by means of depth selective conversion electron Mossbauer spectroscopy (DCEMS) // Nucl. Instr. Meth., V.192, 1982, p. 539−543.
  22. Белозерский Г. Н. .Мессбауэровская спектроскопия как метод исследования поверхности. // М.: Энергоатомиздат. 1990, 352 с.
  23. Мессбауэровская спектроскопия замороженных растворов. // Пер. с англ. Под ред. А. Вертеша и Д. Надь. М.:Мир. 1998, 398 с.
  24. Vandenberghe R.E., De Grave Е., de Bakker P.M.A., The effect of high external magnetic fields on the hyperfine interactions in the Fe-Ni phases of the Santa Catharina meteorite. // Hyperfine Interactions V. 94, 1994, Pages 2349−2353.
  25. Kuzmann E., Nagy S., Vertes A., Weiszburg, Garg V.K., Geological and Mineralogical Applications of Mossbauer Spectroscopy. In book Nuclear
  26. Methods in Mineralogy and Geology. Eds. Vertes A., Nagy S., Suvegh K. // New York-Plenum. 1998. pp. 285.
  27. Wagner В., Bulska E., e.a., Analysis of Fe valence states in iron-gall inks from XVIth century manuscripts by 57Fe Mossbauer spectroscopy // Analytica Chimica Acta 527 (2004) 195−201
  28. Белозерский Г. Н., Мессбауэровская спектроскопия как метод исследования поверхности // М.: Энергоатомиздат, 1990.
  29. Black P.J., Moon Р.В.Resonant scattering of 14,4 keV lron-57 gamma-rays and its interference with Rayleigh scattering, // Nature, 83 (1964) 941 948.
  30. Moon P.В., Interference between Rayleigh and Nuclear Resonant Scattering of y-rays,// Proc. Roy. Soc., A263 (1961) 309−312.
  31. P.J., Evans D.E., О Connor D.A., Interference between Rayleigh and Nuclear Resonant Scattering in Crystals // Proc. Roy. Soc., A270 (1962) 168−174.
  32. M.A., Гитцович B.H., Семенов В. Г., Уздин В. М., Филичев А.И. .Мессбауэровская спектроскопия полного внешнего отражения: основы метода и его возможности при послойном анализе // Вестник СПбГУ. 1995. Т.4. С. 71−86.
  33. В.Г., Андреева М. А., Иркаев С.М. .Ядерная гамма резонансная оптика поверхности. 1. Методы и аппаратура // Научное приборостроение. 1999. Т9. № 1. С. 19−23.
  34. В.Г., Андреева М. А., Иркаев С. М., Ядерная гамма резонансная оптика поверхности. II. Экспериментальные исследования // Научное приборостроение. 1999. Т9. № 2. С. 3−14.
  35. Wagner Friedrich E., Totalreflexion der ruckstossfrein 8,4 keV gamma-Strahlung des Tm, // Zeitschrift fur Physick, 210 (1968) 361−379.
  36. Bernstein S., Campbell E.C., Nestor C.W. Jr., Optics of the total reflection of nuclear resonant radiation by Fe,// J. Phys. Chem.Sol., 26, 1965, p. 883−894.
  37. Bertin, E.P.Introduction to X-ray Spectrometry Analysis // New York: Plenum Press, 1978.pp. 367
  38. Bichinhoa K.M. .Piresb G. P., e.a., Determination of catalyst metal residues in polymers by X-ray fluorescence // Spectrochimica Acta B.V.60, 1.5, 2005, P 599−604.
  39. Stephens W.E., Calder A., Analysis of non-organic elements in plant foliage using polarised X-ray fluorescence spectrometry // Analytica Chimica Acta 527, 2004, 89−96
  40. Helsen A. and Kuczumow A., Wavelength-dispersive X-ray fluorescence // Handbook of X-ray Spectrometry (second ed.), Marcel Dekker, New York, 2002, pp. 95−198.
  41. Watt, J.S., Radioisotope X-ray Analysis // Handbook of X-ray Spectrometry, Van Grieken R.E., Markowicz A.A., (Eds.), New York: Marcel Dekker, 1993, pp. 359−410.
  42. Kallithrakas-Kontos N., Katsanosa A. A. and Touratsogloub J., Trace element analysis of Alexander the Great’s silver tetradrachms minted in Macedonia // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, V.171, I.3, 2000, P.342−349
  43. Hiroyuki I. and Kawaia J., An X-ray fluorescence spectrometer with a pyroelectric X-ray generator and a secondary target for the determination of Cr in steel // Spectrochimica Acta Part B, V.60, 1.1, 2005, P 89−93.
  44. Klockenkamper R., Total -reflection X-ray fluorescence analysis.,// Wiley, 1997, pp 245.
  45. Weisbrod U., Gutschke R. Knoth. J., Schwenke H. Total reflection X-Ray Fluorescence spectrometry for quantitative surface layer analysis.//
  46. Appl. Phys. A.53, 1991, p449−456.,
  47. Pianetta P., Baur K., Singh A., Brennan S., Kerner J., Werho D. and Wang J. Application of synchrotron radiation to TXRF analysis of metal contamination on silicon wafer surfaces // Thin Solid Films, V 373, 11−2, 2000, 222−226.
  48. Ю.Ф., Грузин П. Л., Нилов К.Е., Мессбауэровская спектроскопия с регистрацией характеристического рентгеновского излучения // М.:МИФИ, 1986.
  49. Yoneda V. Critical Angles of X-Ray Scattering in Total Reflection // Phys. Lett. A, 76(2) (1980) 152−154.
  50. Смирнов Л.А., 0 рентгеновской флуоресценции отражателя при полном внешнем отражении рентгеновских лучей // Оптика и спектроскопия, 56 (1984) 539−548.
  51. Yoneda Y., Anomalous Surface Reflection of X Rays // Phys.Rev., 131 (1963)2010−2013.
  52. Parratt L.G., Surface Studies by Total Reflection of X-Rays // Phys.Rev., 95(1954) 359−370.
  53. Spikerman J.J.Conversion electron Mossbauer spectroscopy.-// Mossbauer Effect Methodology, Ed. Gruverman I.J., New York: Plenum Press, 7(1976)85−96.
  54. M.A., Росете К., Теория отражения от мессбауэровского зеркала. Учет послойных изменений параметров сверхтонких взаимодействий вблизи поверхности // Вестник МГУ, сер. З, физ., астрономия, 27(3) (1986) 57−62.
  55. Swanson К.Р., Spikerman J.J.Analysis of Thin Surface Layers by Fe Mossbauer Backscattering Spectrometry // J.Appl.Phys. 41 (1970) 31 553 158
  56. Hannon J.P., Hung N.V., Trammell G.T., Gerdau E., Mueller M., Rutter R., Winkler H., Grazing-incidence antireflection films. I. Basic theory // Phys.Rev. B, 32(8) (1985) 5068- 5080.
  57. M. К., Sawhney К. J. S., Gowri В., e.a., A simple and precise total reflection X-ray fluorescence spectrometer: construction and its applications // Spectrochimica Acta Part В V.59,I.8,2004,P.1141−1147
  58. Goloba T., Doberseka U., Kumpb P. and Necemerb M., Determination of trace and minor elements in Slovenian honey by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy // Food Chemistry, V.91, I.4, August 2005, P.593−600
  59. Fernandez-Ruiza R. and Bermudezb V., Determination of the Та and Nb ratio in LiNbl-хТахОЗ by total reflection X-ray fluorescence spectrometry // Spectrochimica Acta Part B, V.60,0l.2,2005,P.231−235
  60. Kubala-Kukus A., Braziewicz J. and Pajek M. Total-reflection X-ray fluorescence studies of trace elements in biomedical samples // Spectrochimica Acta Part B, V.59,1.8,2004,P.1283−1289
  61. В.К., Егоров Е.В., РФА ПВО-спектрометрия в условиях формирования возбуждающего пучка рентгеновским волноводом-резонатора // труды рабочего совещания «Рентгеновская оптика 2003», Нижний Новгород, 2003, с. 244−253
  62. ЭО.Виноградов А. В., Брытов И. А., Грудский А. Я. и др. Зеркальная рентгеновская оптика //П.: Машиностроение, 1989, 463 с. 91. Бушуев В. А., Орешко А. П., Теория рентгеновских волноводов // тезисы докладов IV национальной конференции «по применению
  63. Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов», 17 22 ноября 2003 г., Москва, с. 423.
  64. Malaurenta J. C., Duvala H., Chauvineaub J. P., e.a., ln situ X-ray multilayer reflectometry based on the energy dispersive method // Optics Communications, V.173, 1.1−6,2000, P.255−263
  65. Karabulut A., Budaka G., Polatc R., Gurola A., e.a., EDXRF analysis of murgul pyrite ore concentrates // Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer., V.72,l.5,2002,P.741−746
  66. Mohantya A. K., Dasb S. K., Vijayanc V., Sengupta D. and Sahab S. K., Geochemical studies of monazite sands of Chhatrapur beach placer deposit of Orissa, India by PIXE and EDXRF method // Nuclear Instruments and Methods B, V.211, 1.1, 2003, P.145−154
  67. Cesareo R., Castellanob A., e.a., Portable equipment for energy dispersive X-ray fluorescence analysis of Giotto’s frescoes in the Chapel of the Scrovegni // Nuclear Instruments and Methods B, V.213, 2004, P.703−706
  68. Yeunga Z.L.L., Kwokb R.C.W. and Yu K.N., Determination of multielement profiles of street dust using energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF)//Applied Radiation and Isotopes V.58, I.3, 2003, P.339−346
  69. Mandal A. C., Santra S., Mitra D., Sarkar M., Bremsstrahlung excited standardless EDXRF analysis // Nuclear Instruments and Methods B.V.217, 1.1, March 2004, Pages 104−112
  70. Lechner P. et. al. .Silicon drift detectors for high resolution room temperature X-ray spectroscopy // Nucl. Instr. and Meth. A377, 1996, p.346−351.
  71. M.Sampietro, A. Geraci, A. Fazzi and P. Lechner «Advanced experimental application of a digital signal processor in high resolution X-ray spectroscopy // Rev. Sci. Instrum. 66 (11), 1995, P.5381−5382
  72. В.В., Семенов В. Г., Уздин В. М., Многослойные металлические системы Fe/V: магнитная текстура, сверхтонкие поля и моделирование эпитаксиального роста // Известия академии наук. Серия физическая, № 4, том 68, 2004, с. 493−496.
  73. В.Г., Панчук В. В., Семенов В. Г., Формирование пространственно-упорядоченных металл-оксидных наноструктур в процессах транспортного восстановления // Поверхность, рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 1 2004. с 9−14.
  74. Юб.Семенов В. Г., Иркаев С. М., Панчук В. В., Чернэуцану К. П., Скользящая рентгеновская и гамма резонансная оптика для диагностики поверхности // труды рабочего совещания «Рентгеновская оптика 2003», Нижний Новгород 2003, с.488
  75. Semenov V.G., Panchuck V.V., Irkaev S.M., Tcherneoutsanou K.P.,
  76. Ю8.Панчук В. В., Иркаев С. М., Курочкин В. Е., Макаров Н. А., Семенов В. Г., Универсальный приборный комплекс для вещественного анализа поверхности // тезисы докладов 2 Всероссийской конференции «Аналитические приборы», Санкт-Петербург., 2005.
  77. В.Г., Иркаев С. М., Панчук В. В., Чернэуцану К. П., Скользящая рентгеновская и гамма резонансная оптика для диагностики поверхности // Известия академии наук. Серия физическая, № 4, том 68, 2004, с. 497−500.
  78. Panchuck V. V., Semenov V. G., Uzdin V. M., The Investigation of the Magnetic Properties of Metallic Multilayers by Angle Dependent Mossbauer Spectroscopy // Hyperfine Interactions, 2004, V. 156, I. 1, pp. 643−647
  79. Meisel W., Applications of Mossbauer Spectroscopy in corrosion research // Trends in Mossbauer Spectroscopy, Eds. Gutlich P., Kalvius G.M., Univ. Mainz: FRG, 1983, p. 15−26.
  80. Ю.Ф., Суздалев И. П., Магнитные свойства ультрамалых частиц окиси железа //ЖЭТФ 65(6), 1973, с. 1715−1726.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!