Помощь в написании студенческих работ
Антистрессовый сервис

Разработка ГИС

КурсоваяПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В гибридных ИМС применяют тонкои толстоплёночные конденсаторы с простой прямоугольной и сложной формами. Плёночный конденсатор представляет собой многослойную структуру, нанесённую на диэлектрическую подложку. Для её получения на подложку наносят последовательно три слоя: В технологии микроэлектроники для каждого материала отношение 0K=S — величина постоянная. Условно S определяет как удельное… Читать ещё >

Разработка ГИС (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Содержание

  • Разрабатываемая ИС должна соответствовать общим технологическим требованиям
  • Исходные требования
  • Максимальная рабочая температура +70С
  • Минимальная рабочая температура -20С
  • Время работы ИС
  • Коэффициент нагрузки резисторов
  • Ширина формирующей щели 90 мкм
  • Минимальная ширина формирующей щели 6 мкм
  • Погрешность ширины формирующей щели 5%
  • Рабочая разность потенциалов на С 10 В
  • Площадь обкладок конденсаторов, не менее 1 мм
  • Погрешность задания линейного размера обкладок 5%
  • Значения номиналов: R1=25 kOm 10%; R2=R3=10 kOm 10%
  • R4=58 kOm 1%; C1=500 пФ 20%; С2=750 пФ 20%

1.ВВЕДЕНИЕ

Элементы плёночной технологии.

Пассивные элементы гибридных ИМС создаются из тонких плёнок проводящих, резистивных и диэлектрических материалов нанесённых на поверхность подложки.

Достоинством плёночных микросхем является возможность изготовления пассивных элементов в широком диапазоне номиналов с минимальными допусками и лучшими, чем у полупроводниковых схем диэлектрическими характеристиками. Конструктивное использование плёночных ИМС позволяет реализовать мощные (100Вт) электрические схемы, работающих при больших значениях напряжения. Процесс изготовления гибридных плёночных ИМС осложняется тем, что активные элементы выполняются в виде навесных бескорпусных транзисторов, диодов и т. д. Габаритные размеры подложек стандартизированы. На стандартизированной подложке групповым методом изготавливается несколько плат ГИС.

В качестве материалов тонкоплёночных проводников применяется Al, Cu, Ti, Tl, Ag.

Резистивные слои образуют плёнки хрома, нихрома Х20Н80, тантала, титана, Re и т. д.

Диэлектрические слои тонкоплёночных ИМС получают, осаждением моноокиси кремния SiO и германия GeO, двуокисей SiO2 и GeO2, окислов Al2O2; Ta2O5; Nb2O5.

Существует несколько способов получения тонких плёнок:

1. Электрическое осаждение;

2. Химическое осаждение;

3. Осаждение пиролитическим разложением;

4. Оплавление порошка стеклообразного материала;

5. Термовакуумное осаждение плёнок;

6. Катодное и ионно-плазменное распыление.

2. ТЕОРИТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ

2.1. Конструктивно-технологические особенности и основные параметры плёночных резисторов.

Плёночные резисторы являются наиболее распространёнными элементами ИМС.

Плёночные резисторы в структурном отношении представляют собой узкую полоску резистивной плёнки, снабжённую плёночными контактными площадками с низким сопротивлением.

Параметры плёночных резисторов зависят от материала резистивной плёнки, способа получения необходимой конфигурации и других технологических факторов.

Наиболее распространённой является конструкция резисторов прямоугольной формы (Рис 2.1), как наиболее простая в конструктивном и технологическом отношении.

Рис 2.1

Конструкция прямоугольного тонкоплёночного резистора.

1 — резистивная плёнка;

2 — плёночный проводник;

3 — области контактов.

Значение сопротивления плёночного резистора определяют по формуле:

R = 0L/S+2Rk (2.1)

Для высокоомных резисторов, когда сопротивление областей контактов значительно меньше сопротивления резистивной плёнки:

R = L/S = 0L/(b*d) (2.1a)

где 0 — удельное объёмное сопротивление резистивного материала;

L, b, d — длина, ширина, и толщина резистивной плёнки;

Rk -переходное сопротивление областей контактов резистивной и проводящей плёнок;

В технологии микроэлектроники для каждого материала отношение 0K=S — величина постоянная. Условно S определяет как удельное поверхностное сопротивление квадратной резистивной плёнки, не зависящей от размеров квадрата и оценивают в Ом/.

При этом сопротивление определяют по формуле:

R = S1/b = SKФ (2.2)

где Кф=1/b — коэффициент формы резистора.

Для прямоугольных резисторов максимальная длина по технологическим соображениям ограничена величиной Кф=10. Для реализации резисторов с Кф>10 используют конструкции сложной конфигурации:

а) в виде отдельных резистивных полосок;

б) типа «меандр».

2.2. Конструктивно-технологические особенности и основные параметры плёночных конденсаторов.

В гибридных ИМС применяют тонкои толстоплёночные конденсаторы с простой прямоугольной и сложной формами. Плёночный конденсатор представляет собой многослойную структуру, нанесённую на диэлектрическую подложку. Для её получения на подложку наносят последовательно три слоя:

1 — проводящий, выполняет роль нижней обкладки;

2 — слой диэлектрика;

3 — проводящий, выполняющий роль верхней обкладки конденсатора.

Значение ёмкости плёночного конденсатора определяют по формуле:

С = ξ ξ0 S/4πd =0.885 ξ S/d (2.3)

где ξ - относительная диэлектрическая проницаемость материала диэлектрика;

S — площадь перекрытия диэлектрика обкладками;

d — толщина диэлектрика.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Берцин, А С., Мочалкин О. Р., Технология и конструирование ИМС, — М.: Радио и связь, 1983.
  2. Ю.П., Понаморёв, Конструкции и технология микросхем (ГИС и СБИС): Учебник для ВУЗов. М.: Сов. Радио. 1980.
  3. К.Ю., Гиленко В. Т., Овсянников В. В. Плёночная технология.: — Днепропетровск: ДГУ, 1985.
  4. Понаморёв М.Ф.: Конструирование и расчёт микросхем и микроэлемен-тов ЭВА. М.: Радио и связь, 1989.
  5. Л.Н., Шахнов В. А. Конструирование вычислительных машин и систем. М.: В.Ш., 1986.
  6. Н.И. Технология производства ЭВМ. Учебник для ВУЗов, 3 изд. М.: В.Ш., 1991.
Заполнить форму текущей работой