Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей

Диссертация: Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

На основе полученных АСМ изображений поверхности рассчитаны функции автокорреляции и определены статистические параметры поверхности (среднквадратическое отклонение высоты и корреляционная длина) для трех различных по составу ЛБ пленок. Найдено соответствие полученных значений статистических параметров с ранее опубликованными данными по коэффициенту затухания света в волноводных ЛБ пленках. Целью… Читать ещё >

Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • 1. Актуальность работы
  • 2. Цель работы
  • 3. НАУЧНАЯ НОВИЗНА РАБОТЫ
  • 4. ПРАКТИЧЕСКОЕ ЗНАЧЕНИЕ РАБОТЫ
  • 5. ЗАЩИЩАЕМЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ
  • 6. АПРОБАЦИЯ РАБОТЫ
  • 7. Структура диссертации
  • 8. ИСТОРИЯ РАЗВИТИЯ НАНОТЕХНОЛОГИИ И СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
    • 8. 2. Сканирующая зондовая микроскопия и второй этап развития нанотехнологии
    • 8. 2. 1. Сканирующая туннельная микроскопия
    • 8. 2. 2. Атомно-силовая микроскопия
      • 8. 2. 3. Близкопольная оптическая микроскопия
    • 8. 2. 4. Нанолитография
    • 8. 2. 5. Компьютеры и развитие СЗМ
    • 8. 3. Развитие работ по СЗМ в России
  • Глава 1. Методы и алгоритмы многомодовой сканирующей зондовой микроскопии
    • 1. 1. Моды сканирующей зондовой микроскопии
    • 1. 2. Взаимодействие зонд — поверхность
      • 1. 2. 1. СТМ изображения
      • 1. 2. 2. Расчет СТМ изображений, модель Курникова
      • 1. 2. 3. Расчет СТМ изображений и вольтамперных характеристик, Модель Молоткова
        • 1. 2. 3. 1. Схема вывода основных выражений
        • 1. 2. 3. 2. Метод сильной связи для моделирования СТМ изображений
        • 1. 2. 3. 3. Метод сильной связи для моделирования СТМ изображений
        • 1. 2. 3. 4. Метод квазистационарных состояний в СТМ
        • 1. 2. 3. 5. Взаимосвязи между методами Бардина-Терцоффа-Хамана и квазистационарных состояний
      • 1. 2. 4. Расчет профилей Ван-дер-Ваальса молекулярных объектов, модель Горбацевича
  • Токатлы
    • 1. 2. 5. Программа моделирования СЗМ изображений TEORSTM-3.0 и полученные результаты
    • 1. 3. Не Ван-дер-Ваальсовы силовые взаимодействия, их природа и регистрация методами СЗМ
    • 1. 3. 1. Мода регистрации латеральных сил
    • 1. 3. 2. Мода регистрации адгезионных сил
    • 1. 3. 3. Бесконтактные измерения
      • 1. 3. 3. 1. Электрические взаимодействия
      • 1. 3. 3. 2. Регистрация силовых взаимодействий, обусловленных
      • 1. 3. 3. 3. Кельвин-мода
      • 1. 3. 3. 4. Бесконтактная емкостная мода
      • 1. 3. 3. 5. Регистрация электростатических и магнитных сил
    • 1. 4. Полуконтактная топография
    • 1. 5. Мода динамических сил
    • 1. 6. СЗМ с резонансными датчиками и близкопольная оптическая микроскопия
    • 1. 7. Сканирующая люминесцентная спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
  • ГЛАВА 2. КОНСТРУКЦИИ СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ ЛИНИИ СОЛВЕР
    • 2. 1. СОЛВЕР-Р
      • 2. 1. 1. Конструктивные особенности прибора COJIBEP-P
    • 2. 2. СЗМ СМЕНА
    • 2. 3. СОЛВЕР-Р47Н
    • 2. 4. Солвер-БИО
    • 2. 5. Сканирующий спектрометр комбинационного рассеяния с мультимодовым СЗМ СМЕНА -СОЛВЕР-СПЕКТРО
    • 2. 6. Сканирующие зондовые микроскопы для применений в промышленности SOLVER-LS-250 и SOLVER-LS
    • 2. 7. Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER-UHV
    • 2. 8. Низкотемпературный СЗМ СОЛВЕР-LT-UHV
    • 2. 9. Универсальный близкопольный оптический микроскоп
    • 2. 10. Сканеры в СЗМ
      • 2. 10. 1. Пьезоэлектрические материалы, используемые в изготовлении пьезосканеров СЗМ
      • 2. 10. 2. Пьезокерамика на основе титаната свинца и его твердых растворов
      • 2. 10. 3. Технология получения пьезокерамических заготовок, используемых для сканеров и подвижек
  • СЗМ линии СОЛВЕР
    • 2. 10. 4. Поляризация пьезокерамики для сканеров СЗМ СОЛВЕР
    • 2. 10. 5. Пьезоэлектрические сканеры СЗМ СОЛВЕР
    • 2. 10. 6. Искажения и нестабильности изображения из-за не идеальности пьезоприводов
    • 2. 10. 6. Конструкция и устройство пьезосканеров
    • 2. 10. 7. Методика диагностики сканеров СЗМ СОЛВЕР
    • 2. 10. 8. Основные калибровочные характеристики трубчатых сканеров
    • 2. 10. 9. Процедура корректировки Z приводов
    • 2. 10. 10. Диагностика X-У сканеров
    • 2. 10. 11. Результаты и примеры корректировки пьезосканеров зондовых микроскопов
  • Глава 3. Контроллеры и программное обеспечение СЗМ
    • 3. 1. Контроллеры сканирующих зондовых микроскопов линии СОЛВЕР
      • 3. 1. 1. Контроллер СТМ — 10 — 90 — МДГ
      • 3. 1. 2. Контроллер СОЛВЕР-Р
      • 3. 1. 3. Контроллер СОЛВЕР-МИЛЛЕНИУМ
    • 3. 2. Программное обеспечение приборов
  • ЛИНИИ СОЛВЕР
  • Глава 4. Микромеханика для сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии
    • 4. 1. Геометрия и физические свойства кантилеверов
      • 4. 1. 1. Силовые и резонансные свойства балок кантилеверов
      • 4. 1. 2. Иглы и методы изготовления кантилеверов
    • 4. 2. Изготовление кантилеверов
      • 4. 2. 1. Пленочные кантилеверы
      • 4. 2. 2. Кремниевые кантилеверы
      • 4. 2. 3. Кантилеверы с вискерами на остриях
      • 4. 2. 4. Зонды со специальными покрытиями для мультимодовой СЗМ
      • 4. 2. 5. Специальные кантилеверы
      • 4. 2. 6. Многозондовые картриджи для СЗМ
    • 4. 3. Микромеханические устройства для решения проблем нанотехнологии
    • 4. 4. Выводы к главе 4
  • Глава 5. Тестовые структуры, методы и процедуры калибровки СЗМ
    • 5. 1. Виды решеток для калибровки СЗМ
    • 5. 2. Калибровка микроскопов
    • 5. 3. Конволюция формы иглы и определение радиуса ее кривизны
  • Глава 6. СЗМ литография и проблемы создания наноструктур
    • 6. 1. Тензостимулированная модификация поверхности
    • 6. 2. Электрохимическая СЗМ модификация поверхности
  • Глава 7. пленки Ленгмюра-Блоджетт и СЗМ
    • 7. 1. Формирование ЛБ-пленок
    • 7. 2. Исследование структуры пленок классического ПАВ — арахидата кадмия методами СЗМ
      • 7. 2. 1. Условия формирования и изучения пленок CdA-A
      • 7. 2. 2. Результаты исследований ЛБ пленок арахидата кадмия
    • 7. 3. Экспериментальные результаты по изучению ЛБ пленок методами СЗМ
    • 7. 4. Модель процесса формирования ЛБ-пленок
    • 7. 5. Измерение ЛБ-пленок в режимах СТМ и полуконтактных мод
    • 7. 6. Выводы по главе

§ 1. Актуальность работы.

Прогресс в познании строения вещества неразрывно связан с возможностью визуализации описывающих его параметров с максимально осуществимым пространственным и временным разрешением. Следующим шагом познания является попытка использования полученных знаний для построения новых функциональных структур (схем памяти, микропроцессоров, излучателей, приемников и преобразователей света, звука, различных типов сенсоров, новых материалов) максимально возможной информационной мощности, улучшения качества производимых продуктов, создания новых технологий.

На каждом этапе развития существуют инструментальные и экономические ограничения выражающиеся, в конце концов, в уровне и качестве продукции на данном этапе развития цивилизации.

В настоящее время появилась техническая возможность сдвинуть ограничения на пространственное разрешение измерительных и исполнительных инструментов в нанометровую и субнанометровую область размеров, что и создало предпосылки развития в направлениях нано-технологии, молекулярной нанотехнологии, наноэлектроники, базирующихся на возможности оперировать с веществом на уровне молекул, молекулярных кластеров и отдельных атомов.

Для развития субмикронной технологии и нанотехнологии требуется создание прецизионных контрольно-измерительных инструментов, которые могли бы как контролировать свойства функциональных элементов и сред, так и ремонтировать и формировать активные структуры. Потребность в таких средствах обуславливает актуальность часть работы, которая связана с разработкой сканирующих зондовых микроскопов, в том числе с функциями литографов, организации исследований по созданию микромеханических зондовых инструментов, разработке алгоритмов и методик исследований наноструктур с использованием этих средств.

Многообразие молекулярных систем с одной стороны делает их привлекательными для исследователей, а с другой требует развития теоретических методов моделирования электрофизических свойств конкретных применяемых материалов, что существенно сокращает расходы на синтез соединений и время, необходимое для проведения исследований. Этим обусловлена актуальность разработки программных пакетов для моделирования электрофизических свойств молекулярных кластеров.

§ 2. Цель работы.

Целью работы является разработка физико-технических основ конструирования сканирующих зондовых микроскопов, разработка методологических основ их функционирования применительно к различным областям применения, создания технологического базиса для разработки и производства микромеханических зондовых конструкций, методов исследования и модификации наноструктур.

Работа направлена на решение проблем нанотехнологии по следующим направлениям:

•Разработка инструментальных и методологических основ нанотехнологии в части разработки и производства сканирующих зондовых микроскопов для комплексного исследования свойств поверхности с пространственным разрешением на уровне отдельных атомов и молекул, обеспечивающих возможность работы приборов в мультимодовом режиме, включающем возможность регистрации топографических, силовых, токовых, адгезионных, потенциальных, оптических контрастов, а также модификацию поверхностей в полевых, гальванических, деформационных режимах [6, 10 — 16, 22, 27, 29, 31 — 34, 38, 39, 42 — 45, 51, 52, 53, 73 — 76, 79 — 80 ].

•Разработка микромеханических инструментов (зондовые конструкции, тестовые элементы), обеспечивающих возможность проведения комплексных исследований в области сканирующей зондовой микроскопии [24, 29, 30, 40, 44, 50, 55 — 62, 65, 72, 77, 78].

•Разработка методов создания и исследования свойств молекулярных наноструктур с основной ориентацией на микрозондовые методы диагностики [1- 5, 7 — 9, 12, 15 — 18, 20, 23,24, 26, 27, 35, 37, 41, 48, 49, 54, 70, 71].

•Разработка методов нанолитографии [36, 46, 53, 72, 80].

§ 7.6. Выводы по главе 7.

Методами мультимодовой СЗМ исследованы ЛБ пленки ряда соединений. Показано, что наиболее информативными для данного объекта являются методы полуконтактной и бесконтактной СЗМ. Применение контактных методов требует последующей проверки сохранности структуры с использованием полуконтактного режима.

На основе проведенных исследований сформулирована модель формирования пленочных покрытий методом Ленгмюра — Блоджетт.

Методами сканирующей атомно-силовой микроскопии изучена топография и структура поверхности смешанных ЛБ пленок арахидата кадмия — арахиновой кислоты (полученных при значениях рН 5.3, 5.6 и 5.8).

На основе полученных АСМ изображений поверхности рассчитаны функции автокорреляции и определены статистические параметры поверхности (среднквадратическое отклонение высоты и корреляционная длина) для трех различных по составу ЛБ пленок. Найдено соответствие полученных значений статистических параметров с ранее опубликованными данными по коэффициенту затухания света в волноводных ЛБ пленках [1309].

Обнаружена полосковая структура поверхности в мультислойных пленках арахидата кадмия — арахиновой кислоты полученных при рН 5.3, подобная наблюдавшейся ранее на платиново-углеродных репликах мультислоев арахидата кадмия в работе[1319].

Заключение

.

В заключении сформулируем основные результаты, которые получены автором в ходе работ по данной диссертации.

— В результате проведенной работы возникло направление в отечественном приборостроениисканирующая зондовая микроскопия;

— Разработан и производится приборный ряд для оснащения научно-исследовательских и производственных коллективов техникой, способной с нанометровой точностью проводить изучения материалов;

— Разработаны и реализованы в приборах алгоритмы, позволяющие проводить комплексные исследования методами многомодовой сканирующей зондовой микроскопии, а также работы по экспериментальному моделированию функциональных элементов нанометровых размеров;

— На базе технологии микромеханики разработана и производится зондовая техника для СЗМкантилеверы различного функционального назначения для комплексного исследования и моделирования наноструктур;

— Разработаны и производятся тестовые элементы для калибровки и оценки качества сканирующих зондовых микроскопов;

— Предложены и продемонстрированы методы модификации наноструктур, позволяющие создавать большие системы на основе наноэлементов, при которых необратимых изменений с инициирующим модификацию зондом не происходит;

— На основе проведенных исследований предложены механизмы формирования пленок Лен-гмюра-Блоджетт, а также алгоритмы отбора материалов, пригодных для формирования функциональных, практически значимых структур.

Показать весь текст

Список литературы

  1. J. В. P. Williamson, «Microphotography of Surfaces» // Proc. Inst. Mech. Eng. London, 182, 21 (1967 68) — American National Standard Surface Texture. ANSI B46.1 (1978 Edition).
  2. R. Young, J. Ward and F. Scire, «Observation of Metal-Vacuum-Metal Tunneling, Field Emission, and Transition Region 7/ Phys. Rev. Lett., 27, 922, (1971) — R.D. Young, Phys. Rev. 113 (1959) 173- R. D. Young, Physics Today 24, 42 (Nov. 1971).
  3. R. Young, J. Ward and F. Scire, «The Topografmer: An Instrument for Measuring Surface Micro-topography"// Rev. Sci. Instrum., 43, 999, (1972)
  4. W.A. Thompson and S.F. Hanrahan, «Thermal Drive Apparatus for Direct Vacuum Tunneling Experiments"//Rev. Sci. Instrum., 47,1303, (1976)
  5. R.H. Fowler and L. Nordheim, «Electron Emission in Intense Electric Fields"// Proc. Roy. Soc. London. Л 119, 173 (1928)
  6. J. Frenkel. «On the Electrical Resistance of Contacts Between Solid Conductor"// Phys. Rev. 36, 1604 (1930)
  7. L. Esaki, «New Phenomenon in Narrow Germanium p-n Junction"// Phys. Rev., 109, 603 (1958)
  8. I. Giaever, «Energy Gap in Superconductors Measured by Electron Tunneling"// Phys. Rev. Lett., 5, p. 147, (1960)
  9. J. Bardeen, «Tunneling from a Many Particle Point of View» // Phys. Rev. Lett. 6, 57, (1961)
  10. J. Simmons, «General Formula for Electric Tunnel Effect Between Similar Electrodes Separated by Thin Insulating Film"// J. Appl. Phys. 34, 1793, (1963)
  11. C.B. Duke, «Tunneling in Solids"// Academic Press Inc., New York, 1969
  12. I. Giaever, «Electron Tunneling and Superconductivity"// Rev. Mod. Phys., 46, p.245, (1974)
  13. E. C. Teague, «Room Temperature Gold Vacuum — Gold Tunneling Experiments"// Bull. Amer. Phys. Soc. 23, 290, (1978)
  14. E.L. Wolf, «Electron Tunneling Spectroscopy"// Rep. Prog. Phys. 41, 1439 (1978)
  15. G. Binnig and H. Rohrer. «Piezo drive with coarse and fine adjustment"// ibm technical disclosure bulletin vol. 22, Nr. 7, December 1979 New York, US
  16. G. Binnig and H. Rohrer. Scanning Tunneling Microscope// US Patent 4,343,993 Aug. 10, 1982. Filed: Sep. 12, 1980
  17. U. Poppe, «Tunneling Experiments on a Single Crystal of ЕДЪ^'У/ Physica B&C 108, 8 051 981)
  18. G. Binnig and H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel. Surface studies by scanning tunneling microscopy// Phys. Rev. Lett. 49, p.p. 57- 61, (1982)
  19. G. Binnig and H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel. Tunneling Through A Controllable Vacuum Gap//Appl. Phys. Lett. 40, p.p. 178- 179,(1982)
  20. G. Binnig and H. Rohrer. Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta 55, p.p. 726 735,1982)
  21. G. Guntherodt, W.A. Thompson and F. Holtzberg, «Electron Tunneling into Intermediate Valence Materials"// Phys. Rev. Lett., 49, p.1030, (1982)
  22. Начало интенсивного развития метода
  23. G. Binnig and H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel. 7×7 Reconstruction on Si (111) Resolved in Real Space // Phys. Rev. Lett. 50 (2), p.p. 120−123, (1983)
  24. G. Binnig and H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel. «Nano-Aperture"// IBM Tech. Disci. Bui., 27, 4893,(1985)
  25. G. Binnig and H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel. «Spatter Tip"// IBM Tech. Disci. Bui., 27, 4890,(1985)
  26. G. Binnig and H. Rohrer. Scanning tunneling microscopy // Surface science, 152, p.p. 17 26, (1985)
  27. M.C., Трояновский A.M. Сканирующий туннельный микроскоп с модуляцией туннельного промежутка и в жидкой среде// Письма в ЖТФ, 11 (20), стр. 1236 1241, (1985)
  28. G. Binnig, C.F. Quate and Ch. Gerber. Atomic force microscope// Phys. Rev. Lett. 56 (9), p.p. 930−933,(1986)
  29. G. Binnig, H. Rohrer. Scanning Tunneling Microscopy. // Helv. Phys. Acta, 55, 726 (1982) — G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. The Atomic Force Microscope. // Phys.Rev.Lett.1986, 56,930.
  30. G. Binnig and D. P. E. Smith, «Single Tube Three — Dimensional Scanner for Scanning tunneling microscopy"// Rev. Sci. Instrum. 57 (8), p. 1688 — 1689, (1986)
  31. Bryant, D. P. E. Smith and C.F. Quate. «Imaging in Real Time with the Tunneling Microscope"// Appl. Phys. Lett. 48, p. 832 834, (1986)
  32. G. Binnig and H. Rohrer. «Scanning tunneling microscopy"// IBM J. Res. Develop., vol. 30, No. 4, p.p. 355 -369,(1986)
  33. G. Binnig and H. Rohrer. «Scanning tunneling microscopy From Birth to Adolescence"// Rev. Mod. Phys., 59 (3), p.p. 615 — 625, (1987)
  34. В.К., Коньков А. С. «Растровый туннельный микроскоп»// А.С. № 1 471 232 с приоритетом от 14 июля 1987
  35. М.С., Володин А. П., Трояновский A.M., Эдельман B.C. Сканирующие туннельные микроскопы// ПТЭ, 4, стр. 231 232, (1987)
  36. Conrad Schneiker. NanoTechnology With Feynman machines: Scanning Tunneling Engineering and Artificial Life// Artificial Life, SFI Studies in the Sciences of Complexity, Ed. C. Langton, Addison -Wesley Publishing Company, p.p. 443 500, (1988)
  37. Начало развития СЗМ в России
  38. В.И. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности// УФН, 155 (1), стр. 155 158, (1988)
  39. М.С. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия// УФН, 155 (1), стр. 158 159,(1988)
  40. Прядкин C. JL, Цой B.C. СТМ изображения реальных поверхностей (100) и (110) вольфрама и характер отражения электронов проводимости// ЖЭТФ, 94 (3), стр. 336 342, (1988)
  41. В.К. СТМ для работы на воздухе// ПТЭ № 5 (1988) стр. 248
  42. М.С. Сканирующий туннельный микроскоп с большим полем зрения// ПТЭ, 1, стр. 161 165,(1989)
  43. B.C. Высоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп// ПТЭ, 4, стр. 149 153,(1989)
  44. B.C. Сканирующая туннельная микроскопия// ПТЭ, 5, 25 -49, (1989).
  45. А.О., Давыдов Д. Н., Тимофеев В. А., Типисев С. Я. Сканирующий туннельный микроскоп при атмосферном давлении. Сборник «Научное приборостроение». Выпуск «Электронная оптика». Ленинград. «Наука». Стр. 72 76 (1989).
  46. B.C. Развитие сканирующей туннельной микроскопии// УФН, 161(3), 168 -171, (1991)
  47. B.C. Развитие сканирующей туннельной и силовой микроскопии// ПТЭ, 1, стр. 24−42,(1991)
  48. Yu. N. Moiseev, V.M. Mostepanenko, V.I. Panov, I. Yu. Sokolov. Force dependence for the definitions of the atomic force microscopy spatial resolution// Phys. Lett. A 132, p. 354, (1988)
  49. Э.В. Мюллер, T.T. Цонг. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение// Перевод с англ., М., 1980
  50. R.D. Young. // Rev. Sci. Instrum. 37, 275 (1966)
  51. Начальная стадия работ по близкопольной оптической микроскопии
  52. U. Durig, D. Pohl, F. Rohner. «Near-Field Optical Scanning Microscopy"// J. Appl. Phys., 59 (10), 15 May, 3318 3327, (1986)
  53. U. Durig, D. Pohl, F. Rohner. «Near-Field Optical Scanning Microscopy with Tunnel-Distance Regulation''/ЯВМ J. Res. Develop, 30 (5), Sept, 478 483, (1986)
  54. A. Harootunian, E. Betzig. M. Isaacson and A Lewis. «Super-Resolution Fluorescence Near-Field Scanning Optical Microscopy"// Appl. Phys. Lett, 49 (11), 674 676, (1986)
  55. Ранняя обзорная работа no пьезоманипуляторам
  56. G.V. Ellis. «Piezoelectric Micromanipulators» // Science 138, 84−91 (1962).
  57. Первые работы no микромеханическим сенсорам ACM кантилеверам
  58. L.S. Fan, Y.C. Tai and R.S. Miller. «Pin Joints, Gears, Springs. Cranks, and Other Novel Micro-mechanical Structures"// Proc. Transducers'87 (The 4- International Conference on Solid-State Sensors and Actuators, Tokyo, Japan), 849−852, (1987)
  59. N. Garcia, ed.// STM'86. Proceedings of the First International Conference on Scanning Tunneling Microscopy. Santiago de Compostela, Spain, 14−18 July 1986 (Amsterdam: North Holland, 1987)
  60. R.M. Feenstra, ed.// Proceedings of the Second International Conference on Scanning Tunneling Microscopy. (New York: American Institute of Physics). (1988)
  61. Первые работы no нанолитографии
  62. M.A. McCord and R.F.W. Pease «Lithography with the Scanning Tunneling Microscope"// J. Vac. Sci. Technol. В. 3 (1), 86−88, (1986)
  63. M.A. McCord and R.F.W. Pease «Exposure of Calcium Fluoride Resist with the Scanning Tunneling Microscope"// J. Vac. Sci. Technol. B. 5 (1), 430−433, (1987)
  64. Оптико-позиционная схема ACM «Лазер-кантилевер-фотодиод)
  65. Meyer G., Amer N.M. Erratum: novel optical approach to atomic force microscopy// Appl. Phys. Lett. 53 (24), 2400−2402, (1988)
  66. Первая работа no резонансной моде в СЗМ
  67. Ducker W.A., Cook R.F., Clarke D.R. Force measurement using an AC atomic force microscope // J. Appl. Phys. 67 (9), 4045−4052, (1990)1. Первый обзор no ACM
  68. Sarid D., Elings V. Review of scanning force microscopy // J. Vac. Sci. Technol. В 9 (2), 431 437, (1991)1. Атомное разрешение в СТМ
  69. Binnig G. K, Rohrer H., Gerber Ch., Stoll E. Real-space observation of the reconstruction of Au (100) // Surface Science. 144 (2/3), 321−335, (1984)
  70. Ringger M., Hidber H.R., Schlogl R., Oelhafen P., Guntherodt H.-J., Wandelt K., Ertl G. Vacuum Tunneling Applied to the Surface Topography of a Pd (100) Surface // In, Low Temperature Physics XVII. 1,25−26,(1984)
  71. Baro A.M., Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Stoll E., Baratoff A., Salvan F. Real-space observation of the 2×1 structure of chemisorbed oxygen on Ni (l 10) by scanning tunneling microscopy // Phys. Rev. Lett. 52 (15), 1304−1307, (1984)
  72. Binnig G., Rohrer H., Salvan F., Gerber Ch., Baro A. Revisiting the 7×7 reconstruction of Si (l 11) // Surface Science. 157 (2/3), L373-L378, (1985)
  73. Salvan F., Fuchs H., Baratoff A., Binnig G. Au/Si (l 11) overlayer: characterization by tunneling microscopy and spectroscopy// Surface Science. 162 (1−3), 634, (1985)
  74. Chabal Y.J. Infrared study of the chemisorption of hydrogen and water on vicinal Si (100) 2×1 surfaces // J. Vac. Sci. Technol. A 3 (3), 1448−1451, (1985)
  75. Gossmann H.-J., Bean J.C., Feldman L.C., McRae E.G., Robinson I.K. Observation and properties of the Ge (l 1 l)-7×7 surface from Si (l 11)/Ge structures // J. Vac. Sci. Technol. A 3 (3), 16 331 634, (1985)
  76. Feenstra R.M., Fein A.P. Surface morphology of GaAs (l 10) by scanning tunneling microscopy // Phys. Rev. В 32 (2), 1394−1396, (1985)
  77. Chambers S.A., Greenlee T.R., Howell G.A., Weaver J.H. Quantitative interdiffusion studies of noble metal/Si (l 1 l)-7×7 interfaces by angle-resolved auger electron emission // J. Vac. Sci. Technol. A 3 (3), 1291−1294, (1985)
  78. Becker R.S., Golovchenko J.A., Swartzentruber B.S. Tunneling images of the 5×5 surface reconstruction on Ge-Si (l 11) // Phys. Rev. В 32 (12), 8455−8457, (1985)
  79. Becker R.S., Golovchenko J.A., McRae E.G., Swartzentruber B.S. Tunneling Images of Atomic Steps on the Si (l 11)7×7 Surface//Phys. Rev. Lett. 55 (19), 2028−2031, (1985)
  80. Becker R.S., Golovchenko J.A., Hamann D.R., Swartzentruber B.S. Real-space observation of surface states on Si (l 11) 7×7 with the tunneling microscope // Phys. Rev. Lett. 55 (19), 2032−2034,1985)
  81. Tromp R.M., Hamers R.J., Demuth J.E. Si (001) dimer structure observed with scanning tunneling microscopy //Phys. Rev. Lett. 55 (12), 1303−1306, (1985)
  82. Bartha J.W., Baqenbruch U., Henzler M. Thermal desorption spectroscopy of Xe at the Si (l 11) as a local probe for surface structures //J. Vac. Sci. Technol. A 3 (3), 1588−1591, (1985)
  83. Gossmann H.-J., Feldman L.C., Gibson W.M. The influence of reconstruction on epitaxial growth: Ge on Si (100)-2xl and Si (l 1 l)-7×7 // J. Vac. Sci. Technol. A 3 (3), 1515−1516, (1985)
  84. Baratoff A., Binnig G., Fuchs H., Salvan F., Stoll E. Tunneling microscopy and spectroscopy of semiconductor surfaces and interfaces // Surface Science. 168, 734−743, (1986)
  85. Presednt G. Atomic-scale imaging by STM // IEEE 2, 67, (1986)
  86. Takayanagi K., Tanishiro Y. Dimer-chain model for the 7×7 and the 2×8 reconstructed surfaces of Si (lll) and Ge (lll) //Phys. Rev. В 34 (2), 1034−1040, (1986)
  87. Froitzheim H., Kohler U., Lammering H. Dehydrogenation of C2H4 adsorbed on Si (l 11) 7×7 surfaces // J. Phys.: Condens. Matter 19, 2767−2772, (1986)
  88. Атомное разрешение на воздухе HOPG
  89. Park S., Quate C.F. Tunneling Microscopy of Graphite in Air // Appl. Phys. Lett. 48 (2), 112−114,1986)
  90. Сложные атомные структуры на поверхности монокристаллов
  91. Becker R.S., Golovchenko J.A., Higashi G.S., Swartzentruber B.S. New reconstructions on silicon (111) surfaces //Phys. Rev. Lett. 57 (8), 1020−1023, (1986)
  92. Behm R.J., Hosier W., Ritter E., Binnig G. The hexagonal reconstruction of Pt (100): a scanning tunneling microscopy study // J. Vac. Sci. Technol. A 4 (3), 1330−1331, (1986)
  93. Feenstra R.M., Thompson W.A., Fein A.P. Scanning tunneling microscopy studies of Si (l 1 l)-2xl surfaces // J. Vac. Sci. Technol. A 4 (3), 1315−1319, (1986)
  94. Yang W.S., Wu S.C., Jona F. Structural Reactions of Si (l 11)7×7 with Metals // Surface Science. 169, 383−393, (1986)
  95. Albrecht T.R., Quate C.F. Atomic resolution imaging of a nonconductor by atomic force microscopy // J. Appl. Phys. 62 (7), 2599−2602, (1987)
  96. Demuth J.E., Hamers R.J., Tromp R.M. Atomic and electronic imaging of semiconductor surfaces with scanning tunneling microscopy // In: AIP Conf. Proc. 160, 496−505, (1987)
  97. Avouris Ph., Bozso F., Hamers R.J. The reaction of Si (110) 2×1 with NO and NH3: the role of surface dangling bonds // J. Vac. Sci. Technol. В 5 (5), 1387−1392, (1987)
  98. Hamers R.J., Tromp R.M., Demuth J.E. Electronic and geometric structure of Si (l 1 l)-(7×7) and Si (001) surfaces // Surface Science. 181, 346−355, (1987)
  99. Kubby J.A., Griffith J.E., Becker R.S., Vickers J.S. Tunneling Microscopy of Ge (001) // Phys. Rev. В 36 (11), 6079−6093, (1987)
  100. Batra I.P., Garcia N., Rohrer H., Salemink H., Stoll E., Ciraci S. A study of graphite surface with STM and electronic structure calculations // Surface Science. 181, 126−138, (1987)
  101. Giambattista В., McNairy W.W., Slough C.G., John son A., Bell L.D., Coleman R.V., Schneir J., Sonnenfeld R., Drake В., Hansma P.K. Atomic resolution images of solid-liquid interfaces // Proc. Natl. Acad. Sci. USA. 84, 4671−4674, (1987)
  102. Berghaus Th., Brodde A., Neddermeyer H., Tosch St. STM observation of a new reconstruction on narrow Si (l 11) terraces // Surface Science. 181, 340−345, (1987)
  103. С.И., Леонов В. Б., Панов В.И Сканирующий туннельный микроскоп высокого разрешения // Препринт физич. ф-та МГУ. No 14, 1−5, (1987)
  104. Pollmann J., Kruger P., Mazur A. Self-consistent electronic structure of semi-infinite Si (001) (2×1) and Ge (001) (2×1) with model Calculations for scanning tunneling microscopy // J. Vac. Sci. Technol. В 5 (4), 945−952, (1987)
  105. Feenstra R.M., Stroscio J.A., Tersoff J., Fein A.P. Atom-selective imaging of the GaAs (l 10) surface//Phys. Rev. Lett. 58 (12), 1192−1195, (1987)
  106. Kajamura K., Bando H., Endo K., Mizutani W., Murakami H., Okano M., Okayama S., Ono M., Ono Y., Tokumoto H., Sakai F., Watanabe K., Wakiyama S. Construction of an STM and observationof 2H-NbSe2 atomic images // Surface Science. 181, 165−173, (1987)
  107. Nogami J., Park S., Quate C.F. Indium-induced reconstructions of the Si (l 11) surface studied by scanning tunneling microscopy //Phys. Rev. В 36 (11), 6221−6224, (1987)
  108. Berghaus Th., Brodde A., Neddermeyer H., Tosch St. Scanning tunneling microscopy on Si (l 12) // Surface Science. 184, 273−288, (1987)
  109. Brunner A.J., Stemmer A., Rosenthaler L., Wiesendanger R, Ringger M., Oelhafen P., Rudin H., Guntherodt H.-J. Scanning tuxmeling microscopy of a thin film of Pd2Si on a Si (100) substrate // Surface Science. 181, 313−323, (1987)
  110. Elings V., Wudl F. Tunneling microscopy on various carbon materials // J. Vac. Sci. Technol. A 62., 412−414, (1988)
  111. Pashley M.D., Haberern K.W., Woodall J.M. The (001) surface of molecular-beam epitaxially grown GaAs studied by scanning tunneling microscopy // J. Vac. Sci. Technol. В 6 (4), 1468 -1471, (1988)
  112. Pashley M.D., Haberern K.W., Friday W., Woodall J.M., Kirchner P.D. Structure of GaAs (OOl) (2×4)-c (2×8) Determined by Scanning Tunneling Microscopy // Phys. Rev. Lett. 60 (21), 2176−2179, (1988)
  113. Kohler U.K., Demuth J.E., Hamers R. J. Surface reconstruction and the nucleation of palladium silicide on Si (lll) // Phys. Rev. Lett. 60 (24), 2499−2502, (1988)
  114. Jaklevic R.C., Elie L. Scanning-txinneling-microscope observation of surface diffusion on an atomic scale: Au on Au (l 11) // Phys. Rev. Lett. 60 (2), 120−123, (1988)
  115. Hamers R.J., Avouris Ph., Bozso F. A scanning tunneling microscopy study of the reaction of Si (001)-(2xl) with NH3 // J. Vac. Sci. Technol. A 6 (2), 508−511, (1988)
  116. Wolkow R, Avouris Ph. Atom-resolved surface chemistry using scanning tunneling microscopy // Phys. Rev. Lett. 60 (11), 1049−1052, (1988)
  117. Tosch St., Neddermeyer H. Nucleation and growth of Cu and Ag on Si (l 11)7×7 // J. Microscopy 152 (2), 415−422, (1988)
  118. B.K., Ермаков A.B., Любинецкий И. В. Сканирующий туннельный микроскоп с атомным разрешением на воздухе// Письма в ЖТФ, 14 (8), 692−695, (1988)
  119. Tosch St., Neddermeyer Н. Initial stage of Ag condensation on Si (l 11)7×7.// Phys. Rev. Lett. 613., 349−352, (1988)
  120. Berghaus Th., Brodde A., Neddenneyer H., Tosch St. Scanning tunneling microscopy and spectroscopy on 7×7 reconstructed Si (l 11) surfaces containing defects // Surface Science 193 (½), 235 258, (1988)
  121. Pashley M.D., Haberern K.W., Friday W. The effect of cooling rate on the surface reconstruction of annealed silicon (111) studied by scanning tunneling microscopy and low-energy electron diffraction
  122. J. Vac. Sci. Technol. A 6 (2), 488−492, (1988)
  123. Becker R.S., Swartzentruber B.S., Vickers J.S. Tunneling microscopy of silicon and germanium: Si (lll) 7×7, SnGe (lll) 7×7, GeSi (lll) 5×5, Si (lll) 9×9, Ge (lll) 2×8, Ge (110) 2×1, Si (110) 5×1 // J. Vac. Sci. Technol. A 6 (2), 472−477, (1988)
  124. Wintterlin J., Wiechers J., Gritsch Th., Hofer H., Behm R.J. Imaging of individual atoms on an Al (lll) surface by scanning tunneling microscopy // J. Microscopy, 152 (2), 423−425, (1988)
  125. M.J., Penner R.M., Lewis N.S., Dovek M.M., Quate C.F., «Atomic resolution imaging of electrode surfaces in solutions containing reversible redox species» Appl. Phys. Lett., 54 (15), 14 211 423, (1989).
  126. Schardt B.C., Yau Sh.-L., Rinaldi F., «Atomic resolution imaging of adsorbates on metal surfaces in air: Iodine adsorption on Pt (l 11)» // Science, 243, 1050−1053, (1989).
  127. C.A., Dovek M.M., Nogami J., Quate C.F., «Au(l 11) autoepitaxy studied by scanning tunneling microscopy» // Surface Science, 224, L947-L955, (1989).
  128. M.M., Lang C.A., Nogami J., Quate C.F., «Epitaxial growth of Ag on Au(l 11) studied by scanning tunneling microscopy» // Phys. Rev., В 40 (17), 11 973−11 975, (1989).
  129. R.J., «Atomic-resolution surface spectroscopy with the scanning tunneling microscope» // Annu. Rev. Phys. Chem., 40, 531−559, (1989).
  130. Thibaudau F., Dumas Ph., Mathiez Ph., Humbert A., Static D., Salvan F.,» л/з structure of boron enriched Si (l 11) surfaces investigated by auger, LEED and scanning tunneling microscopy» // Surface Science, 211/212, 148−155, (1989).
  131. R., Siegenthaler H., Rohrer H., Wiese H., «In situ scanning tunneling microscopy at potential controlled Ag(100) substrates» // Electrochimica Acta, 34 (8), 1011−1022, (1989).
  132. В., Travaglini G., Rohrer H., Joachim C., Amrein M., «Images of crystalline alkanes obtained with scanning tunneling microscopy» // Z. Phys., В 76, 99−105, (1989)
  133. Развитие работ в России конец 80-х начало 90-х годов
  134. Н.С., Панов В.И, «Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций» // УФН, 157(1), 185−195 (1989)
  135. С.Д., Васильев С. И., Леонов В. Б., Панов В. И., Семенов А. Э., «Исследование асимметрии атомного изображения поверхностной решетки графита методом СТМ» ДАН СССР, 307 (5), 1104−1108, (1989)
  136. P., Chen D.M., Mortensen К., Golovchenko J.A., «Demonstration of the tunnel-diode effect on an atomic scale» // Nature, 342, 25 8−260, (1989).
  137. Володин А. П, Копецкий Ч. В, Степанян Г. А, Хайкин М. С, Эдельман В. С, «Совмещение сканирующего туннельного и растрового электронного микроскопов в едином приборе» -Письма в ЖТФ, 13 (2), 1251 (1987)
  138. Васильев С. И, Леонов В. Б, Панов В. И, Савинов С. В, «Сканирующая туннельная микроскопия в воздушной среде» ДАН СССР, 297(6), 1351−1354 (1987)
  139. Васильев С. И, Леонов В. Б, Панов В. И, «Сканирующий туннельный микроскоп высокого разрешения» Препринт физич. ф-та МГУ, No 14, 1−5, (1987).
  140. Васильев С. Н, Леонов В. Б, Панов В. И, «Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно неоднородных поверхностей» Письма в ЖТФ, 13 (15), 937−941, (1987)
  141. Васильев С. Н, Леонов В. Б, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, «Атомная силовая микроскопия поверхности диэлектриков» //Препринт физич. ф-та МГУ, 2, 1−5 (1988).
  142. Васильев С. И, Леонов В. Б, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, «Сканирующая микроскопия поверхности, использующая силы межатомного взаимодействия» Письма в ЖТФ, 14 (8), 727 731 (1988).
  143. Акципетров О. А, Васильев С. И, Панов В. И, «Роль шероховатости в гигантском комбинационном рассеянии и сканирующая туннельная микроскопия поверхности» // Письма в ЖЭТФ, 47(4), 187−190, (1988).
  144. Акципетров О. А, Васильев С. И, Панов В. И, «Сканирующая туннельная микроскопия поверхности «холодных» пленок серебра и генерация гигантской второй гармоники» // ЖЭТФ, 94(5), 256−260, (1988).
  145. Алекперов С. Д, Васильев С: А, Кононенко А. А, Лукашов Е. П, Панов В. И, Семенов А. Э, «Сканирующая туннельная микроскопия фотосинтетических реакционных центров» // ДАН СССР, 303(2), 341−344, (1988).
  146. Адамчук В. К, Ермаков А. В, Любинецкий И. В, Житомирский Г. А, Панич А. Е, «Сканирующий туннельный микроскоп на основе монолитного пьезоэлемента крестообразного сечения» // ПТЭ, No 5, 182−184, (1989).
  147. Альтфедер И. Б, Володин А. П, Хайкин М. С, «Малогабаритный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп» ПТЭ, No 5, 188−190, (1989)
  148. Володин А. П, Степанян Г. А, Хайкин М. С, Эдельман В. С, «Сканирующий туннельный микроскоп с большим полем зрения, совместимый с растровым электронным микроскопом» -ПТЭ, No 5, 185−187, (1989)
  149. Володин А. П, Панич А. Е, «Применение пьезокерамических материалов ПКР в низкотемпературных сканирующих туннельных микроскопах» ПТЭ, 5, 190−193 (1989)
  150. Васильев С. И, Савинов С. В, Яминский И. В, «Методы изготовления острий для сканирующего туннельного микроскопа» // Электронная промышленность, 3.
  151. Ю.Н., Панов В. И., Савинов С. В., Яминский И В, «Атомно-силовая микроскопия поверхности» //Электронная промышленность, 3 (1991).
  152. С.И., Моисеев Ю. Н., Никитин Н. И., Савинов С. В., Яминский И. В., «Сканирующий туннельный микроскоп «Скан»: конструкция и области применения» // Электронная промышленность, 3, (1991)
  153. Яминский И. В, «Сканирующая туннельная микроскопия» Электронная промышленность, 10, 62−63, (1993).
  154. Д.В., Савинов С. В., Яминский И.В, «Высоковольтный усилитель для пьезома-нипулятора сканирующего туннельного микроскопа» Электронная промышленность, 10, 4042, (1993).
  155. С.И., Казанцев Д. В., Моисеев Ю. Н., Панов В. И., Савинов С.В Яминский И. В., «Приборы локального зондирования поверхности» Электронная промышленность, 10, 29−33,(1993).
  156. Д.В., Савинов С. В., Яминский И.В, «Высокоскоростной сканирующий туннельный микроскоп» Электронная промышленность, 10, 45−48, (1993).
  157. О.А., Захарченко В. В., Казанцев Д. В., Кобляков Н. В., Панов В. И., Яминский И. В., «Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп» Электронная промышленность, 10, 38−40, (1993).
  158. С.И., Моисеев Ю. Н., Панов В. И., Савинов С. В., Яминский И. В., Герасимов А. В., Зиневич А. Я., Саморуков В. Д., «Сканирующий туннельный атомно-силовой микроскоп «СКАН-8» Электронная промышленность, 10, 34−36, (1993).
  159. Яминский И. В, «Работы ученых МГУ в области туннельной спектроскопии и наноэлек-троники» Электронная промышленность, 10, 25−28, (1993).
  160. Первая стадия развития нанотехнологии
  161. Feynman R.P. There’s plenty of room at the bottom// Engrg. and Sci. (Cal. Inst, of Tech.) Feb., p.p. 22 36 (1960a) — also in: Miniaturization// Ed. H.D. Gilbert. — New York: Reinhold, 1961. P. 282 286
  162. R.P. «The Wonders that Await a Micro-Microscope»// Saturday Review 43, p.p. 45−47 (1960b)
  163. TaniguchiN. «On the Basic Concept ofNanotechnology» // Proc. Int. Conf. Prod. Eng. Tokyo, Part 2 (Tokoyo: JSPE), p.p. 18 23 (1974)
  164. Heinlein R.A., Waldo and Magic, Inc. (New York: Doubleday & Co.), 1940
  165. C.B., Банников B.C., Васенков A.A., «Молекулярная самосборка новый метод миниатюризации»// Электронная промышленность, вып.5 (133), стр. 7−9, 1984 год1. Изучение сканеров
  166. О.В. Диагностика и корректировка пьезосканеров зондовых микроскопов// Дипломный проект. Московский Государственный Институт электронной техники. Факультет электроники и компьютерных технологий. Кафедра ИЭМС. 2000 год.
  167. Теоретические работы по силовым взаимодействиям на поверхности
  168. Б.Г. Дерягин, Н. В. Чураев, В. М. Муллер. Поверхностные силы// Москва. Наука. 1987.
  169. Ю.С. Бараш. Силы Ван-дер-Ваальса// Москва. Наука. 1988. Агрегация в растворах, ЛБ пленки
  170. Aggregation in Aqueous Solution// Elserier. 1983
  171. Yevdokimov Yu. M., Skuridin S.G., Salyanov V.I. The liquid crystalline phases of double -stranded nucleic acids in virto and in vivo// Liquid Crystals. 3.1988. P. 1443−1459.
  172. Yevdokimov Yu. M., Skuridin S.G., Lortkipanidze G.B. The liquid crystalline of nucleic acids// Liquid Crystals. 12.1992a. P. 1−16.
  173. Л.М. Блинов. Ленгмюровские пленки // Успехи физических наук. 1988. том. 155, вып. 3, стр. 443−480.
  174. V.I. Troitsky. Macromol. Chem., Macromol. Symp., 1991 v.46, p.223−227.
  175. I.Y. Myagkov, «Field effect transistor with MTDS junctions and gate dielectric on the base of Langmuir films «// Letters to the JTP, 1989, v. l5,p.l5−18(USSR)
  176. M.C. Petty. Application of multilayer films to molecular sensors: some examples of bioengineering at the molecular level. //J. Biomed. Eng. 1991, Vol.13, May, p.209−214.
  177. V.R. Novak, S.L. Vorob’eva, and I.V. Myagkov. Investigation of Langmuir Films of Fullerene Derivative Resulting by Addition of C60 to Tetracyanoethylene Oxide. Mol. Mat., Vol. 7, pp. 175−178, 1996.
  178. V. Novak, S. Vorob’eva, «Langmuir films of fullerene tetracyanoethylene oxide derivative"// Abstract book of The Seventh Internationa! Conference on Organized Molecular Films, LB7, Ancona, Italy, September, 1995, p.18.
  179. V. Novak, «Temperature-Induced Changes Of Absorption Spectra Of Pyroelectric LB-Films Of 18-Oabs"// Abstract book of The Seventh Intematioxml Conference on Organized Molecular Films, LB7, Ancona, Italy, September, 1995, p.96.
  180. S.L. Vorob’eva, Y.R. Novak, «New Fullerene Derivative For Langmuir Films"// Abstract book of The Seventh International Conference on Organized Molecular Films, LB7, Ancona, Italy, September, 1995, p.19.
  181. О .A. Aktsipetrov, E.D. Mishina, T.V. Marine, N.N. Akhmediev, V.R. Novak, «The photoinduced anisotropy of second harmonic generation in monolayerd Langmuir-Blodgett films «// Thin Solid Films, 1995, v.256, p. 176−181.
  182. V.R. Novak, S.L. Vorob’eva, I.V. Myagkov, Investigation of Langmuir Films of Fullerene Derivative Resulting by Addition of C60 to Tetracyanoethylene Oxide// Mol. Mat., v.7 p. 175−178, 1996.
  183. O.A. Aktsipetrov, A.A. Fedyanin, E.D. Mishina, S.L. Vorob’eva, V.R. Novak, M.A.C. Devillers and Th. Rasing, Second Harmonic Generation Spectroscopy and Hyper-Raleigh scattering in Langmuir-Blodgett films of fullerens// Surf. Sci. Lett. (1996)
  184. M.I. Uvarova, S.L. Vorob’eva, High Performance Liquid Chromatography of Fullerens C60, C70 and Fulleren-tetracyan-ethylen oxide// Third International Symposium of Aerosols, Moscow, 1996, 2−5 December.
  185. V.I. Troitsky, T.S. Berzina, Ya.Ya. Katsen, O.Ya. Neilands, C.Nicolini. Conducting Langmuir-Blodgett films of heptadecylcarboxymethyl-BEDT-TTF// Synthetic Metals 74 (1995) 1−6.
  186. S. Dante, M. De Rosa, E. Maccioni, A. Morana, C. Nicolini, F. Rustichelli, V.I. Troitsky, B. Yang. Thermal stability of bipolar lipid Langmuir-Blodgett films by X-ray diffraction// Mol. Cryst. Liq.
  187. Cryst. 1995, Vol. 262, pp. 191−207.
  188. E. Maccioni, P. Mariani, F. Rustichelli, H. Delacroix, V. Troitsky, A. Riccio, A. Gambacorta, M. De Rosa. X-ray diffraction structural analysis of Langmuir-Blodgett films using a pattern recognition approach// Thin Solid Films, 265 (1995) 74−83.
  189. T.S. Berzina, V.I. Troitsky, O.Ya. Neilands, I.V. Submale, C. Nicolini. Deposition of uniform fullerene films by LB technique// Thin Solid Films, 256 (1995) 186−191.
  190. Feigin, L. A, Lvov, Yu.M. & Troitsky V.I. (1989). X-ray and Electron Diffraction Study of Langmuir-Blodgett Films// Sov. Sci. Rev. Physics, 287−377, (Harwood, London).
  191. Blinov, L. M, Fridkin, V. M, Palto, S. P, Sororin, A.V. & Yudin, S.G. (1996). Ferroelectric polymer Langmuir films/AThin Solid Films 284−285 (1996) 469−473.
  192. B.B. Полимерные монослои и пленки Ленгмюра-Блоджетт. Влияние химической структуры полимеров и внешних факторов на условия формирования и свойства упорядоченных полимерных ансамблей// Успехи химии. Т. 63, № 1 стр.3−24. 1994 г.
  193. Potapov, V.K.- Kardash, I.E.- Sorokin, V.V.- Sokolov, S.A.- Evlasheva, T. I, Photoionization of heteroaromatic compounds, Khim// Vys. Energ, 1972, 6,392
  194. Szent-Gyorgyi A. «Bioenergetics» // Edd. L.G. Augenstein, New York, 1957
  195. J. Schnur, Science 262:1670 (1993) p
  196. Химическая энциклопедия // Т. З «Большая Российская Энциклопедия», Москва, 1992
  197. Langmuir I.// J. Am. Soc. V. 39. P. 1848. (1917).
  198. Blodgett K.B. .// J. Am. Chem. Soc. V. 56. P. 495. (1934).
  199. JIM. Блинов. Физические свойства и применение Ленгмюровских моно- и мультимолеку-лярных структур //Успехи химии. 1983. t. LII, вып. 8. No?. 1263−1300.
  200. Langmuir I.// Trans. Faraday Soc. 15 .p. 62. (1920) — Blodgett K.B. Films by Depositing successive monomolecular Layers on Solid Surface// J. Am. Chem. Soc., P. 1007 (1935)1. Молекулярная электроника
  201. Barraud A., Supermolecular Engineering by the Langmuir-Blodgett Method// Thin Solid Films, 175, 73 -80 (1989)
  202. Aviram A. Molecules for Memory, Logic, and Amplification// J.Am. Chem. Soc. 110: 5687 -5692 (1988)
  203. Carter F.L. Molecular Electronic Devices// New York: Marcel Dekker (1982)
  204. Carter F.L. Molecular Electronic Devices II// New York: Marcel Dekker (1987)
  205. Drexler K.E. Nanosystems: Molecular Machinery, Manufacturing, and Computation//New York (1992)
  206. Roberts G.G., Petty M.C., Dharmadasa M. Proceedings of the IEE. Pt. 1, Solid State and Electron Devices, v.128, p.197, (1981)
  207. Kuhn H., Mobius D., Bucher H., Spectroscopy of monolayerd assemblies// In: Techniques of chemistry, v. l, pt IIIB., ed. Weissberger A, Rossiter B.W., New York Toronto: Willey Interscience, p.577−702, (1972)
  208. Kuhn H., Functionalired monolayerd assembly manipulation// Thin Solid Films, v.99, p. 1−16, (1983) — Kuhn H., Introduction Molecular Engineering: Facts and Aims// Journal de chimie physique, 85, n° 11/12, 991−993 (1988)
  209. K.A., Микроэлектроника: достижения и пути развития// Наука, Москва (1986)
  210. R.I. Gilmanshin, P.I. Lazarev. Molecular Monoelectronics// J. of Molecular Electronics, v.4, p. l-8, (1988)
  211. B.P. Электрооптические свойства тонкопленочных структур на основе Ленгмюровских пленок// Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук, НИИ Физических проблем им. Ф. В. Лукина, Москва (1986)
  212. Теоретические работы по СЗМ
  213. J., Hamann D.R., «Theory and application for the scanning tunneling microscope» // Phys. Rev. Lett., 50 (25), 1998−2001, (1983).
  214. Garcia N., Ocal C., Flores F., Model theory for scanning tunneling microscopy: application to Au (l 10)(lx2)// Phys. Rev. Lett., 50 (25), 2002−2005, (1983)
  215. Feuchtwang Т.Е., Cutler P.H., Miskovsky N.M. A theory of vacuum tunneling microscopy //
  216. Phys. Lett. A99 (4), 167−171, (1983)
  217. Baratoff A., Theory of scanning tunneling microscopy methods and approximations// Physica, В127, 143−150, (1984)
  218. Garcia N., Flores F., Theoretical studies for scanning tunneling microscopy // Physica, В127 (1/3), 137−142, (1984)
  219. TersofF J., «Theory of the scanning tunneling microscope» // Springer-Verlag, 54, (1985).
  220. TersofF J., Hamann D.R., «Theory of the scanning tunneling microscope» // Phys. Rev. B, V.31, No 2, 805−813, (1985).
  221. Bono J., Good R.H. Theoretical discussion of the scanning tunneling microscope // Surface Science, 151 (2,3), 543−552, (1985)
  222. Garcia N. Theory of scanning tunneling microscopy and spectroscopy // Bull. Amer.Phys.Soc., 30 (3), 251, (1985)
  223. J., Sonnenfeld R., Hansma P.K., Tersoff J., «Tunneling microscopy study of the graphite surface in air and water» Phys. Rev., В 34 (8), 4979, (1986)
  224. Bono J., Good R.H. Jr. Theoretical discussion of the scanning tunneling microscope applied to a semiconductor surface// Surface Science, 175, 415−420, (1986)
  225. LangN.D., Theory of single-atom imaging in the scanning tunneling microscope//Phys. Rev. Lett., 56 (11), 1164−1167, (1986)
  226. Garcia N. Theory of scanning tunneling microscopy and spectroscopy: resolution, image and field states, and thin oxide layers/ЯВМ J. Res. Develop. 30 (5), 533−542, (1986)
  227. Bono J., Good R.H., Jr. Conductance oscillations in scanning tunneling microscopy as a probe of the surface potential// Surface Science, 188, 153−163, (1987)
  228. Chung M.S., Feuchtwang Т.Е., Cutler P.H., Spherical tip model in the theory of the scanning tunneling microscope// Surface Science, 187 (2/3), 559−568, (1987)
  229. Tsukada M., Shima N., Theory of electronic processes of scanning tunneling microscopy // J. Phys. Soc. Jap., 56 (8), 2875−2885, (1987)
  230. Tomanek D., Louie S.G., Mamin H.J., Abraham D.W., Thomson R.E., Ganz E., Clarke J., Theory and observation of highly asymmetric atomic structure in scanning-tunneling-microscopy images of graphite// Phys. Rev. В 35 (14), 7790−7793, (1987)
  231. Baratoff A., Persson B.N.J. Theory of the local tunneling spectrum of a vibrating adsorbate//J. Vac. Sci. Technol. A 6 (2), 331−335, (1988)
  232. Martin-Rodero A., Flores F., March N.H., Tight-binding theory of tunneling current with chemisorbed species // Phys. Rev., В 38 (14), 10 047−10 050, (1988)
  233. Huang Z.H., Cutler P.H., Feuchtwang Т.Е., Kazes E., A multi-dimensional tunneling theory with application to scanning tunneling microscope// J. de Phys., Colloq. C8, 50 (11), C8/31-C8/36, (1989)
  234. Sbosny H., Hietschold M., Stabeler P., Sprenger H, Heim J., Schafer K., Hamann C., Pfeifer G., Experimentelle und theoretische Untersuchungen zur Raster-Tunnel-Mikroskopie// Wiss. Z. d. TU Karl-Marx-Stadt, 31 (2), 243−251, (1989)
  235. H.C., Панов В.И, Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций//УФН, 157(1), 185−195 (1989)
  236. Ciraci S., Tekman Е. Theory of transition from the tunneling regime to point contact in scanning tunneling microscopy//Phys. Rev. В 40 (17), 11 969−11 972, (1989)
  237. Tekman E., Ciraci S. Atomic theory of scanning tunneling microscopy//Phys. Rev. В 40 (15), 10 286−10 293,(1989)
  238. Shih C.K., Kaxiras E., Feenstra R.M., Pandey K.C., Scanning tunneling microscopy and first-principles theory of the Sn/GaAs (110) surface // Phys. Rev., В 40 (14), 10 044−10 047, (1989)
  239. Doyen G., Koetter E., Vigneron J.P., Scheffler M. Theory of scanning tunneling microscopy// Appl. Phys., A 51, 281−288, (1990)
  240. Noguera C., Theoretical approach to the scanning tunneling microscope//Phys. Rev., В 42 (3). 1629−1637, (1990)
  241. Tsukada M., Kobayashi K., Ohnishi Sh., First-principles theory of the scanning tunneling microscopy simulation//! Vac. Sci. Technol. A 8 (1), 160−165, (1990)
  242. Leavens C.R., Aers G.C., A brief introduction to tunneling theory // Applied Science, Ser. E 184, 27−57, (1990)
  243. Tersoff J., Theory of scanning tunneling microscopy and spectroscopy// Applied Science, Ser. E 184, 77−95, (1990)
  244. Doyen G., Koetter E., Barth J., Drakova D., Theory of tunneling from transition metal tips// Applied Science, Ser. E 184, 97−111, (1990)
  245. H.C., Туннелирование из локализованных поверхностных состояний полупроводника при наличии кулоновских корреляций // Письма в ЖЭТФ, 51(12), 627−630 (1990)
  246. Maslova N.S., Tunneling from localized surface states of semiconductor with Coulumb correlations // JETP Letters, 51 (12), 712−715, (1990)
  247. Tekman E., Ciraci S., Theory of anomalous corrugation of the Al (l 11) surface obtained from scanning tunneling microscopy//Phys. Rev., В 42 (3), 1860−1863, (1990)
  248. Lawunmi D., Payne M.C., Theoretical investigation of the scanning tunnelling microscope image of graphite// J. Phys.: Condens. Matter, 2 (16), 3811−3821, (1990)
  249. Qin X.-r., Kirczenow G., Theory of scanning-tunneling-microscopy images of intercalated graphitesurfaces// Phys. Rev., В 41 (8), 4976−4985, (1990)
  250. Martensson P., Meyer G., Amer N.M., Kaxiras E., Pandey K.C., Evidence for trimer reconstruction of Si (l 11) л/з x л/3 Sb: scanning tunneling microscopy and first-principles theory// Phys. Rev., В 42 (11), 7230−7233, (1990)
  251. Watanabe S., Aono M., Tsukada M., Theoretical calculations of the scanning tunnelingmicroscopy images of the Si (l 11) л/з x S Ag surface // Phys. Rev., В 44 (15), 8330−8333, (1991)
  252. Davis L.C., Everson M.P., Jaklevic R.C., Shen W., Theory of the local density of surface states on a metal: comparison with scanning tunneling spectroscopy of a Au (l 11) surface // Phys. Rev. В 43 (5), 3821−3830, (1991)
  253. Sass J.K., Gimzewski J.K., Haiss W., Besocke K.H., Lackey D., Theoretical aspects and experimental results of STM studies in polar liquids//! Phys.: Condens. Matter, 3, S121-S126, (1991)
  254. Pendry J.B., Pretre A.B., Krutzen B.C.H., Theory of the scanning tunneling microscope // J. Phys.: Condens. Matter, 3, 4313−4321, (1991)
  255. Kobayashi K., Souzu Y., Isshiki N., Tsukada M., Theory of STM images of monolayer graphite on transition-metal surface // Applied Surface Science, 60/61, 443−447, (1992)
  256. Miyamoto Y., Theory of scanning-tunneling-microscopy images of oxygen-adsorbed Si (100) surfaces //Phys. Rev., В 46 (19), 12 473−12 477, (1992)
  257. Cerda J.R., de Andres P.L., Flores F., Perez R., Transport of physisorbed Xe atoms on Ni (l 10) using a scanning tunneling microscope: a theoretical approach // Phys. Rev., В 45 (15), 8721−8729, (1992)
  258. Kurnikov I.V., Sivozhelezov V.S., Redchenko V.V., Gritcenko O.V., An extension of the Tersoff-Hamann model for a molecule on a graphite support: STM-image construction // Molecular Engineering. 2, 165−176, (1992)
  259. Cevc G., Kornyshev A. A., Hydration force microscopy as a new option for studies of solid-liquid interfaces: some theoretical considerations//J. Electroanal. Chem., 330, 407−417, (1992)
  260. Lucas A.A., Vigneron J.-P., Lambin Ph., Laloyaux Th., Derycke I., Theoretical aspects of scanning tunneling microscopy// Surface Science, 269/270, 74−80, (1992)
  261. Molotkov S .N., On the theory of spin-dependent tunneling in the scanning tunneling microscope: antiferromagnetic crystal-ferromagnetic tip // Surface Science, 261, 7−16, (1992)
  262. Kageshima H., Tsukada M., Theory of scanning tunneling microscopy and spectroscopy on Si (100) reconstructed surfaces// Phys. Rev., В 46 (11), 6928−6937, (1992)
  263. Doyen G., Drakova D., Mujica V., Scheffler M., Theory of the scanning tunneling microscope// Phys. Stat. Sol., A 131, 107−108, (1992)
  264. Kenkre V.M., Biscarini F., Bustamante C., Theoretical framework for the interpretation of STMimages of adsorbates// Ultramicroscopy, 42−44, 122−127, (1992)
  265. Uehara Y, Kimura Y, Ushioda S, Takeuchi K., Theory of visible light emission from scanning tunneling microscope//Jpn. J. Appl. Phys., 31 (1), 8, 2465−2469, (1992)
  266. Sautet P., Joachim C., Are electronic interference effects important for STM imaging of substrates and adsorbates? A theoretical analysis //Ultramicroscopy, 42−44, 115−121, (1992)
  267. Levy Yeyati A., Flores F., Theory of photovoltaic effect in STM: application to graphite // Ultra-microscopy, 42−44, 242−249, (1992)
  268. Tsukada M., Schimizu Т., Kobayashi K., Microscopic theory of light emission from the scanning tunneling microscope // Ultramicroscopy, 42−44, 360−365, (1992)
  269. Dunphy J.C., Ogletree D.F., Salmeron M.B., Sautet P., Bocquet M.-L., Joachim C., Tip-dependent contrast in STM imaging of adsorbed sulfur layers: theory and experiment // Ultramicroscopy, 42−44, 490−497, (1992)
  270. Sautet P., Dunphy J.C., Salmeron M B., How can scanning tunneling microscopy, coupled with theory, help us understand some elementary steps in catalysis?// In: Elementary Reaction Steps in Heterogeneous Catalysis, 305−311, (1993)
  271. Schmickler W., Investigation of electrochemical electron transfer reactions with a scanning tunneling microscope: a theoretical study // Surface Science, 295, 43−56, (1993)
  272. Laiho R., Reittu H.J., Theory of scanning tunneling microscopy with spin-polarized electrons obtained from a semiconducting tip // Surface Science, 289, 363−369, (1993)
  273. Molotkov S.N., Theory of new modes for STM operation // Surface Science, 287/288, 1098−1101, (1993)
  274. Schimizu Т., Tsukada M., Theory of scanning tunneling microscopy of oxygen adsorption on Ag (110) surface// Solid State Communications, 87 (3), 193−197, (1993)
  275. Tsukada M., Schimizu Т., Watanabe S., Isshiki N., Kobayashi K., Theory of scanning tunneling microscopy/spectroscopy for adsorbed surfaces and layer crystal surfaces // Jpn. J. Appl. Phys., 32 (3B), 1352−1359, (1993)
  276. Tsukada M., Theory of electron tunneling in scanning tunneling microscopy and field ion microscopy//Applied Surface Science, 76/77, 312−321, (1994)
  277. Molotkov S.N., Nazin S.S., Theory of scanning tunneling microscopy of the antiferromagnetic Cr (001) surface with nonmagnetic W tips // Surface Science, 304 (!/2), 109−118, (1994)
  278. Molotkov S.N., Theory of electron-spin resonance topography of surfaces by scanning tunneling microscope // Surface Science, 302, 235−240, (1994)
  279. Sautet P., Bocquet M.-L. A theoretical analysis of the site dependence of the shape of a molecule in STM images // Surface Science, 304 (3), L445-L450, (1994)
  280. Bonnel D.A. Scanning tunneling microscopy and spectroscopy: theory, techniques, and applications // J. Am. Chem. Soc., 116, (12), 5527, (1994)
  281. Hormandinger G., Pendry J.В., Theoretical calculations of STM data on Ni (100)-C for various concentrations of carbon//Surface Science, 303, 197−205, (1994)
  282. Bass J.M., Matthai C.C., Theoretical simulation of scanning-tunneling-microscopy images of the GaAs (00l)beta (2×4) andbeta (4×2) surfaces//Phys. Rev., В 50 (15), 11 212−11 215, (1994)
  283. Unger H.-J., Theory of vacuum tunneling and its application to the scanning tunneling microscope // Computational Materials Science, 2 (2), 357−365, (1994)
  284. Maslova N.S., Oreshkin A.I., Panov V.I., Savinov S.V. Kaiachev A.A., Rabe J.P., STM evidence of dimensional quantization on the nanometer size surface defects// Solid State Communications, 95 (8), 507−510, (1995)
  285. Ivanov G.K., Kozhushner M. A., Oleinik I.I., Direct and inverse problems in the theory of scanning tunneling microscopy// Surface Science, 331/333, 1191−1196, (1995)
  286. Kikuchi A., Tsukada M. Theory of STM images of CDW in transition-metal dichalcogenides // Surface Science, 326 (½), 195−207, (1995)
  287. Dunphy J.C., Sautet P., Ogletree D.F., Salmeron M., Approach to surface structure determination with the scanning tunneling microscope: multiple-gap imaging and electron-scattering quantum-chemistry theory//Phys. Rev., В 52 (15), 11 446−11 456, (1995)
  288. Sautet P., Bocquet M.-L. Shape of molecular adsorbates in STM images: a theoretical study of benzene on Pt (l 11)// Phys. Rev., В 53 (8), 4910−4925, (1996)
  289. Salkola M.I., Balatsky A.V., Scalapino D. J., Theory of scanning tunneling microscopy probe of impurity states in a D-wave superconductor // Phys. Rev. Lett., 77 (9), 1841−1844, (1996)
  290. Kim H., Chelikowsky J.R. Theoretical scanning tunneling microscopy images of the As vacancy on the GaAs (llO) surface // Phys. Rev. Lett., 77 (6), 1063−1066, (1996)
  291. Mingo N., Jurczyszyn L, Garcia-Vidal F.J., Saiz-Padro R., de Andres P.L., Flores F., Wu S.Y., More W., Theory of the scanning tunneling microscope: Xe on Ni and A1 // Phys. Rev. В 54 (3), 22 252 235, (1996)
  292. Flatte M.E., Byers J.M., Theory of a scanning tunneling microscope with a two-protrusion tip // Phys. Rev., В 53 (16), R10536-R10539, (1996)
  293. Koetter E., Drakova D., Doyen G., Role of the tip atom in STM and AFM: theory of atom transfer //Phys. Rev., В 53 (24), 16 595−16 608, (1996)
  294. Bass J.M., Morris S.J., Matthai C.C. Theoretical reflectance anisotropy spectroscopy and scanning tunneling microscopy study of the GaAs (OOl) (2×4) surface// Materials Science and Engineering, 1. В 37 (1/3), 89−92, (1996)
  295. Conroy J.F.T., Caldwell К., Bruckner -Lea C.J., Janata J., Effects of interfaciai tension in tunneling microscopy. 1. Theory//J. Chem. Phys., 100 (46), 18 222−18 228, (1996)
  296. Kikuchi A., Tsukada M., Theory of surface charge-density waves and their STM images // Surface Science, 372 (1/3), 355−368, (1997)
  297. Gulseren O., James R., Bullett D.W., Theoretical analysis of STM experiments at rutile ТЮ2 surfaces// Surface Sci, 377−379, p. 150- 154, (1997)
  298. Sautet P., Images of adsorbates with the scanning tunneling microscope: theoretical approaches to the contrast mechanism//Chem. Rev., 97, (4), 1097−1116, (1997)
  299. Sautet P., Atomic adsorbate identification with the STM: a theoretical approach // Surface Science, 374 (1/3), 406−417, (1997)
  300. Beenakker C. W. J., Random matrix theory of quantum transport // Reviews of Modern Physics, V.69, No3, p.731−798, (1997)
  301. Lee L.-Q., Ruan J.-H., Zhou X.-Y., Cao P.-L. Theoretical STM images of In / Ge (310) surface // Phys. Lett. A, V.231, p.251−254, (1997)
  302. Bracher C., Riza M., Kleber M., Propagator theory of scanning tunneling microscopy //Phys. Rev. B, V.56, No 12, p.7704−7715, (1997)
  303. Stievenard D., Grandidier В., Nys J. P., de la Broise X., Delerue C., Lannoo M., Influence of barrier height on scanning tunneling spectroscopy experimental and theoretical aspects // Appl. Phys. Lett, Y.72, No5, p.p. 569−571, (1998)
  304. Batra I. P, Ciraci S, Theoretical scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy study of graphite including tip-surface interaction // J. Vac. Sci. Technol, A 6 (2), 313−318, (1988)
  305. Wadas A, The theoretical aspect of atomic force microscopy used for magnetic materials // J. of Magnetism and Magnetic Materials, 71, 147−150, (1988)
  306. Saenz J. J, Garcia N, Theory of magnetic imaging by STM force microscopy // J. Appl. Phys, 63 (8), 2947, (1988)
  307. Gould S.A.C, Burke K, Hansma P. K, Simple theory for the atomic-force microscope with a comparison of theoretical and experimental images of graphite // Phys. Rev, В 40 (8), 5363−5366, (1989)
  308. Tomanek D, Overney G, Miyazaki H, Mahanti S. D, Guntherodt H.J. Theory for the atomic force microscopy of deformable surfaces//Phys. Rev. Lett, 63 (8), 876−879, (1989)
  309. Sarid D, Weissenberger V, lams D. A, Ingle J. T, Theory of the laser diode interaction in scanning force microscopy// IEEE J. Quantum Electronics, 25 (8), 1968−1972, (1989)
  310. Wadas A, Grafter P, Theoretical approach to magnetic force microscopy// Phys. Rev, В 39 (16), 12 013−12 017,(1989)
  311. Abraham D. W, McDonald F. A, Theory of magnetic force microscope images // Appl. Phys. Lett, 56 (12), 1181−1183, (1990)
  312. Hartmann U, Theory of magnetic force microscopy // J. Vac. Sci. Technol, A 8 (1), 411−415,1990)
  313. Hartmann U, Theory of Van der Waals microscopy// J. Vac. Sci. Technol, В 9 (2), 465−469,1991)
  314. Maghezzi S, Girard C, Van Labeke D, Etude theorique de l’lnteraction de van der waals entre une sonde metallique et une surface dielectrique: application a la microscopie par mesure de la forces atomique//J. Phys. I, 1, 289−307, (1991)
  315. Giessibl F J. Theory for an electrostatic imaging mechanism allowing atomic resolution of ionic crystals by atomic force microscopy// Phys. Rev, В 45 (23), 13 815−13 818, (1992)
  316. Overney G, Tomanek D, Zhong W, Sun Z, Miyazaki H, Mahanti S. D, Guntherodt H.-J, Theory for the atomic force microscopy of layered elastic surfaces// J. Phys.: Condens. Matter, 4, 42 334 249, (1992)
  317. Bozzolo G, Ferrante J, Theoretical modeling of AFM for bimetallic tip-substrate interactions // Ultramicroscopy, 42−44, 55−58, (1992)
  318. Sader J. E, White L, Theoretical analysis of the static deflection of plates for atomic force microscope applications // J. Appl. Phys, 74 (1), 1−9, (1993)
  319. Gomez R. D, Adly A. A, Mayergoyz I. D, Burke E. R, Magnetic force scanning tunneling microscopy: theory and experiment // IEEE Transactions on Magnetics, 29 (6), 2494−2499, (1993)
  320. Shluger A. L, Rohl A. L, Gay D. H, Williams R. T, Atomistic theory of the interaction between AFM tips and ionic surfaces//! Phys.: Condens. Matter, 6, 1825−1846, (1994)
  321. Shluger A. L, Wilson R. M, Williams R. T, Theoretical and experimental investigation of force imaging at the atomic scale on alkali halide crystals// Phys. Rev, В 49 (7), 4915−4930, (1994)
  322. Rabe U, Janser K, Arnold W. Vibrations of free and surface-coupled atomic force microscope cantilevers: theory and experiment // Rev. Sci. Instrum, 67 (9), 3281−3293, (1996)
  323. Hirsekorn S, Rabe U, Arnold W. Theoretical description of the transfer of vibrations from a sample to the cantilever of an atomic force microscope// Nanotechnology, 8 (2), 57−66, (1997)1. Конструкции СЗМ
  324. Neubauer G, Cohen S. R, McClelland G. M, Measurement of microtnechanical properties using a bidirectional atomic force microscope with capacitative detection // Mat. Res. Soc. Symp. Proc, 153,307−316,(1989)
  325. Neubauer G, Cohen S.R., McClelland G. M, Home D, Force microscopy with a bidirectional capacitance sensor //Rev. Sci. Instrum, 61 (9), 2296−2308, (1990)
  326. Goddenhenrich Т., Lemke H., Hartmaim U., Heiden C., Force microscope with capacitive displacement detection// J. Vac. Sci. Technol., A 8 (1), 383−387, (1990)
  327. McClelland G.M., Erlandsson R., Chiang S., Atomic force microscopy: general principles and a new implementation// In: Rev. Prog, in Quant. Non-Destrc. Eval., 6, 1307, (1987)
  328. Erlandsson R., McClelland G.M., Mate C.M., Chiang S., Atomic force microscopy using optical interferometry// J. Vac. Sci. Technol, A 6 (2), 266−270, (1988)
  329. Martin Y, Williams C. C, Wickramasinghe H. K, Atomic force microscope force mapping and profiling on a sub 100-A scale/Я. Appl. Phys, 61 (10), 4723−4729, (1987)
  330. Sarid D, lams D, Weissenberger V, Bell L.S. Compact scanning-force microscope using a laser diode // Optics Letters. 13 (12), 1057−1059, (1988)
  331. Schonenberger C, Alvarado S. F, A differential interferometer for force microscopy // Rev. Sci. Instrum, 60 (10), 3131−3134, (1989)
  332. Heinzelmann H, Grutter P, Meyer E, Hidber H, Rosenthaler L, Ringger M, Guntherodt H.-J, Design of an atomic force microscope and first results // Surface Science, 189/190, 29−35, (1987)
  333. Saenz J. J, Garcia N, Grutter P, Meyer E, Heinzelmann H, Rosenthaler L, Wiesendanger R, Hadber H. R, Guntherodt H.-J, Observation of magnetic forces by the atomic force microscope//J. Appl. Phys, 62 (10), 4293−4295, (1987)
  334. Sarid D, lams D. A, Ingle J. T, Weissenberger V, Ploetz J, Performance of a scanning force microscope using a laser diode // J. Vac. Sci. Technol, A 8 (1), 378−382, (1990)
  335. Sarid D, Pax P, Yi L, Howells S, Gallagher M, Chen T, Elings V, Bocek D, Improved atomic force microscope using a laser diode interferometer // Rev. Sci. Instrum, 63 (8), 3905−3908, (1992)
  336. Sarid D, Elings V, Review of scanning force microscopy // J. Vac. Sci. Technol, В 9 (2), 431 437, (1991)1. Методы измерений в СЗМ
  337. Akamine Sh, Albrecht T. R, Zdeblick M. J, Quate C. F, Microfabricated scanning tunneling microscope //IEEE Transactions on Electron Devices, 10 (11), 490−492, (1989)
  338. Albrecht T. R, Akamine S, Carver Т.Е., Quate C. F, Microfabrication of cantilever styli for the atomic force microscope // J. Vac. Sci. Technol, A 8 (4), 3386−3396, (1990)
  339. Tortonese M, H. Yamada, Barrett R. C, Quate C.F. Atomic force microscopy using a piezoresis-tive cantilever. Tech. Digest. 6th hit. Conf. Dolid-State Sensors and Actuators (Transducers 91), San Francisco, CA, USA, June 24−28, 1991, pp. 448−451
  340. Alexander S, Hellemans L, Marti O, Schneir J, Elings V, Hansma P. K, Longmire M, Gurley J, «An atomic resolution atomic-force microscope implemented using an optical lever» J. Appl. Phys, 65 (1), 164−167, (1989)
  341. Howells S., Chen Т., Gallagher M., Yi L., Sarid D., Enhanced effects with scanning force microscopy// J. Appl. Phys., 69 (10), 7330−7332, (1991)
  342. Albrecht T.R., Quate C.F., Atomic resolution imaging of a nonconductor by atomic force microscopy// J. Appl. Phys, 62 (7), 2599−2602, (1987)
  343. Binnig G, Gerber Ch, Stoll E, Albrecht T. R, Quate C.F., Atomic resolution with atomic force microscope // Europhys. Lett, 3 (12), 1281−1286, (1987)
  344. Binnig G, Gerber Ch, Stoll E, Albrecht T. R, Quate C. F, Atomic resolution with atomic force microscope//Surface Science, 189/190, 1−6, (1987)
  345. Marti O, Drake B, Hansma P .K, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: Atomic resolution images//Appl. Phys. Lett, 51 (7), 484−486, (1987)
  346. Ritter E, Behm R. J, Potschke G, Wintterlin J, Direct observation of a nucleation and growth process on a atomic scale // Surface Science, 181, 403−411, (1987)
  347. G. Leveque, P. Girard, S. Belaidi, G. Cohen Solal. Effects of air damping in noncontact resonant force microscopy // Rev. Sci. Instrum. 68 (11), November 1997.1. Микромеханика в СЗМ
  348. S.T.Cho, K. Najafi, K.D.Wise «Internal Stress Compensation and Scaling Ultrasensitive Silicon Pressure Sensors» IEEE TED Vol39, N 4, 1993 pp 836−842
  349. Патент США N 5 021 364 МКИ H01L 27/465
  350. Информационный лист фирмы «Nanosensors»
  351. Информационный лист фирмы «Park Scientific Instruments»
  352. S.N. Magonov, M.-H. Whangbo. Surface Analysis with STM and AFM// VCH, Weinheim New York — Basel — Cambridge — Tokyo, 1996, p.p. 35 — 37.
  353. А. А, Нургазизов H. И, Можанова А. А, Овчинников Д. В. Изучение с помощью атомно-силового микроскопа in situ кинетики жидкостного химического травления субмикронных пленок диоксида кремния// Микроэлектроника 1999 т.28 стр. 385−394
  354. Е.И. Патент № 2 074 444 от 27.02.97. International Application Number PCT/Ru95/154 от 18.07.95 г, ЕР 0 726 589 А1- Гиваргизов Е. И. Патент № 2 099 808 от 20.12.97. International Application Number PCT/Ru97/78 от 24.03.97 г, WO 97/37 064 А1
  355. Tortonese M, Barrett R. C, Quate C.F. Atomic resolution with an atomic force microscope using piezoresistive detection //Appl. Phys. Lett, 62 (8), 834−836, (1993)
  356. Yuan C. W, Batalla E, Zacher M, de Lozanne A. L, Kirk M. D, Tortonese M, Low temperature magnetic force microscope utilizing a piezoresistive cantilever//Appl. Phys. Lett, 65 (10), 1308−1310, (1994)
  357. Giessibl F. J., Trafas B.M., Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum//Rev. Sci. Instrum., 65 (6), 1923−1929, (1994)
  358. Stahl U., Yuan C.W., de Lozanne A.L., Tortonese M. Atomic force microscope using piezoresistive cantilevers and combined with a scanning electron microscope // Appl. Phys. Lett., 65 (22), 2878−2880,(1994)
  359. Minne S.C., Manalis S R., Quate C.F., Parallel atomic force microscopy using cantilevers with integrated piezoresistive sensors and integrated piezoelectric actuators// Appl. Phys. Lett., 67 (26), 3918−3920, (1995)
  360. Datskos P.G., Oden P.I., Thundat Т., Wachter E.A., Warmack R.J., Hunter S.R., Remote infrared radiation detection using piezoresistive microcantilevers// Appl. Phys. Lett., 69 (20), 2986−2988, (1996)
  361. Chui B.W., Stowe T.D., Kenny T.W., Mamin H.J., Terris B.D., Rugar D., Low-stiffiiess silicon cantilevers for thermal writing and piezoresistive readback with the atomic force microscope// Appl. Phys. Lett., 69 (18), 2767−2769, (1996)
  362. Su Y., Evans A. G. R., Brunnschweiler A., Ensell G., Koch M., Fabrication of improved piezoresistive silicon cantilever probes for the atomic force microscope//Sensors and Actuators A, 60, p. 163−167(1997)
  363. Hansen O., Boisen A., Noise in piezoresistive atomic force microscopy// Nanotechnology, 10, p.51−60 (1999)
  364. Микроскопия латеральных сил (88−92г.г.)
  365. Mate С.М., Erlandsson R., McClelland G.M., Chiang S., Atomic force micorscopy studies of fric-tional forces and of force effects in scanning tunneling microscopy //J. Vac. Sci. Technol., A 6 (3), 575−576,(1988)
  366. Erlandsson R., Hadziioannou G., Mate C.M., McClelland G.M., Chiang S., Atomic scale friction between the muscovite mica cleavage plane and a tungsten tip//J. Chem. Phys., 89, 5190, (1988)
  367. Kaneko R., A fractional force microscope controlled with an electromagnet // J. Microscopy, 152 (2), 363−369, (1988)
  368. Levitov L.S., Van der Waals' friction//Europhys. Lett., 8 (6), 499−504, (1989)
  369. Marti O., Colchero J., Mlynek J., Combined scanning force and friction microscopy of mica // Nanotechnology, 1, 141−144, (1990)
  370. Krim J., Chiarello R., Sliding friction measurements of physisorbed monolayers: a comparison of solid and liquid films // J. Vac. Sci. Technol., В 9 (2), 1343−1346, (1991)
  371. Tomanek D., Zhong W., Thomas H., Calculation of an atomically modulated friction force in atomic-force microscopy//Europhys. Lett., 15 (8), 887−892, (1991)
  372. Meyer E, Overney R, Howald L, Brodbeck D, Luthi R, Guntherodt H.-J, Friction force microscopy of Langmuir-Blodgett films// In: Fundamentals of Friction: Macroscopic and Microscopic Processes, 427−436, (1992)
  373. Meyer E, Overney R, Luthi R, Brodbeck D, Howald L, Frommer J, Guntherodt H.-J, Wolter O, Fujihira M, Takano H, Gotoh Y, Friction force microscopy of mixed Langmuir-Blodgett films// Thin Solid Films, 220, 132−137, (1992)
  374. Магнитно-силовая микроскопия
  375. Hartmann U, Heiden C. Calculation of the Bloch wall contrast in magnetic force microscopy// J. Microscopy. V. 152 (1), 281, (1988)
  376. Goddenhenrich T, Hartmann U, Anders M, Heiden C. Investigations of bloch wall fine structures by magnetic force microscopy// J. Microscopy. V. 152 (2), 527−536, (1988)
  377. Hobbs P. S.D, Abraham D. W, Wickramasinghe H.K. Magnetic force microscopy with 25 nm resolution // Appl. Phys. Lett. V. 55 (22), 2357−2359, (1989)
  378. Hartmann U. Analysis of Bloch-wall fine structure by magnetic force microscopy// Phys. Rev. В V. 40 (10), 7421−7424, (1989)
  379. Grutter P, Wadas A, Meyer E, Hidber H.-R, Guntherodt H.-J. Magnetic force microscopy of
  380. CoCr thin film// J. Appl. Phys. V. 66 (12), 6001−6006, (1989)
  381. Mamin H. J, Rugar D, Stern J. E, Fontana R. E, Jr., Kasiraj P. Magnetic force microscopy of thin permalloy films//Appl. Phys. Lett. 55 (3), 318−320, (1989)
  382. Martin Y, Abraham D. W, Hobbs P.C.D, Wickramasinghe H.K. Magnetic force microscopy A short review//IBM Res. Report RC 15 098, pp. 9 (1989)
  383. Hartmann U. The point dipole approximation in magnetic force microscopy // Physics Letters. A137 (9), 475−478, (1989)
  384. Hartmann U, Goddenhenrich T, Lemke H, Heiden C. Domain-wall imaging by magnetic force microscopy//IEEE Transactions on Magnetics. 26 (5), 1512−1514, (1990)
  385. Grutter P, Jung Th» Heinzelmann H, Wadas A, Meyer E, Hidber H.-R, Guntherodt H.-J. 10-nm resolution by magnetic force microscopy onFeNdB // J. Appl. Phys. 67 (3), 1437−1441, (1990)
  386. Goddenhenrich T, Lemke H, Muck M, Hartmann U, Heiden C. Probe calibration in magnetic force microscopy // Appl. Phys. Lett. 57 (24), 2612−2614, (1990)
  387. Wadas A, Grutter P, Guntherodt H.-J. Analysis of magnetic bit pattern by magnetic force microscopy // J. Vac. Sci. Technol. A 8 (1), 416−420, (1990)
  388. Rugar D., Grutter P., Mamin H.J., Albrecht T.R. Advances in force sensing and magnetic force microscopy// AIP Conf. Proc. 241, Scanned Probe Microscopy. CA, (1991)
  389. Sueoka K., Okuda K., Matsubara N., Sai F. Study of tip magnetization behavior in magnetic force microscope // J. Vac. Sci. Technol. В 9 (2), 1313−1317, (1991)
  390. Moreland J., Rice P. Tunneling stabilized, magnetic force microscopy with a gold-coated, nickel-film tip // J. Appl. Phys. 70 (1), 520−522, (1991)
  391. Goddenhenrich Т., Hartmann U., Heiden C. Generation and imaging of domains with the magnetic force microscope// Ultramicroscopy. 42−44, 256−261, (1992)
  392. DiCarlo A., Scheinfein M.R., Chamberlin R.V. Magnetic force microscopy utilizing an ultrasensitive vertical cantilever geometry // Appl. Phys. Lett. 61, 17, 2108−2110, (1992)
  393. Kikukawa A., Hosaka S., Honda Y., Tanaka S. Magnetic force microscope using a direct resonance frequency sensor operating in air // Appl. Phys. Lett. 61 (21), 2607−2609, (1992)
  394. Wadas A., Fritz O., Hug H.J., Guntherodt H.-J. Magnetic force microscopy signal of flux line above a semi-infinite type II-superconductor//Z. Phys. В 88, 317−320, (1992)
  395. Honda Y., Hosaka S., Kikugawa A., Tanaka S., Matsuda Y., Suzuki M., Futamoto M. A magnetic force microscope using an optical lever sensor and its application to logitudinal recording media // Jpn. J. Appl. Phys. 31, L1061-L1064, (1992)
  396. Gomez R.D., Burke E.R., Adly A.A., Mayergoyz I.D. Magnetic field imaging by using magnetic force scanning tunneling microscopy // Appl. Phys. Lett. 60 (7), 906−908, (1992)
  397. Che X., Lederman M., Gibson G.A., Bertram H.N., Schultz S. Noise analysis and image focusingfor magnetic force microscopy //J. Appl. Phys. 73 (10), 5805−5807, (1993)
  398. Mayergoyz I. D, Adly A. A, Gomez R. D, Burke E.R. Experimental testing of point-charge model of magnetic force scanning tunneling microscopy// J. Appl. Phys. 73 (10), 5796−5798, (1993)
  399. Gibson G. A, Schultz S. Magnetic force microscope study of the micromagnetics of submicrometer magnetic particles // J. Appl. Phys. 73 (9), 4516−4521, (1993)
  400. Gomez R. D, Adly A. A, Mayergoyz I. D, Burke E.R. Magnetic force scanning tunneling microscopy: theory and experiment // IEEE Transactions on Magnetics. 29 (6), 2494−2499, (1993)
  401. Matteucii G, Muccini M, Hartmann U. Electron holography in the study of the leakage field of magnetic force microscope sensortips //Appl. Phys. Lett. 62 (15), 1839−1841, (1993)
  402. Oti J. O, Rice P. Micromagnetic simulations of tunneling stabilized magnetic force microscopy // J. Appl. Phys. 73 (10), 5802−5804, (1993)
  403. Hug H. J, Moser A, Parashikov I, Stiefel B, Fritz O, Guntherodt H. J, Thomas H. Observation and manipulation of vortices in a YBa2Cu307 thin film with a low temperature magnetic force microscope // Physica, С 235/240, 2695−2696, (1994)
  404. Hosaka S, Kikukawa A, Honda Y, Hasegawa T. Just-on-surface magnetic force microscopy // Appl. Phys. Lett. 65 (26), 3407−3409, (1994)
  405. Barnes J. R, O’Shea S. J, Welland M.E. Magnetic force microscope study of local pinning effects // J. Appl. Phys. 76 (1), 418−423, (1994)
  406. Florin E. L, Radmacher M, Fleck B, Gaub H.E. Atomic force microscope with magnetic force modulation//Rev. Sci. Instrum. 65 (3), 639−643, (1994)
  407. Burke E.R. Analysis of 3-D magnetic fields measured using a magnetic force scanning tunneling microscope // IEEE Transactions on Magnetics. 30 (6), 4488−4490, (1994)
  408. Yuan C. W, Batalla E, Zacher M, de Lozanne A. L, Kirk M. D, Tortonese M. Low temperature magnetic force microscope utilizing a piezoresistive catilever // Appl. Phys. Lett. 65 (10), 1308−1310, (1994)
  409. Wadas A, Rice P, Moreland J. Recent results in magnetic force microscopy // Appl. Phys. A 59, 63−67, (1994)
  410. Ruhrig M, Porthun S, Lodder J.C. Magnetic force microscopy using electron-beam fabricated tips // Rev. Sci. Instrum. 65 (10), 3224−3228, (1994)
  411. Campbell A. N, Cole E. I, Dodd B. A, Anderson R.E. Magnetic force microscopy/current contrast imaging: a new technique for internal current probing of Ics // Microelectronic Engineering. 24, 11−22, (1994)
  412. Wadas A, Moreland J, Rice P, Katti R.R. Magnetic force microscopy images of magnetic garnet with thin-film magnetic tip//Appl. Phys. Lett. 64 (9), 1156−1158, (1994)
  413. Proksch R. B, Foss S, Dahlberg E.D. High resolution magnetic force microscopy of domain wallfine structures (invited) // IEEE Transactions on Magnetics. 30 (6), 4467, (1994)
  414. Rave W, Belliard L, Labrune M, Thiaville A, Miltat J. A magnetic force microscopy analysis of soft thin film elements // IEEE Transactions on Magnetics. 30 (6), 4473, (1994)
  415. Chou S. Y, Wei M.S., Fischer P.B. An ultra-high resolution single-domain magnetic force microscope tip fabricated using nanolithography // IEEE Transactions on Magnetics. 30 (6), 4485, (1994)
  416. Babcock K, Elings V, Dugas M, Loper S. Optimization of thin-film tips for magnetic force microscopy// IEEE Transactions on Magnetics. 30 (6), 4503−4505, (1994)есконтактная СЗМ
  417. Porksch R. B, Schaffer Т.Е., Moskowitz B. M, Dahlberg E. D, Bazylinski D A, Frankel R.B. Magnetic force microscopy of the submicron magnetic assembly in a magnetotactic bacterium // Appl. Phys. Lett. 66 (19), 2582−2584, (1995)
  418. Hartmann U. Intermolecular and surface forces in noncontact scanning force microscopy// Ultramicroscopy. V. 42−44, 59−65, (1992)
  419. Ю. Ohta M, Ueyama H, Sugawara Y, Morita S. Contrast of atomic-resolution images from a noncontact ultrahigh-vacuum atomic force microscope// Jpn. J. Appl. Phys. V. 34 (12B), L1692-L1694, (1995)
  420. Yokoyama H, Inoue T, Itoh J. Nonresonant detection of electric force gradients by dynamic force microscopy//Appl. Phys. Lett. 65 (24), 3143−3145, (1994)
  421. Van Labeke D, Labani B, Girard C. Interaction between a dielectric tip and an ionic crystal application to scanning force microscopy on LiF and MgO // Chem. Phys. Lett. 162 (4/5), 399−403, (1989)идеальность сканеров СЗМ
  422. Robinson R.S. Interactive computer correction of piezoelectric creep in scanning tunneling microscopy images // J. Computer-Assisted Microscopy. 2 (1), 53−58, (1990)
  423. Harb S, Smith S. T, Chetwynd D.G. Subnanometer behavior of a capacitive feedback, piezoelectric displacement actuator // Rev. Sci. Instrum. 63 (2), 1680−1689, (1992)
  424. СЗМ электрических, сегнетоэлктрических, фотоэлектрических свойств
  425. Mera Y, Yanagisawa H, Uota M, Maeda K. Scanning tip microscope for study of electricalinhomogeneity on submicron scale I I J. Vac. Sci. Technol. A 8 (1), 561−566, (1990)
  426. Guthner P, Dransfeld K. Local poling of ferroelectric polymers by scanning force microscopy // Appl. Phys. Lett. 61 (9), 1137−1139, (1992)
  427. Luthi R, Haefke H, Grutter P, Guntherodt H.-J, Szczesniak L, Meyer K.P. Surface and domain structures of ferroelectric GASH crystals studied by scanning force microscopy // Surface Science Letters. 285, L498-L502, (1993)
  428. Fukano Y, Sugawara Y, Yamanishi Y, Oasa T, Morita S. Scanning force/tunneling microscopy as a novel technique for the study of nanometer-scale dielectric breakdown of silicon oxide layer // Jpn. J. Appl. Phys. 32 (IB), 290−293, (1993)
  429. Giambattista В, McNairy W. W, Slough C. G, Johnson A, Bell L. D, Coleman R. V, Schneir J, Sonnenfeld R, Drake B, Hansma P.K. Atomic resolution images of solid-liquid interfaces // Proc. Natl. Acad. Sci. USA, 84, 4671−4674, (1987)
  430. Marti 0, Drake B, Hansma P.K. Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: Atomicresolution images // Appl. Phys. Lett. 51 (7), 484−486, (1987)
  431. Schneir J, Marti O, Remmers G, Glaser D, Sonnenfeld R, Drake B, Hansma P. K, Elings V. Scanning tunnneling microscopy and atomic force microscopy of the liquid-solid interface // J. Vac. Sci. Technol. A 6 (2), 283−286, (1988)
  432. Hansma P. K, Sonnenfeld R, Schneir J, Marti 0, Gould S.A.C, Prater C. B, Weisenhorn A. L, Drake B, Hansma H, Slough G, McNairy W. W, Coleman R. Scanning probe microscopy of liquid-solid interface//Applied Science. Ser. E 184, 299−313, (1990)
  433. Bard A. J, Fan F.-R. Studies of the liquid/solid interface by scanning tunneling microscopy and scanning electrochemical microscopy // Faraday Discussions. 94, 1−22, (1992)
  434. Garcia N, Binh V.T. Van der Waals forces in atomic force microscopy operating in liquids: a spherical-tip model // Phys. Rev. В 46 (12), 7946−7949, (1992)
  435. Weisenhorn A. L, Maivald P, Butt H.-J, Hansma P.K. Measuring adhesion, attraction and repulsion between surfaces in liquids with an atomic-force microscope // Phys. Rev. В 45 (19), 1 122 611 232, (1992)
  436. Cevc G, Kornyshev A. A. Hydration force microscopy as a new option for studies of solid-liquidinterfaces: some theoretical considerations // J. Electroanal. Chem. 330, 407−417, (1992)
  437. Christenson H. K, Yaminsky V.V. Adhesion and solvation forces between surfaces in liquids studied by vapor-phase experiments // Langmuir. 9 (9), 2448−2454, (1993)
  438. Gelb L. D, Lynden-Bell R.M. Force oscillations and liquid structure in simulations of an atomic force microscope tip in a liquid // Chem. Phys. Lett. 211 (4/5), 328−332, (1993)
  439. Lantz M. A, O’Shea S. J, Welland M.E. Force microscopy imaging in liquids using ac techniques //Appl. Phys. Lett. 65 (4), 409−411, (1994)1. Резонансная СЗМ
  440. Takata К. Novel method for detecting resonant frequency shift in atomic force microscopy I I Jpn. J. Appl. Phys. 32, (5B), 2455−2458, (1993)
  441. Integrated electrostatically resonant scan tip for an atomic force microscope // J. Vac. Sci. Technol. В 11 (3), 634−641,(1993)
  442. Maivald P, Butt H. J, Gould S.A.C, Prater C. B, Drake B, Gurley J. A, Elings V. B, Hansma P.K. Using force modulation to image surface elasticities with the atomic force microscope // Nanotechnol-ogy. 2 (2), 103−106, (1991)
  443. Albrecht T. R, Grutter P, Home D, Rugar D. Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity // J. Appl. Phys. 69 (2), 668−673, (1991)
  444. Radmacher M, Tillmatin R. W, Gaub H.E. Imagining viscoelasticity by force modulation with the atomic force microscope // Biophysical Journal. 64 (3), 735−742, (1993)
  445. Г1. Yamanaka К, Tomita E. Lateral force modulation atomic force microscope for selective imagingof friction force // Jpn. J. Appl. Phys. 34 (5B), 2879−2882, (1995)
  446. Yamada H, Hirata Y, Miyake J. Force modulation imaging of protein membranes // J. Vac. Sci. Technol. A 13 (3), 1742−1745, (1995)
  447. Kikukawa A, Hosaka S, Honda Y, hnura R, Phase controlled scanning force microscope. Jpn. J. Appl. Phys.33 (9A), L1286−1288, (1994).
  448. Nonnenmacher M, Grescher J, Wolter O, Kassing R. Scanning force microscopy with micro-machined silicon sensors. J. Vac. Sci. Technol. В 9 (2), 1358−1362, (1991).
  449. Mate C. M, Lorenz M. R, Novotny V.J. Atomic force microscopy of polymeric liquid films. J. Chem. Phys.90 (12), 7550−7555, (1989).
  450. Elings V. B, Gurley J. A, United States Patent No. 5, 412, 980 «Tapping atomic force microscope», Filed Aug. 7, 1992, Date of Patent May 9, 1995
  451. Elings V.B., Gurley J.A., United States Patent No. 5, 519, 212 «Tapping atomic force microscope with phase or frequency detection», Filed Jan. 31, 1995, Date of Patent May 21, 1996
  452. Weisenhorn A.L., Mac Dougall J.E., Gould S.A.C., Cox S.D., Wise W.S., Massie J., Maivald P., Elings V.B., Stucky G.D., Hansma P.K. Imaging and manipulating molecules on a zeolite surface with an atomic force microscope. Science. 247, 1330−1333, (1990).
  453. Elings V.B., Gurley J.A., United States Patent No. 5, 308, 974 «Scanning probe microscope using stored data for vertical probe positioning», Filed Nov. 30, 1992, Date of Patent May 3, 1994
  454. Elings V.B., Gurley J.A., United States Patent No. 5, 418, 363 «Scanning probe microscope using stored data for vertical probe positioning», Filed Feb. 25, 1994, Date of Patent May 23, 1995 Кельвин мода СЗМ
  455. Nonnenmacher M., O’Boyle M.P., Wickramasinghe H.K., Kelvin probe force microscopy // Appl. Phys. Lett., 58 (25), 2921−2923, (1991)
  456. Bohmisch M., Burmeister F., Rettenberger A., Zimmermann J., Boneberg J., Leiderer P., Atomic force microscope based Kelvin probe measurements: Application to an electrochemical reaction // J. Phys. Chem. B, 101 (49), 10 162−10 165 (1997)
  457. Микроскопия адгезионных сил
  458. Durig U., Zuger О., Pohl D.W., Force sensing in scanning tunneling microscopy: observation of adhesion forces on clean metal surfaces // J. Microscopy, 152 (1), 259−267, (1988)
  459. Baneqea A., Smith J.R., Ferrante J., Universal aspects of brittle fracture, adhesion, and atomic force microscopy//Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 140, 89−100, (1989)
  460. Meyer E., Heinzelmann H., Grutter P., Jung Th., Hidber H.-J., Rudin H., Guntherodt H.-J., Atomic force microscopy for the study of tribology and adhesion// Thin Solid Films, 181, 527, (1989)
  461. Durig U., Zuger O., Pohl D.W., Observation of metallic adhesion using the scanning tunneling microscope // Phys. Rev. Lett., 65 (3) 349−352, (1990)
  462. Baneqea A., Smith J.R., Ferrante J., Universal aspects of adhesion and atomic force microscopy//
  463. J. Phys.: Condens. Matter, 2, 8841−8846, (1990)
  464. Mizes H.A., Loh K.G., Miller R.J.D., Ahuja S.K., Grabowski E.F., Submicron probe of polymer adhesion with atomic force microscopy: dependence on topography and material inhomogeneties// Appl. Phys. Lett., 59 (22), 2901−2903, (1991)
  465. Hoh J.H., Cleveland J.P., Prater G.B., Revel J.-P., Hansma P.K., Quantized adhesion detected with the atomic force microscope// J. Am. Chem. Soc., 114, 4917−4918, (1992)
  466. Weisenhorn A.L., Maivald P., Butt H.-J., Hansma P.K., Measuring adhesion, attraction and repulsion between surfaces in liquids with an atomic-force microscope // Phys. Rev., В 45 (19), 11 226−11 232,(1992)
  467. Ю. Thundat Т., Zheng X.-Y., Chen G.Y., Sharp S.L., Warmack R.J., Schowalter L.J., Characterization of atomic force microscope tips by adhesion force measurements// Appl. Phys. Lett., 63 (15), 2150−2152,(1993)
  468. Torii A., Sasaki M., Hane K., Okuma S., Adhesion of microstructures investigated by atomic forcemicroscopy// Sensors and Actuators, A 40 (1), 71−76, (1994)
  469. Kawai A., Nagata H., Takata M., Measurement method of adhesion strength between inorganicmaterials and polymer by using atomic force microscopy// Journal of Ceramic Society of Japan, 102 (12), 1102−1104,(1994)
  470. Van der Werf K. O, Putman C.A.J, de Grooth B. G, Greve J, Adhesion force imaging in air and liquid by adhesion mode atomic force microscopy// Appl. Phys. Lett, 65 (9), 1195−1197, (1994)
  471. Sasaki M, Нале К, Okuma S, Torii A, Scanning force microscope technique for adhesion distribution measurement // J. Vac. Sci. Technol, В 13 (2), 350−354, (1995)
  472. Berger C.E.H, van der Werf K. O, Kooyman R.P.H, de Grooth B. G, Greve J, Functional group imaging by adhesion AFM applied to lipid monolayers// Langmuir, 11 (11), 4188−4192, (1995)
  473. Dammer U, Popescu O, Wagner P, Anselmetti D, Guntherodt H.-J, Misevic G. N, Bindingstrength between cell adhesion proteoglycans measured by atomic force microscopy// Science, 267 (2), 1173−1175, (1995)
  474. Voets J, Keijsers R.J.P, Shklyarevskii O. I, van Kempen H, Large corrugations and strong adhesion forces observed with a mechanically controllable break junction// Physica, В 218 (¼), 290−293,1996)
  475. Hudson J. E, Abruna H. D, Electrochemically controlled adhesion in atomic force spectroscopy// J. Am. Chem. Soc, 118 (26), 6303−6304, (1996)
  476. Eastman T, Zhu D.-M, Adhesion forces between surface-modified AFM tips and a mica surface// Langmuir, 12 (11), 2859−2862, (1996)
  477. Takahashi K, Burnham N. A, Pollock H. M, Onzawa T, Stiffness of measurement system and significant figures of displacement which are required to interpret adhesional force curves// IEICE Trans. Electron, E 80-C (2), 255−261, (1997)
  478. Xu L, Salmeron M, Effects of surface ions on the friction and adhesion properties of mica// Langmuir, V. 14, No8, 2187−2190 (1998)
  479. Noy A, Sanders C. H, Vezenov D. V, Wong S. S, Lieber C. M, Chemically-sensitive imaging in tapping mode by chemical force microscopy: relationship between phase lag and adhesion// Langmuir,
  480. V.14, No7, 1508−1511 (1998)
  481. Schneider J, Berndt P, Haverstick K, Kumar S, Chiruvolu S, Tirrell M, Force and adhesion measurements between hydrogen bonded layers of glycine — functionalized amphiphiles// J. Am. Chem. Soc, V. 120, 3508−3509, (1998)
  482. Ramesh S, Cohen Y, Aurbach D, Gedanken A, Atomic force microscopy investigation of the surface topography and adhesion of nickel nanoparticles to submicrospherical silica// Chem. Phys. Lett, V.287, 461−467, (1998)
  483. Sagvolden G, Giaever I, Pettersen E. O, Feder J, Cell adhesion force microscopy// Proc. Natl. Acad. Sci, V.96, 471−476, (1999)
  484. Egawa H, Furusawa K, Liposome adhesion on mica surface studied by atomic force microscopy// Langmuir, V.15, No5, 1660−1666, (1999)
  485. Ong Y.-L, Razatos A, Georgiou G, Sharma M. M, Adhesion forces between E. coli bacteria and biomaterial surfaces// Langmuir, V.15, No8, 2719−2725, (1999)
  486. Pignataro B, Consalvo C, Compagnini G, Licciardello A, Barium stearate Langmuir-Blodgett films investigated by mapping adhesion forces with atomic force microscopy// Chem. Phys. Lett, V.299, 430−436, (1999)1. Емкостная мода СЗМ
  487. Matey J. R, Blanc J, Scanning capacitance microscopy// J. Appl. Phys, 57 (5), 1437−1444, (1985)
  488. Martin Y, Abraham D. W, Wickramasinghe H. K, High-resolution capacitance measurment and potentiometry by force microscopy// Appl. Phys. Lett, 52 (13), 1103−1105, (1988)
  489. Williams C. C, Hough W. P, Rishton S. A, Scanning capacitance microscopy on a 25 nm scale// Appl. Phys. Lett, 55 (2), 203−205, (1989)
  490. Williams C. C, Slinkman J, Hough W. P, Wickramasinghe H. K, Lateral dopant profiling with 200 nm resolution by scanning capacitance microscopy // Appl. Phys. Lett, 55 (16), 1662−1664, (1989)
  491. Williams C. C, Slinkman J, Hough W. P, Wickramasinghe H. K, Lateral dopant profiling on a 100 nm scale by scanning capacitance microscopy // J. Vac. Sci. Technol, A 8 (2), 895−898, (1990)
  492. Bugg C. D, King P. J, Correcting scanning capacitance microscope images for the effect of surface gradient//Precision Engineering, 12 (4), 239−244, (1990)
  493. Abraham D. W, Williams C, Slinkman J, Wickramasinghe H. K, Lateral dopant profiling in semiconductors by force microscopy using capacitive detection// J. Vac. Sci. Technol, В 9 (2), 703−706, (1991)
  494. Barrett R. C, Quate C. F, Charge storage in a nitride-oxide-silicon medium by scanning capacitance microscopy// J. Appl. Phys, 70 (5), 2725−2733, (1991)
  495. Barrett R. C, Quate C. F, Large-scale charge storage by scanning capacitance microscopy//
  496. Ultramicroscopy, 42−44, 262−267, (1992)
  497. Huang Y, Williams C. C, Capacitance-voltage measurement and modeling on a nanometer scale by scanning C-V microscopy// J. Vac. Sci. Technol, В 12 (1), 369−372, (1994)
  498. Lanyi S, Torok J, Rehurek P, A novel capacitance microscope// Rev. Sci. Instrum, 65 (7), 2258−2261, (1994)
  499. Dreyer M, Wiesendanger R, Scanning capacitance microscopy and spectroscopy applied to local charge modifications and characterization of nitride-oxide-silicon heterostructures// Appl. Phys, A 61 (4), 357−362, (1995)
  500. Huang Y, Williams C. C, Slinkman J, Quantitative two-dimensional dopant profile measurement and inverse modeling by scanning capacitance microscopy// Appl. Phys. Lett, 66 (3), 344−346, (1995)
  501. Leong J.-K, Williams C. C, Olson J. M, Froyen S, Evidence for internal electric fields in two variant ordered GalnP obtained by scanning capacitance microscopy// Appl. Phys. Lett, 69 (26), 4081−4083,(1996)
  502. Sakai A, Kurokawa S, Hasegawa Y, Geometrical capacitance of the tip-semiconductor junction// J. Vac. Sci. Technol, A 14 (3), 1219−1222, (1996)
  503. Huang Y, Williams C. C, Wendman M. A, Quantitative two-dimensional dopant profiling of abrupt dopant profiles by cross-sectional scanning capacitance microscopy// J. Vac. Sci. Technol, A 14 (3), 1168−1171, (1996)
  504. Ю. Huang Y, Williams C. C, Smith H, Direct comparison of cross-sectional scanning capacitancemicroscope dopant profile an vertical secondary ion-mass spectroscopy profile// J. Vac. Sci. Technol, В 14 (1), 433−436, (1996)
  505. Goto К, Hane K, Tapping mode capacitance microscopy // Rev. Sci. Instrum, 68 (1), 120−122,1997)
  506. Kang C. J, Kim С. K, Lera J. D, Kuk Y, Mang К. M, Lee J. G, Suh K. S, Williams С. C, Depth dependent carrier density profile by scanning capacitance microscopy// Appl. Phys. Lett, V.71, Noll, 1546, (1997)
  507. Bordoni F, Fasciani L, De Tommasis R, Di Giacomo A, Moccia G, Scanning capacitance microscope, an alternative technigue to the C-V measurement for the Si02 characterisation// J. of Non-Crystalline Solids, V.216, 180−184, (1997)
  508. Hainmar M, Messmer E. R, Luzuy M, Anand S, Lourdudoss S, Topography dependent doping distribution in selectively regrown InP studied by scanning capacitance microscopy// Appl. Phys. Lett, V.72,No7, 815−817, (1998)
  509. Электростатические измерения e СЗМ
  510. Hao H. W, Baro A. M, Saenz J. J, Electrostatic and contact forces in force microscopy// J. Vac. Sci. Technol, В 9 (2), 1323−1328, (1991)
  511. Miller G. L, Griffith J. E, Wagner F. R, Grigg D. A, A rocking beam electrostatic balance for the measurement of small forces// Rev. Sci. Instrum, 62 (3), 705−709, (1991)
  512. Atlan D, Gardet G, Vu Thien Binh, Garcia N, Saenz J. J, 3D calculations at atomic scale of the electrostatic potential and field created by a teton tip // Ultramicroscopy, 42−44, 154−162, (1992)
  513. Bergasa F, Saenz J. J, Is it possible to observe biological macromolecules by electrostatic force microscopy?//Ultramicroscopy, 42−44, 1189−1193, (1992)
  514. Watanabe S, Hane K, Ito M, Goto T, Dynamic mode force microscopy for the detection of lateral and vertical electrostatic forces// Appl. Phys. Lett, 63 (18), 2573−2575, (1993)
  515. Domansky K, Leng Y, Williams C. C, Janata J, Petelenz D, Mapping of mobile charges on insulator surfaces with the electrostatic force microscope//Appl. Phys. Lett. 63 (11), 1513−1515, (1993)
  516. Leng Y, Williams C. C, Electrostatic characterization of biological and polymeric surfaces by electrostatic force microscopy// Colloids and Surfaces, A 93, 335−341, (1994)
  517. Ishino T, Hieda H, Tanaka K, Gemma N, Measurements of electrostatic double-layer forces due to charged functional groups on Langmuir-Blodgett films with an atomic force microscope// Jpn. J. Appl. Phys, 33 (8), 4718−4722, (1994)
  518. Yokoyama H, Inoue T, Scanning Maxwell stress microscope for nanometer-scale surface electrostatic imaging of thin films// Thin Solid Films, 242, 33−39, (1994)
  519. Said R. A, Bridges G. E, Thomson D. J, Scanned electrostatic force microscope for noninvasive high frequency potential measurement//Appl. Phys. Lett, 64 (11), 1442−1444, (1994)
  520. Yamamoto K, Tanuma C, Gemma N, Competition between electrostatic and capillary forces acting on a single particle// Jpn. J. Appl. Phys, 34 (8A), 4176−4184, (1995)
  521. Xu S, Arnsdorf M. F, Electrostatic force microscope for probing surface charges in aqueous solutions// Proc. Natl. Acad. Sci. USA, 92, 10 384−10 388, (1995)
  522. Bridges G. E, Said R. A, Mittal M, Thomson D. J, High-frequency pattern extraction in digital integrated circuits using scanning electrostatic force microscopy// J. Vac. Sci. Technol, В 13 (3), 1375−1379,(1995)
  523. Ohagami J, Sugawara Y, Morita S, Nakamura E, Ozaki T, Determination of sign of surfacecharges of ferroelectric TGS using electrostatic force microscope combined with the voltage modulation technique// Jpn. J. Appl. Phys, 35 (5A), 2734−2739, (1996)
  524. Hochwitz Т., Henning A.K., Levey С., Daghlian С., Slinkman J., Capacitive effects on quantitative dopand profiling with the scanned electrostatic force microscopes// J. Vac. Sci. Technol., В 14 (1), 457−462, (1996)
  525. Donolato C., Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors// Materials Science and Engineering, В 42 (1/3), 99−104, (1996)
  526. Nyffenegger R. M., Penner R. M., Schierle R., Electrostatic force microscopy of silver nanocrys-tals with nanometer scale resolution//Appl. Phys. Lett., V.71, Nol3, 1878, (1997)
  527. Bluhm H., Wadas A., Wiesendanger R., Meyer K.-P., Szczesniak L., Electrostatic force microscopy on ferroelectric crystals in inert gas atmosphere// Phys. Rev., В 55 (1), 4−8, (1997)
  528. Bluhm H., Wadas A., Wiesendanger R., Roshko A., Aust J.A., Nam D., Imaging of domain-inverted gratings in LiNb03 electrostatic force microscopy// Appl. Phys. Lett., 71 (1), 146−148, (1997)
  529. Belaidi S., Girard P., Leveque G., Electrostatic forces acting on the tip in atomic force microscopy: modelization and comparison with analytic expressions// J. Appl. Phys. 81 (3), 1023−1030, (1997)
  530. Inoue Т., UHV electrostatic force microscope methods to obtain high-resolution electrical information// J. Surf. Sci. Soc. Japan, 18 (5), 319−322, (1997)
  531. Rosa-Zeiser A., Weilandt E., Hild S., Marti 0., The simultaneous measurement of elastic, electrostatic and adhesive properties by scanning force microscopy: pulsed-force mode operation// Meas. Sci. Technol., V.8, Noll, 1333−1338, (1997)
  532. NbO crystals by 3 electrostatic force microscopy// Applied Surface Science, V.137, 61−70, (1999) Атомное разрешение в A CM
  533. Luthi R., Meyer E., Bammerlin M., Baratoff A., Lehmann Т., Howald L., Gerber Ch., Guntherodt H.-J., Atomic resolution in dynamic force microscopy across steps on Si (l 11)7×7// Z. Phys. В 100 (2), 165−167, (1996)
  534. Giessibl F. J., Forces and frequency shifts in atomic resolution dynamic — force microscopy// Phys. Rev. B, V.56, No24, 16 010−16 015, (1997)
  535. Chi L. F., Gleiche M., Fuchs H., Study of long-range tilt orientation in fatty acid monolayers by dynamic scanning force microscopy// Langmuir, V.14, No4, 875−879, (1998)
  536. Близкопольная оптическая микроскопия
  537. Durig U., Pohl D., Rohner F., Near-field optical scanning microscopy with tunnel-distance regulation // IBM J. Res. Develop., 30 (5), 478−483, (1986)
  538. Durig U., Pohl D.W., Rohner F., Near-field optical-scanning microscopy// J. Appl. Phys., 59 (10), 3318−3327, (1986)
  539. Betzig E., Isaacson M., Barshatzky H., Lewis A., Lin K., Super resolutuon imaging with near-fild scanning optical microscopy (NSOP)// In, Scan. Tunn. Micr., 23rd Meet, of GSEM, 155−165, (1987)
  540. Fischer U.Ch., Resolution and contrast generation in scanning near field optical microscopy// Applied Science, E 184, 475−496, (1990)
  541. Courjon D., Spajer M., Jalosha A., Leblanc S., Near-field optical microscopy and optical tunneling detection// AIP Conf. Proc. 241, Scanned Probe Microscopy, С A, (1991)
  542. Isaacson M., Cline J., Barshatsky H., Near-field- optical microscopy// AIP Conf. Proc. 241, Scanned Probe Microscopy, CA, (1991)
  543. Pohl D.W., Nano-optics and scanning near-field optical microscopy // In: Scanning Tunneling Microscopy II (Springer Ser. in Surf. Sci., vol. 28), 233−271, (1992)
  544. Shalom S., Lieberman K., Lewis A., Cohen S.R., A micropipette force probe suitable for near-field scanning optical microscopy// Rev. Sci. Technol., 63 (9), 4061−4065, (1992)
  545. Toledo-Crow R., Yang P.C., Chen Y., Vaez-Iravani M., Near-field differential scanning opticalmicroscope with atomic force regulation//Appl. Phys. Lett., 60 (24), 2957−2959, (1992)
  546. Bouju X., Girard C., Labani B., Self-consistent study of the electromagnetic coupling between athin probe tip and a surface: implication for atomic-force and near-field microscopy// Ultramicroscopy, 4244, 430−436, (1992)
  547. Fischer U.Ch., Zapletal M., The concept of a coaxial tip as a probe for scanning near field opticalmicroscopy and step towards a realization// Ultramicroscopy, 42−44, 393−398, (1992)
  548. Specht M., Pedarnig J.D., Heckl W.M., Hansch T.W., Scanning plasmon near-field microscope// Phys. Rev. Lett., 68 (4), 476−479, (1992)
  549. Courjon D., Bainier C., Near field microscopy and near field optics// Rep. Prog. Phys., 57 (10), 989−1028, (1994)
  550. Ambrose W.P., Goodwin P.M., Martin J.C., Keller R.A., Alterations of single molecule fluorescence lifetimes in near-field optical microscopy// Science, 265, 364−367, (1994)
  551. Radmacher M., Hillner P.E., Hansma P.K., Scanning nearfield optical microscope using microfab-ricated probes//Rev. Sci. Instrum., 65 (8), 2737−2738, (1994)
  552. Garcia-Parajo M., Cambril E., Chen Y., Simultaneous scanning tunneling microscope and collection mode scanning near-field optical microscope using gold coated optical fiber probes// Appl. Phys. Lett., 65 (12), 1498−1500, (1994)
  553. Э. Zenhausern F., O’Boyle M.P., Wickramasinghe H.K., Apertureless near-field optical microscope//
  554. Appl. Phys. Lett., 65 (13), 1623−1625, (1994)
  555. Bielefeldt H., Horsch I., Krausch G., Lux-Steiner M., Mlynek J., Marti O., Reflection-scanningnear-field optical microscopy and spectroscopy of opaque samples// Appl. Phys., A 59, 103−108, (1994)
  556. Schoch В, Jones B. E, Franks A, A simple technique for the manufacture of optical probes for scanning near-field optical microscopes// Meas. Sci. Technol, 5, 663−666, (1994)
  557. Moers M.H.P, Gaub H. E, Hulst N.F. Van, Poly (diacetylene) monolayers studied with a fluorescence scanning near-field optical microscope// Langmuir, 10 (8), 2774−2777, (1994)
  558. Fujihira M, Monobe H, Muramatsu H, Ataka T, Scanning near-field fluorenscence microscopy and nanoscopic fluorescence spectroscopy in combination with a non-contact scanning force microscope// Chem. Lett, 657−660, (1994)
  559. Mertz J, Hipp M, Mlynek J, Marti 0, Optical near-field imaging with a semiconductor probe tip// Appl. Phys. Lett, 64 (18), 2338−2340, (1994)
  560. Heinzelmann H, Pohl D. W, Scanning near-field optical microscopy// Appl. Phys, A 59 (2), 89 101, (1994)
  561. Kawata S, Inouye Y, Sugiura T, Near-field scanning optical microscope wuth a laser trappedprobe// Jpn. J. Appl. Phys, 33 (12A), 1725−1727, (1994)
  562. Froehlich F. F, Milster T. D, Minimum detectable displacement in near-field scanning opticalmicroscopy// Appl. Phys. Lett, 65 (18), 2254−2256, (1994)
  563. Silva T. J, Schultz S, Weller D, Scanning near-field optical microscope for the imaging of magnetic domains in optically opaque materials// Appl. Phys. Lett, 65 (6), 658−660, (1994)
  564. Moerner W. E, Plakhotnik T, Imgartinger T, Wild U. P, Pohl D. W, Hecht B, Near-field optical spectroscopy of individual molecules in solids// Phys. Rev. Lett, 73 (20), 2764−2767, (1994)
  565. H. Buratto S. K, Hsu J.W.P, Trautman J. K, Betzig E, Bylsma R. B, Bahr C. C, Cardillo M. J, Imaging InGaAsP quantum-well lasers using near-field scanning optical microscopy// J. Appl. Phys, 76 (12), 7720−7725, (1994)
  566. Kolb G, Karrai K, Abstreiter G, Optical photodetector for near-field optics// Appl. Phys. Lett, 65 (24), 3090−3092, (1994)
  567. Danzebrink H. U, Wilkening G, Ohlsson O, Near-field optoelectronic detector probes based on standard scanning force cantilevers//Appl. Phys. Lett, 67 (14), 1981−1983, (1995)
  568. Jalocha A, van Hulst N. F, Dielectric and fluorescent samples imaged by scanning near-field optical microscopy in reflection//Optics Communications, 119, 17−22, (1995)
  569. Kann J. L, Milster T. D, Froehlich F. F, Ziolkowski R. W, Judkins J. B, Linear behavior of a near-field optical scanning system// J. Opt. Soc. Am, A 12 (8), 1677−1682, (1995)
  570. Butler D. J, Horsfall A, Nugent K. A, Roberts A, Bassett I. M, Lo K. M, Measurement of an elliptical fiber mode field using near-field microscopy// J. Appl. Phys, 77 (11), 5514−5517, (1995)
  571. Karrai K, Grober R. D, Piezoelectric tip-sample distance control for near field optical microscopes//Appl. Phys. Lett, 66 (14), 1842−1844, (1995)
  572. Chiba N, Muramatsu H, Ataka T, Fujihira M, Observation of topography and optical image ofoptical fiber end by atomic force mode scanning near-field optical microscope// Jpn. J. Appl. Phys, 34, 321−324, (1995)
  573. Higgins D. A, Barbara P. F, Excitonic transitions in J-aggregates probed by near-field scanning optical microscopy// J. Phys. Chem, 99 (1), 3−7, (1995)
  574. Marchman H. M, Novembre A. E, Near field optical latent imaging with the photon tunneling microscope//Appl. Phys. Lett, 66 (24), 3269−3271, (1995)
  575. Jalocha A, van Hulst N. F, Polarization contrast in fluorescence scanning near-field optical reflection microscopy// J. Opt. Soc. Am, A 12 (9), 1577−1580, (1995)
  576. Tarrach G, Bopp M. A, Zeisel D, Meixner A. J, Design and construction of a versatile scanning near-field optical microscope for fluorescence imaging of single molecules// Rev. Sci. Instrum, 66 (6), 3569−3575, (1995)
  577. Hsu J.W.P, Lee M, Deaver B. S, A nonoptical tip-sample distance control method for near-field scanning optical microscopy using impedance changes in an electromechanical system// Rev. Sci. Instrum, 66 (5), 3177−3181, (1995)
  578. Jahncke C. L, Paesler M. A, Hallen H. D, Raman imaging with near-field scanning optical microscopy//Appl. Phys. Lett, 67 (17), 2483−2485, (1995)
  579. Fann W, Simple transmission mode near-field optical microscope// Rev. Sci. Instrum, 66 (1), 271.272, (1995)
  580. Goldberg B. B, Unlu M.S., Herzog W. D, Ghaemi H. F, Towe E, Near-field optical studies of semiconductor heterostructures and laser diodes// IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electr, 1 (4), 1073−1081, (1995)
  581. Castiaux A, Dereux A, Vigneron J.-P, Girard C, Martin O. J. F, Electromagnetic fields in two-dimensional models of near-field optical microscope tips// Ultramicroscopy, 60 (1), 1−9, (1995)
  582. Levy J, Cohen A, Awschalom D. D, Three-dimensional wavefront imaging by near-field scanning optical microscopy//Rev. Sci. Instrum, 66 (5), 3385−3387, (1995)
  583. Cella R, Mersali B, Bruno A, Davy S, Bruckner H, Licoppe C, Imaging of the optical mode of wave guiding devices by scanning near-field optical microscopy// J. Appl. Phys, 78 (7), 4339−4344, (1995)
  584. Unlu M.S., Goldberg B. B, Herzog W. D, Sun D, Towe E, Near-field optical beam induced current measurements on heterostructures//Appl. Phys. Lett, 67 (13), 1862−1864, (1995)
  585. Froehlich F. F, Milster T. D, Detection of probe dither motion in near-field scanning optical microscopy// Applied Optics, 34 (31), 7273−7279, (1995)
  586. Bozhevolnyi S, Smolyaninov I. I, Zayats A. V, Near-field microscopy of surface-plasmon polari-tons: localization and internal interface imaging// Phys. Rev, В 51 (24), 17 916−17 924, (1995)
  587. La Rosa A. H, Yakobson B. I, Hallen H. D, Origins and effects of thermal processes on near-field optical probes// Appl. Phys. Lett, 67 (18), 2597−2599, (1995)
  588. Kavaldjiev D. I, Toledo-Crow R, Vaez-Iravani M, On the heating of the fiber tip in a near-field scanning optical microscope// Appl. Phys. Lett, 67 (19), 2771−2773, (1995)
  589. Meixner A. J, Zeisel D, Bopp M. A, Tarrach G, Super-resolution imaging and detection of fluorescence from single molecules by scanning near-field optical microscopy// Optical Engineering, 34 (8), 2324−2332, (1995)
  590. Cline J. A, Isaacson M, Probe-sample interactions in reflection near-field scanning optical microscopy//Applied Optics, 34 (22), 4869−4876, (1995)
  591. Bozhevolnyi S. I, Bozhevolnaya E. A, Bemtsen S, Theoretical model for phase conjugation of optical near fields// J. Opt. Soc. Am, A 12 (12), 2645−2654, (1995)
  592. Moyer P. J, Walzer K, Hietschold M, Modification of the optical properties of liquid crystals using near-field scanning optical microscopy//Appl. Phys. Lett, 67 (15), 2129−2131, (1995)
  593. Krausch G, Wegscheider S, Kisch A, Bielefeldt H, Meiners J. C, Mlynek J, Near field microscopy and lithography with uncoated fiber tips: a comparison // Optics Communications, 119 (¾), 283−288,(1995)
  594. Leong J.-K, Williams C. C, Shear force microscopy with capacitance detection for near-field scanning optical microscopy// Appl. Phys. Lett, 66 (11), 1432−1434, (1995)
  595. Muramatsu H, Chiba N, Homma K, Nakajima K, Ataka T, Ohta S, Kusumi A, Fujihira M, Near-field optical microscopy in liquids// Appl. Phys. Lett, 66 (24), 3245−3247, (1995)
  596. Van Lebeke D, Barchiesi D, Baida F, Optical characterization of nanosources used in scanning near-field optical microscopy//J. Opt. Soc. Am, A 12 (4), 695−703, (1995)
  597. Novotny L, Pohl D. W, Hecht B, Scanning near-field optical probe with ultrasmall spot size//
  598. Optics Letters, 20 (9), 970−972, (1995)
  599. Hallen H. D, La Rosa A. H, Jahncke C. L, Near-field scanning optical microscopy and spectroscopy for semiconductor characterization// Phys. Stat. Sol, A 152, 257−268, (1995)
  600. GrefFet J.-J, Sentenac A, Carminati R, Surface profile reconstruction using near-field data// Optics Communications, 116, 20−24, (1995)
  601. McCulloch S, Uttamchandani D, A simple reproducible technique for producing sub-micrometre fiber-optic probes for near-field optical microscopy and chemical sensors// Meas. Sci. Technol, 6 (8), 1157−1162,(1995)
  602. Bian R. X, Dunn R. C, Xie X. S, Leung P. T, Single molecule emission characteristics in near-field microscopy// Phys. Rev. Lett, 75 (26), 4772−4775, (1995)
  603. Rogers J. K, Seiferth F, Vaez-Iravani M, Near field probe microscopy of porous silicon: Observation of spectral shifts in photoluminescence of small particles// Appl. Phys. Lett, 66 (24), 3260−3262, (1995)
  604. Lieberman K, Ben-Ami N, Lewis A, A fully intergrated near-field optical, far-field optical, and normal-force scanned probe microscope// Rev. Sci. Instrum, 67 (10), 3567−3572, (1996)
  605. Martin O.J.F, Girard C, Dereux A, Dielectric versus topographic contrast in near-field microscopy// J. Opt. Soc. Am, A 13 (9), 1801−1808, (1996)
  606. Liu J, Perkins N R., Horton M. N, Redwing J. M, Tischler M. A, Kuech T. F, A near-field scanning optical microscopy study of the photoluminescence from GaN films// Appl. Phys. Lett, 69 (23), 3519−3521,(1996)
  607. Stephenson R. J, O’Shea S. J, Barnes J. R, Rayment T, Welland M. E, A near-field optical microscope with normal force distance regulation// Rev. Sci. Instrum, 67 (11), 3891−3897, (1996)
  608. Miyamoto M, Shintani T, Hosaka S, Imura R, Thermal simulation analysis of scanning near-field optical microscope point heating mechanisms// Jpn. J. Appl. Phys, 35 (5A), L584-L586, (1996)
  609. Madsen S, Mullenbom M, Birkelund K, Grey F, Optical near-field lithography on hydrogen-passivated silicon surfaces// Appl. Phys. Lett, 69 (4), 544−546, (1996)
  610. Liu J, Kuech T.F. A near-field scanning optical microscopy study of the uniformity of GaAs surface passivation//Appl. Phys. Lett, 69 (5), 662−664, (1996)
  611. Chuang Y.-H., Wang C.-J., Huang J.Y., Pan C.-L., Nanoptical tip-sample distance control for scanning near-field optical microscopy// Appl. Phys. Lett., 69 (22), 3312−3314, (1996)
  612. Talley C.E., Cooksey G.A., Dunn R.C., High resolution fluorescence imaging with cantilevered near-field fiber optic probes// Appl. Phys. Lett., 69 (25), 3809−3811, (1996)
  613. Buratto S.K., Near-field scanning optical microscopy// Current Opinion in Solid State and Materials Science, 1 (1), 485−492, (1996)
  614. Hosaka S., Shintani Т., Miyamoto M., Kikukawa A., Hirotsune A., Terao M., Yoshida M., Fujita K., Kammer S., Phase change recording using a scanning near-field optical microscope// J. Appl. Phys., 79 (10), 8082−8086, (1996)
  615. Duncan W.M., Near-field scanning optical microscope for microelectronic materials and devices// J. Vac. Sci. Technol., A 14 (3), 1914−1918, (1996)
  616. Drummond Roby M.A., Wetsel G.C. Jr., Wang C.-Y., Scanned-probe lateral-force determination of fluid-dynamic effects near a solid surface in air// Appl. Phys. Lett., 69 (1), 130−132, (1996)
  617. Van Hulst N.F., Moers M.H.P., Biological applications of near-field optical microscopy// IEEE Engineering in Medicine and Biology, 15 (1), 51−57, (1996)
  618. James P., Casillas N., Smyrl W.H.- Simultaneous scanning electrochemical and photoelectro-chemical microscopy by use of a metalized optical fiber- J. Electrochem. Soc.- 143 (12), 3853−3856, (1996)
  619. Gregor M.J., Blome P.G., Schofer J., Ulbrich R.G.- Probe-surface interaction in near-field optical microscopy: the nonlinear bending force mechanism- Appl. Phys. Lett.- 68 (3), 307−309, (1996)
  620. Stephenson R.J., Welland M.E.- A normal force distance regulation scheme for near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 68 (12), 1607−1609, (1996)
  621. Lienau Ch., Richter A., Elsaesser Т.- Light-induced expansion of fiber tips in near-field scanning optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 69 (3), 325−327, (1996)
  622. Akamine S., Kuwano H., Yamada H.- Scanning near-field optical microscope using an atomic force microscope cantilever with integrated photodiode- Appl. Phys. Lett.- 68 (5), 579−581, (1996)
  623. Christenson G.L., Tran A.T.T.D., Miller S.A., Haronian D., Lo Y.H., MacDonald N.C.- Surface micromachined interferometer-based optical reading technique- Appl. Phys. Lett.- 69 (22), 3324−3326, (1996)
  624. Higgins D.A., Reid P.J., Barbara P.F.- Structure and exciton dynamics in J-aggregates studied by polarization-dependent near-field scanning optical microscopy- J. Phys. Chem.- 100 (4), 1174−1180, (1996)
  625. Torok P., Sheppard C.J.R., Varga P.- Study of evanescent waves for transmission near-field optical microscopy- Journal of Modern Optics- 43 (6), 1167−1183, (1996)
  626. Guttroff G., Keto J.M., Shih C.K., Anselm A., Streetman B.G.- A design of reflection scanning near-field optical microscope and its application to AlGaAs/GaAs heterostructures- Appl. Phys. Lett.- 68 (25), 3620−3622, (1996)
  627. Drabenstedt A., Wrachtrup J., von Borczyskowski C.- A distance regulation scheme for scanning near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 68 (24), 3497−3499, (1996)
  628. Xiao M., Bozhevolnyi S., Keller O.- Numerical study of configurational resonances in near-field optical microscopy with a mesoscopic metallic probe- Appl. Phys.- A 62 (2), 115−121, (1996)
  629. Bout D.A.V., Kerimo J., Higgins D.A., Barbara P.F.- Spatially resolved spectral inhomogenities in small molecular crystals studied by near-field scanning optical microscopy- J. Phys. Chem.- 100 (29), 11 843−11 849, (1996)
  630. Higgins D.A., Bout D.A.V., Kerimo J., Barbara P.F.- Polarization-modulation near-field scanning optical microscopy of mesostructured materials- J. Phys. Chem.- 100 (32), 13 794−13 803, (1996)
  631. Weston K.D., DeAro J.A., Buratto S.K.- Near-field scanning optical microscopy in reflection: a study of far-field collection geometry effects- Rev. Sci. Instrum.- 67 (8), 2924−2929, (1996)
  632. J. Vac. Sci. Technol.- A 14 (3), 1914−1918, (1996)
  633. Davis R.C., Williams C.C.- Nanometer-scale adsorption spectroscopy by near-field photodetection optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 69 (9), 1179−1181, (1996)
  634. Ramanujam P. S., Holme N.C.R., Hvilsted S.- Atomic force and optical near-field microscopic investigations of polarization holographic gratings in a liquid crystalline azobenzene side-chain polyester- Appl. Phys. Lett.- 68 (10), 1329−1331, (1996)
  635. Harris T.D., Gershoni D., Grober R.D., Pfeiffer L., West K., Chand N.- Near-field optical spectroscopy of single quantum wires- Appl. Phys. Lett.- 68 (7), 988−990, (1996)
  636. Ade H., Toledo-Crow R., Vaez-Iravani M., Spontak R.J.- Observation of polymer birefringence in near-field optical microscopy- Langmuir- 12 (2), 231−234, (1996)
  637. Xiao M.- A study of resolution limit in optical microscopy: near and far field- Optics Communications- 132 (5/6), 403−409, (1996)
  638. Xiao M.- Cutting off the diffraction: a numerical solution in scanning near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 69 (21), 3125−3127, (1996)
  639. Nagahara L. A, Tokumoto H.- Development of a near-field optical system for investigating thin organic films- Thin Solid Films- 281−282, 647−650, (1996)
  640. Stahelin M, Bopp M. A, Tarrach G, Meixner A. J, Zschokke-Granacher I.- Temperature profile of fiber tips used in scanning near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 68 (19), 2603−2605, (1996)
  641. Pagnot T, Pierali C.- Fabrication of multimode fiber tapers with a high reproducibility of the subwavelength extremity size: application to scanning near-field optical microscope probes- Optics Communications- 132 (½), 161−169, (1996)
  642. Williamson R. L, Miles M.J.- Melt-drawn scanning near-field optical microscopy probe profiles- J. Appl. Phys.- 80 (9), 4804−4812, (1996)
  643. Fukuzawa K, Kuwano H.- Scattering of evanescent light by a finite-size probe in near-field scanning optical microscopy- J. Appl. Phys.- 80 (9), 4799−4803, (1996)
  644. Bozhevolnyi S. I, Vohnsen В.- Near-field optical holography- Phys. Rev. Lett.- 77 (16), 33 513 354, (1996)
  645. Piednoir A, Licoppe C, Creuzet F.- Imaging and local infrared spectroscopy with a near fieldoptical microscope- Optics Communications- 129 (5/6), 414−422, (1996)
  646. U. Poweleit C. D, Naghski D. H, Lindsay S. M, Boyd J. T, Jackson H.E.- Near field scanning opticalmicroscopy measurements of optical intensity distributions in semiconductor channel waveguides- Appl. Phys. Lett.- 69 (23), 3471−3473, (1996)
  647. Hosaka S, Shintani T, Miyamoto M, Hirotsune A, Terao M, Yoshida M, Fujita K, Kammer
  648. Liu J, Perkins N. R, Horton M. N, Redwing J. M, Tischler M. A, Kuech T.F.- A near-field scanning optical microscopy study of the photoluminescence from GaN films- Appl. Phys. Lett.- 69 (23), 3519−3521, (1996)
  649. Wei P. K, Hsu J. H, Hsieh B. R, Fann W.S.- Surface modification and patterning of conjugated polymers with near-field optical microscopy- Advanced Materials- 8 (7), 573−576, (1996)
  650. Feldstein M. J, Vohringer P, Wang W, Scherer N.F.- Femtosecond optical spectroscopy and scanning probe microscopy- J. Phys. Chem.- 100 (12), 4739−4748, (1996)
  651. Ben-Ami U, Tessler N, Ben-Ami N, Nagar R, Fish G, Lieberman K, Eisenstein G, Lewis A,
  652. Nielsen J. M, Moeller-Larsen A.- Near-infrared contact mode collection near-field optical and normal force microscopy of modulated multiple quantum well lasers- Appl. Phys. Lett.- 68 (17), 2337−2339, (1996)
  653. Zeisel D, Nettesheim S, Dutoit B, Zenobi R.- Pulsed laser-induced desorption and optical imaging on a nanometer scale with scanning near-field microscopy using chemically etched fiber tips- Appl. Phys. Lett.- 68 (18), 2491−2492, (1996)
  654. Miyamoto M, Shintani T, Hosaka S, Imura R.- Thermal simulation analysis of scanning near-field optical microscope point heating mechanisms- Jpn. J. Appl. Phys.- 35 (5A), L584-L586, (1996)
  655. Madsen S, Mullenborn M, Birkelund K, Grey F.- Optical near-field lithography on hydrogen-passivated silicon surfaces- Appl. Phys. Lett.- 69 (4), 544−546, (1996)
  656. Rahmani A, de Fornel F.- Near-field optical probing of fluorescent microspheres using a photonscanning tunneling microscope- Optics Communications- 131 (4/6), 253−259, (1996)
  657. Silva T. J, Schulzz S.- A scanning near-field optical microscope for the imaging of magneticdomains in reflection- Rev. Sci. Instrum.- 67 (3), 715−725, (1996)
  658. Stephenson R. J, O’Shea S. J, Barnes J. R, Rayment T, Welland M.E.- A near-field optical microscope with normal force distance regulation- Rev. Sci. Instrum.- 67 (11), 3891−3897, (1996)
  659. Liu J, Kuech T.F.- A near-field scanning optical microscopy study of the uniformity of GaAssurface passivation- Appl. Phys. Lett.- 69 (5), 662−664, (1996)
  660. Fukuzawa K, Kuwano H.- Conversion of evanescent into propagating light in near-field scanningoptical microscopy- J. Appl. Phys.- 79 (11), 8174−8177, (1996)
  661. Buratto S.K.- Near-field scanning optical microscopy- Current Opinion in Solid State and Materials Science- 1 (1), 485−492, (1996)
  662. Hamano M, Irie M.- Rewritable near-field optical recording on photochromic thin films- Jpn. J. Appl. Phys.- 35 (3), 1764−1767, (1996)
  663. Chuang Y.-H, Wang C.-J, Huang J. Y, Pan C.-L.- Nanoptical tip-sample distance control for scanning near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 69 (22), 3312−3314, (1996)
  664. Wang S, Xiao M, Siqueiros J.- A macroscopic approach to near-field optical microscopy- Journal of Modern Optics- 43 (10), 2119−2127, (1996)
  665. Lieberman K, Ben-Ami N, Lewis A.- A fully intergrated near-field optical, far-field optical, and normal-force scanned probe microscope- Rev. Sci. Instrum.- 67 (10), 3567−3572, (1996)
  666. Barenz J, Hollricher O, Marti O.- An easy-to-use non-optical shear-force distance control fornear-field optical microscopes- Rev. Sci. Instrum.- 67 (5), 1912−1916, (1996)
  667. Lienau Ch, Richter A, Klehr A, Elsaesser Т.- Near-field scanning optical microscopy of polarization bistable laser diodes- Appl. Phys. Lett.- 69 (17), 2471−2473, (1996)
  668. Xiao M, Negrete-Regagnon P, Siqueiros J.- Infrared scanning gap optical microscope with far field pickup- Optik- 104 (1), 40−41, (1996)
  669. Massanell J, Garcia N, Zlatkin A.- Nanowriting on ferroelectric surfaces with a scanning near-field optical microscope- Optics Letters- 21 (1), 12−14, (1996)
  670. Muramatsu H, Chiba N, Fujihira M.- Frictional imaging in a scanning near- field optical/atomic-force microscope by a thin step etched optical fiber probe- Appl. Phys. Lett.- V.71, Nol5, 2061−2063, (1997)
  671. Vanden Bout D. A, Kerimo J, Higgins D. A, Barbara P.F.- Near-field optical studies of thin-films mesostructured organic materials- Acc. Chem. Res.- V.30, p.204−212, (1997)
  672. Zvyagin A. V, White J. D, Ohtsu M.- Near-field optical microscope image formation: a theoretical and experimental study- Optics Lett.- V.22, Nol3, 955−957, (1997)
  673. Pagnot T, Barchiesi D, Labeke D. V, Pieralli C.- Use of a scanning near-field optical microscope architecture to study fluorescence and energy transfer near metal- Optics Lett.- V.22, No2, 120−123, (1997)
  674. Behme G, Richter A, Sbptitz M, Lienau Ch.- Vacuum near-field scanning optical microscope forvariable cryogenic temperatures- Rev. Sci. Instrum.- V.68, No9, 3458−2463, (1997)
  675. Bukofsky S. J, Grober R. D.- Video rate near-field scanning optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- V.71, Nol9, 2749−2751, (1997)
  676. Girard C, Couijon D.- The role of scanning mode in near field optical microscopy- Surface Science- V.382, p.9−18, (1997)
  677. Barchiasi D, Bergossi O, Spajer M, Pieralli C.- Image resolution in reflection scanning near -field optical microscopy using shear force feedback: characterization with a spline and Fourier spectrum- Applied Optics- V.36, NolO, p.2171−2175, (1997)
  678. Bachelot R, Gleyzes P, Boccara A. C.- Reflection mode scanning near — field optical microscopy using an apertureless metallic tip- Applied Optics- V.36, NolO, p.2160−2170, (1997)
  679. Yatsui T, Kourogi M, Ohtsu M.- Highly effcient excitation of optical near field on an apertured fiber probe with an asymmetric structure- Appl. Phys. Lett.- V.71, Nol3, 1756, (1997)
  680. Yang T. J, Mohideen U, Gupta M. C.- Near field scanning optical microscopy of the ferroelectric domain walls- Appl. Phys. Lett.-V.71, Nol4, p.1960, (1997)
  681. Hanewinkel B, Knorr A, Thomas P, Koch S.W.- Optical near-field response of semiconductor quantum dots- Phys. Rev. B- V.55, No20, 13 715−13 725, (1997)
  682. Wei P.-K. Hsu J.-H, Fann W, Chuang K.-R, Lee H.-T, Chen S.-A.- Phase separation inpolyaniline with near-field scanning optical microscopy- Applied Optics- V.36, Nol5, p.3301−3304, (1997)
  683. Mendez E.R., Greffet J.-J., Carminati R.- On the equivalence between the illumination and collection modes jfthe scanning near-field optical microscope- Optics Communications- 142 (1/3), 7−13, (1997)
  684. Kato N., Suzuki I., Kikuta H., Iwata K.- Force-balancing microforce sensor with an optical-fiber interferometer- Rev. Sci. Instrum.- 68 (6), 2475−2478, (1997)
  685. Rucker M., De Schryver F.C., Vannopen P., Jeuris K., De Feyter S., Hotta J., Masuhara H.- Near-field scanning optical microscopy and polymers- Nuclear Inst, and Meth. in Phys. Research B- 131 (¼), 30−37, (1997)
  686. Inouye Y., Kawata S.- Reflection-mode near-field optical microscope with a metallic probe tip for observing fine structures in semiconductor materials- Optics Communications- 134 (1/6), 31−35, (1997)
  687. Xiao M., Zayats A., Siqueiros J.- Scattering of surface-plasmon polaritons by dipoles near a surface: Optical near-field localization- Phys. Rev.- В 55 (3), 1824−1837, (1997)
  688. Ю. McDaniel A.A., Hsu J.W.P., Gabor A.M.- Near-field scanning optical microscopy studies of
  689. Cu (In, Ga) Se2 solar cells- Appl. Phys. Lett.- 70 (26), 3555−3557, (1997)
  690. U. Kottler V., Essaidi N., Ronarch N., Chappert C., Chen Y.- Dichloic imaging of magnetic domains with a scanning near-field optical microscope- Journal of Magnetism and Magnetic Materials- 165 (1/3), 398−400, (1997)
  691. Durkan C., Shvets I.V., Lodder J.C.- Observation of magnetic domains using a reflection-modescanning near-field optical microscope- Appl. Phys. Lett.- 70 (10), 1323, (1997)
  692. Froehlich F., Milster T.D.- Mechanical resonance behavior of near-field optical microscopeprobes- Appl. Phys. Lett.- 70 (12), 1500, (1997)
  693. Pantano P., Walt D.R.- Toward a near-field optical array- Rev. Sci. Instrum.- 68 (3), 1357, (1997)
  694. Liu J., Zhi D., Redwing J.M., Tischler M.A., Kuech T.F.- GaN films investigated by near-fieldscanning optical microscopy, atomic force microscopy and high resolution X-ray diffraction- Journal of Crystal Growth- 170 (¼), 357−361, (1997)
  695. Schofer J., Gregor M.J., Blome P.G., Ulbrich R.G.- Influence of aperture diameter on imagecontrast and resolution in scanning near-field optical microscopy- J. Appl. Phys.- 81 (9), 5871−5877, (1997)
  696. M. Schwarz U., Berthie M.L., Courjon D., Bielefeldt H.- Simple reflection scanning near-field opticalmicroscope using the back reflected light inside the laser cavity as detection mode- Optics Communications- 134 (1/6), 301−309, (1997)
  697. Keller Т.Н., Rayment Т., Klenerman D., Stephenson R.J.- Scanning near-field optical microscopy in reflection mode imaging in liquid- Rev. Sci. Instrum.- 68 (3), 1448, (1997)
  698. Decca R.S., Drew H.D., Empson K.L.- Investigation of the electric-field distribution at the subwavelength aperture of a near-field scanning optical microscope- Appl. Phys. Lett.- 70 (15), 19 321 934, (1997)
  699. Xiao M.- Polarization effects in reflection scanning near field optical microscopy- Optics Communications- 136 (¾), 213−218, (1997)
  700. Grober R.D., Schoelkopf R.J., Prober D.E.- Optical antenna: towards a unity efficiency near-field optical probe- Appl. Phys. Lett.- 70 (11), 1354−1356, (1997)
  701. Basca W.S., Kulik A.- Interference scanning optical probe microscopy- AppL Phys. Lett.- 70 (26), 3507−3509, (1997)
  702. Zvyagin A., Ohtsu M.- Near-field optical microscope for true surface topography: theoretical study- Optics Communications- 133 (1/6), 328−338, (1997)
  703. Hecht В., Bielefeldt H., Inouye Y., Pohl D.W., Novotny L.- Facts and artifacts in near-field optical microscopy- J. Appl. Phys.- 81 (6), 2492−2498, (1997)
  704. Decca R.S., Drew H.D., Empson K.L.- Mechanical oscillator tip-to-sample separation control for near-field optical microscopy- Rev. Sci. Instrum.- 68 (2), 1291−1295, (1997)
  705. Atia W.A., Davis C.C.- A phase-locked shear-force microscope for distance regulation in near-field optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 70 (4), 405−407, (1997)
  706. Guttroff G., Bayer M., Forshel A., Kazantsev M.K., Zundel M.K., Eberl K.- Near field scanning optical spectroscopy of InP single quantum dots- Pis’ma v ZhETF- 66 (7), 497−501, (1997)
  707. Okamoto Т., Yamaguchi I.- Near-field scanning optical microscope using a gold particle- Jpn. J. Appl. Phys.- 36 (2A), L166-L169, (1997)
  708. Э. Kiguchi M., Kato M., Ishibashi M.- Observation of color image using near-field optical microscope- Jpn. J. Appl. Phys.- 36 (5B), L611-L612, (1997)
  709. Yang Y. T, Heh D, Wei P. K, Fann W. S, Gray M. H, Hsu J.W.P.- Vibration dynamics of tapered optical fiber probes- J. Appl. Phys.- 81 (4), 1623−1627, (1997)
  710. Martin O.J.F, Girard C.- Controlling and tuning strong optical field gradients at a local probe microscope tip apex- Appl. Phys. Lett.- 70 (6), 705−707, (1997)
  711. Lacoste T, Huser T, Heinzelmann H.- Faraday rotation imaging by near — field optical microscopy- Z. Phys. B- 104, 2, 183−184, (1997)
  712. Davis C. C, Atia W. A, Gungor A, Mazzoni D. L, Pilevar S, Smolyaninov I.I.- Scanning near-field optical microscopy and lithography with bare tapered optical fibers- Laser Physics- 7 (1), 243−256, (1997)
  713. Sandoghdar V, Wegscheider S, Krausch G, Mlynek J.- Reflection scanning near-field opticalmicroscopy with uncoated fiber tips: how good is resolution really?- J. Appl. Phys.- 81 (6), 2499−2503, (1997)
  714. J. Opt. Soc. Am. B- 14, 9, 2254−2259, (1997)
  715. Huntington S. T, Nugent K. A, Roberts A, Mulvaney P, Lo K.M.- Field characterization of a Dshaped optical fiber using scanning near-field optical microscopy- J. Appl. Phys.- 82 (2), 510, (1997)
  716. Carminati R, Madrazo A, Nieto-Vesperinas M, GrefFet J.-J.- Optical content and resolution ofnear-field optical images: Influence of the operating mode- J. Appl. Phys.- 82 (2), 501, (1997)
  717. Tamaru H, Miyano K.- Non-optical shear-force detection for scanning near-field optical microscope- Jpn. J. Appl. Phys.- 36, L821-L823, (1997)
  718. Kim K. H, Eah S.-K, Cho C. H, Jhe W.- A novel digital feedback scheme of shear-force control in near-field scanning optical microscopy- Rev. Sci. Instrum.- 68 (7), 2783, (1997)
  719. Weston K. D, Buratto S.K.- A reflection near-field scanning optical microscope technique for subwavelength resolution imaging of thin organic films- J. Phys. Chem.- В 101 (29), 5684−5691, (1997)
  720. Herzog W. D, Unlur M.S., Goldberg B. B, Rhodes G. H, Harder C.- Beam divergence and waist measurements of laser diodes by near-field scanning optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 70 (6), 688 690, (1997)
  721. Crowell P. A, Young D. K, Keller S, Hu E. L, Awschalom D.D.- Near-field scanning optical spectroscopy of an InGaN quantum well- Appl. Phys. Lett.- v.72, No8, p.927−929, (1998)
  722. Castagne M, Belier B, Gall P, Benfedda M, Seassal C, Spisser A, Leclerc J. L, Viktorovich P.- New optical probes using InP-based cantilevers- Ultramicroscopy- v.71, p.81−84, (1998)
  723. Merz J. L, Lee S, Furdyna J.K.- Self-organized growth, ripening, and optical properties of widebandgap II/VI quantum dots- Journal of Crystal Growth- v. 184/185, p.228−236, (1998)
  724. Kazantsev D, Gippius N. A, Oshinowo J, Forchel A.- Direct measurement of photoluminescence spatial distribution near the GaAs/AlGaAs quantum well edge using a scanning near-field optical microscope- Ultramicroscopy- v.71, p.235−241, (1998)
  725. Nagahara L. A, Nakamura M, Tokumoto H.- Investigation of mesoscopic domains in thin organic films using near-field optical absorption mapping- Ultramicroscopy- v.71, p.281−285, (1998)
  726. Kazantsev D.V.- A simple scanning head for scanning near-field optical microscope- Ultramicroscopy- v.71, p. 191−198, (1998)
  727. Essadi N, Chen Y, Kottler V, Cambril E, Mayeux C, Ronarch N, Vieu C.- Fabrication and characterization of optical fiber nanoprobes for scanning near — field optical microscopy- Appl. Optics- v.37, No4, p.609−615, (1998)
  728. Couijon D, Spajer M, Baida F, Bainier C, Davy S.- Near-field optical microscopy: fifteen years of existence- Condensed matters news- v.6, p. 14−20, (1998)
  729. Abe M, Sugawara Y, Hara Y, Sawada K, Morita S.- Force imaging of optical near field noncontact mode atomic force microscopy- Jpn. J. Appl. Phys.- v.37, p.2, (1998)
  730. Bryant G. W.- Probing quantum nanostructures with near field optical microscopy and vice versa- Appl. Phys. Lett.- v.72, No7, p.768−770, (1998)
  731. Kazantsev D, Guttroff G, Bayer M, Forchel A.- Sample temperature measurement in a scanning near-field optical microscope- Appl. Phys. Lett.- v.72, No6, p.689, (1998)
  732. Danzebrink H. U, Castiaux A, Girard C, Bouju X.- Transmission scanning near-field optical microscopy with uncoated silicon tips- Ultramicroscopy- v.71, p.371−377, (1998)
  733. Sturmer H, Kohler J. M, Jovin Т. M.- Microstractured polymer tips for scanning near-field optical microscopy- Ultramicroscopy- v.71, p.107−110, (1998)
  734. Webster S, Smith D. A, Ba D.N.- Application of fluorescence scanning near-field optical microscopy to the study of phase-separated conjugated polymers- Ultramicroscopy- v.71, p.275−279, (1998)
  735. Lambelet P, Pfeffer M, Sayah A, Marquis-Weible F.- Reduction of tip-sample interaction forcesfor scanning near-field optical microscopy in a liquid environment- Ultramicroscopy- v.71, p. 117−121, (1998)
  736. Mei E, Higgins D. A.- Polymer dispersed liquid crystal films studied by near — field scanning optical microscopy- Langmuir- v. 14, No8, p. 1945−1950, (1998)
  737. Lewis A, Radko A, Ami N. B, Palanker D, Lieberman K.- Near-field scanning optical microscopy in cell biology- Trends in Cell Biology- v.9, No. Feb, p.70−73, (1999)
  738. Э4. Abe M, Sugawara Y, Sawada K, Andoh Y, Morita S.- Near-field optical imaging using force detection with new tip-electrode geometry- Appl. Surface Sci.- v. 140, p.383−387, (1999)икроскопия боковых сил (МБС) и БОМ
  739. Betzig Е, Finn P. L, Weiner J.S.- Combined shear force and near-field scanning optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 60 (20), 2484−2486, (1992)
  740. Leong J.-K, Williams C.C.- Shear force microscopy with capacitance detection for near-fieldscanning optical microscopy- Appl. Phys. Lett.- 66 (11), 1432−1434, (1995)
  741. Smolyaninov I. I, Mazzoni D. L, Davis C.C.- Near-field direct-write ultraviolet lithography and shear force microscopic studies of the lithographic process- Appl. Phys. Lett.- 67 (26), 3859−3861, (1995)
  742. Bozhevolnyi S. I, Smolyaninov I. I, Keller 0.- Correlation between optical and topographicalimages from an external reflection near-field microscope with shear force feedback- Applied Optics- 34 (19), 3793−3799, (1995)
  743. Brunner R, Bietsch A, Hollricher O, Marti O.- Distance control in near-field optical microscopywith piezoelectrical shear-force detection suitable for imaging in liquids- Rev. Sci. Instrum.- 68 (4), 1769, (1997)
  744. Wei C.-C, Wei P.-K, Fann W.- Direct measurements of the true vibrational amplitudes in shear force microscopy- Appl. Phys. Lett.- 67 (26), 3835−3837, (1995)
  745. Durkan C, Shvets I.V.- Study of shear force as a distance regulation mechanism for scanning near-field optical microscopy- J. Appl. Phys.- 79 (3), 1219−1223, (1996)
  746. Zhu X, Huang G. S, Zhou H. T, Dai Y.D.- A novel ultrasonic resonance sample-tip distance regulation for near field optical microscopy and shear force microscopy- Solid State Communications- 98 (7), 661−664, (1996)
  747. Moyer P. J, Kammer S.B.- High-resolution imaging using near-field scanning optical microscopy and shear force feedback in water- Appl. Phys. Lett.- 68 (24), 3380−3382, (1996)
  748. Zvyagin A. V, White J. D, Kourogi M, Kosuma M, Ohtsu M.- Solution to the bistability problem in shear force distance regulation encountered in scanning force and near force optical microscopes- Appl. Phys. Lett.- 71 (17), 2541−2543, (1997)
  749. Okajima T, Hirotsu S.- Study of shear force between glass microprobe and mica surface under controlled humidity- Appl. Phys. Lett.- 71 (4), 545−547, (1997)
  750. Carpick R. W, Ogletree D. F, Salmeron M.- Lateral stiffness: A new nanomechanical measurement for the determination shear force strength with friction force microscopy- Appl. Phys. Lett.- 70 (12), 1548, (1997)
  751. Williamson R. L, Brereton L. J, Antognozzi M, Miles M. J, Wills H.H.- Are artifacts in scanning near-field optical microscopy related to the misuse of shear force?- Ultramicroscopy- 71, 165−175, (1998)
  752. Muramatsu H, Yamamoto N, Umemoto T, Homma K- A self-sensitive probe composed of apiezoelectric tuning fork and a bent optical fiber tip for scanning near-field optical/atomic force microscopy- Jpn. J. Appl. Phys.- 36 (9A), 5753−5758, (1997)
  753. Ruiter A.G.T, Veerman J. A, van der Werf K. O, van Hulst N. F, Dynamic behavior of tuningfork shear-force feedback// Appl. Phys. Lett. 71 (7), 28, (1997)
  754. Ruiter A.G.T, van der Werf K. O, Veerman J. A, Garcia-Parajo M. F, Rensen W.H.J, van Hulst N. F, Tuning fork shear-force feedback// Ultramicroscopy, V.71, p. 149−157, (1998)1. Токи растекания в ACM
  755. Hosaka S, Koyanagi H, Hasegawa T, Hosoki S, Observation of natural oxide growth on silicon facets using an atomic force microscopy with current measurements// J. Appl. Phys, 72 (2), 688−691, (1992)
  756. Maywald M, Stephan R. E, Balk L. J, Evalution of an epitaxial layer structure by lateral force and contact current measurements in a scanning force microscope// Microelectronic Engineering, 24, 99 106, (1994)
  757. Ishii M, Matsumoto K, Control of current in 2DEG channel by oxide wire formed using AFM// Jpn. J. Appl. Phys, 34 (2B), 1329−1331, (1995)
  758. Tanimoto M, Kanisawa K, Shinohara M, Nanometer-scale current-voltage spectra measurement of resonant tunneling diodes using scanning force microscopy// Jpn. J. Appl. Phys, 35 (2B), 1154−1158, (1996)
  759. Fujisawa H, Shimizu M, Horiuchi T, Shiosaki T, Matsushige K. Investigation of the current path of Pb (Z, Ti)03 thin films using an atomic force microscope with simultaneous current measurement// Appl. Phys. Lett, 71 (3), 416−418, (1997)
  760. Yamamoto S, Kawaguchi A, Oda S, Anomalous current-voltage characteristics along the c-axis in YBaCuO thin films prepared by MOCVD and AFM lithography// Physica C, V.293, p.244−248, (1997)
  761. Xu Q, Gray M. H, Hsu J.W.P, Resolution and contrast in near-field photocurrent imaging of defects on semiconductors// J. Appl. Phys, 82 (2), 748, (1997)
  762. Lienau Ch, Richter A, Tomm J. W, Near-field photocurrent spectroscopy: A novel technique for studying defects and aging in high-power semiconductor lasers// Appl. Phys, A 64 (4), 341−351, (1997)
  763. Watanabe Y, Sawamura D, Okano M, Toyama N, Leakage current spectroscopy of epitaxial ferroelectric r semiconductor heterosructures and their memory effect// Applied Surface Science, V.130−132, p.682−688, (1998)1. Микромашины
  764. Blanc N., Brugger J., De Rooij N.F., Electrostatically actuated silicon micromashined sensors for scanning force microscopy// In: Forces in Scanning Probe Methods, 79−84, (1995)
  765. Goto К., Hane K., Micromachining with a force microscope tip assisted by electrostatic force// Rev. Sci. Instrum, 67 (2), 397−400, (1996)
  766. Исследование физико-химических, физических и пр. процессов методами СЗМ
  767. Hasegawa Т, Kohno М, Hosaka S, Hosoki S, Dynamic observation of Si crystal growth on a Si (l 11)7×7 surface by high-temperature scanning tunneling microscopy// Phys. Rev, В 48 (3), 1943−1946. (1992)
  768. Ludwig C, Petersen J, Gompf B, Eisenmenger W, Molecular structure and dynamics of polymer monolayers observed with a video-STM// Phys. Stat. Sol. A 131, 25, (1992)
  769. Gao X, Edens G. J, Hamelin A, Weaver M. J, Real-time formation and dissipation mechanisms of hexagonal reconstruction on Au (100) in aqueous media as explored by potentiodynamic scanning tunneling microscopy// Surface Science, 296, 333−351, (1993)
  770. Gao X, Weaver M. J, Electrode potential-induced reconstruction of Au (100): effect of hemisorp-tion on nanoscale dynamics as probed by in-situ scanning tunneling microscopy// J. Phys. Chem, 97 (34), 8685−8689,(1993)
  771. Lagally M. G, An atomic-level view of kinetic and thermodynamic influences in the growth of thin films//Jpn. J. Appl. Phys, 32, (3B), 1493−1501, (1993)
  772. Luthi R, Haefke H, Gutmannsbauer W, Meyer E, Howald L, Guntherodt H.-J, Statics and dynamics of ferroelectric domains studied with scanning force microscopy// J. Vac. Sci. Technol, В 12 (4), 2451−2455,(1994)
  773. Ruipers L, Hoogeman M.S., Frenken J.W.M, van Beijeren H, Step and kink dynamics on Au (l 10) and Pb (l 11) studied with a high-speed STM// Phys. Rev, В 52 (15), 11 387−11 397, (1995)
  774. Onishi H, Iwasawa Y, Dynamic visualization of a metal-oxide-surface/gas-phase reaction: time-resolved observation by scanning tunneling microscopy at 800K// Phys. Rev. Lett, 76 (5), 791−794, (1996)
  775. Saint Jean M., Hudlet S., Guthmann C., Berger J., Charge dynamics and time evolution of contact potential studied by atomic force microscopy// Phys. Rev. B, V.56, No23,15 391−15 359, (1997)
  776. Hibder H.R., Schlogl R., Oelhafen P., Gunterodt H.-J., Ringger M., «Nanometer lithography with the STM» Appl. Phys. Lett., 46 (9), 832, (1985).
  777. Ringger M., Hidber H.R., Schlogl R., Oelhafen P., Guntherodt H.-J., «Nanometer Lithographywith the Scanning Tunneling Microscope» Appl. Phys. Lett., 46 (9), 832−834, (1985).
  778. J., Hansma P.K., «Scanning tunneling microscopy and lithography of solid surfaces covered with nonpolar liquids» Langmuir, 3(6), 1025−1027, (1987).
  779. McCord M.A., Pease R.F.W., «The effect of reflected and secondary electrons on lithography with the scanning tunneling microscope» Surface Science, 181, 278−284, (1987).
  780. Schneir J., Sonnenfeld R., Marti 0., Hansma P.K., Demuth J.E., Hamers R.J., «Tunneling microscopy, lithography, and surface diffusion on an easily prepared, atomically flat gold surface» J. Appl. Phys., 63 (3), 717−721, (1988).
  781. Marrian C.R.K., Colton R.J., «Low-voltage electron beam lithography with a scanning tunneling microscope» Appl. Phys. Lett., 56 (8), 755−757, (1990).
  782. L.A., Thundat Т., Lindsay S.M., «Nanolithography on semiconductor surfaces under an etching solution» Appl. Phys. Lett., 57 (3), 270−272, (1990).
  783. Marrian C.R.K., Dobisz E.A., Colton R. J. t, «Lithographic studies of an e-beam resist in a vacuum scanning tunneling microscope» J. Vac. Sci. Technol., A 8 (4), 3563−3569, (1990).
  784. Yau S.-T., Zheng X., Nayfeh M.H., «Nanolithography of chemically prepared Si with a scanning tunneling microscope» Appl. Phys. Lett., 59 (19), 2457−2459, (1991).
  785. Dobisz E.A., Marrian C.R.K., «Scanning tunneling microscope lithography: a solution to electron scattering» J. Vac. Sci. Technol., В 9(6), 3024−3027, (1991).
  786. J.A., Tseng W., Bennett J., Schneir J., Harary H.H., «Nanolithography on III-V semiconductor surfaces using a scanning tunneling microscope operating in air» J. Appl. Phys., 70 (7), 3661−3665,(1991).
  787. Dobisz E.A., Marrian C.R.K., «Sub-30 шп lithography in a negative electron beam resist with a vacuum scanning tunneling microscope» Appl. Phys. Lett., 58 (22), 2526−2528, (1991).
  788. J.A., Tseng W., Bennett J., Dobisz E.A., Schneir J., Harary H.H., «Integration of scanning tunneling microscope nanolithography and electronics device processing» J. Vac. Sci. Technol., A 10 (4), 2105−2113,(1992).
  789. Koester S. J, Bazan G, Bernstein G. H, Porod W, «Fabrication of ultrasmall tunnel junctions by electron-beam lithography» Rev. Sci. Technol, 63 (3), 1918−1921, (1992).
  790. Morgan C, Chen G. S, Boothroyd C, Bailey S, Humphreys C, «Ultimate limits of lithography» -Physics Today, 28−32, November, (1992).
  791. Sugimura H, Uchida T, Kitamura N, Masuhara H, «Tip-induced anodization of titanium surfaces by scanning tunneling microscopy: a humidity effect on nanolithography» Appl. Phys. Lett, 63 (9), 1288−1290, (1993).
  792. Grey F, Huang D. H, Kobayashi A, Snyder E. J, Uchida H, Aono M, «Detection of single atom extraction and deposition events during nanolithographic processing of silicon with a scanning tunneling microscope» Proc. Japan Acad, В 69 (5), 101−106, (1993).
  793. Ross C. B, Sun L, Crooks R. M, «Scanning probe lithography. 1. Scanning tunneling microscopeinduced lithography of self-assembled n-alkanethiol monolayer resists» Langmuir, 9 (3), 632−636, (1993).
  794. Heyvaert I, Osquiguil E, Van Haesendonck C, Bruynseraede Y, «Lithography of YBa2Cu307supercondacting thin fihns with a scanning tunneling microscope» In, Nanolithography: a borderland between STM, EB, IB and X-ray Lithographies, 207−212, (1994).
  795. Dagata J. A, «STM nanolithography and characterization of passivated silicon and gallium arsenide» In: Nanolithography: a borderland between STM, EB, IB and X-ray Lithographies, 189−196, (1994).
  796. Marrian C.R.K, Perkins F. K, Brandow S. L, Koloski T. S, Dobisz E. A, Calvert J. M, «Low voltage e-beam lithography with the scanning tunneling microscope» In: Nanolithography: a borderland between STM, EB, IB and X-ray Lithographies, 175−188, (1994).
  797. Thibaudau F, RocheJ. R, Salvan F, «Nanometer-scale lithography on Si surface by decomposition of ferrocene molecules using a scanning tunneling microscope» Appl. Phys. Lett, 64 (4), 523−525, (1994).
  798. Schoer J. K, Ross C. B, Crooks R. M, Corbitt T. S, Hampden-Smith M. J, «Scanning probe lithography. 2. Selective chemical vapor deposition of copper into scanning tunneling microscope-defined patterns» Langmuir, 10 (3), 615−618, (1994).
  799. Physica Scripta, T 55, 86−89, (1994).
  800. Van Haesendonck C, Stockman L, Neuttiens G, Strunk C, Bruynseraede Y, «Nanolithographic patterning of Au films with a scanning tunneling microscope» J. Vac. Sci. Technol, В 13 (3), 1290−1293, (1995).
  801. Xu L. S, Allee D. R, «Ambient scanning tunneling lithography of Langmuir-Blodgett and self-assembled monolayers» J. Vac. Sci. Technol, В 13 (6), 2837−2840, (1995).
  802. Mayer T. M, Adams D. P, Marder B. M, «Field emission characteristics of the scanning tunneling microscope for nanolithography» J. Vac. Sci. Technol, В 14 (4), 2438−2444, (1996).
  803. Schoer J. K, Crooks R. M, «Scanning probe lithography. 4. Characterization of scanning tunnelingmicroscope induced patterns in n-alkanethiol self- assembled monolayers» — Langmuir, 13 (8), 2323−2332, (1997).1. ACM литография
  804. Chou S. Y, Wei M. S, Fischer P. B, «An ultra-high resolution single-domain magnetic force microscope tip fabricated using nanolithography» IEEE Transactions on Magnetics, 30 (6), 4485, (1994).
  805. Sohn L. L, Willett R. L, «Fabrication of nanostructures using atomic-force-microscope-basedlithography» Appl. Phys. Lett, 67 (11), 1552−1554, (1995).
  806. Minne S. C, Flueckiger Ph, Soh H. T, Quate C. F, «Atomic force microscope lithography using amorphous silicon as a resist and advances in parallel operation» J. Vac. Sci. Technol, В 13 (3), 13 801 385, (1995).
  807. Demir U, Balasubramanian K. K, Cammarata V, Shannon C, «Scanning probe lithography of novel Langmuir-Schaefer films: electrochemical applications» J. Vac. Sci. Technol, В 13 (3), 12 941 299, (1995).
  808. Wenden M, Lorenz H, Kotthaus J. P, «Sharpened electron beam deposited tips for high resolution atomic force microscope lithography and imaging» Appl. Phys. Lett, 67 (25), 3732−3734, (1995).
  809. Servat J, Gorostiza P, Sanz F, Perez-Murano F, Barniol N, Abadal G, Aymerich X, «Nanometer scale lithography of silicon (lOO) surfaces using tapping mode atomic force microscopy» J. Vac. Sci. Technol, A 14 (3), 1208−1212, (1996).
  810. Schoer J. K, Zamborini F. P, Crooks R. M, «Scanning probe lithography. 3. Nanometer-scale electrochemical patterning of Au and organic resists in the absence of intentionally added solvents or electrolytes» J. Phys. Chem, 100 (26), 11 086−11 091, (1996).
  811. Sugimura H, Nakagiri N, «Electrochemical nanolithography using scanning probe microscopy: fabrication of patterned metal structures on silicon substrates» Thin Solid Films, 281−282, 572−575,1996).
  812. Sugimura H, Nakagiri N, «Scanning probe anodization: nanolithography using thin films of anodically oxidizable materials as resists» J. Vac. Sci. Technol, A 14 (3), 1223−1227, (1996).
  813. Quate C. F, «Scanning probes as a lithography tool for nanostructures» Surface Sci, 386, 259 264, (1997).
  814. Hung C. J, Gui J, Switzer J. A, «Scanning probe nanolithography of conducting metal oxides» -Appl. Phys. Lett, 71 (12), 1637−1639, (1997).
  815. Mohl T, Brbckl H, Weise G, Reiss G, «Nanometer scale lithography in thin carbon layers using electric field assisted force microscopy» — J. Appl. Phys, 82 (10), 5255−5258, (1997).
  816. Held R, Heinzel T, Studerus P, Ensslin K, Holland M, «Semiconductor quantum point contact fabricated by lithography with an atomic force microscope» Appl. Phys. Lett, 71 (18), 2689−2691,1997).
  817. Maruyama H, Kosai N, Sato T, Sagisaka S, Segawa H, Shimidzu T, Tanaka K, «Nanometer -scale lithography on the oligosilane Langmuir Blodgett films» — Jpn. J. Appl. Phys, 36, 1, 7312−7316, (1997).
  818. Li S.F.Y, Ng H. T, Zhang P. C, Ho P.K.H, Zhou L, Bao G. W, Chan S.L.H, «Submicrometer lithography of a silicon substrate by machining of photoresist using atomic force microscopy followed by wet chemical etching» Nanotechnology, 8 (2), 76−81, (1997).
  819. Cai X. W, Gao J. S, Xie Z. X, Xie Y, Tian Z. Q, Mao B. W, «Nanomodification of polypyrrole and polyaniline on highly oriented pyrolytic graphite electrodes by atomic force microscopy» Langmuir, 14 (9), 2508−2514, (1998).
  820. Grigoropoulos S, Nassiopoulos A. G, Travlos A, Papadimitriou D, Kennou S, Ladas S,
  821. Characterization of light emitting silicon nanopillars produced by lithography and etching» Applied Surface Science, 102, 377−380, (1996).
  822. Madsen S, Bozhevolnyi S. I, Birkelund K, Mullenbom M, Hvam J. M, Grey F, «Oxidation of hydrogen-passivated silicon surfaces by scanning near-field optical lithography using uncoated and aluminum-coated fiber probes» J. Appl. Phys, 82 (1), 49, (1997).
  823. Biebuyck H. A, Larsen N. B, Delamarche E, Michel B, «Lithography beyond light: microcontact printing with monolayer resists» IBM J. Res. Develop, 41 (½), (1997).
  824. Микроисточники для нанолитографии
  825. Российская школа СЗМ Школа Хайкина М.С.
  826. Хайкин М. С, Трояновский А. М, «Сканирующий туннельный микроскоп с модуляцией туннельного промежутка и в жидкой среде» Письма в ЖТФ, 11 (20), 1236−1241 (1985). ИФП РАН,
  827. Володин А. П, Хайкин М. С, «Быстродействующий сканирующий туннельный микроскоп и его применение для наблюдения кинетики магнитных явлений» Письма в ЖТФ, 12 (21), 12 931 297 (1986).
  828. Хайкин М. С, Трояновский А. М, Эдельман В С, Пудалов В. М, Семенчинский С. Г, «Сканирующая туннельная микроскопия границы раздела Si-Si02 в МДП- структуре» Письма в ЖЭТФ, 44(4), 193−197 (1986).
  829. Голямина Е. М, Трояновский А. М, «Исследование пленочных структур Nb-окись Nb-Pb при помощи сканирующего туннельного микроскопа» Письма в ЖЭТФ, 44 (6), 285−287 (1986)
  830. Володин А. П, Копецкий Ч. В, Степанян Г. А, Хайкин М. С, Эдельман В. С, «Совмещение сканирующего туннельного и растрового электронного микроскопов в едином приборе» Письма в ЖТФ, 13 (2), 1251 (1987).
  831. Хайкин М. С, Володин А. П, Трояновский А. М, Эдельман В. С, «Сканирующие туннельные микроскопы» ПТЭ, 4, 231−232 (1987).
  832. Хайкин М. С, «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» УФН, 155(1), 158−159 (1988).
  833. Хайкин М. С, «Сканирующий туннельный микроскоп с большим полем зрения» ПТЭ, 1, 161−165 (1989).
  834. И.Б., Володин А. П., Хайкин М.С, «Малогабаритный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп» ПТЭ, No 5, 188−190, (1989).
  835. А.П., Степанян Г. А., Хайкин М. С., Эдельман В.С, «Сканирующий туннельный микроскоп с большим полем зрения, совместимый с растровым электронным микроскопом» -ПТЭ, No 5, 185−187, (1989)
  836. Эдельман В. С, «Сканирующая туннельная микроскопия» ПТЭ, No 5, 25−49 (1989)
  837. Эдельман В. С, «Высоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп» ПТЭ, No 4,149.153, (1989)
  838. А.П., Панич А.Е, «Применение пьезокерамических материалов ПКР в низкотемпературных сканирующих туннельных микроскопах» -ПТЭ, 5, 190−193 (1989).
  839. И.Б., Володин А. П., Макаренко И. Н., Стишов С.М, «Энергетическая щель в YBa2Cu30x по данным туннельных исследований монокристаллов» Письма в ЖЭТФ, 50 (11), 458−461, (1989).
  840. I.I., Khaikin M.S., Edelman Y.S., «Light emission from the tunneling junction of the scanning tunneling microscope» Physics Letters, A 149 (7/8), 410−412, (1990)
  841. A.M., Hietschold M., Khaikin M.S., Androsch I., Vollmann W., Starke M., «Scanning tunneling microscopy investigations of organic thin film topography» Thin Solid Films, 188, 329−333,(1990)
  842. А.П., Марчевский M.B., Хайкин М.С, «Магнитосиловой сканирующий микроскоп"-ПТЭ, 2, 165−171 (1991)
  843. Эдельман В. С, «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» УФН, 161(3), 168−171 (1991)
  844. V.S., Fionova L.K., Polyak L.E., Stepanyan G.A., Volodin A.P., Stepantsov E.A., «The scanning tunneling microscope investigation of Grain boudaries in silicon» Phys. Stat. Sol., A 123 (1), 193−199, (1991).
  845. A.M., Edelman V.S., «STM investigation of a multilayer semiconductor structure» -Phys. Stat. Sol., A 131, 11−18, (1992).
  846. Володин А. П, Новое в сканирующей зондовой микроскопии// ПТЭ, № 6, с. 3−42, (1998)
  847. A.M., Эдельман B.C. Неоднородные электронные состояния у поверхности скола висмута// Зондовая микроскопия 99. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 10−13 марта 1999 г., стр. 74 — 84.1. МГУ, Школа Панова В.И.
  848. Панкратов С, Панов В. И, «Поверхности твердых тел» Наука и жизнь, No 5/6, 34−41, 6165 (1986).
  849. Васильев С. И, Леонов В. Б, Панов В. И, Савинов С. В, «Сканирующая туннельная микроскопия в воздушной среде» ДАН СССР, 297(6), 1351−1354 (1987).
  850. Васильев С. И, Леонов В. Б, Панов В. И, «Сканирующий туннельный микроскоп высокого разрешения» Препринт физич. ф-та МГУ, No 14, 1−5, (1987).
  851. Васильев С. Н, Леонов В. Б, Панов В. И, «Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно неоднородных поверхностей» Письма в ЖТФ, 13 (15), 937−941, (1987).
  852. Moiseev Yu. N, Mostepanenko V. M, Panov Y. I, Sokolov I. Yu, «Force dependences for the definition of the atomic force microscopy spatial resolution» Phys. Lett, A 132 (6/7), 354−358, (1988).
  853. Панов В. И, «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» УФН, 155(1), 155−158 (1988).
  854. Акципетров О .А, Васильев С. И, Панов В. И, «Роль шероховатости в гигантском комбинационном рассеянии и сканирующая туннельная микроскопия поверхности» Письма в ЖЭТФ, 47(4), 187−190, (1988).
  855. Акципетров О. А, Васильев С. И, Панов В. И, «Сканирующая туннельная микроскопия поверхности «холодных» пленок серебра и генерация гигантской второй гармоники» ЖЭТФ, 94(5), 256−260, (1988).
  856. Алекперов С. Д, Васильев С. А, Кононенко А. А, Лукашов Е. П, Панов В. И, Семенов А. Э, «Сканирующая туннельная микроскопия фотосинтетических реакционных центров» ДАН СССР, 303(2), 341−344, (1988).
  857. Васильев С. Н, Леонов В. Б, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, «Атомная силовая микроскопия поверхности диэлектриков» Препринт физич. ф-та МГУ, 2, 1−5 (1988).
  858. Васильев С. И, Леонов В. Б, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, «Сканирующая микроскопия поверхности, использующая силы межатомного взаимодействия» Письма в ЖТФ, 14 (8), 727−731 (1988).
  859. Alekperov S. D, Vasiljev S. I, Kononenko A. A, Lukashev E. P, Panov V. I, Semenov A. E, «Scanning tunneling microscopy of photosynthetic reaction centers» Chem. Phys. Lett, 164 (2/3), 151 154, (1989).
  860. Маслова Н. С, Панов В. И, «Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций» УФН, 157(1), 185−195 (1989).
  861. Алекперов С. Д, Васильев С. И, Леонов В. Б, Панов В. И, Семенов А. Э, «Исследование асимметрии атомного изображения поверхностной решетки графита методом СТМ» ДАН СССР, 307(5), 1104−1108, (1989).
  862. Моисеев Ю. Н, Мостепаненко В. М, Панов В. И, Соколов И. Ю, «Ограничение на параметры дальнодействия юкавовского типа из атомно-силовой микроскопии» ДАН АН СССР, 304 (5), 1127−1130(1989).
  863. Моисеев Ю. Н, Мостепаненко В. М, Панов В. И, Соколов И. Ю, «Спектроскопия межатомных взаимодействий методом атомно-силовой микроскопии» Письма в ЖТФ, 15 (20), 5−10 (1989).
  864. Aktsipetrov O. A, Nikulin A. A, Panov V. I, Vasil ev S. I, «Surface enhanced second harmonic generation in cold deposited silver films and scanning tunneling microscopy» Solid State Communications, 73 (6), 411−415, (1990).
  865. Кононенко А. А, Лукашев Е. П, Панов В. И, Федоров Е. А, «Сканирующая туннельнаямикроскопия функционально активных фрагментов мембран галобактерий, содержащих бакте-риородопсин» ДАН СССР, 315 (5), 1252−1255 (1990).
  866. Моисеев Ю. Н, Панов В. И, Савинов С. В, Яминский И. В, «Атомно-силовая микроскопия поверхности» Электронная промышленность, 3 (1991).
  867. Васильев С. И, Савинов С. В, Яминский И. В, «Методы изготовления острий для сканирующего туннельного микроскопа» Электронная промышленность, 3, (1991).
  868. Васильев С. И, Моисеев Ю. Н, Никитин Н. И, Савинов С. В, Яминский И. В, «Сканирующий туннельный микроскоп «Скан»: конструкция и области применения» Электронная промышленность, 3, (1991).
  869. Моисеев Ю. Н, Панов В. И, Савинов С. В, «Влияния локального трения на АСМ-изображение структуры поверхности» Письма в ЖТФ, 17 (10), 24−28 (1991).
  870. Васильев С. И, Казанцев Д. В, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, Савинов С. В, Яминский И. В, «Приборы локального зондирования поверхности» Электронная промышленность, 10, 29−33, (1993).
  871. Акципетров О. А, Захарченко В. В, Казанцев Д. В, Кобляков Н. В, Панов В. И, Яминский И. В, «Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп» Электронная промышленность, 10, 38−40, (1993).
  872. Васильев С. И, Моисеев Ю. Н, Панов В. И, Савинов С. В, Яминский И. В, Герасимов А. В,
  873. Зиневич А. Я, Саморуков В. Д, «Сканирующий туннельный атомно-силовой микроскоп «СКАН-8» Электронная промышленность, 10, 34−36, (1993).
  874. Ю. Яминский И. В, «Сканирующая туннельная микроскопия» Электронная промышленность, 10, 62−63, (1993).
  875. И. Казанцев Д. В, Савинов С. В, Яминский И. В, «Высоковольтный усилитель для пьезоманипулятора сканирующего туннельного микроскопа» Электронная промышленность, 10, 40−42, (1993).
  876. Яминский И. В, «Работы ученых МГУ в области туннельной спектроскопии и наноэлектроники» Электронная промышленность, 10, 25−28, (1993)
  877. Christenson Н. К, Yaminsky V. V, «Adhesion and solvation forces between surfaces in liquidsstudied by vapor-phase experiments» Langmuir, 9 (9), 2448−2454, (1993)
  878. Dneprovskii V, Eev A, Gushina N, Okorokov D, Panov V, Karavanskii V, Maslov A, Sokolov V, Dovidenko E, «Strong optical nonlinearities in quantum wires and dots of porous silicon» -Phys. Stat. Sol, В 188 (1), 297−306, (1995).
  879. Maslova N. S, Oreshkin A. I, Panov V. I, Savinov S.V. Kalachev A. A, Rabe J. P, «STM evidence of dimensional quantization on the nanometer size surface defects» Solid State Communications, 95 (8), 507−510, (1995).
  880. Yaminsky V. V, Christenson H. K, «Thermodynamic analysis of solute effects on oscillatory solvation forces» J. Phys. Chem, 99 (14), 5176−5179, (1995)
  881. Яминский И. В, «Сканирующая зондовая микроскопия. Методы и аппаратура» Российский химический журнал, XL (1), 111−120 (1996)
  882. J. Uvarov V. Yu, Ivanov Yu. D, Romanov A. N, Gallyamov M. O, Kiselyova О. I, Yaminsky I.
  883. V, «Scanning tunneling microscopy study of cytochrome P450 2B4 incorporated in proteoliposomes» -Biochimie, 78, 780−784, (1996)
  884. Васильев С. И, Орешкин С. И, Панов В. И, Савинов С. В, Van Haesendonck С, Depuydt А, «Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп для исследований в магнитном поле" — Приборы и техника эксперимента, (4), 140−145, (1997).
  885. Васильев С. И, Орешкин С. И, Панов В. И, Савинов С. В, Хаезендонк К. Ван, Депуйдт А, «Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп для исследований в магнитном поле" — Препринт 5/1997 Физического ф-та МГУ, No 5, 1−10, (1997).
  886. О. И, Яминский И. В, «Белки и белок-мембранные комплексы» Учебное пособие «Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров», серия «Сканирующая зондовая микроскопия» Вып. 1 / под ред. д.ф.-м.н. И. В. Яминского. М.: Научный мир, 41−69, (1997).
  887. М. О, Яминский И. В, «Нуклеиновые кислоты» Учебное пособие «Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров», серия «Сканирующая зондовая микроскопия» Вып. 1 / под ред. д.ф.-м.н. И. В. Яминского. М. :Научный мир, 25−40, (1997).
  888. И. В, «Зондовая микроскопия: методы и аппаратура» Учебное пособие «Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров», серия «Сканирующая зондовая микроскопия» Вып. 1 / под ред. д.ф.-м.н. И. В. Яминского. М.:Научный мир, 13−17, (1997).
  889. Ф, «Явление потери устойчивости жесткого покрытия при деформировании полимера-подложки" — Высокомолекулярные соединения, 39 (11), 1805−1811, (1997).
  890. И. В, Демин В. В, Бондаренко В. М, «Различия в клеточной поверхностигибридных бактерий Escherichia coli К12, наследующих rfb аЗ, 4 ген Shigella flexneri, выявляемые с помощью атомно-силовой микроскопии» Журнал микробиологии, (6), 15−18, (1997).
  891. Arseyev P. I, Depuydt A, Maslova N. S, Panov V. I, Savinov S. V, «Problems of low-temperature STM application to the high-temperature superconductors investigation» Phys. Low-Dim. Struct, 131−140,(1997).
  892. Sergeyev V. G, Pyshkina O. A, Gallyamov M. 0, Yaminsky I. V, Zezin A. B, Kabanov V. A, «DNA-Surfactant Complexes in Organic Media» Progress In Colloid & Polymer Science, 106, 198−203,1997)
  893. О. А, Дорфман В. Ф, Мишина Е. Д, Моисеев Ю. Н, Мурзина Т. В, Панов В.
  894. И, Пыпкин Б. Н, Савинов С. В, «Исследование аморфных углеводородных пленок методами генерации второй оптической гармоники и микроскопии сканирующего зонда» Доклады Академии Наук, 359 (4), 472−474, (1998).
  895. С. Ф, Галлямов М. О, Потемкин В. В, Степанов А. В, Яминский И. В, «Сканирующий туннельный микроскоп измерительное средство наноэлектроники» — ИТ, (4), 58−61,1998).
  896. И. В, «Как растут белковые кристаллы» Химия и жизнь — XXI век, (12), 14−15, (1998).
  897. И. В, «Зондовый массаж микробов» Химия и жизнь — XXI век, (4), 32−33, (1998).
  898. JI. Н, Гвоздев Н. В, Яминский И. В, «Механизм движения ступеней при кристаллизации лизоцима» Кристаллография, 43 (4), 745−750, (1998).
  899. М. О, Пышкина О. А, Сергеев В. Г, Яминский И. В, «Применение методов сканирующей зондовой микроскопии к исследованию конформационных свойств ДНК» Поверхность, РСНИ, (2), 79−83, (1998).
  900. И. В, Пышкина О. А, Сергеев В. Г, Семенов А. Э, Филонов А. С, «Визуализация прокариотических клеток с помощью атомно-силовой микроскопии» Поверхность, РСНИ, (2), 76−78, (1998).
  901. С. Ф, Галлямов М. О, Потемкин В. В, Степанов А. В, Яминский И. В, «Сканирующий туннельный микроскоп измерительное средство наноэлектроники» — ИТ, (4), 58−61, (1998).
  902. M. О., Pyshkina О. A., Sergeev V. G., Yaminsky I. V., «Application of a Scanning Probe Microscopy to the Study of DNA Conformation» SURFACE INVESTIGATION. X-ray, synchrotron and neutron techniques, 14 (2), 247−251, (1998).
  903. I.V., Pyshkina O.A., Sergeev V.G., Semenov A.E., Filonov A.S., «Atomic force microscopy of enterobacteria» SURFACE INVESTIGATION. X-ray, synchrotron and neutron techniques, 14 (2), 243−246, (1998).
  904. Drygin Yu. F., Bordunova 0. A., Gallyamov M. O., Yaminsky I. V., «Atomic force microscopy examination of tobacco mosaic virus and virion RNA» FEBS letters, 425, 217−221, (1998).
  905. А. С., Галлямов M. О., Пышкина О. А., Сергеев В. Г., Яминский И. В., «Морфология комплексов ДНК-ПАВ, перешедших через границу раздела фаз вода-хлороформ, по данным атомно-силовой микроскопии» Журнал физической химии, 73 (11), (1999).
  906. П. Рудой В. М., Яминский И. В., Огарев В. А., «Влияние фотоокисления на поверхностныесвойства полистирола» Высокомолекулярные соединения, 41 (10), 1671−1674, (1999).
  907. Г. К., Кучук Т. А., Агабеков В. Е., Галлямов М. О., Яминский И. В., «Свойства иструктура мономолекулярных пленок на основе ^октадецил-3,4:9,10-периленбис (дикарбоксидиимида)» Журнал физической химии, 73 (7), 1244−1248, (1999).
  908. О. И., Ягужинский JI. С., Яминский И. В., Янюшин М. Ф., «Атомно-силоваямикроскопия протеолипосом, содержащих АТФ-синтетазный комплекс» Поверхность, РСНИ, (7), 109−112,(1999).
  909. М. О., Дрыгин Ю. Ф., Яминский И. В., «Визуализация РНК и рибонуклеопро-теидов вируса табачной мозаики методами атомно-силовой микроскопии» Поверхность, РСНИ, (7), 104−108, (1999).
  910. И. В., Большакова А. В., Логинов Б. А., Протасенко В. В., Суворов А. Л., Козодаев М. А., Волнин Д. С., «Микроскопический контроль на содержание вируса полиомиелита» Поверхность, РСНИ, (7), 100−103, (1999).
  911. И. В., «Молекулярно-биологические, микробиологические и медицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии» Поверхность, РСНИ, (7), 95−99, (1999).
  912. И. В., Тишин А. М., «Магнитно-силовая микроскопия поверхности» Успехи химии, 68 (3), 187−193, (1999).
  913. О. И., Яминский И. В., «Сканирующая зондовая микроскопия белков и белокмембранных комплексов» Коллоидный журнал, 61 (1), 5−24, (1999).
  914. Kiselyova O. I, Yaminsky I. V, Ivanov Y. D, Kanaeva I. P, Kuznetsov V. Yu, Archakov A. I,
  915. AFM study of membrane proteins, cytochrome P450 2B4, and NADPH cytochrome P450 reductase and their complex formation» Archives of biochemistry and biophysics, 371 (1), 1−7, (1999).
  916. Pochtenny A. E, Misevich A. V, Yaminsky I. V, Gallyamov M. 0, Solonovich V. K, Stukalov
  917. Sergeev V. S, Mikhailenko S. V, Pyshkina 0. A, Yaminsky I. V, Yoshikawa K, «How Does Alcohol Dissolve the Complex of DNA with a Cationic Surfactant?» J. American Chemical Society, 121 (9), 1780−1785, (1999).
  918. Gavrilov S. A, Gusev V. V, Dneprovskii V. S, Zhukov E. A, Syrnikov A. N, Yaminsky I. V, Muljarov E. A, «Optical properties of excitons in CdS semiconductor-insulator quantum wires» JETP Letters, 70 (3), 216−221, (1999).
  919. Yaminsky I. V, Tishin A.M., «Magnetic force microscopy» Russian Chemical Reviews, 68 (3), 165−170, (1999).
  920. Kiselyova O. I, Yaminsky I. V, «Scanning probe microscopy of protein and protein-membranes complexes» Colloid Journal, 61 (1), 1−19, (1999).
  921. Davankov V. A, Ilyin M. M, Timofeeva G. I, Tsyurupa M. P, Yaminsky I. V, «Atomic Force Microscopy Imaging of Novel Macromolecular Species, Nanosponges, and Their Clusters» Journal of Polymer Science, 37, 1451−1455, (1999).
  922. Kiselyova O. I, Guryev O. L, Krivosheev A. V, Usanov S. A, Yaminsky I. V, «Atomic force microscopy studies of Langmuir-Blodgett films of cytochrome P450scc: hemeprotein aggregation states and interaction with lipids» Langmuir, 15 (4), 1353−1359, (1999)
  923. Rudoi V. M, Yaminskii I. V, Ogarev V. A, «Effect of Photooxidation on the Surface Properties of Polystyrene» Polymer Science, 41 (10), 289−291, (1999)
  924. О. И, Ягужинский Л. С, Яминский И. В, Янюшин М. Ф, «Образование квазикристаллических наноструктур из АТФ- синтетазного белкового комплекса, включенного в мембрану протеолипосом» Коллоидный журнал, 62 (1), (2000)
  925. G. К, Staroverov V. N, Agabekov V. Е, Gallyamov М. О, Yaminsky I. V, «Interpretation of SPM images of Langmuir-Blodgett films based on long-chain carboxylic acids» Thin Solid Films, 359, 98−103, (2000)
  926. НИИ Дельта, Лускинович П.Н.
  927. Владимиров Г. Г, Лускинович П. Н, Никишин В. И, «Нанотехнология новое направлениев создании изделий электронной техники» Электронная промышленность, No 9, 33−35 (1987)
  928. Владимиров Г. Г, Гавлина Г. С, Лускинович П. Н, Никишин В. И, «О возможности направленной термической десорбции частиц с острия» Микроэлектроника, 18(5), 464−468 (1989)
  929. Nikishin V. I, Luskinovich P. N, Ryzhikov I. A, Nanotechnological complex// Proc. NANO-1, Abstract. Baltimore, p. 120, (1990)
  930. Luskinovich P. N, Nikishin V. I, Ryzhikov I. A, Nanoelectronics based on scanning tunneling microscope// IEEE International Solid State Circuits Conference, USA, Abstract. Baltimore, p. 64, (1992)
  931. Gorelkin I. V, Menshutin L. N, Luskinovich P. N, Maklakov S. A, Petrov V. I, Ryzhikov I. A, STM local vacuum chemical deposition on nano-scale objects in gas-vapor mixture fluxes// Proc. NANO-2, Herald of Russian Acad. Tech. Sci, V. l, № 7, p. 136−149, (1994)
  932. Ю4. Nikishin V. I, Luskinovich P. N, Ryzhikov I. A, Denisov A. V, Nanotechnalogical systems// Proc. NANO-2, Herald of Russian Acad. Tech. Sci, V. l, № 7, p. 18−28, (1994)
  933. Ryzhikov I. A, Luskinovich P. N, Gutman E. E, Technological aspects of cluster films applications in nanoelectronics with the use of STM // Proc. NANO-3, Abstract. Baltimore, p. 256, (1994)
  934. Ryzhikov I. A, Kuzkin V. I, Maklakov S. A, Obukhov I. A, The shade effect on STM stimulated local deposition of the organic nano — objects // Proc. NANO-4, Abstract. Beijing, p. Ill, (1996)
  935. Рыжиков И. А, Нанотехнология сегодня// 1-я Международная крымская конференция «СВЧ техника и телекоммуникационные технологии», Крымико-97, Севастополь, т.1, с. 69−72, (1997)1. МИЭТ, Неволин В.К.
  936. Неволин В. К, «Пластическая нанодеформация образцов в туннельном микроскопе» -Письма в ЖТФ, 14(16), 1458−1460 (1988)
  937. Бессольцев В. А, Неволин В. К, «Формирование металлических и молекулярных микропроводников в туннельном микроскопе» Электронная промышленность, 2, 57−58, (1992).
  938. Неволин В. К, «Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии» Электронная промышленность, 10, 8−11, (1993)
  939. Неволин В. К, «Туннельно-зондовая нанотехнология в газах и жидкостях» Электронная промышленность, 10, 11−15, (1993).
  940. Гринько В. Б, Неволин В. К, «Локальная модификация металлических пленок» Электронная промышленность, 10, 21−23, (1993).
  941. Неволин В. К, «Локальная электродинамическая модификация поверхности подложек» -Электронная промышленность, 10, 23−25, (1993).
  942. Бессольцев В. А, Боровик Д. И, Гусев А. Н, Гринько В. В, Иванов А. Ю, Неволин В. К, Хлебников Ю. Б, «Сканирующий туннельный микроскоп для локального воздействия в наномет-ровой области» Электронная промышленность, 10, 15−17, (1993).
  943. В.К. Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии // Электронная промышленность. 1993. № 10. С.8−15.
  944. Арбузов М. А, Неволин В. К, «Локальная глубинная модификация полупроводниковых материалов» Электронная промышленность, 10, 17−19, (1993).
  945. Неволин В. К, «Электронные устройства с элементами нанометровых размеров» Электронная промышленность, 10, 20, (1993).
  946. В.К. Квантовые свойства контактов в сканирующих туннельных микроскопах // Письма в ЖТФ. 1995. Т.21. В.21. С.5−8.
  947. В.К. Учебное пособие «Основы туннельно-зондовой нанотехнологии» для студентов старших курсов и аспирантов. (Части 1, 2, 3, Части 4, 5, Части 6, 7, Часть 8, Часть 9). // (М. МГИЭТ. 1996. 90с.)
  948. В.К. Вольтамперные характеристики казиодномерных микропроводников // Письмав ЖТФ .1996. Т.22. В.21. С.57−60.
  949. Неволин В. К, «Пластическая нанодеформация образцов в туннельном микроскопе» -Письма в ЖТФ, 14(16), 1458−1460 (1988).
  950. Волков А. Б, Неволин В. К. Нелинейные свойства точечных микроконтактов, формируемых туннельным зондом // Радиотехника и электроника, 1999, том 44, номер 11, с. 1373−1375
  951. В.К. Квантовый одночастичный транспорт // Известия вузов. Электроника номер 5, 1999
  952. B.V.Andryushechkin, K.N.Eltsov, V.M.Shevlyuga and V.Yu.Yurov, Direct STM observation of surface modifdication and growth of AgCl islands on Ag (lll) upon chlorination at room temperature, Surface Science 431 (1999) 96−108.1. ИРЭА
  953. Евдокимов A. A, Евдокимов M. B, Евтихиев H. H, Киселев A. B, Платонов H. C, Рыжов О. П, Сарычев B. H, «Автоматизированный комплекс СТМ-ЭВМ для исследований в области нанотехнологии» Электронная промышленность, No 6, 48−50, (1990).1. ИБОХ РАН
  954. Tuzov I. V, Klinov D. V, Demin V. V, «Catalytic method for modifying the surface of pyrolytic graphite» Russian Chemical Bulletin, 43 (7), 1128−1131, (1994)1. Госстандарт России
  955. Kozlitin A. I, Nikitin A. V, Repin O. I, Sterensky V.N. The Automatized Measurments of Ultra Small Dimensions with Using of the Theoretical Modeles and Natural Constants (The «Standardless» Method) // Journ. Of Advanced Materials. 1995, N5, pp24−29.
  956. B.B. Календин, А. И. Козлитин, A.B. Никитин, B.H. Сретенский. Метрологическое обеспечение автоматизированных измерений малых размеров с использованием теоретических моделей и мер. // Измерительная техника. 1997, N4, стр. 31−36.
  957. V.Ja Barash, Zh. Zhelkobaev, V.V. Kalendin «Radiooptical phase comparator of nanometric fand». // Proceeding of the 8th International Precision Engineering Seminar, Compiegne France, May, 1995, p. 117.
  958. P.A. Todua, Zh. Zhelkobaev, V.V. Kalendin «Fast laser two-frequency interferometer-psasemeter». «Proceeding of 5th IMEKO TC-14 Symposium on DIMENSIONAL METROLOGY in production and quality control SMQC-95» Zazagozo (Spain), October, p.21.
  959. В.В. Калейдин, А. И. Козлитин, А. В. Пилевин, В. Н. Сретенов «Метрологическое обеспечение измерений сверх малых размеров с использованием теоретических моделей, мер и природных констант. Измерительная техника, 1996 г., стр. 15−19.
  960. ИНПС РАН, Ст. Петербург, ГолубокА.О.
  961. М.П.Петров, М. В. Красинькова, В. И. Березкин, А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, С. Я. Типисев,
  962. Туннельная электронная спектроскопия сверхпроводящей керамики YBaCuO, Письма в ЖТФ, т. 14, № 10, с.942−946 (1988).
  963. А.О.Голубок, Д. Н. Давыдов, С. Я. Типисев, Осцилляции проводимости туннельных контактов металл-диэлектрик-сверхпроводник YBaCuO, Письма в ЖТФ, т. 14, № 24, с.2233−2236 (1988).
  964. А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, В. А. Тимофеев, С. Я. Типисев, Сканирующий туннельный микроскоп при атмосферном давлении. Сборник Научное приборостроение. Выпуск Электронно-ионная оптика. Ленинград «Наука» с.72−76 (1989)
  965. А.О. Голубок, Д. Н. Давыдов, С. А. Масалов, Д. В. Нахабцев, В. А. Тимофеев. Наблюдение поверхности графита при атмосферном давлении. Поверхность, № 3,с. 146−149(1989).
  966. Голубок А. О, Давыдов Д. Н, Нахабцев Д. В, Аппаратные и программные средства сканирующего туннельного микроскопа, Сборник Научное приборостроение, Выпуск Электронно-ионная оптика, Ленинград «Наука», с. 77−84 (1989).
  967. Л. Н, А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, С. Я. Типисев, Авторское свидетельство
  968. Способ регулирования зазора между двумя поверхностями проводящих электродов» № 1 499 321 от 8 апреля 1989 г.
  969. С. М. Войтенко, А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, В. А. Тимофеев, С. Я. Типисев, Авторское свидетельство «Туннельный микроскоп» № 1 520 609 от 8 июля 1989 г.
  970. А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, В. А. Тимофеев, С. Я. Типисев, Авторское свидетельство «Пьезоэлектрическое устройство перемещения № 1 541 741 от 8 октября 1989 г.
  971. А. О. Голубок, Н. А. Тарасов, О влиянии геометрических неоднородностей поверхности на измерение локальной работы выхода методом СТМ, Письма в ЖТФ, т. 16, вып. 11, с. 41−45 (1990).
  972. А. О. Голубок, Д. Н. Давыдов, С. Я. Типисев, Авторское свидетельство «Пьезоэлектрическое устройство позиционирования объекта» № 1 574 138 от 22 февраля 1990 г.
  973. Голубок А. О, Давыдов Д. Н, Мусихина Е. П, Кайданов В. И, Рыков С. А, «Локальная туннельная спектроскопия теллурида свинца в сканирующем туннельном микроскопе» Письма в ЖТФ, 17(2), 36−40 (1991).
  974. С. А. Виноградова,. О. Голубок, О. В. Коломыткин, С. Я. Типисев. Исследование пленок Ленгмюра-Блоджетт в сканирующем туннельном микроскопе при атмосферном давлении. Письма в ЖТФ, т. 17, вып. 3, с. 85−88 (1991).
  975. М. В. Иванов, С. А. Виноградова, А. О. Голубок, Получение СТМ-изображения в режиме постоянного туннельного расстояния. Научное приборостроение, № 1, 52−58 (1991).
  976. Виноградова С. А, Голубок А. О, Тарасов Н. А, Тимофеев В. А, «О возможности использования шумов СТМ изображения при исследовании поверхностных неоднородностей» — Научное приборостроение, 1 (3), 3−8 (1991).
  977. Kolomytkin O. V, Golubok А. О, Davydov D. N, Timofeev V. A, Vinogradova S. A, Tipisev S. Ya, «Ionic Channels in Langmuir Blodgett Films Imaged by a Scanning Tunneling Microscope» — Biophysical Journal, 59 (4), 889−893, (1991).
  978. Golubok A.O., Vinogradova S. A, Tipisev S. Y, Borisov A. Y, Taisova A. S, Kolomytkin O. V, «STM/STS study of photosynthetic bacterial membrane» Ultramicroscopy, 42−44, 1228−1235, (1992).
  979. Davydov D. N, Golubok A. O, Rykov S. A, «Local tunneling spectroscopy of n-РЬТе surface» -Ultramicroscopy, 42−44, 878−883, (1992). .
  980. A. 0. Golubok, S. A. Masalov and N. A. Tarasov, Thermofield tip formation in UHV/STM combined with field-emission microscope, Ultramicroscopy, 42−44, P. 1574−1579 (1992).
  981. A. 0. and V. A. Timofeev, STM combined with SEM without SEM capability limitations, Ultramicroscopy, 42−44, P. 1558−1563 (1992).
  982. А. О, В. А. Тимофеев, В. Ю. Аристов, С. Г. Гелахова, Сверхвысоковакуумный СТМ, совмещенный с электронным спектрометром ESCALAB-5, Научное приборостроение т. 2, № 1, с. 74−84 (1992).
  983. А. О, S. A. Vinogradova, S. Ya. Tipissev, Algorithms of Measuring, Processing and Interpretation of Data Obtained with Scanning Tunneling Microscope, Computers in Physics, v. 6 (4), p. 327 (1992).
  984. А. О, Г. M. Гурьянов, H. H. Леденцов, В. H. Петров, Ю. Б. Самсоненко, С. Я. Типисев, Г. Э. Цырлин, Фомирование массивов фасеток на вицинальных поверхностях GaAs (100) при молекулярно-пучковой эпитаксии. ФТП, т. 28, вып. 3, с. 515−518 (1994).
  985. Г. Э.Цырлин, А. О. Голубок, С. Я. Типисев, Н. Н. Леденцов, Г. М. Гурьянов. Квантовые точки InAs/GaAs, полученные методом субмонослойной миграционно-стимулированной эпитаксии. ФТП, т.29, вып. 9, с. 1697−1701 (1995).
  986. Cirlin G. E, Petrov V. N, Golubok A. O, Tipissev S. Y, Dubrovski V. G, Guryanov G. M, Ledentsov N. N, Bimberg D, «Effect of growth kinetic on the InAs/GaAs quantum dot arrays formation on vicinal surfaces» Surface Sci, 377−379, 895−898, (1997).
  987. С. Я. Типисев, H. Б. Пономарева, О. А. Голубок, В В. Малев, В. В. Кондратьев. СТМ -визуализация поверхности электрохимически осажденных пленок берлинской лазури. Электрохимия, т. 34, № 1, с. 90−96 (1998).
  988. S. Ya. Tipissev and А. О. Golubok. Nanostep movement and measurement, Tribology International v. 29 (5), p. 373−376 (1996).
  989. Г. Э. Цырлин, В. H. Петров, В. Г. Дубровский, Н. К. Поляков, С. Я. Типисев, А. О. Голубок, Н. Н. Леденцов. Формирование наноструктур InGaAs/GaAs методами субмонослойного напыления из молекулярных пучков. ФТП, т. 31, вьп. 1. 8, с. 902−907 (1997)
  990. G.li.C'irlin, V.N.Petrov. A.O.Golubok, S.Ya.Tipissev, V.G.Dubrovskii, G.M.Guryanov, N.N.Ledenlsov, D. Bimberg, Effect of growth kinetics on the InAs/GaAs quantum dot arrays formation on vicinal surfaces, Surface Science, v.377−379,p.895−898(1997).
  991. А.О.Голубок, И. Д. Сапожников, А. М. Соловьев, С. Я. Типисев. Комбинированные методики сканирующей туннельной и силовой микроскопии. Микроэлектроника, т. 26, вып.4, с. 291−296 (1997).
  992. Г. Э.Цырлин, В. Н. Пегров, С. А. Масалов, А. О. Голубок, Н. Н. Леденцов. Самоорганизация квантовых точек в многослойных структурах InAs/GaAs и InGaAs/GaAs при субмонослойной миграционно-стимулированнойэпитаксии. Письма в л. 1 ',.' т.23, выи22, с.80−84(1997).
  993. Г. Э.Цырлин, В. Н. Петров, В. Г. Дубровский, С. А. Масалов, А. О. Голубок, Н. И. Комяк, Н. Н. Леденцов, Ж. И. Алферов, Д.Бимберг. Получение InAs квантовых точек на кремнии. Письма в ЖТФ, т.24,вын.8,с. 10−15(1998).
  994. В.И. Иванов-Омский, А. О. Голубок, С. Г. Ястребов, С. А. Масалов, В. В. Розанов. Исследование поверхности пленок алмазоподобного углерода, легированного медью. Письма в ЖТФ, т. 24, N20 (1998
  995. Ст. Петербургский ГУ, Адамчук В.К.
  996. Адамчук В. К, Ермаков А. В, Любинецкий И. В, Житомирский Г. А, Панич А. Е, «Сканирующий туннельный микроскоп на основе монолитного пьезоэлемента крестообразного сечения» -ПТЭ, No 5, 182−184, (1989).
  997. В.К., Ермаков А. В., Любинецкий И. В., «Сканирующий туннельный микроскоп с атомным разрешением на воздухе» Письма в ЖТФ, 14 (8), 692−695, (1988).
  998. V.K., Ermakov A.V., «Device for direct writing and reading-out of information based on the scanning tunneling microscope» Ultramicroscopy, 45 (1), 1−4, (1992).
  999. V.K., Ermakov A.V., Fedoseenko S.I., «Scanning tunneling microscope with large scan range» Ultramicroscopy, 42/44, 1602−1605, (1992).1. ЛОМО, Либенсон M.H.
  1000. M.N.Libenson, G.A.Martsinovsky «Peculiarities of photoexcitation and heating of surface in nanooptics», Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1995, SPIE Proc., v. 2714, 305−311 (1995)
  1001. V. Kurpas, M. Libenson, G. Martsinovsky «Laser heating of near-field probes», Ultramicroscopy, 1995, v.61, pp. 187−190.
  1002. V.S., Libenson M.N. «Surface Polaritons Propagation along Micropipettes», Ultramicroscopy, 1995, v. 57, pp. 277−281
  1003. Ю.Г. Гузовский, M.H. Либенсон, Г. А. Марциновский «Особенности фотовозбуждения и нагрева поверхности в нанооптике». Известия РАН. Секция физическая, 1997, том 61, номер 7, стр. 1031−1035.
  1004. B.E., Либенсон M.H., Марциновский Г. А., «Применение оптической ближнеполь-ной микроскопии в исследованиях поверхностного лазерного пробоя прозрачных сред», Поверхность, 1998, т.2, стр. 37−44.
  1005. М.Н., Марциновский Г. А., «Особенности теплового воздействия на тонкий слой в ближнем поле», Поверхность, 1998, т.2, стр. 32−36
  1006. A.A.Bukharaev, F.F.Gubaydullin, Y.S.Lobkov, N.V.Berdunov «Scanning tunnelling microscopy and spectroscopy of silicon surfaces after ion and laser modification» Phys.Stat.Sol. (A), 1992, v.131, P.79−87.
  1007. A.A.Bukharaev «Diagnosis of a surface by scanning tunnelling microscopy. (Review)» Russian Industrial Laboratory, 1994, v. 60, N 10, P. 5 8 9−5 97.
  1008. A.A.Bukharaev, V.S. Lobkov, V.M.Yanduganov, E.A.Samarsky, N.V.Berdunov «Scanning Probe Microscopy of Diffraction Gratings Induced by Laser Radiation» Optics and Spectroscopy, 1995, v.79, N 3, P. 384−391.
  1009. A.A.Bukharaev, EA. Samarsky, V.M.Yanduganov, N.V.Berdunov, P.G.Antonov «Effect of stimulated adsorption in STM investigation of Si surface in Ambient Air» J.Vac.Sci.Technol.B1995 13(3), P. 1274−1279.
  1010. A.A.Bukharaev, E.A.Samarsky, V.M.Yanduganov, N.V.Berdunov «Atomic force microscopy of laser induced sub-micrometer periodic structures on implanted fused silica and silicon» Applied Surface Science, 1996, v. 103, P. 49−54.
  1011. A.A.Bukharaev «Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams» Physics-Uspekhi, 1996, v. 39, N 2, P. 193−196.
  1012. Bukharaev A. A, D.V.Ovchinnikov, E.F.Kukovitskii, N.I.Nurgazizov, N.A.Sainov «Scanning Probe Microscopy of Catalytic Nickel Particles Obtained from Carbon Nanotubes» Russian Physics of the Solid State, 1997 v. 39, N 11, P. 2065−2072
  1013. A.A.Bukharaev, N.V.Berdunov, D.V.Ovchinnikov, K.M.Salikhov «Three-Dimensional Probe and Surface Reconstruction for Atomic Force Microscopy Using Deconvolution Algorithm» Scanning Microscopy, 1997 Vol. 11
  1014. A.A.Bukharaev, N.V.Berdunov, D.V.Ovchinnikov, K.M.Salikhov «Atomic Force Microscopy for Metrology of Micro- and Nanostructures» Russian Microelectronics, 1997, v.26, N3, P 137−148.
  1015. A.A.Bukharaev, D.V.Ovchinnikov, A.A.Bukliaraeva «Diagnosis of a surface by scanning force microscopy. (Review)» Russian Industrial Laboratory, 1997, No 5, P. 10−27.1. Уфа, Бахтизин Р.З.
  1016. V. G. Valeyev. Tunneling in the representation of scattering states. Surface Science, vol. 266, 274 281 (1992).
  1017. R.Z. Bakhtizin, Ch. Park, T. Hashizume and T. Sakurai. «Scanning tunneling microscopy study of the 3rl reconstruction induced by Li adsorption on the Si (lll) surface». Appl. Surf. Sci. 1995. V. 87/88. P. 347−352.
  1018. R.Z. Bakhtizin, Ch. Park, T. Hashizume and T. Sakurai. «Investigation of the atomic structure of Si (100) surface covered by submonolayer Bi film». JETP. 1995. V. 108. No. 3(9). P. 977−989(in Russian).
  1019. R.Z. Bakhtizin, J. Kishimoto, T. Hashizume and T. Sakurai. «STM observation of ordered structures on the Si (100)-2rl-Sr surface». Physics of Low-Dimensional Structures (PLDS). 1995. V. 12. P. 63−70.
  1020. R.Z. Bakhtizin. J. Kishimoto, T. Hashizume and T. Sakurai. «STM study of Sr adsorption on Si (100) surface». Appl. Surf. Sci. 1996. V. 94/95. P. 478−484.
  1021. R.Z. Bakhtizin, J. Kishimoto. T. Hashizume and T. Sakurai. «Scanning tunneling of Sr adsorption on the Si (100)-2rl surface». Journal of Vac. Sci. and Technol. B. 1996. V. 14(2). P. 1000−1004.
  1022. R.Z. Bakhtizin, R.N. Amirkhanov and S.S. Ghots. «Autocorrelation function of 1/f current fluctuations in vacuum microelectronics devices». Journal of Vac. Sci. and Technol. B. 1996. V. 14(3). P. 2135−2137.
  1023. R.Z. Bakhtizin, T. Hashizume, X.-D. Wang and T. Sakurai."Scanning tunneling microscopy of fullerenes on metal and semiconductor surfaces» Physics-Uspekhi (Uspekhi Fizicheskhikh Nauk) 1997. V. 167. No. 3. P. 289−307. (in Russian).
  1024. R.Z. Bakhtizin, Ch. Park, T. Hashizume and T. Sakurai. «Scanning tunneling microscopy study of Li adsorption on the Si (lll) surface». Physics of Low-Dimensional Structures (PLDS). 1997. V. ¾. P. 39−48.
  1025. R.Z. Bakhtizin, Qikun Xue, T. Hashizume and T. Sakurai. «Atomic structures of gallium-rich GaAs (001)-4r2 and GaAs (001)-4r6 surfaces». JETP. 1997. V. 111. No. 5. P. 1858−1868 (inRussian).
  1026. R.Z. Bakhtizin, Qikun Xue, T. Hashizume and T. Sakurai. «Atomic structures on a GaAs (OOl) surface grown by molecular beam epitaxy». Physics-Uspekhi (Uspekhi Fizicheskhikh Nauk) 1997. V. 167. No. 11. P. 1227−1241. (in Russian).
  1027. V. G. Valeyev. Dynamic admittance of a tunnel junction. Материалы Всероссийского совещания «Зондовая Микроскопия 98», Нижний Новгород, 2−5 марта 1998 г, стр. 201 -203.
  1028. Работы, выполненные на приборах НТ-МДТ
  1029. Е.А. Mazurina, I.V. Myagkov, S.V. Ayrapetiants, V.V. Losev, A.T. Dembo. Mono- and multilayers from heptadecylcarboxy-tetrathiofulvalen modified by the surface-inactive electron acceptors. Molecular Materials, 2000, Vol. 12, pp. 27−43.
  1030. V.R. Novak, V.V. Zhizliimontov, A.V. Belyayev, V.A. Bykov. Surface Morphology of Arachidic Acid Cd Arachidate Lb-Films Studied with SFM. Molecular Materials, 2000, Vol. 12, pp. 111−123.
  1031. , D.L. Веке, E. Gontier-Moya, I.A. Szabo, E. Gillet. Surface Ostwald ripening of Pd nanopar-ticles on the MgO (100) surface. Applied Physics A Materials Science & Processing, Volume 71, Issue 1, pp 19−22.
  1032. Kikuieshi A, V. Palyok, M. Slliplyak, I.A. Szabo, D.L. Веке. Photo-induced surface deformation during hologram recording in a-Se films. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, Vol. 2, No. 1, March 2000, pp. 95−98.
  1033. Blinov L. M, V. M. Fridkin, S. P. Palto, A. V. Bune, P. A. Dowben, S. Ducharme. Two-Dimensional Ferroelectrics (Review). Physics progress, Mart 2000, Volume 170, Issue 3, pp. 245−262.
  1034. Блинов JIM, B.M. Фридкин, С П. Палто, A.B. Буне, П. А. Даубен, С. Дюшарм. Двумерные сегнетоэлектрики (Обзор актуальных проблем). Успехи физических наук, Март 2000 г, том 170, № 3, стр. 245−262.
  1035. Р.В. Гайнутдинов, А. И. Виленский, А. Л. Толстихина. АСМ в исследовании тонкой структуры трека в пленках полиэтилентерефталата, облученного высокоэнергетическими ионами Хе.
  1036. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия 2000». Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г, ИФН РАН, стр. 187−191.
  1037. В.А. Быков, С. Н. Кацур, Б. К. Медведев, С. А. Саунин, Д. Ю. Соколов. Мода динамических сил в СЗМ и результаты исследования. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия -2000». Нижний Новгород, 28 февраля 2 марта 2000 г, ИФН РАН, стр. 274−278.
  1038. A.M. Алексеев, В. А. Быков, А. И. Бузин, С. А. Саунин. Применение методов мультимодовой СЗМ в исследовании полимеров. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия -2000». Нижний Новгород, 28 февраля 2 марта 2000 г, ИФН РАН, стр. 287−291.
  1039. В.А. Быков, В. В. Дремов, В. Лосев, С. А. Саунин, Г. М. Михайлов. Зонды «вискерс-типа» и магнитно-силовые зонды для СЗМ. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия 2000». Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г, ИФН РАН, стр. 298−302.
  1040. Tolstikhina A. L, N.V. Belugina and S.A. Shikin. AFM characterization of domain structure of ferroelectric TGS crystals on a nanoscale. Ultramicroscopy, Volume 82, Issue 1−4, 2000, pp. 149−152.
  1041. Адамов Ю. А, H.B. Корнеев, В. Г. Мокеров, В. К. Неволин. Формирование и электрические свойства планарных 20-наноразмерных структур. Микросистемная техника, 2000, № 1, с. 13−16.
  1042. В.А. Микромеханика для сканирующей зандовой микроскопии и нанотехнологии. Микросистемная техника, 2000, № 1, с. 21−33.
  1043. R., Е. Frydman, S. R. Cohen, J. Sagiv. Constructive Nanolithography: Site-Defined Silver Self-Assembly on Nanoelectrochemically Patterned Monolayer Templates. Advanced Materials, Volume 12, Issue 6, 2000, pp. 424−429.
  1044. Rothschild A., S.R. Cohen, R. Tenne. WS2 nanotubes as tips in scanning probe microscopy. Applied Physics Letters, Volume 75, Number 25, 20 December 1999.
  1045. A.V. Ankudinov, A.N. Titkov, T.V. Shubina, S.V. Ivanov, P. S. Kop’ev, H.-J., Lugauer, G. Reuscher, M. Keim, A. Waag, G. Landwehr. Cross-sectional atomic force microscopy of ZnMgSSe- and BeMgZnSe-based laser diodes. Appl.Phys.Lett. 75(17), p.2626 (1999)
  1046. D. Sentenac, A. L. Demirel, J. Lub, and W. H. de Jeu*. A New Lamellar Morphology of a Hybrid Amorphous/Liquid Crystalline Block Copolymer Film. Macromolecules 1999, 32(10), 3235−3240
  1047. A.B., В.П. Евтихиев, B.E. Токранов, В.П. Улин, А. Н. Титков. Нанорельеф окисленной поверхности скола решетки чередующихся гетерослоев Ga0.7A10.3As и GaAs. Физика и техника полупроводников, 1999, том 33, вып. 5, стр. 594−597.
  1048. П.А., А.Л. Толстихина, В. Н. Демидов. Система параметров для анализа шероховатости и микрорельефа поверхности материалов в сканирующей зондовой микроскопии. «Заводская лаборатория. Диагностика материалов.», № 9, том 65, с. 27−37.
  1049. Grekhov I., L. Delimova, I. Liniichuk, A. Lyublinsky, I. Veselovsky, A. Titkov, M. Dunaevsky, V. Sakharov. Growth mode study of ultrathin HTSC YBCO films on YBaCuNbO buffer. Physica С 324 1999 39−46.
  1050. Kikineshi A., V. Palyok, A. Mishak, I. Szabo, D.L.Beke. Surface relief formation at hologram recording in a-Se/As2S3 nanolayered films. Functional materials. V.6, No.3, pp. 413−417. (1999)
  1051. Imre A., E. Gontier-Moya, D.L. Веке, I.A. Szabo and G. Erdelyi. Ostwald ripening of Pd particles on the (10) surface of sapphire. Surface Science, Vol. 441 (1) (1999) pp. 133−139.
  1052. Ю. П. А. Арутюнов, А. Л. Толстихина. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть I. Микроэлектроника, 1999, том 28, № 6, с. 405−414.
  1053. П.А. Арутюнов, А. Л. Толстихина. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть II. Микроэлектроника, 1999, том 29, № 1, с. 13−22.
  1054. Толстихина А. Л, П. А. Арутюнов, ИК РАН. Исследование морфологии пленок ТЮ2 методом АСМ. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия 1999». Нижний Новгород, 10−13 марта 1999 т, ИФН РАН, стр. 250−255.
  1055. Э.В.Касаткин, Е. Б. Небурчилова. Расчет локальных эффективных потенциальных барьеров туннелирования электрона по данным in-situ электрохимических СТМ и СТС-измерений. // М.: Труды XI симпозиума «Современная химическая физика Тз’апсе-99».
  1056. Э.В.Касаткин. Новые анодные материалы для электросинтеза окислителей и методы исследования их поверхности.// Труды V сессии Международной школы «Инженерно-химическая наука для передовых технологий» М.: НИФХИ, 1999, т. 1, с.47−66.
  1057. В .А. Быков, Б. К. Медведев, Д. Ю. Соколов, В. В. Лосев, ЗАО НТ-МТД. Мультимодовый сверхвысоковакуумный СЗМ СОЛВЕР-UHV. Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия -1999». Нижний Новгород, 10−13 марта 1999 г, ИФН РАН, стр. 320−326.
  1058. И. А, Курочкин И. Н, Цибезов В. В, Кальнов С. JI, Денисов А. К, Киселёва О. И, Яминский И. В, «Структурные и функциональные свойства ленгмюровских антител на основе амфифильных полиэлектролитов» Биологические мембраны, 16(3), 325−335, (1999).
  1059. И. Н, Будашов И. А, Павельев А. Б, Денисов А. К, Скрипнюк В. В, Шабанов Г. А, «Биосенсорные системы на основе сканирующей зондовой микроскопии» Сенсорные системы, 12 (1), 122−134, (1998).
  1060. V. Palyok, A. Mishak, I. Szabo, D.L. Веке, A. Kikineshi. Photoinduced transformations and holographic recording in nanolayered a-Se/As2S3 and AsSe/As2S3 films. Applied Physics A Materials Science & Processing, Volume 68, Issue 4, pp 489−492. 1998 year
  1061. Stepanov A. L, D.E. Hole, А.А. Bukharaev, P.D. Townsend and N.I. Nurgazizov, Reduction of the size of the implanted silver nanoparticles in float glass during excimer laser annealing, Applied Surface Science (136) 4 (1998) pp. 298−305
  1062. V. Shevyakov, S. Lemeshko, V. Roschin. Conductive SPM probes of base Ti or W refractory compounds. Nanotechnology, 9 (1998) 352−355.
  1063. V. Bykov, A. Gologanov, V. Shevyakov. Test structure for SPM tip shape deconvolution. Applied Physics A Materials Science & Processing Abstract Volume 66 Issue 5 (1998) pp 499−502
  1064. Бухараев A. A, Д. Б. Овчинников, A.A. Бухараева. Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор). Заводская Лаборатория, Исследование структуры и свойств, Физические методы исследования и контроля, УДК620.187:539.25, с. 10−27.
  1065. V.A. Bykov. Langmuir-Blodgett films and nanotechnology. Biosensor & Bioelectronics Vol. 11, No. 9, pp. 923−932, 1996.
  1066. V.R. Novak, S.L. Vorob’eva, and I.V. Myagkov. Investigation of Langmuir Films of Fullerene Derivative Resulting by Addition of C60 to Tetracyanoethylene Oxide. Mol .Mat, Vol. 7, pp. 175−178, 1996.
  1067. Н.В. Булугина, А. Л. Толстихина. Исследование микрорельефа поверхности кристаллов сегнетоэлектриков ТГС и Rb2ZnC12 методов атомно-силовой микроскопии. Кристаллография, 1996, том 41, № 6, с. 1072−1076.
  1068. V.A. Fedirko, V.A. Bykov and M.D. Eremchenko. Scanning tunneling microscopy investigation offtillerene monolayers. Fresenius Journ. of Analytical Chemistry, 1996, v. 355, N 5−6, p. 707−710.
  1069. Alexander A. Kamnev, Alexander A. Smekhnov. Spectroscopic study of nickel (II) hydroxide surface modifications induced by a small iron (III) addition. Fresenius Journ. of Analytical Chemistry, 1996, v. 355, N5−6, p. 710−712.
  1070. P.JI. Каюшина, Н. Д. Степина, B.B. Беляев, Ю. И. Хургин, А. Л. Толстихина, В.В. Клечков-ская. Создание и структурное исследование тонких пленок лизоцима. Тезисы I конф. по высокоорганизованным соед. Июнь 1996 г. стр. 237−238
  1071. А.Л. Тостихина, К. Л. Сорокина. Особенности структуры аморфных пленок оксида титана в зависимости от условий получения Кристаллография, 1996, том 41, № 2, с.339−347.
  1072. А.А. Bukharaev «Scanning tunneling and atomic force microscopy of surface modified by ion and laser beams» Physics-Uspekhi 1996, v.39. N2, P.193−196.
  1073. A.A. Bukharaev, V.M. Janduganov, E.A. Samarsky, N.V. Berdunov. Atomic force microscopy of laser induced sub-micrometer periodic structures on implanted fused silica and silicon. Applied Surface Science 103 (1996) 49−54.
  1074. Э.В.Касаткин, Е. Б. Небурчилова. Сканирующая туннельная микроскопия поверхности платины при контролируемом потенциале и аппаратура для таких измерений. // ЭЛЕКТРОХИМИЯ1996, Т.32, № 8, С. 917−927.
  1075. F. Antolini, S. Paddeu, С. Nicolini. Heat stable Langmuir-Blodgett film of Glutathione-S-Transferase. Langmuir 1995, 11, 2719−2725.
  1076. C. Nicolini, M. Adami, T. Dubrovsky, V. Erokhin, P. Facci, P. Paschkevitsch, M. Sartore. High-sensitivity biosensor based on LB technology and on nanogravimetry. Sensors and Actuators В 24−25(1995) 121−128.
  1077. S. Dante, M. De Rosa, E. Maccioni, A. Morana, C. Nicolini, F. Rustichelli, Y.I. Troitsky, B. Yang. Thermal stability of bipolar lipid Langmuir Blodgett films by X-ray diffraction. Mol. Cryst. liq. Cryst. 1995, Vol. 262, pp. 191−207
  1078. T.S. Berzina, V.I. Troitsky, O.Ya. Neilands, I.V. Submale, C. Nicolini. Deposition of uniform fullerene films by LB technique. Thin Solid Films, 256 (1995) 186−191.
  1079. V. Erokhin, P. Facci, S. Carrar, C. Nicolini. Observation of room temperature mono-electron phenomena on nanometre-sized CdS partices. J. Phys. D: Apll. Phys. 28 (1995) 2534−2538. Printed in the UKN12.
  1080. T. Dubrovsky, A. Tronin, S. Dubrovskaya, S. Vakula, C. Nicolini. Immunological activity of IgG Langmuir films oriented by protein A sublayer. Sensors and Actuators В 23 (1995) 1−7.
  1081. V.I. Troitsky, T.S. Berzina, Ya.Ya. Katsen, O.Ya. Neilands, C.Nicolini. Conducting Langmuir-Blodgett films of heptadecylcarboxymethyl-BEDT-TTF. Synthetic Metals 74 (1995) 1−6.
  1082. E. Maccioni, P. Mariani, F. Rustichelli, H. Delacroix, V. Troitsky, A. Riccio, A. Gambacorta, M. De Rosa. X-ray diffraction structural analysis of Langmuir-Blodgett films using a pattern recognition approach. Thin Solid Films, 265 (1995) 74−83.
  1083. E.V.Kasatkin, E.B. Neburchilova Electrochemical and Scanning Tunnelling Microscopy investigation of single crystal and textured Platinum surfaces. // Abstracts of 6th International Frumkin Symposium, Moscow, 1995, p. 190.
  1084. Бухараев А. А, B.C. Лобков, В. М. Яндуганов, Е. А, Самарский, Бердунов Н. В. Сканирующая зондовая микроскопия дифракционных решеток, сформированных лазерных излучением. Оптика и Спектроскопия, 1995, том 79, N3, с.417−425.
  1085. P. Facci, V. Erokhin, A. Tronin, С. Nicolini. Formation of Ultrathin Semiconductor Films by CdS Nanostructure Aggregation. J. Phys. Cheml994, 98, 13 323−13 327.
  1086. P. Facci, V. Erokhin, C. Nicolini. Scanning tunnelling microscopy of a monolayer of reaction centres. Thin Solid Films, 243 (1994) 403−406.
  1087. F. Rustichelli, S. Dante, P. Mariani, I.V. Myagkov, V.I. Troitsky. Surface potential studies of monolayers of surfactant donor and acceptor molecules. Thin Solid Films, 242 (1994) 267−272.
  1088. V. Erokhin, S. Vakula, C. Nicoloni. Reversed micellar approach as a new tool for the formation and structural studies of protein Langmuir-Blodgett films. Thin Solid Films, 238 (1994) 88−94.
  1089. A., Т. Dubrovsky, C. De Nitti, A. Gussoni, V. Erokhin, C. Nicoloni. Langmuir-Blodgett films of immunoglobulines IgG. Ellipsometric study of the deposition process and of immunological activity. Thin Solid Films, 238 (1994) 127−132.
  1090. Male M., E. Stussi, D. De Rossi, T.S. Berzina, V.I. Troitsky. Scanning tunneling microscopy imaging of conducting Langmuir-Blodgett films. Thin Solid Films, 237 (1994) 225−230.
  1091. Facci P., V. Erokhin, C. Nicolini. Nanogravimetric gauge for surface density measurements and deposition analysis of Langmuir-Blodgett films. Thin Solid Films, 230 (1993) 86−89.
  1092. Nicolini С., V. Erokhin, F. Antolini, P. Catasti, P. Facci. Thermal stability of protein secondary structure in Langmuir-Blodgett films. Biochimica et Biophysica Acta, 1158 (1993) 273−278.
  1093. T.S. Berzina, V.I. Troitsky, E. Stussi, M. Mule, D. De Rossi. Conducting Langmuir-Blodgett films of hexadecyl-BEDT-TF charge-transfer salts with inorganic compounds. Synthetic Metals, 60 (1993) 111 114.
  1094. Теоретические аспекты СЗМ.
  1095. Burnham N.A., RJ. Colton, Н.М. Pollock, Interpretation of Force Curves in Force Microscopy//
  1096. Nanotechnology, 4, p.64−80, (1993)
  1097. K. Kobayashi, N. Isshiki and M. Tsukada, Effect of tip atomic structure on scanning tunneling spectroscopy// Solid State Communications, v.74, p.1187−1191, (1990)
  1098. Chen C. J, Origin of atomic resolution on metal surfaces in scanning tunneling microscopy// Phys. Rev. Lett, 65 (4), 448−451, (1990) — C.J. Chen// Phys.Rev.B (1990), v.42, p.8841
  1099. M.J. Filatov, O.V. Gritsenko and G.M. Zidomirov //Theor.Chim. Acta (1987) v.72, p.211.44. a) J.P. Rabe and S. Buchholz // Phys. Rev. Lett.(1991) v.66 p.2096. b) J.P. Rabe and S. Buchholz //Science (1991), v.253, p.424.
  1100. Sarld D. Scanning force microscopy with application to electrical, magnetic and atomic forces.
  1101. Oxford, Series on Optical Sci. 1991. -46. Scott R. A, Scheraga H.A./7 J.Chem.Phys, 1965, v.62, p. 2209. :47. Teachout R. R, Pack R. T,// Atomic Data. 1971, v.3(2), p. 195.
  1102. A. // J. Phys. Ghem, 1964, v.68, p.441.
  1103. Sttillinger P. H, Weber T. A,// Phys.Rev.B, 1985, v.31,p, 5262.
  1104. J.Bardeen, Phys.Rev.Lett, 6,57(1961)
  1105. W.A.Harrison, Electronic Structure and the Propertyies of Solids, Sab Francisco: Freeman Publ., 1980.
  1106. С. Caroli, R. Combescot, P. Nozieres, D. Saint-James, J .Phys. c4,916 (1971).
  1107. L.V.Keldysh, JETP, 20,1018(1965).
  1108. E.C. Goldberg, A. Martin-Roderom, R. Monreal, F. Flores // Phys.Rev. B39,5684(1988).
  1109. S.V.Meshkov, S.N.Molotkov, JETP, 73,906(1991) —
  1110. S.N.Molotkov, S.S.Nazin, I.S.Smimova, V.V.Tatarskii, JETP, 75,706(1992).
  1111. J.C. Slater, G.F.Koster //Phys.Rev, 94(1954)1498.
  1112. M.Miasek, Phys. Rev, 107(1957)92.
  1113. L.Hodges, H. Ehrenreich, W.D.Lang, Phys. Rev, 152(1966)505. >60. G. Dresselhaus, M.S.Dresselhaus, Phys. Rev, 160(1967)649.
  1114. F.M.Mueller, Phys. Rev, 153(1967)659.
  1115. R.F.Egorov, B.I.Roser, V.P.Shirokovskii, Phys. Status Solidi, 26(1968)391. '63. E.I.Zornberg, Phys. Rev, B 1 (1970)244.
  1116. V.Heine, Phys. Rev, 153(1967)673.
  1117. L.F.Matheiss, Phys .Rev, B 12(1975)2161.
  1118. N. Dude, C. Joanin, C. Gout, //Phys.Rev, B15(1977)2399-B15(1977)2329.
  1119. М.С. Desjonqueres, F. Cyrot-Lackmann, // Solid State Comm, 20(1976)855.
  1120. T.Wolfram, E.A.Kraut, F.J.Morin, Phys. Rev, B7(1973)1677.
  1121. E.N.Foo, H. Amar, M. Ausloos, Phys. Rev, B4(1971)3 3 5 0.
  1122. H. Shiba, Prog.Theor.Phys, 46(1971)77.
  1123. J.A.Blackman, D.M.Esterling, N.F.Berk, Phys. Rev, B4(1971)2412.
  1124. F.Brouers, J. Van der Rest, J. Phys, F2(1972) 1070.
  1125. F.Brouers, M. Cyrot, F. Cyrot-Lackmann, Phys. Rev, B7(1973)4370.
  1126. F .Ducastelle, J .Phys, F2(1972)468.
  1127. J.Friedel, J. Phys, F3(1973)785).
  1128. J.Callaway, Electrons in Finite and Infinite Structures, ed.P.Pharisean, L. Scheire (Plenum Press, 1. NY, 1976).
  1129. J.R.Reitz, Solid State Phys, 1(1955) 1.
  1130. P.O.Lowdin, J.Chem.Phys, 18(1950)365).
  1131. R.R.Sharma // Phys. Rev, B19(1979)2813.
  1132. J.M. Soler, A.M. Boaro, N. Garsia, H. Rohrer, Interatomic forces in scanning tunneling microscopy: giant corrugations of the graphite surface // Phys.Rev.Lett, 57 (4), 444−447, (1986)
  1133. G.A.Gamov, Z.Phys.51(1928)204−52(1928)510.
  1134. A.I. Baz, Ya. B .Zel'dovich, A.M. Perelomov, Reactions and Decaying Processes in Nonrelativis-tics Quantum Mechanics (Nauka, 1966, Moscow).
  1135. L.D. Landau, E.M. Lifshits, Quantum Mechanic (Nauka, Moscow, 1974).
  1136. S.V. Meshkov, S.N. Molotkov, Physica Scripta, 45(1992)283.
  1137. Molotkov S. N, Nazin S. S, Smirnova I. S, Tatarskii V. V, Theory of scanning tunneling spectroscopy: application to Si (100)2xl surface// Surface Science, 259, 339−350, (1991)1. Сканеры
  1138. Я. Экспериментальные методы в фотохимии и фотофизике//В 2-х томах. Т. 1. Пер. с англ. М.: Мир, 1985. — 608 с, ил.
  1139. Е. Г, Фельдман Н. Б. Пьезоэлектрическая керамика. М, Изд во «Советское радио», 1971, 200 стр., т. 4200 экз.
  1140. Rebecca Howland, Lisa Benatar. A Practical Guide to Scanning Probe Microscopy// Project Editor and Booklet Designer: Christy Symanski. Copyright 1996 by Park Scientific Instruments. 76s1. СЗМ полимеров
  1141. C.H. Магонов, Сканирующая силовая микроскопия полимеров и родственных материалов, ВМС, Сер. Б, 1996, т.38, № 1, с. 143−182.
  1142. S.N. Magonov, М.-Н. Whangbo, Surface analysis with STM and AFM, VCH, Weinheim, 1996, 323p.
  1143. M.-H. Whangbo, S. N. Magonov, H. Bengel, Tip-sample force interactions and surface stiffness in scanning probe microscopy, Probe Microscopy, 1997, 1, p.23.1. К главе 7. ЛБ-пленки
  1144. К. В. Blodgett, Phys.Rev.-.55,.391 (1939).
  1145. H. H. Race, S. S. Reynolds, J.Amer.Chem.Soc., 61, 1425 (1939).
  1146. H. Kuhn, D. Mobius and H. Bucher, «Spectroscopy of monolayer assemblies». in: Techniques of chemistry, v. l, pt 3B (ed. Weissberger A, Rossiter B. W: Willey Interscience, New York-Toronto pp.577 702, (1972).
  1147. К. H. Drexhage, «Interection of light with mono molecular dye layers». In: Progress in optics Xll (ed.Wolf, North-Nolland, 1974) pp.165−229.
  1148. H. Schoeler, К. H. Tews and H. Kuhn, J.Chem.Phys, 61, 5009 (1974).
  1149. E. E. Polymoropoulos, D. Mobius and H. Kuhn, J.Chem.Phys., 68, N8, 3918 (1978).
  1150. M. Sugi, T. Fukui and S. Iizima, Mol. Cryst, Liq.Cryst., 62, 165 (1980).
  1151. G. L. Gaines, Jr., J. Colloid and Interface Sci., 59, N3, 438 (1977).
  1152. H. Hasmonay, M. Vincent and M. Dupeyrat Thin Solid Films, 68, 21 (1980).
  1153. C. W. Pitt and L. M. Walpita, Thin Solid Films, 68, 101 (1980).
  1154. J. G. Petrov, H. Kuhn and D. Mobius, J. Colloid and Interface See., 73, 66 (1980)
  1155. J. G. Petrov, I. Kulelf and D. Platikand, J. Colloid and Interface See., 88, 29 (1982)
  1156. R. M. Richardson and S. J. Roser, Liq.Cryst., 2(6), 797 (1987)
  1157. M. R. Buhaenko, M. J. Grundy, R. M. Richardson and S. J. Roser, Thin Solid Films, 159, 253 (1988).
  1158. K. Kobayashi, K. Takaoka and S. Ochiai, Thin Solid Films, 159, 267 (1988).
  1159. C. W. Pitt and L. M. Walpita, Electrocomponent Science and Technology, 3, 191 (1977).
  1160. V. R. Novak, Mikroelectronika, 12, 181 (1983).
  1161. J. A. De Rose and R. M. Leblanc, Surface Science Reports, 22, 73 (1995).
  1162. M. Bardosova, B. Stiller, R. H. Tredgold, M. Woolley, P. Hodge, L. Brehmer, Thin Solid Films, 284−285,450(1996).
  1163. J. В. Peng and G.T. Barnes, Thin Solid Films, 284−285, 444 (1996).13. http:\ www.ntmdt.ru, NT-MDT, Zelenograd, Moscow, Russia.
  1164. Q. Zhong, D. Innis, K. Kjoller and V. B. Elings, Surf. Sci. Lett., 290, L688 (1993).
  1165. A. P. Husu, Yu. R. Vitenberg and V. A. Pal’mov, «.Roughness of surfaces. Theoretico-statistical approach», Moscow, Nauka, 1975 (inRuss.).
  1166. A. S. Toporetz, «Optics of roughness surface», Leningrad, Mashinostroeie, 1988 (in Russ.).
  1167. V. I. Trofimov and V. A. Osadchenko, «Growth and morphology of thin films», Moscow, Energoatomizdat, 1993 (inRuss.).
  1168. H.-G. Unger, «Planar optical waveguides and fibres», Clarendon Press. Oxford (1977).
  1169. P. Fromherz, C. Kemper and E. Maass, Thin Solid Films, 159, 405 (1988).
  1170. Т. Takenaka, K. Nogami, H. Gotom and R. Gotom, J.Coll.Int.Sci., 35, 395 (1971).
  1171. T. Takenaka, K. Nogami and H. Gotom, J.Coll.Int.Sci., 40, 409 (1971).
  1172. P. Chollet, J. Messier, and C. Rosilio, J.Chem.Phys. 64,1042 (1976).
  1173. D. L. Allara, J. D. Swalen, J.Chem.Phys., 86, 2700, (1982).
  1174. J. F. Rabolt, F. C. Burns, N. E. Schlotter and J. D. Swalen, J.Chem.Phys, 78, 946 (1983).
  1175. P. Fromherz, U. Oelschlagel and W. Wilke, Thin Solid Films, 159, 421 (1988).
  1176. ГНЦГосЛИИ ФП (атомарные ЗУ)
  1177. Емельянов А. В, Полторацкий Э. А, Самсонов Н. С. Постоянное ЗУ и метод записи. АС № 1 655 240. Пр. 30.01.1989.
  1178. Емельянов А. В, Полторацкий Э. А, Портнов С. М, Рябоконь В. Н, Самсонов Н. С. Атомарные запоминающие среды. Пути реализации проблемы. Электронная промышленность. N 7−8. 1994. С.50−54.
  1179. Lapshin R. V, Riabokon V.N. Scanning tunnel microscope measurements of the spatial characteristics of ordered surface nanostructures. NANO IV, Abstract booklet, Beijing, P.R.China, Septem- ber 812, 1996. P.143
  1180. Публикации по теме диссертациис верхним индексом (X)* по тексту диссертации)
  1181. V.A.Bykov. Lyotropic Liquid Crystal Technology as new Method of Structure Forming of Molecular Electronics// Second International Conference «Molecular Electronics and Biocomputers», UNESCO, AS of the USSR, Moscow, USSR, September 11−18, 1989, p.22−23.
  1182. V.A.Bykov, Aleksandrov A.I. ."Structure and Optical Properties of Aligned lyotropic Liquid Crystal Films"// Twelfth European Crystallographic Meeting, Moscow, USSR, August 20−29, 1989, vol.3, p.357
  1183. V.A.Bykov, HamerofF S. R, Lazarev P. I, Protasenko V. V, Samsonov N. S, Troitsky V.I. STM application in nanotechnology // Book of Abstracts, International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, 12−16 August, 1991, Interlaken Switzerland, р.31
  1184. В.А.Быков, A.B. Емельянов, Э. А. Полторацкий, Н. С. Самсонов. Наноэлектроника как перспектива развития микроэлектроники // Электронная промышленность, 1993 г, вып. 11−12, стр. 42−46
  1185. В.А.Быков, С. Н. Мазуренко, И. В. Мягков, Н. С. Самсонов. Перспективы молекулярной наноэлектроники// Тезисы докладов. Международная научно-техническая конференция «Микроэлектроника и информатика», 11−12 ноября 1993 г., Москва-Зеленоград, Россия, стр.13
  1186. В.А.Быков. Методы формирования и исследования пленок Ленгмюра Блоджетт и молекулярная нанотехнология // Электронная промышленность, 1994, вып.7−8, с.59−63
  1187. В.А., Иконников А. В., Кацур С. Ф., Еремченко М. Д., Саунин С. А., Шикин С. А. Сканирующий туннельный микроскоп и головка для него (варианты)// Патент РФ № 2 069 056. Приоритет от 18 апреля 1994 года
  1188. V.A.Bykov, V.A. Fedirko, M.D. Eremtchenko. Tunnel microscopy investigation of fullerene monolayers.// Book of abstracts XXIX Colloquium Spectroscopicum Internationale, Leipzig, Germany Aug.27 Sep. l, 1995, p.474.
  1189. V.A.Bykov, V.A.Fedirko. Scanning probe microscopy for biological object investigation.// In «Spectroscopy of Biolog. Molecules, ed. by J.C.Merlin, S. Turrell and J.P.Huvenne. Kliver Acad. Publ., Dordrecht/ Boston/ London, 1995, p. 471−472.
  1190. Быков B. A, Иконников A. B, Кацур С. Ф, Еремченко М. Д, Саунин С. А, Шикин С. А. Сканирующий зондовый микроскоп (варианты), его чувствительный элемент и способ юстировки кантилевера // Патент РФ № 2 072 735. Приоритет от 25 мая 1995 года.
  1191. A.I. Alexandrov, T.V. Pashkova, V.A. Bykov, I.V. Myagkov, V.R. Novak. Structure Investigations of Multilayered Molecular Systems Based on Conducting Monola)'ers// Mol. Mat, Vol. 5, pp. 223 -229, 1995.
  1192. V.A. Bykov, «Langmuir-Blodgett films and nanotechnology"// Biosensor & Bioelectronics Vol. 11, No. 9, pp. 923−932, 1996.
  1193. V.A.Bykov, V.A.Fedirko, M.D.Eremtchenko. Tunnel microscopy investigation of fullerene monolayers// Fresinius J. Anal. Chem. V355, N5−6, pp. 707−710, 1996.
  1194. V.A.Bykov, Scanning probe microscopy and nanotechnology// В коллективной монографии под редакцией проф. С. Nicolini «Molecular Manufacturing», Plenum Press, New York and London, Vol. 2, pp. 67−76, 1996.
  1195. В.А.Быков, М. И. Лазарев, С. А. Саунин. Сканирующая зондовая микроскопия для науки и промышленности// Электроника: наука, технология, бизнес. 1997. № 5. Стр. 101−124.
  1196. В.А.Быков, М. И. Лазарев, А. В. Тавров. Сканирующая зондовая микроскопия для науки и промышленности//Компьютерра. 13 октября 1997. № 41. Стр.38−42.
  1197. N.V.Dolgushev, A.A.Malkov, A.A.Malygin, S.A.Suvorov, A.V.Shchukarev, A.V.Beljaev, V.A.Bykov. Synthesis and characterization of nanosized titanium oxide films on the (0001) -A1203 surface// Thin Solid Films. 1997. 293. P.91−95.
  1198. В.А.Быков, М. И. Лазарев, С. А. Саунин. Зондовая микроскопия для биологии и медицины// Сенсорные системы. 1998. Том 12. Вып.1. Стр.99−121.
  1199. В.А.Быков. Новые приборы и разработки в сканирующей зондовой микроскопии// Материалы всероссийского совещания «Зондовая микроскопия 98». 1998. Нижний Новгород. 2−5 марта. ИФН РАН. Стр. ПО — 111.
  1200. V. Bykov, A. Gologanov, V. Shevyakov. Test structure for SPM tip shape deconvolution // Appl. Phys. A 66, 499 502 (1998)
  1201. В.А. Быков, Б. К. Медведев, Д. Ю. Соколов. Мультимодовый сверхвысоковакуумный СЗМ COJIBEP-UHV// Зондовая микроскопия 99. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 10−13 марта 1999 г., стр. 320 — 326.
  1202. Быков В. А, С. А. Саунин. Новые приборы и возможности в сканирующей зондовой микроскопии// Зондовая микроскопия 99. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 10−13 марта 1999 г., стр. 132 — 133.
  1203. V.R. Novak, V.V. Zhizhimontov, A.V. Belyaev, V.A. Bykov. Surface Morphology of Ara-chidic Acid Cd Arachidate LB-films Studied with SFM// Mol.Mat. v. 12, No.2, pp. 111−124 (2000)
  1204. Сотников П. С, Лазарев М. И, Быков В. А. Применение молекулярной технологии для решения проблем обеспечения продуктов питания витаминами и микроэлементами// Труды отделения микроэлектроники и информатики. Выпуск 3, 1999 год, Москва-Зеленоград.
  1205. В.А. Микромеханика для сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии// Труды отделения микроэлектроники и информатики. Выпуск 3, 1999 год, Москва-Зеленоград.
  1206. Беляев А. В, Быков В .А, Жижимонтов В. В, Лосев В. В, Саунин С. А. Сканирующий зондовый микроскоп для контроля качества поверхности больших пластин// Труды отделения микроэлектроники и информатики. Выпуск 3, 1999 год, Москва-Зеленоград.
  1207. Беляев А. В, Быков В. А, Жижимонтов В. В, Иконников А. В, Кацур С. Н, Самойленко А. Д, Саунин С. А. Универсальный сканирующий зондовый микроскоп COJ1BEP-P47// Труды отделения микроэлектроники и информатики. Выпуск 3, 1999 год, Москва-Зеленоград.
  1208. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 121 131 по заявке на изобретение № 971 022 018/28 (2 160) «Тестовая структура для градуировки сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 11.02.1997
  1209. Беляев А. В, Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 121 130 по заявке на изобретение № 97 101 994/28 (2 156) «Тестовая структура для определения формы и геометрических размеров иглы сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 11.02.1997
  1210. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 121 657 по заявке на изобретение № 97 107 635/28 (8 133) «Способ формирования кантилевера сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 08.05.1997
  1211. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 124 780 по заявке на изобретение № 9 623 203/09 (29 870) «Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 06.12.1996
  1212. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 124 251 по заявке на изобретение № 96 123 099/09 (29 880) «Многозондовый кантилевер для сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 06.12.96
  1213. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 121 656 по заявке на изобретение № 97 107 631/28 (8 127) «Тестовая структура для градуировки сканирующего зондового микроскопа"// приоритет от 08.05.1997
  1214. Быков В. А, Гологанов А. Н. Заявка на изобретение № 97 107 633/28 (8 131) «Кантилевер сканирующего зондового микроскопа».
  1215. Быков В. А, Гологанов А. Н. Патент РФ № 2 125 234 по заявке на изобретение № 97 107 634 «Способ изготовления кантилевера сканирующего зондового микроскопа» // приоритет от 08.05.1997.
  1216. Быков В. А, Иванов В. К, Саунин С. А, Соколов Д. Ю. Заявка на изобретение № 96 122 357/28(29 037) от 26 ноября 1996 «Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп» (находится на рассмотрении по ходатайству от 22.04.99)
  1217. Быков В. А, Гражулис В. А, Божко С. И, Саунин С. А, Соколов Д. Ю. Патент РФ № 2 152 103 по заявке на изобретение № 96 122 421, приоритет от 22 ноября 1996 «Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп
  1218. Быков В. А, Патент РФ № 2 152 063 по заявке на изобретение № 97 100 591 приоритет от 16 января 1997 «Сканирующий зондовый микроскоп».
  1219. Быков В. А, Беляев А. А, Медведев Б. К, Саунин С. А, Соколов Д. Ю. Сканирующий зондовый микроскоп.// Заявка на изобретение № 91 108 911/28(9 018). Приоритет от 22.04.1999. Положительное решение от 14 июля 1999 года.
  1220. Быков В. А, Медведев Б. К, Соколов Д. Ю. Сверхвысоковакуумная транспортная система для сканирующих зондовых микроскопов.// Заявка на изобретение № 91 108 910/28(9 016). Приоритет от 22.04.1999. Положительное решение от 14 июля 1999 года.
  1221. Быков В. А, Медведев Б. К, Соколов Д. Ю. Устройство нагрева для сканирующих зондовых микроскопов.// Заявка на изобретение № 91 109 201/28(9 003). Приоритет от 22.04.1999. Положительное решение от 14 июля 1999 года.
  1222. Быков В. А, Медведев Б. К, Соколов Д. Ю. Сканер термокомпенсированный// Заявка на изобретение № 91 109 202/28(9 004). Приоритет от 22.04.1999. Положительное решение от 14 июля 1999 года.
  1223. Сотников П. С, Быков В. А, Лазарев М. И. Способ получения витаминного препарата и способ получения водо-растворимого препаратаУ/ Заявка на изобретение № 97 113 341 от 15 августа 1997 года.
  1224. В.А. Быков. Фибриллярные лиотропные жидкие кристаллы и ориентированные пленки на их основе// Диссертация на соискание ученой степени к.ф.-м.н, Москва, Гос. НИИФП, 1997 год, ВНТИ Центр № 04.9.80 0 1 336.
  1225. В.А. Микромеханика для сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии// Микросистемная техника № 1 2000 год. Стр. 21 33
  1226. А. Быков. Концепция развития техники и методов СЗМ в период 2000 2002 годы // Зондовая микроскопия — 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г, стр.147−152
  1227. Быков В. А, Иконников А. В, Кацур С. Ф, Саунин С. А, Соколов Ю. И. Новый базовый электронный блок для управления СЗМ линии «Солвер"// Зондовая микроскопия 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г., стр.282−286
  1228. A.M., Быков В. А., Бузин А. И., Саунин С. А. Применение методов мультимо-довой СЗМ в исследованиях полимеров// Зондовая микроскопия 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г., стр.287−291
  1229. В. А., Дрёмов В. В., Михайлов Г. М., Лосев В. В., Саунин С. А. Зонды «вискер -типа» и магнитно-силовые зонды для СЗМ // Зондовая микроскопия 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г., стр.298−302
  1230. В.А., Мишачев В. И. Возможности кремниевой микромеханики для развития сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии // Зондовая микроскопия 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г., стр.292−297
  1231. В.А. Быков, С. Ф. Кацур, Б. К. Медведев, С. А. Саунин, Д. Ю. Соколов. Мода динамических сил в СЗМ и результаты исследований. // Зондовая микроскопия 2000. Материалы Всероссийского совещания. Нижний Новгород, 28 февраля — 2 марта 2000 г., стр.274−278
Заполнить форму текущей работой

Сессия? Спокойно!