Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Статистический контроль и управление качеством технологических процессов изготовления интегральных микросхем при мелкосерийном и прерывистом производстве

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Показано, что в последнем случае, оптимальным является комплексное применение разработанного статистического метода вместе с известными методиками. При этом переход к применению показателей настроенности и точности ТП или коэффициентов Ср и Срк для статистического контроля должен осуществляться при положительных результатах предварительного контроля с помощью применения толерантных границ… Читать ещё >

Статистический контроль и управление качеством технологических процессов изготовления интегральных микросхем при мелкосерийном и прерывистом производстве (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Условные обозначения и сокращения
  • Глава 1. Статистические методы управления качеством технологических процессов
    • 1. 1. Применение аппарата математической статистики при управлении качеством
    • 1. 2. Классификация статистических методов, применяемых для анализа и оценки состояния технологических процессов
      • 1. 2. 1. Оценка статистических параметров и проверка гипотез
      • 1. 2. 2. Критерии согласия опытного распределения контролируемого параметра с нормальным законом
      • 1. 2. 3. Дисперсионный анализ и характеристики изменчивости
    • 1. 3. Методы, применяемые при статистическом управлении процессами изготовления интегральных микросхем
      • 1. 3. 1. Диаграмма Парето
      • 1. 3. 2. Оценка налаженности технологического процесса на основе применения коэффициентов Ср и СрК
      • 1. 3. 3. Оценка показателей настроенности, точности и стабильности технологического процесса
      • 1. 3. 4. Контрольные карты регулирования
    • 1. 4. Выводы
  • Глава 2. Управление качеством технологических процессов изготовления интегральных микросхем. Порядок применения статистических методов
    • 2. 1. Система стандартов, регламентирующих качество интегральных микросхем
    • 2. 2. Технологическое обеспечение качества интегральных микросхем
  • -42.2.1 Технические требования к технологическим процессам
    • 2. 2. 2. Система операционного контроля в процессе производства
    • 2. 3. Формирование состава технологических операций и параметров для проведения статистического контроля и регулирования
    • 2. 4. Оценка качества технологических процессов при сертификации производства
    • 2. 5. Рекомендации по применению методов статистического контроля и регулирования технологических процессов
    • 2. 5. 1. Особенности применения методов статистического контроля и регулирования технологических процессов
    • 2. 5. 2. Порядок внедрения статистических методов при управлении технологическими процессами
    • 2. 6. Выводы
  • Глава 3. Разработка методики статистического контроля технологических процессов изготовления интегральных микросхем при мелкосерийном и прерывистом производстве
    • 3. 1. Теоретические основы применения толерантных границ для контроля технологических процессов при выпуске продукции малыми партиями
    • 3. 2. Порядок осуществления статистического контроля при мелкосерийном и прерывистом производстве
    • 3. 3. Метод статистического контроля для партий изделий малого объема при прерывистом производстве
      • 3. 3. 1. Оценка статистических характеристик по результатам контроля партий интегральных микросхем с различными количествами контролируемых значений параметра
  • -53.3.2 Оценка толерантных границ для контролируемого параметра по результатам испытаний интегральных микросхем с малыми объемами выборки
    • 3. 3. 3. Порядок сравнения результатов расчета толерантных границ со значениями контролируемого параметра и полем допуска
    • 3. 4. Выводы
  • Глава 4. Управление технологическими процессами изготовления интегральных микросхем с применением методов статистического контроля и регулирования
    • 4. 1. Примеры проведения статистического анализа технологических процессов с применением существующих методов
      • 4. 1. 1. Оценка состояния технологического процесса при контроле толщины защитного слоя окисла S
      • 4. 1. 2. Оценка состояния технологического процесса при контроле удельного поверхностного сопротивления
    • 4. 2. Управление технологическими процессами с применением метода статического контроля для партий малого объема при прерывистом производстве
      • 4. 2. 1. Контроль технологического процесса при производстве партий различного объема с применением толерантных границ
      • 4. 2. 2. Комплексный анализ технологического процесса с применением толерантных границ и показателей настроенности и точности
    • 4. 3. Выводы

Актуальность работы. В настоящее время, прерывистое производство и выпуск продукции малыми партиями являются характерными для широкой номенклатуры электрорадиоизделий (ЭРИ) и радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). При этом требования к качеству и надежности ЭРИ и РЭА продолжают повышаться. В первую очередь это относится к изделиям микроэлектроники, в том числе интегральным микросхемам (ИС). Это обусловлено особенностями развития полупроводниковой технологии, в частности, уменьшением проектных норм, ростом интеграции и функциональной сложности ИС. Со снижением проектных норм до малых значений, ИС становятся все более сложными в производстве.

Обеспечение, управление и постоянное повышение качества ИС на всех этапах жизненного цикла (разработка, производство, применение) — актуальная проблема, наиболее эффективный путь решения которой на стадиях разработки и производства — разработка и широкое применение статистических методов.

Ввиду постоянного возрастания функциональной сложности изделий микроэлектроники, роста номенклатуры и, вследствие этого снижения уровня унификации, для современной полупроводниковой промышленности стало характерным изготовление изделий под заказ и выпуск продукции малыми партиями.

Данная тенденция отражает одну из целей Всеобщего Управления Качеством (TQM), а именно, уменьшение размеров партий до минимально возможных для лучшего удовлетворения потребностей заказчика [1].

Кроме того, сокращение потребностей в изделиях микроэлектроники узкоцелевого назначения, в частности ИС для РЭА военного назначения обусловило их выпуск малыми партиями и вследствие этого прерывистый характер производства.

— 9 В этом случае поставки изделий, как правило, осуществляются малыми партиями различного объема, что, однако, не только не снижает требования к их качеству и надежности, но и создает сложности в их обеспечении.

При возникновении перерывов в производстве или изменении номенклатуры выпускаемых изделий, предприятию-изготовителю ИС необходимо проводить корректировку технологического процесса (ТП) для обеспечения нормального функционирования производства. При этом ввиду длительности технологического цикла, частые переналадки ТП являются крайне нежелательными.

Таким образом, проблемы, связанные с контролем ТП при прерывистом и мелкосерийном производстве становятся актуальными для предприятий-изготовителей ИС. В большей степени это касается отечественных предприятий при производстве больших и сверхбольших ИС.

В вышеупомянутых условиях осуществление управления качеством ТП при помощи существующих статистических методов контроля [2,3,4,5,6] является невозможным из-за недостаточного объема статистических данных.

Система менеджмента качества предприятия-изготовителя ИС не может быть достаточно полной и эффективной, если в ее составе отсутствуют методы, позволяющие осуществлять статистический анализ и регулирование ТП при изготовлении партий любых, в том числе малых объемов и прерывистом характере производства.

Вместе с тем в существующей нормативной документации (НД) [7,8,9] отсутствуют положения, регламентирующие порядок статистического контроля и управления качеством ТП изготовления ИС при прерывистом и мелкосерийном производстве.

Целью работы является разработка научно-методических основ управления качеством ИС для стандартизации и применения методов статистического контроля и регулирования ТП при изготовлении изделий малыми партиями и прерывистом характере производства.

Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

— провести анализ существующих методов статистического управления качеством ТП, особенностей производства ИС и разработать рекомендации по порядку применения данных методов для обеспечения качества ИС на различных этапах производства;

— провести анализ ТП производства ИС и определить состав критичных технологических операций (ТО) и контролируемых параметров для проведения статистического контроля и регулирования;

— уточнить формулы для оценки статистических характеристик по результатам контроля партий ИС с различными объемами контролируемых значений параметра при прерывистом производстве;

— провести оценку возможности применения толерантных границ для контроля качества ИС по малым выборкам и разработать метод контроля и регулирования ТП по результатам испытаний ИС с малыми объемами выборки;

— разработать метод статистического контроля ТП изготовления ИС для партий малого объема при прерывистом производстве и порядок его применения в сочетании с существующей НД;

— провести обработку экспериментальных данных контроля критичных параметров ТП изготовления ИС для подтверждения эффективности разработанного метода на конкретных примерах.

Научная новизна диссертации заключается в следующем:

— теоретически обосновано применение толерантных границ при проведении статистического контроля ТП для малых выборок;

— разработана методика осуществления статистического контроля при мелкосерийном и прерывистом производстве;

— уточнены формулы для оценки статистических характеристик среднего арифметического значения и среднего квадратического отклонения по результатам контроля партий ИС с различными объемами контролируемых значений параметра;

— разработан метод оценки толерантных границ для контролируемого параметра по результатам испытаний ИС с малыми объемами выборки (п.

— предложен алгоритм для анализа и сравнения результатов расчета толерантных границ со значениями контролируемого параметра и полем допуска;

— на основе проведенной оценки возможности и особенностей применения существующих методов статистического контроля и регулирования ТП даны рекомендации по условиям и порядку их применения для обеспечения качества ИС на различных стадиях производства. Практическая значимость работы.

1. Применение разработанной методики статистического контроля ТП изготовления ИС при мелкосерийном и прерывистом производстве позволяет более эффективно проводить оценку качества и анализ ТП производства ИС при следующих условиях:

— на начальной стадии производства и в период освоения новой продукции, при неритмичном характере производства и возникновении перерывов в производстве;

— при осуществлении поставок продукции партиями различного объема и использовании существующих статистических методов с учетом иерархической структуры статистических характеристик ИС.

— при осуществлении поставок продукции малыми партиями, в частности, при изготовлении больших и сверхбольших ИС и, соответственно, малых объемах выборок значений контролируемого параметра (п > 5).

— 122. Результаты проведенной оценки возможности и особенностей применения методов статистического контроля и регулирования ТП позволяют обоснованно:

— осуществлять выбор критичных ТО и соответствующих межоперационных параметров ТП и параметров ИС для статистического контроля;

— оценивать возможность применения и эффективно использовать при управлении ТП существующие статистические методы контроля и регулирования для обеспечения качества ИС на различных стадиях производства.

3. Разработана функциональность на основе электронных таблиц MS Excel 2000, позволяющая производить автоматизированную обработку и статистический анализ состояния ТП производства ИС по данным межоперационного контроля от 1 до 5 параметров.

4. Проведены статистический анализ и оценка состояния ТП по данным контроля толщины защитного слоя окисла Si02 и удельного поверхностного сопротивления на ряде предприятий-изготовителей ИС с применением разработанного и существующих статистических методов.

Положения, выносимые на защиту.

1. Метод статистического контроля ТП изготовления ИС для партий малого объема при прерывистом производстве и порядок его применения, включая:

— формулы для оценки статистических характеристик по результатам контроля партий ИС с различными объемами контролируемых значений параметра;

— метод оценки толерантных границ для контролируемого параметра по результатам испытаний ИС с малыми объемами выборки;

— порядок анализа и сравнения результатов расчета толерантных границ со значениями контролируемого параметра и полем допуска.

— 132. Рекомендации по условиям и порядку применения методов статистического контроля и регулирования для обеспечения качества ТП изготовления ИС на критичных ТО.

Реализация и внедрение результатов работы.

1. Результаты анализа состояния ТП использованы в процессе апробации положений ОСТ 11 14.1011 [8] при выполнении НИР «Осень-5» и «Осень-6», реализованных 22 ЦНИИИ МО РФ в 1999 г.- разработанная методика статистического контроля ТП изготовления ИС для партий малого объема при прерывистом производстве будет включена в качестве приложения в ОСТ 11 14.1011 [8].

2. Метод статистического контроля ТП изготовления ИС для партий изделий малого объема при прерывистом производстве и рекомендации по применению методов статистического контроля и регулирования ТП использовались ОАО «Ангстрем» и ОАО ЦКБ «Дейтон» при осуществлении статистического контроля ТП производства ИС.

Апробация работы.

Основные положения диссертационной работы докладывались на следующих научно-технических конференциях: Юбилейной 50-й Научно-технической конференции МИРЭА, г. Москва, 2001 г.- 51-й Научно-технической конференции МИРЭА, г. Москва, 2002 г.- Международной научно-технической школе-конференции «Молодые ученые — науке, технологиям и профессиональному образованию» «Молодые ученые — 2003», г. Москва, 2003 г.- Международной научно-технической школе-конференции «Межфазная релаксация в полиматериалах» «Полиматериалы — 2003», г. Москва, 2003 г.

Публикации.

Основные результаты диссертации представлены в 6 научных работах общим объемом 34 страницы, 4 работы написаны совместно с другими авторами.

4.3 Выводы.

Проведенные расчеты и оценка состояния ТП по данным контроля толщины защитного слоя окисла Si02 и удельного поверхностного сопротивления с применением толерантных границ, а также с помощью известных статистических методов наглядно показывают порядок и особенности их применения для контроля качества ИС, а также доказывают эффективность их применения как по отдельности, так и в комплексе.

Анализ ТП свидетельствует, что результаты оценок состояния ТП с помощью коэффициентов Ср и Срк и показателей настроенности, точности и стабильности хорошо соответствуют друг другу.

Оценка на основе показателей настроенности, точности и стабильности является более точной и информативной, с помощью коэффициентов Ср и Сркприближенной и менее трудоемкой.

Контрольные карты регулирования не всегда являются применимыми, так как эффективны только при достаточной точности и стабильности ТП.

Расчеты и построение диаграмм для сравнения значений контролируемого параметра с толерантными границами показали эффективность практического применения разработанного метода для статистического контроля при производстве малых партий различного объема, а также высокую наглядность и информативность данного метода при относительной простоте его применения.

Проведенная оценка состояния ТП по статистическим данным предприятий-изготовителей ИС позволяет сделать вывод о том, что практическое применение методов статистического контроля и регулирования ТП изготовления ИС является эффективным как на стадии установившегося производства, так и при освоении производства. В последнем случае, может использоваться оценка показателей настроенности, точности и стабильности ТП, поскольку данные показатели учитывают объемы выборок.

Однако, существующие методы неприменимы при изготовлении ИС малыми партиями и недостаточной ритмичности производства, в частности при прерывистомхарактере производстве, для которого характерно изготовление продукции партиями различного объема.

Показано, что в последнем случае, оптимальным является комплексное применение разработанного статистического метода вместе с известными методиками. При этом переход к применению показателей настроенности и точности ТП или коэффициентов Ср и Срк для статистического контроля должен осуществляться при положительных результатах предварительного контроля с помощью применения толерантных границ.

Сопряжение программной функциональности, разработанной для статистического анализа экспериментальных данных контроля, с испытательным оборудованием позволит улучшить точность и оперативность обработки данных, также информативность получаемой информации для принятия решений по регулированию ТП.

Результаты расчетов и полученные оценки состояния ТП использовались при апробации положений ОСТ 11 14.1011−99 «Микросхемы интегральные. Система и методы статистического контроля и регулирования технологического процесса».

— 112-ЗАКЛЮЧЕНИЕ.

Возможность осуществления эффективного статистического контроля и управления ТП имеет большое значение для обеспечения качества ИС при мелкосерийном и прерывистом производстве. Действительно, выпуск изделий малыми партиями и неритмичность производства характерны для современной микроэлектроники.

В диссертационной работе в соответствии с поставленной целью разработаны научно-методические основы управления качеством ИС при мелкосерийном и прерывистом характере производства: разработан метод статистического контроля ТП изготовления ИС при производстве партий малого объема и различных объемах контролируемых значений параметра, предложен порядок его применения в сочетании с существующей НД.

В рамках работы при решении поставленных задач были получены следующие результаты:

1. В результате анализа статистических методов применительно к контролю и управлению ТП изготовления ИС проведена классификация методов статистического контроля и регулирования ТП и определены методы, наиболее применимые для обеспечения качества ИС на этапе производства.

2. На основе проведенного анализа распределения отказов по операциям ТП изготовления ИС определены составы критичных ТО и параметров для проведения статистического контроля при осуществлении управления ТП и сертификации производства.

3. Благодаря проведенной оценке особенностей существующих статистических методов применительно к производству ИС, разработаны рекомендации по условиям и порядку их применения, которые были апробированы на ряде предприятий-изготовителей ИС. Результаты исследований использованы при разработке и апробации положений ОСТ 11 14.1011 [8].

4. Уточнены формулы для оценки статистических характеристик по результатам испытаний партий ИС с различными объемами контролируемых значений параметра. Полученные формулы также могут быть использованы при расчете показателей настроенности, точности и стабильности ТП в соответствии с ГОСТ РВ 20.57.412 [7], а также границ контрольных карт в соответствии с ОСТ И 14.1011 [8].

5. Теоретически обоснована возможность применения толерантных границ при проведении статистического контроля ТП для малых выборок (п > 5) и разработан метод оценки толерантных границ для контролируемого параметра по результатам испытаний ИС с малыми объемами выборки. Предложен порядок анализа и сравнения результатов расчета толерантных границ со значениями контролируемого параметра и полем допуска.

6. Проведены расчеты и оценка состояния ТП по экспериментальным данным контроля толщины защитного слоя окисла Si02 и удельного поверхностного сопротивления с применением толерантных границ, а также с помощью известных статистических методов, демонстрирующие порядок и особенности их применения для контроля ТП производства ИС. Показана эффективность и информативность применения разработанного метода статистического контроля ТП с помощью толерантных границ в комплексе с существующими методами управления качеством ИС.

Есть основания предполагать, что в перспективе, с учетом возрастания объемов производства ИС под конкретные цели, разработанный метод может занять главенствующее положение ввиду снижения количества заказов на изготовление ИС большими партиями и преобладания выпуска продукции малыми партиями различных объемов.

Автор выражает глубокую благодарность научному руководителю, д.т.н., проф. Дорошевичу Казимиру Казимировичу за внимание, поддержку и любезно предоставленную необходимую информацию. Считаю своим приятным долгом поблагодарить к.т.н., с.н.с. Попова Владимира Николаевича за идею использования толерантных пределов, проявленный интерес и полезные обсуждения.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Jeanes С. What is TQM (and what it is not). — Total quality management 3: Proc. of the 3rd intern, conf., 5−6 June, 1990, London, UK / Ed.: J. Oakland. -1 ed. -Bedford et al.: 1. S, 1990. — P. 3−6.
  2. Д. Статистические методы контроля качества / Пер. с англ.- Под ред. Б. Р. Левина. М.: ФизМатГиз, 1961. — 623 с.
  3. Д. Анализ процессов статистическими методами / Пер. с англ. В.Д. Скаржинского- Под ред. В. Г. Горского. М.: Мир, 1973. — 957с.
  4. А.Н. Статистические методы управления качеством / Чекмарев А. Н., Барвинок В. А., Шалавин В. В. М.: Машиностроение, 1999. — 319 с.
  5. А. Контроль качества продукции / Сокр. пер. с англ. Л. И. Павлови др. М.: Экономика, 1986. — 471 с.
  6. Messina W.S. Statistical quality control for manufacturing managers. New York et al.: Wiley, 1987. — 331 p.
  7. ГОСТ PB 20.57.412−97 KCKK. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Требования к системе качества. Госстандарт РФ, 1997.
  8. ОСТ 11 14.1011−99 Микросхемы интегральные. Система и методы статистического контроля и регулирования технологического процесса. 22 ЦНИИИ МО, 1999.
  9. Р 50−601−32−92 Рекомендации. Организация внедрения статистических методов управления качеством продукции на предприятии. Госстандарт РФ, 1992.
  10. Ю.Сажин Ю. В. Комплексное применение статистических методов в исследовании качества продукции. Саратов: Изд-во Саратов, ун-та, 1982.- 166 с.
  11. Проблемы контроля качества на мелких предприятиях / Stephenson A.R.- ВЦП. № И-33 519. — 23 с. World Quality Congress — 84. Brighton 1984. Proceedings, V.l. P. 327−341.
  12. Тру ханов B.M., Аристов А. И. Модели управления процессом обработки технических систем. Статистические методы регулирования технологических процессов, Т. 5(11), 1990. 98 с.
  13. Шор Я. Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. М.: Советское радио, 1962. — 552 с.
  14. У. Методы выборочного исследования / Пер. с англ. И.М. Сонина- Под ред. А.Г. Волкова- Предисл. Н. К. Дружинина. М.: Статистика, 1976. -440 с.
  15. Г., Урсяну В. Выборочный метод и статистическое оценивание:. Пер. с румын. / Под ред. В. Ф. Матвеева. М.: Финансы и статистика, 1982.-245 с.
  16. Справочник по теории вероятностей и математической статистике / В. С. Королюк, Н. И. Портенко, А. В. Скороход, А. Ф. Турбин. М.: Наука, 1985.-640 с.
  17. Г. Математические методы статистики / Пер. с англ. А. С. Монина и А.А. Петрова- Под ред. акад. А. Н. Колмогорова. 2-е изд., стереотип. -М.: Мир, 1975.-648 с.
  18. Дунин-Барковский И.В., Смирнов Н. В. Теория вероятностей и математическая статистика в технике: (Общая часть). М.: Гостехиздат, 1955.-556 с.
  19. С.А., Пугин М. В. Статистические модели и методы в измерительных задачах. Н. Новгород, 2000. — 115 с.
  20. Дж. Контрольные карты / Пер. с англ.- Предисл. Ю. П. Адлера. -М.: Финансы и статистика, 1986. 151 с.
  21. В.Н. Нормы и допуски на параметры функциональных узлов. М.: Энергия, 1976. — 72 с.
  22. .В. Математика и контроль качества продукции. М.: Знание, 1978.-64 с.
  23. Э., Шюрц О. Статистические методы управления качеством. Контрольные карты и планы контроля / Пер. с нем. Ивановой В. М., Решетниковой О. И. М.: Мир, 1976. — 597 с.
  24. РД В 11.070.059−79 Изделия электронной техники. Методы установления норм на электрические параметры. ВНИИ «Электронстандарт», 1980.
  25. В.М., Абрамов В. А., Брюнин В. Н. Системы управления качеством изделий микроэлектроники: (Теория и применение) / Предисл. проф. В. Н. Сретенского. М.: Советское радио, 1976. — 224 с.
  26. С. Практическое руководство по управлению качеством / Пер. с яп.- Под ред. В. И. Гостева. М.: Машиностроение, 1980. — 214 с.
  27. Использование статистических методов в управлении качеством продукции: Обзорная информ. / Сер. «Управление качеством продукции». Вып.4 / ВНИИКИ. М.: 1991. — 60 с.
  28. Taylor D.S. Wet-etch Process Improvements Through SPC (Statistical Process Control) // Solid State Technology. 1998. — Vol.7. — P. 119−129.
  29. Качество продукции: Статистические методы управления качеством. Регулирование технологических процессов методом группировки. Рекомендации / Сост. Сперанский Б. С., Бондарь М. Т., Фридлендер И. Г. и др.-М.: 1978.-29 с.
  30. Shewhart W.A. Economic Control of Quality of Manufactured Product. New York: D. Van Nostrand, 1931. — 501 p.
  31. Rissik H. Quality control in production. London, 1948. 181 p.
  32. OCT В 11 0998−99 Микросхемы интегральные. Общие технические условия. Система и методы операционного контроля. Госстандарт РФ, 1999.
  33. ОСТ 11 0999−99 Микросхемы интегральные. Обеспечение качества в процессе разработки. Требования к системе качества разработки. 22 ЦНИИИМО, 1999.
  34. ОСТ 11 20.9926−99 Микросхемы интегральные. Требования к элементам производства. Сертификация систем качества и производств. 22 ЦНИИИ МО, 1999.
  35. ОСТ 11 14.1012−99 Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля. 22 ЦНИИИ МО, 1999.
  36. ОСТ 11 1000−99 Микросхемы интегральные. Типовая форма построения и изложения Программы обеспечения качества. 22 ЦНИИИ МО, 1999.
  37. Круглый стол «Судьба электроники России» // Электроника. 2002. — № 2.-С. 4.
  38. В.Е., Захаров В. П., Коробов А. И. Системы технологического обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры. / Под ред. А. И. Коробова. -М.: Радио и связь, 1987. 160 с.
  39. ГОСТ РВ 20.57.411−97 КСКК. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Организация работ по сертификации систем качества и производств. Госстандарт РФ, 1997.
  40. С.А. Статистические методы управления и оценки качества технологических процессов. Особенности применения для обеспечения качества интегральных микросхем // Микроэлектроника. 2002. — Т. 31. -№ 1.- С. 24−30.
  41. Условия контроля за процессом мелкосерийного многономенклатурного производства / ВЦП. № М-5289. — 17 с. Пер. ст. Ямада К., Исимура. Я. Из журн.: Кэйсо. 1985. Т. 28, № 8. — С. 25−31.
  42. М.И., Бедрековский М. А., Вуколов Н. И., Голубев В. В. Особенности обеспечения и контроля качества изделий единичного имелкосерийного производства // Экономика и производство. 1999. — № 4.-С. 15−17.
  43. К.К., Попов В.Н.,. Стрижков С. А Методика статистического контроля технологических процессов изготовления интегральных микросхем для партий малого объема при прерывистом производстве // Микроэлектроника. 2002. — Т. 31. — № 2. — С. 152−160.
  44. К.К., Стрижков С. А. Статистический контроль технологического процесса изготовления интегральных микросхем при производстве партий различного объема // Наукоемкие технологии (в печати).
  45. Wolfowitz J. Confidence limits for the fraction of a normal population which lies between two given limits. AMS, 1946, Vol. 52, N. 9.
  46. Jl.H., Смирнов H.B. Таблицы математической статистики. — М.: Наука, 1983.-416 с.
  47. Kirschling G. Quality assurance and tolerance: Transl. from german. -Berlin etc.: Springer, 1991. 335 p.
  48. РД 22.12.174−94 Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества. 22 ЦНИИИМО, 1994.
  49. ОСТ 11 073.013−83 Микросхемы интегральные. Методы испытаний. МинЭлектронПром, 1983.
  50. РД 11 0274−90 Микросхемы интегральные. Требования к технологическим процессам сборки. МинЭлектронПром, 1990.
  51. РД 11 0236−85 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Формы сопроводительной документации в процессе производства. МинЭлектронПром, 1985.
Заполнить форму текущей работой