Заключение. 
Разработка нового комплексного метода определения параметров 3D наноразмерной атомной и электронной структуры материалов на основе методик XAFS, XRD и Raman

Разработан метод теоретического анализа данных совокупности экспериментальных методик (XAFS, XRD, Raman) для определения зависящих от времени параметров 3D наноразмерной атомной и электронной структуры материалов. Теоретический анализ получаемых экспериментальных данных является необходимым условием, поскольку все перечисленные выше спектроскопические методики являются непрямыми, и получение структурных данных возможно только после проведения теоретического анализа полученных результатов. Применение отлаженных теоретических методик для наночастиц оксида никеля показывает отличное согласие с имеющими экспериментальными данными и, следовательно, подтверждает их высокую предсказательную способность.

Благодарности Работа проводилась при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ (госконтракт № 14.740.11.0886).

Литература

• 1 A. Kudo, // Catal. Surv. Asia 7, 31 (2003).
• 2 K. Sun, N. Park, Z. Sun, J. Zhou, J. Wang, X. Pang, S. Shen, S. Y. Noh, Y. Jing, S. Jin, P. K. L. Yu, and D. Wang, // Energy Environ. Sci. 5, 7872 (2012).
• 3 J. J. Rehr, J. J. Kas, F. D. Vila, M. P. Prange, and K. Jorissen, Phys. Chem. Chem. Phys. // 12, 5503 (2010).
• 4 E. J. Baerends, J. Autschbach, A. Bйrces, C. Bo, P. M. Boerrigter, L. Cavallo, D. P. Chong, L. Deng, R. M. Dickson, D. E. Ellis et al., Amsterdam density functional, URL http://www.scm.com
• 5 M. Alagiri, S. Ponnusamy, and C. Muthamizhchelvan, // J. Mater. Sci: Mater. Electron. 23, 728 (2012).