Разработка стандартных образцов параметра кристаллической решетки для метрологического обеспечения дифрактометрии
Диссертация
Апробация работы. Основные положения и результаты диссертационной работы были представлены иа метрологических и кристаллографических отечественных и зарубежных совещаниях и конференциях: Всероссийской научно-практической конференции «Метрологическое обеспечение средств измерения массы и связанных с ней величин», г. Санкт-Петербург, 1998; Совещании общества материаловедов США (Materials Research… Читать ещё >
Список литературы
- Семенко Н.Г., Панева В. И., Лахов В. М. Стандартные образцы в системе обеспечения единства измерений. — М., Изд-во стандартов, 1990, 288 с.
- Шаевич А.Б. «Стандартные образцы для аналитических целей», М., Химия, 1987, 184 с.
- Шаевич А.Б. Измерение и нормирование химического состава веществ.-M., Изд-во стандартов, 1971, 280 с.
- Гличев A.B. Экономическая эффективность сложных систем. М., Экономика, 1971, 286 с.
- Шаевич А.Б. Аналитическая служба как система. М., Химия, 1981, 264 с.
- Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов, допущенные к выпуску и обращению в СССР. Описания утвержденных типов.-М., Изд-во стандартов, вып. 1−17 и последующие, 1978−1985 гг.
- Сох J.D. Reference Materials in the United Kingdom. Nat. Phys. Lab. Teddington, Middlesex, U.K. 1975.
- S RM User’s Roundtable.//ASTM Standardization News, 1979, v. 7, No 9.
- Славов С.H. Временная стабильность стандартных образцов состава «Доломит-ДМ» и «Габбро-ГВ'У/Измер. техника, No 7, с. 66 .
- Рекомендация МИ 2247−93 ГСИ. Метрология. Основные термины и определения. -Спб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1994.
- The 1986 COD ATA Recommended Values of the Fundamental Physical Constants.//J. Research of the National Bureau of Standards, 1987, v. 92, No 2, March-April 1987, pp. 85−94.
- Schaevich A.B.//CRC Critical Reviews in Analitical Chemistry, 1985, V. 15, Issue 3. P. 223−282.
- Шаевич P.Б. Получение и анализ веществ особой чистоты. Горький, Ин-т химии АН СССР, 1974,133 с.
- Бурдун Г. А., Марков Б. Н. Основы метрологии- — М: Изд-во стандартов, 1985, — С. 9.
- Земельман М.А., Миф Н.П. Планирование технических измерений и оценка их погрешностей —М: Изд-во стандартов. 1979. — 80 с.
- Семенко Н.Г. Роль стандартных образцов веществ и материалов в обеспечении единства измерения состава веществ// Измерительная техника. — 1985 —№ 3,—.С.48—50.
- Изменения в основных терминах и единицах измерения в связи с введением международной системы единиц (СИ//ЖАХ. — 1982. — Т. XXXVII, Вып 5,—С. 946—961.
- Нейман Ч.Я., Немодрук A.A. Применение Международной системы единиц в аналитической химии //Измерительная техника. 1983. — № 3. — С. 37−39.
- Горштейн Б.Я. Моль-единица количества вещества //Измерительная техника. — 1972. № 5. — С: 33—37.
- Macher A.M. Standard System for Laboratory Accreditation // ASTM Standard. News (США). —1978. — March. — P. 8—10.
- Шаевич А.Б., Панева В. И. Контроль и качество веществ и материалов по их химическому составу//Надежность и контроль качества.— 1969. —№ 1.— С. 155−160.
- Плинер Ю.Л., Свечникова Е. А., Огурцов В. М. Управление качеством химического анализа в металлургии. — М.: Металлургия, 1979. — 207 с.
- Шаевич Р.Б. Метрологические аспекты некоторых исходных задач материаловедения и стандартизации материалов // Измерительная техника. — 1972,—№ 7,—С. 21—24.
- Панева В.И., Захарова Э. Н. К оценке достоверности контроля состава материалов//Стандартные образцы в черной металлургии. М.: Металлургия. -1975,-№ 4.-С. 18—19.
- Марков H.H., Сацердотов H.A. Влияние погрешности измерения на результаты разбраковки// Измерительная техника. — 1968. —N 6. —С. 31—35.
- Коченов М.И. Вопросы точности автоматического контроля размеров// Вопросы точности и надежности в машиностроении. — М.: Изд-во АН СССР» 1962,-С. 46—68.
- Атамась С.Г., Бендерский A.M., Фомина Л. А. Некоторые вопросы обоснования и применения правил приемки и методов контроля в стандартах на продукцию//Стандарты и качество. — 1986.— № 2. — С. 46—49.
- Knappenberger М.А., Grandage A. Minimum Cost Quality Control Tests // AJJE. Trans. — 1969. — Vol. 1. — N 1. — P. 24—32.
- Horsnel G. Economical Acceptance Sampling Schemes // J. of the Royal Stat. Soc. — 1957. —Vol. 120. —P. 148—191.
- Anscombe F.J. Rectifying Inspection of a Continuous Output // J. Amer. Stat- Assoc.— 1958. — Vol. 53. — P. 702.
- Cowden D.J. Statistical Methods in Quality Control // Prentice Hall, Inc. Englewood Chiffs — 1957 -New Jersey, 1957.
- Yates F. Principles Governing the Amount of Experimentation in Development Work//Nature. — 1952, — Vol. 170.—P. 138.
- Богатырев А.А. Вопросы внедрения статистических методов управления качеством продукции в отраслях промышленности//Стандарты и качество. — 1986,—№ 2.-С. 44−47.
- Рекомендации по применению математической статистики при установлении норм и допусков на показатели качества продукции в государственных стандартах и других нормативно-технических документах//ВНИИС. — М., 1973, — 169 с.
- Рубичев Н.А., Сафонова С. С., Фрумкин В. Д. Выбор контрольных допусков при ограниченной точности образцовых средств//Метрология. — 1973. -№ 3, —С. 11—19.
- Шаевич А.Б., Панева В. И. Пути устранения несогласованности нормативов точности в стандартах марок и стандартах методов испытаний материалов// Метрология. — 1972. —№ 6. — С. 31—37.
- Панева В.И., Шаевич А. Б., Степанов А. В. Оценка достоверности контроля качества черновой меди по содержанию ведущего элемента//Стандарты и качество в металлургической промышленности: Сб. трудов/ВНИИС. — 1971.— Вып. 9,—С. 70—81.
- Гостев В.И. Вероятностный расчет норм и допусков на показатели качества продукции в стандартах и технических условиях//Стандарты и качество, — 1974. — № 7. — С. 83—818- № 9. с. 77—79.
- Разработка научных основ оценки погрешности измерений и назначения норм точности измерений при контроле качества изделий: Отчет о НИР/ ВНИИ Метрологической службы. — № ГР 01.82.83 147. — М., 1981.
- Семенко Н.Г., Панева В. И. Метрологическое обеспечение испытаний при определении химического состава веществ и материалов//Измерительная техника,—№ 9— 1983, —С. 13—15.
- Bohacek Р. Chemical Inhomogeenity of Materials and its Determination Compact Materials//Collection Czechoslov. Chem. Commun —Vol. 42,1977—P. 2982—3002.
- Семенко H.Г. Нормативно-технические требования ГСИ и основные задачи по их внедрению в практику измерений при определении состава веществ// Завод, лаб. — 1985. — № 6. — С. 7—10.
- Миф Н.П., Сапронов Б. А. Технико-экономические обоснования норм точности измерений в производстве//Измерительная техника. — 1976 — № 10. С. 10—13.
- Покровский A.B., Клепикова Т. Н., Свалова Л. И. Опыт метрологической экспертизы проектов государственных стандартов на вещества (материалы) и методы их испытаний//Измерительная техника. — 1980. — № 6. — С. 21—22.
- Золотов Ю.А. Перспективы развития аналитической химии//ЖАХ. —1985. — Том XI. — Вып. 4. — С. 747—759.
- Метрологическое обеспечение контроля состава материалов черной металлургии/Под ред. Плинера Ю. Л., — М.: Металлургия, 1981.— 248 с.
- Паршин А.К. и др. Оценка качества работы организаций — участников межлабораторного эксперимента и точностных характеристик применяемых ими методик анализа по результатам аттестации СО состава почв // ЖАХ. —1986, — Том XII. — Вып. 5. — С. 434—440.
- Michaelis R.E. The Role of Reference Materials in Analytical Chemistry // Pure and Appl. Chem. — 1974. — Vol. 49. — N 1 — P. 1483 1484.
- Райский C.M." Налимов B.B. К метрологии стандартных образцов для спектрального анализа// Журн. приклад, спектроскопии: — 1977. — Том XXV.— Вып. 5, —С. 927—931.
- Сапожников В.А., Налобин Д. Н. Сравнение алгоритмов оценки метрологических характеристик СО по результатам межлабораторных анализов// Тез. докл. III Всес. конф. по теоретической метрологии, 25—27 марта 1986 г. С. 214—216.
- Harris W.E. A Critical Examination of Analytical Error // Talanta. — 1988.— Vol. 25,—N6, —P. 325 -329.
- Сапожников В.А., Налобин Д. Н., Фирсанов В. А. Исследование алгоритмов оценки метрологических характеристик СО состава материалов по данным межлабораторного анализа// Завод, лаб. —№ 9, 1985. — С. 21—23.
- Кендал М., Стюарт А. Статистические выводы и связи. — М.: Наука, 1970.
- Закс JIM. Статистическое оценивание. — М.: Статистика, 1976.-143 с.
- Berlin A., Price A., Bromberg S. // Inter. Conf. on Enviromental Sensing and Assessment, Las Vegas-Nevada. — 1975. — Vol. 2. —- P. 36.
- Соловьев B.M., Куклин H.M., Степин B.B., Цеханский М. Н. Методика и практика приготовления материалов стандартных образцов химического состава/Тр. Всес. науч.-исслед. ин-та стандартных образцов. — М: Металлургия, 1965,—С. 3−9.
- Плинер Ю.Л., Жимнелева Э. Г. О погрешностях пробоотбора дисперных материалов//Зав. лаб. — 1971. — № 3. — С. 263—265.
- Плинер Ю.Л." Рубенштейн Е. А. Использование межфракционной изменчивости химического состава для измерения однородности дисперсных стандартных образцов//Зав. лаб. — 1971,—№ 11, С. 1315—1318.
- Плинер Ю.Л. и др. Оценка однородности стандартных образцов для химического анализа стали и чугунов//Бюлл. ЦНИИЧМ. 1969, — № 18. — С. 1525.
- Шеффе Г. Дисперсионный анализ. — М.: Физматгиз, 1967. — 463 с.
- Налимов В.В. Применение математической статистики при анализе веществ. — М.: Физматгиз, 1960. — 431 с.
- Налимов В.В. Теория эксперимента. — М.: Наука, 1971. — 207 с.
- Visman Т. A General Sampling Theory // Mater. Res. Stand. — 1969. — Vol. 9. — N 11. P. 8—13, 51—56, 62, 64, 66.
- Aston M.D., Valentin F.H. The Mixing of Powders and Particles in Industrial Mixers // Trans. Inst. Chen. Engr. 1987. 143 с/
- Уманский М.М., Хейкер Д. М., Зевин J1.C., // Кристаллография, т. 4, No 3, 1959, с. 372−381.
- Уманский Я.С. Рентгенография металлов и полупроводников М., 1963., //Физматгиз, 496 с.
- Горелик С.С., Скаков Ю. А., Расторгуев JI.H. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: -МИСИС-1994−328 с.
- Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М.А. Практический курс рентгеноструктурногой анализ в 2- т. М: Изд. МГУ-2 изд., т.1 -1964, 489 е., т.2−632 с.
- Азаров Л., Бургер М. Метод порошка в рентгенографии. ИЛ, — М., 1961.-381 с.
- Уманский М.М. Аппаратура рентгеноструктурных исследований. М., 1960. — Физматгиз, 1960 — 243 с.
- De Wries I.L., Philips N.V. X-ray Powder Diffraction in Europe. Advance in X-ray Anal., 1980, v.23, pp. 73−81.
- Ведерников Ю.Н., Викторов B.M., Владимиров E.H., Комяк Н. И., Мясников Ю.Г, Шашилов А. А. А.С. 664 093 (СССР). Рентгеновский дифрактометр, Б.И. СКБ РА, Л., 1979, No 19.
- Евграфов А.А. Автоматизированные рентгеновские дифрактометры. -ЦНИИТ ЭИ приборостроения. Москва, 1983, серия ТС-4 «Аналитические приборы и приборы для научных исследований», 62 с.
- Rontgen Diffractometer D-500. Проспект фирмы Siemens (ФРГ), 1995.
- PW1700 Automated Powder Diffraction System. Проспект фирмы Philips (Нидерланды), 1993.
- X-ray Diffraction System. Каталог фирмы Rigaku (Япония), 1995.
- Parrich W., // Acta Cryst. v. 13, No 10, 1960, pp.838−850.
- Pike E.R., Wilson A.J.S., // British J. Appl. Phys. 10, No 2, 1959, pp. 57−68.
- Зевин Л.С., Уманский M.M., Хейкер Д. М., Панченко Ю.М.,// //Кристаллография 6, 1961, No 3, 348−356.
- Отраслевой стандарт. Стандартные образцы кварцевых срезов. Методы и средства поверки. ОСТ 11.338.805−81.
- Balzar D., Ledbetter Н. and Bonefacic A. Transparency effects of a standard specimen in diffraction line broadening analysis// Materials Science Forum Vols. 166−169 (1994) pp. 79−84.
- Кодесс Б.Н., Медетбеков M.T. Исследование процессов самоорганизации структурных параметров поликристаллов в ВТСП материалах ВНИИМС, Москва Деп. ВИНИТИ, 48с, 25.06.96, N 2075-В96, 1996.
- Jorgensen J.D., Shiyou Pei, Lightfoot P., Hao Shi, Paulikas A.P., Veal B.W. Time-Dependent Structural Phenomena at Room Temperature in Quenched Yba2Cu306.4i. //Physica, v. С 167, 1990, pp. 571−578.
- Rusiecki S., Bucher В., Kaldis E., Jilek E., Karpinski J. Near equilibrium samples: anomalies of the lattice parameters and some physical properties. // Journal of the Less-Common Metals, 164&165,1990, pp. 31−38.
- Кодесс Б.Н., Бутман Л. А., Порай-Кошиц M.A. О стабильности иттриевых металлооксидов, //Доклады АН СССР, 1990, т.310, с. 583−587.
- Kruger Ch, Conder К., Schwer Н., Kaldis Е. The Dependence of the Lattice Parameters on Oxygen Content in Orthorhombic УВа2СизОб+х: A High Precision
- Reinvestigation of Near Equilibrium Samples. //Journal of Solid State Chemistry v. 134, 1997, p. 356−361.
- Rohler J., Link S., Conder K., Kaldis E. The Dimpling in the Cu02 Planes of YBa2Cu3Ox (x=6.806−6.984, T=20−300K) Measured by Yttrium EXAFS. //J. Phys. Chem. Solids, vol. 59, No. 10−12,1998, pp. 1925−1928.
- Kessler E.G., Henins A., Deslattes R.D., Nielsen L., Arif M., «Precision Comparison of the Lattice Parametrs of Silicon Monocrystals», //J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 99, 1994, p.l.
- Deslattes R.D., Staudenmann J-L., Hudson L.T., Henins A., Cline J.P., «Parallel Beam Powder Diffractometry Using a Laboratory X-Ray Source», Adv. X-ray. Anal., v. 41,(1997).
- Nelson J. В., Riley D. P. //Proc. Phys. Sos., 1945, v. 57, № 1, p. 160.
- Шаевич А.Б., Шаевич P.Б. Нормирование неоднородности материала стандартных образцов, аттестуемых партиями // Измерит, техника. — 1973. — № 2. -С. 9 — 12.
- Семенко Н.Г. Государственная служба стандартных образцов важное направление метрологической деятельности в народном хозяйстве //Измерительная техника. — 1985. — № 9. — С. 25 — 26.
- Классификатор свойств веществ и материалов. М.: Изд-во стандартов, 1980. — 132 с.
- Jlanno С.И., Кузьмин И. М., Силин А. В. Таблицы стандартных образцов черных металлов: Справочник. — М.: Металлургия, 1983, 136 с.
- Каталог стандартных образцов состава минерального сырья. М., ВИМС, 1983.
- Исаев JI.K. Международное значение проблемы стандартных образцов //Измерительная техника. 1981. — № 7. — С. 52.
- Семенко Н.Г., Исаев Л. К., и др. Стандартные образцы, единые для стран -членов СЭВ новый тип в экономической интеграции // Измерительная техника. — 1979. — № 1. — С. 18 — 19.
- Александров Ю.И. Развитие физико-химических исследований в области метрологии //Измерительная техника. 1984. — № 2. — С. 7 — 8.
- Van Berkum J.G.M., Sprang G.J.M., de Keijser Th.H., Delhez R., and Sonneveld E.J., «The Optimum Standard Specimen for X-ray Diffraction Line-Profile Analysis,» //Powder Diffraction, 10 (2), 1995, pp. 129−139.
- Cheary R.W. and Coelho A.A., «A Fundamental Parameters Approach to X-ray Line-Profile Fitting,» //J.Appl. Cryst., 25, 1992, pp. 109−121.
- Holzer, Fritsch G., Deutsch M., Hartwig M., J., and Forster E., «Ka and Ка X-Ray Emission Lines of the 3d Transition Metals,» //Phys. Rev. A56, (6), pp. 1997, pp. 4554−4568.
- TOPAS, General Profile and Structure Analysis Software for Powder Diffraction Data, V2.0, Broker AXS GmbH, Karlsruhe, Germany.
- Maskil M., and Deutsch M., «X-Ray Ка Satellites of Copper,» //Phys. Rev. A, 38, 1988, pp. 3467−3472.
- Bergamin A., Cavagnero G., Mana G., and Zosi G., «Lattice Parameter and Thermal Expansion of Monocrystalline Silicon,» //J. Appl. Phys., 82, 1997, pp. 53 965 400.
- Лютцао A.B., Брейгин В. Д., Агеев О. И., Киселев М. Я. Портативный рентгеновский анализатор напряжений и текстуры РАНТ-1. // Заводская лаборатория 12, 1993, с.38−41.