Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Исследование процесса выращивания способом Степанова лент сапфира различной ориентации

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Работа докладывалась на Всероссийской молодежной конференции по физике полупроводников и полупроводниковой оптои наноэлектронике, Санкт-Петербург, НОЦ ФТИ им. А. Ф. Иоффе, РАН, 4−8 декабря 2000 г.- IX и X Национальной конференции по росту кристаллов, Москва, ИК РАН, 16−20 октября, 2000 г. (НКРК IX) — Москва, ИК РАН, 24−29 ноября, 2002 г. (НКРК X) 13 и 14 International Conference on Crystal… Читать ещё >

Исследование процесса выращивания способом Степанова лент сапфира различной ориентации (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Глава I. Выращивание лент способом Степанова
    • 1. Способ Степанова
    • 2. Варианты способа Степанова
      • 2. 1. Классический метод Степанова (CS)
      • 2. 2. Вариант EFG
      • 2. 3. Вариант с некапиллярной подпиткой (NCS)
      • 2. 4. Выращивание из элемента формы (GES)
      • 2. 5. Вариационное формообразование (VS)
      • 2. 6. Вариант ц-PD
    • 3. Принцип суперпозиции групп симметрии Кюри
      • 3. 1. Принцип Кюри и форма профилированного кристалла
      • 3. 2. Принцип Кюри и термоупругие напряжения в кристалле
      • 3. 3. Принцип Кюри и дефектная структура профилированного кристалла
    • 4. Монокристаллические ленты сапфира
      • 4. 1. Базисноограненные ленты
      • 4. 2. Проблема блоков в базисноограненных лентах
        • 4. 2. 1. Тепловое поле и термоупругие напряжения в лентах
        • 4. 2. 2. Механические воздействия на кристалл во время роста
  • Выводы из Главы I и постановка задачи
  • Глава II. Капиллярная задача. Угол роста при выращивании монокристаллических лент сапфира
    • 1. Угол роста и давление расплава
    • 2. Метод скользящего мениска для определения равновесного угла роста
      • 2. 1. Измерение высоты фронта
      • 2. 2. Измерение внешнего диаметра кристалла
      • 2. 3. Измерение угла контакта мениска с формообразователем
      • 2. 4. Расчет равновесного угла роста
      • 2. 5. Оценка погрешностей
    • 3. Анизотропия угла роста и свободной поверхностной энергии при выращивании монокристаллических лент сапфира
      • 3. 1. Морфология поверхности базисноограненных лент: исследование с использованием атомносилового микроскопа
      • 3. 2. Форма мениска при выращивании ограненных лент
      • 3. 3. Угол роста: изотропный случай
      • 3. 4. Угол роста: анизотропный случай
      • 3. 5. Свободная поверхностная энергия: изотропный случай
      • 3. 6. Свободная поверхностная энергия: анизотропный случай
      • 3. 7. Ориентационная зависимость свободной поверхностной энергии кристалл-газ сапфира
      • 3. 8. Возможность механического контакта ленты с формообразователем
  • Выводы из Главы II
  • Глава III. Экспериментальное исследование теплового поля в монокристаллических лентах сапфира
    • 1. Измерение распределения температуры в лентах сапфира
      • 1. 1. Метод вращиваемых термопар
      • 1. 2. Оценка погрешностей
      • 1. 3. Выращивание монокристаллических лент сапфира
    • 2. Температурные распределения в монокристаллических лентах сапфира. Явление скачков теплового поля
      • 2. 1. Распределение температуры в тонких монокристаллических лентах сапфира
      • 2. 2. Распределение температуры в массивных монокристаллических лентах сапфира
        • 2. 2. 1. Ленты сечением 50×6,5 мм
        • 2. 2. 2. Ленты сечением 38×6,5 мм
    • 3. Возможные причины скачков
      • 3. 1. Мелкие скачки
      • 3. 2. Крупные скачки
    • 4. Термоупругие напряжения, к которым могут приводить скачки теплового поля
    • 5. Вариации мощности нагрева при выращивании лент
  • Выводы из Главы III
  • Глава IV. Термоупругие напряжения в монокристаллических лентах сапфира различных ориентаций. Модель образования блоков
    • 1. Выращивание лент различной ориентации и исследование их структуры
    • 2. Распределение термоупругих напряжений в лентах различных ориентаций
    • 3. Ориентационная зависимость термоупругих напряжений в лентах
    • 4. Перестройка дислокационной структуры
    • 5. Анализ совместного действия систем скольжения
    • 6. Отсутствие характерных блоков в массивных базисноограненных лентах сапфира
    • 7. Перераспределение термоупругих напряжений
    • 8. Термоупругие напряжения вокруг газовых включений
  • Выводы из Главы IV
  • Глава V. Управление дефектной структурой кристалла
    • 1. Кривизна теплового поля необходимая для выращивания безблочных базисноограненных лент
    • 2. Компенсирующие перегибы теплового поля
  • Выводы из Главы V

Актуальность темы

.

Благодаря уникальному сочетанию физико-химических свойств сапфира, которые сохраняются практически до 1800° С, он часто является единственно пригодным материалом в самых разных областях науки и техники. Однако, тугоплавкость и высокая твердость сапфира значительно увеличивают затраты на обработку кристаллов, а некоторые профили механической обработкой получить просто невозможно. Способ Степанова позволяет получать монокристаллы сапфира с сечением практически любой формы. Наиболее актуальные профилиэто стержни, трубки и ленты.

Особый интерес представляют монокристаллические ленты сапфира с базисной гранью, параллельной широкой стороне ленты (базисноограненные ленты). Зеркальная ростовая поверхность базисноограненных лент практически не нуждается в механической полировке и, кроме того, свет, проходящий через ленту, не испытывает двулучепреломления. Такие ленты могут быть использованы в качестве недорогих эпитаксиальных подложек, линз для офтальмологии, различных окон: в оптоволоконных линиях связи, высокотемпературной оптике, инфракрасной оптике и т. д.

Однако, выращенные способом Степанова тонкие и широкие ленты именно этой, наиболее необходимой в промышленности ориентации, как правило, обладают развитой блочной структурой, которая кардинальным образом отличается от блочной структуры лент других ориентаций. Блоки в базисноограненных лентах приводили к появлению макротрещин или даже частичному разрушению лент. Причина отличия блочной структуры базисноограненных лент до сих пор не была ясна. Эту чрезвычайно важную проблему долго пытались решить и экспериментаторы и теоретики, выдвигая предположения о причине отличия блочной структуры из различных областей физики, но попытки решения частных проблем не давали желаемого результата.

Все физические процессы, протекающие во время роста, влияют на дефектную структуру кристалла согласно принципу симметрии Кюри и, таким образом, оказываются единым объектом исследования. По сути, принцип Кюри является единственным способом описания столь различных явлений. Хотя сам по себе он и не дает конкретных численных результатов, но, примененный к проблеме выращивания лент, указывает какие именно стороны физических явлений отвечают за возникновение дефектов в растущем кристалле.

Использование такого подхода показало, что для того чтобы достичь главной цели исследования — выявить причину отличия блочной структуры базисноограненных лент от лент других ориентаций — необходимо рассмотреть капиллярное формообразование с учетом анизотропии угла роста, температурное распределение в лентах разного сечения и работу систем скольжения под действием термоупругих напряжений.

Перечисленные явления будут рассмотрены подробно с использованием соответствующих экспериментальных методов и теоретических подходов. Такой широкий круг проблем возможно изучить в одной работе благодаря развитию методов компьютерного моделирования. Главным результатом исследования стала новая модель действия систем скольжения в монокристаллической ленте сапфира. Модель, основанная на общесимметрийном подходе, экспериментальных данных и численных расчетах, объяснила большинство экспериментальных фактов и позволила найти условия, необходимые для выращивания безблочных базисноограненных лент.

Цель работы.

Цель данной работы — определить причину отличия блочной структуры базисноограненных лент сапфира от лент других ориентаций и, основываясь на проведенных экспериментально-теоретических исследованиях, найти условия для выращивания безблочных базисноограненных лент.

Для достижения цели необходимо было:

1. Выполнить симметрийный анализ условий формирования блочной структуры в монокристаллических лентах сапфира.

2. Измерить и сравнить распределение температуры в тонких и массивных лентах сапфира.

3. Рассчитать поле термоупругих напряжений в лентах различных ориентаций с использование Зх мерной модели и измеренного теплового поля.

4. Проанализировать действие систем скольжения.

5. Найти ориентационную зависимость угла роста и свободной энергии поверхности ленты.

Научная новизна работы.

1. Предложен новый подход к анализу причин возникновения дефектов в кристалле, основанный на принципе симметрии Кюри.

2. Монокристаллическая лента сапфира рассмотрена как анизотропное Зх мерное тело. В результате созданная Зх мерная модель действия термоупругих напряжений в ленте с учетом анизотропии систем скольжения объяснила принципиальное отличие блочной структуры базисноограненных лент от лент других ориентаций и позволила вычислить кривизну теплового поля, необходимую для выращивания безблочных базисноограненных лент.

3. Измерения распределения температуры в массивных лентах позволили экспериментально обнаружить явление скачков теплового поля.

4. Из сочетания расчетов и экспериментальных данных найдена зависимость угла роста и свободной поверхностной энергии кристалла от ориентации плотноупакованной грани.

Основные защищаемые положения.

Численным моделированием показано, что только в тонких базисноограненных лентах действует только призматическая система скольжения, что определяет отличие блочной структуры базисноограненных лент от лент других ориентаций.

В рамках модели установлено, что в толстых (> 5 мм) базисноограненных лентах, как и в лентах других ориентаций, действует только базисная система скольжения и характерная блочная структура не образуется. о Обнаружено явление скачков теплового поля при выращивании массивных монокристаллических лент сапфира с сечением 50×6,5 и 38×6,5 мм. о Скачки вызваны колебаниями радиационного потока идущего по кристаллу и связаны со степенью вхождения газовых включений в кристалл.

• Из расчетов и экспериментальных данных найдено новое значение равновесного угла роста для монокристаллов сапфира фо = 19°±3° (изотропный случай) и равновесные углы роста при выращивании базисноограненной ленты сапфира 3° и 36° ± 3° (анизотропный случай).

• Из расчетов установлено, что падение свободной поверхностной энергии на базисноограненной грани составляет (7 ± 3)%, а зависимость от ориентации проявляется только в пределах отклонения базисной грани от поверхности менее чем на 15° ± 5°.

Практическая значимость.

Численным моделированием показано, что базисноограненная лента шириной b мм вырастет безблочной в тепловом поле с кривизной.

Т" < 150/Ь2 [С/мм2].

В рамках модели установлено, что характерная блочная структура не образуется в базисноограненных лентах толще 5 мм.

Найдено новое значение равновесного угла роста сапфира ф0 = 19°±30, широко используемое в автоматических системах выращивания.

Из решения капиллярного уравнения Лапласа показано, что при выращивании массивных профилированных кристаллов постоянного сечения повышается вероятность примерзания к концу процесса вытягивания в связи с уменьшением высоты мениска.

Апробация работы.

Работа докладывалась на Всероссийской молодежной конференции по физике полупроводников и полупроводниковой оптои наноэлектронике, Санкт-Петербург, НОЦ ФТИ им. А. Ф. Иоффе, РАН, 4−8 декабря 2000 г.- IX и X Национальной конференции по росту кристаллов, Москва, ИК РАН, 16−20 октября, 2000 г. (НКРК IX) — Москва, ИК РАН, 24−29 ноября, 2002 г. (НКРК X) 13 и 14 International Conference on Crystal Growth, Kyoto, 13 July — 6 August, 2001 (ICCG-13) — Grenoble, 9−13 August, 2004 (ICCG-14) — 15 American Conference on Crystal Growth and Epitaxy (ACCGE-15), Keystone, Colorado, July 2003; V Международной конференции: Рост монокристаллов и тепломассоперенос (ICSC-03), Обнинск, Сентябрь 22−26, 2003; Всероссийском совещании по выращиванию изделий способом Степанова: пластичность и прочность материалов, Санкт-Петербург, ФТИ им. А. Ф. Иоффе, РАН, 22−24 октября, 2003 г.

Порядок изложения материала.

В первой главе подробно рассматривается классический способ Степанова и его варианты: EFG, NCS, GES, VS и ц-PD. Проводится симметрийный анализ факторов, влияющих на образование дефектной структуры в кристалле на основе принципа симметрии Кюри. Обсуждаются проблемы выращивания базисноограненных лент сапфира, образования в них развитой блочной структуры, часто приводящей к растрескиванию. Выдвигаются предположения о природе таких характерных блоков и на основе этих предположений формулируются пути решения проблемы образования блоков в базисноограненных лентах сапфира.

Во второй главе обсуждаются проблемы капиллярного формообразования монокристаллических лент сапфира с учетом влияния ориентации кристалла на форму мениска. Решается уравнение Лапласа и уравнение Херринга, учитывающее анизотропию свободной поверхностной энергии кристалл-газ. Показано, что мениск базисноограненной ленты сильно не симметричен относительно плоскости ленты. Такой перекос мог бы привести к повышению вероятности примерзания ленты к формообразователю и образованию блоков. Однако эта гипотеза не объясняет, почему отсутствуют блоки в массивных ограненных лентах. Для того, чтобы провести расчеты анизотропного мениска, потребовалось заново измерить равновесное значение угла роста сапфира. Для этого предложен новый метод — метод скользящего мениска.

В третьей главе проводятся экспериментальные измерения теплового поля в тонких (сечение 38×1,5 мм) и толстых (сечение 38×6,5 мм и 50×6,5 мм) монокристаллических лентах сапфира методом вращиваемых термопар. В массивных лентах обнаружено явление скачков теплового поля, вызванное колебаниями радиационного потока, идущего по кристаллу от фронта кристаллизации. Установлено, что такие колебания связаны со степенью вхождения газовых включений в кристалл. Обсуждается возможная причина влияния газовых включений на наличие и величину скачков. Обнаруженные скачки могут приводить к высоким локальным термоупругим напряжениям и быть определяющим фактором в формировании дислокационной структуры кристалла.

В четвертой главе создана модель действия термоупругих напряжений в монокристаллической ленте сапфира. Модель объяснила большинство экспериментальных фактов, наблюдающихся при выращивании базисноограненных лент, в первую очередь причину образования характерных блоков, их ориентационную зависимость и отсутствие блоков в толстых ограненных лентах. Для того, чтобы объяснить экспериментальные факты потребовалось провести трехмерный расчет термоупругих напряжений в монокристаллической ленте сапфира с использованием реального теплового пола, рассчитать касательные напряжения в призматической и базисной системах скольжения для лент различных ориентаций, провести анализ совместного действия систем скольжения и образования дислокационных стенок.

В пятой главе найдены условия для выращивания безблочных базисноограненных лент, а именно, оценена максимально возможная кривизна теплового поля, при которой сдвиговые напряжения возникающие в призматической системе скольжения и ответственные за образование характерных блоков еще не будут превосходить критических. Кроме того, предложен метод компенсирующих перегибов, позволяющий существенно снизить напряжения в ленте, не прибегая к трудоемкой линеаризации теплового поля.

В приложении I описана методика расчета термоупругих напряжений в монокристаллической ленте сапфира в трехмерном приближении и с учетом реального теплового поля.

В приложении II описана методика решения капиллярного уравнения Лапласа методом последовательных итераций или методом стрельбы.

Публикации.

1. Kuandykov L.L., Antonov P.I. Shaped melt column optimal choice on the basis of an equilibrium growth angle value. // Journal of Crystal Growth, 222 (4) (2001) pp. 852 861.

2. Куандыков Л. Л., Антонов П. И. Оптимальный выбор параметров кристаллизации профилированных кристаллов из расплава на основе равновесного значения угла роста. // Поверхность: Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 10 (2001)45−53.

3. Антонов П. И., Бахолдин С. И., Крымов В. М., Куандыков Л. Л., Москалев А. В. Экспериментальное исследование нестационарности теплообмена на начальном этапе выращивания профилированных кристаллов лейкосапфира. // Физика кристаллизации, Москва, «Физматлит», 2002, С.213−219.

4. Kuandykov L.L., Bakholdin S.I., Antonov P.I. Meniscus dynamics during the crystal-shaper separation process. // Proceedings of the V International Conference ICSC-2003, Vol.2, Obninsk, Russia, September 22−26, 2003, p. 645−650.

5. Kuandykov L.L., Yuferev V.S. Capillary shaping of a sapphire ribbon with a basal facet surface. // Proceedings of the V International Conference ICSC-2003, Vol.2, Obninsk, Russia, September 22−26, 2003, p. 637−644.

6. Антонов П. И., Бахолдин С. И., Крымов В. М., Куандыков Л. Л., Москалев А. В. Экспериментальное изучение вариаций мощности нагревателя в процессе роста профилированных монокристаллов сапфира. // Изв. РАН, Сер. Физ. 69 (6) (2004) 826−831.

7. Куандыков Л. Л., Юферев B.C. Анизотропия свободной поверхностной энергии монокристаллов сапфира. // Изв. РАН, Сер. Физ. 69 (6) (2004) 760−764.

8. Куандыков Л. Л., Бахолдин С. И., Антонов П. И. Метод скользящего мениска для определения равновесного угла роста. // Изв. РАН, Сер. Физ. 69 (6) (2004) 800 803.

9. Куандыков Л. Л., Бахолдин С. И., Антонов П. И. Экспериментальное исследование скачков теплового поля в массивных монокристаллических лентах сапфира, выращенных по способу Степанова. // Изв. РАН, Сер. Физ. 69 (6) (2004) 804−807.

10. Л. Л. Куандыков, С. И. Бахолдин, И. Л. Шульпина, П. И. Антонов. Модель образования блочной структуры в базисноограненных лентах сапфира. // Изв. РАН, Сер. Физ. 69 (6) (2004) 783−788.

11. Антонов П. И., Бахолдин С. И., Куандыков Л. Л., Лингарт Ю. К. Явление скачков теплового поля при кристаллизации монокристаллических лент сапфира по способу Степанова и методом ГНК. // Кристаллография, 49 (2) (2004) 343−353.

12. Куандыков Л. Л., Бахолдин С. И. Моделирование перераспределения термоупругих напряжений в профилированных кристаллах. // Кристаллография, 49 (2) (2004) 218−223.

Общие выводы.

1. Создана модель описывающая механизм образования блоков в базисноограненных монокристаллических лентах сапфира на основе расчета термоупругих напряжений с учетом толщины ленты и реального теплового поля. В рамках модели показано, что: а. причиной отличия блочной структуры базисноограненных лент является действие призматической системы скольжения в отличие от лент других ориентаций, где действует базисная система. Перестройка дислокационной структуры, образовавшейся в результате работы призматической системы, приводит к образованию характерных блоковб. в толстых (>5 мм) базисноограненных лентах базисная система скольжения действует во всех ориентациях, и характерная блочная структура образоваться не можетв. газовые включения в кристалле дают локальный всплеск термоупругих напряжений в 2 — 2,5 раза, приводящий к образованию дислокаций даже в относительно ровном тепловом полег. базисноограненная лента ширины b мм вырастет безблочной в тепловом поле с кривизной Т" < 150 / Ь2 [С/мм2]. д. Предложен метод компенсирующих перегибов теплового поля, позволяющий более эффективно снижать термоупругие напряжения в ленте, не прибегая к трудоемкой линеаризации распределения температуры в кристалле.

2. Экспериментально обнаружено явление скачков теплового поля в массивных монокристаллических лентах сапфира, выращенных по способу Степанова, вызванных колебаниями радиационного потока, идущего по кристаллу от фронта кристаллизации и зависящих от степени вхождения газовых включений в кристалл.

3. Предложен новый метод скользящего мениска для определения равновесного угла роста, позволяющий сделать несколько независимых измерений в одном эксперименте. Установлено новое значение равновесного угла роста для монокристаллов сапфира 19°±3°.

Из решения капиллярного уравнения Лапласа показано, что: а. при росте кристалла строго постоянного сечения высоту фронта кристаллизации необходимо уменьшать, а не поддерживать постоянной, в соответствии с понижением уровня расплава в тигле, поддерживая угол роста равным его равновесному значениюб. углы роста и формы менисков с одной и другой стороны базисноограненной ленты существенно различаются (3° и 36°±3°). в. На основе оценки углов роста и решения уравнения Херринга восстановлена ориентационная зависимость свободной поверхностной энергии кристалл-газ для монокристаллов сапфира.

Показать весь текст

Список литературы

  1. А.В. // Журнал техники полупроводников (ЖТП). 1959. Т. 29. С. 10.
  2. А.В., Будущее металлообработки, Ленинград, 1962.
  3. P.I. Antonov and V.N. Kurlov,// Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 2002, V.44 N.2, PP. 63−122
  4. L.L., Antonov P.I. // J. of Crystal Growth. 2001 .V.222.N.4. PP. 852−861.
  5. T.Fukuda, P. Rudolph, S. Uda, Fiber Crystal Growth from the Melt, Springfield 2004.
  6. H.E. La Belle and A.I. Mlavsky, // Jr. Nature 1967 V. 216 P.574
  7. П.И., Носов Ю. Г., Никаноров С. П. // Изв. АН СССР, Сер. Физ., 1985 Т. 49, № 12 С. 2295
  8. В.Н. Курлов, // Изв. РАН, Сер. Физ., 1994, Т. 58, № 9, С. 5−11
  9. Д.Ю., Егоров Л. П., Затуловский Л. М. и др.,// Изв. АН СССР, Сер. Физ., 1980, Т. 44, С. 378
  10. V.A. Borodin, Т.А. Steripolo, V.A. Tatarchenko, // Cryst. Res. Technol, 1985, V.20, P. 833.
  11. K.M. Kim, S. Berkman, M.T. Duffy, A.E. Bell, H.E. Temple and G.W. Cullen, Silicon Sheet Growth by the Inverted Stepanov Technique, DOE/JPL-954 465 (Final report, June 1977).
  12. S.N. Dermatis and J.W. Faust, Jr., IEEE Trans. Commun. Electron. 1963, V.82 P.94.- T.N. Tucker and G.H. Schwuttke, Appl. Phys. Letters 1966 V.9, P.219.
  13. I .A. Lesk, A. Baghadadi, R.W. Gurtler, R.J. Ellis, J.A. Wise and M.G. Coleman, in: 12th IEEE Photovoltaic Specialists Conf. Record, Baton Rouge, LA, 1976 (IEEE, New York, 1976) p. 173.
  14. T.F. Ciszek and G.H. Schwuttke, // J. Crystal Growth 1977, V.42, P. 483.
  15. L. Eriss, R.W. Stormont, T. Surov, A.S. Taylor, // J. Crystal Growth 1980, V.50 P.200.
  16. D. Harkey, // J. of Crystal Growth 1980, V. 104, P. 88.
  17. П.И., Носов Ю. Г., Степанов А. В., Материалы I конференции по способу Степанова в ФТИ им. А. Ф. Иоффе, Ленинград, 1968, С. 105
  18. T.F. Ciszek and J.L. Hurd, in: Proc. Symp. Electronic and optical Properties of Policrystalline or Impure Semiconductors and Novel Silicon Growth Methods, Eds. K.V. Ravi and B. O’Mara (Electrochemical Society, Pennington, NJ, 1980), 213.
  19. C.E. Bleil, // J. Crystal Growth, 1969, V.5, P.99
  20. T. Koyanagi, in: 12th IEEE Photovoltaic Specialists Conf. Record, Baton Rouge, * LA, 1976 (IEEE, New York, 1976) 627.
  21. B.H., Россоленко C.H. // Изв. РАН Сер.Физ.1999.Т.63.№ 9, С. 1711.
  22. В .А. Иванцов, П. И. Антонов // Изв. РАН, Сер.Физ. 1994, Т.58, №.9, С. 81
  23. F. Theodore, Т. Duffar, J.L. Santailler, J. Pesenti, M. Keller, P. Dusserre, F. Louche, V. Kurlov // Journal of Crystal Growth 1999, V.204, P. 317
  24. A.B., Бородин B.A., Францев Д. Н., Юдин М. В. // Изв. РАН Сер. физ. 2004. Т. 68. № 6. С. 791.
  25. Н. Е&bdquo- Патент США № 3 915 662, 1975.
  26. Н. Е., Патент США № 3 868 228, 1975.
  27. В. А., Стериополо Т. А., Татарченко В. А. и Т. Н. Яловец // Изв. АН СССР. Сер. Физ., 1983, Т. 47, № 2, С. 386.
  28. J. Richard in: 6 Int. Conference on Crystal Growth (ICCG-6), Extended abstracts, Vol. Ill (Moscow 1980) P.150.
  29. A.B. // Успехи Физических Наук, 1956, Т. 59, № 4, СС. 591−602
  30. П.И., Григорьев Н. С., Степанов А. В. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1971. Т.35. № 3. С. 447.
  31. P.I., Bakholdin S.I., Galaktionov E.V., Tropp E.A., Nikanorov S.P. // Journal of Crystal Growth, 1981, V. 53, P. 404t 31. Антонов П. И., Бахолдин С. И., Галактионов Е. В., Вандакуров И. Ю., Тропп Э.А.
  32. Изв. РАН Сер. физ. 1983. Т.47. № 2. С.286
  33. Антонов П. И, Крымов В. М., Москалев А. В. и др. // Изв. РАН Сер. физ. 1999. Т. 63. № 9. С. 1825.
  34. Ivantsov V.A., Mynbaeva M.G., Kotousova I. S et al. // MRS Fall Meeting, Nov.29-Dec.3, 1999, Boston, USA, Abstracts, P.388.
  35. П.И., Бахолдин С. И., Крымов В. М. и др. // Поверхность: Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2001, № 10, С. 21.
  36. V.M. Krymov, V.N. Kurlov, P.I. Antonov, F. Theodore et al., // Journal of Crystal Growth. 1999, V.198/199, P. 210.
  37. С.И., Галактионов Е. В., Крымов В. М. // Изв. РАН Сер. физ. 1999. r Т.63. № 9. С.1816
  38. П.И., Бахолдин С. И., Васильев М. Г. и др. // Изв. РАН Сер. физ. 1994. Т.58. № 9. С. 72.
  39. F.Theodore, T. Duffar, F. Louchet, // J. of Crystal Growth 1999, V.198/199, P.232.
  40. Bardsley W., Frank F.C., Green G.W. and Hurle D.T.J.// J. Of Crystal Growth. 1974. V.23. P.341.
  41. Воронков В.В.// ФТТ. 1963. Т.5. С. 571.
  42. R.W., Hall J.K. //Amer.Ceram.Bull. 1965.V.44.N0.5.P.444−451.
  43. T.G., Hopkins R.H., Seidensticker R.G. // J. Crystal Growth. 1975. V. 29. P. 326.
  44. Tatarchenko V.A., Satunkin G.A.// J. Of Crystal Growth. 1977. V. 37. PP. 285−288.
  45. Satunkin G.A., Tatarchenko V.A. and Shaitanov V.I. // J. Of Crystal Growth. 1980. V. 50. PP. 133−139.
  46. Surek T. and Chalmers B. // J. Crystal Growth. 1975. V. 29. P. 1.
  47. Dreeben A.B., Kim K.V. and Schujko A. // J. of Crystal Growth. 1980. V. 50. PP. 126−132.
  48. .М. в сб. «Рост Кристаллов», Москва, 1961.Т.З.С.408.
  49. С.В. и др.// Изв. АН СССР-Сер.Физ. 1983.Т.42.№ 2.С.378.
  50. П.И., Крымов В. М., Носов Ю. Г., Шульпина И. Л. // Изв. РАН Сер. физ. 2004. Т.68. № 6. С. 777.
  51. А.А., Современная кристаллография,"Наука", М:1980, Т.З.С.18.
  52. В.В. // Кристаллография, 1974. Т.19. № 5. С. 922.
  53. Herring С. in: The Physics of Powder Mettalurgy, McGraw-Hill, New-York: 1951. P. 143
  54. Kuandykov L.L., Yuferev V.S. in: V.P.Ginkin (Ed.), Proceedings of the V International Conference ICSC-2003, Vol.2, Obninsk, Russia, September 22−26, 2003. P. 637.
  55. McNally R. H, Jen H.C., Balasubramanian N. // J. Material Science.1968. V.3. P.136.
  56. Zubarev Yu.V. et al // Bulletin USSR.Acad.Sci. Series Inorganic Materials, 1969.V.5.N0.9.P.1563.
  57. Kingery W.D. II J. Amer. Ceram. Soc. 1959.V.42. No.1. PP.6−11.
  58. Kuandykov L.L., Yuferev V.S. in: V.P.Ginkin (Ed.), Proceedings of the V International Conference ICSC-2003, Vol.2, Obninsk, Russia, September 22−26, 2003. P. 637.
  59. В.В., Сколов И. А., Кузнецов Г. Д., Физико-химические основы технологии полупроводниковых материалов, Москва, «Металлургия», 1982, С. 334.
  60. В.Н., Князев С. Ю., Нефедов А. С. // Тезисы IX Национальной конференции по росту кристаллов, Москва, 16−20 октября 2000, С. 220.
  61. .Н., Егоров Л. П., Карпухин А. Ф. и др. // Изв. АН СССР, Сер. Физ. 1983, Т.47, № 2, С. 342−345.
  62. П.И., Бахолдин С. И., Васильев М. Г., Тропп Е. А., Юферев B.C.// Изв. Акад. Наук СССР, Сер.Физ.1980.Т.4 № 2.С.269.
  63. .И., Лингарт Ю. К., Марченко Н.В.// Теплофизика высоких температур, 1989, Т. 27, № 4, С. 737 744.
  64. J. Linhart, // Cryst. Res. Technol. 2002, V.37 N.8, P. 849.
  65. Cosmos/M Documentation revision v.2.6, Structural Research and Analysis Corp, www.cosmosm.com, 2002.
  66. Bardsley W., Hurle D.T.J., Joyce G.C., Wilson C. // J. Crystal Growth.1977.V.40.P.21.
  67. С.Ф., Тиман Б. Л. // Кристаллография. 1990.T.35.C. 181.
  68. С.Ф., Тиман Б. Л., Бондаренко С. К. и др.// Кристаллография. 1994. Т.39. С. 544.
  69. А.В., Бахолдин С. И., Крымов В. М., Куандыков Л. Л., Антонов П. И., Тезисы IX Национальной конференции по росту кристаллов, Москва 16−20 октября, 2000 г, стр.192.
  70. С.Ф., Колотий О. Д., Тиман Б.Л.// Кристаллография. 1998. Т.47. № 5. С. 949.
  71. В.Н., Россоленко С. Н. // Изв. РАН Сер.физ.1999.Т.63.№ 9. С. 1711.
  72. Lagerlof K.P.D. et al., // J. Amer.Ceram.Soc., 1994.V.77.No.2.P.385
  73. В.А. «Морфология кристаллов», методическое руководство под ред. И. И. Шафроновского, В.А.Франк-Каменецкого, М. Д. Любалина, Ленинград, «Недра», 1983 г., стр. 267.
  74. П.И., Крымов В. М. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1980. Т. 44. № 2. С. 244.
  75. ., Уэйнер Д. // Теория термоупругих напряжений. М., «Мир», 1964
  76. R.W. // J. of Crystal Growth 1980, V.50, P. 69−82.
  77. М.И., Ананьева Г. В., Морова И. В. // Опт.-мех. пром-сть. 1978. № 7. С. 39.
  78. Miyazaki N. et al. // J. of Crystal Growth. 1997. V.182. P.73−80.
  79. М.Г., Освенский В. Б. // Материалы IV Всесоюзного совещания по росту кристаллов. Ереван. 1972. С.50−60.
  80. С.С., Мильвидский М. Г., Освенский В. Б. и др. // Рост кристаллов. 1977. Т. 12. С. 287−293.
  81. П.И., Галактионов Е. В., Крымов В. М., и др. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1976. Т. 40. № 7. С. 1414−1417.
  82. П.И., Галактионов Е. В., Крымов В. М., и др. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1976. Т. 40. № 7. С. 1419−1425.
  83. Antonov P.I., Galaktionov E.V., Krymov V.M. et al. // J. of Cryst. Growth 1980. V.50. P. 325−329.
  84. K.W., Koai K., Motakef S. // J. of Cryst. Growth. 1991. V.113. P.254−264.
  85. Bornside D.E.f Kinney T.A., Brown R.A. H J. of Cryst. Growth. 1991. V.108. P.779−805.
  86. E.B., Крымов B.M., Колесникова Э. Н., Тезисы докладов V Всесоюзного совещания по росту кристаллов. Тбилиси, 1977, с. 240 241.
  87. P.I. Antonov, E.V. Galaktionov, V.M. Krymov et al // J. Cryst. Growth 1980, V. 50 PP. 325−329.
  88. П.И., Колесникова Э. Н., Крымов В. М. и др., // Изв. АН СССР. Сер. физ., 1976, т. 40, № 7, с. 1407 1413.
  89. Mataga Р.А. et al // J. of Cryst. Growth. 1987. V.82. P.60−64.
  90. Рубин и сапфир. Под ред. Кпассен-Неклюдовой М.В., Багдасарова Х. С., Москва: «Наука». 1974.
  91. С.И., Галактионов Е. В., Крымов В. М., Слободинский В. Д. // Изв. РАН. Сер. физ. 1994. Т.58. № 9. С.32−41.
  92. Справочник по сопротивлению материалов, Писаренко Г. С., Яковлев А. П., Матвеев В. В., Киев: «Наукова Думка». 1988. С. 156.
Заполнить форму текущей работой