Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Двумерные заряженные системы на поверхности жидкого гелия. 
Устойчивость и реконструкция заряженных пленок жидкости

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Решена задача об устойчивости тонкой незаряженной ограниченной пленки жидкости, удерживаемой на твердом потолке силами Ван-дер-Ваальса. Предсказан и описан новый вид неустойчивости — тонкая бесконечная пленка жидкости, удерживаемая на твердом потолке силами Ван-дер-Ваальса теряет устойчивость по отношению к малым колебаниям, когда ее толщина превышает критическое значение /г*. Показано, что при… Читать ещё >

Двумерные заряженные системы на поверхности жидкого гелия. Устойчивость и реконструкция заряженных пленок жидкости (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Введение
  • 2. Массивный гелий
    • 2. 1. Геометрия задачи
    • 2. 2. Неустойчивость заряженной поверхности гелия
    • 2. 3. Реконструкция, динамическое описание
    • 2. 4. Реконструкция, вариационное описание
    • 2. 5. Экспериментальные результаты
    • 2. 6. Луночное описание реконструкции
  • 3. Тонкая пленка в инверсионных условиях
    • 3. 1. Особенности инверсионной задачи
    • 3. 2. Неустойчивость инверсионной пленки
    • 3. 3. Реконструкция пленки бесконечных размеров
    • 3. 4. Реконструкция ограниченной нейтральной пленки
    • 3. 5. Реконструкция заряженной инверсионной пленки
  • 4. Заряженная тонкая пленка жидкости
    • 4. 1. Введение
    • 4. 2. Бесконечная заряженная пленка
    • 4. 3. Реконструкция бесконечной заряженной пленки с произвольf ным d
    • 4. 4. Критическое поведение тонкой пленки
    • 4. 5. Деформация заряженной пленки ограниченных размеров
    • 4. 6. Обсуждение экспериментов по неустойчивости и реконструкции на тонких пленках
  • 5. Двумерная система макроскопических кластеров у поверхности жидкого гелия
    • 5. 1. Диплоны и ионы большого радиуса
    • 5. 2. Заряженные комплексы

Двумерные заряженные системы на поверхности жидкости при низких температурах изучаются давно, и интерес к ним не ослабевает. В данной диссертации рассматриваются лишь некоторые аспекты этой обширной тематики. И хотя предпринятые теоретические исследования относятся к достаточно разнородному набору объектов, имеются существенные обобщающие моменты. Во-первых, свойства двумерных заряженных систем исследуются в основном методами электростатики, т. е. рассматривается только такой круг явлений, где квантовые характеристики частиц, составляющих 2D систему, можно не принимать в расчет. Во-вторых, главное внимание уделяется определению тех условий, при которых данные 2D системы устойчивы.

Проблема устойчивости заряженной поверхности жидкости возникла в 30-е годы в связи с обнаружением распада тяжелых атомных ядер. Капельный сценарий этой неустойчивости, предложенный Френкелем [1, 2], и независимо Бором и У ил ером [3] оказался первой приемлемой моделью, объясняющей происхождение данного фундаментального явления. Более ранний и менее знаменитый плоский вариант задачи о спектре колебаний заряженной поверхности жидкости (Френкель [4, 5], Тонкс [6]), оказался востребованным по существу лишь в 70-е годы, когда начались интенсивные исследования свойств различных низкоразмерных заряженных образований. Одно из них — 2D заряженная система на поверхности жидких диэлектриков (гелия, водорода и т. п.) в большой степени контролируется эффектом Френкеля, Тонкса [4, 5, 6], т.к. предсказанная ими неустойчивость ограничивает сверху плотность заряженных частиц на поверхности жидкого диэлектрика.

Среди этапных работ о развитии неустойчивости и реконструкции заряженной поверхности жидкости фигурируют работы Горькова, Черниковой [7, 8], обобщающие «металлические» результаты [4, 5, 6] на случай жидких диэлектриков с поверхностным зарядом на свободной границе вакуум-жидкость или границе двух жидкостейобнаружение такой неустойчивости (Володин, Хайкин, Эдельман [9, 10]) — прямые измерения закона дисперсии колебаний заряженной границы двух жидкостей с демонстрацией его критического поведения (Лейдерер [11]) — предсказание возможности реконструкции заряженной поверхности жидкости в закритичных условиях (Горьков, Черникова [8, 12, 13]) и его экспериментальное подтверждение (Лейдерер, Ваннер [14, 15]). Термин «реконструкция», используемый здесь и ниже, не является общепринятым (но нет и ничего адекватного). Речь идет о переходе заряженной поверхности жидкости из плоского состояния в деформированное (периодически или апериодически) с амплитудой и периодом, зависящими определенным образом от близости к точке перехода.

Интенсивно развиваясь в последние годы, проблема устойчивости поверхности жидкости оказалась весьма продвинутой в нескольких направлениях: реконструкция свободной границы жидких диэлектриков и феррожидкостей [16] - [21], неустойчивость и реконструкция плоской, массивной заряженной поверхности жидкости (наряду с [7] - [15], см. [22] - [34]), устойчивость цилиндрических и сферических жидких поверхностей [35].

40], гравитационная неустойчивость жидкой поверхности в инверсионных условиях [41], и т. д. В частности, вполне самостоятельно выглядит задача об устойчивости и реконструкции тонких заряженных пленок. Многие детали этого явления установлены лишь недавно и в совокупности не обсуждались. В данной работе такая попытка реализована.

Идеологически близкой является задча о внедрении в гелий наноча-стиц. Эти частицы формируют в жидкости структуры с новыми, необычными свойстами (см. например, [84, 85]). Имеется возможность связать такое включение с электроном [87]. Полученные в результате тяжелые заряженные кластеры, локализованные у поверхности гелия действием сил Ван-дер-Ваальса, могли бы стать еще одной необычной реализацией 2D системы. Другая возможность — получение связанного состояния электрона над поверхностью гелия с нейтральной наночастицей под его поверхностью. Такого рода системы тяжелых частиц могли бы стать объектом для визуального наблюдения двумерной кулоновской кристаллизации.

Содержание диссертации складывается из нескольких частей. Вначале речь идет о массивной задаче (изложение известных результатов, удобное для последующего сравнения с пределом тонких пленок). Затем обсуждается задача об устойчивости и реконструкции инверсионной пленки жидкости в нейтральном и заряженном состояниях. Далее излагаются результаты, касающиеся вариантов поведения неустойчивой заряженной тонкой пленки гелия (водорода). В заключение теоретически обосновывается возможность существования устойчивых двумерных систем тяжелых заряженных комплексов в гелии, и обсуждаются условия их кулоновской кристаллизации.

2. Массивный гелий.

2.1. Геометрия задачи.

Рассмотрим систему рис. 2.1.

Электрические голя Енад и J5+ под заряженной с плотностью ns поверхностью гелия равны V d.

Е-= -— 4тга~ 2.1 h h l + {2.2) h * h где, а = ens, V-разносгь потенциалов между пластинами ячейки Рис. 1.

В условиях полной экранировки внешнего поля над гелием, когда Е- = 0, величина оказывается равной.

— V/d (2.3).

При заданных do и У, где-толщина пленки гелия в отсутствии внешнего поля, поверхность гелия прогибается под действием электронного давления (случай = 0) Pd = El/8 7 г на глубину to = d-d0, (2.4) величина которой определяется условиями механического равновесия и сохранения полного объема жидкости.

РЗ (оP9U (2'5) metal h.

2D.

77' ~ы — tj.

— metal л Ь ->

L d 0.

L0.

Рис. 2.1. Схема ячейки с 2D электронной системой .

L2iо + (Ll — L2)£оо = 0, L0 > L, |oo |" d. (2.6).

Здесь p, g — плотность жидкого гелия и ускорение силы тяжести, Lрадиус электронного диска на поверхности гелия, Lo, 6oo — РЗДиус и деформация жидкой поверхности за пределами электронного диска. Условие (2.5) имеет место при.

Г1 < L, к'1.

I/2 6.

8тг рдЧ.

Пленка считается массивной, если д*=д (1 +.

L2.

2.8).

K0d «1.

2.9).

При этом равновесные и динамические свойства заряженной поверхности жидкости не зависят от dg и степени ее деформации (2.8), хотя такой эффект всегда сопровождает появление электронов на поверхности жидкости, (см., например, Рис. 2 из [42]).

Основные результаты выполненной работы.

1. Решена задача об устойчивости тонкой незаряженной ограниченной пленки жидкости, удерживаемой на твердом потолке силами Ван-дер-Ваальса. Предсказан и описан новый вид неустойчивости — тонкая бесконечная пленка жидкости, удерживаемая на твердом потолке силами Ван-дер-Ваальса теряет устойчивость по отношению к малым колебаниям, когда ее толщина превышает критическое значение /г*. Показано, что при толщине ограниченной инверсионной пленки большей критического значения происходит реконструкция — пленка переходит из плоского в устойчивое искривленное состояние. В центре ячейки образуется капля, амплитуда которой растет, а края утончаются с увеличением средней толщины слоя жидкости.

2. Построена теория метастабильных стационарных состояний сильно заряженных пленок жидкого вододорода с произвольным значением параметра d — расстояния между поверхностью жидкости и управляющим электродом. Показано, что такие состояния в одномерном случае не реализуются. Решение двумерной задачи показывает, что метастабильные состояния поверхности в виде гексагональной структуры могут возникать. Определены пределы изменения параметров d, и 7, в которых реализация таких состояний возможна.

3. Найдены решения нелинейного уравнения, описывающего стационарное состояние сильно заряженной, ограниченной и неограниченной поверхности водорода с малым значением параметра fl.

4. Для ограниченной пленки, когда края жидкого слоя оказываются незаряженными, критические условия определяются двумя факторами: деформацией поверхности и развитием линейной неустойчивости малых колебаний. Показано, что критические условия для бесконечной и ограниченной пленок могут сильно различаться.

5. Описано поведение тонкой сильно заряженной пленки гелия (d <�С а), в условиях, когда жидкость вытекает из конденсатора конечных размеров под действием сил электрического давления. Определены критические значения напряжения в конденсаторе, при котором поверхность теряет устойчивость, в зависимости от размеров ячейки.

6. Построена диаграма стабильности многоэлектронной лунки на пленке гелия в условиях действия сил Ван-дер-Ваальса. Показано, что равновесная энергия лунки зависит от эффективной толщины пленки, но не звисит от числа электронов в ней.

7. Предложены и описаны новые объекты, существование которых возможно вблизи поверхности гелия при наличии электрического поля — заряженные комплексы и связанные состояния электрона и нейтрального кластера. Показано, что такие объекты имеют достаточно большую энергию связи и являются устойчивыми в широких диапазонах таких параметров как внешнее поле и размер частицы, внедренной в гелий. А.

6.

Заключение

.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Я.Френкель ЖЭТФ, (1939), 641
  2. Ландау, Лифшиц Электродинамика сплошных сред.
  3. N.Bohr, J. Wheeler Phys.Rev. 56, 71, (1939).
  4. Ya.Frenkel, Zs der Sowietunion 8, 675, (1935).
  5. Я.Френкель ЖЭТФ 6, 347, (1936).
  6. T.Tonks Phys. Rev. 48, 562, (1935). «
  7. Л.Горьков, Д. Черникова Письма ЖЭТФ 18, 119, (1973).
  8. Д. М. Черникова ЖЭТФ 68, 250 (1975).
  9. А.Володин, М. Хайкин, В. Эдельман Письма ЖЭТФ 23, 524, (1976).
  10. А.Володин, М. Хайкин, В. Эдельман Письма ЖЭТФ 26, 707, (1977).
  11. P.Leiderer Phys.Rev. В 20, 4511, (1979).
  12. Л.Горьков, Д. Черникова ДАН СССР 228, 829, (1976).
  13. Д. М. Черникова ФНТ 6, 1513, (1980).
  14. P.Leiderer, M. Wanner Phys.Lett. А 73, 189, (1979).
  15. M.Wanner, P. Leiderer Phys.Rev.Lett. 42, 315, (1979).
  16. J. Melcher Field-coupled Surface Waves, Cambridge, Mass. The MIT Press 1963.
  17. G.Taylor, A. McEwan J.Fluid Mech. 22, 1, (1965).
  18. M.Cowley, R. Rosenswieg, J. Fluid Mech. 30, 671, (1967).
  19. В.Зайцев, М. Шлиомис ДАН 188, 1261, (1969).
  20. М.Шлиомис УФН 112, 437, (1974).
  21. Е.Кузнецов., М. Спектор ЖЭТФ 71, 262, (1976).
  22. К. Mima, H. Ikezi, Phys.Rev. В 17, 3567, (1978).
  23. H.Ikezi Phys.Rev.Lett. 42, 1688, (1979).
  24. Л.Горьков, Д. Черникова ЖЭТФ 80, 1940, (1981).
  25. В.И.Мельников, С. В. Мешков Письма ЖЭТФ 33, 222, (1981).
  26. В.Мельников, С. Мешков, ЖЭТФ 81, 951, (1981).
  27. V.I. Mel’nikov, S.V. Meshkov, Macroscopic Instability and Many-Electron Dimples on a charged Surface of Liquid Helium, Cherigolovka, 1981.
  28. H.Ikezi, P. Platzman, Phys.Rev. В 23, 1145, (1981).
  29. P.Leiderer, W. Ebner, V. Shlkin, Surf.Sci. 113, 405, (1982).
  30. В.Шикин, П. Лейдерер, Письма ЖЭТФ 32, 439, (1980) — ЖЭТФ 81,134, (1981).
  31. D.Savignac, P. Leiderer Phys.Rev.Lett. 49, 1869, (1982).
  32. R.Giannetta, H. Ikezi Surf.Sci. 113, 412, (1982) — Phys.Rev.Lett. 47, 849, (1981).
  33. H. Ikezi, R. Giannetta, and P. Platzman, Phys.Rev. В 25, 4488, (1982).
  34. V.Shikin, P. Leiderer, Solid St. Com. 47, 269, (1983).
  35. Дж. В. Стретт, Теория звука, том II, Госиздат, Москва, (1955).
  36. Д. Паиси, В. Галустов, Распылители жидкостей, Москва, Химия, 1979, стр. 176.
  37. В. Шикин, С. Назин, А. Изотов, ДАН СССР 283, 121, (1985).
  38. В.Шикин, Письма ЖЭТФ 27, 30, (1970).
  39. М. Salomaa, G. Williams, Phys. Rev. Lett. 47, 1730, (1981).
  40. U. Albrecht, P. Leiderer, Euro.Lett. 3, 705, (1987).
  41. Н.Иногамов, А. Демьянов, Э. Сон «Гидродинамика перемешиания «Изд. МФТИ, стр. 464.
  42. R.Crandal, Surf. Sci. 58, 266, (1976).
  43. В.В.Маляров Основы теории атомного ядра, Наука, Москва, 1967, 511 стр.
  44. Л.Ландау ЖЭТФ 7, 19, (1937).
  45. A.A. Levchenko, Е. Teske, G.V. Kolmakov, P. Leiderer, L.P. Mezhov-Deglin, and V.B. Shikin, JETP Lett. 65, 572, (1997).
  46. Д. M. Черникова ФНТ 2, 1374 (1976).
  47. F. Peeters, Phys. Rev. В 30, 159, (1984).
  48. В.В.Татарский ФНТ 10, 435, (1984).
  49. , Ю. Монарха ФНТ 10, 901, (1984).
  50. V.S. Mitlin Journal of colloid and Interface. Science 156, 491, (1993).
  51. S. Herminghaus et al. Science 284, 916, (2000).
  52. Ya.I. Frenkel, Z. Eksp. Teor. Phys. 18, 659, (1948) — Ya.B. Aron, Ya.I. Frenkel, Z. Eksp. Teor. Phys. 19, 807, (1949).
  53. E. Sabisky, E. Anderson, Phys. Rev. A 7, 720 (1973).
  54. S. Putterman, Superfiuid Hydrodynamics, North Holland Publish Company, New York, 1974.
  55. V.B. Shikin. E.V. Lebedeva, J. Low Temp. Phys. 119, 469, (2000).
  56. G.V. Kolmakov, E.V. Lebedeva, A.A. Levchenko, L.P. Mezhov-Deglin, and V.B. Shikin, J. Low Temp. Phys. 126, 385, (2002).
  57. G.V. Kolmakov, E.V. Lebedeva, A.A. Levchenko, L.P. Mezhov-Deglin, A.B. Trusov, and V.B. Shikin Low. Temp. Phys. 30 (1), 58,(2004).
  58. A.A. Levchenko, G.V. Kolmakov, L.P. Mezhov-Deglin, M.G. Mikhailov, and A.B. Trusov, Low Temp. Phys. 25, 242, (1999).
  59. A. Valdesh Diplom C.E.N. SACLAV, 1980, 140 p.
  60. В.Шикин, П. Лейдерер, ФНТ 23, 624, (1997).
  61. H.Etz, W. Bombert, P. Leiderer, Phys. Rev. Lett. 53, 2567, (1984).
  62. В.В.Татарский ФНТ 12, 451, (1986).
  63. Ю. Монарха, ФНТ 8, 215, (1982).
  64. Ю. Монарха, ФНТ 8, 1133, (1982).
  65. В.В.Татарский, Н. Шикина, В. Шикин, ФНТ 10, 117, (1984).
  66. A. Dahm, Zeitschrift fur PHysik, В 98, 333.
  67. J. Klier, F. Schletterer, P. Leiderer, and V. Shikin, ФНТ 29, 957, (2003).
  68. Г. В. Колмаков, E.B. Лебедева ЖЭТФ 115, 43, (1999).
  69. В.Б. Шикин, E.B. Лебедева ФНТ 24, 299 (1998).
  70. В.Б. Шикин, Е. В. Лебедева Письма ЖЭТФ 57, 126 (1993)
  71. S.M. Sze, Physics of Semiconductor Devices, John Wiley and Sons, New York, Chichster, Brisbane, Toronto Singapur (1981).
  72. E. Teske, P. Leiderer, P. Wyder, and V. Shikin J. Low Temp. Phys. 110,(1998).
  73. P. F. Fontain, P. Hendriks, F. A. P. Blom, I. K. Wolter, L. I. Giling, and C. W. I. Beenaker, Surf.Sci.963, 91 (1992).
  74. R. Knott, W. Dietsche, К. V. Klitzing, K. Plong, and K. Eberle Semicond. Sci. Technol. 10, 117 (1995).
  75. W. Dietsche, К. V. Klitzing, and U. Ploog Surf.Sci.361/362, 289 (1996).
  76. S. Takaoka, K. Oto, H. Kurimoto, K. Murase, K. Garno, and S. Nishi, Phys. Rev. Lett.) 72, 3080 (1994).77
Заполнить форму текущей работой