Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Осаждение поликристаллических алмазных пленок в аномальном тлеющем разряде

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Работа выполнялась при поддержке ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007—2013 годы»: ГК № 16.516.11.6100 от 08.07.2011 «Разработка научно-технических основ повышения надежности и долговечности светодиодных световых приборов повышенной мощности для увеличения освещенности» (2011 — 2012 гг.), ФЦП «Научные… Читать ещё >

Осаждение поликристаллических алмазных пленок в аномальном тлеющем разряде (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Глава 1. Свойства, области применения и методы синтеза поликристаллических алмазных пленок (литературный обзор)
    • 1. 1. Структура и свойства алмаза
      • 1. 1. 1. Структура алмаза
      • 1. 1. 2. Свойства алмаза
    • 1. 2. Метод осаждения алмаза из газовой фазы
    • 1. 3. Термические и плазменные методы осаждения алмаза из газовой фазы
      • 1. 3. 1. Метод горячей нити
      • 1. 3. 2. Осаждение в плазме СВЧ-разряда
      • 1. 3. 3. Осаждение в плазме индукционного разряда
      • 1. 3. 4. Высокоскоростное плазмотронное осаждение
      • 1. 3. 5. Осаждение алмазных пленок в оксиацетиленовом пламени
    • 1. 4. Плазмохимические реакторы для осаждения алмаза в плазме тлеющего разряда
    • 1. 5. Области применения алмазных пленок, синтезируемых методом СУГ)
      • 1. 5. 1. Режущий инструмент
      • 1. 5. 2. Оптические окна
      • 1. 5. 3. Теплоотводы на основе алмазных пленок
      • 1. 5. 4. Другие применения алмазных пленок
    • 1. 6. Выводы к главе 1
  • Глава 2. Экспериментальная установка и используемое оборудование
    • 2. 1. Реактор на основе аномального тлеющего разряда
      • 2. 1. 1. Конструкция плазмохимического реактора
      • 2. 1. 2. Разрядная система
      • 2. 1. 3. Стабилизация положения плазменного шнура и система газоподачи
      • 2. 1. 4. Особенности питания разряда
    • 2. 2. Анализ плазмы методом оптико-эмиссионной спектроскопии
    • 2. 3. Методы исследования пленок
      • 2. 3. 1. Микроскопические методы исследования
      • 2. 3. 2. Методы определения фазового состава
      • 2. 3. 3. Элементный анализ
      • 2. 3. 4. Определение равномерности толщины алмазных пленок
      • 2. 3. 5. Исследование механических свойств пленок
    • 2. 4. Выводы ко 2 главе
  • Глава 3. Экспериментальные исследования аномального тлеющего разряда и оптико-эмиссионная спектроскопия плазмы
    • 3. 1. Исследование влияния состава газовой смеси, межэлектродного расстояния и давления на характеристики разряда
      • 3. 1. 1. Зависимость вольтамперной характеристики разряда от состава газовой смеси
      • 3. 1. 2. Влияние межэлектродного расстояния на характеристики разряда
      • 3. 1. 3. Влияние давления в реакторе
    • 3. 2. Оптико-эмиссионная спектроскопия плазмы
      • 3. 2. 1. Анализ оптико-эмиссионного спектра плазмы тлеющего разряда
      • 3. 2. 2. ОЭС — как инструмент количественного анализа радикалов в плазме
      • 3. 2. 3. Исследование распределения активных радикалов по сечению плазмы
      • 3. 2. 4. Выбор оптимальных условий осаждения пленок на основе оптико-эмиссионных спектров
    • 3. 3. Выводы к 3 главе
  • Глава 4. Осаждение алмазных пленок из плазмы аномального тлеющего разряда
    • 4. 1. Методика синтеза алмазных пленок
      • 4. 1. 1. Техника зародышеобразования на разных типах подложек
      • 4. 1. 2. Осаждение пленок алмаза из плазмы разряда
      • 4. 1. 3. Получение «свободных» алмазных пленок
    • 4. 2. Морфология поверхности, элементный и фазовый состав пленок
    • 4. 3. Осаждение алмазных пленок на твердосплавный режущий инструмент
      • 4. 3. 1. Повышение адгезии пленок методом химического травления
      • 4. 3. 2. Экспериментальное исследование адгезионных свойств и износостойкости алмазных покрытий
    • 4. 4. Выводы к 4 главе

Актуальность работы. В настоящее время алмаз известен как материал, обладающий исключительной совокупностью уникальных свойств. Экстремальные значения твердости, теплопроводности, прозрачности, химической инертности и многих других свойств делают алмаз крайне привлекательным для использования практически в любой отрасли науки и техники. Но такие факторы как, его крайне высокая стоимость, трудность обработки и малые размеры, серьезно ограничивают области применения монокристаллического алмаза, несмотря на развитие метода синтеза при высоких давлениях и температурах (НРНТ).

Развитие технологии газофазного осаждения (СУБ) позволило создавать не только монокристаллы, но и поликристаллический алмаз в виде пленок и пластин. Благодаря этому в настоящее время поликристаллический алмаз применяется в качестве упрочняющих и износостойких покрытий на режущем инструменте, выводных окон мощных лазеров, гиротронов и синхротронов, высокоэффективных теплоотводов для силовой электроники, корозионностойких полупроводниковых электрохимических электродов и др.

Несмотря на интенсивное развитие методов газофазного осаждения стоимость алмазного материала на сегодняшний день еще слишком высока для широкого применения. Главными причинами этого являются высокая сложность технологического процесса, высокие капитальные и эксплуатационные затраты, а кроме того низкая скорость роста и ограниченная площадь осаждения алмаза.

В качестве альтернативы наиболее распространенным сейчас методам осаждения в микроволновой плазме и при помощи горячей нити весьма многообещающими представляется метод, в котором углеродсодержащий газ активируется тлеющим разрядом. Простота оборудования, относительно высокие скорости роста алмаза, а также большие площади осаждения могли бы сделать этот метод наиболее привлекательным для применения в промышленности. Но, несмотря на достоинства, существующие конструкции плазмохимических реакторов на основе тлеющего разряда имеют серьезные недостатки: подложка является частью разрядной системы, что затрудняет контроль ее температурыкрайне высокая избирательность к материалу подложки, ее форме и размерамзагрязнение пленки продуктами эрозии электродов;

Помимо этого практически отсутствуют систематические исследования процесса осаждения из плазмы тлеющего разряда, позволяющие сделать выводы о влиянии состава исходной газовой смеси и состава плазмы над подложкой на рост алмазных пленок.

Все вышеизложенное обуславливает актуальность разработки конструкции плазмохимического реактора, лишенного описанных недостатков без ущерба для скорости и площади осаждения, и проведения исследований плазмохимических процессов в разряде, влияющих на процесс осаждения алмаза.

Работа выполнялась при поддержке ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007—2013 годы»: ГК № 16.516.11.6100 от 08.07.2011 «Разработка научно-технических основ повышения надежности и долговечности светодиодных световых приборов повышенной мощности для увеличения освещенности» (2011 — 2012 гг.), ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» на 2009;2013 годы: ГК № П830 от 24.05.2010 «Разработка технологий ядерного топлива перспективных ядерных энергетических установок» (2010 — 2012 гг.), ГК № Н.46.45.90.11.1149 от 28.04.2011 с государственной корпорацией «РОСАТОМ» «Разработка технологии и установки для нанесения функциональных покрытий на поверхность таблетированного и микрокапсулированного ядерного топлива» (2011 г.).

Цель выполненной работы состоит в разработке метода и изучении закономерностей формирования поликристаллических алмазных пленок в плазме тлеющего разряда.

Для достижения поставленной цели решались следующие задачи: разработать конструкцию разрядной системы, в которой обеспечивается стабильное горение разряда при давлениях, необходимых для газофазного синтеза алмазаисследовать поведение разряда в условиях синтеза алмазных пленокисследовать особенности наработки активных радикалов в плазме разрядаопределить оптимальные режимы осаждения алмазаисследовать процесс нуклеации и роста алмазных пленок в плазме тлеющего разряда;

Научная новизна работы заключается в том, что:

1. Впервые реализован плазмохимический синтез поликристаллических алмазных пленок из АГ/Н2/СН4 плазмы аномального тлеющего разряда в условиях, когда подложка не является частью разрядной системы.

2. Впервые с помощью метода оптико-эмиссионной спектроскопии исследовано распределение возбужденных атомов водорода, а также углеродных радикалов С2 и СН, по сечению плазменного шнура аномального тлеющего разряда в атмосфере А1УН2/СН4. Установлено, что концентрация атомарного водорода в центральной части шнура более чем в 100 раз превышает его значение на периферии, в то время как концентрация углеродных радикалов слабо меняется по сечению плазмы.

3. Установлено, что в плазме разряда концентрация молекул С2 возрастает более чем в 2,5 раза при повышении давления в диапазоне от 20 до 200 Topp.

4. Впервые в реакторе с одним плазменным шнуром измерена равномерность скорости роста и определена максимальная площадь осаждения алмазных пленок.

Практическая значимость работы:

1. Разработан альтернативный метод осаждения алмазных пленок в плазме тлеющего разряда, в котором подложкой может быть как токопроводящей, так и диэлектрической, а температура подложки регулируется независимо от мощности разряда. Представлены оптимальные параметры осаждения.

2. Полученные данные о равномерности роста пленок в системе с одним плазменным шнуром могут стать основой построения многоэлектродных систем с большой площадью осаждения.

3. Предложенный в работе метод двухступенчатого травления позволил существенно улучшить адгезию алмазных покрытий на режущем твердосплавном инструменте из WC-Co.

Положения, выносимые на защиту:

1. Разработан новый метод осаждения алмазных пленок из плазмы аномального тлеющего разряда в широком диапазоне давлений (20 — 250 Topp) на металлические, полупроводниковые и диэлектрические подложки.

2. Максимальная скорость роста поликристаллических алмазных пленок достигается при температуре подложки 950 — 1000 °C, давлении в реакторе 20 — 60 Topp и содержании метана относительно водорода в смеси 1,7−2%.

3. При увеличении давления в реакторе в диапазоне от 20 до 200 Topp, концентрация молекул С2 в плазме аномального тлеющего разряда возрастает более чем в 2,5 раза.

4. В разработанном реакторе при постоянной температуре подложки равномерность скорости роста алмазной пленки на уровне 5% обеспечивается при ширине подложки не более 35±5 мм.

Достоверность полученных результатов обеспечивается использованием современных методов исследования микроструктуры и свойств изучаемых материалов, применением прецизионного оборудования, анализом литературных данных и сопоставления полученных в ходе выполнения настоящей работы результатов с данными других исследователей.

Личный вклад автора в диссертационную работу заключается в постановке задач исследования, планировании и проведении экспериментов, обработке и интерпретации полученных результатов, формулировке защищаемых научных положений и написании статей по теме диссертации.

Лично автором:

— разработана и исследована конструкция разрядной системы и ее вольтамперные характеристики;

— разработана конструкция плазмохимического реактора и технология осаждения алмаза;

— разработана методика анализа распределения радикалов в плазме и использована для определения оптимальных условий осаждения пленок;

— предложен метод улучшения адгезии алмазных пленок на твердых сплавах, проведена предварительная обработка образцов, осаждены покрытия на твердосплавные резцы;

— проведена расшифровка и трактовка результатов, полученных при осаждении алмаза, рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов, спектроскопии комбинационного рассеивания и скретч-тестирования.

Совместно с соавторами, указанными в списке публикаций, проведены исследования распределения радикалов в плазменном шнуре.

Апробация работы. Основные материалы диссертации докладывались и обсуждались на научных семинарах в Институте физики высоких технологий, г. Томск, а также на международных и национальных конференциях: 10-й Международной конференции «Пленки и покрытия — 2011» (Санкт-Петербург) — 22nd European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes, and Nitrides (Garmish-Partenkirchen, 2011) — International Conference on Diamond and Carbon Materials 2012 (Granada) — 8-й международной конференции «Ядерная и радиационная физика» (Алматы, 2011 г.) — Школы-конференции «Актуальные проблемы разработки и производства ядерного топлива» (Звенигород, 2010 г.) — Всероссийской научно-технической конференции «Научная сессия ТУ СУР 2013» (Томск, 2013 г.).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 7 работ: из них 1 статья в журнале с высоким импакт-фактором (>1) — 3 статьи в ведущих рецензируемых научных журналах, рекомендованных ВАК;

Структура и объем диссертации

Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения и списка цитируемой литературы.

Список литературы

включает 109 наименований. Работа изложена на 104 страницах, содержит 72 рисунков и 10 таблиц.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ.

1. Разработанная разрядная система обеспечивает стабильное горение аномального тлеющего разряда и эффективную активацию газовой смеси АГ/Н2/СН4 в широком диапазоне давления, разрядного тока, межэлектродного расстояния и объемного газового расхода.

2. Впервые с помощью метода оптико-эмиссионной спектроскопии исследовано распределение возбужденных атомов водорода, а также углеродных радикалов С2 и СН, по сечению плазменного шнура аномального тлеющего разряда в атмосфере АГ/Н2/СН4. Установлено, что концентрация атомарного водорода в центральной части шнура многократно превышает его значение на окраине, в то время как концентрация углеродных радикалов слабо меняется по сечению плазмы.

3. Оптимальное содержание аргона в процессе осаждения алмаза из плазмы аномального тлеющего разряда составляет от 50 до 70%, как с точки зрения энергетических затрат, так и по причине наивысшей активации водорода.

4. В разработанном плазмохимическом реакторе получены пленки поликристаллического алмаза различного качества толщиной до 100 мкм с различной ориентацией кристаллитов ({111}, {100}) на подложках из Mo, Si, WC-Co со скоростью до 6,5 мкм/ч.

5. Исследована морфология, элементный и фазовый состав полученных пленок и доказано, что основной составляющей их фазой является алмаз.

6. Показано, что в системе с одним плазменным шнуром равномерность скорости роста алмазной пленки на уровне 5% обеспечивается при ширине подложки не более 35±5 мм. При большей ширине происходит процесс постепенного насыщения пленки неалмазным углеродом вплоть до полного блокирования роста алмаза.

7. Показано, что предварительное двухступенчатое химическое травление подложек из твердых сплавов WC-Co в растворах K3[Fe (CN)6]: K0H: H20 и ЬПЧОзгНгО существенно повышает адгезию алмазных пленок за счет повышения шероховатости и удаления основной части кобальта с поверхности.

8. Разработанный плазмохимический метод позволяет осаждать поликристаллические алмазные пленки на широкий круг материалов, причем подложка при осаждении не является частью разрядной системы, что дает возможность применять в качестве подложек как проводники, так и диэлектрики.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Oliver James Louis Fox, Deposition of nanocrystalline diamond films by MW plasma CVD & Gas-phase diagnostics using in-situ molecular-beam mass spectrometry and emission spectroscopy: Ph.D. Thesis. University of Bristol, 2002. — P. 8.
  2. A. M., Кудрявцев Ю. П. Алмаз, графит, карбин — аллотропные формы углерода // Природа. 1969. — № 5. — С.37−44.
  3. W., Lamb L.D., Fostiropoulos К., Huffman D.R. // Nature. -1990. V.347. -N. 354. — P.354−358.
  4. Ivanov V. at al., Catalytic production and purification of nanotubules having fullerene-scale diameters // Carbon. -1995. V.33. -N. 12. — P. 1727−1738.
  5. Wang J. Modern termodinamics. Beijing. — Springer, 2011. — P. 247−250.
  6. Fujimori N., Imai Т., Doi A. Characterization of Conducting Diamond Films // Vacuum. -1986.-V. 36. -P.99−102.
  7. URL: http://www.diamond-materials.com/downloads/cvd diamond book.let.pdf. Дата обращения: 09.04.2013.
  8. Ramamurti R. at al., Boron doped diamond deposited by microwave plasma-assisted CVD at low and high pressures // Diamond and Rel. Mater. -2008. V.17. -I. 4−5. — P.481−485.
  9. Davies G. Properties and growth of Diamond. London. — Inspec, 1994. — P. 261−288.
  10. Tshepe Т., Kasl C., Prins J. F" Hoch M. J. R. // Phys. Rev. -2004. V. В 70. — P.245 107.1−7.
  11. R. G. // Solid State Comm. -1969. V.7. — P.685−688.
  12. Koizumi S., Suzuki M. n-Type doping of diamond // Phys. Status Solidi A-Appl. Mat. -2006. V.203. — I. 13. — P.3358.
  13. Wilks E. M., Wilks, J. The hardness properties of cube faces of diamond // Phil. Mag. ser.1954. V. 7. -1. 45. — P.844−849.
  14. Denning R. M. Directional grinding hardness in diamond: A further study //Am. Mineral., 1955.-V. 40. P.186−191.
  15. Berman R. Physical properties of diamond. Oxford. — Clarendon press, 1965. — P.373.
  16. .В., Федосеев Д. В. Рост алмаза и графита из газовой фазы. М.: Наука, 1977.- 115 с.
  17. .В. Синтез алмаза методом химических реакций: Диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук. Москва: ИФХ РАН, 1966. С. 100−123.
  18. В. V., Bouilov L.L., Derjaguin B.V. //J. Cryst. Growth. -1981. V.52. — P.219.
  19. Matsumoto S., Sato Y., Kamo M., SetakaN. //Jpn. J. Appl. Phys. -1982. V.21. — P.183.
  20. Y., Matsumoto S., Setaka N. // Mater. Sci. Lett. -1983. V.2. — P.532.
  21. Goodwin D.G., Butler J.E. Theory of diamond chemical vapor deposition, Handbook of industrial diamonds and diamond films. New York: Marcel Dekker, 1998. — P. 527.
  22. Netto A., Frenklach M. Kinetic Monte Carlo simulations of CVD diamond growth-interlay among growth, etching, and migration // Diamond and Related Materials. -2005. V. 14. -I. 10.-P.1630.
  23. Matsumoto S. Chemical vapour deposition of diamond in RF glow discharge // Journal of materials science letters. -1985. V. 4 — P.600−602.
  24. Ando Y., Tachibana T., Kobashi K. Growth of diamond films by a 5-kW microwave plasma CVD reactor // Diamond and Rel. Mater. 2001. — V. 10, — I. 3−7. — P.312−315.
  25. Lee J.-K., Baik Y.-J, Eun K.Y., Pack J.-W. // Diamond Rel. Mater. 2001. — V. 10, — P.552.
  26. Gray K.J., Windishmann H. Free-standing CVD diamond wafers for thermal management by d.c. arc jet technology // Diam. and Rel. Mater. 1999. — V. 8, -1. 2−5. — P.903−908.
  27. Matsumoto S., Hino M., Kobayashi T. Synthesis of diamond films in a rf induction thermal plasma // Appl. Phys. Lett. 1987. — V. 51, -1. 10. — P.737.
  28. Beckman J., Jackman R. B., Foord J. S. Capacitively coupled r.f. plasma sources: a viable approach for CVD diamond growth // Diam. and Rel. Mater. 1994. — V. 3, — I. 4−6. -P.602−607.
  29. Bolshakov A.P., Konov V.I., Prokhorov A.M., Uglov S.A., Dausinger F. Laser plasma CVD diamond reactor // Diam. and Rel. Mater. 2001. — V. 10, -1. 9−10. — P. 1559−1564.
  30. Han Q.Y., Or T.W., Lu Z.P., Heberlein J., Pfender E. // Proceedings of the Second International Symposium on Diamond Materials. 1991. — V. 91, — P. 115.
  31. King D., Yaran M.K., Schuelke T., Grotjohn T.A., Reinhard D.K., Asmussen J. Scaling the microwave plasma-assisted chemical vapor diamond deposition process to 150−200 mm substrates // Diam. and Rel. Mater. 2008. — V. 17, -1. 4−5. — P.520−524.
  32. Wolden C. A., Davis R. F., Sitar Z., Prater J.T. Low-temperaturedeposition of optically transparent diamond using a low-pressure flat flame // Diam. and Rel. Mater. 1997. — V. 6, -I. 12. — P.1862−1867.
  33. Dong L., Ma B., Dong G. Diamond deposition at low temperature by using CH4/H2 gas mixture // Diam. and Rel. Mater. 2002. — V. 11, -1. 9. — P. 1697−1702.
  34. Zhang G. F., Buck V. Diamond growth by hollow cathode arc chemical vapor deposition at lowpressure range of 0.02−2 mbar // Diam. and Rel. Mater. 1999. — V. 8, -1. 12. — P.2148−2151.
  35. Okada M., Nishigawara Y., Kubomura K. A process for continuous manufacturing od diamond in atmosphere // Diam. and Rel. Mater. 2002. — V. 11, -1. 8. — P.1479−1484.36.
Заполнить форму текущей работой