Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Определение примесного состава чистых цветных и редких металлов методом дугового атомно-эмиссионного анализа с применением МАЭС

Диссертация: Определение примесного состава чистых цветных и редких металлов методом дугового атомно-эмиссионного анализа с применением МАЭС
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Апробация работы: Результаты работы доложены на X международном симпозиуме «Применение анализаторов МАЭС в промышленности» (г. Новосибирск, 3−7 августа 2009 г.) — Съезде аналитиков России «Аналитическая химия — новые методы и возможности» (г. Москва, 26 — 30 апреля 2010 г.) — XIV Всероссийской конференции и VI Школе молодых ученых «Высокочистые вещества и материалы. Получение, анализ, применение… Читать ещё >

Определение примесного состава чистых цветных и редких металлов методом дугового атомно-эмиссионного анализа с применением МАЭС (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
    • 1. 1. Требования к качеству ЦРМ и области их применения
    • 1. 2. Методы анализа чистых ЦРМ
    • 1. 3. Метод дугового атомно-эмиссионного анализа (ДАЭА)
      • 1. 3. 1. Принцип метода, аналитические возможности и аппаратура
      • 1. 3. 2. Многоканальный анализатор эмиссионных спектров (МАЭС)
      • 1. 3. 3. Применение МАЭС в атомно-эмиссионном анализе ЦРМ
    • 1. 4. Постановка задачи исследования
  • ГЛАВА 2. ИСПОЛЬЗУЕМАЯ АППАРАТУРА, РЕАКТИВЫ И 41 МАТЕРИАЛЫ
    • 2. 1. Аппаратура
    • 2. 2. Реактивы и материалы
  • ГЛАВА 3. ИССЛЕДОВАНИЕ АНАЛИТИЧЕСКИХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ДУГОВОГО АТОМНО-ЭМИССИОННОГО МЕТОДА С МАЭС ДЛЯ 46 АНАЛИЗА ЦВЕТНЫХ И РЕДКИХ МЕТАЛЛОВ
    • 3. 1. Методический подход к обоснованию направлений 46 совершенствования дугового атомно-эмиссионного метода анализа цветных и редких металлов
    • 3. 2. Выбор аналитических линий определяемых элементов
    • 3. 3. Выбор оптимальных условий анализа
    • 3. 4. Обоснование способа приготовления градуировочной серии 66 образцов сравнения
    • 3. 5. Влияние матрицы на интенсивность линий
    • 3. 6. Оценка нижних границ определяемых содержаний
  • ГЛАВА 4. ПРИМЕНЕНИЕ СОРБЦИОННОГО КОНЦЕНТРИРОВАНИЯ ДЛЯ ПОСЛЕДУЮЩЕГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ве, Те, и Аб В ИНДИИ И ГАЛЛИИ
    • 4. 1. Используемые сорбенты
    • 4. 2. Условия проведения сорбционного концентрирования
      • 4. 2. 1. Влияние кислотности раствора на степень сорбции Бе, Те и Аэ
      • 4. 2. 2. Установление времени сорбции
    • 4. 3. Получение сорбционного концентрата
    • 4. 4. Выбор условий для проведения ДАЭ с МАЭС анализа 94 концентрата
  • ГЛАВА 5. РАЗРАБОТКА МЕТОДИК ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕСЕЙ В 98 ЧИСТЫХ ЦРМ ДУГОВЫМ АТОМНО-ЭМИССИОННЫМ МЕТОДОМ С МАЭС
    • 5. 1. Расчет метрологических характеристик методик определения 98 примесей в ЦРМ методом ДАЭА с МАЭС
    • 5. 2. Прямое атомно-эмиссионное определение примесей в ЦРМ
      • 5. 2. 1. Методики дугового атомно-эмиссионного с фото диодной 104 регистрацией определения примесей в индии и галлии
      • 5. 2. 2. Методики дугового атомно-эмиссионного с фотодиодной 106 регистрацией определения примесей в висмуте и кадмии
      • 5. 2. 3. Методики дугового атомно-эмиссионного с фотодиодной 108 регистрацией определения примесей в ниобии и тантале
    • 5. 3. Методики химико-атомно-эмиссионного с фото диодной 109 регистрацией определения 8е, Те и Аб в индии и галлии
  • ВЫВОДЫ

Чистые цветные и редкие металлы (ЦРМ) незаменимы в современной технике и технологии, а основными областями их применения являются электротехника, радиоэлектроника, химическая промышленность, атомная энергетика, машиностроение, авиационная и ракетная техника.

Свои уникальные свойства ЦРМ начинают проявлять при определенном уровне химической чистоты. Снижение содержания примесей в металлах открывает дополнительные возможности для управления их свойствами. При этом расширяется круг металлов на основе которых могут быть созданы новые сплавы конструкционного и функционального назначения.

Объем применения чистых ЦРМ и сплавов на их основе непрерывно увеличивается. Так, в связи с развитием авиастроения, ракетной и атомной техники, химической промышленности широкое применение стали находить индий (активно применяемый в полупроводниковой промышленности, при изготовлении термоэлементов, инфракрасных детекторов), галлий (используется для создания полупроводников, солнечных элементов, лазеров и светодиодов), кадмий (для изготовления стержней ядерных реакторов, в качестве основного компонента для производства полупроводников), висмут (применяемый в приборостроении, электронике, электрохимии), а также такие металлы (и сплавы на их основе) как ниобий (изготовление деталей авиационных и ракетных двигателей, лопаток газовых турбин, сверхпроводящих сплавов) и тантал (производство танталовых электролитических конденсаторов, широко применяемых в компьютерах, телевизорах, сотовых телефонах и контрольно-измерительных приборах автомобилей, самолетов, ракет и космических кораблей). При этом важное значение приобретает получение их с заданной степенью чистоты, так как присутствие примесей оказывает зачимое влияние на структуру и свойства получаемых материалов.

В связи с возрастающими потребностями в чистых ЦРМ повышаются требования к методам их аналитического контроля: актуальным является расширение круга определяемых примесей и улучшение чувствительности анализа.

Для анализа чистых ЦРМ применяются различные аналитические методы: фотометрия, полярография, атомно-абсорбционная спектрофотометрия, искровая и лазерная масс-спектрометрия, рентгенофлуоресцентный и нейтронно-активационный анализ и т. д. В последнее время в аналитической химии ЦРМ появилось значительное число работ, посвященных развитию методов масс-спектрометрии и атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой.

Благодаря ряду преимуществ (возможность одновременного количественного определения большого числа элементов в широком интервале концентраций, низкие пределы обнаружения) широко применяется также дуговой атомно-эмиссионный анализ (ДАЭА). Причем, при анализе чистых ЦРМ для повышения чувствительности определения примесей (10″ 6 -10~7% масс.) часто применяются методы химико-спектрального анализа. Основным недостатком этих методов является сложность одновременного выделения в групповой концентрат всех требуемых примесей, а также возможность потери ряда аналитов на стадии пробоподготовки. Поэтому представляется целесообразным разработка новых методик одновременного многоэлементного и высокочувствительного определения примесного состава ЦРМ прямым атомно-эмиссионным методом, расширение круга определяемых элементов, а также разработка новых химико-спектральных методик, позволяющих проводить одновременное определение большого количества примесей из одного концентрата, в том числе и не определяемых ранее, но являющихся технологически важными для производства чистых ЦРМ.

Современное развитие ДАЭ метода связано с совершенствованием спектральной аппаратуры, и особенно системы регистрации. В последнее время с целью регистрации спектров производители оборудования для атомно-эмиссионного спектрального анализа применяют сборки из нескольких линейных многоэлементных твердотельных детекторов излучения. В частности, разработаны новые модификации, базирующиеся на многоканальных анализаторах эмиссионных спектров (МАЭС). Эти анализаторы обладают большими потенциальными возможностями. Однако их методическое обеспечение применительно к анализу чистых индия, галлия, кадмия, висмута, ниобия и тантала не разработано. Цель работы. Исследование аналитических возможностей дугового атомно-эмиссионного с МАЭС метода, оптимизация процедуры анализа, направленная на улучшение его метрологических показателей, разработка и аттестация новых прямых и комбинированных методов анализа.

В рамках поставленной цели предусмотрено решение следующих задач: выбор условий определения примесных элементов (длин волн аналитических линий, массы навески, размера и формы электрода, режима работы генератора, времени экспозиции и т. д.) — исследование возможностей прямого ДАЭ с МАЭС анализаразработка и применение способов обработки спектра для снижения матричного эффектаоценка неопределенности ДАЭ метода с МАЭСоценка пределов обнаружения и определения ДАЭ метода с МАЭСисследование возможностей группового концентрирования примесей, в том числе не определяемых ранее дуговым атомно-эмиссионным методом — Бе, Те и Аб в индии и галлии, установление условий их количественного определенияразработка и аттестация атомно-эмиссионных и химико-атомно-эмиссионных методик анализа индия, галлия, кадмия, висмута, ниобия и тантала с улучшенными метрологическими характеристикамивнедрение разработанных методик в практику аналитического контроля.

Научная новизна:

1. Исследованы и установлены закономерности изменения интенсивностей спектральных линий примесей в присутствии матричных компонентов (индий, галлий, висмут, кадмий, ниобий, тантал).

2. Предложены и реализованы способы по снижению границ определяемых содержаний в чистых индии, галлии, кадмии, висмуте, ниобии и тантале.

3. Предложен и разработан способ ДАЭ с МАЭС определения 8е, Те и Аб в индии и галлии с предварительным сорбционным концентрированием аналитов на Б-содержащих сорбентах.

Практическая значимость:

1. Обоснован способ применения универсальной серии образцов сравнения на графитовом порошке для проведения ДАЭА с МАЭС при определении примесей в чистых ЦРМ;

2. Систематизированы полученные экспериментальные данные по матричному эффекту при определении примесей в галлии, индии, кадмии, висмуте, ниобии и тантале.

3. Выбраны условия анализа чистых ЦРМ (индия, галлия, кадмия, ниобия, тантала и висмута), позволяющие определять примеси в большинстве случаев на порядок ниже, чем в стандартизованных методиках, при этом получаемые метрологические характеристики не хуже, а в ряде случае превосходят указанные в действующей НД.

4. Разработаны усовершенствованные методики атомно-эмиссионного анализа:

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, А%, Аи, Ы, Со, Сг, Бе, Ое, 1п, Mg, Мп, Сё, Си, РЬ, Бп, Б! и Ъъ в галлии в диапазоне п-10″ 6- п-10″ 1 массовых долей, %;

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, Ag, Аи, В1, Со, Сг, Бе, ва, ве, Mg, Мп, Сй, Си, РЬ, 8Ь, 8п, Б! и Ъп. в индии в диапазоне п-10″ 6- п-10″ 1 массовых долей, %. 7.

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, А%, Аи, В1, Со, Сг, Бе, ва, ве, 1п, Mg, Мп, Си, РЬ, 8Ь, 8п и Хп в кадмии в диапазоне п-10″ - п-10″ массовых долей, %.

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, Ag, Аи, Со, Сг, Бе, ва, ве, 1п, Mg, Мп, Сё, Си, РЬ, БЬ, 8п, 81 и.

7 2.

Ъп в висмуте в диапазоне п-10″ - п-10″ массовых долей, %.

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, Ag, Аи, В1, Со, Сг, Бе, ва, ве, 1п, Mg, Мп, С<1, Си, РЬ, 8Ь, 8п и.

5 2.

81 в ниобии в диапазоне п-10″ - п-10″ массовых долей, %.

— методика дугового атомно-эмиссионного с МАЭС определения А1, Ag, Аи, В1, Со, Сг, Бе, ва, ве, 1п, Mg, Мп, №, Сй, Си, РЬ, 8Ь, 8п, 81.

5 2 и2пв тантале в диапазоне п-10″ - п-10″ массовых долей, %.

— методики химико-атомно-эмиссионного определения 8е, Те и Аб в индий и галлии в диапазоне п-10″ 5- п-10*1 массовых долей, %.

Разработанные методики аттестованы и внедрены в практику работы Испытательного аналитико-сертификационного центра Гиредмета. На защиту выносятся:

1. Результаты изучения поведения примесей в присутствии исследуемых матриц.

2. Выбор условий при проведении ДАЭ анализа с МАЭС для снижения нижних границ определяемых содержаний.

3. Результаты оценки пределов обнаружения и определения.

4. Оценка неопределенности результатов ДАЭ метода с МАЭС.

5. Способ определения Те, 8е и Аб с использованием предварительного сорбционного концентрирования.

6. Аттестованные методики атомно-эмиссионного и химико-атомно-эмиссионного анализа примесного состава индия, галлия, кадмия, висмута, ниобия и тантала с улучшенными метрологическими характеристиками.

Апробация работы: Результаты работы доложены на X международном симпозиуме «Применение анализаторов МАЭС в промышленности» (г. Новосибирск, 3−7 августа 2009 г.) — Съезде аналитиков России «Аналитическая химия — новые методы и возможности» (г. Москва, 26 — 30 апреля 2010 г.) — XIV Всероссийской конференции и VI Школе молодых ученых «Высокочистые вещества и материалы. Получение, анализ, применение» (г. Нижний Новгород, 30 мая — 2 июня 2011) — XI международном симпозиуме «Применение анализаторов МАЭС в промышленности» (г. Новосибирск, 16−19 августа 2011 г.) — XII международном симпозиуме «Применение анализаторов МАЭС в промышленности» (г. Новосибирск, 14−16 августа 2012 г.) — Всероссийской конференции с международным участием по аналитической спектроскопии (г. Туапсе, 23−29 сентября 2012 г.).

выводы.

1 Исследованы возможности метода дугового атомно-эмиссионного анализа с МАЭС для определения примесного состава ЦРМ на примере индия, галлия, кадмия, висмута, ниобия и тантала. Изучено поведение примесей в дуговом разряде и установлены закономерности изменения интенсивностей спектральных линий в присутствии матричных компонентов.

2 Выбраны условия анализа чистых индия, галлия, кадмия, ниобия, тантала и висмута, позволяющие определять примеси на один-два порядка.

7 I ниже (в интервале п-10″ -п-10″ массовых долей, %), чем в действующих методиках на основе фотографической регистрации, значительно расширить — круг определяемых элементов (одновременное определение до 20-ти примесей), а также существенно сократить время анализа. Исследованы кривые испарения элементов, позволяющие учитывать индивидуальный характер поступления атомов пробы в плазму дуги. Оценены пределы обнаружения и определения элементов (А1, Ag, Аи, В1, Сё, Со, Сг, Бе, ва, Ое, 1п, Мп, Си, РЬ, 8Ь, 8п, 81 и Ъп). В ряде случаев полученные результаты оказываются близкими по чувствительности определения к химико-спектральным методикам.

3 Предложен и разработан способ группового концентрирования 8е, Те и Аб, установлены условия полноты извлечения аналитов (степень извлечения 8е, Те и Аб не менее 95%) в групповой концентрат, выбраны условия их количественного ДАЭ с МАЭС определения в индии и галлии в интервале пТО" 5- п-10″ 2 массовых долей, %.

4 Разработаны методики прямого ДАЭ с МАЭС определения примесей в индии, галлии, кадмии, висмуте, ниобии и тантале в интервале пТ0″ 7-пТ0″ ' % масс., а также химико-атомно-эмиссионного определения 8е,.

•5 -2.

Те и Аб в индии и галлии в интервале п-10″ -пмасс. Разработанные методики аттестованы и внедрены в практику работы Испытательного аналитико-сертификационного центра Гиредмета.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Н.И. Производство цветных металлов. М.: Интермет Инжиниринг, 2004 442 с.
  2. Т.М., Конькова О. В. Аналитический контроль в металлургии цветных и редких металлов. 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Изд-во Металлургия, 1988. — 240 с.
  3. Ю.В. Металлургия редких металлов. Конспект лекций. 1969. 165 с.
  4. В.И., Калинкин И. П., Николаев Г. И. Металлы и сплавы. Анализ и исследование. Аналитический контроль состава материалов черной и цветной металлургии. Т. З- М.: Изд-во НПО «Профессионал». 2007. 1092 с.
  5. Зи С. Физика полупроводниковых приборов. М.: Мир, 1984.
  6. К. Примеры и перспективы применения новых материалов в электронике. М.: Наука, 1991- 86 с.
  7. А. В.Обзор мирового рынка галлия (экономика галлия) / Известия высших учебных заведений. Цветная металлургия. -2005. -№ 3. -С. 14−21.
  8. A.B. Обзор мирового рынка индия (экономика индия) / Известия высших учебных заведений. Цветная металлургия. 2005. № 4. С. 12−17.
  9. П.И., Акчурин Р. Х. Индий. М.: Наука, МАИК «Наука/Интерпериодика», 2000- 276 с.
  10. Э.М., Фистуль В. И. Примесипереходныхметалловв полупроводниках. М.:Физматлит, 2003. -192 с.
  11. ПасынковВ.В., Чиркин Л. К. Полупроводниковые приборы. 4-е изд., перераб. и доп.- М.:Высш. шк., 1987. 479 с.
  12. Л.Н., Моисеенко Е. П., Заксас Н. П., Сапрыкин А. И. Прямой атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида вольфрама с использованием дуги постоянного тока и двухструйной дуговой плазмы/ Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 2. С. 73−81.
  13. Н.И., Гражулене С. С. Определение вольфрама в оксиде молибдена прямым атомно-эмиссионным методом в дуге постоянного тока / Заводская лаборатория. 2007. Т. 73. № 6. С. 12−15.
  14. Т.А., Шелпакова И. Р. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализа объектов разной природы / Аналитика и контроль. 2002. Т. 6, № 3. С. 298−306.
  15. В.И. Методологические особенности создания методик атомно-эмиссионного анализа различных объектов/ Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 3. С. 245−249.
  16. Т.А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. Определение примесей в высокочистом диоксиде германия атомно-эмиссионным спектральным методом/ Заводская лаборатория. 2009. Т. 75. № 1. С. 7−10.
  17. В.Г., Буланов А. Д. Анализ высокочистого тетрафторида кремния атомно-эмиссионным методом с концентрированием примесей возгонкой матрицы/ Аналитика и контроль. 2004. Т. 8. № 4. С. 315−321.
  18. Т.А., Шелпакова И. Р. Химико-атомно-эмиссионный спектральный анализ высокочистой сурьмы/ Аналитика и контроль. 1999. Т. 3. № 1. С. 15−20.
  19. И.И., Липатова М. М., Пименов В. Г. Атомно-эмиссионный анализ высокочистых оксидов с концентрированием примесей отгонкой основы пробы при фторировании в автоклаве/ Журнал структурной химии. 2010. Т. 51. № 7. С. 193−197.
  20. А.Р., Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. Химико-атомно-эмиссионный спектральный анализ оксидов тугоплавких металлов с предварительным отделением основы /Тез.докл. I Всерос. конф. МИССФМ. Новосибирск, 2009. С. 74.
  21. JI.И. и др. Спектрофотометрическое и атомно-эмиссионное определение молибдена в оксиде вольфрама после экстракционного выделения / Ж. аналит. химии. 1992. Т. 47, № 4. С. 737−740.
  22. Hasegawa S.-I. Determination of trace elements in high purity tungsten using solid-phase extraction ICP-MS / J. of the Japan Institute of Metals. 2009. V. 73, № 1. C. 15−18.
  23. HornungM., Krivan V. Solid sampling electrothermal atomic absorption trioxide spectrometry for analysis of high-purity tungsten and high-purity tungsten blue oxide /Spectrochim. Acta. PartB. 1999. V. 54, № 8. C. 1177−1191.
  24. Редкоземельные металлы и их оксиды. Методы анализа. ГОСТ 23 862.0−17 ГОСТ 23 862.36−79. М.: ИПК Издательство стандартов, 2003. — 280 с.
  25. Handbook on the Physics and Chemistry of Rare Earths, edited by K.A. Gschneidner Jr. and L. Eyring. Elsevier Science Publishers B.V. 1990. — Vol. 13.
  26. ZhangWei-Jie, ChenMing-Lun, ZhangLi-Li, ChenWen-Ming, TianKong-QuanAnalysis of lithium niobate the method of atomic-emission spectrometry with inductively coupled plasma / Chin. J. Spectrosc. Lab. -2004. -21, № 4. -C. 668−671.
  27. Н.Г. Анализ цинка, свинца и руд редких металлов методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой / диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук. Новосибирск, 2008.
  28. А.Р., Макашова Г. В., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. Анализ триоксида молибдена методом ИСП-АЭС / Аналитика и контроль. 2011. Т. 15. № 2. С. 182−186.
  29. А., Веласкез С. Методы повышения чувствительности определения элементов в атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) / Аналитика и контроль. 2007. Т. 11. № 1. С. 20−27.
  30. Н.Г. Определение платины и палладия в различных продуктах цветной металлургии методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой / Заводская лаборатория. 2006. Т.72. № 6. С. 23−25.
  31. A.A., Данилова Д. А. Разработка модели термохимических процессов для метода атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 1. Матричные неспектральные помехи / Аналитика и контроль. 2001. Т. 5. № 2. С. 112−136.
  32. A.B. Рентгенофлуоресцентный анализ с использованием рассеянного излучения/ Заводская лаборатория. 2009. Т. 75. № 9. С. 3−11.
  33. Н. П. Количественный рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов / Заводская лаборатория. 2007. — том 73. -№ 9. — с.8−17.
  34. В.Л., Макарова Т. А., Барков A.B., Бахтиаров A.B., Москвин J1.H. Рентгенофлуоресцентный анализ полиметаллических руд и их переделов в системе автоматического контроля качества / Заводская лаборатория. 2007. Т. 73. № 4. С. 3−11.
  35. Ю.А., Савостин А. П., Сальников В. Д. Аналитический контроль в металлургическом производстве: Учебное пособие. М.: ИКЦ «Академкнига», 2006.
  36. И.П. Методы анализа веществ высокой чистоты. М.: Наука, 1965. — 535с.
  37. Ю.А., НеволинВ.Н.Лазерная масс-спектрометрия. М.: Энергоатомиздат, 1985.- 128 с.
  38. O.A., Баклыков В. Г. Определение примесей в чистом золоте методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой / Аналитика и контроль. 2003. Т. 7. № 3. С. 256−261.
  39. В.М., Кисель Т. А., Трепачев С. А. Определение содержания примесей в урановых материалах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой/ Масс-спектрометрия. 2005. Т. 2. № 4. С. 291−296.
  40. Определение примесей в титане и его соединениях методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой/ Аналитическая химия. Оборудование лабораторий. 2005. № 15.
  41. В.К., Туранов А. Н., Орлова Т. А. и др. Использование метода масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой в элементном анализе объектов окружающей среды / Заводская лаборатория. 2007.- Т. 73. № 1. — с. 12−22.
  42. И. И., Зиновьев В. Г., Садыкова 3. О. Нейтронно-активационный анализ теллурида марганца ртути / Журн. анал. химии. 2005. — 60, № 10. — С. 1064−1068.
  43. R. J., Stone Е. С., Glascock М. D., Cilingiroglu A., Zimansky P., Neff H. Neutron activation analysis of Urartian pottery from eastern Anatolia / J. Radioanal. andNucl. Chem. -2004. -262, № 1.-C. 119−127.
  44. И. И., Рахимов A.B. Определение примесных элементов в чистом уране методом нейтронно-активационного анализа/ Аналитика и контроль. 2008. Т. 12. № 1−2. С. 3135.
  45. Н.А., Колесов Г. М. Корректировка численной модели гамма-спектров образцов при выполнении вычитания спектров матричных элементов в нейтронно-активационном анализе /Журн. анал. химии. 2006. — 61, № 9. — С. 948−955.
  46. А.П., Калинов B.C., Рунец Л. П., Ступак А. П. методы количественного люминесцентного анализа/ Журнал прикладной спектроскопии. 2009. Т. 76. № 5. С. 768−778.
  47. Ю.В., Церковницкая И. А. Основы аналитической химии редких элементов. Учебное пособие. 2-е изд., перераб. и доп. — JL: Изд-во Ленингр. Ун-та, 1980. — 206 с.
  48. Ю.Г., Вешняков В. А. Спектрофотометрическое определение ртути (II) с помощью сульфита натрия/ Журн. анал. химии. 2009. Т. 64. № 3. С. 254−256.
  49. Спектрофлуориметрический метод определения примесей в комплексе вольфрам-тетрафенилпорфирине/ Аналитическая химия. Оборудование лабораторий. 2005. № 17.
  50. Xu М., Song J., Li N., Zhao С. Sensitive determination of platinum by the parallel catalytic hydrogen wave of Pt (IV) in the presence of persulfate / J. Electroanal. Chem. -2003. -553. -C. 163 168.
  51. М.С., Стромберг А. Г. Кполярографическому определению циркония/ Известия Томского политехнического университета. 2003. Т. 306. № 7. С. 63−65.
  52. E.JI., Терентьева Е. А. Кулонометрическое определение селена в органических соединениях / Ж. анал. химии. 1994. Т. 49. № 10. С. 1132−1134.
  53. С.Г., Носкова Г. Н., Колпакова Н. А. Определение селена (IV) с использованием метода анодной инверсионной вольтамперометрии / Известия Томского политехнического университета. 2010. Т. 317. № 3. С. 103−107.
  54. Т.Б., Ковалева C.B., Кулагин Е. М., Гладышев В. П. Определение селена (IV) на ртутно-пленочном электроде методом инверсионной вольтамперометрии / Журн. аналит. химии. 2003. Т. 58. № 2. С. 187−192.
  55. Cai Q., Khoo S. В. Определение следовых количеств селена методом адсорбционной полярографии после отделения экстракцией в виде дибромпиазселенола / Anal. Chem. 1994. V. 66. № 24. P. 4543−4550.
  56. Trivedi B.V., Thakkar N.V. Determination of selenium (IV) and tellurium (IV) by differential pulse polarography / Talanta. 1989. V. 36. № 7. P. 786−788.
  57. Lanza P., Zappoli S. A critical study on the determination of selenium in gallium arsenide by polarographic techniques / Anal. chim. acta. 1986. V. 185. P. 219−226.
  58. В.П., Швоева О. П., Саввин С. Б. Сорбционно-спектроскопическое определение селена на волокнистом ионообменнике ПАНВ-АВ-17 / Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 5. С. 470−474.
  59. Mullen J.D. Determination of arsenic in high-purity copper by flameless atomic-absorption spectrophotometry // Talanta. 1977. V. 24. № 10. P. 657 658.
  60. B.H. Определение мышьяка, ртути и селена методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой / В. Н. Лакота, В. И. Макаревич, С. С. Архутик, Н. Д. Коломиец, В. И. Мурох // Журн. аналит. химии. 1999. — Т.54. — № 3. — С. 285−287.
  61. Zhifeng Zhang, Shuyu Chen, Huaming Yu, Mei Sun, Wenqi Liu Simultaneous determination of arsenic, selenium, and mercury by Ion exchange-vapor generation-inductively coupled plasma-mass spectrometry // AnalyticaChimicaActa 513 (2004) 417—423.
  62. В. Field Determination of Trace Metals in High-Purity Copper Using the GTA-95 Graphite Tube Atomizer. Agilent Technologies, Inc., 1982. Printed in the USA. November 1, 2010. AA027.
  63. С.Л. Введение в спектральный анализ. М.-Л.: Постехтеориздат, 1946.260 с.
  64. И.М. Спектральный анализ. М.: Высшая школа. 1962.400с.
  65. Я.Д. Физические основы спектрального анализа. М.: Наука, 1980. 158с.
  66. Дж., Лорд Р., Луфбуров Дж. Практическая спектроскопия. М.: ИЛ, 1950.
  67. М.М. Методика приближенного количественного спектрального анализа. Л.: ЛДНТП, 1952.12 с.
  68. А.Н., Калитиевский Н. И., Липис Л. В., Чайка М. П. Спектральный анализ атомных материалов. М.-Л.: Физматгиз, 1960. 686с.
  69. Г. И., Бойцов A.A., Большое М. П. Спектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. 2-е изд., перераб. и доп. — Спб: Химия, 1994. — 336 с.
  70. Ю.Я., Семененко К. А., Зоров Н. Б. Методы спектрального анализа: Учеб.пособие. М.: Изд-во МГУ, 1990. — 213 е.: ил.
  71. Т., Мика И., Гегуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. М.: Мир, 1982. 4.1, 280 с. 4.2,464 с.
  72. Ю.М. Атомный эмиссионный спектральный анализ вещества. Учебное пособие. Киев: УМК ВО, 1989. 140 с.
  73. H.A. Угольная дуга высокой интенсивности. Госэнергоиздат, 1948.
  74. Дж. Электрическая дуга. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1962. 120с.
  75. В., Меккер Г. Электрические дуги и термическая плазма. М.: ИЛ, 1961.370 с.
  76. В.П., Свентицкий Н. С. Регулирование условий возбуждения в дуге переменного тока при спектральном анализе. Л.: ЛДНТП, 1957. 20 с.
  77. И.К., Соколовский С. А. Измерение температуры электрической дуги. Киев: Техника, 1966. 154 с.
  78. Исследование электрической дуги в аргоне. Фрунзе: Илим, 1966.64с.
  79. И.Г. Катодные процессы электрической дуги. М.: Наука, 1968. 244с.
  80. М.Ф. и др. Приэлектродные процессы в дуговых разрядах. Новосибирск: Наука, 1982. 157с.
  81. В.Е. О диффузии возбужденных атомов в низковольтной дуге. Обнинск, 1973.21 с.
  82. М.Ф., Урюков Б. А., Энгелыпт B.C. и др. Теория термической дуговой плазмы.
  83. Методы математического исследования плазмы. Новосибирск: Наука, 1987. 287с.
  84. М.Ф., Девятое Б. Н., Новиков О. Я. и др. Теория термической дуговой плазмы.
  85. Нестационарные процессы и радиационный теплообмен в термической плазме. Новосибирск: Наука, 1987. 286 с.
  86. B.C., Гунович В. Ц., Десятков Г. А. и др. Теория столба электрической дуги (Низкотемпературная плазма. Т.1). Новосибирск: Наука, 1990. 376 с.
  87. Е.В., Гольдфарб В. М. Взаимные влияния элементов при спектральном анализе порошковых проб в угольной дуге. Л.: ЛДНТП, 1963.
  88. Справочник химика. Т. 1. Таблицы последних линий с учетом наложений. Госхимиздат, 1951.
  89. Н.В., Замараев В. П., Туманов А. К. Повышение точности спектрального анализа магнитной стабилизацией. М.: Металлургия, 1971.
  90. Стабилизированные электрические дуги и их применение в теплофизическом эксперименте. М.: Наука, 1992. 264 с.
  91. Генераторы низкотемпературной плазмы. Автоматизация и обработка эксперимента при исследовании электрической дуги. Минск, 1986. 152 с.
  92. Ю1.Гершман Д. М., Губанов В. А. Повышение чувствительности спектрального определения элементов. Л.: ЛДНТП, 1963.
  93. А. К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов, 2-е изд. перераб. и доп. М.:Недра.1978.
  94. К.И. Спектральные приборы. Л.: Машиностроение. 1977. 367с.
  95. И.В. Оптика спектральных приборов. 2-е изд. Л.: Машиностроение, 1975.312 с.
  96. Ю.А. Новые спектральные приборы. Принципы работы. Л.: ЛГУ, 1976.126 с.
  97. К.И. Проектирование спектральной аппаратуры. Л.: Машиностроение, 1980.214 с.
  98. И. В. Оптические спектральные приборы. М.: Машиностроение, 1984. 239 с.
  99. Фотоэлектрические методы спектрального анализа. М.: Оборонгиз, 1961. 96с.
  100. Т.Ф., Федорова В. В. Прибор ФЭС-1 на фотоумножителях. Л.: ЛДНТП, 1961.22 с.
  101. В.П. Использование фотоэлектрических приборов при спектральном анализе. Л.: ЛДНТП, 1965.
  102. И.И., Подмошенская C.B., Орлова С. А., Москалева Н. С. Новые отечественные фотоэлектрические установки для эмиссионного спектрального анализа. Л.: ЛДНТП, 1971.
  103. Л.М., Шлепкова З. И. Из опыта применения фотоэлектрических установок МФС-3 для спектрального анализа металлов, сплавов и порошковых проб. Л.: ЛДНТП, 1972. 31 с.
  104. Н.С., Орлова С. А., Подмошенская C.B., Трилесник И. И. Новые фотоэлектрические установки для эмиссионного спектрального анализа. Л.: ЛДНТП, 1979. 16 с.
  105. Фотоэлектрические системы с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа. Л.: ЛДНТП, 1987. 32 с.
  106. В.А., Попов В. И., Бехтерев A.B., Путьмаков А. Н., Пак A.C. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размера для атомно-эмиссионного спектрального анализа/ Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 104−109.
  107. В. А. Многоканальные оптические спектрометры для атомно-эмиссионного анализа : диссертация. доктора технических наук. Новосибирск, 2009.- 308 с.
  108. В.А., Попов В. И., Путьмаков А. Н., Бехтерев A.B., Селюнин Д. О. Анализаторы МАЭС и их использование в качестве систем регистрации и обработки атомно-эмиссионных спектров/ Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 110−115.
  109. И.Р., Гаранин В. Г., Чанышева Т. А. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) в спектральном анализе / Аналитика и контроль. 1998. Т. 2. № 1. С. 33−40.
  110. В. А. Многокристальные сборки линеек фотодиодов для атомно-эмиссионного спектрального анализа / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007.- Спецвыпуск, том 73. — с. 13−18.
  111. А. Н., Попов В. П., Лабусов В. А., Борисов А. В. Новые возможности модернизированных спектральных приборов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов.- 2007. Спецвыпуск. — том 73. — с.26−28.
  112. В.Н., Кошкина Е. В., Стешенко В. А. Определение примесей в чистых благородных металлах с использованием МАЭС / Материалы IV международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск. — 2003. С.18−19.
  113. И. Б., Лисиенко М. Д., Петреева Е. Ю. Совершенствование и аттестация МКХА благородных металлов и сплавов на их основе / Материалы V международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск. — 2004. С. 17.
  114. И.И. Применение МАЭС для проведения анализа аффинированных драгоценных металлов / Материалы V международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск. — 2004. С.79−83.
  115. H. Г., Василенко JI. И. Совершенствование аналитического контроля продукции предприятий цветной металлургии с помощью многоканальных анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. — Спецвыпуск. — том 73. -с.58−61.
  116. О. А., Байрачная О. В., Кобелевская Т. В. Применение атомно-эмиссионной спектрометрии для анализа бронз и сплавов на основе алюминия / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. — Спецвыпуск. — том 73. — с.95−100.
  117. В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. Программное обеспечение для автоматизации атомно-эмиссионного спектрального анализа — пакет «Атом» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. — Спецвыпуск. — Т.73. — с. 18−25.
  118. А.Н. Путьмаков, Л. Н. Комиссарова, И. Р. Шелпакова. О некоторых возможностях повышения эффективности атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб / Аналитика и контроль. 2008. -№ 3−4. — том 12. — с.120−129.
  119. А.Н., Гаранин В. Г. О выборе режимов работы универсальных генераторов «Шаровая Молния» и «Везувий» / Материалы IX международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск. — 2009. С.74−79.
  120. Д.Г., Домбровская М. А. Испытания стандартных образцов состава материалов с применением анализатора МАЭС / Материалы X международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск. — 2009. С.94−97.j
  121. A.M., Барановская В. Б., Карпов Ю. А. Исследование неопределенности результатов анализа цветных и редких металлов дуговым атомно-эмиссионным методом с МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1-И. С. 104−107.
  122. В. Г. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС): дисс. канд. хим. наук. Новосибирск. 2000 120 с.122
  123. В.Г., Мандрик Е. М. Программируемый генератор для возбуждения спектров «Шаровая молния». Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73, с.29−34.
  124. ТУ 48−4-485−88 Ниобия пятиокись. Технические условия.
  125. ТУ 48−4-408−78 Тантала пятиокись. Технические условия.
  126. ГОСТ 10 297–94 Индий. Технические условия.
  127. ТУ 48−4-350−84 Галлий высокой чистоты. Технические условия.
  128. O.A. Dalnova, O.A. Shiryaeva, Yu.A. Karpov, T.Yu. Alekseeva, A.A. Shiryaev, D.G. Filatova. Sorption-atomic-absorption determination of Platinum, Palladium and Rhodium in Dead Autocatalysts / Inorganic Materials, 2010, Vol. 46, No. 15, pp. 1613−1617.
  129. И. И., Ермаков А. Н.Аналитическая химия селена и теллура. М.: Наука. 1971.252 с.
  130. ГОСТ Р ИСО 5725−1-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. М.: ИПК Издательство стандартов, 2002 г.
  131. ГОСТ Р 8.563−2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Методики выполнения измерений. М.: Стандартинформ, 2010 г.
  132. РМГ 61−2003 ГСИ. Показатели точности, правильности, прецизионности методик количественного химического анализа. Методы оценки. М.: ИПК Издательство стандартов, 2003 г.
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!