Содержание
Целью настоящей работы являлось исследование закономерностей формирования электрических и магнитных свойств эпитаксиальных феррошпинельных пленок с S-образной вольтамперной характеристикой во взаимосвязи с их реальной структурой, формируемой при различных условиях синтеза и последующего окисления. Объектами исследования служили эпитаксиальные пленки железо-никелевого феррита, выращенные на подложке оксида магния (MgO) с ориентацией [100]. Для достижения указанной цели, с учетом проведенного анализа состояния проблемы, в работе решались следующие основные задачи:
— подбор условий и режимов синтеза пленок, обладающих S-образной
— исследование кристаллографических, электрических и магнитных параметров синтезируемых пленок системы Ni-Fe-Mg-О в зависимости от состава, условий синтеза и обработки в окислительно-восстановительных средах-
— анализ и сопоставление методик определения характеристик эпитаксиальных ферритовых пленок с использованием данных ферромагнитного резонанса (ФМР) и мессбауэровской спектроскопии, разработка программного продукта для обработки спектров ФМР- исследование статических и импульсных нелинейных вольтамперных характеристик шпинельных пленок-
— исследование влияния на свойства пленок никелевого феррита напряжений несоответствия параметров между пленкой и подложкой-
— изучение зависимости характеристик колебаний, возникающих в экспериментальном генераторе разработанной на базе шпинельной пленке в качестве активного элемента, от параметров ВАХ и элементов схемы.
Научная новизна:
— с помощью комплекса инструментальных методов впервые исследовано влияние условий синтеза и последующего окисления феррошпинельных пленок на их структурные и электромагнитные характеристики, в том числе, на параметры S-образной ВАХ-
— установлено, что в тетраэдрических узлах кристаллической решетки эпитаксиальных пленок на основе никелевого феррита содержится значительная доля ионов Ni2+, что стимулируется упругими напряжениями несоответствия параметров «пленка-подложка», реализуется благодаря вакансионному механизму перераспределения катионов и лимитируется величиной отклонения содержания кислорода от стехиометрической, а также избыточной концентрацией железа-
-установлено влияние внутренних напряжений, обусловленных несоответствием параметров кристаллической решетки гетероструктур системы Ni-Fe-Mg-O, на электромагнитные свойства, выявлены причины несоответствия значения угла отклонения вектора намагниченности от нормали, найденного методом мессбауэровской спектроскопии, значению угла выхода, рассчитанного исходя из данных рассогласования параметров решеток пленки и подложки-
— установлено, что с увеличением степени окисления увеличивается поле переключения в высокопроводящее состояние, выявлены закономерности изменения намагниченности насыщения и константы анизотропии-
— установлены закономерности переключения пленок в импульсных электрических полях-
— установлены корреляции параметров спектров ФМР и ЯГРС феррошпинельных пленок-
— предложена аналитическая модель, объясняющая структурные особенности феррошпинельных пленок и изменения эффективного поля магнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактора спектроскопического расщепления, удельной проводимости, порогового поля переключения пленок с S-образной ВАХ в результате окисления.
Практическая ценность.
Уточнены и отработаны режимы синтеза и последующей обработки пленок на основе никелевого феррита, обладающих эффектом электрического переключения.
Установленные закономерности влияния физико-химических изменений, происходящих при окислительно-восстановительных процессах в эпитаксиальных феррошпинельных пленках, на их электромагнитные параметры создают основу для улучшения характеристик эпитаксиальных гетероструктур и формирования образцов с заданными свойствами.
Создана и исследована усовершенствованная схема генератора электромагнитных колебаний на ферримагнитном полупроводнике.
Разработаны методика и программный продукт, обеспечивающие расчет магнитных параметров — полей магнитокристалической и наведенной анизотропии, фактора спектроскопического расщепления эпитаксиальных феррошпинельных пленок по параметрам спектров ФМР
Предложенная аналитическая модель, объясняющая структурные и электромагнитные характеристики феррошпинельных пленок, позволяет при известных (из независимых измерений) значениях намагниченности насыщения и константы наведенной анизотропии определять степень релаксации напряжений и концентрацию дислокаций несоответствия в гетероструктуре.
Научные результаты и положения, выносимые на защиту:
— режимы, условия синтеза и последующих обработок эпитаксиальных пленок на основе никелевого феррита, обладающих эффектом электрического переключения-
— влияние окисления на электронно-ионное разупорядочение и электромагнитные свойства гетероструктур оксидных ферримагнетиков, в том числе на пороговое поле переключения пленок с S-образной ВАХ-
— методики определения магнитных и структурных характеристик эпитаксиальных пленок по комплексу экспериментальных данных, полученных различными методами-
— представления об условиях, причинах и механизмах нахождения в тетраэдрических узлах кристаллической решетки эпитаксиальных пленок на основе никелевого феррита значительной доли ионов Ni2±
— представления о влиянии внутренних напряжений, обусловленных несоответствием параметров кристаллической решетки гетероструктур системы Ni-Fe-Mg-O, на их электромагнитные свойства, и о причинах несоответствия значения угла отклонения вектора намагниченности от нормали, найденного методом мессбауэровской спектроскопии, значению угла выхода-
— представления о природе S-образной ВАХ, закономерности переключения пленок в импульсных электрических полях и генерации колебаний-
— корреляция параметров спектров ФМР и ЯГРС феррошпинельных пленок никелевого феррита-
— аналитическая модель, объясняющая структурные особенности феррошпинельных пленок и изменения эффективного поля магнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактора спектроскопического расщепления, удельной проводимости, порогового поля переключения пленок с S-образной ВАХ в результате окисления.
Апробация работы:
Основные результаты диссертационной работы доложены и обсуждены на Евро-Азиатском симпозиуме «Тенденции в магнетизме»,
EASTMAG-2001 (Екатеринбург, Россия, 2001 г.), Объединенном Европейском симпозиуме по магнетизму EMMA-MRM (JEMS'01), (Гренобль, Франция, 2001 г.), XVIII международной школе-семинаре «Новые магнитные материалы микроэлектроники», (Москва, МГУ, 2002 г.), IV и VI международном семинаре «Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении», (Астрахань, Россия, 2002 г., 2006 г.), 16-й конференции «Магнитомягкие материалы», (Дюссельдорф, Германия, 2003 г.), V Российско-японском семинаре «Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники», (Саратов, Россия, 2007 г.).
Публикации:
По материалам диссертации опубликовано 14 работ (6 статей, 8 тезисов докладов).
Структура и объем работы:
Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка цитируемой литературы и
приложения. Работа изложена на 125 страницах и включает 42 рисунка, 10 таблиц. Библиографический
список содержит 130 наименований.
1. Современные представления о структуре, нестехиометрии и свойствах оксидных феррошпинелей. 1.1. Структура ферритов — шпинелей 1.1.1 Общие положения
Большинство нашедших практическое применение ферритов имеет кристаллическую структуру типа шпинели. Вообще, во многих окислах металлов, и особенно металлов с низкой валентностью ионов, ионы кислорода
Оимеющие большой ионный радиус (радиус иона кислорода составляет 1,32 А), образуют кубическую решетку плотнейшей упаковки- в промежутках между узлами этой решетки упорядоченно расположено определенное число ионов металлов с малым ионным радиусом. Кристаллы типа шпинели (MgAl204) охватывают весьма широкий круг окислов, обладающих такой кристаллической структурой. Они относятся к пространственной группе Oh — F3dm (кубическая система) и выражаются общей формулой
Рис. 1. Расположение ионов, А внутри элементарной решетки (* - обозначает упорядоченное расположение)
Рис. 2. Расположение ионов В внутри элементарной решетки (* - обозначает упорядоченное расположение)
А В 2O4. Случай, когда В являются ионами Fe, соответствует ферритам. [1−9]
Внутри элементарной ячейки существуют два вида положений, которые могут принять ионы металлов. Первое из них называется тетраэдрическим положением, (А-положением), а второе — октаэдрическим положением, (В-положением). Одна элементарная ячейка включает в себя 8 молекул (8АВ2О4). На рис. 1 и 2 показано расположение внутри элементарной ячейки соответственно ионов, А и В.
В стехиометрических кристаллах шпинели сумма положительных зарядов ионов, А и В равна 8 единицам, поэтому может быть несколько комбинаций валентностей, принимаемых ионами, А и В. Случаи, когда комбинации, А: В составляют 6:1, 4:2 и 2:3, называются соответственно 6—1, 4—2 и 2—3-шпинелями. Ферриты двухвалентных металлов обычно относятся к 2—3 — шпинелям. Постоянная решетки составляет около 8,5 А.
Вопрос о том, как ионы металлов двух видов распределены в подрешетках, А и В кристалла шпинели, имеет весьма важное значение по следующим соображениям. Во-первых, вид иона металла определяет его стремление занять то или иное положение. Во-вторых, в тех случаях, когда ионы металлов являются магнитными ионами, при распределении этих магнитных ионов в решетках, А и В усиливается тенденция к взаимному антипараллелизму спиновых магнитных моментов ионов обеих решеток.
В случае феррита MeFe204 логично предположить, что ионы Me занимают А-положения, а ионы Fe3+ — В-положения. Ферриты с таким расположением ионов называются ферритами типа нормальной шпинели- они выражаются формулой Me +[Fe2 ]04. Здесь в скобках указаны ионы, занимающие В-положения. Однако возможны случаи, когда половина ионов Fe3+ занимает А-подрешетку, а другая половина ионов Fe3+ и ионы Me беспорядочно занимают В-подрешетку. Такие ферриты называются ферритами типа обращенной шпинели [2,3]. В отличие от ферритов типа нормальной шпинели их записывают в виде Fe3+ [Me2+Fe3+]C>4. К ферритам типа нормальной шпинели относятся ферриты цинка и кадмия [1−3].
Возможно также такое распределение ионов, которое является промежуточным между нормальной и обращенной шпинелями. Строение такого рода ферритов можно выразить общей формулой j I 2+ 2+
Fei.x Мех [Mej.x Fei+X ]С>4. Если х = 0 или х = 1, то возникает соответственно либо обращенная, либо нормальная шпинель. Промежуточное состояние, когда 1 >jc>0, легко образуется при высоких температурах- при понижении температуры происходит переход либо к случаю х = 1, либо к случаю х = 0. Устойчивое состояние х = 0,1 обычно получить нельзя, если не сохраняется термическое равновесие до сравнительно низкой температуры. Известно [1,2], что у ферритов магния и меди х соответствует закону распределения Больцмана *) -Е/кТ
Здесь Е — энергия, требуемая для перехода ионов Ме2+ из В- в А-положение и перехода ионов Fe3+ из А- в В-положение.
Если оставить в стороне указанное понятие энергии решетки, то и в этом случае наблюдается различие между отдельными ионами в отношении избирательности положения, А или В. Даже в том случае, когда ионы имеют равные радиусы и равные заряды, например при получении ферритов с
Л I I ионами Zn и Со, феррит цинка Zn[Fe2]04 образует структуру нормальной шпинели, а кобальтовый феррит Fe[CoFe]04, наоборот, — структуру обращенной шпинели. Одной из причин, обусловливающих такое совершенно различное поведение в отношении распределения ионов, является влияние конфигурации электронных оболочек в ионе. В целом ионы металлов можно подразделить по расположению электронов следующим образом.
1. Ионы Li+, Mg2+, Al3+, Ti4+, имеющие электронную оболочку типа электронной оболочки атомов инертных газов, а также ионы Mn, Fe, имеющие незаполненную Зё-оболочку. Эти ионы появляются в обоих положениях (А и В). В данном случае устойчивое распределение ионов определяется радиусом и зарядом.
2. Ионы Ag+, Zn2+, Ga3+, Ge4+, Cd2+, In3+, Sn4+, имеющие заполненную d-оболочку. Эти ионы в большинстве случаев стремятся в А-положение. Тот факт, что ионы
Zn, CdZT занимают, как правило, А-положение, объясняется тенденцией этих ионов образовывать общую связь с О2″.
3. Ионы Ni, Cr, Fe обнаруживают сильную тенденцию к избранию В-положения. Это также объясняется общей связью либо влиянием энергии электронной связи в кристаллическом поле [2,7−10].
Если шпинель содержит три и более различных видов ионов, то ионы, обнаруживающие тенденцию стремиться в определенное положение, также, очевидно, займут это положение. Например, ионы Zn будут в положении А, а ионы Ni2+ — в положении В.
Намагниченность насыщения
В механизме возникновения намагниченности важную роль играет структура кристалла. Это было показано Неелем на структуре шпинели.
Предположим, что между двумя видами ионных групп в шпинельных ферритах, а именно между ионами подрешетки, А (ниже называемыми ионами А) и ионами подрешетки В (ниже называемыми ионами В), происходит сильное отрицательное обменное взаимодействие и что между самими ионами, А и между ионами В имеет место чрезвычайно слабое отрицательное обменное взаимодействие. В этом случае спины ионов, А и спины ионов В взаимно-антипараллельны, и, даже если одновременно и возникает антипараллельность среди спинов ионов, А и спинов ионов В, вследствие сильного взаимодействия А—В внутри каждой подрешетки, спины станут взаимно-параллельными. Следовательно, в целом спиновый магнитный момент Ms можно выразить как разность между спиновым магнитным моментом ионов А—Мм и спиновым магнитным моментом ионов В — Мо?:
У ферритов со структурой обращенной шпинели направление спина указывается стрелкой результирующий магнитный момент становится равным магнитному результирующий магнитный момент аналогичным образом может быть выражен суммой двух и более магнитных моментов ионов двухвалентных металлов. Неель показал, что рассчитанные по формуле (2) значения насыщения для простых ферритов совпадают с экспериментальными данными.
А&-| = |Mas-Mbs| (2)
Магнитные моменты ионов железа Fe3+ взаимно компенсируются, и моменту только ионов Me. В случае смешанных ферритов
Таблица 1.
Спиновый магнитный момент ионов переходных элементов в магнетонах Бора)
Ионы Мп Мп Мп2+ Fe Fe2+ Со Со3+ Со2+ Ni2+ Cu2+
Число Зс1-электронов
Число непарных 3dэлектронов (спиновый магнитный момент)
Для таких окислов, как ферриты, спиновый магнитный момент магнитных ионов может быть выражен числом непарных Зё-электронов, как показано в табл. 1.
Если предположить, что ферриты не имеют совершенной структуры обращенной шпинели, то часть ионов Me переходит из положения В в положение А, а чтобы компенсировать этот переход, должен иметь место также обратный переход части ионов Fe3+ из положения, А в положение В. Такая структура обычно выражается следующим образом:
FetMe2-
Если обозначить магнитный момент ионов Ме2+ через т, намагниченность насыщения Ms в данном случае мо жет быть выражена, согласно формуле (2), следующим уравнением:
Ms= 10х + т (1 — 2х). (3)
Таблица 2.
Влияние термообработки на намагниченность насыщения простых ферритов
Феррит Термообработка Экспериментальное значение Ms (в магнетонах Бора) Термообработка Экспериментальн ое значение Ms (в магнетонах Бора)
MgFe2C>4 24 час, 700 °C 1,1 Быстрое охлаждение от 1250 °C 1,
NiFe204 Медленное охлаждение 2,3 Быстрое охлаждение от 1250 °C 2,
Отсюда можно заключить, что у магниевого феррита, несмотря на т = О, возникает намагниченность насыщения, соответствующая порядку х. Как видно из табл. 2, у магниевого феррита на намагниченность насыщения влияет термическая обработка- при быстром охлаждении от высокой температуры намагниченность насыщения возрастает. Причина этого явления состоит, очевидно, в том, что при быстром охлаждении «фиксируется» состояние высокой температуры, при которой х имеет большую величину. В противоположность этому у никелевого феррита значение Ms остается неизменным как при быстром, так и при медленном охлаждении, откуда можно заключить, что при любом состоянии их структура полностью соответствует обращенной шпинели. Поэтому указанное в табл. 2 совпадение значений для никелевого феррита обусловлено, по-видимому, тем, что значение g-фактора ионов Ni более 2. По эффективной величине g^, полученной на основании магнитного резонансного поглощения, было установлено, что аналогично никелевому ферриту железный, кобальтовый и медный ферриты также имеют g>2 [14,7]. У магниевого и литиевого ферритов орбитальный магнитный момент отсутствует и поэтому экспериментальные данные совпадают со значениями, рассчитанными для случая g=2.
Атомные механизмы диффузии в твердых телах.
Вакансионный механизм. При наличии вакансии в объеме или поверхностном слое решетки какой-либо из соседних с ней атомов может скачком занять ее место (рис. 3), а вакансия займет место атома. Многократное повторение такого акта и будет представлять собой диффузию атомов в одном направлении и соответственно диффузию вакансий в обратном. Однако даже при переходе атомов в соседнюю вакансию, находящуюся в ближайшей координационной сфере, они должны преодолеть определенный энергетический барьер. Это вызвано необходимостью частичного разрыва связей с атомами, соседними в исходном состоянии, и упругого смещения атомов, окружающих вакансию. Если атом переходит в вакансию, расположенную во второй координационной сфере, то это смещение еще больше, а барьер соответственно еще выше.
Рис. 3 Возможные механизмы диффузии: 1 — вакансионный- 2 -межузельный- 3 — межузельное вытеснение- 4 — краудионный- 5 -обменный- 6 — кольцевой
Энергетический барьер, который атому необходимо преодолеть для перехода в имеющуюся соседнюю вакансию, представляет собой энергию активации миграции по вакансиям QmV. В общем же случае для диффузии по вакансионному механизму нужно еще затратить энергию на образование вакансии Qv. Таким образом, суммарная энергия активации диффузии по вакансионному механизму равна
QlV ~Qv+ QmV (4)
В результате выражение для вероятности перескоков атомов по вакансиям имеет вид f = cZKvexp-^L -ехр-^Ч (5) кТ) Ч кТ
Здесь с — константа, близкая к 1- ZK — координационное число- v — частота колебаний атомов.
Значения QVi и QmV для самодиффузии некоторых элементов приведены в табл. 3. [19]
Вакансионный механизм является основным для самодиффузии (см. ниже) и гетеродиффузии примесей замещения. Энергия активации гетеродиффузии по вакансионному механизму, как правило, меньше, а скорость диффузии больше, чем в случае самодиффузии.
Таблица 3.
Значения энергий активации самодиффузии по вакансионному механизму, эВ
Энергия активации Si, K4 Ge, K4 Си, K12 Al, K12 Fea, K8 Zn, Г
Qiv 4,5 — 5,5 2,5−4,0 2,2 1,5 2,7 1,
Qv 3,5−4,0 2,0−3,0 — - -
QmV 1,0−1,5 0,5−1,0 — - -
Важнейшим следствием, вытекающим из сказанного выше, является высокая чувствительность скорости диффузии по вакансионному механизму к структурным дефектам. Наличие вакансий, а также источников внутри кристалла, облегчающих образование вакансий (дислокаций и их порогов и др.), способствует уменьшению энергий активации диффузии по вакансионному механизму и ускорению последней. [19]
Диссоциативная диффузия. В полупроводниках с решеткой алмаза весьма распространена так называемая диссоциативная диффузия, механизм которой состоит как бы из нескольких процессов: формирования дефекта Френкеля, независимой миграции образовавшихся вакансии и межузельного атома, рекомбинации последнего с встретившейся вакансией. При этом одновременно часть примеси диффундирует по межузельному, а часть — по вакансионному механизму. Типичным примером является диффузия меди в кремнии, германии и арсениде галлия. Медь, размещаясь в узлах, ведет себя как донор. Но реально наблюдаемая скорость диффузии оказывается значительно больше, чем следовало ожидать, исходя из вакансионного механизма диффузии, и гораздо меньше, чем должна быть при межузельном механизме диффузии.
Франк и Тарнбалл предположили, что элементарному акту диффузии акцепторной меди предшествует диссоциация с образованием межузельной донорной меди Симу. и вакансии в кремнии Vsi- Затем Сим.у. и вакансия диффундируют раздельно с разной скоростью, причем Сим.у. диффундирует быстрее, но только до встречи с другой вакансией. При рекомбинации атом меди вновь размещается в узле решетки CuSi. В результате создается видимость аномально быстрой диффузии акцепторной меди, расположенной в узлах решетки, Сиу
Реальная ситуация будет зависеть от того, установилось ли равновесие между медью в разных состояниях и каково соотношение между Сим.у. и Сиу по реакции
Cuy^CuMy+Vs, (6)
Скорость установления равновесия, соответствующего этой реакции, и значение концентраций Сиу и Сим.у. резко зависят от температуры, наличия источников вакансий и др.
Суммарный процесс диффузии примеси в таком случае можно описать как процесс, скорость которого определяется эффективным коэффициентом диффузии ВЭф, зависящим от полной концентрации примеси С, равной сумме концентраций примеси в узлах Су и междоузлиях Сим у., от доли Cv и Сим.у., а также от коэффициентов диффузии примеси по узлам Dy и междоузлиям DM y: эф м.у.? у ?
В несовершенных кристаллах с большой плотностью дислокаций быстро достигается высокая равновесная концентрация вакансий. Каждый межузельный ион примеси находится в состоянии высокой подвижности лишь небольшую долю времени, соответствующую соотношению Симу/С.
Эффективный коэффициент диффузии для этого случая лимитируется диффузией примеси по междоузлиям и равен г л =г>
Отсюда следует, что чем больше Сим. у/С (как правило, оно тем больше, чем выше температура), тем ближе будет D3(ll к DM.y.
В совершенных кристаллах с малой плотностью дислокаций присутствие примеси в узлах зависит от притока вакансий, поступающих в кристалл в результате диффузии от поверхности. Концентрация вакансий будет меньше ее равновесного значения для данной температуры и тем меньше, чем ниже температура. При этом D^ лимитируется диссоциативным механизмом, при котором Сиу переходит в Симу. оставляя за собой вакансию. Далее Симу- и V диффундируют независимо. В этом случае коэффициент диссоциативной диффузии можно выразить как С&bdquo- эф V у-, где CVp, Су.р. — равновесные концентрации вакансий и узельных атомов соответственно- Су/(Сур + Су.р.) — доля относительного времени, в течение которого вакансии не связаны с межузельными атомами. [19]
1.1.2. Эпитаксиальные структуры ферритов шпинелей
Пленки ферритов—шпинелей обычно выращиваются методами химических газотранспортных реакций (ХГТР) или жидкофазной эпитаксии [10−18,20,21]. В данной работе изучаются пленки, полученные первым методом с использованием НС1 в качестве газа-носителя [18,20].
Согласно [15,16,18], перенос вещества ферритов марганца и никеля осуществляется хлоридами соответствующих двухвалентных металлов, причем составы образующихся пленок смещающихся от стехиометрии в сторону обогащения марганцем и обеднения никелем, соответственно.
Введение дополнительного количества кислорода также изменяет стехиометрию переносимого марганцевого феррита в указанную сторону. Плохо переносится хлоридом водорода алюминий, а атомы лития переносятся парами воды [20].
При синтезе гетероэпитаксиальной структуры условия формирования тонкого слоя являются аномальными по сравнению с условиями образования массивного кристалла [23]. Под влиянием поля подложки, в процессе роста пленочных монокристаллических ферритов могут происходить такие изменения их характеристик, которые обусловливают приближение к идеальному соответствию кристаллических структур пленки и подложки [23]. Изменяться могут катионный состав, содержание кислорода, распределение катионов по неэквивалентным узлам кристаллической решетки, концентрация и распределение дефектов. Так, например, в случае малого несоответствия периодов решетки сопрягающихся материалов, оказывается возможным эффект стабилизации состава [24], заключающийся в том, что концентрация компонентов твердого раствора эпитаксиального слоя практически не изменяется при варьировании состава источника вещества. При этом граница раздела остается когерентной, а отклонению состава твердого раствора от изопериодного с подложкой препятствует возникновение упругих напряжений. Существенная стабилизация состава возможна лишь при достаточно большом отклонении твердого раствора от идеальности [24,25], например, вблизи спинодали [24]. Впрочем, размерное несоответствие само может вызывать в эпитаксиальных пленках структурный фазовый переход типа спинодального распада [24].
При значительных нарушениях стехиометрического состава пленок могут выделяться сторонние фазы, например, в виде дендритов (рис. 4).
Рис. 4. Дендритная форма роста пленки [85]
Одним из важнейших источников дефектов в эпитаксиальных структурах являются напряжения, возникающие в процессе выращивания или последующего охлаждения структур. К основным причинам появления напряжений относятся [24,27,28]: различие параметров решеток материалов пленки и подложки при температуре эпитаксии- различие температурных коэффициентов линейного расширения сопрягающихся материалов- наличие градиента состава по толщине эпитаксиального слоя- повышенная концентрация дефектов структуры на границах раздела (рис. 5).
Рис. 5 Схема образования краевых дислокаций несоответствия на границе раздела двух кристаллов с кубической решеткой- аоь аог — соответствующие постоянные решетки- Ld — расстояние между дислокациями.
Исследованы механизмы зародышеобразования, структура, внутренние напряжения, распределение дислокаций на различных стадиях гетероэпитаксиального роста ферритовых пленок в зависимости от состава и условий выращивания. Показано, что при температуре синтеза до 1200К наблюдается только скольжение дислокаций, а выше 1370 К начинается их переползание [32]. При больших скоростях роста (около Юмкм/мин), обусловленных повышенными температурами или давлением НС1, возникает столбчатая структура пленок [32]. Вообще следует отметить, что ухудшение совершенства эпитаксиальных слоев по мере увеличения скорости их осаждения является достаточно универсальной закономерностью (рис. 8). [32−34]
Рис. 6 Последовательные стадии формирования пленки: тангенциальное движение исходных ступеней поверхности (а), сочетание образования зародышей на ступенях с их движением (б), тангенциальное и нормальное движение ступеней образовавшихся зародышей (в), нормальный рост пленки (г).
При осаждении ферритовой пленки на подложку из монокристалла MgO происходит взаимная диффузия компонентов с образованием переходного слоя переменного состава по толщине, содержащего твердые растворы этих компонентов [34]. Переходной слой может уменьшить возникающие механические напряжения за счет сглаживания несоответствия параметров решеток пленки и подложки [33,34]. Согласноt ri.".,.h. оценкам [32], толщина переходной области составляет несколько атомных слоев- в работах [32,33] изменение состава пленки по толщине отрицается, а в [34] не учитывается. В то же время, по нашим данным [85], существенные изменения состава имеют место в слоях толщиной до 10 мкм, что непременно сказывается на свойствах пленок. Коэффициенты переноса элементов сложным образом зависят от состава материала источника, скорости роста, толщины пленок и их автолегирования магнием из подложки [32]. При анализе этих зависимостей следует учитывать уменьшение ростовой скорости по мере увеличения продолжительности процесса выращивания [18].
1.2 Отклонение от стехиометрии по кислороду в твердых ферритообразующих растворах
Точный стехиометрический состав кристаллических соединений является скорее исключением, чем правилом, поскольку в реальных кристаллах всегда присутствуют дефекты. Однако в большинстве простых веществ, двойных и более сложных соединений концентрация дефектов (вакансий или межузельных атомов) достаточно мала. [22]
Поскольку абсолютно бездефектных кристаллов при температуре 7>0К не существует, то само по себе наличие дефектов не является признаком нестехиометрии. Существенным признаком нестехиометрии является наблюдаемое несоответствие химического состава соединения концентрации узлов кристаллической решетки, занимаемых компонентами соединения. Нестехиометрия возможна только для двух- и многокомпонентных веществ.
Существуют соединения, в которых при обычных условиях концентрация таких дефектов как вакансии весьма велика. По-видимому, наиболее известным из них является вюстит FeO. Он всегда содержит избыточное количество кислорода, обусловленное наличием вакансий в подрешетке железа, и не существует в стехиометрическом состоянии- например, при 1300 К вюстит имеет состав Fe0,88O. При высоких температурах область гомогенности вюстита простирается от Fe0,8sO до Fe0,96O и не включает стехиометрический состав. Несовпадение области гомогенности соединения с его стехиометрическим составом — довольно распространенное явление. Значительные отклонения от стехиометрии с образованием вакансий в подрешетке металла наблюдаются у сульфидов железа и меди Fe0−85S и Cu^S, имеющих структуру типа 58 (NiAs). Большие отклонения от стехиометрии с вакансиями в подрешетке кислорода характерны для высших оксидов переходных металлов Ti02, V2O5, Се02, U02, М0О3, W03 и других. [22]
Структурные вакансии могут возникать не только в двойных, но и в тройных и более сложных соединениях. С точки зрения кристаллографии наличие структурных вакансий является следствием несовпадения химического состава соединения, т. е. относительного числа атомов разных сортов, с относительным числом узлов разных кристаллических подрешеток, на которых эти атомы размещаются (рис. 7). С физической точки зрения причиной образования структурных вакансий является следующее. Если химический состав соединения не соответствует кристаллической структуре, и атомы одной подрешетки не могут занимать узлы другой подрешетки, т. е. образование антиструктурных дефектов энергетически невозможно, тогда в кристалле образуются структурные вакансии.
Специфика структурных вакансий как дефектов состоит в том, что их концентрация непосредственно связана с химическим составом не-стехиометрического соединения и может достигать нескольких десятков атомных процентов. В нестехиометрических соединениях структурные вакансии являются аналогами атомов, т. е. квазичастицами в своей подрешетке они выполняют такую же роль, как и атомы этой подрешетки. В большинстве нестехиометрических соединений структурные вакансии имеются только в одной подрешетке. Однако известны нестехиометрические соединения, которые содержат структурные вакансии в двух подрешетках- в зависимости от состава соединения концентрация структурных вакансий в подрешетках может одинаковой или разной.
§ о|о§ о офофо^о© о®>о@оЦ)о© ® м ох мхуПху ®офо@о@о
OlOfO^Dl
О | О I о ® о ®
§-0®-0®-П®- о@>о@о (c)о® Структурная вакансия
Рис. 7 Структурная вакансия в нестехиометрическом соединении. Показаны соединение MXi. o не содержащее структурных вакансий, и соединение МХУП|.У со структурными вакансиями
С формальной точки зрения вакантные узлы кристаллической решетки ведут себя как атомы, занимающие узлы той же решетки. По этой причине структурные вакансии рассматривают не просто как «дырки» в кристаллической решетке, но как некий аналог атомов. Отклонение от стехиометрии и обусловленную им область гомогенности можно рассматривать как раствор замещения, компонентами которого являются атомы и вакансии. Таким образом, в структуре нестехиометрического соединения вакансии и атомы образуют раствор замещения, который может быть неупорядоченным или упорядоченным.
В нестехиометрических соединениях раствор замещения образуют атомы и структурные вакансии, находящиеся в одной подрешетке. Поэтому в структуре нестехиометрических соединений тоже можно выделить две противоположные тенденции — упорядочение и разупорядочение. Упорядоченное распределение вакансий более вероятно при низких температурах, а неупорядоченное распределение существует при высокой температуре, когда энтропийный вклад в свободную энергию нестехиометрического соединения достаточно велик. Полностью упорядоченное и полностью неупорядоченное распределения — предельные состояния нестехиометрического соединения.
Таким образом, явление нестехиометрии тесно связано с упорядочением и разупорядочением. Более того, именно наличие нестехиометрии является предпосылкой для беспорядка или порядка в распределении атомов и вакансий в структуре нестехиометрического соединения. Аспекты нестехиометрии, беспорядка и порядка можно увидеть на примере сильно нестехиометрических соединений (карбидов, нитридов и оксидов переходных металлов IV и V групп, сложных оксидов щелочных металлов типа Lii.x.zMi+x02), сплавов и растворов замещения. [21]
Как известно, равновесные термодинамические условия образования однофазной структуры оксидных ферримагнетиков характеризуются диаграммами состояния, связывающими их состав, температуру Т и парциальное давление кислорода Р02 в газовой фазе.
Величина отклонений содержания в ферритах кислорода от стехиометрического (параметр у в формуле Me Fe204+7) определяется соответствующей изоконцентрационной линией диаграммы состояния в координатах Т 1, lg Р0г. При потере кислорода (у<0) в ферритах образуются внедренные катионы или анионные вакансии (возможно также их сосуществование), а в результате окисления (у>0) — катионные вакансии (внедрение в междоузлия крупных анионов кислорода является маловероятным). [37,38−51,85]. С величиной у однозначно связана средняя концентрация точечных дефектов, обусловленных отклонением от стехиометрии, а также количество характеризующих их катионов переменной валентности.
Отклонение содержания кислорода от стехиометрического может рассматриваться как появление в твердых растворах новых компонентов, причем при отсутствии термодинамического равновесия концентрация последних является неоднозначной функцией условий синтеза. [51,85]
При окислении [39,40], возможно образование твердого раствора стехиометрического феррита с у-оксидом железа и компонентами типа Ме304.
Учитывая, что область гомогенности магнетита может быть представлена как ограниченный твердый раствор магнетита с изоструктурным ему у-оксидом железа [41], в составах, содержащих Рез04, при поглощении ими кислорода ожидается существование компонентов типа Fe304 и Fe8/304. [41] Поэтому уравнение реакции окисления твердого раствора, образовавшегося в результате диссоциации стехиометрического феррита, может быть записано в следующем виде:
MeFep, M +102 = [l-
§-у-S (l-z))]Me^q, + y-S{-z) хМфъ + ^(l-x)M?404)+ g X ^ j (10) 2ly-S)Fei0A±&Fesn
Величина z определяет соотношение между частями окисленного магнетита, одна из которых взаимодействует с компонентами типа МезОз, Ме404, а другая переходит в Fe8/304: при z = 1 осуществляется только переход магнетита в у-оксид железа, а при z = 0 идет только реакция Fe304 с Ме303, Ме404.
Параметры у, 8, х, у, z не задаются априори, а находятся из экспериментальных данных о составе и комплексе свойств твердых растворов.
От концентрации кислорода так же существенно зависит период кристаллической решетки. Для рассматриваемых растворов справедливо правило аддитивности Вегарда. Поэтому параметры кристаллической решетки восстановленного (ав) и окисленного (а0) феррита можно вычислять по формулам: а =(0,8340+0,0054х-0,1977/) —, а0-ав+ (ОД9118−0,0018&-)—-— (11)
4-у 4-y+S
В связи с этим, особый интерес представляет изучение воздействия окислительных процессов, на внутренние структурные изменения ферримагнитных материалов. [42,85]
1.3 Виды и природа нелинейных вольтамперных характеристик
Темпы прогресса многих отраслей науки и техники непосредственносвязаны с достижениями в создании новых материалов, в том числе, дляперспективных приборов и устройств магнитной и спиновой электроники. Разработки устройств на новых физических принципах функционирования, дальнейшее повышение степени их интеграции и быстродействия требуютналичия материалов с необходимым сочетанием различных свойств (магнитных, электрических, оптических и т. д.), позволяющих создаватьэлементы электронных схем с характерными размерами микроинанометрового диапазонов. Возможность получения пленок оксидныхферримагнетиков, в частности, феррошпинелей, с нелинейнымиэлектрическими характеристиками позволяет считать их перспективнымидля применения в магнитополупроводниковых устройствах. Монокристаллические феррошпинельные пленки привлекают вниманиеисследователей не только в связи с перспективами их техническогоиспользования, но и как интересные модельные объекты для изучениявлияния отклонений от стехиометрии, разупорядочения имикронеоднородностей на магнитные и электрические характеристикитвердых тел, воздействия на них процессов окисления, восстановления, термообработки и др. Хотя природа проводимости феррошпинелей и других оксидовпереходных металлов в целом установлена, применительно кэпитаксиальным шпинельным пленкам связь нелинейных эффектов среальной структурой последних во взаимосвязи с условиями синтезаизучена недостаточно. Явление электрического переключения, характеризующеесявольтамперной характеристикой (ВАХ) Sтипа, наблюдается в обширнойгруппе материалов: оксидах переходных металлов, ферритах со структуройшпинели и граната и др. Установлен ряд общих закономерностей поведенияS-BAX оксидов, механизм переключения которых может быть объяснен спомощью комбинации электротермической модели критическойтемпературы и теории электронного фазового перехода. При этомотмечается важная роль способности переходных металлов образовыватьоксиды с различной кислородной стехиометрией. В то же время, систематические данные о связи эффектапереключения с нестехиометрией и структурой эпитаксиальных слоевоксидных ферримагнетиков отсутствуют. Информация о строении пленок наоснове никелевого феррита свидетельствует о неоднородности последних потолщине и существовании различных механизмов релаксации внутреннихнапряжений, связанных с различием периодов решеток и коэффициентовтермического расширения пленок и подложек. Для получения феррошпинельных пленок с заданнымиэлектромагнитными свойствами исключительное значение имеет выборсостава и условий синтеза. Однако практическое решение проблемуправления свойствами оксидных материалов сталкивается сопределенными трудностями, связанными с неоднозначностью протеканияокислительно-восстановительных процессов в технологии изготовленияэпитаксиальных пленок, являющихся термодинамически неравновесными. В связи с вышеизложенным, представляется актуальным дальнейшееизучение условий синтеза феррошпинельных пленок с S-BAX, особенностейих электрических и структурных параметров с целью установления природыэффекта электрического переключения в этих весьма сложных по составу истроению материалах. Отдельные части работы выполнялись в рамках проекта «Влияниесостояния ионов и электронно-ионного разупорядочения на магнитнуюмикроструктуру и нелинейные электрические свойстванестехиометрических оксидных твердых растворов» (2002;2003 гг.) понаучной программе «Университеты России» (направление 06"Фундаментальные исследования новых материалов"), а такжепредставлены в проекте, выполняющемуся по аналитической ведомственнойцелевой программе «Развитие научного потенциала высшей школы (20 062 008 годы». Содержание работы связано с технологией создания иобработки кристаллических материалов, входящей в перечень критическихтехнологий, утвержденный Президентом РФ 21 мая 2006 г. (Пр-842).Цели и задачи работы-Целью настоящей работы являлось исследование закономерностейформирования электрических и магнитных свойств эпитаксиальныхферрошпинельных пленок с S-образной вольтамперной характеристикой вовзаимосвязи с их реальной структурой, формируемой при различныхусловиях синтеза и последующего окисления. Объектами исследованияслужили эпитаксиальные пленки железо-никелевого феррита, выращенныена подложке оксида магния (MgO) с ориентацией [100]. Для достиженияуказанной цели, с учетом проведенного анализа состояния проблемы, вработе решались следующие основные задачи: — подбор условий и режимов синтеза пленок, обладающих S-образнойВАХ— исследование кристаллографических, электрических и магнитныхпараметров синтезируемых пленок системы Ni-Fe-Mg-0 в зависимости отсостава, условий синтеза и обработки в окислительно-восстановительныхсредах— анализ и сопоставление методик определения характеристикэпитаксиальных ферритовых пленок с использованием данныхферромагнитного резонанса (ФМР) и мессбауэровской спектроскопии, разработка программного продукта для обработки спектров ФМР-исследование статических и импульсных нелинейныхвольтамперных характеристик шпинельных пленок— исследование влияния на свойства пленок никелевого ферританапряжений несоответствия параметров между пленкой и подложкой— изучение зависимости характеристик колебаний, возникающих вэкспериментальном генераторе разработанной на базе шпинельной пленке вкачестве активного элемента, от параметров ВАХ и элементов схемы. Научная новизна— с помощью комплекса инструментальных методов впервыеисследовано влияние условий синтеза и последующего окисленияферрошпинельных пленок на их структурные и электромагнитныехарактеристики, в том числе, на параметры S-образной ВАХ— установлено, что в тетраэдрических узлах кристаллической решеткиэпитаксиальных пленок на основе никелевого феррита содержитсязначительная доля ионов Ni^ «^, что стимулируется упругими напряженияминесоответствия параметров „пленка-подложка“, реализуется благодарявакансионному механизму перераспределения катионов и лимитируетсявеличиной отклонения содержания кислорода от стехиометрической, атакже избыточной концентрацией железа—установлено влияние внутренних напряжений, обусловленныхнесоответствием параметров кристаллической решетки гетероструктурсистемы Ni-Fe-Mg-0, на электромагнитные свойства, выявлены причинынесоответствия значения угла отклонения вектора намагниченности отнормали, найденного методом мессбауэровской спектроскопии, значениюугла выхода, рассчитанного исходя из данных рассогласования параметроврешеток пленки и подложки— установлено, что с увеличением степени окисления увеличиваетсяполе переключения в высокопроводяш-ее состояние, выявленызакономерности изменения намагниченности насыш, ения и константыанизотропии— установлены закономерности переключения пленок в импульсныхэлектрических полях— установлены корреляции параметров спектров ФМР и ЯГРСферрошпинельных пленок— предложена аналитическая модель, объясняющая структурныеособенности феррошпинельных пленок и изменения эффективного полямагнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактораспектроскопического расщепления, удельной проводимости, пороговогополя переключения пленок с S-образной ВАХ в результате окисления. Практическая ценность.Уточнены и отработаны режимы синтеза и последующей обработкипленок на основе никелевого феррита, обладающих эффектомэлектрического переключения. Установленные закономерности влияния физико-химическихизменений, происходящих при окислительно-восстановительных процессахв эпитаксиальных феррошпинельных пленках, на их электромагнитныепараметры создают основу для улучшения характеристик эпитаксиальныхгетероструктур и формирования образцов с заданными свойствами. Создана и исследована усовершенствованная схема генератораэлектромагнитных колебаний на ферримагнитном полупроводнике. Разработаны методика и программный продукт, обеспечивающиерасчет магнитных параметров — полей магнитокристалической и наведеннойанизотропии, фактора спектроскопического расщепления эпитаксиальныхферрошпинельных пленок по параметрам спектров ФМРПредложенная аналитическая модель, объясняющая структурные иэлектромагнитные характеристики феррощпинельных пленок, позволяет приизвестных (из независимых измерений) значениях намагниченностинасыщения и константы наведенной анизотропии определять степеньрелаксации напряжений и концентрацию дислокаций несоответствия вгетероструктуре. Научные результаты и положения, выносимые на защиту— режимы, условия синтеза и последующих обработок эпитаксиальныхпленок на основе никелевого феррита, обладающих эффектомэлектрического переключения— влияние окисления на электронно-ионное разупорядочение иэлектромагнитные свойства гетероструктур оксидных ферримагнетиков, втом числе на пороговое поле переключения пленок с S-образной ВАХ— методики определения магнитных и структурных характеристикэпитаксиальных пленок по комплексу экспериментальных данных, полученных различными методами— представления об условиях, причинах и механизмах нахождения втетраэдрических узлах кристаллической решетки эпитаксиальных пленок наоснове никелевого феррита значительной доли ионов N p — представления о влиянии внутренних напряжений, обусловленныхнесоответствием параметров кристаллической решетки гетероструктурсистемы Ni-Fe-Mg-0, на их электромагнитные свойства, и о причинахнесоответствия значения угла отклонения вектора намагниченности отнормали, найденного методом мессбауэровской спектроскопии, значениюугла выхода— представления о природе S-образной ВАХ, закономерностипереключения пленок в импульсных электрических полях и генерацииколебаний— корреляция параметров спектров ФМР и ЯГРС феррошпинельныхпленок никелевого феррита— аналитическая модель, объясняюш-ая структурные особенностиферрошпинельных пленок и изменения эффективного полямагнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактораспектроскопического распдепления, удельной проводимости, пороговогополя переключения пленок с S-образной ВАХ в результате окисления. Апробация работы-Основные результаты диссертационной работы доложены иобсуждены на Евро-Азиатском симпозиуме „Тенденции в магнетизме“.10EASTMAG-2001 (Екатеринбург, Россия, 2001 г.), ОбъединенномЕвропейском симпозиуме по магнетизму EMMA-MRM (JEMS'Ol),(Гренобль, Франция, 2001 г.), XVIII международной школе-семинаре"Новые магнитные материалы микроэлектроники», (Москва, МГУ, 2002 г.), IV и VI международном семинаре «Нелинейные процессы и проблемысамоорганизации в современном материаловедении», (Астрахань, Россия, 2002 г., 2006 г.), 16-й конференции «Магнитомягкие материалы»,(Дюссельдорф, Германия, 2003 г.), V Российско-японском семинаре"Оборудование, технологии и аналитические системы дляматериаловедения, микрои наноэлектроники", (Саратов, Россия, 2007 г.).Публикации-По материалам диссертации опубликовано 14 работ (6 статей, 8тезисов докладов).Структура и объем работы: Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, спискацитируемой литературы и приложения. Работа изложена на 125 страницах ивключает 42 рисунка, 10 таблиц. Библиографический список содержит 130наименований.111. Современные представления о структуре, нестехиометрии исвойствах оксидных феррошпинелей.1.1. Структура ферритов — шпинелей.
Заключение
.
В ходе выполнения данной работы проведены комплексные исследования эпитаксиальных оксидных магнитных материалов — никелевых ферритов-шпинелей. Образцы являлись монокристаллическими пленками.
Исследования проводились различными методами, что повышает степень достоверности полученных результатов. Образцы были синтезированы методом химических газотранспортных реакций (сэндвич-метод). При исследовании применены методы рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализа, ядерной гамма-резонансной (мессбауэровской) спектроскопии, ферромагнитного резонанса. Установлены и исследованы закономерности формирования электрических и магнитных свойств эпитаксиальных феррошпинельных пленок с S-образной вольтамперной характеристикой во взаимосвязи с их реальной структурой, формируемой при различных условиях синтеза и последующего окисления. В результате проведенных исследований можно сделать следующие выводы:
1. S — образной вольтамперной характеристикой обладают эпитаксиальные шпинельные пленки железо-никелевого феррита, содержащие достаточно высокую концентрацию донорных центров — ионов двухвалентного железа, что достигается за счет обогащения состава пленок железом (в основном, поверхностного слоя) и обеднения их кислородом. В переходном слое пленка-подложка содержатся акцепторные л I центры — ионы Ni ! возникающие вследствие обогащения слоя никелем (за счет железа), что приводит к снижению напряжений несоответствия.
2. Формирование пленок с S-BAX обеспечивается выращиванием их при достаточно высоких температурах (1373−1473 К), низком парциальном давлении кислорода (менее 27 Па) и скорости роста 1−6 мкм/мин.
3. В тетраэдрических узлах кристаллической решетки пленок содержится значительная доля ионов Ni2+. Изменение степени обращенности феррита стимулируется упругими напряжениями несоответствия, реализуется за счет вакансионного механизма перераспределения катионов и лимитируется величиной отклонения концентрации кислорода от стехиометрической, а также избыточной концентрацией железа.
4. Угол отклонения вектора намагниченности от нормали в изученных методом мессбауэровской спектроскопии пленках составляет 60−80°. Расхождение этой величины со значением угла выхода, рассчитанного исходя из данных рассогласования параметров решеток пленки и подложки, объясняется существованием магнитной доменной структуры.
5. С увеличением степени окисления снижается проводимость пленок в слабых полях, увеличиваются энергия активации проводимости и поле переключения в высокопроводящее состояние. Одновременно изменяются намагниченность насыщения и константы анизотропии.
6. При импульсном воздействии электрическим полем переключение пленок в низкоомное состояние происходит при более высоком напряжении, чем в статическом режиме, что можно объяснить различным влиянием джоулева разогрева на процессы переключения пленки в статическом и динамическом режимах. Величина пороговой амплитуды переключающих импульсов с увеличением их длительности от единиц до десятков микросекунд при постоянной частоте следования (~103 Гц) уменьшается, стремясь к некоторой постоянной величине. С повышением частоты следования импульсов также имеет место уменьшение их пороговой амплитуды. На фронтах импульсов проявляется индуктивный характер сопротивления пленок.
7. С увеличением межэлектродного расстояния значения порогового напряжения переключения и напряжения удержания возрастают, что приводит к росту периода и амплитуды генерируемых колебаний. При повышении напряжения источника питания период колебаний и их амплитуда уменьшаются. Период практически пропорционален емкости конденсатора, однако сложным образом зависит от сопротивления зарядного резистора в связи с изменением положения точек пересечения нагрузочной прямой с ВАХ пленки и рассеиваемой в ней мощности.
8. Разработаны методика и программа, обеспечивающие расчет магнитных параметров — полей магнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактора спектроскопического расщепления эпитаксиальных феррошпинельных пленок по параметрам спектров ФМР.
9. Предложена аналитическая модель, объясняющая изменения эффективного поля магнитокристаллической и наведенной анизотропии, фактора спектроскопического расщепления, удельной проводимости, порогового поля переключения пленок с S-образной ВАХ в результате окисления. В основу интерпретации положены многопараметрическое описание состояния и дефектности нестехиометрических твердых растворов, преобразование валентного состояния ионов железа Fe2+ Fe3+ и перераспределение катионов между октаи тетраэдрическими позициями в кристаллической решетке. При известных (из независимых измерений) значениях намагниченности насыщения и константы наведенной анизотропии модель позволяет определить степень релаксации напряжений и концентрацию дислокаций несоответствия.
Основное содержание диссертации опубликовано в работах:
1. D.I. Merkulov, M.F. Bulatov, I.M. Garanin, V.K. Karpasyuk. Effect of nonstoichiometry on magnetic and electrical properties of ferrite films having S-type current-voltage characteristic//Euro-Asian Symposium «Trends in Magnetism» (EASTMAG-2001). Abstract Book. -Ekaterinburg, Russia, 2001. P.290.
2. Д. И. Меркулов Сопоставление методов исследования неоднородных эпитаксиальных слоев оксидных ферримагнетиков с помощью ФМР и ЯГРС. Тезисы докладов научной конференции АГПУ.- Астрахань, 1999.
3. I.M. Garanin, M.F. Bulatov, V.K. Karpasyuk, D.I. Merkulov. FMR study of LaixSrxMn03 manganites//Conf. On Advanced Magneto-Resistive Materials. Abstracts. — Ekaterinburg, 2001. — C2−15.
4. M. Bulatov, I. Garanin, V. Karpasyuk, D. Merkulov. Magnetic structure and nonlinear electrical properties of nonstoichiometric spinel layers// Joint European Magnetic Symposia EMMA-MRM (JEMS'01). Abstracts. — Grenoble, France, 2001. -P.124.
5. Д. И. Меркулов, М. Ф. Булатов, B.K. Карпасюк. Модулированная структура эпитаксиальных феррошпинельных пленок с S — образной вольтамперной характеристикой// Новые магнитные материалы микроэлектроники. Сб. трудов XVIII международной школы-семинара. — БЦ-37. — Москва: МГУ, 2002. — С. 306−307.
6. М. Ф. Булатов, В. К. Карпасюк, Д. И. Меркулов. Роль отклонений от стехиометрии в формировании нелинейных электрических свойств эпитаксиальных пленок феррошпинелей//Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении. Тез. докл. Четвертого международного семинара. — АС-14. — Астрахань: изд-во АГПУ, 2002. — С.55 — 56.
7. М. Ф. Булатов, В. К. Карпасюк, Д. И. Меркулов. Электронно-ионное разупорядочение и электромагнитные свойства эпитаксиальных ферримагнитных пленок //Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении. Тез. докл. Четвертого международного семинара. — ДС-5. — Астрахань: изд-во АГПУ, 2002. -С.151−152.
8. Д. И. Меркулов, М. Ф. Булатов, И. М. Гаранин, В. К. Карпасюк. Влияние отклонений от стехиометрии на магнитные и электрические свойства феррошпинельных пленок с S-образной вольт-амперной характеристикой //Изв. вузов. Материалы электронной техники. 2003. -№ 1. С. 40−42.
9. D.I. Merkulov, M.F. Bulatov, I.M. Garanin, V.K. Karpasyuk, V.S.
Rusakov. Correlation between FMR and Mossbauer Spectra Parameters th of Oxide Magnetic Materials // Soft Magnetic Materials, 16 Conference. — Dusseldorf, Germany: September 9−12, 2003. — Abstracts. — T2−26.
10. M.F. Bulatov, D.I. Merkulov, I.M. Garanin, V.K. Karpasyuk, G.P. Stefanova, V.S. Rusakov. Correlation between FMR and Mossbauer Spectra Parameters of Oxide Magnetic Materials // Естественные науки. Журнал фундаментальных и прикладных исследований. — 2004. — № 3(9).-С. 109−114.
11. В. К. Карпасюк, Д. И. Меркулов, Г. Г. Поляков. Механические напряжения в неоднородных твердых растворах и гетероструктурах оксидных ферримагнетиков// Естественные науки. Журнал фундаментальных и прикладных исследований. — 2004. — № 3 (9). — С. 114−117.
12. Д. И. Меркулов, В. К. Карпасюк. Катионное распределение, дефектность и магнитная микроструктура эпитаксиальных пленок на основе никелевого феррита// VI Международный семинар «Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении». Тезисы докладов. — Астрахань, 2006. — С. 96.
13. Д. И. Меркулов, В. К. Карпасюк. Динамические характеристики процессов электрического переключения эпитаксиальных феррошпинельных слоев//Материалы V Российско-японского семинара «Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микрои наноэлектроники»: 18−19 июня 2007, Саратов, Россия. — М.: МИСиС, 2007. — Т.2. С. 918−922.
14. Д. И. Меркулов. Влияние процессов окисления на катионное распределение и электронно-ионное разупорядочение эпитаксиальных модулированных структур никелевого феррита. // Перспективные материалы — 2007 — № 5. С. 29−31.